JP2000267274A - Photosensitive resin composition and printed circuit board - Google Patents

Photosensitive resin composition and printed circuit board

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JP2000267274A
JP2000267274A JP6699099A JP6699099A JP2000267274A JP 2000267274 A JP2000267274 A JP 2000267274A JP 6699099 A JP6699099 A JP 6699099A JP 6699099 A JP6699099 A JP 6699099A JP 2000267274 A JP2000267274 A JP 2000267274A
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憲一 島田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a photosensitive resin composition usable for a soldering resist layer, an interlayer resin insulating layer, etc., and excellent in cracking resistance and adhesion to a conductor circuit under heat cycle conditions by using the (meth)acrylate of epoxy resin, a curing agent and a P-containing (meth)acrylic ester monomer. SOLUTION: The photosensitive resin composition comprises the (meth) acrylate of epoxy resin, a curing agent and a P-containing (meth)acrylic ester monomer. This monomer is preferably a compound of formula I or II. In the formula I and II, (n) is 0 or 1 and (a) to (c) are each 1 or 2. A resin layer obtained by curing the photosensitive resin composition has high flexibility because a reaction product of the P-containing (meth)acrylic ester monomer is contained and brittleness peculiar to the epoxy resin can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ソルダーレジス
ト、めっきレジスト、層間樹脂絶縁層等に使用される感
光性樹脂組成物およびプリント配線板に関し、特に、熱
サイクル特性に優れる感光性組成物およびこれを用いた
プリント配線板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive resin composition and a printed wiring board used for a solder resist, a plating resist, an interlayer resin insulating layer, etc., and more particularly to a photosensitive composition having excellent heat cycle characteristics and a printed wiring board. And a printed wiring board using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、プリント配線板では、表層に露
出した導体回路を保護する目的や、電子部品を搭載する
導体パッド表面に供給したはんだ体の流出やブリッジを
防ぐ目的から、最外層としてソルダーレジスト層を形成
する。ソルダーレジスト層を形成する際には、基板上の
導体回路全体を覆うようにソルダーレジスト層を設けた
後、ICチップと接続するために形成された導体パッド
部分を露出させるために開口を設けると共に他の導体回
路は保護し、この開口にICチップと接続するためのは
んだバンプと呼ばれる球状あるいは突起状のはんだ体を
形成する。この際、形成したソルダーレジスト層は、ソ
ルダーダムとして機能する。
2. Description of the Related Art In general, a printed wiring board has a solder layer as an outermost layer for the purpose of protecting a conductor circuit exposed on a surface layer and for preventing a solder body supplied to a surface of a conductor pad for mounting electronic components from flowing out or bridging. A resist layer is formed. When forming the solder resist layer, a solder resist layer is provided so as to cover the entire conductor circuit on the substrate, and then an opening is provided to expose a conductor pad portion formed for connection with an IC chip. Other conductor circuits are protected, and a spherical or protruding solder body called a solder bump for connecting to an IC chip is formed in this opening. At this time, the formed solder resist layer functions as a solder dam.

【0003】このようなソルダーレジスト層としては、
Pbマイグレーションが発生しにくいノボラック型エポ
キシ樹脂の(メタ)アクリレートを主成分とする組成物
を使用することが望ましい。しかしながら、このソルダ
ーレジスト層は、可撓性に欠ける樹脂を主成分としてい
るので、ヒートサイクル試験時に導体層との熱膨張率の
差に起因したクラックが発生しやすいという問題があっ
た。
[0003] As such a solder resist layer,
It is desirable to use a composition mainly composed of (meth) acrylate of a novolak epoxy resin in which Pb migration hardly occurs. However, since this solder resist layer is mainly composed of a resin lacking in flexibility, there is a problem that cracks are likely to occur due to a difference in thermal expansion coefficient with the conductor layer during a heat cycle test.

【0004】また、ソルダーレジスト組成物に限らず、
導体回路を積層する際に導体回路の間に形成される層間
樹脂絶縁層などにおいても、上記ソルダーレジスト組成
物と同様の問題があった。
[0004] In addition to the solder resist composition,
The same problem as in the above-mentioned solder resist composition also occurred in an interlayer resin insulating layer formed between the conductor circuits when the conductor circuits were laminated.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来技術が
抱える上述した問題を解消するためになされたものであ
り、その主たる目的は、ソルダーレジスト層や層間樹脂
絶縁層などに使用することができる、ヒートサイクル条
件下での耐クラック性や導体回路との密着性に優れた感
光性樹脂組成物を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and its main purpose is to use it for a solder resist layer, an interlayer resin insulation layer and the like. An object of the present invention is to provide a photosensitive resin composition which is excellent in crack resistance under heat cycle conditions and adhesion to a conductor circuit.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨
構成とする本発明を完成するに至った。即ち、本発明の
感光性樹脂組成物は、エポキシ樹脂の(メタ)アクリレ
ート、硬化剤および分子中にP原子を有する(メタ)ア
クリル酸エステルモノマーからなることを特徴とする。
上記分子中にP原子を有する(メタ)アクリル酸エステ
ルモノマーは、下記の化学式(1)または化学式(2)
で表される化合物であることが望ましい。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies for realizing the above-mentioned object, and as a result, have completed the present invention having the following contents. That is, the photosensitive resin composition of the present invention is characterized by comprising a (meth) acrylate of an epoxy resin, a curing agent, and a (meth) acrylate monomer having a P atom in a molecule.
The (meth) acrylate monomer having a P atom in the molecule is represented by the following chemical formula (1) or (2)
Is desirable.

【0007】[0007]

【化3】 Embedded image

【0008】(式中、nは、0または1、a、bは、1
または2を表す。)
(Where n is 0 or 1, a and b are 1
Or 2 is represented. )

【0009】[0009]

【化4】 Embedded image

【0010】(式中、nは、0または1、cは、1また
は2を表す。)上記感光性樹脂組成物は、導体回路を被
覆するソルダーレジスト層や層間樹脂絶縁層として形成
されていてもよく、また、導体回路間にあってめっきレ
ジストとして形成されていてもよい。
(In the formula, n represents 0 or 1, and c represents 1 or 2.) The photosensitive resin composition is formed as a solder resist layer or an interlayer resin insulating layer covering a conductor circuit. Alternatively, it may be formed as a plating resist between conductor circuits.

【0011】また、本発明のプリント配線板は、導体回
路を形成した基板上に感光性樹脂層が形成されたプリン
ト配線板において、上記感光性樹脂層は、エポキシ樹脂
の(メタ)アクリレート、硬化剤および分子中にP原子
を有する(メタ)アクリル酸エステルモノマーの反応物
からなることを特徴とする。
Further, the printed wiring board of the present invention is a printed wiring board in which a photosensitive resin layer is formed on a substrate on which a conductor circuit is formed, wherein the photosensitive resin layer is made of epoxy resin (meth) acrylate, And a reactant of a (meth) acrylate monomer having a P atom in the molecule.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の感光性樹脂組成物は、エ
ポキシ樹脂の(メタ)アクリレート、硬化剤および分子
中にP原子を有する(メタ)アクリル酸エステルモノマ
ーからなることに特徴がある。この感光性樹脂組成物を
硬化して得られる樹脂層は、P原子を有する(メタ)ア
クリル酸エステルモノマーの反応物を含んでいることか
ら可撓性が高く、エポキシ樹脂自身の有するもろさを改
善することができる。また、熱膨張率を低くすることが
できるため、この感光性樹脂組成物上に導体層を形成し
た際、上記導体層と上記感光性樹脂組成物の熱膨張率差
に起因したクラックの発生を抑制することができる。さ
らに、P原子を有する化合物は金属との密着性にも優れ
るため、上記感光性樹脂組成物と接触する導体回路の上
記感光性樹脂組成物に対する密着性を改善することがで
きる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The photosensitive resin composition of the present invention is characterized by comprising a (meth) acrylate of an epoxy resin, a curing agent and a (meth) acrylate monomer having a P atom in a molecule. The resin layer obtained by curing this photosensitive resin composition is highly flexible because it contains a reactant of a (meth) acrylate monomer having a P atom, and improves the fragility of the epoxy resin itself. can do. In addition, since the coefficient of thermal expansion can be reduced, when a conductor layer is formed on the photosensitive resin composition, the occurrence of cracks due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the conductor layer and the photosensitive resin composition is reduced. Can be suppressed. Furthermore, since the compound having a P atom has excellent adhesion to a metal, the adhesion of a conductor circuit in contact with the photosensitive resin composition to the photosensitive resin composition can be improved.

【0013】このような構成のレジスト組成物を用いて
形成したソルダーレジスト層、めっきレジスト、層間樹
脂絶縁層を有する本発明のプリント配線板は、ヒートサ
イクル試験においても、これらソルダーレジスト層、層
間樹脂絶縁層などにクラックが発生せずヒートサイクル
特性に優れる。また、導体回路との密着性にも優れるた
め、剥離が発生しにくい。
The printed wiring board of the present invention having a solder resist layer, a plating resist, and an interlayer resin insulating layer formed using the resist composition having such a structure can be used in a heat cycle test. Excellent heat cycle characteristics without cracks in the insulating layer. In addition, since the adhesiveness to the conductor circuit is excellent, peeling hardly occurs.

【0014】上記P原子を有する(メタ)アクリル酸エ
ステルモノマーとしては、上記P原子を有するものであ
れば特に限定されないが、例えば、化合物中にフォスフ
ィン酸またはフォスフォン酸を有し、化合物の一端にア
クリル酸またはメタクリル酸のエステル構造を有するも
のが望ましい。このような(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては、上記化学式(1)、上記化学式
(2)などで表される化合物が挙げられる。これらの
(メタ)アクリル酸エステルモノマーは、単独で用いて
もよいし、2種以上併用してもよい。具体的には、例え
ば、日本火薬社製のKAYAMER PM−2、LAY
AMAER PM−21、などが挙げられる。上記日本
火薬社製のKAYAMER PM−2は、下記化学式
(3)で表されるメタクリル酸エステルモノマーを主成
分とし、
The (meth) acrylic acid ester monomer having a P atom is not particularly limited as long as it has the P atom. For example, phosphinic acid or phosphonic acid is contained in the compound, and one end of the compound is used. Preferably have an acrylic acid or methacrylic acid ester structure. Examples of such a (meth) acrylate monomer include compounds represented by the above chemical formulas (1) and (2). These (meth) acrylate monomers may be used alone or in combination of two or more. Specifically, for example, KAYAMER PM-2 and LAY manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
AMAER PM-21, and the like. KAYAMER PM-2 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. contains a methacrylate monomer represented by the following chemical formula (3) as a main component,

【0015】[0015]

【化5】 Embedded image

【0016】下記化学式(4)および(5)で表される
メタクリル酸エステルモノマーを含有した混合物であ
る。
This is a mixture containing methacrylic acid ester monomers represented by the following chemical formulas (4) and (5).

【0017】[0017]

【化6】 Embedded image

【0018】[0018]

【化7】 Embedded image

【0019】また、日本火薬社製のLAYAMAER
PM−21は、下記化学式(6)で表されるメタクリル
酸エステルモノマーを主成分とし、
Also, LAYAMAER manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
PM-21 has a methacrylate monomer represented by the following chemical formula (6) as a main component,

【0020】[0020]

【化8】 Embedded image

【0021】下記化学式(7)および(8)で表される
メタクリル酸エステルモノマーを含有した混合物であ
る。
This is a mixture containing methacrylic acid ester monomers represented by the following chemical formulas (7) and (8).

【0022】[0022]

【化9】 Embedded image

【0023】[0023]

【化10】 Embedded image

【0024】これらの化合物中のフォスフィン酸または
フォスフォン酸は、金属との密着性を改善し、また、直
鎖分子は可撓性を与える。
The phosphinic acid or phosphonic acid in these compounds improves the adhesion to the metal, and the straight-chain molecules provide flexibility.

【0025】このP原子を有する(メタ)アクリル酸エ
ステルモノマーの配合量は、樹脂マトリックスの全固形
分に対して0.5〜20重量%が好ましく、1〜5重量
%がより好ましい。(メタ)アクリル酸エステルモノマ
ーの配合量が20重量%を超えると、紫外線等を露光し
た場合に硬化が進行しすぎて開口部にショルダーや未開
口が生じ、一方、0.5重量%未満であると、可撓性が
低下してクラックの発生を抑制することができず、ま
た、金属との密着性が低下してしまうからである。
The amount of the (meth) acrylate monomer having a P atom is preferably 0.5 to 20% by weight, more preferably 1 to 5% by weight, based on the total solid content of the resin matrix. If the amount of the (meth) acrylic acid ester monomer exceeds 20% by weight, the curing proceeds excessively when exposed to ultraviolet rays or the like, and shoulders and unopened portions are formed in the openings. If there is, the flexibility is reduced and the generation of cracks cannot be suppressed, and the adhesion to metal decreases.

【0026】上記エポキシ樹脂の(メタ)アクリレート
は、エポキシ樹脂とアクリル酸やメタクリル酸などとを
反応させることにより得られるものである。反応に用い
られる上記エポキシ樹脂としては、例えば、ノボラック
型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、脂環
式エポキシ樹脂から選ばれる少なくとも1種が挙げられ
る。
The (meth) acrylate of the epoxy resin is obtained by reacting the epoxy resin with acrylic acid, methacrylic acid or the like. Examples of the epoxy resin used for the reaction include at least one selected from a novolak epoxy resin, a bisphenol epoxy resin, and an alicyclic epoxy resin.

【0027】上記ノボラック型エポキシ樹脂としては、
例えば、フェノールノボラックまたはクレゾールノボラ
ックのグリシジルエーテルなどが挙げられ、ビスフェノ
ール型エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノール
A型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂な
どが挙げられる。エポキシ樹脂自身は、耐熱性、耐薬品
性に優れるが靱性が低い上、金属との密着性が悪いが、
本発明では、上記P原子を有する(メタ)アクリル酸エ
ステルモノマーを感光性樹脂組成物中に配合するため、
このようなエポキシ樹脂の持つ欠点を改善することがで
きる。
The novolak type epoxy resin includes:
For example, a glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak is mentioned, and as a bisphenol type epoxy resin, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin and the like are mentioned. Epoxy resin itself is excellent in heat resistance and chemical resistance, but has low toughness and poor adhesion to metal,
In the present invention, the (meth) acrylate monomer having a P atom is blended in the photosensitive resin composition.
The disadvantages of such an epoxy resin can be improved.

【0028】本発明で使用されるエポキシ樹脂の硬化剤
としては、酸無水物、アミン系硬化剤、イミダゾール硬
化剤から選ばれる少なくとも1種以上が望ましい。特
に、イミダゾール硬化剤は、その硬化物が耐薬品性や耐
熱性に優れるため有利である。また、イミダゾール硬化
剤としては、25℃で液状であるイミダゾール硬化剤を
用いることが望ましい。粉末では均一混練が難しく、液
状の方が均一に混練できるからである。このような液状
イミダゾール硬化剤としては、例えば、1−ベンジル−
2−メチルイミダゾール(四国化成社製、1B2M
Z)、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミ
ダゾール(四国化成社製、2E4MZ−CN)、4−メ
チル−2−エチルイミダゾール(四国化成社製、2E4
MZ)などが挙げられる。このイミダゾール硬化剤の添
加量は、上記感光性樹脂組成物の総固形分に対して1〜
10重量%とすることが望ましい。この理由は、添加量
がこの範囲内であれば均一混合しやすいからである。
The curing agent for the epoxy resin used in the present invention is desirably at least one selected from acid anhydrides, amine curing agents, and imidazole curing agents. In particular, imidazole curing agents are advantageous because their cured products are excellent in chemical resistance and heat resistance. Further, as the imidazole curing agent, it is desirable to use an imidazole curing agent that is liquid at 25 ° C. This is because uniform kneading is difficult with powder, and liquid can be kneaded more uniformly. As such a liquid imidazole curing agent, for example, 1-benzyl-
2-Methylimidazole (1B2M manufactured by Shikoku Chemicals)
Z), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 4-methyl-2-ethylimidazole (2E4, manufactured by Shikoku Chemicals)
MZ). The amount of the imidazole curing agent to be added is 1 to the total solid content of the photosensitive resin composition.
Desirably, it is 10% by weight. The reason for this is that if the added amount is within this range, uniform mixing is easy.

【0029】なお、本発明のソルダーレジスト組成物
は、溶剤としてグリコールエーテル系溶剤などを用い、
その粘度を25℃で1〜10Pa・sとすることが好ま
しく、2〜3Pa・sとすることがより好ましい。この
ように25℃で1〜10Pa・sの粘度に調整した感光
性樹脂組成物を用いて形成した感光性樹脂層は、樹脂分
子鎖同志の隙間が小さく、この隙間を移動するPbの拡
散(鉛のマイグレーション)が少なくなる結果、プリン
ト配線板のショート不良が低減される。また、上記ソル
ダーレジスト組成物の粘度が25℃で1〜10Pa・s
であるので、基板を垂直に立てた状態で両面同時に塗布
してもその組成物が垂れることはなく、上記状態での良
好な塗布が可能となる。ところが、上記ソルダーレジス
ト組成物の粘度が25℃で10Pa・sを超えると、粘
性が上がりすぎ、ロールコータによる塗布ができないの
で、10Pa・s以下が好ましい。
The solder resist composition of the present invention uses a glycol ether-based solvent or the like as a solvent.
The viscosity at 25 ° C. is preferably 1 to 10 Pa · s, more preferably 2 to 3 Pa · s. The photosensitive resin layer formed by using the photosensitive resin composition adjusted to a viscosity of 1 to 10 Pa · s at 25 ° C. has a small gap between resin molecular chains, and diffusion of Pb moving through the gap ( As a result, the short circuit failure of the printed wiring board is reduced. Further, the viscosity of the solder resist composition at 25 ° C. is 1 to 10 Pa · s.
Therefore, even if the composition is applied simultaneously on both sides in a state where the substrate is set upright, the composition does not sag, and good application in the above-mentioned state is possible. However, if the viscosity of the solder resist composition exceeds 10 Pa · s at 25 ° C., the viscosity is too high and coating with a roll coater cannot be performed.

【0030】さらに、溶剤としてグリコールエーテル系
溶剤を使用したソルダーレジスト組成物からなるソルダ
ーレジスト層は、遊離酸素が発生しないので、銅パッド
表面を酸化させない。また、人体に対する有害性も少な
い。上記グリコールエーテル系溶剤としては、例えば、
下記の一般式(9)に示す化学構造を有するものが望ま
しく、具体的には、ジエチレングリコールジメチルエー
テル(DMDG)およびトリエチレングリコールジメチ
ルエーテル(DMTG)から選ばれる少なくとも1種を
用いることがより望ましい。これらの溶剤は、30〜5
0℃程度の加温により重合開始剤であるベンゾフェノン
やミヒラーケトンを完全に溶解させることができるから
である。 CH3 O−(CH2 CH2 O)n −CH3 ・・・・(9) (上記式中、nは1〜5の整数である。) このグリコールエーテル系溶剤は、感光性樹脂組成物の
全重量に対して10〜40重量%含有させることが好ま
しい。
Further, the solder resist layer made of a solder resist composition using a glycol ether-based solvent as a solvent does not generate free oxygen, so that the surface of the copper pad is not oxidized. It is also less harmful to the human body. As the glycol ether solvent, for example,
Those having the chemical structure represented by the following general formula (9) are desirable, and more specifically, it is more desirable to use at least one selected from diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and triethylene glycol dimethyl ether (DMTG). These solvents are 30 to 5
This is because benzophenone and Michler's ketone, which are polymerization initiators, can be completely dissolved by heating at about 0 ° C. CH 3 O— (CH 2 CH 2 O) n —CH 3 (9) (in the above formula, n is an integer of 1 to 5.) The glycol ether solvent is a photosensitive resin composition. Is preferably contained in an amount of 10 to 40% by weight based on the total weight of

【0031】本発明の感光性樹脂組成物中には、無機粒
子または樹脂粒子が含有されていてもよい。これらの粒
子が存在すると、感光性樹脂組成物の硬化収縮を抑制す
ることができる。また、上記粒子を溶解除去または分解
除去することにより粗化面を形成することができ、この
粗化面に無電解めっきや電気めっきを施すことにより、
導体回路を形成することができる。上記無機粒子として
は、例えば、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウ
ム、ドロマイトなどが挙げられる。これらは、単独で用
いてもよく、2種以上を併用してもよい。上記樹脂粒子
としては、例えば、アミン系硬化剤で硬化されたエポキ
シ樹脂、アミノ樹脂(尿素樹脂、メラミン樹脂、グアナ
ミン樹脂)、ベンゾグアナミン樹脂、ポリエステル樹
脂、フェノール樹脂などが挙げられる。これらは、単独
で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。上記粒子
の粒径としては、0.1〜10μmが望ましい。
The photosensitive resin composition of the present invention may contain inorganic particles or resin particles. When these particles are present, curing shrinkage of the photosensitive resin composition can be suppressed. Further, a roughened surface can be formed by dissolving or decomposing and removing the particles, and by performing electroless plating or electroplating on the roughened surface,
Conductive circuits can be formed. Examples of the inorganic particles include silica, alumina, talc, calcium carbonate, dolomite and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Examples of the resin particles include an epoxy resin, an amino resin (urea resin, melamine resin, guanamine resin), a benzoguanamine resin, a polyester resin, and a phenol resin cured with an amine-based curing agent. These may be used alone or in combination of two or more. The particle size of the particles is desirably 0.1 to 10 μm.

【0032】また、本発明の感光性樹脂組成物には、分
子量500〜5000程度の(メタ)アクリル酸エステ
ルの重合体を含有していることが望ましい。この重合体
は、25℃で液状であり、クレゾールノボラックエポキ
シ樹脂(メタ)アクリレートと相溶しやすく、レベリン
グ作用、消泡作用を持つからである。このため、上記
(メタ)アクリル酸エステルの重合体を含有するソルダ
ーレジスト層は、表面平滑性に優れ、はじきや気泡によ
る凹凸もない。また、この重合体は、感光性樹脂成分と
の相溶性を有しており、樹脂成分中に分散して透光性を
低下させないので、現像残りが発生しにくい。
The photosensitive resin composition of the present invention preferably contains a polymer of a (meth) acrylate having a molecular weight of about 500 to 5,000. This is because this polymer is liquid at 25 ° C., is easily compatible with cresol novolak epoxy resin (meth) acrylate, and has a leveling action and a defoaming action. For this reason, the solder resist layer containing the polymer of the (meth) acrylic ester is excellent in surface smoothness and free from repelling and air bubbles. In addition, this polymer has compatibility with the photosensitive resin component, and does not disperse in the resin component to lower the light transmittance, so that development residue hardly occurs.

【0033】本発明に用いられる(メタ)アクリル酸エ
ステルの重合体は、炭素数1〜10のアルコールとアク
リル酸、メタクリル酸もしくはその誘導体とのエステル
の重合体であることが望ましい。上記炭素数1〜10の
アルコールとしては、例えば、プロピルアルコール、イ
ソプロピルアルコール、n−ブチルアルコール、tert−
ブチルアルコール、イソブチルアルコール、ペンチルア
ルコール、ヘキシルアルコール、オクチルアルコール、
2−エチルヘキシルアルコール、アミルアルコール等の
一価アルコール、1,2−エタンジオール等の多価アル
コール等が挙げられる。これらのなかでは、炭素数3〜
8のアルコールが好ましい。
The (meth) acrylic acid ester polymer used in the present invention is preferably an ester polymer of an alcohol having 1 to 10 carbon atoms and acrylic acid, methacrylic acid or a derivative thereof. As the alcohol having 1 to 10 carbon atoms, for example, propyl alcohol, isopropyl alcohol, n-butyl alcohol, tert-
Butyl alcohol, isobutyl alcohol, pentyl alcohol, hexyl alcohol, octyl alcohol,
Examples thereof include monohydric alcohols such as 2-ethylhexyl alcohol and amyl alcohol, and polyhydric alcohols such as 1,2-ethanediol. Among these, carbon number 3 ~
Eight alcohols are preferred.

【0034】また、上記(メタ)アクリル酸エステルの
重合体は、クレゾールノボラック樹脂との相溶性に優れ
ており、特に、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレー
ト、ブチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アク
リレートおよびヒドロキシエチル(メタ)アクリレート
から選ばれる少なくとも1種からなるものが望ましい。
2−エチルヘキシル(メタ)アクリレートは、分岐して
いるため界面活性作用を付与することができ、めっきレ
ジストがゴミなどに弾かれるのを防止することができ
る。また、ブチル(メタ)アクリレートは、レベリング
作用や消泡作用を担い、エチル(メタ)アクリレートお
よびヒドロキシエチル(メタ)アクリレートは、相溶性
を向上させると考えられる。上記4種の(メタ)アクリ
レートは、それぞれ単独で重合させたものを単独で使用
してもよく、2種以上を併用してもよい。また、上記4
種の(メタ)アクリレートから選ばれる2種以上のアク
リレートを共重合させたものを単独で使用してもよく、
これらを混合して使用してもよい。
The (meth) acrylic acid ester polymer is excellent in compatibility with cresol novolak resin, and particularly, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate And at least one selected from hydroxyethyl (meth) acrylate.
Since 2-ethylhexyl (meth) acrylate is branched, it can impart a surfactant effect, and can prevent the plating resist from being repelled by dust or the like. Also, butyl (meth) acrylate is considered to have a leveling action and a defoaming action, and ethyl (meth) acrylate and hydroxyethyl (meth) acrylate are considered to improve compatibility. The above four types of (meth) acrylates may be used alone, each of which is polymerized alone, or two or more types may be used in combination. In addition, the above 4
One obtained by copolymerizing two or more acrylates selected from the (meth) acrylates may be used alone,
These may be mixed and used.

【0035】例えば、上記4種の(メタ)アクリレート
を全て使用する場合、2−エチルヘキシルアクリレート
/ブチルアクリレートの重量比は40/60〜60/4
0が望ましく、(2−エチルヘキシルアクリレートとブ
チルアクリレートとの混合物)/エチルアクリレートの
重量比は90/10〜97/3が望ましく、(2−エチ
ルヘキシルアクリレートとブチルアクリレートとの混合
物)/ヒドロキシエチルアクリレートの重量比は95/
5〜99/1が望ましい。
For example, when all of the above four (meth) acrylates are used, the weight ratio of 2-ethylhexyl acrylate / butyl acrylate is 40/60 to 60/4.
0 is desirable, the weight ratio of (mixture of 2-ethylhexyl acrylate and butyl acrylate) / ethyl acrylate is preferably 90/10 to 97/3, and (mixture of 2-ethylhexyl acrylate and butyl acrylate) / hydroxyethyl acrylate The weight ratio is 95 /
5 to 99/1 is desirable.

【0036】このような(メタ)アクリル酸エステルの
重合体の分子量が、500〜5000程度が好ましいの
は、この範囲では、25℃において液状であり、ソルダ
ーレジストを調製する際、感光性樹脂と混合しやすいか
らである。分子量が5000を超えると粘度が高くな
り、レベリング作用や消泡作用が低下する。逆に分子量
が500未満では、レベリング作用や消泡作用がみられ
ない。特に望ましい(メタ)アクリル酸エステルの重合
体の分子量は、2000〜3000である。この範囲で
は、粘度が250〜550cps(25℃)となり、さ
らに感光性樹脂組成物をを調製しやすくなるからであ
る。
The molecular weight of such a (meth) acrylic acid ester polymer is preferably about 500 to 5,000 in this range, because the polymer is liquid at 25 ° C. This is because they are easily mixed. When the molecular weight exceeds 5,000, the viscosity increases, and the leveling action and the defoaming action decrease. Conversely, when the molecular weight is less than 500, no leveling action or defoaming action is observed. The particularly desirable molecular weight of the (meth) acrylate polymer is from 2,000 to 3,000. In this range, the viscosity becomes 250 to 550 cps (25 ° C.), and the photosensitive resin composition can be easily prepared.

【0037】(メタ)アクリル酸エステルの重合体の添
加量は、感光性樹脂成分100重量部に対して0.1〜
5重量部が望ましく、0.2〜1.0重量部がより望ま
しい。0.1重量部未満であると、レベリング作用や消
泡作用が低下し、気泡に起因するPbマイグレーション
やクラックが発生しやすく、逆に、5重量部を超える
と、ガラス転移点が低下して耐熱性が低下するからであ
る。
The amount of the (meth) acrylate polymer to be added is 0.1 to 100 parts by weight of the photosensitive resin component.
5 parts by weight is desirable, and 0.2 to 1.0 parts by weight is more desirable. When the amount is less than 0.1 part by weight, the leveling action and the defoaming action are reduced, and Pb migration and cracks caused by bubbles are easily generated. Conversely, when the amount exceeds 5 parts by weight, the glass transition point is lowered. This is because heat resistance is reduced.

【0038】以上説明した感光性樹脂組成物には、その
他に、各種消泡剤やレベリング剤、耐熱性や耐塩基性の
改善と可撓性付与のために熱硬化性樹脂、解像度改善の
ために感光性モノマーなどを添加することができる。さ
らに、感光性樹脂組成物には、色素や顔料を添加しても
よい。配線パターンを隠蔽できるからである。この色素
としてはフタロシアニングリーンを用いることが望まし
い。
In addition to the above-described photosensitive resin compositions, various defoaming agents and leveling agents, thermosetting resins for improving heat resistance and base resistance and imparting flexibility, and for improving resolution. , A photosensitive monomer or the like can be added. Further, a dye or a pigment may be added to the photosensitive resin composition. This is because the wiring pattern can be hidden. It is desirable to use phthalocyanine green as this dye.

【0039】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、ビス
フェノール型エポキシ樹脂を用いることができる。この
ビスフェノール型エポキシ樹脂には、ビスフェノールA
型エポキシ樹脂とビスフェノールF型のエポキシ樹脂と
があり、耐塩基性を重視する場合には前者が、低粘度化
が要求される場合(塗布性を重視する場合)には後者が
好ましく用いられる。
As the thermosetting resin, for example, a bisphenol type epoxy resin can be used. This bisphenol type epoxy resin includes bisphenol A
There are a type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin. The former is preferably used when basic resistance is emphasized, and the latter is used when low viscosity is required (when applicability is emphasized).

【0040】上記感光性モノマーとしては、例えば、多
価アクリル系モノマーを用いることができる。多価アク
リル系モノマーとしては、例えば、下記の式(10)に
示すような化学構造を有するものが望ましい。下記の式
(10)で示した化合物としては、例えば、日本化薬製
のDPE−6A等が挙げられる。
As the photosensitive monomer, for example, a polyacrylic monomer can be used. As the polyvalent acrylic monomer, for example, a monomer having a chemical structure represented by the following formula (10) is desirable. Examples of the compound represented by the following formula (10) include DPE-6A manufactured by Nippon Kayaku.

【0041】[0041]

【化11】 Embedded image

【0042】本発明のソルダーレジスト組成物には、重
合開始剤(反応促進剤)として、ベンゾフェノン(B
P)の他に、ミヒラーケトン(MK)や下記の式(1
1)の化学構造を有する化合物を添加することが望まし
く、光増感剤として下記の式(12)の化学構造を有す
る化合物を添加することが望ましい。これらの化合物は
入手しやすく、また人体に対する安全性も高いからであ
る。
The solder resist composition of the present invention contains benzophenone (B) as a polymerization initiator (reaction accelerator).
P), Michler's ketone (MK) and the following formula (1)
It is desirable to add a compound having the chemical structure of 1), and it is desirable to add a compound having the chemical structure of the following formula (12) as a photosensitizer. This is because these compounds are easily available and have high safety for the human body.

【0043】[0043]

【化12】 Embedded image

【0044】[0044]

【化13】 Embedded image

【0045】ベンゾフェノン(BP)とミヒラーケトン
(MK)とを同時に添加する場合には、30〜70℃に
加熱したグリコールエーテル系溶媒に同時に溶解させて
均一混合し、他の成分と混合することが望ましい。溶解
残渣がなく、完全に溶解できるからである。
When benzophenone (BP) and Michler's ketone (MK) are added at the same time, it is desirable to simultaneously dissolve them in a glycol ether solvent heated to 30 to 70 ° C., mix them uniformly, and mix them with other components. . This is because there is no dissolution residue and it can be completely dissolved.

【0046】本発明のプリント配線板は、導体回路を形
成した基板上に感光性樹脂層が形成されたプリント配線
板において、上記感光性樹脂層は、エポキシ樹脂の(メ
タ)アクリレート、硬化剤および分子中にP原子を有す
る(メタ)アクリル酸エステルモノマーの反応物からな
ることに特徴がある。このような構造のプリント配線板
では、パッド(ICチップや電子部品の外部接続端子と
の接続のために形成された部分)を含む導体回路とこれ
と接触する感光性樹脂層が強固に密着し、また感光性樹
脂層が可撓性を有するため、耐ヒートサイクル特性に優
れる。
The printed wiring board of the present invention is a printed wiring board in which a photosensitive resin layer is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed, wherein the photosensitive resin layer comprises a (meth) acrylate of an epoxy resin, a curing agent, It is characterized by comprising a reactant of a (meth) acrylate monomer having a P atom in the molecule. In a printed wiring board having such a structure, a conductive circuit including a pad (a portion formed for connection to an external connection terminal of an IC chip or an electronic component) and a photosensitive resin layer in contact therewith are strongly adhered. Also, since the photosensitive resin layer has flexibility, it has excellent heat cycle resistance.

【0047】本発明のプリント配線板において、上記感
光性樹脂層の厚さは、5〜50μmが望ましい。上記プ
リント配線板においては、上記感光性樹脂層は、導体回
路を被覆するソルダーレジストであってもよく、また、
導体回路間に存在するめっきレジストであってもよい。
さらに、複数の層からなる導体回路の間に形成する層間
樹脂絶縁層であってもよい。
In the printed wiring board of the present invention, the photosensitive resin layer preferably has a thickness of 5 to 50 μm. In the printed wiring board, the photosensitive resin layer may be a solder resist that covers a conductor circuit,
The plating resist existing between the conductor circuits may be used.
Furthermore, an interlayer resin insulating layer formed between a plurality of conductor circuits may be used.

【0048】次に、本発明のプリント配線板を製造する
一方法について説明する。 (1) まず、コア基板の表面に内層銅パターン(導体回
路)が形成された配線基板を作製する。このコア基板に
対する導体回路を形成する際には、銅張積層板を特定パ
ターン状にエッチングする方法、ガラスエポキシ基板、
ポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基板
に無電解めっき用接着剤層を形成し、この無電解めっき
用接着剤層表面を粗化して粗化面とした後、無電解めっ
きを施す方法、または、上記粗化面全体に無電解めっき
を施し、めっきレジストを形成し、めっきレジスト非形
成部分に電解めっきを施した後、めっきレジストを除去
し、エッチング処理を行って、電解めっき膜と無電解め
っき膜からなる導体回路を形成する方法などを用いるこ
とができる。
Next, one method of manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. (1) First, a wiring board having an inner copper pattern (conductor circuit) formed on the surface of a core board is manufactured. When forming a conductor circuit for this core substrate, a method of etching the copper clad laminate into a specific pattern, a glass epoxy substrate,
A method of forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate, roughening the surface of the adhesive layer for electroless plating to a roughened surface, and then performing electroless plating. Alternatively, electroless plating is applied to the entire roughened surface, a plating resist is formed, electrolytic plating is applied to a portion where the plating resist is not formed, then the plating resist is removed, and an etching process is performed, so that the electrolytic plating film and the A method of forming a conductor circuit made of an electrolytic plating film or the like can be used.

【0049】さらに、上記配線基板の導体回路の表面に
は、粗化面または粗化層を形成することができる。ここ
で、上記粗化面または粗化層は、研磨処理、エッチング
処理、黒化還元処理およびめっき処理のうちのいずれか
の方法により形成されることが望ましい。これらの処理
のうち、黒化還元処理を行う際には、NaOH(20g
/l)、NaClO2 (50g/l)、Na3 PO4
(15.0g/l)を含む水溶液からなる黒化浴(酸化
浴)、および、NaOH(2.7g/l)、NaBH4
(1.0g/l)を含む水溶液からなる還元浴を用いて
粗化面を形成する方法が望ましい。また、めっき処理に
より粗化層を形成する際には、硫酸銅(1〜40g/
l)、硫酸ニッケル(0.1〜6.0g/l)、クエン
酸(10〜20g/l)、次亜リン酸ナトリウム(10
〜100g/l)、ホウ酸(10〜40g/l)、界面
活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール465)
(0.01〜10g/l)を含むpH=9の無電解めっ
き浴にて無電解めっきを施し、Cu−Ni−P合金から
なる粗化層を形成する方法が望ましい。この範囲で析出
する被膜の結晶構造は針状構造になるため、アンカー効
果に優れるからである。この無電解めっき浴には上記化
合物に加えて錯化剤や添加剤を加えてもよい。エッチン
グ処理方法としては、アゾール類の第二銅錯体および有
機酸からなるエッチング液を酸素共存下で作用させ、導
体回路表面を粗化する方法などが挙げられる。
Further, a roughened surface or a roughened layer can be formed on the surface of the conductor circuit of the wiring board. Here, the roughened surface or the roughened layer is desirably formed by any one of a polishing process, an etching process, a blackening reduction process, and a plating process. Of these treatments, when performing the blackening reduction treatment, NaOH (20 g
/ L), NaClO 2 (50 g / l), Na 3 PO 4
(Oxidation bath) consisting of an aqueous solution containing (15.0 g / l), NaOH (2.7 g / l), NaBH 4
A method of forming a roughened surface using a reducing bath composed of an aqueous solution containing (1.0 g / l) is desirable. When a roughened layer is formed by plating, copper sulfate (1 to 40 g /
l), nickel sulfate (0.1-6.0 g / l), citric acid (10-20 g / l), sodium hypophosphite (10
-100 g / l), boric acid (10-40 g / l), surfactant (Sufinol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
It is preferable to form a roughened layer made of a Cu-Ni-P alloy by performing electroless plating in an electroless plating bath having a pH of 9 and containing 0.01 to 10 g / l. This is because the crystalline structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the above compounds. Examples of the etching method include a method in which an etching solution containing a cupric complex of an azole and an organic acid is allowed to act in the presence of oxygen to roughen the surface of a conductor circuit.

【0050】なお、コア基板には、通常、スルーホール
が形成され、このスルーホールを介して表面と裏面の配
線層が電気的に接続されている。また、スルーホールお
よびコア基板の導体回路間には樹脂が充填され、平滑性
が確保されていてもよい。
Incidentally, a through hole is usually formed in the core substrate, and the wiring layers on the front surface and the back surface are electrically connected through the through hole. Further, resin may be filled between the through-holes and the conductor circuits of the core substrate to ensure smoothness.

【0051】さらに、コア基板には、その内層に導体回
路を有していてもよい。上記内層導体回路は、コア基板
を貫通するスルーホールによりコア基板表面の導体回路
と接続される。さらに、スルーホール内には、金属粒
子、無機粒子および樹脂粒子を含む樹脂組成物が充填さ
れ、その充填樹脂を被覆する導体層が表面に形成されて
いてもよい。この導体層に、その上に形成するバイアホ
ールを接続させることができるからである。
Further, the core substrate may have a conductor circuit in an inner layer thereof. The inner conductor circuit is connected to a conductor circuit on the surface of the core substrate by a through hole penetrating the core substrate. Furthermore, the through hole may be filled with a resin composition containing metal particles, inorganic particles and resin particles, and a conductor layer covering the filled resin may be formed on the surface. This is because via holes formed thereon can be connected to this conductor layer.

【0052】(2) 次に、上記(1) で作製した基板の上
に、層間樹脂絶縁層を形成する。上記層間樹脂絶縁層と
しては特に限定されるものではないが、本発明の感光性
樹脂組成物を層間樹脂絶縁材として用いることが望まし
い。
(2) Next, an interlayer resin insulation layer is formed on the substrate prepared in the above (1). The interlayer resin insulating layer is not particularly limited, but it is desirable to use the photosensitive resin composition of the present invention as an interlayer resin insulating material.

【0053】(3) 上記(2) で形成した感光性樹脂組成物
層などを乾燥した後、必要に応じてバイアホール用開口
を設ける。このとき、バイアホール用開口は、露光、現
像してから熱硬化することにより、またはレーザー加工
を行うことにより形成する。
(3) After drying the photosensitive resin composition layer and the like formed in the above (2), openings for via holes are provided as necessary. At this time, the via hole opening is formed by exposing and developing and then thermosetting, or by performing laser processing.

【0054】(4) 次に、硬化した層間樹脂絶縁層を粗化
処理する。粒子が配合された感光性樹脂組成物を層間樹
脂絶縁層として使用した場合には、上記感光性樹脂組成
物の表面に存在する粒子を酸、酸化剤、または、アルカ
リ等により溶解または分解して除去し層間樹脂絶縁層表
面を粗化する。上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、
蟻酸や酢酸などの有機酸などが挙げられるが、これらの
なかでは有機酸を用いることが望ましい。粗化処理した
場合に、バイアホールから露出する金属導体層を腐食さ
せにくいからである。上記酸化剤としては、クロム酸、
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いる
ことが望ましい。また、アルカリとしては、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウムなどの水溶液が望ましい。
(4) Next, the cured interlayer resin insulation layer is subjected to a roughening treatment. When the photosensitive resin composition containing the particles is used as an interlayer resin insulating layer, the particles present on the surface of the photosensitive resin composition are dissolved or decomposed by an acid, an oxidizing agent, or an alkali or the like. It is removed and the surface of the interlayer resin insulation layer is roughened. Examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid,
Organic acids such as formic acid and acetic acid may be mentioned, and among them, it is desirable to use organic acids. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. Chromic acid,
It is desirable to use permanganate (such as potassium permanganate). As the alkali, an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide or the like is desirable.

【0055】(5) 次に、層間樹脂絶縁層を粗化した配線
基板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イ
オンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一
般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用
する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。このような触媒核としてはパラジウムが
好ましい。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring substrate having the interlayer resin insulating layer roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0056】(6) 次に、無電解めっき用接着剤層表面に
無電解めっきを施し、粗化面全面に、その粗面に沿って
凹凸を有する薄膜の無電解めっき膜を形成する。このと
き、無電解めっき膜の厚みは、0.1〜5μmが好まし
く、0.5〜3μmがより望ましい。つぎに、無電解め
っき膜上にめっきレジストを形成する。めっきレジスト
組成物としては、例えば、クレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂やフェノールノボラック型エポキシ樹脂の(メ
タ)アクリレートとイミダゾール硬化剤からなる組成物
を用いることが望ましいが、その他に、市販品のドライ
フィルムを使用することもできる。
(6) Next, electroless plating is performed on the surface of the adhesive layer for electroless plating, and a thin electroless plating film having irregularities along the rough surface is formed on the entire roughened surface. At this time, the thickness of the electroless plating film is preferably 0.1 to 5 μm, and more preferably 0.5 to 3 μm. Next, a plating resist is formed on the electroless plating film. As the plating resist composition, for example, it is desirable to use a composition comprising a (meth) acrylate of a cresol novolak type epoxy resin or a phenol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent, and in addition, a commercially available dry film is used. You can also.

【0057】(7) 次に、基板を10〜35℃、望ましく
は15〜30℃の水で水洗する。10〜35℃の水で水
洗するのは、水洗温度が35℃を超えると水が揮発し、
無電解めっき膜の表面が乾燥して酸化してしまい、電解
めっき膜が析出しないからである。そのため、この後の
エッチング処理により、無電解めっき膜が溶解してしま
い、導体が存在しない部分が生じてしまう。一方、10
℃未満では水に対する汚染物質の溶解度が低下し、洗浄
力が低下してしまう。特に、バイアホールのランドの径
が200μm以下になると、めっきレジストが水をはじ
くため、水が揮発しやすく、電解めっきの未析出という
問題が発生しやすい。なお、洗浄水の中には、各種の界
面活性剤、酸、アルカリを添加しておいてもよい。ま
た、洗浄後に硫酸などの酸で洗浄してもよい。
(7) Next, the substrate is washed with water at 10 to 35 ° C., preferably 15 to 30 ° C. Washing with water at 10 to 35 ° C. means that if the washing temperature exceeds 35 ° C., the water will evaporate,
This is because the surface of the electroless plating film is dried and oxidized, and the electrolytic plating film is not deposited. Therefore, the subsequent etching process dissolves the electroless plating film, and causes a portion where no conductor exists. On the other hand, 10
If the temperature is lower than 0 ° C., the solubility of contaminants in water decreases, and the cleaning power decreases. In particular, when the diameter of the land of the via hole is 200 μm or less, the plating resist repels water, so that the water is easily volatilized, and the problem that electrolytic plating is not deposited is apt to occur. In addition, various surfactants, acids, and alkalis may be added to the washing water. After the cleaning, the substrate may be washed with an acid such as sulfuric acid.

【0058】(8) 次に、めっきレジスト非形成部に電解
めっきを施し、導体回路およびバイアホールを形成す
る。ここで、上記電解めっきとしては、銅めっきを用い
ることが望ましい。
(8) Next, electrolytic plating is applied to the portion where no plating resist is formed to form a conductor circuit and a via hole. Here, it is desirable to use copper plating as the electrolytic plating.

【0059】(9) さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウムなどのエッチング液でめっきレジスト
下の無電解めっき膜を溶解除去して、独立した導体回路
とする。
(9) After removing the plating resist, the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate and ammonium persulfate. Conducted circuit.

【0060】(10)次に、導体回路の表面に粗化層または
粗化面を形成する。上記粗化層または粗化面の形成は、
上記(1) において説明した方法を用いることにより行
う。
(10) Next, a roughened layer or a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit. The formation of the roughened layer or the roughened surface,
This is performed by using the method described in the above (1).

【0061】(11)次に、この基板上に層間樹脂絶縁層と
して、例えば、本発明の感光性樹脂組成物を用いて樹脂
組成物の層を形成する。 (12)さらに、 (3)〜(9) の工程を繰り返してさらに上層
の導体回路を設け、その上にはんだパッドとして機能す
る平板状の導体パッドやバイアホールなどを形成するこ
とにより、多層配線基板を得る。 (13)ついで、導体パッドとバイアホール表面に粗化層ま
たは粗化面を設ける。上記粗化層または粗化面の形成
は、上記(1) において説明した方法を用いることにより
行う。
(11) Next, a layer of a resin composition is formed as an interlayer resin insulation layer on the substrate by using, for example, the photosensitive resin composition of the present invention. (12) Further, by repeating the steps (3) to (9), a further upper layer conductive circuit is provided, and a flat conductive pad functioning as a solder pad and a via hole are formed thereon, thereby forming a multilayer wiring. Obtain a substrate. (13) Then, a roughened layer or a roughened surface is provided on the surface of the conductor pad and the via hole. The formation of the roughened layer or the roughened surface is performed by using the method described in the above (1).

【0062】(14)次に、こうして得られた多層配線基板
の両面に、上記した本発明の感光性樹脂組成物を用いて
ソルダーレジスト層を形成する。ソルダーレジスト層を
形成する際には、上記配線基板を垂直に立てた状態で、
ロールコータの一対の塗布用ロールのロール間に上記配
線基板を挟み、ロールにより下側から上側へ搬送して多
層配線基板の両面にソルダーレジスト組成物を同時に塗
布する方法(以下、ロールコート法という)をとること
が望ましい。その理由は、現在のプリント配線板の基本
仕様は両面であり、カーテンコート法(樹脂を滝のよう
に上から下へ流し、この樹脂の「カーテン」に基板をく
ぐらせて塗布する方法)では、片面しか塗布できないか
らである。前述したソルダーレジスト組成物は、粘度を
25℃で1〜10Pa・sとすることができるため、こ
のような粘度のソルダーレジスト組成物を使用すれば、
多層配線基板を垂直に立てて塗布しても、ソルダーレジ
スト組成物が基板上を流れず、またソルダーレジスト組
成物の転写状態も良好である。
(14) Next, a solder resist layer is formed on both surfaces of the multilayer wiring board thus obtained by using the above-described photosensitive resin composition of the present invention. When forming the solder resist layer, with the wiring board upright,
A method in which the wiring substrate is sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater, and is conveyed from a lower side to an upper side by a roll to simultaneously apply a solder resist composition to both surfaces of a multilayer wiring substrate (hereinafter, referred to as a roll coating method). ) Is desirable. The reason is that the current basic specifications of printed wiring boards are on both sides, and the curtain coating method (a method of flowing resin from top to bottom like a waterfall and applying it by passing the substrate through this resin "curtain") This is because only one side can be applied. Since the solder resist composition described above can have a viscosity of 1 to 10 Pa · s at 25 ° C., if a solder resist composition having such a viscosity is used,
Even when the multilayer wiring board is applied vertically, the solder resist composition does not flow on the substrate, and the transfer state of the solder resist composition is good.

【0063】(15)この後、ソルダーレジスト組成物の塗
膜を60〜80℃で5〜50分間乾燥し、この塗膜に、
開口部を描画したフォトマスクフィルムを載置して露
光、現像処理することにより、導体回路のうちパッド部
分を露出させた開口部を形成する。このようにして開口
部を形成した塗膜を、さらに80〜150℃で1〜10
時間の熱処理することにより硬化させる。これにより、
開口部を有する感光性樹脂層(ソルダーレジスト層)は
導体回路の表面に設けた粗化層と密着する。
(15) Thereafter, the coating film of the solder resist composition is dried at 60 to 80 ° C. for 5 to 50 minutes, and
The photomask film having the opening drawn thereon is placed, exposed and developed to form an opening exposing the pad portion of the conductor circuit. The coating film having an opening formed in this way is further subjected to a temperature of 1 to 10 at 80 to 150 ° C.
It is cured by heat treatment for a time. This allows
The photosensitive resin layer (solder resist layer) having the opening is in close contact with the roughened layer provided on the surface of the conductor circuit.

【0064】ここで、上記開口部の開口径は、パッドの
径よりも大きくすることができ、パッドを完全に露出さ
せてもよい。このようにすることにより、フォトマスク
がずれてもパッドがソルダーレジストで被覆されること
はなく、またソルダーレジスト層がはんだ体に接触せ
ず、はんだ体にくびれが生じないため、クラックが発生
しにくくなる。
Here, the opening diameter of the opening may be larger than the diameter of the pad, and the pad may be completely exposed. By doing so, even if the photomask is displaced, the pad is not covered with the solder resist, and the solder resist layer does not contact the solder body, and the solder body does not become constricted, so that cracks are generated. It becomes difficult.

【0065】また、逆に、上記開口部の開口径は、パッ
ドの径よりも小さくすることもできる。このようにする
ことにより、パッド表面の粗化層とソルダーレジスト層
とがより密着する。また、いわゆるセミアディティブ法
を採用する場合は、無電解めっき用接着剤の粗化層の深
さが浅くなり(1〜3μm)、まためっきレジストがな
いのでパッドが剥離やすいが、ソルダーレジストの開口
部の開口径を、パッドの径よりも小さくして、パッドの
一部をソルダーレジスト層で被覆することにより、パッ
ドの剥離を抑制することができる。
On the contrary, the diameter of the opening can be smaller than the diameter of the pad. By doing so, the roughened layer on the pad surface and the solder resist layer adhere more closely. Further, when the so-called semi-additive method is adopted, the depth of the roughened layer of the adhesive for electroless plating is reduced (1 to 3 μm), and the pad is easily peeled off because there is no plating resist. The peeling of the pad can be suppressed by making the opening diameter of the portion smaller than the diameter of the pad and covering a part of the pad with a solder resist layer.

【0066】(16)次に、上記開口部から露出した上記は
んだパッド部の上に「ニッケル−金」からなる金属層を
形成する。
(16) Next, a metal layer made of "nickel-gold" is formed on the solder pad exposed from the opening.

【0067】(17)次に、上記開口部から露出した上記は
んだパッド部上にはんだ体を供給する。はんだ体の供給
方法としては、はんだ転写法やはんだ印刷法を用いるこ
とができる。上記はんだ転写法とは、プリプレグにはん
だ箔を貼合し、このはんだ箔を開口部分に相当する箇所
のみを残してエッチングすることによりはんだパターン
を形成してはんだキャリアフィルムとし、上記工程によ
り作製した基板のソルダーレジスト開口部分にフラック
スを塗布した後、このはんだキャリアフィルムを、はん
だパターンがパッドに接触するように積層し、これを加
熱して転写する方法である。また、はんだ印刷法とは、
パッドに相当する箇所に貫通孔を設けたメタルマスクを
基板に載置し、はんだペーストを印刷して加熱処理し、
はんだ層を形成する方法である。
(17) Next, a solder body is supplied onto the solder pad exposed from the opening. As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a solder printing method can be used. With the above solder transfer method, a solder foil was bonded to a prepreg, and a solder pattern was formed by etching the solder foil leaving only a portion corresponding to an opening portion to form a solder carrier film, which was produced by the above process. After applying a flux to the opening of the solder resist on the substrate, this solder carrier film is laminated so that the solder pattern is in contact with the pad, and this is heated and transferred. Also, the solder printing method
A metal mask with a through hole at the position corresponding to the pad is placed on the substrate, solder paste is printed and heated,
This is a method of forming a solder layer.

【0068】[0068]

【実施例】(実施例1) A.上層の無電解めっき用接着剤組成物の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(日本化薬社製KAYAMER PM−2)3.
15重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.
5重量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6
重量部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成
物を調製した。
Example (Example 1) A. Preparation of adhesive composition for electroless plating of upper layer 1) 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 2. 35 parts by weight of resin solution, photosensitive monomer (KAYAMER PM-2 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
15 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco)
5 parts by weight and N-methylpyrrolidone (NMP) 3.6
A part by weight was placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0069】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマーポ
ール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部および
平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器に
とり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添加
し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製し
た。
2) Polyether sulfone (PES) 12
Parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container and stirred. After mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0070】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0071】B.下層の層間樹脂絶縁剤の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(日本火薬製KAYAMER PM−2)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of Lower Interlayer Resin Insulator 1) Resin solution 35 in which 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. Parts by weight, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (KAYAMER PM-2 manufactured by Nippon Kayaku), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) And mixed with stirring to prepare a mixed composition.

【0072】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポ
リマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.49
重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNM
P30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の
混合組成物を調製した。
2) Polyether sulfone (PES) 12
14.49 parts by weight and epoxy resin particles (Polymer Pole, manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd.) having an average particle size of 0.5 μm
Transfer the parts by weight to another container, stir and mix.
30 parts by weight of P was added, and the mixture was stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0073】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0074】C.樹脂充填剤の調製 1)ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社
製、分子量:310、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のS
iO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101−
CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ社
製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、3本
ロールで混練して、その粘度が23±1℃で45000
〜49000cps(45〜49Pa・s)の樹脂充填
剤を調製した。なお、硬化剤として、イミダゾール硬化
剤(四国化成社製、2E4MZ−CN)6.5重量部を
用いた。
C. Preparation of resin filler 1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U), the average particle size of which surface is coated with a silane coupling agent is 1.6 μm, and the largest particle Having a diameter of 15 μm or less
iO 2 spherical particles (CRS 1101- manufactured by Adtech Co., Ltd.)
CE), 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco Co., Ltd.) are placed in a container, kneaded with a three-roll mill, and the viscosity is 45000 at 23 ± 1 ° C.
A resin filler of 4949000 cps (45-49 Pa · s) was prepared. As a curing agent, 6.5 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) was used.

【0075】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に1
8μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層板を出
発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅貼積層
板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導
体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1 mm thick glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin
A starting material was a copper-clad laminate on which an 8 μm copper foil 8 was laminated (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0076】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(2
0g/l)、NaClO2 (50g/l)、Na3 PO
4 (15g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とす
る黒化処理、および、NaOH(2.7g/l)、Na
BH4 (1.0g/l)を含む水溶液を還元浴とする還
元処理を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路
4の全表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)
参照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (2
0 g / l), NaClO 2 (50 g / l), Na 3 PO
Blackening treatment using an aqueous solution containing 4 (15 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (2.7 g / l), Na
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing BH 4 (1.0 g / l) as a reducing bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (FIG. 1 (b)). )
reference).

【0077】(3) 樹脂充填剤10を、基板の片面にロー
ルコータを用いて塗布することにより、下層導体回路4
間あるいはスルーホール9内に充填し、70℃、20分
間の条件で乾燥させた後、他方の面についても同様にし
て樹脂充填剤10を導体回路4間あるいはスルーホール
9内に充填し、70℃、20分間の条件で加熱乾燥させ
た(図1(c)参照)。
(3) By applying the resin filler 10 to one surface of the substrate using a roll coater, the lower conductor circuit 4
After filling under the conditions of 70 ° C. and 20 minutes, the resin filler 10 is similarly filled between the conductor circuits 4 or into the through holes 9 on the other surface. It was dried by heating at 20 ° C. for 20 minutes (see FIG. 1C).

【0078】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベ
ルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面やス
ルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らない
ように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨による
傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連
の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次い
で、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃で
1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充填
剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Next, heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 3 hours, at 150 ° C. for 1 hour, and at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0079】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。この工程により、樹脂充填剤10
の表面と下層導体回路4の表面が同一平面となる。ここ
で、充填した硬化樹脂のTg点は155.6℃、線熱膨
張係数は44.5×10-6/℃であった。
In this way, the surface layer of the resin filler 10 formed in the through-hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D). By this step, the resin filler 10
And the surface of the lower conductor circuit 4 are flush with each other. Here, the filled resin had a Tg point of 155.6 ° C. and a linear thermal expansion coefficient of 44.5 × 10 −6 / ° C.

【0080】(5) 上記(4) の処理で露出した内層導体回
路4およびスルーホール9のランド上面に、厚さ2.5
μmのCu−Ni−P合金からなる粗化層(凹凸層)1
1を形成し、さらに、その粗化層11の表面に厚さ0.
3μmのSn層を設けた(図2(a)参照、但し、Sn
層については図示しない)。その形成方法は以下のよう
である。即ち、硫酸銅(8g/l)、硫酸ニッケル
(0.6g/l)、クエン酸(15g/l)、次亜リン
酸ナトリウム(29g/l)、ホウ酸(31g/l)、
界面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール46
5)(0.1g/l)を含む水溶液からなるpH=9の
無電解銅めっき浴に基板を浸漬し、浸漬1分後に、4秒
あたりに1回の割合で縦および横方向に振動させて、下
層導体回路およびスルーホールのランドの表面に、Cu
−Ni−Pからなる針状合金の粗化層11を設けた。さ
らに、ホウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素
(1.0mol/l)を含む温度50℃、pH=1.2
のめっき浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設けた。
(5) On the inner layer conductor circuit 4 and the land upper surface of the through hole 9 exposed by the processing of the above (4), a thickness of 2.5
Roughened layer (concavo-convex layer) 1 made of μm Cu-Ni-P alloy
1 on the surface of the roughened layer 11.
A 3 μm Sn layer was provided (see FIG. 2A, except that Sn
The layers are not shown). The formation method is as follows. That is, copper sulfate (8 g / l), nickel sulfate (0.6 g / l), citric acid (15 g / l), sodium hypophosphite (29 g / l), boric acid (31 g / l),
Surfactant (Surfinol 46, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
5) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath at pH = 9 consisting of an aqueous solution containing (0.1 g / l), and after 1 minute of immersion, vibrated vertically and horizontally at a rate of once every 4 seconds. The surface of the land of the lower conductor circuit and the through hole is
A roughened layer 11 of a needle-like alloy made of -Ni-P was provided. Furthermore, a temperature of 50 ° C. containing tin borofluoride (0.1 mol / l) and thiourea (1.0 mol / l), pH = 1.2
Cu-Sn substitution reaction was performed using the plating bath of No. 1, and a Sn layer having a thickness of 0.3 μm was provided on the surface of the roughened layer.

【0081】(6) 基板の両面に、Bの無電解めっき用接
着剤(粘度:1.5Pa・s)をロールコータで塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分
の乾燥を行い、無電解めっき用接着剤層2aを形成し
た。さらにこの無電解めっき用接着剤層2aの上にAの
無電解めっき用接着剤(粘度:7Pa・s)をロールコ
ータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してか
ら、60℃で30分の乾燥を行い、接着剤層2bを形成
し、厚さ35μmの無電解めっき用接着剤層2を形成し
た(図2(b)参照)。
(6) An adhesive for electroless plating of B (viscosity: 1.5 Pa · s) is applied to both surfaces of the substrate by a roll coater, left in a horizontal state for 20 minutes, and then at 60 ° C. for 30 minutes. Was dried to form an adhesive layer 2a for electroless plating. Further, the adhesive for electroless plating (A) (viscosity: 7 Pa · s) is applied on the adhesive layer for electroless plating 2 a using a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. After drying for 30 minutes, an adhesive layer 2b was formed, and an adhesive layer 2 for electroless plating having a thickness of 35 μm was formed (see FIG. 2B).

【0082】(7) 上記(6) で無電解めっき用接着剤層2
を形成した基板1の両面に、直径85μmの黒円が印刷
されたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯
により500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG
溶液でスプレー現像した。この後、さらに、この基板を
超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光
し、100℃で1時間、150℃で5時間の加熱処理を
施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れ
た直径85μmのバイアホール用開口6を有する厚さ3
5μmの層間樹脂絶縁層2を形成した(図2(c)参
照)。なお、バイアホールとなる開口には、スズめっき
層を部分的に露出させた。
(7) The adhesive layer 2 for electroless plating according to the above (6)
A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate 1 on which is formed, and is exposed at an intensity of 500 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and then DMDG
Spray developed with the solution. Thereafter, the substrate is further exposed to an ultrahigh pressure mercury lamp at an intensity of 3000 mJ / cm 2 , and subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 5 hours to obtain a diameter excellent in dimensional accuracy equivalent to a photomask film. Thickness 3 having 85 μm via hole opening 6
An interlayer resin insulation layer 2 having a thickness of 5 μm was formed (see FIG. 2C). Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0083】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、800g/lのクロム酸を含む溶液に70℃で19
分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエポキ
シ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層
2の表面を粗面(深さ3μm)とし、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした(図2
(d)参照)。さらに、粗面化処理した該基板の表面
に、パラジウム触媒(アトテック製)を付与することに
より、層間樹脂絶縁層2の表面およびバイアホール用開
口6の内壁面に触媒核を付着させた。
(8) The substrate having the via hole opening 6 formed thereon was placed in a solution containing 800 g / l of chromic acid at 70 ° C. for 19 hours.
The surface of the interlayer resin insulation layer 2 is roughened (depth: 3 μm) by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2, and then neutralizing solution (manufactured by Shipley Co., Ltd.) ) And washed with water (Fig. 2)
(D)). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0084】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6μmの
無電解銅めっき膜12を形成した(図3(a)参照)。
このとき、めっき膜が薄いため無電解めっき膜表面に
は、凹凸が観察された。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(9) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form a 0.6 μm-thick electroless copper plating film 12 on the entire rough surface (FIG. 3 (a)). )reference).
At this time, since the plating film was thin, irregularities were observed on the surface of the electroless plating film. [Electroless plating aqueous solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.1 g / l Electroplating conditions] 30 minutes at a liquid temperature of 70 ° C

【0085】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に貼り付け、マスクを載置して、100
mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液
で現像処理することにより、めっきレジスト3を設けた
(図3(b)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 12 and a mask is placed thereon,
Exposure at mJ / cm 2 and development with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution provided a plating resist 3 (see FIG. 3B).

【0086】(11)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの
電解銅めっき膜13を形成した(図3(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤 1 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 30 分 温度 室温
(11) Then, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to a thickness of 15 μm. (See FIG. 3C). [Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive 1 ml / l (Capparaside GL, manufactured by Atotech Japan) [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0087】(12)めっきレジスト3を5%KOHで剥離
除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき膜
12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して
溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっき膜1
3からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール7を
含む)5を形成した。さらに、800g/lのクロム酸
を含む70℃の溶液に3分間浸漬して、導体回路非形成
部分に位置する導体回路間の層間樹脂絶縁層2の表面を
1μmエッチング処理し、その表面に残存するパラジウ
ム触媒を除去した(図3(d)参照)。
(12) After the plating resist 3 is peeled and removed with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the electroless plating is performed. Copper plating film 12 and electrolytic copper plating film 1
A conductor circuit (including the via hole 7) 5 made of 3 and having a thickness of 18 μm was formed. Further, the surface of the interlayer resin insulating layer 2 between the conductor circuits located at the part where the conductor circuits are not formed is immersed in a 70 ° C. solution containing 800 g / l of chromic acid for 3 minutes, and the surface of the interlayer resin insulation layer 2 is etched by 1 μm. The resulting palladium catalyst was removed (see FIG. 3 (d)).

【0088】(13)導体回路5を形成した基板を、硫酸銅
(8g/l)、硫酸ニッケル(0.6g/l)、クエン
酸(15g/l)、次亜リン酸ナトリウム(29g/
l)、ホウ酸(31g/l)、界面活性剤(日信化学工
業社製、サーフィノール465)(0.1g/l)を含
む水溶液からなるpH=9の無電解銅めっき浴に基板を
浸漬し、浸漬1分後に、4秒あたりに1回の割合で縦お
よび横方向に振動させて、下層導体回路およびスルーホ
ールのランドの表面に、Cu−Ni−Pからなる針状合
金の粗化層11を設けた(図4(a)参照)。このと
き、形成した粗化層11をEPMA(蛍光X線分析装
置)で分析したところ、Cu:98モル%、Ni:1.
5モル%、P:0.5モル%の組成比であった。さら
に、ホウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素
(1.0mol/l)を含む温度50℃、pH=1.2
のめっき浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設けた。但し、Sn層
については、図示しない。
(13) The substrate on which the conductor circuit 5 was formed was coated with copper sulfate (8 g / l), nickel sulfate (0.6 g / l), citric acid (15 g / l), and sodium hypophosphite (29 g / l).
l), an aqueous solution containing boric acid (31 g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.1 g / l). After immersion, one minute after immersion, vibrating in the vertical and horizontal directions at a rate of once every 4 seconds, the surface of the land of the lower conductor circuit and the through-hole was roughened with a needle-like alloy made of Cu-Ni-P. An oxide layer 11 was provided (see FIG. 4A). At this time, when the formed roughened layer 11 was analyzed by EPMA (X-ray fluorescence spectrometer), Cu: 98 mol%, Ni: 1.
The composition ratio was 5 mol% and P: 0.5 mol%. Furthermore, a temperature of 50 ° C. containing tin borofluoride (0.1 mol / l) and thiourea (1.0 mol / l), pH = 1.2
Cu-Sn substitution reaction was performed using the plating bath of No. 1, and a Sn layer having a thickness of 0.3 μm was provided on the surface of the roughened layer. However, the Sn layer is not shown.

【0089】(14)上記 (6)〜(13)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の導体回路を形成し、多層配線板を
得た。但し、Sn置換は行わなかった(図4(b)〜図
5(b)参照)。
(14) By repeating the above steps (6) to (13), a conductor circuit of an upper layer was further formed to obtain a multilayer wiring board. However, Sn substitution was not performed (see FIGS. 4B to 5B).

【0090】(15)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)6.67重量部、同じくビス
フェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコートE−1001−B80)6.67重量
部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、商品名:2E
4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマー(日本化
薬社製 KAYAMER PM−21)6重量部、アク
リル酸エステル重合物からなるレベリング剤(共栄化学
社製、商品名:ポリフローNo.75)0.36重量部
を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を調製し、こ
の混合組成物に対して光重合開始剤としてイルガキュア
I−907(チバガイギー社製)2.0重量部、光増感
剤としてのDETX−S(日本化薬社製)0.2重量
部、DMDG0.6重量部を加えることにより、粘度を
25℃で1.4±0.3Pa・sに調整したソルダーレ
ジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの場合は
ローターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3
によった。
(15) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight was used. 46.67 parts by weight of an oligomer for imparting properties (molecular weight: 4000), 6.67 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) dissolved in methyl ethyl ketone, and also bisphenol 6.67 parts by weight of an A-type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epicoat E-1001-B80), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E)
4MZ-CN) 1.6 parts by weight, a photosensitive monomer (KAYAMER PM-21 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 6 parts by weight, and a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., trade name: Polyflow No. 75) ) 0.36 parts by weight was placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and 2.0 parts by weight of Irgacure I-907 (manufactured by Ciba Geigy) as a photopolymerization initiator was added to the mixed composition. Solder resist whose viscosity was adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. by adding 0.2 parts by weight of DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co.) as a sensitizer and 0.6 parts by weight of DMDG. A composition was obtained. The viscosity was measured with a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) when the rotor No. was 60 rpm. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. 3
According to

【0091】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DM
TG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成
した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件で加
熱処理してソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有
し、その厚さが20μmのソルダーレジストパターン層
14を形成した。
(16) Next, the solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and an ultraviolet ray of 1000 mJ / cm 2 is applied. Exposure with DM
Development was performed with a TG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, and at 100 ° C. for 1 hour.
The solder resist layer was cured by heating at 120 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist pattern layer 14 having openings and a thickness of 20 μm.

【0092】(17)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸
ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10
g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、
クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリ
ウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚
さ0.03μmの金めっき層16を形成した。
(17) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was replaced with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l).
g / l) in the electroless nickel plating solution with pH = 5.
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l),
It was immersed in an electroless plating solution containing sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l) at a temperature of 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 μm thick nickel plating layer 15 on the nickel plating layer 15. A gold plating layer 16 was formed.

【0093】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、
はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造
した(図5(c)参照)。
(18) Thereafter, a solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 17.
A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 was manufactured (see FIG. 5C).

【0094】(比較例1)以下に示す成分組成のソルダ
ーレジスト組成物を用いてソルダーレジスト層を形成し
たこと以外は、実施例1と同様にしてはんだバンプを有
するプリント配線板を製造した。DMDGに60重量%
の濃度になるように溶解させた、クレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬社製)のエポキシ基50%を
アクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量:40
00)46.67重量部、メチルエチルケトンに溶解さ
せた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油
化シェル社製、商品名:エピコート1001)14.1
2重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、商品
名:2E4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマー
である2官能性アクリルモノマー(日本化薬社製、商品
名:R604)1.5重量部、同じく多価アクリルモノ
マー(共栄化学社製、商品名:DPE6A)6.0重量
部、アクリル酸エステル重合物からなるレベリング剤
(共栄化学社製、商品名:ポリフローNo.75)0.
36重量部を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を
調製し、この混合組成物に対して光重合開始剤としてイ
ルガキュアI−907(チバガイギー社製)2.0重量
部、光増感剤としてのDETX−S(日本化薬社製)
0.2重量部、DMDG1.0重量部を加えることによ
り、粘度を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整した
ソルダーレジスト組成物を得た。
Comparative Example 1 A printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example 1, except that a solder resist layer was formed using a solder resist composition having the following component composition. 60% by weight in DMDG
Of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) having an acrylated 50% epoxy group (molecular weight: 40).
00) 46.67 parts by weight, 80% by weight of a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone 14.1
2 parts by weight, 1.6 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), and a bifunctional acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) which is a photosensitive monomer. 5 parts by weight, 6.0 parts by weight of a polyacrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., trade name: DPE6A), and a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., trade name: Polyflow No. 75) 0 .
36 parts by weight were placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and 2.0 parts by weight of Irgacure I-907 (manufactured by Ciba Geigy) as a photopolymerization initiator, and a photosensitizer as a photopolymerization initiator. DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
By adding 0.2 part by weight and 1.0 part by weight of DMDG, a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. was obtained.

【0095】(比較例2)以下に示す成分組成の層間樹
脂絶縁材組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様に
してはんだバンプを有するプリント配線板を製造した。 A.上層の無電解めっき用接着剤組成物の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製アロニックスM315)3.15
重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重
量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量
部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を
調製した。
Comparative Example 2 A printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example 1, except that an interlayer resin insulating material composition having the following component composition was used. A. Preparation of adhesive composition for electroless plating of upper layer 1) 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 35 parts by weight of resin solution, photosensitive monomer (Aronix M315 manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) 3.15
A mixed composition was prepared by placing parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) in a container, and stirring and mixing.

【0096】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマーポ
ール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部および
平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器に
とり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添加
し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製し
た。
2) Polyether sulfone (PES) 12
Parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container and stirred. After mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0097】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0098】B.下層の層間樹脂絶縁剤の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製アロニックスM315)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of Lower Interlayer Resin Insulator 1) Resin solution 35 in which 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. Parts by weight, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) are placed in a container. Then, a mixed composition was prepared by stirring and mixing.

【0099】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポ
リマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.49
重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNM
P30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の
混合組成物を調製した。
2) Polyether sulfone (PES) 12
14.49 parts by weight and epoxy resin particles (Polymer Pole, manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd.) having an average particle size of 0.5 μm
Transfer the parts by weight to another container, stir and mix.
30 parts by weight of P was added, and the mixture was stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0100】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd., 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0101】このようにして製造した実施例1および比
較例1〜2のプリント配線板について、−55〜125
℃で1000回のヒートサイクル試験を実施し、層間樹
脂絶縁層およびソルダーレジスト層におけるクラックの
発生の有無を光学顕微鏡にて観察した。また、温度12
8℃、湿度85%、圧力2気圧で48時間放置し、層間
樹脂絶縁層およびソルダーレジスト層を光学顕微鏡で観
察して、剥離の有無を確認した。その結果を下記の表1
に示した。
With respect to the printed wiring boards of Example 1 and Comparative Examples 1 and 2 manufactured in this manner, -55 to 125
A heat cycle test was performed 1,000 times at ℃, and the occurrence of cracks in the interlayer resin insulating layer and the solder resist layer was observed with an optical microscope. In addition, temperature 12
The film was left at 8 ° C., a humidity of 85% and a pressure of 2 atm for 48 hours, and the interlayer resin insulating layer and the solder resist layer were observed with an optical microscope to confirm the presence or absence of peeling. The results are shown in Table 1 below.
It was shown to.

【0102】[0102]

【表1】 [Table 1]

【0103】上記表1に示す結果から明らかなように、
本発明の感光性樹脂組成物を用いたプリント配線板は、
層間樹脂絶縁層やソルダーレジスト層の剥離は発生せ
ず、ヒートサイクル条件下でのクラックの発生を抑制す
ることができる。
As is clear from the results shown in Table 1 above,
Printed wiring board using the photosensitive resin composition of the present invention,
No peeling of the interlayer resin insulation layer or the solder resist layer occurs, and the occurrence of cracks under heat cycle conditions can be suppressed.

【0104】[0104]

【発明の効果】以上説明したように本発明の感光性樹脂
組成物によれば、ヒートサイクル条件下での耐クラック
性および導体回路との密着性に優れる感光性樹脂組成物
を提供するができる。また本発明のプリント配線板によ
れば、ヒートサイクル条件下での耐クラック性および導
体回路との密着性に優れるプリント配線板を提供するこ
とができる。
As described above, according to the photosensitive resin composition of the present invention, a photosensitive resin composition having excellent crack resistance under heat cycle conditions and excellent adhesion to a conductor circuit can be provided. . Further, according to the printed wiring board of the present invention, it is possible to provide a printed wiring board having excellent crack resistance under heat cycle conditions and excellent adhesion to a conductor circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明にかかるプリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明にかかるプリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views illustrating a part of a manufacturing process of a printed wiring board according to the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明にかかるプリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明にかかるプリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board according to the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明にかかるプリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤) 2a 無電解めっき用接着剤層 2b 無電解めっき用接着剤層 3 めっきレジスト 4 下層導体回路(内層銅パターン) 5 上層導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 10 充填樹脂(樹脂充填剤) 11 粗化層 12 無電解めっき膜 13 電解めっき膜 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき層 16 金めっき層 17 はんだバンプ Reference Signs List 1 substrate 2 interlayer resin insulating layer (adhesive for electroless plating) 2a adhesive layer for electroless plating 2b adhesive layer for electroless plating 3 plating resist 4 lower conductive circuit (inner copper pattern) 5 upper conductive circuit 6 via hole Opening 7 via hole 8 copper foil 9 through hole 10 filling resin (resin filler) 11 roughening layer 12 electroless plating film 13 electrolytic plating film 14 solder resist layer 15 nickel plating layer 16 gold plating layer 17 solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/28 H05K 3/28 D //(C08F 290/06 230:02) Fターム(参考) 2H025 AA00 AA14 AA20 AB15 AB16 AC01 AD01 BC14 BC31 BC34 BC43 BC74 BC83 BC84 CC17 DA20 4J011 QA13 QA22 QA25 QA42 QB20 QB22 SA01 SA15 SA16 SA21 SA64 WA01 4J027 AE01 AE02 AE03 AE04 BA02 BA03 BA07 BA15 BA19 BA23 BA24 BA27 CA03 CA24 CA25 CB10 CC02 CC05 CD10 5E314 AA27 AA32 AA33 CC01 FF01 GG09 GG11 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H05K 3/28 H05K 3/28 D // (C08F 290/06 230: 02) F-term (Reference) 2H025 AA00 AA14 AA20 AB15 AB16 AC01 AD01 BC14 BC31 BC34 BC43 BC74 BC83 BC84 CC17 DA20 4J011 QA13 QA22 QA25 QA42 QB20 QB22 SA01 SA15 SA16 SA21 SA64 WA01 4J027 AE01 AE02 AE03 AE04 BA02 BA03 BA07 BA15 BA25 CA25 BA27 CC24 BA27 AA32 AA33 CC01 FF01 GG09 GG11

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エポキシ樹脂の(メタ)アクリレート、
硬化剤および分子中にP原子を有する(メタ)アクリル
酸エステルモノマーからなることを特徴とする感光性樹
脂組成物。
1. A (meth) acrylate of an epoxy resin,
A photosensitive resin composition comprising a curing agent and a (meth) acrylate monomer having a P atom in a molecule.
【請求項2】 前記分子中にP原子を有する(メタ)ア
クリル酸エステルモノマーは、下記の化学式(1)また
は化学式(2)で表される請求項1に記載の感光性樹脂
組成物。 【化1】 (式中、nは、0または1、a、bは、1または2を表
す。) 【化2】 (式中、nは、0または1、cは、1または2を表
す。)
2. The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the (meth) acrylate monomer having a P atom in the molecule is represented by the following chemical formula (1) or (2). Embedded image (In the formula, n represents 0 or 1, a and b represent 1 or 2.) (In the formula, n represents 0 or 1, and c represents 1 or 2.)
【請求項3】 導体回路を形成した基板上に感光性樹脂
層が形成されたプリント配線板において、前記感光性樹
脂層は、エポキシ樹脂の(メタ)アクリレート、硬化剤
および分子中にP原子を有する(メタ)アクリル酸エス
テルモノマーの反応物からなることを特徴とするプリン
ト配線板。
3. A printed wiring board in which a photosensitive resin layer is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed, wherein the photosensitive resin layer contains (meth) acrylate of an epoxy resin, a curing agent, and a P atom in a molecule. A printed wiring board comprising a reaction product of a (meth) acrylate monomer having the same.
JP6699099A 1999-03-12 1999-03-12 Photosensitive resin composition and printed wiring board Expired - Fee Related JP4255158B2 (en)

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