JP2000294158A - イオン発生方法およびイオン源 - Google Patents

イオン発生方法およびイオン源

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JP2000294158A
JP2000294158A JP11101905A JP10190599A JP2000294158A JP 2000294158 A JP2000294158 A JP 2000294158A JP 11101905 A JP11101905 A JP 11101905A JP 10190599 A JP10190599 A JP 10190599A JP 2000294158 A JP2000294158 A JP 2000294158A
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ion
ions
cylindrical body
generation chamber
electrode portion
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JP11101905A
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Ken Takahashi
高橋  研
Osamu Okaniwa
脩 岡庭
Akio Komura
明夫 小村
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Hitachi Zosen Corp
Original Assignee
Hitachi Zosen Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】引出電極部から不純物が飛び出すのを抑制し得
るイオン源を提供する。 【解決手段】筒状体2の一端側壁体部2aに放電用ガス
Gの供給口3を形成し、この筒状体2内の一端側に電子
放出部が配置されて電子を発生させる電子発生室6を形
成するとともに、筒状体2内の中央から他端側に向かっ
て電子発生室6に連通するプラズマ発生用のプラズマ発
生室7を形成し、筒状体2の他端側壁体部2bにイオン
の引出口8を形成し、筒状体2内のプラズマ発生室7の
周囲に、イオン反発用およびイオン放電用の第1および
第2永久磁石11A,11Bおよび第3永久磁石12を
配置し、引出口8の外側に、イオンを集束させる集束電
極部9およびイオンを引き出す引出電極部10を配置し
たものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオン発生方法お
よびイオン源に関するものである。
【0002】
【従来の技術】現在、各種の研究開発分野、製造分野、
例えばコンピュータのメモリなどに使用されるウエハ基
板に原料分子を堆積させる際にプラズマが使用されてい
る。従来、プラズマすなわちイオンビームを発生させる
ためのイオン源は、図3に示すように、電子放出部(図
示せず)を有する陰極51と陽極52とが配置されると
ともにガス供給口53から放電用ガスGが供給されてイ
オンを発生するプラズマ発生室54を有し、かつこのプ
ラズマ発生室54の外周部に永久磁石55が配置された
筒状体56と、この筒状体56の引出口に設けられたイ
オン引出し用の引出電極部57および加速電極部58と
から構成されており、またこの引出電極部57および加
速電極部58は、薄板に非常に小さい穴部が多数形成さ
れたものが、2枚並列に配置されることにより構成され
ていた。
【0003】上記構成において、高真空下でプラズマ発
生室54内の電子放出部が加熱されるとともに陰極51
と陽極52との間に所定の高電圧が印加された状態で、
ガス供給口53から放電用ガス(例えば、アルゴンガ
ス)が供給されると、ガスが電離してイオンが発生し、
プラズマ状態となる。このプラズマ状態のイオンが引出
電極部57により、引出口から引き出されるとともに加
速電極部58により加速されて、導出用通路部59から
ターゲット60に導かれる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、電極
部57,58として、薄板に非常に小さい穴部が多数形
成されたものが使用されて、多くのイオンが効率よく大
面積で引き出されている。しかし、イオンの引き出し時
に、電極部を強烈にスパッタリングして電極部の構成物
質をイオン化させるため、本来のイオンビームの純度を
低下させているという問題があった。
【0005】そこで、本発明は、電極部から不純物が飛
び出すのを抑制し得るイオン発生方法およびイオン源を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のイオン発生方法は、円柱状空間部の一端側
に設けられた電子放出部から放出された電子を放電用ガ
スに当ててプラズマを発生させるとともに、周囲に配置
された磁石体によりイオンを円柱状空間部の中心側に反
発させ、上記円柱状空間部の他端側に設けられた引出口
からイオンを引き出す際に、この引出口の外側に配置さ
れた集束電極部の電界によりイオンを集束させるととも
に、この集束電極部の外側に配置された引出電極部の電
界によりイオンを引き出す方法である。
【0007】また、本発明のイオン源は、筒状体の一端
側壁体部に放電用ガスの供給口を形成し、この筒状体内
の一端側に電子放出部が配置されて電子を発生させる電
子発生室を形成するとともに、筒状体内の中央から他端
側に向かって上記電子発生室に連通するプラズマ発生用
のプラズマ発生室を形成し、上記筒状体の他端側壁体部
にイオンの引出口を形成し、上記筒状体内のプラズマ発
生室の周囲に、イオン反発用およびイオン攪拌用の磁石
体を配置し、上記引出口の外側に、イオンを集束させる
集束電極部およびイオンを引き出す引出電極部を配置し
たものである。
【0008】上記イオン発生方法およびイオン源の構成
によると、プラズマ発生室にて発生されたイオンを引出
電極部で引き出す際に、その手前に、集束電極部を配置
するようにしたので、イオンは両電極部に形成された穴
部を通過する際に、中央に集められるため、イオンが各
電極部に衝突するのを防止することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態におけ
るイオン発生方法およびイオン源を、図1および図2に
基づき説明する。本実施の形態に係るイオン源は、主と
して、電子を発生させる電子発生部、プラズマを発生さ
せるプラズマ発生部が設けられた筒状体、並びに筒状体
のイオン引出側に設けられた集束電極部および引出電極
部により構成されている。
【0010】以下、このイオン源について詳しく説明す
る。すなわち、図1に示すように、イオン源1の本体部
である筒状体2の一端側壁体部2aには放電用ガス(例
えば、アルゴンガス)Gの供給口3が形成されるととも
に、筒状体2の一端側の内部には、電子放出部(図示せ
ず)が設けられたカソード4とアノード5とが配置され
て電子が発生される電子発生室(小径の円柱状空間部に
より構成されている)6が形成され、さらに筒状体2の
中央から他端側に向かってプラズマ発生室(大径の円柱
状空間部により構成されている)7が形成されている。
【0011】また、上記筒状体2の他端側壁体部2bに
は、イオンを引き出すための所定径(数十ミリ、より具
体的には、直径が24ミリ程度)の円形のイオン引出口
8が形成され、さらにこの引出口8の外側には、イオン
を集束させるための集束電極部9およびイオンを引き出
すための引出電極部10が並置されるとともに、これら
各電極部9,10には、数kV(好ましくは2kV)の
電圧が印加される。
【0012】上記電子発生室6に対応する筒状体2の外
周部およびプラズマ発生室7の引出口寄り位置での筒状
体2の外周部には、それぞれイオンを中央に反発させる
(磁気ミラーともいう)と同時にスピン運動をさせる第
1永久磁石(磁石体)11Aおよび磁気ミラー用の第2
永久磁石(磁石体)11Bが環状に配置され、またこれ
ら両永久磁石11A,11B間の筒状体2の外周部に
は、ペニング放電用の第3永久磁石(磁石体)12が環
状に配置されている。
【0013】そして、上記集束電極部9は、例えばステ
ンレス製の薄板に所定径(例えば、直径が1〜5ミリ程
度)の穴部21aが複数個形成されたものであり、また
上記引出電極部10は、やはりステンレス製の薄板に所
定径(例えば、直径が1〜5ミリ程度)の穴部22a,
23aが複数個づつ形成されるとともに互いに並置され
た第1および第2引出電極22,23により構成されて
いる。そして、上記集束電極21寄りの第1引出電極2
2はアースされ、また集束電極21には+2kVが印加
されるとともに他方の第2引出電極23には、−2kV
が印加される。なお、上記各電極21〜23に形成され
る穴部21a〜23aの大きさは、引出口8から離れる
につれて、少しづつ大きくなるようにされている。
【0014】上記構成において、電子発生室6にて発生
された電子は、供給口3から供給された放電用ガスGと
一緒にプラズマ発生室7に移動し、ここで電子の衝突に
より正および負の荷電粒子並びに中性の粒子が発生し
て、プラズマ状態が得られる。なお、電子発生室6内に
おいても、一部プラズマ状態は発生する。プラズマ発生
室7等で発生したイオンは、第1および第2永久磁石1
1A,11Bにより、筒状体2のプラズマ発生室7の中
央部に反発されて、イオンが筒状体2の内壁面に衝突す
るのが防止されるとともに、第3永久磁石12により放
電が行われる。
【0015】このイオンは、引出口8から出る際に、そ
の周囲に配置された集束電極部9により集束され、さら
にこの集束されたイオンビームは引出電極部10にて加
速されて引き出される。このように、プラズマ発生室7
で発生したイオンは、引出口8から引き出される際に、
集束電極部9の箇所にて発生される電界により、穴部2
1aの中央に寄せられ、したがって後方の引出電極2
2,23の穴部22a,23aについても、内壁面に衝
突するのが阻止されて、不純物が発生するのが抑制され
る。
【0016】ここで、引出口8から引き出されるイオン
に、集束電極部9および引出電極部10により、上述し
た電界を与えた場合のイオン軌跡Tを示すと図2のよう
になる。この図2から、プラズマ発生室7から引き出さ
れるイオンが、各電極21〜23に衝突していないのが
よく分かる。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明のイオン発生方法お
よびイオン源の構成によると、プラズマ発生室にて発生
されたイオンを引出電極部で引き出す際に、その手前
に、集束電極部を配置するようにしたので、イオンは両
電極部を通過する際に、中央に集められるため、イオン
が各電極部に衝突するのを防止することができ、したが
って純度の高いイオンビームを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態におけるイオン源の構成を
示す断面図である。
【図2】同イオン源からのイオンビームの引出し状態を
示す側面図である。
【図3】従来例のイオン源の構成を示す断面図である。
【符号の説明】
1 イオン源 2 筒状体 3 供給口 4 カソード 5 アノード 6 電子発生室 7 プラズマ発生室 8 イオン引出口 9 集束電極部 10 引出電極部 11A 第1永久磁石 11B 第2永久磁石 12 第3永久磁石 21 集束電極 21a 穴部 22 第1引出電極 22a 穴部 23 第2引出電極 23a 穴部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡庭 脩 大阪府大阪市住之江区南港北1丁目7番89 号 日立造船株式会社内 (72)発明者 小村 明夫 大阪府大阪市住之江区南港北1丁目7番89 号 日立造船株式会社内 Fターム(参考) 5C030 DD03 DD04 DD05 DE04 DE07 DG09

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】円柱状空間部の一端側に設けられた電子放
    出部から放出された電子を放電用ガスに当ててプラズマ
    を発生させるとともに、周囲に配置された磁石体により
    イオンを円柱状空間部の中心側に反発させ、上記円柱状
    空間部の他端側に設けられた引出口からイオンを引き出
    す際に、この引出口の外側に配置された集束電極部の電
    界によりイオンを集束させるとともに、この集束電極部
    の外側に配置された引出電極部の電界によりイオンを引
    き出すことを特徴とするイオン発生方法。
  2. 【請求項2】集束電極部および引出電極部に、数kVの
    電圧をそれぞれ印加することを特徴とする請求項1記載
    のイオン発生方法。
  3. 【請求項3】筒状体の一端側壁体部に放電用ガスの供給
    口を形成し、この筒状体内の一端側に電子放出部が配置
    されて電子を発生させる電子発生室を形成するととも
    に、筒状体内の中央から他端側に向かって上記電子発生
    室に連通するプラズマ発生用のプラズマ発生室を形成
    し、上記筒状体の他端側壁体部にイオンの引出口を形成
    し、上記筒状体内のプラズマ発生室の周囲に、イオン反
    発用およびイオン攪拌用の磁石体を配置し、上記引出口
    の外側に、イオンを集束させる集束電極部およびイオン
    を引き出す引出電極部を配置したことを特徴とするイオ
    ン源。
  4. 【請求項4】集束電極部および引出電極部に、数kVの
    電圧をそれぞれ印加したことを特徴とする請求項3記載
    のイオン源。
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