JP2000285535A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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JP2000285535A
JP2000285535A JP11093142A JP9314299A JP2000285535A JP 2000285535 A JP2000285535 A JP 2000285535A JP 11093142 A JP11093142 A JP 11093142A JP 9314299 A JP9314299 A JP 9314299A JP 2000285535 A JP2000285535 A JP 2000285535A
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magnetic
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Kenji Tanase
健司 棚瀬
Morio Nakatani
守雄 中谷
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 記録密度が高密度になっても記録層の各磁区
を正確に再生層に転写し、その転写した磁区を検出でき
る光磁気記録媒体を提供する。 【解決手段】 光磁気記録媒体10は、透光性基板1
と、下地層2と、再生層3と、第1のマスク層4と、非
磁性層5と、第2のマスク層6と、記録層7と、保護層
8とを備える。再生層3は所定の温度以上で面内磁化膜
から垂直磁化膜になる磁性層であり、第1のマスク層4
は、室温で面内磁化膜であり、所定の温度以上で磁化が
消滅する磁性層であり、第2のマスク層6は、所定の温
度以上で面内磁化膜から垂直磁化膜となる磁性層であ
る。従って、第1のマスク層4の磁化が消滅する領域の
長さを記録層7の最短ドメイン長とほぼ同等の長さにす
ることにより記録層7の各磁区は独立に第1のマスク層
4の磁化が消滅した領域のみを介して再生層3へ転写で
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号を記録および
/または再生する光磁気記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光磁気記録媒体は、書き換え可能で、記
憶容量が大きく、且つ、信頼性の高い記録媒体として注
目されており、コンピュータメモリ等として実用化され
始めている。また、最近では、記録容量が6.0Gby
tesの光磁気記録媒体がAS−MO(Advance
d Storage Magneto Optical
Disk)規格として進められ、実用化されようとして
いる。かかる高密度な光磁気記録媒体からの信号の再生
は、レーザ光を照射することにより、光磁気記録媒体の
記録層の磁区を再生層へ転写すると共に、その転写した
磁区だけを検出できるように再生層に検出窓を形成し、
その形成した検出窓から転写した磁区を検出するMSR
(Magnetically Induced Sup
er Resolution)法により行われている。
【0003】また、光磁気記録媒体からの信号再生にお
いて交番磁界を印加し、レーザ光と交番磁界とにより記
録層の磁区を再生層へ拡大転写して信号を再生する磁区
拡大再生技術も開発されており、この技術を用いること
により14Gbytesの信号を記録および/または再
生することができる光磁気記録媒体も提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、記録密度が高
密度になるに伴い、レーザ光を照射して記録層の磁区を
再生層へ転写する際に複数の磁区が再生層へ転写され、
信号再生を正確に行うことができないという問題が生じ
た。この問題は、MSR法により信号再生を行う光磁気
記録媒体および磁区拡大再生により信号再生を行う光磁
気記録媒体において生じている。
【0005】そこで、本発明は、かかる問題を解決し、
記録密度が高くなっても記録層の各磁区を正確に再生層
に転写し、その転写した磁区を検出できる光磁気記録媒
体を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段および発明の効果】請求項
1に係る発明は、再生層と、第1のマスク層と、非磁性
層と、第2のマスク層と、記録層とを含む光磁気記録媒
体である。
【0007】第1のマスク層は、再生層に接して形成さ
れ、第1の温度以上で所定の領域は磁化が消滅し、前記
所定の領域以外の領域は面内磁化を保持する。
【0008】また、非磁性層は、第1のマスク層に接し
て形成される。
【0009】また、第2のマスク層は、非磁性層に接し
て形成された第2の温度以上で面内磁化膜から垂直磁化
膜になる。
【0010】また、記録層は、第2のマスク層に接して
形成される。
【0011】請求項1に記載された光磁気記録媒体にお
いては、レーザ光が照射されると、第2のマスク層のう
ち第2の温度以上になった領域は面内磁化膜から垂直磁
化膜となり記録層の磁区と交換結合し、記録層の磁区と
交換結合した第2のマスク層の磁区の両隣の領域は面内
磁化から垂直磁化の方向に多少回転した磁化状態とな
る。そして、第1のマスク層のうち第1の温度以上にな
った所定の領域は磁化が消滅し、所定の領域以外の領域
は面内磁化を保持する。
【0012】そうすると、面内磁化から垂直磁化の方向
に多少回転した第2のマスク層の磁区は、第2のマスク
層と第1のマスク層との間に非磁性層が存在するため、
第1のマスク層の面内磁化を保持する領域により再生層
への転写を阻止され、記録層と交換結合した第2のマス
ク層の磁区は非磁性層、および第1のマスク層の磁化が
消滅した領域を介して静磁結合により再生層へ転写され
る。
【0013】従って、請求項1に記載された発明によれ
ば、記録層の第2の温度以上の領域の磁区が第2のマス
ク層に交換結合により転写され、その転写された磁区
は、第1のマスク層の磁化が消滅した領域のみを介して
再生層に転写され得るため、第1のマスク層の磁化が消
滅する領域が記録層の最短ドメイン長にほぼ等しくなる
ように光磁気記録媒体の回転数、レーザ光の照射強度を
制御することにより記録層の各磁区を独立に再生層へ転
写できる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図を参照し
つつ説明する。図1を参照して、本願発明に係る光磁気
記録媒体の断面構造について説明する。光磁気記録媒体
10は、透光性基板1と、下地層2と、再生層3と、第
1のマスク層4と、非磁性層5と、第2のマスク層6
と、記録層7と、保護層8とを備える。
【0015】透光性基板1は、ガラス、ポリカーボネー
ト等から成り、下地層2は、SiNから成り、再生層3
は、GdFeCoから成り、第1のマスク層4は、Gd
Fe若しくはGdFeAlから成り、非磁性層5は、S
iNから成り、第2のマスク層6は、GdFeCoから
成り、記録層7は、TdFeCoから成り、保護層8
は、SiNから成る。
【0016】また、下地層2の膜厚は、300〜150
0Åであり、再生層3の膜厚は、150〜800Åであ
り、第1のマスク層4の膜厚は、50〜400Åであ
り、非磁性層5の膜厚は、50〜200Åであり、第2
のマスク層6の膜厚は、500〜1500Åであり、記
録層7の膜厚は250〜2000Åであり、保護層8の
膜厚は800Å程度である。
【0017】下地層2は、透光性基板1上にGdFeC
o等の磁性層を直接形成すると、GdFeCo等の磁性
層の品質が低下し、記録特性や再生特性が低下するのを
防止するために形成される。
【0018】再生層3を構成するGdFeCoは、室温
で面内磁化膜であり、レーザ光が照射され、150℃以
上に昇温されると垂直磁化膜となる。
【0019】また、第1のマスク層4を構成するGdF
e若しくはGdFeAlは、室温で面内磁化膜であり、
信号の再生温度である150℃より低い140℃程度で
磁化が消滅する。即ち、第1のマスク層4は、室温では
面内方向の磁化を有し、再生温度より低い温度で磁化が
消滅する磁性膜である。
【0020】また、第2のマスク層6は、室温で面内磁
化膜であり150℃以上に昇温されると垂直磁化膜とな
る磁性層である。
【0021】また、記録層7を構成するTbFeCo
は、垂直磁化膜である。
【0022】下地層2、およぼ保護層8を構成するSi
N、再生層3を構成するGdFeCo、第1のマスク層
4を構成するGdFe若しくはGdFeAl、非磁性層
5を構成するSiN、第2のマスク層6を構成するGd
FeCo、および記録層7を構成するTdFeCoは、
スパッタリング法により形成される。下地層2、および
保護層8を構成するSiN、非磁性層5を構成するSi
N、および記録層7を構成するTbFeCoは、周知の
条件で形成することができる。また、再生層3を構成す
るGdFeCo、第1のマスク層4を構成するGdFe
若しくはGdFeAl、および第2のマスク層6を構成
するGdFeCoは、Gd、Fe、Co、Alの4つの
ターゲットを用いて同時スパッタにより作製することが
できる。
【0023】図2を参照して、第1のマスク層4の形成
条件について説明する。ターゲットは、GdとFeであ
り、スパッタガスとしてのArガス流量は、40〜80
sccmの範囲であり、典型的には60sccmであ
る。また、反応圧力は、3〜10mTorrの範囲であ
り、典型的には7mTorrである。また、DCパワー
は、Feが0.45〜2.25W/cm2の範囲、典型
的には0.9W/cm2であり、Gdが0.13〜1.
5W/cm2の範囲、典型的には0.3W/cm2であ
る。また、基板温度は、20〜80℃の範囲であり、典
型的には60℃である。
【0024】図3は、第1のマスク層4用のGdFeA
lの形成条件である。GdとFeとAlを同時にスパッ
タリングすることにより形成する。その場合のArガス
流量は、40〜80sccmの範囲であり、典型的には
60sccmである。また、反応圧力は、3〜10mT
orrの範囲であり、典型的には7mTorrである。
また、DCパワーは、Gdが0.13〜1.5W/cm
2の範囲、典型的には0.25W/cm2であり、Feが
0.5〜1.5W/cm2の範囲、典型的には0.7W
/cm2であり、Alが0.3〜1.5W/cm2の範
囲、典型的には0.7W/cm2である。また、基板温
度は、20〜80℃の範囲であり、典型的には60℃で
ある。また、再生層3と、第2のマスク層6が垂直磁気
異方性を示す温度に差を設ける場合は、GdのDCパワ
ーを変えれば良く、温度を低くした方のDCパワーを下
げる。
【0025】なお、図2、3に示した形成条件で第1の
マスク層4を形成する際には、透光性基板1は、33r
pmで回転されている。
【0026】図4を参照して、本願発明に係る光磁気記
録媒体10の再生層3、第1のマスク層4、および第2
のマスク層6の磁性特性について説明する。縦軸は磁
化、横軸は温度である。再生層3は、室温で面内磁化膜
であり、温度が室温以上に上昇して150℃程度になる
と垂直磁化膜となる。そして、更に温度が上昇して35
0℃程度になるとキュリー温度Tc1に達し、磁化が消
滅する。また、第2のマスク層6も、室温で面内磁化膜
であり、温度が室温以上に上昇して145℃程度になる
と垂直磁化膜となる。そして、更に温度が上昇して35
0℃程度になるとキュリー温度Tc1に達し、磁化が消
滅する。一方、第1のマスク層4は、室温で面内磁化膜
であり、温度上昇と共に磁化が弱くなり、140℃程度
になるとキュリー温度Tc2に達し、磁化が消滅する。
従って、第1のマスク層4のキュリー温度140℃より
高い145℃以上で再生層3、および第2のマスク層6
は垂直磁化を有する。
【0027】一般に、光磁気記録媒体にレーザ光を照射
し、信号を再生する際の温度は150℃程度である。従
って、光磁気記録媒体10にレーザ光を照射し、信号を
再生する際には第1の磁性層4のうち140℃以上の領
域は磁化が消滅し、140℃以上の領域以外の領域は、
面内方向の磁化を有する。
【0028】図5を参照して、レーザ光は、一般にガウ
ス分布で表される強度分布を有し、この強度分布を有す
るレーザ光が光磁気記録媒体10に照射されると、所定
の値Wを有する領域が140℃以上に昇温される。即
ち、所定の値Wを有する領域は、磁化が消滅し、それ以
外の領域は面内磁化を有する。そして、本願発明では、
所定の値Wが記録層7の最短ドメイン長とほぼ一致す
る。
【0029】記録容量が6Gbytesの場合、最短ド
メイン長は、0.235μmであり、その場合、レーザ
光が照射された場合に140℃以上に昇温される領域が
0.235μmとなるようにGdFe中のGdの含有
量、もしくはGdFeAl中のGdの含有量を制御す
る。同様に、記録容量が14Gbytesの場合には、
最短ドメイン長は、0.1μmであり、レーザ光が照射
された場合に140℃以上に昇温される領域が0.1μ
mとなるようにGdFe中のGdの含有量、もしくはG
dFeAl中のGdの含有量を制御する。
【0030】例えば、140℃以上に昇温される領域を
0.235μmとするためには、GdFe中のGdの含
有量を20at.%、GdFeAl中のGdの含有量を
15at.%とする。また、140℃以上に昇温される
領域を0.1μmとするためには、GdFe中のGdの
含有量を20at.%、GdFeAl中のGdの含有量
を15at.%とする。
【0031】一般に、室温で面内磁化膜であり、再生温
度より低い140℃程度でキュリー温度に達する磁性材
料とするには、GdFe中のGdの含有量を17〜22
at.%の範囲、GdFeAl中のGdの含有量を13
〜18at.%の範囲とすれば良い。
【0032】図6を参照して、光磁気記録媒体10の再
生方法について説明する。信号が記録された状態では、
記録層7は、信号に基づいた垂直磁化を有し、再生層
3、第1のマスク層4、および第2のマスク層6は共に
面内磁化を有する(図6の(a)参照)。
【0033】この状態で再生層3側からレーザ光LBが
照射され、120℃程度の温度になると、記録層7のう
ち、ある磁区70に隣接する第2のマスク層6の領域で
は面内から垂直方向に回転した磁化61、62、63が
現れる(図6の(b)参照)。そして、温度が150℃
程度になると、第2のマスク層6には記録層7の磁区7
0と交換結合した磁区61が現れ、第1のマスク層4に
は磁化が消滅した領域40が現れる。そうすると、第2
のマスク層6の磁区61からの漏洩磁界も温度上昇と共
に強くなり非磁性層5、および第1のマスク層4の磁化
が消滅した領域40を介して再生層3に及び、磁区61
は、静磁結合により再生層3に転写され、再生層3には
磁区30が現れる。第2のマスク層6の磁区61の両隣
に生じた磁化62、63は、第1のマスク層4と第2の
マスク層6との間に非磁性層5が存在するため交換結合
により第1のマスク層4へ転写されることはなく、面内
磁化を保持する第1のマスク層4の磁化41、42によ
り再生層3へ漏洩磁界が及ぶこともないため、再生層3
には磁化62、63に影響された磁区が現れない(図6
の(c)参照)。
【0034】従って、記録層7の磁区70だけが第2の
マスク層6に交換結合により転写され、非磁性層5、お
よび第1のマスク層4の磁化が消滅した領域40を介し
て再生層3に転写される。そして、第1のマスク層4の
磁化が消滅した領域40の長さを記録層7の最短ドメイ
ン長とほぼ同等にすることにより記録層7の各磁区を独
立に再生層3へ転写できる。
【0035】照射されたレーザ光LBは、再生層3に転
写された磁区30によりその偏光面を回転されて反射
し、その反射光を検出することにより磁区30が検出さ
れる。
【0036】磁区30の検出が終了した後、レーザ光L
Bが移動し、磁区30、領域40、磁区61、70の温
度が下がると最初の状態に戻る(図6の(a)参照)。
【0037】上記説明した図6の(a)〜(c)の過程
を経て光磁気記録媒体10から信号が再生される。
【0038】この場合、光磁気記録媒体10に照射され
るレーザ光LBの強度は、1.2〜3.0mWの範囲で
あり、この範囲の強度を有するレーザ光LBを照射する
こtにより第1のマスク層4の磁化が消滅する領域40
の長さを記録層7の最短ドメイン長とほぼ同等にでき
る。
【0039】光磁気記録媒体10は、MSR法により信
号再生を行う光磁気記録媒体のみならず、磁区拡大によ
り信号再生を行う光磁気記録媒体としても使用可能であ
る。その場合の再生方法を図7を参照して説明する。図
7の(a)および(b)は、上記図6の(a)および
(b)と同じであるので、説明を省略する。記録層7の
磁区70が第2のマスク層6、非磁性層5、および第1
のマスク層4の領域40を介して再生層3へ転写され、
再生層3に磁区30が現れたタイミングで外部から交番
磁界Hexを印加すると、磁区30の磁化と同じ方向の
磁界が印加されたタイミングで磁区30は磁区300に
拡大される(図7の(c)参照)。この場合、第1のマ
スク層4の領域40以外の領域は面内磁化を保持してい
るため、磁区70の両隣の磁区からの漏洩磁界は再生層
3へ及ばないので、磁区30は外部磁界により磁区30
0に容易に拡大される。 拡大された磁区300は、レ
ーザ光LBと相互作用し、レーザ光LBの反射光は磁区
300の磁化によりその偏光面を回転される。従って、
偏光面が回転された反射光を検出することにより磁区3
00を検出することができる。この場合、磁区300
は、磁区30より大きくなっているので、磁区300に
よりレーザ光の反射光はその偏光面を大きく回転され、
検出信号が大きくなる。
【0040】磁区300が検出された後、磁区300の
磁化301と反対方向の外部磁界が印加されると共に、
レーザ光LBが移動して温度が下がると磁区300は面
内磁化を有し、第1のマスク層4の領域40には、面内
磁化が現れ、第2のマスク層6の磁区61は面内磁化膜
になる。その結果、初期状態(図7の(a))に戻る。
【0041】上記説明した図7の(a)、(b)、およ
び(c)の過程を経て記録層7の各磁区が再生層3へ独
立に拡大転写され、信号が再生される。
【0042】また、光磁気記録媒体10の再生層3は、
室温で面内磁化膜であり、所定の温度以上で垂直磁化膜
となる磁性層として説明したが、これに限らず、垂直磁
化膜であっても良い。
【0043】更に、光磁気記録媒体10にレーザ光を照
射し、交番磁界を印加して記録層7の磁区を再生層3へ
転写し、拡大して再生する磁区拡大再生においては、照
射されるレーザ光の強度は、1.0〜2.5mWの範囲
であり、印加される交番磁界の強度は、±300Oe、
周波数は、25MHzである。
【0044】上記説明においては、再生層3が面内磁化
膜から垂直磁化膜になる温度と第2のマスク層6が面内
磁化膜から垂直磁化膜になる温度とは、150℃であ
り、同一として説明したが、必ずしも一致させる必要は
なく、異なる温度であってもよい。その場合、第2のマ
スク層6が面内磁化膜から垂直磁化膜になる温度の方が
再生層3が面内磁化膜から垂直磁化膜になる温度より低
温になるように設定することが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係る光磁気記録媒体の断面構造図で
ある。
【図2】図1に示す光磁気記録媒体の第1のマスク層の
形成条件である。
【図3】図1に示す光磁気記録媒体の第1のマスク層の
他の形成条件である。
【図4】図1に示す光磁気記録媒体の再生層と第1のマ
スク層の磁気特性である。
【図5】レーザ光の強度分布と第1のマスク層のうち1
40℃以上に昇温度される領域との関係を説明する図で
ある。
【図6】光磁気記録媒体のMSR法による再生方法を説
明する図である。
【図7】光磁気記録媒体の磁区拡大による再生方法を説
明する図である。
【符号の説明】
1・・・透光性基板 2・・・下地層 3・・・再生層 4・・・第1のマスク層 5・・・非磁性層 6・・・第2のマスク層 7・・・記録層 8・・・保護層 10・・・光磁気記録媒体 40・・・磁化が消滅した領域 30、61、70、300・・・磁区 41、42、61、62、63・・・磁化

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 再生層と、 前記再生層に接して形成され、第1の温度以上で所定の
    領域は磁化が消滅し、前記所定の領域以外の領域は面内
    磁化を保持する第1のマスク層と、 前記第1のマスク層に接して形成された非磁性層と、 前記非磁性層に接して形成された第2の温度以上で面内
    磁化膜から垂直磁化膜になる第2のマスク層と、 前記第2のマスク層に接して形成された記録層とを含む
    光磁気記録媒体。
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