JP2000285480A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2000285480A JP2000285480A JP11085214A JP8521499A JP2000285480A JP 2000285480 A JP2000285480 A JP 2000285480A JP 11085214 A JP11085214 A JP 11085214A JP 8521499 A JP8521499 A JP 8521499A JP 2000285480 A JP2000285480 A JP 2000285480A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 サ−ボ誤差生成回路の回路ゲインを切替える
光ディスクでは、回路ゲインの切替を行う際にそれぞれ
のゲイン設定でオフセット調整を行う必要があるため、
調整に時間を要する。 【解決手段】 回路ゲイン最大時のオフセットと回路ゲ
イン最小時のオフセットが等しくなるように調整し、残
ったオフセットは別のオフセット調整手段で行うことで
オフセット調整の回数を減らす。
光ディスクでは、回路ゲインの切替を行う際にそれぞれ
のゲイン設定でオフセット調整を行う必要があるため、
調整に時間を要する。 【解決手段】 回路ゲイン最大時のオフセットと回路ゲ
イン最小時のオフセットが等しくなるように調整し、残
ったオフセットは別のオフセット調整手段で行うことで
オフセット調整の回数を減らす。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サーボ回路の回路
ゲインを切換えて複数の種類の光ディスク対応する光デ
ィスク装置に好適に利用できるものである。
ゲインを切換えて複数の種類の光ディスク対応する光デ
ィスク装置に好適に利用できるものである。
【０００２】
【従来の技術】最近の光ディスク装置は対応するディス
クの種類が多くなり、サ−ボ回路のダイナミックレンジ
を確保するために、ゲイン切替手段を設けてディスクの
種類や、記録／再生の状態で回路ゲインを切替える場合
が多くなっている。
クの種類が多くなり、サ−ボ回路のダイナミックレンジ
を確保するために、ゲイン切替手段を設けてディスクの
種類や、記録／再生の状態で回路ゲインを切替える場合
が多くなっている。
【０００３】しかしながら、ゲイン切替手段までの回路
に電気的なオフセットがある場合は、ゲイン切替でオフ
セット量が変化するため、各ゲイン設定でオフセット調
整が必要となる。オフセット調整は、ディスクの種類が
不明の状態で行う必要があるために、それぞれのゲイン
設定すべてで調整を行う必要がある。
に電気的なオフセットがある場合は、ゲイン切替でオフ
セット量が変化するため、各ゲイン設定でオフセット調
整が必要となる。オフセット調整は、ディスクの種類が
不明の状態で行う必要があるために、それぞれのゲイン
設定すべてで調整を行う必要がある。
【０００４】図４は、従来技術による光ディスク装置の
サ−ボ回路の構成例を示す図である。
サ−ボ回路の構成例を示す図である。
【０００５】図４において、光学ヘッド（４００）でデ
ィスクからの反射又は透過光を電気信号に変換する。誤
差生成回路（４１０）では、前記電気信号からフォ−カ
スサ−ボ、トラックサ−ボ等のサ−ボ誤差信号を生成す
る。ここで、誤差生成回路（４１０）の中にはオフセッ
ト調整回路を含ませる。そして、前記サーボ誤差信号を
位相補償回路（４２０）に入力して適当な位相補償を行
った後、対物レンズ駆動手段（４３０）で適切なフォ−
カス位置やトラック位置に対物レンズを移動させる。
ィスクからの反射又は透過光を電気信号に変換する。誤
差生成回路（４１０）では、前記電気信号からフォ−カ
スサ−ボ、トラックサ−ボ等のサ−ボ誤差信号を生成す
る。ここで、誤差生成回路（４１０）の中にはオフセッ
ト調整回路を含ませる。そして、前記サーボ誤差信号を
位相補償回路（４２０）に入力して適当な位相補償を行
った後、対物レンズ駆動手段（４３０）で適切なフォ−
カス位置やトラック位置に対物レンズを移動させる。
【０００６】ここで、誤差生成回路（４１０）は、サ−
ボブロック制御回路（４４０）からのゲイン切替信号
（４５０）により回路ゲインの切替を行う。ゲイン切替
はディスクの種類が変わったときや、装置の動作状態が
変わったとき、例えば、記録時と再生時が変わったとき
等に行う。また、ゲイン設定は、例えば、サ−ボ動作の
立ち上げ時には、光学ヘッド（４００）からの信号振幅
をモニタして、信号振幅がある範囲になるようにゲイン
を設定し、また、記録時には、記録パワ−を出力するタ
イミングで、記録パワ−の平均値と、装置の設計段階で
設定されるところの再生パワ−の平均値の比率で決まる
ゲインを設定する。
ボブロック制御回路（４４０）からのゲイン切替信号
（４５０）により回路ゲインの切替を行う。ゲイン切替
はディスクの種類が変わったときや、装置の動作状態が
変わったとき、例えば、記録時と再生時が変わったとき
等に行う。また、ゲイン設定は、例えば、サ−ボ動作の
立ち上げ時には、光学ヘッド（４００）からの信号振幅
をモニタして、信号振幅がある範囲になるようにゲイン
を設定し、また、記録時には、記録パワ−を出力するタ
イミングで、記録パワ−の平均値と、装置の設計段階で
設定されるところの再生パワ−の平均値の比率で決まる
ゲインを設定する。
【０００７】以上のような構成例でのオフセット調整動
作は以下のような手順で行なわれる。
作は以下のような手順で行なわれる。
【０００８】ゲイン切替信号（４５０）で所望のゲイン
を設定し、オフセットモニタ信号（４７０）でオフセッ
ト量をモニタしながらオフセット量がゼロになるように
オフセット補正信号（４６０）でオフセットの補正を行
う。
を設定し、オフセットモニタ信号（４７０）でオフセッ
ト量をモニタしながらオフセット量がゼロになるように
オフセット補正信号（４６０）でオフセットの補正を行
う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】オフセット調整はディ
スクの種類の判別を行う前にする必要があるために、設
定する可能性のあるすべてのゲイン設定でオフセット調
整を行う必要がある。このため、オフセット調整に時間
がかかり、また、すべてのゲイン設定でのオフセット調
整の補正値を保持しておかなくてはならないという問題
がある。
スクの種類の判別を行う前にする必要があるために、設
定する可能性のあるすべてのゲイン設定でオフセット調
整を行う必要がある。このため、オフセット調整に時間
がかかり、また、すべてのゲイン設定でのオフセット調
整の補正値を保持しておかなくてはならないという問題
がある。
【００１０】例えば、ゲイン設定が６種類ある場合は、
６種類すべてのゲイン設定でオフセット調整を行い、そ
れぞれのオフセット調整回路に対してオフセット補正値
を６種類保持していなければならない。
６種類すべてのゲイン設定でオフセット調整を行い、そ
れぞれのオフセット調整回路に対してオフセット補正値
を６種類保持していなければならない。
【００１１】本発明は係る課題に鑑み、これを解決する
ために、ゲイン設定値を切換えてもオフセット補正値を
切換える必要の無いオフセット調整回路、調整方法及び
これを用いたディスク装置を提供することを目的とす
る。
ために、ゲイン設定値を切換えてもオフセット補正値を
切換える必要の無いオフセット調整回路、調整方法及び
これを用いたディスク装置を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めに、本発明は以下のような構成とした。
めに、本発明は以下のような構成とした。
【００１３】即ち、本発明は、光ディスクの種類、また
は、装置の動作状態でサーボ誤差生成部のゲインを切換
える光ディスク装置において、光ディスク面で反射され
た反射光を受光する受光部と、該受光部で受光された信
号からサーボ誤差信号を生成する誤差信号生成部と、該
誤差信号生成部からの出力信号を基に少なくとも該誤差
信号生成部を制御する制御信号を生成する制御部と、を
具備し、前記誤差信号生成部は、該誤差信号生成部から
の出力信号のオフセット量を前記制御部からの制御信号
であるオフセット調整信号により調整するオフセット調
整部と、該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前
記制御部からの制御信号であるゲイン調整信号により調
整するアンプと、を具備し、前記オフセット調整信号
は、前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したとき
の前記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプ
のゲインを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号
生成部出力のオフセット量とが同一となるようにした。
は、装置の動作状態でサーボ誤差生成部のゲインを切換
える光ディスク装置において、光ディスク面で反射され
た反射光を受光する受光部と、該受光部で受光された信
号からサーボ誤差信号を生成する誤差信号生成部と、該
誤差信号生成部からの出力信号を基に少なくとも該誤差
信号生成部を制御する制御信号を生成する制御部と、を
具備し、前記誤差信号生成部は、該誤差信号生成部から
の出力信号のオフセット量を前記制御部からの制御信号
であるオフセット調整信号により調整するオフセット調
整部と、該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前
記制御部からの制御信号であるゲイン調整信号により調
整するアンプと、を具備し、前記オフセット調整信号
は、前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したとき
の前記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプ
のゲインを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号
生成部出力のオフセット量とが同一となるようにした。
【００１４】また、光ディスク面で反射された反射光を
受光する受光部と、該受光部で受光された信号からサー
ボ誤差信号を生成する誤差信号生成部と、該誤差信号生
成部出力のオフセット量を調整する第２のオフセット調
整部と、該誤差信号生成部からの出力信号を基に少なく
とも前記誤差信号生成部と前記第２のオフセット調整部
とを制御する制御信号を生成する制御部と、を具備し、
前記誤差信号生成部は、該誤差信号生成部からの出力信
号のオフセット量を前記制御部からの制御信号であるオ
フセット調整信号により調整する第１のオフセット調整
部と、該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前記
制御部からの制御信号であるゲイン調整信号により調整
するアンプと、を具備し、前記オフセット調整信号は、
前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前
記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプのゲ
インを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号生成
部出力のオフセット量とが同一となるようにしても良
い。
受光する受光部と、該受光部で受光された信号からサー
ボ誤差信号を生成する誤差信号生成部と、該誤差信号生
成部出力のオフセット量を調整する第２のオフセット調
整部と、該誤差信号生成部からの出力信号を基に少なく
とも前記誤差信号生成部と前記第２のオフセット調整部
とを制御する制御信号を生成する制御部と、を具備し、
前記誤差信号生成部は、該誤差信号生成部からの出力信
号のオフセット量を前記制御部からの制御信号であるオ
フセット調整信号により調整する第１のオフセット調整
部と、該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前記
制御部からの制御信号であるゲイン調整信号により調整
するアンプと、を具備し、前記オフセット調整信号は、
前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前
記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプのゲ
インを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号生成
部出力のオフセット量とが同一となるようにしても良
い。
【００１５】ここで、前記オフセット調整信号は、前記
アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前記誤
差信号生成部出力と前記アンプのゲインを第２のゲイン
に設定したときの前記誤差信号生成部出力との差を、前
記第１のゲインと前記第２のゲインとの差で除算した値
としても良い。
アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前記誤
差信号生成部出力と前記アンプのゲインを第２のゲイン
に設定したときの前記誤差信号生成部出力との差を、前
記第１のゲインと前記第２のゲインとの差で除算した値
としても良い。
【００１６】また、前記第１のゲインは、前記アンプの
最大ゲインであり、また、前記第２のゲインは前記アン
プの最小ゲインであるようにすることが好ましい。
最大ゲインであり、また、前記第２のゲインは前記アン
プの最小ゲインであるようにすることが好ましい。
【００１７】尚、以上の各構成要素は可能な限り互いに
組み合わせることができるものである。
組み合わせることができるものである。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００１９】図１は、本発明を光ディスク装置に適用し
た場合のサ−ボ回路の構成を示す図であり、そのサ−ボ
回路の基本構成は次の通りである。
た場合のサ−ボ回路の構成を示す図であり、そのサ−ボ
回路の基本構成は次の通りである。
【００２０】図１において、光学ヘッド（１００）でデ
ィスクからの反射又は透過光を電気信号に変換する。誤
差生成回路（１１０）では、前記電気信号からフォ−カ
スサ−ボ、トラックサ−ボ等のサ−ボ誤差信号を生成す
る。ここで、誤差生成回路（１１０）の中には第一のオ
フセット調整手段を含ませる。
ィスクからの反射又は透過光を電気信号に変換する。誤
差生成回路（１１０）では、前記電気信号からフォ−カ
スサ−ボ、トラックサ−ボ等のサ−ボ誤差信号を生成す
る。ここで、誤差生成回路（１１０）の中には第一のオ
フセット調整手段を含ませる。
【００２１】そして、前記サーボ誤差信号を第二のオフ
セット調整手段である加算回路（１５０）を通して位相
補償回路（１２０）に入力し、適当な位相補償を行い対
物レンズ駆動手段（１３０）で適切なフォ−カス位置や
トラック位置に対物レンズを移動させる。
セット調整手段である加算回路（１５０）を通して位相
補償回路（１２０）に入力し、適当な位相補償を行い対
物レンズ駆動手段（１３０）で適切なフォ−カス位置や
トラック位置に対物レンズを移動させる。
【００２２】ここで、誤差生成回路（１１０）は、サ−
ボブロック制御回路（１４０）からのゲイン切替信号
（１６０）により回路ゲインの切替を行う。ゲイン切替
はディスクの種類や、記録時と再生時により行う。ゲイ
ン設定は、例えば、サ−ボ動作の立ち上げ時には、光学
ヘッドからの信号振幅をモニタして、信号振幅がある範
囲になるようにゲインを設定し、また、記録時には、記
録パワ−を出力するタイミングで記録パワ−の平均値
と、装置の設計段階で設定されるところの再生パワ−の
平均値の比率で決まるゲインを設定する。
ボブロック制御回路（１４０）からのゲイン切替信号
（１６０）により回路ゲインの切替を行う。ゲイン切替
はディスクの種類や、記録時と再生時により行う。ゲイ
ン設定は、例えば、サ−ボ動作の立ち上げ時には、光学
ヘッドからの信号振幅をモニタして、信号振幅がある範
囲になるようにゲインを設定し、また、記録時には、記
録パワ−を出力するタイミングで記録パワ−の平均値
と、装置の設計段階で設定されるところの再生パワ−の
平均値の比率で決まるゲインを設定する。
【００２３】サ−ボブロック制御回路（１４０）は、２
つのオフセット調整手段に対して、第一のオフセット補
正信号（１７０）及び、第二のオフセット補正信号（１
８０）を出力する。
つのオフセット調整手段に対して、第一のオフセット補
正信号（１７０）及び、第二のオフセット補正信号（１
８０）を出力する。
【００２４】次に、図２に上記誤差生成回路（１１０）
の詳細な構成例を示し、以下、その動作を説明する。
の詳細な構成例を示し、以下、その動作を説明する。
【００２５】図２では、光学ヘッド（１００）の出力信
号ＰＤＡ（３００）とＰＤＢ（３０１）の減算からフォ
−カス誤差信号（３０２）を生成する例を示している。
ここで、ＰＤＡとはホトディテクタＡでの受光信号を意
味し、ＰＤＢとはホトディテクタＢでの受光信号を意味
する。即ち、前記光学ヘッド（１００）でディスクから
の反射光をＡ、Ｂ二つのホトディテクタで受光し、この
二つの受光信号（ＰＤＡ、ＰＤＢ）からフォ−カス誤差
信号（３０２）を生成するものである。
号ＰＤＡ（３００）とＰＤＢ（３０１）の減算からフォ
−カス誤差信号（３０２）を生成する例を示している。
ここで、ＰＤＡとはホトディテクタＡでの受光信号を意
味し、ＰＤＢとはホトディテクタＢでの受光信号を意味
する。即ち、前記光学ヘッド（１００）でディスクから
の反射光をＡ、Ｂ二つのホトディテクタで受光し、この
二つの受光信号（ＰＤＡ、ＰＤＢ）からフォ−カス誤差
信号（３０２）を生成するものである。
【００２６】前記ＰＤＡ（３００）とＰＤＢ（３０１）
は、それぞれオフセット調整が行われる。ＰＤＡ（３０
０）とＰＤＢ（３０１）のオフセット調整は、それぞれ
のゲイン切替回路（３２０および３２１）を通り、更に
アンプ（３３０及び３３１）を通った出力であるオフセ
ット調整モニタ信号（３８０及び３８１）をモニタして
調整を行う。
は、それぞれオフセット調整が行われる。ＰＤＡ（３０
０）とＰＤＢ（３０１）のオフセット調整は、それぞれ
のゲイン切替回路（３２０および３２１）を通り、更に
アンプ（３３０及び３３１）を通った出力であるオフセ
ット調整モニタ信号（３８０及び３８１）をモニタして
調整を行う。
【００２７】ここで、本実施形態でのアンプ（３３０及
び３３１）は、ゲイン切替機能のうちの固定ゲイン部分
をゲイン切替回路（３２０及び３２１）から切り離して
表現したものであるが、当然に、ゲイン切換回路とアン
プを一つに纏める構成としてもよい。ゲイン切替回路で
のゲインの切換は、例えば、ゲインを決定する抵抗値を
ゲイン設定信号（３７０）で切替えるような構成で実現
できる。
び３３１）は、ゲイン切替機能のうちの固定ゲイン部分
をゲイン切替回路（３２０及び３２１）から切り離して
表現したものであるが、当然に、ゲイン切換回路とアン
プを一つに纏める構成としてもよい。ゲイン切替回路で
のゲインの切換は、例えば、ゲインを決定する抵抗値を
ゲイン設定信号（３７０）で切替えるような構成で実現
できる。
【００２８】誤差生成部制御回路（３５０）は、サ−ボ
ブロック制御回路（１４０）からのゲイン切替信号（１
６０）に応じてゲイン切替回路（３２０及び３２１）の
ゲイン設定信号を出力し、また、オフセット調整時は、
オフセット調整モニタ信号（３８０及び３８１）に応じ
て、オフセットモニタ信号（１９０）をサ−ボブロック
制御回路（１４０）に出力する。
ブロック制御回路（１４０）からのゲイン切替信号（１
６０）に応じてゲイン切替回路（３２０及び３２１）の
ゲイン設定信号を出力し、また、オフセット調整時は、
オフセット調整モニタ信号（３８０及び３８１）に応じ
て、オフセットモニタ信号（１９０）をサ−ボブロック
制御回路（１４０）に出力する。
【００２９】サ−ボブロック制御回路（１４０）では、
前記オフセットモニタ信号（１９０）に基づいて第一オ
フセット補正信号（１７０）を誤差生成部制御回路（３
５０）に出力する。そして、該誤差生成部制御回路（３
５０）では、第一オフセット補正信号（１７０）に基づ
いて、オフセット調整回路（３１０及び３１１）に対し
てオフセット補正値（３６０及び３６１）を出力する。
前記オフセットモニタ信号（１９０）に基づいて第一オ
フセット補正信号（１７０）を誤差生成部制御回路（３
５０）に出力する。そして、該誤差生成部制御回路（３
５０）では、第一オフセット補正信号（１７０）に基づ
いて、オフセット調整回路（３１０及び３１１）に対し
てオフセット補正値（３６０及び３６１）を出力する。
【００３０】この時のオフセット調整は、次のような手
順で行う。
順で行う。
【００３１】まず、ゲイン切換回路（３２０及び３２
１）のゲインを最大値に設定してモニタ信号（３８０お
よび３８１）をモニタする。
１）のゲインを最大値に設定してモニタ信号（３８０お
よび３８１）をモニタする。
【００３２】次に、ゲイン切換回路（３２０及び３２
１）のゲインを最小値に設定してモニタ信号（３８０及
び３８１）をモニタする。
１）のゲインを最小値に設定してモニタ信号（３８０及
び３８１）をモニタする。
【００３３】この時、上記ゲイン最大時のモニタ値とゲ
イン最小時のモニタ値の差をゲイン差で割った値が補正
するべきオフセット値となる。
イン最小時のモニタ値の差をゲイン差で割った値が補正
するべきオフセット値となる。
【００３４】ここで、ＰＤＡ（３００）の信号系（即
ち、オフセット調整回路（３１０）とゲイン切換回路
（３２０）とアンプ（３３０）からなる系統）の回路オ
フセットを補正する場合について具体例を示す。
ち、オフセット調整回路（３１０）とゲイン切換回路
（３２０）とアンプ（３３０）からなる系統）の回路オ
フセットを補正する場合について具体例を示す。
【００３５】光学ヘッド（１００）を含め、オフセット
調整回路（３１０）の出力までのオフセット値を５ｍ
Ｖ、ゲイン切替回路（３２０）の単体でのオフセットを
４ｍＶ、アンプ（３３０）の単体でのオフセットを３ｍ
Ｖとする。従って、オフセット調整回路（３１０）の出
力までのオフセット値（５ｍＶ）とゲイン切替回路（３
２０）の単体でのオフセット値（４ｍＶ）の和にゲイン
切替回路のゲインを掛けた値にアンプ（３３０）の単体
でのオフセット値（３ｍＶ）を加えた値がト−タルのオ
フセット値になる。
調整回路（３１０）の出力までのオフセット値を５ｍ
Ｖ、ゲイン切替回路（３２０）の単体でのオフセットを
４ｍＶ、アンプ（３３０）の単体でのオフセットを３ｍ
Ｖとする。従って、オフセット調整回路（３１０）の出
力までのオフセット値（５ｍＶ）とゲイン切替回路（３
２０）の単体でのオフセット値（４ｍＶ）の和にゲイン
切替回路のゲインを掛けた値にアンプ（３３０）の単体
でのオフセット値（３ｍＶ）を加えた値がト−タルのオ
フセット値になる。
【００３６】ここで、最小ゲインを１倍、最大ゲインを
１０倍とすると、オフセットを調整しない状態での最小
ゲイン時の出力オフセットは、 （５ｍＶ＋４ｍＶ）×１倍＋３ｍＶ＝１２ｍＶ となる。
１０倍とすると、オフセットを調整しない状態での最小
ゲイン時の出力オフセットは、 （５ｍＶ＋４ｍＶ）×１倍＋３ｍＶ＝１２ｍＶ となる。
【００３７】また、最大ゲイン時の出力オフセットは、 （５ｍＶ＋４ｍＶ）×１０倍＋３ｍＶ＝９３ｍＶ となる。
【００３８】ここで、最大ゲイン時と最小ゲイン時の出
力オフセット値の差８１ｍＶ（９３ｍＶ−１２ｍＶ）を
最大ゲインと最小ゲインのゲイン差９（１０−１）で割
った値の９ｍＶ（８１ｍＶ／９）がオフセット調整回路
（３１０）で補正するべきオフセット値となる。
力オフセット値の差８１ｍＶ（９３ｍＶ−１２ｍＶ）を
最大ゲインと最小ゲインのゲイン差９（１０−１）で割
った値の９ｍＶ（８１ｍＶ／９）がオフセット調整回路
（３１０）で補正するべきオフセット値となる。
【００３９】オフセットを補正するオフセット補正値Ａ
（３６０）はこの９ｍＶをキャンセルするために極性を
反転させた−９ｍＶとなる。したがって、オフセット調
整回路（３１０）で−９ｍＶ補正すると、オフセット調
整回路（３１０）の出力のオフセットは、 ５ｍＶ−９ｍＶ＝−４ｍＶ となり、ゲイン切替回路（３２０）の単体オフセット４
ｍＶをキャンセルしてゲイン切替回路（３２０）までの
オフセットは０ｍＶになる。
（３６０）はこの９ｍＶをキャンセルするために極性を
反転させた−９ｍＶとなる。したがって、オフセット調
整回路（３１０）で−９ｍＶ補正すると、オフセット調
整回路（３１０）の出力のオフセットは、 ５ｍＶ−９ｍＶ＝−４ｍＶ となり、ゲイン切替回路（３２０）の単体オフセット４
ｍＶをキャンセルしてゲイン切替回路（３２０）までの
オフセットは０ｍＶになる。
【００４０】したがって、光学ヘッド（１００）からオ
フセット調整回路（３１０）及びゲイン切換回路（３２
０）までのトータルのオフセットは０ｍＶに補正されて
いるので、ゲイン切換回路（３２０）でゲインを切替て
もオフセットは生しない。このため、オフセット値は、
アンプ（３３０）の出力でのオフセット値の３ｍＶのみ
となり、ゲイン切換回路（３２０）でのゲインに影響さ
れずに変動しないことになる。尚、以上は、ＰＤＡ（３
００）の信号系統について説明してきたが、ＰＤＢ（３
０１）の信号系統についても同様である。
フセット調整回路（３１０）及びゲイン切換回路（３２
０）までのトータルのオフセットは０ｍＶに補正されて
いるので、ゲイン切換回路（３２０）でゲインを切替て
もオフセットは生しない。このため、オフセット値は、
アンプ（３３０）の出力でのオフセット値の３ｍＶのみ
となり、ゲイン切換回路（３２０）でのゲインに影響さ
れずに変動しないことになる。尚、以上は、ＰＤＡ（３
００）の信号系統について説明してきたが、ＰＤＢ（３
０１）の信号系統についても同様である。
【００４１】ここで、上記手法を一般化して説明する。
【００４２】光学ヘッド（１００）を含め、オフセット
調整回路（３１０）の出力までのオフセット値をＯｆｆ
１、ゲイン切替回路（３２０）の単体でのオフセットを
Ｏｆｆ２、アンプ（３３０）の単体でのオフセット値を
Ｏｆｆ３、ゲイン切換回路（３２０）の最大ゲインをＧ
ｍａｘ、最小ゲインをＧｍｉｎとすると、最小ゲイン時
の出力オフセットＯｆｆＡは、 ＯｆｆＡ＝（Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２）×Ｇｍｉｎ＋Ｏｆｆ
３ となる。
調整回路（３１０）の出力までのオフセット値をＯｆｆ
１、ゲイン切替回路（３２０）の単体でのオフセットを
Ｏｆｆ２、アンプ（３３０）の単体でのオフセット値を
Ｏｆｆ３、ゲイン切換回路（３２０）の最大ゲインをＧ
ｍａｘ、最小ゲインをＧｍｉｎとすると、最小ゲイン時
の出力オフセットＯｆｆＡは、 ＯｆｆＡ＝（Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２）×Ｇｍｉｎ＋Ｏｆｆ
３ となる。
【００４３】また、最大ゲイン時の出力オフセットＯｆ
ｆＢは、 ＯｆｆＢ＝（Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２）×Ｇｍａｘ＋Ｏｆｆ
３ となる。
ｆＢは、 ＯｆｆＢ＝（Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２）×Ｇｍａｘ＋Ｏｆｆ
３ となる。
【００４４】ここで、オフセット調整回路（３１０）で
補正するオフセット値であるところの、最大ゲイン時と
最小ゲイン時の出力オフセット値の差を最大ゲインと最
小ゲインのゲイン差で割った値ＯｆｆＳｅｔは、 ＯｆｆＳｅｔ＝（ＯｆｆＡ−ＯｆｆＢ）／（Ｇｍａｘ−
Ｇｍｉｎ） となり、この式を整理すると、 ＯｆｆＳｅｔ＝Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２ となる。
補正するオフセット値であるところの、最大ゲイン時と
最小ゲイン時の出力オフセット値の差を最大ゲインと最
小ゲインのゲイン差で割った値ＯｆｆＳｅｔは、 ＯｆｆＳｅｔ＝（ＯｆｆＡ−ＯｆｆＢ）／（Ｇｍａｘ−
Ｇｍｉｎ） となり、この式を整理すると、 ＯｆｆＳｅｔ＝Ｏｆｆ１＋Ｏｆｆ２ となる。
【００４５】したがって、光学ヘッド（１００）からオ
フセット調整回路（３１０）及びゲイン切換回路（３２
０）までのトータルのオフセットが求められたことにな
る。
フセット調整回路（３１０）及びゲイン切換回路（３２
０）までのトータルのオフセットが求められたことにな
る。
【００４６】上記例では、ゲイン切換回路（３２０）で
のゲインを最大にした場合と最小にした場合の値を基に
計算をしてきたが、上記式より明らかなように、必ずし
もゲインの最大値と最小値を用いる必要はない。即ち、
より一般的には、ゲイン切換回路（３２０）で２種類の
ゲインを設定し、それぞれのゲインについて上記手法で
計算を進めれば良い。ただし、計算上の誤差などを考慮
すると上記例のようにゲインの最大値と最小値を用いる
のが好ましい。
のゲインを最大にした場合と最小にした場合の値を基に
計算をしてきたが、上記式より明らかなように、必ずし
もゲインの最大値と最小値を用いる必要はない。即ち、
より一般的には、ゲイン切換回路（３２０）で２種類の
ゲインを設定し、それぞれのゲインについて上記手法で
計算を進めれば良い。ただし、計算上の誤差などを考慮
すると上記例のようにゲインの最大値と最小値を用いる
のが好ましい。
【００４７】ところで、このままでは差動回路（３４
０）の出力（この図２ではフォ−カス誤差信号（３０
２）としている）にオフセットが残ってしまう。そこで
第二のオフセット調整機能を設けて、サ−ボ回路全体の
オフセット調整を行う。
０）の出力（この図２ではフォ−カス誤差信号（３０
２）としている）にオフセットが残ってしまう。そこで
第二のオフセット調整機能を設けて、サ−ボ回路全体の
オフセット調整を行う。
【００４８】先の図１では、このため、誤差信号生成回
路（１１０）の出力に加算回路（１５０）で第二オフセ
ット補正（１８０）を注入する構成としている。
路（１１０）の出力に加算回路（１５０）で第二オフセ
ット補正（１８０）を注入する構成としている。
【００４９】上記の説明において明らかなように、オフ
セットを調整する際には、ゲイン切替回路（３２０）
は、そのゲインを最大及び最小値の２通りに切替えるに
過ぎない。これは一般にゲイン切替を行う際のオフセッ
トの変動量がこの両者の間に於いて最大となるためであ
る。本発明の発想は、この両者に於いて、まず、どちら
の場合でも（ゼロとは行かなくても良いので）同一のオ
フセットとなる様に調整を行い、その後に残留するオフ
セットを第二オフセット補正によりキャンセルしようと
言うものである。
セットを調整する際には、ゲイン切替回路（３２０）
は、そのゲインを最大及び最小値の２通りに切替えるに
過ぎない。これは一般にゲイン切替を行う際のオフセッ
トの変動量がこの両者の間に於いて最大となるためであ
る。本発明の発想は、この両者に於いて、まず、どちら
の場合でも（ゼロとは行かなくても良いので）同一のオ
フセットとなる様に調整を行い、その後に残留するオフ
セットを第二オフセット補正によりキャンセルしようと
言うものである。
【００５０】この手法によれば、ゲイン切替回路（３２
０及び３２１）で何通りのゲイン切替が行われても、オ
フセット調整を行う際には最大・最小の２通りの切替だ
けを行えば良く、オフセット調整に要する時間を短縮出
来る上、オフセット調整回路（３１０及び３１１）に与
えるオフセット補正値（３６０及び３６１）もゲインに
よらず一定値で済み、ゲイン切替に応じて変更する必要
も無い。
０及び３２１）で何通りのゲイン切替が行われても、オ
フセット調整を行う際には最大・最小の２通りの切替だ
けを行えば良く、オフセット調整に要する時間を短縮出
来る上、オフセット調整回路（３１０及び３１１）に与
えるオフセット補正値（３６０及び３６１）もゲインに
よらず一定値で済み、ゲイン切替に応じて変更する必要
も無い。
【００５１】また、オフセット補正値（３６０及び３６
１）の算出は、ゲイン切替回路（３２０及び３２１）の
ゲインが最大及び最小の場合の出力オフセットの差を、
そのゲインの差で割る事で行っている。ゲインの差は回
路設計段階で明らかなものであるから、ゲイン切替回路
（３２０）のゲインを２通りに切替えて出力オフセット
をそれぞれ測定さえすれば、必要なオフセット補正値
（３６０）は、そこから直ちに、しかも一意的に定める
事が出来、オフセット調整の時間を更に短縮する事が可
能である。
１）の算出は、ゲイン切替回路（３２０及び３２１）の
ゲインが最大及び最小の場合の出力オフセットの差を、
そのゲインの差で割る事で行っている。ゲインの差は回
路設計段階で明らかなものであるから、ゲイン切替回路
（３２０）のゲインを２通りに切替えて出力オフセット
をそれぞれ測定さえすれば、必要なオフセット補正値
（３６０）は、そこから直ちに、しかも一意的に定める
事が出来、オフセット調整の時間を更に短縮する事が可
能である。
【００５２】ところで、この様に誤差信号生成回路（１
１０）の出力に残留するオフセットをゼロに調整する事
が、必ずしも光ディスク装置の最適動作を意味しない場
合もある。
１０）の出力に残留するオフセットをゼロに調整する事
が、必ずしも光ディスク装置の最適動作を意味しない場
合もある。
【００５３】例えば、フォーカスサーボ制御において、
再生信号の振幅が最大になる点が真のサ−ボ目標位置で
あるとすると、誤差信号生成回路の出力オフセットが０
の場合でも、基準電圧の位置が真のサ−ボ目標位置とず
れている場合がある。
再生信号の振幅が最大になる点が真のサ−ボ目標位置で
あるとすると、誤差信号生成回路の出力オフセットが０
の場合でも、基準電圧の位置が真のサ−ボ目標位置とず
れている場合がある。
【００５４】図３は、対物レンズをディスクに対して相
対的に変位させた時のフォ−カス誤差信号の波形例であ
るが、図３の基準電圧（言い換えれば、誤差信号生成回
路（１１０）の出力に残留したオフセットを、加算回路
（１５０）及び第二オフセット補正（１８０）により調
整したゼロ電圧レベル）の位置であるＡ点で再生信号振
幅が最大にならず、基準電圧よりずれたＢ点で再生信号
が最大になるような場合がある。これは、光学ヘッド等
の設計、製作時の誤差により生じる。
対的に変位させた時のフォ−カス誤差信号の波形例であ
るが、図３の基準電圧（言い換えれば、誤差信号生成回
路（１１０）の出力に残留したオフセットを、加算回路
（１５０）及び第二オフセット補正（１８０）により調
整したゼロ電圧レベル）の位置であるＡ点で再生信号振
幅が最大にならず、基準電圧よりずれたＢ点で再生信号
が最大になるような場合がある。これは、光学ヘッド等
の設計、製作時の誤差により生じる。
【００５５】この様な場合に対しても、上記の第二オフ
セット補正を用いれば、例えば、光学ヘッドからの再生
信号の振幅をモニタしながら第二オフセット補正のレベ
ルを変化させながら、再生信号の振幅が最大となる、言
い換えれば真のサーボ目標位置である、Ｂ点を探す方法
をとることができる。
セット補正を用いれば、例えば、光学ヘッドからの再生
信号の振幅をモニタしながら第二オフセット補正のレベ
ルを変化させながら、再生信号の振幅が最大となる、言
い換えれば真のサーボ目標位置である、Ｂ点を探す方法
をとることができる。
【００５６】つまり、この第二オフセット補正は、誤差
信号生成回路（１１０）の出力に残留するオフセットの
キャンセルのみを目的とするものでは無く、同時にサー
ボ制御の最適動作点を探索し調整するためのものとする
事も可能である。
信号生成回路（１１０）の出力に残留するオフセットの
キャンセルのみを目的とするものでは無く、同時にサー
ボ制御の最適動作点を探索し調整するためのものとする
事も可能である。
【００５７】本発明に於いては要素・構成の無用な増加
を抑えたまま、誤差信号生成回路（１１０）の出力に残
留するオフセットのキャンセルと、サーボ制御の最適動
作点の探索・調整のためにも兼用する事が出来る。
を抑えたまま、誤差信号生成回路（１１０）の出力に残
留するオフセットのキャンセルと、サーボ制御の最適動
作点の探索・調整のためにも兼用する事が出来る。
【００５８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、オ
フセット調整の回数を減らし、オフセット調整に要する
時間を短縮することができる。
フセット調整の回数を減らし、オフセット調整に要する
時間を短縮することができる。
【００５９】また、誤差信号に残留するオフセットのキ
ャンセルと、サーボ動作の最適動作点の探索・調整を同
一の構成要素で兼用する事が出来るので、要素・構成の
無用な増加を抑えたままで光ディスク装置としての動作
を最適なものとする事が出来る。
ャンセルと、サーボ動作の最適動作点の探索・調整を同
一の構成要素で兼用する事が出来るので、要素・構成の
無用な増加を抑えたままで光ディスク装置としての動作
を最適なものとする事が出来る。
【００６０】また、オフセットの補正値を直ちに一意的
なものとして算出出来るので、オフセット調整に要する
時間を短縮出来る。
なものとして算出出来るので、オフセット調整に要する
時間を短縮出来る。
【００６１】また、アンプゲインの最大値と最小値の間
で演算することにより演算誤差を少なくすることがで
き、より正確な演算結果を得ることができる。
で演算することにより演算誤差を少なくすることがで
き、より正確な演算結果を得ることができる。
【００６２】更に、本発明は、比較的簡単な構成で実現
できるので、上述のように大幅なハードウエアの増加を
伴うことなく、このために、装置の小型化、軽量化、低
価格化にも資することができる。
できるので、上述のように大幅なハードウエアの増加を
伴うことなく、このために、装置の小型化、軽量化、低
価格化にも資することができる。
【図１】本発明の一実施形態を示す光ディスク装置の構
成を示した図である。
成を示した図である。
【図２】本発明の一実施形態での誤差信号生成回路の構
成を示した図である。
成を示した図である。
【図３】第二のオフセット調整の必要性を示すためのフ
ォ−カス誤差信号の波形例である。
ォ−カス誤差信号の波形例である。
【図４】本発明の従来技術による光ディスク装置の構成
を示した図である。
を示した図である。
１００ 光学ヘッド １１０ 誤差生成回路 １２０ 位相補償回路 １３０ 対物レンズ駆動手段 １４０ サ−ボブロック制御回路 １５０ 加算回路 １６０ ゲイン切替信号 １７０ 第一オフセット補正 １８０ 第二オフセット補正 １９０ オフセットモニタ信号 ３００ ＰＤＡ ３０１ ＰＤＢ ３０２ フォ−カス誤差信号 ３１０、３１１ オフセット調整回路 ３２０、３２１ ゲイン切替回路 ３３０、３３１ アンプ ３４０ 差動回路 ３５０ 誤差生成部制御回路 ３６０、３６１ オフセット補正値 ３７０ ゲイン設定信号 ３８０、３８１ オフセットモニタ信号 ４００ 光学ヘッド ４１０ 誤差生成回路 ４２０ 位相補償回路 ４３０ 対物レンズ駆動手段 ４４０ サ−ボブロック制御回路 ４５０ ゲイン切替信号 ４６０ オフセット補正 ４７０ オフセットモニタ信号
Claims (4)
- 【請求項１】 光ディスクの種類、または、装置の動作
状態でサーボ誤差生成部のゲインを切換える光ディスク
装置において、 光ディスク面で反射された反射光を受光する受光部と、 該受光部で受光された信号からサーボ誤差信号を生成す
る誤差信号生成部と、 該誤差信号生成部からの出力信号を基に少なくとも該誤
差信号生成部を制御する制御信号を生成する制御部と、 を具備し、前記誤差信号生成部は、 該誤差信号生成部からの出力信号のオフセット量を前記
制御部からの制御信号であるオフセット調整信号により
調整するオフセット調整部と、 該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前記制御部
からの制御信号であるゲイン調整信号により調整するア
ンプと、 を具備し、前記オフセット調整信号は、 前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前
記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプのゲ
インを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号生成
部出力のオフセット量とが同一となるように調整するこ
とを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 光ディスクの種類、または、装置の動作
状態でサーボ誤差生成部のゲインを切換える光ディスク
装置において、 光ディスク面で反射された反射光を受光する受光部と、 該受光部で受光された信号からサーボ誤差信号を生成す
る誤差信号生成部と、 該誤差信号生成部出力のオフセット量を調整する第２の
オフセット調整部と、 該誤差信号生成部からの出力信号を基に少なくとも前記
誤差信号生成部と前記第２のオフセット調整部とを制御
する制御信号を生成する制御部と、 を具備し、前記誤差信号生成部は、 該誤差信号生成部からの出力信号のオフセット量を前記
制御部からの制御信号であるオフセット調整信号により
調整する第１のオフセット調整部と、 該誤差信号生成部からの出力信号のゲインを前記制御部
からの制御信号であるゲイン調整信号により調整するア
ンプと、 を具備し、前記オフセット調整信号は、 前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前
記誤差信号生成部出力のオフセット量と前記アンプのゲ
インを第２のゲインに設定したときの前記誤差信号生成
部出力のオフセット量とが同一となることを特徴とする
光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記オフセット調整信号は、 前記アンプのゲインを第１のゲインに設定したときの前
記誤差信号生成部出力と前記アンプのゲインを第２のゲ
インに設定したときの前記誤差信号生成部出力との差
を、前記第１のゲインと前記第２のゲインとの差で除算
した値とすることを特徴とする請求項１または請求項２
に記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】 前記第１のゲインは、前記アンプの最大
ゲインであり、また、前記第２のゲインは前記アンプの
最小ゲインであることを特徴とする請求項１乃至請求項
３の何れかに記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08521499A JP3500090B2 (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08521499A JP3500090B2 (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000285480A true JP2000285480A (ja) | 2000-10-13 |
| JP3500090B2 JP3500090B2 (ja) | 2004-02-23 |
Family
ID=13852338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08521499A Expired - Fee Related JP3500090B2 (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3500090B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6917571B2 (en) | 2000-04-14 | 2005-07-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disk drive having gain control to maintain stability of a servo system |
| US7151723B2 (en) | 2000-08-29 | 2006-12-19 | Teac Corporation | Optical disc device |
| US7606121B2 (en) | 2004-07-29 | 2009-10-20 | Panasonic Corporation | Optical disk drive with target focus control |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9673917B2 (en) | 2008-05-30 | 2017-06-06 | Qualcomm Incorporated | Calibration using noise power |
-
1999
- 1999-03-29 JP JP08521499A patent/JP3500090B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6917571B2 (en) | 2000-04-14 | 2005-07-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disk drive having gain control to maintain stability of a servo system |
| US7151723B2 (en) | 2000-08-29 | 2006-12-19 | Teac Corporation | Optical disc device |
| US7606121B2 (en) | 2004-07-29 | 2009-10-20 | Panasonic Corporation | Optical disk drive with target focus control |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3500090B2 (ja) | 2004-02-23 |
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