JP2000266808A - Icキャリア及びicソケット - Google Patents
Icキャリア及びicソケットInfo
- Publication number
- JP2000266808A JP2000266808A JP11074009A JP7400999A JP2000266808A JP 2000266808 A JP2000266808 A JP 2000266808A JP 11074009 A JP11074009 A JP 11074009A JP 7400999 A JP7400999 A JP 7400999A JP 2000266808 A JP2000266808 A JP 2000266808A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- carrier
- guide
- hole
- holding plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 BGA型ICのボール端子とICソケットの
接触子との接触不良や、ボール端子の損傷・離脱等の発
生を防ぐことができるICキャリアとICソケットとを
提供する。 【解決手段】 ソケット本体31の接触子22配設部の外側
で直立するガイドピン33と、絶縁フィルムからなりボー
ル端子3が緩く嵌合する径の貫通穴41a を備えたキャリ
アフィルム41と、キャリアフィルム41の周縁部に固着さ
れ且つガイドピン33と嵌合するガイド穴42a を備えたフ
レーム42と、ソケット本体31の周縁部に前後左右に遊び
を有して軸支されたIC保持板43と、ICを収容しその
ボール端子3が貫通穴41a と嵌合するようにキャリアフ
ィルム41を固定したIC保持板43を水平に保ちつつ降下
させる機構とを有し、ガイド穴42a と貫通穴41a との相
対位置がガイドピン33と接触子22とのそれと合致したI
Cソケットとする。
接触子との接触不良や、ボール端子の損傷・離脱等の発
生を防ぐことができるICキャリアとICソケットとを
提供する。 【解決手段】 ソケット本体31の接触子22配設部の外側
で直立するガイドピン33と、絶縁フィルムからなりボー
ル端子3が緩く嵌合する径の貫通穴41a を備えたキャリ
アフィルム41と、キャリアフィルム41の周縁部に固着さ
れ且つガイドピン33と嵌合するガイド穴42a を備えたフ
レーム42と、ソケット本体31の周縁部に前後左右に遊び
を有して軸支されたIC保持板43と、ICを収容しその
ボール端子3が貫通穴41a と嵌合するようにキャリアフ
ィルム41を固定したIC保持板43を水平に保ちつつ降下
させる機構とを有し、ガイド穴42a と貫通穴41a との相
対位置がガイドピン33と接触子22とのそれと合致したI
Cソケットとする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、BGA(Ball
Grid Array)型パッケージのICを収容す
るICキャリアと、BGA型パッケージのICの試験等
に用いるICソケットに関する。
Grid Array)型パッケージのICを収容す
るICキャリアと、BGA型パッケージのICの試験等
に用いるICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】QFP(Quad Flat Pack
age)など、パッケージ本体の側方に微細な外部リー
ドが微小ピッチで突出するタイプのICは、試験工程な
どでは、通常、その外部リードの変形・損傷を防ぐとと
もに、この外部リードとICソケットの接触子とを正し
い位置で接触させるため、一個ずつICキャリアに収容
して取り扱われている。一方、パッケージ本体の下面に
半田ボールのバンプ(以下、ボール端子と記す)がグリ
ッド状に設けられ、微細な外部リードを持たないBGA
型パッケージのICは、従来は、そのボール端子面を下
に向けてICソケットに直接装着し、上からパッケージ
本体を押圧してボール端子をICソケットの接触子と接
触させていた。この際、ICのパッケージ本体の外形を
ガイドすることで、ICのボール端子とICソケットの
接触子との位置合わせを行っていた。
age)など、パッケージ本体の側方に微細な外部リー
ドが微小ピッチで突出するタイプのICは、試験工程な
どでは、通常、その外部リードの変形・損傷を防ぐとと
もに、この外部リードとICソケットの接触子とを正し
い位置で接触させるため、一個ずつICキャリアに収容
して取り扱われている。一方、パッケージ本体の下面に
半田ボールのバンプ(以下、ボール端子と記す)がグリ
ッド状に設けられ、微細な外部リードを持たないBGA
型パッケージのICは、従来は、そのボール端子面を下
に向けてICソケットに直接装着し、上からパッケージ
本体を押圧してボール端子をICソケットの接触子と接
触させていた。この際、ICのパッケージ本体の外形を
ガイドすることで、ICのボール端子とICソケットの
接触子との位置合わせを行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このように
BGA型パッケージのICをパッケージ本体の外形ガイ
ドでICソケットに直接装着すると、パッケージ本体が
ICソケットに対して僅かに傾斜することがあり、その
場合には、一部のボール端子と接触子との接触が不完全
となり、しかもそれを目視では確認できず、電気的測定
を行ってはじめて分かる、という問題があった。接触不
良が電気的測定を行うことで判明すれば、ICの装着を
やり直し、再度電気的測定を行わなければならない。ま
た、位置合わせ精度が良くないこともあり、このような
状態でパッケージ本体を押圧すると、ボール端子の損傷
や離脱等を生じることがある、という問題もあった。
BGA型パッケージのICをパッケージ本体の外形ガイ
ドでICソケットに直接装着すると、パッケージ本体が
ICソケットに対して僅かに傾斜することがあり、その
場合には、一部のボール端子と接触子との接触が不完全
となり、しかもそれを目視では確認できず、電気的測定
を行ってはじめて分かる、という問題があった。接触不
良が電気的測定を行うことで判明すれば、ICの装着を
やり直し、再度電気的測定を行わなければならない。ま
た、位置合わせ精度が良くないこともあり、このような
状態でパッケージ本体を押圧すると、ボール端子の損傷
や離脱等を生じることがある、という問題もあった。
【0004】本発明は、このような問題を解決して、I
Cのボール端子とICソケットの接触子との接触不良
や、ボール端子の損傷・離脱等の発生を防ぐことができ
るICキャリアとICソケットとを提供することを目的
とする。
Cのボール端子とICソケットの接触子との接触不良
や、ボール端子の損傷・離脱等の発生を防ぐことができ
るICキャリアとICソケットとを提供することを目的
とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明においては、パッケージ本体の一面に複数の
ボール端子が配設されてなるICを収容して、複数の接
触子が該ICのボール端子の配置に合わせて配設されて
なるICソケットに装着するICキャリアであって、絶
縁フィルムからなり該ボール端子が緩く嵌合する径の貫
通穴が該ICのボール端子の配置に合わせて配設された
キャリアフィルムと、該キャリアフィルムの周縁部に固
着されたフレームと、該パッケージ本体を納置する凹部
を備えたIC保持板と、該凹部に納置した該パッケージ
本体のボール端子配設面が該キャリアフィルムに当接す
る状態で該フレームを介して該キャリアフィルムを該I
C保持板に固定するクランプとを有し、該キャリアフィ
ルムの周縁部若しくは該フレームには該ICソケットに
設けられた複数のガイドピンのそれぞれと嵌合する複数
のガイド穴が配設されており、該ガイド穴と該貫通穴と
の相対位置は、該ICソケットにおける該ガイドピンと
該接触子との相対位置と合致しているICキャリアとす
る。
め、本発明においては、パッケージ本体の一面に複数の
ボール端子が配設されてなるICを収容して、複数の接
触子が該ICのボール端子の配置に合わせて配設されて
なるICソケットに装着するICキャリアであって、絶
縁フィルムからなり該ボール端子が緩く嵌合する径の貫
通穴が該ICのボール端子の配置に合わせて配設された
キャリアフィルムと、該キャリアフィルムの周縁部に固
着されたフレームと、該パッケージ本体を納置する凹部
を備えたIC保持板と、該凹部に納置した該パッケージ
本体のボール端子配設面が該キャリアフィルムに当接す
る状態で該フレームを介して該キャリアフィルムを該I
C保持板に固定するクランプとを有し、該キャリアフィ
ルムの周縁部若しくは該フレームには該ICソケットに
設けられた複数のガイドピンのそれぞれと嵌合する複数
のガイド穴が配設されており、該ガイド穴と該貫通穴と
の相対位置は、該ICソケットにおける該ガイドピンと
該接触子との相対位置と合致しているICキャリアとす
る。
【0006】即ち、このICキャリアにICを収容した
際に、ICの総てのボール端子がキャリアフィルムの貫
通穴に正しく嵌合してキャリアフィルムがパッケージ本
体に密着していることを目視で確認することができるか
ら、これを水平に支持しつつICソケットに装着すれ
ば、ICのボール端子とICソケットの接触子とは一様
に接触し、且つ精度よく位置合わせされる。
際に、ICの総てのボール端子がキャリアフィルムの貫
通穴に正しく嵌合してキャリアフィルムがパッケージ本
体に密着していることを目視で確認することができるか
ら、これを水平に支持しつつICソケットに装着すれ
ば、ICのボール端子とICソケットの接触子とは一様
に接触し、且つ精度よく位置合わせされる。
【0007】また、本発明においては、前記ICを収容
した請求項1記載のICキャリアが装着されるICソケ
ットであって、複数の接触子が該ICのボール端子の配
置に合わせて配設されたソケット本体と、該ソケット本
体の周縁部に植設されて直立し前記複数のガイド穴のそ
れぞれと嵌合する複数のガイドピンと、該ソケット本体
上方で該ICキャリアを水平に支持しつつ昇降させるI
Cキャリア支持昇降手段とを有し、該ガイドピンと該接
触子との相対位置は、該ICキャリアの前記ガイド穴と
前記貫通穴との相対位置と合致しているICソケットと
する。
した請求項1記載のICキャリアが装着されるICソケ
ットであって、複数の接触子が該ICのボール端子の配
置に合わせて配設されたソケット本体と、該ソケット本
体の周縁部に植設されて直立し前記複数のガイド穴のそ
れぞれと嵌合する複数のガイドピンと、該ソケット本体
上方で該ICキャリアを水平に支持しつつ昇降させるI
Cキャリア支持昇降手段とを有し、該ガイドピンと該接
触子との相対位置は、該ICキャリアの前記ガイド穴と
前記貫通穴との相対位置と合致しているICソケットと
する。
【0008】即ち、このICソケットは、ICを収容し
たICキャリアをICのボール端子の位置を基準とし
て、且つ水平に支持しつつ装着されるから、ICのボー
ル端子とICソケットの接触子とは一様に接触し、且つ
精度よく位置合わせされる。
たICキャリアをICのボール端子の位置を基準とし
て、且つ水平に支持しつつ装着されるから、ICのボー
ル端子とICソケットの接触子とは一様に接触し、且つ
精度よく位置合わせされる。
【0009】また、本発明においては、前記ソケット本
体の周縁部で水平に延在する軸を有し、請求項1記載の
ICキャリアが該軸により該ソケット本体に該軸の長手
方向及び半径方向に遊びを有して軸支されており、該ソ
ケット本体上方で該ICキャリアを水平に支持しつつ降
下させる過程で前記ガイド穴が前記ガイドピンにガイド
されて調動するように構成されているICソケットとす
る。
体の周縁部で水平に延在する軸を有し、請求項1記載の
ICキャリアが該軸により該ソケット本体に該軸の長手
方向及び半径方向に遊びを有して軸支されており、該ソ
ケット本体上方で該ICキャリアを水平に支持しつつ降
下させる過程で前記ガイド穴が前記ガイドピンにガイド
されて調動するように構成されているICソケットとす
る。
【0010】即ち、このICソケットは前述のICソケ
ットとICキャリアとを合体させたものであり、ICの
ボール端子とICソケットの接触子との一様な接触と、
高精度の位置合わせが、作業性よく且つ確実に得られ
る。
ットとICキャリアとを合体させたものであり、ICの
ボール端子とICソケットの接触子との一様な接触と、
高精度の位置合わせが、作業性よく且つ確実に得られ
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
1〜6を参照しながら説明する。
1〜6を参照しながら説明する。
【0012】〔ICキャリアの実施形態〕 図1は本発
明のICキャリアの実施形態を示す縦断面図、図2は本
発明のICキャリアの実施形態を示す平面図である。図
において、1は試験対象のICであり、パッケージ本体
2の一面に多数の微細なボール端子(半田ボール)3が
マトリックス状に配設されたBGA型パッケージであ
る。11はキャリアフィルム、12はフレーム、13は
IC保持板である。
明のICキャリアの実施形態を示す縦断面図、図2は本
発明のICキャリアの実施形態を示す平面図である。図
において、1は試験対象のICであり、パッケージ本体
2の一面に多数の微細なボール端子(半田ボール)3が
マトリックス状に配設されたBGA型パッケージであ
る。11はキャリアフィルム、12はフレーム、13は
IC保持板である。
【0013】キャリアフィルム11はポリイミド樹脂等
の絶縁フィルムからなり、IC1におけるボール端子3
の配置に合わせてボール端子3と同数の貫通穴11aが
配設されている。この貫通穴11aの径はIC1のボー
ル端子3のそれより僅かに大きい。フレーム12は金属
等からなり、キャリアフィルム11の周縁部に接着され
てこれを補強している。このフレーム12には後述のI
Cソケットにおける複数のガイドピン23とそれぞれ嵌
合する複数(この例では二個)のガイド穴12aが設け
られている。このガイド穴12aと貫通穴11aとの相
対位置は、ICソケットにおけるガイドピン23と接触
子22との相対位置と合致している。
の絶縁フィルムからなり、IC1におけるボール端子3
の配置に合わせてボール端子3と同数の貫通穴11aが
配設されている。この貫通穴11aの径はIC1のボー
ル端子3のそれより僅かに大きい。フレーム12は金属
等からなり、キャリアフィルム11の周縁部に接着され
てこれを補強している。このフレーム12には後述のI
Cソケットにおける複数のガイドピン23とそれぞれ嵌
合する複数(この例では二個)のガイド穴12aが設け
られている。このガイド穴12aと貫通穴11aとの相
対位置は、ICソケットにおけるガイドピン23と接触
子22との相対位置と合致している。
【0014】IC保持板13はIC1のパッケージ本体
2の外形に合わせた凹部13aを備えている。凹部13
aの深さはパッケージ本体2の厚さに等しい。底面に高
弾性材料からなるクッション14が固着されている場合
はその上面までの深さがパッケージ本体2の厚さより僅
かに小さくてもよい。IC保持板13の上下両面は平行
に仕上げてある。
2の外形に合わせた凹部13aを備えている。凹部13
aの深さはパッケージ本体2の厚さに等しい。底面に高
弾性材料からなるクッション14が固着されている場合
はその上面までの深さがパッケージ本体2の厚さより僅
かに小さくてもよい。IC保持板13の上下両面は平行
に仕上げてある。
【0015】このIC保持板13の凹部13aにボール
端子3を上に向けたIC1を納置し、フレーム12に貼
着されたキャリアフィルム11をその貫通穴11aが総
てのボール端子3と嵌合するようにIC保持板13上に
載置し、IC保持板13の周縁部に設けた複数のクラン
プ15により、フレーム12を介して固定する。これで
ICキャリアが組み上がるとともに、IC1がパッケー
ジ本体2のボール端子配設面がキャリアフィルム11と
当接する形で収容される。この状態で次に述べるICソ
ケットに装着する。
端子3を上に向けたIC1を納置し、フレーム12に貼
着されたキャリアフィルム11をその貫通穴11aが総
てのボール端子3と嵌合するようにIC保持板13上に
載置し、IC保持板13の周縁部に設けた複数のクラン
プ15により、フレーム12を介して固定する。これで
ICキャリアが組み上がるとともに、IC1がパッケー
ジ本体2のボール端子配設面がキャリアフィルム11と
当接する形で収容される。この状態で次に述べるICソ
ケットに装着する。
【0016】〔ICソケットの実施形態〕 図3は本発
明のICソケットの実施形態を示す側面図、図4は本発
明のICソケットの実施形態を示す平面図である。図に
おいて、21はソケット本体、23はガイドピン、24
は支持ピンである。
明のICソケットの実施形態を示す側面図、図4は本発
明のICソケットの実施形態を示す平面図である。図に
おいて、21はソケット本体、23はガイドピン、24
は支持ピンである。
【0017】ソケット本体21の中央部には前述のIC
1におけるボール端子3の配置に合わせてボール端子3
と同数の接触子22が、その総てが同じ高さとなるよう
に配設されている。接触子22は例えばスプリングを内
蔵したプローブである。これら接触子22配設部の外側
には複数(この例では二個)のガイドピン23がソケッ
ト本体21に固着されて直立している。このガイドピン
23と接触子22との相対位置は、前述のICキャリア
におけるガイド穴12aと貫通穴11aとの相対位置と
合致している。
1におけるボール端子3の配置に合わせてボール端子3
と同数の接触子22が、その総てが同じ高さとなるよう
に配設されている。接触子22は例えばスプリングを内
蔵したプローブである。これら接触子22配設部の外側
には複数(この例では二個)のガイドピン23がソケッ
ト本体21に固着されて直立している。このガイドピン
23と接触子22との相対位置は、前述のICキャリア
におけるガイド穴12aと貫通穴11aとの相対位置と
合致している。
【0018】ソケット本体21の周縁部には複数(この
例では四個)の支持ピン24がそれぞれ垂直ガイド穴2
1aにスプリング25とともに挿入されてその上部が突
出している。各支持ピン24は垂直ガイド穴21aにガ
イドされて上下に移動可能であるが、そのソケット本体
21からの突出量はストッパ26により制限され、総て
の支持ピン24の最大突出量が同じである。
例では四個)の支持ピン24がそれぞれ垂直ガイド穴2
1aにスプリング25とともに挿入されてその上部が突
出している。各支持ピン24は垂直ガイド穴21aにガ
イドされて上下に移動可能であるが、そのソケット本体
21からの突出量はストッパ26により制限され、総て
の支持ピン24の最大突出量が同じである。
【0019】IC1を収容した前述のICキャリアを、
そのボール端子3が下に向く姿勢で、そのガイド穴12
aをガイドピン23と嵌合させて総ての支持ピン24上
面に接触するように載せると、IC1はこのソケット本
体21と平行に対峙することになる。従って、この状態
のICキャリアをプランジャ27により押圧して垂直に
下降させると、IC1のボール端子3とICソケットの
接触子22とは、位置ずれすることなく、且つ総てが均
一に接触する。
そのボール端子3が下に向く姿勢で、そのガイド穴12
aをガイドピン23と嵌合させて総ての支持ピン24上
面に接触するように載せると、IC1はこのソケット本
体21と平行に対峙することになる。従って、この状態
のICキャリアをプランジャ27により押圧して垂直に
下降させると、IC1のボール端子3とICソケットの
接触子22とは、位置ずれすることなく、且つ総てが均
一に接触する。
【0020】〔ICソケットの他の実施形態〕 これは
前述のICソケットに前述のICキャリアを軸により回
動自在に結合させた構造をするものである。図5は本発
明のICソケットの他の実施形態を示す側面図、図6は
本発明のICソケットの他の実施形態を示す平面図であ
る。両図において、前出の図と同じものには同一の符号
を付与した。31はソケット本体、33はガイドピン、
34及び37は支持ピン、40は軸、41はキャリアフ
ィルム、42はフレーム、43はIC保持板、46はキ
ャリア保持板である。
前述のICソケットに前述のICキャリアを軸により回
動自在に結合させた構造をするものである。図5は本発
明のICソケットの他の実施形態を示す側面図、図6は
本発明のICソケットの他の実施形態を示す平面図であ
る。両図において、前出の図と同じものには同一の符号
を付与した。31はソケット本体、33はガイドピン、
34及び37は支持ピン、40は軸、41はキャリアフ
ィルム、42はフレーム、43はIC保持板、46はキ
ャリア保持板である。
【0021】ソケット本体31の中央部には前述のIC
1におけるボール端子3の配置に合わせてボール端子3
と同数の接触子22(例えばスプリングを内蔵したプロ
ーブ)が総て同じ高さに配設されている。接触子22配
設部の外寄りには複数(この例では二個)のガイドピン
33がソケット本体31に固着されて直立している。こ
のガイドピン33の上部にはテーパが付いている。
1におけるボール端子3の配置に合わせてボール端子3
と同数の接触子22(例えばスプリングを内蔵したプロ
ーブ)が総て同じ高さに配設されている。接触子22配
設部の外寄りには複数(この例では二個)のガイドピン
33がソケット本体31に固着されて直立している。こ
のガイドピン33の上部にはテーパが付いている。
【0022】ソケット本体31の周縁部には支持ピン3
4が垂直ガイド穴31aにスプリング35とともに挿入
されてその上部が突出している。この支持ピン34は垂
直ガイド穴31aにガイドされて上下に移動可能である
が、そのソケット本体31からの突出量はストッパ36
により制限されている。支持ピン34が複数個ある場合
は、突出量は総て同じである。
4が垂直ガイド穴31aにスプリング35とともに挿入
されてその上部が突出している。この支持ピン34は垂
直ガイド穴31aにガイドされて上下に移動可能である
が、そのソケット本体31からの突出量はストッパ36
により制限されている。支持ピン34が複数個ある場合
は、突出量は総て同じである。
【0023】ソケット本体31の垂直ガイド穴31aに
近い辺の対辺側の二つの隅部は上方に突出して軸受ハウ
ジング32となっており、それぞれ垂直ガイド穴31b
が設けられている。この垂直ガイド穴31bには支持ピ
ン37がスプリング38とともに挿入されている。又、
軸受ハウジング32には縦に長い長穴32aが、支持ピ
ン37には水平穴37aがそれぞれ設けられている。
近い辺の対辺側の二つの隅部は上方に突出して軸受ハウ
ジング32となっており、それぞれ垂直ガイド穴31b
が設けられている。この垂直ガイド穴31bには支持ピ
ン37がスプリング38とともに挿入されている。又、
軸受ハウジング32には縦に長い長穴32aが、支持ピ
ン37には水平穴37aがそれぞれ設けられている。
【0024】キャリアフィルム41はポリイミド樹脂等
の絶縁フィルムからなり、IC1におけるボール端子3
の配置に合わせてボール端子3と同数の貫通穴41aが
配設されている。この貫通穴41aの径はIC1のボー
ル端子3のそれより僅かに大きい。
の絶縁フィルムからなり、IC1におけるボール端子3
の配置に合わせてボール端子3と同数の貫通穴41aが
配設されている。この貫通穴41aの径はIC1のボー
ル端子3のそれより僅かに大きい。
【0025】フレーム42は金属等からなり、キャリア
フィルム41の周縁部に接着されてこれを補強してい
る。このフレーム42には複数のガイドピン33とそれ
ぞれ嵌合する複数(この例では二個)のガイド穴42a
が設けられている。このガイド穴42aと貫通穴41a
との相対位置は、ガイドピン33と接触子22との相対
位置と合致している。キャリアフィルム41を貼着した
フレーム42は、有頭ピン47によりキャリア保持板4
6に取り付けられている。フレーム42の貫通穴42b
と有頭ピン47とは極めて緩い嵌合であり、キャリアフ
ィルム41を貼着したフレーム42はキャリア保持板4
6上でX・Y・θ方向に微動可能である。
フィルム41の周縁部に接着されてこれを補強してい
る。このフレーム42には複数のガイドピン33とそれ
ぞれ嵌合する複数(この例では二個)のガイド穴42a
が設けられている。このガイド穴42aと貫通穴41a
との相対位置は、ガイドピン33と接触子22との相対
位置と合致している。キャリアフィルム41を貼着した
フレーム42は、有頭ピン47によりキャリア保持板4
6に取り付けられている。フレーム42の貫通穴42b
と有頭ピン47とは極めて緩い嵌合であり、キャリアフ
ィルム41を貼着したフレーム42はキャリア保持板4
6上でX・Y・θ方向に微動可能である。
【0026】IC保持板43はIC1のパッケージ本体
2の外形に合わせた凹部43aを備えている。凹部43
aの深さはパッケージ本体2の厚さに等しい。底面に高
弾性材料からなるクッション44が固着されている場合
はその上面までの深さがパッケージ本体2の厚さより僅
かに小さくてもよい。IC保持板43の上下両面は平行
に仕上げてある。
2の外形に合わせた凹部43aを備えている。凹部43
aの深さはパッケージ本体2の厚さに等しい。底面に高
弾性材料からなるクッション44が固着されている場合
はその上面までの深さがパッケージ本体2の厚さより僅
かに小さくてもよい。IC保持板43の上下両面は平行
に仕上げてある。
【0027】軸40はIC保持板43とキャリア保持板
46を水平に貫通し、両端部がそれぞれ軸受ハウジング
32部分で長穴32aと水平穴37aに嵌入してソケッ
ト本体31に支持されている。支持ピン37がスプリン
グ38により上方に押圧されることで、通常は軸40が
長穴32aの上端に接する位置を保つ。この状態でIC
保持板43を回動させてその先端部が支持ピン34に接
した時にこのIC保持板43が水平になるように、長穴
32aの位置が定められている。
46を水平に貫通し、両端部がそれぞれ軸受ハウジング
32部分で長穴32aと水平穴37aに嵌入してソケッ
ト本体31に支持されている。支持ピン37がスプリン
グ38により上方に押圧されることで、通常は軸40が
長穴32aの上端に接する位置を保つ。この状態でIC
保持板43を回動させてその先端部が支持ピン34に接
した時にこのIC保持板43が水平になるように、長穴
32aの位置が定められている。
【0028】IC保持板43の軸40貫通部分の幅は二
つの軸受ハウジング32の間隔より小さく、二つの軸受
ハウジング32の間で軸40の長手方向に微動可能であ
る。また、長穴32aの横幅と水平穴37aの径は軸4
0の径より遙に大きく、水平状態でのIC保持板43の
X・Y・θ方向の微動が可能である。
つの軸受ハウジング32の間隔より小さく、二つの軸受
ハウジング32の間で軸40の長手方向に微動可能であ
る。また、長穴32aの横幅と水平穴37aの径は軸4
0の径より遙に大きく、水平状態でのIC保持板43の
X・Y・θ方向の微動が可能である。
【0029】このICソケットを使用する際は、先ず、
キャリア保持板46を立て、IC保持板43をソケット
本体31から横に突出するストッパ39に接して水平に
保った状態でIC1をボール端子3を上に向けて凹部4
3aに納置し、次に、キャリア保持板46を回動させて
フレーム42に貼着されたキャリアフィルム41をIC
1に被せ、その総ての貫通穴41aとボール端子3とが
嵌合するように微調整し、クランプ45でクランプす
る。この状態でパッケージ本体2のボール端子配設面が
キャリアフィルム11と当接している。
キャリア保持板46を立て、IC保持板43をソケット
本体31から横に突出するストッパ39に接して水平に
保った状態でIC1をボール端子3を上に向けて凹部4
3aに納置し、次に、キャリア保持板46を回動させて
フレーム42に貼着されたキャリアフィルム41をIC
1に被せ、その総ての貫通穴41aとボール端子3とが
嵌合するように微調整し、クランプ45でクランプす
る。この状態でパッケージ本体2のボール端子配設面が
キャリアフィルム11と当接している。
【0030】次に、IC保持板43を回動してソケット
本体31上に反転し、支持ピン34に当接させる。この
時IC保持板43とともにIC1も水平となり、そのボ
ール端子3は下に向く。このIC保持板43を上からプ
ランジャ27により押圧して水平を維持しながら下降さ
せると、その過程でガイド穴42aがガイドピン33に
ガイドされて調動し、その結果IC1のボール端子3と
ICソケットの接触子22との位置が合い、且つ総てが
均一に接触する。
本体31上に反転し、支持ピン34に当接させる。この
時IC保持板43とともにIC1も水平となり、そのボ
ール端子3は下に向く。このIC保持板43を上からプ
ランジャ27により押圧して水平を維持しながら下降さ
せると、その過程でガイド穴42aがガイドピン33に
ガイドされて調動し、その結果IC1のボール端子3と
ICソケットの接触子22との位置が合い、且つ総てが
均一に接触する。
【0031】本発明は以上の例に限定されることなく、
更に種々変形して実施することができる。例えば、ソケ
ット本体上のガイドピンと嵌合させるガイド穴を、フレ
ームではなくキャリアフィルムの周縁部に設けても、本
発明は有効である。
更に種々変形して実施することができる。例えば、ソケ
ット本体上のガイドピンと嵌合させるガイド穴を、フレ
ームではなくキャリアフィルムの周縁部に設けても、本
発明は有効である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ICのボール端子とICソケットの接触子との接触不良
や、ボール端子の損傷・離脱等の発生を防ぐことができ
るICキャリアとICソケットとを提供することがで
き、IC試験の信頼性、歩留り、生産性等の向上に寄与
する。
ICのボール端子とICソケットの接触子との接触不良
や、ボール端子の損傷・離脱等の発生を防ぐことができ
るICキャリアとICソケットとを提供することがで
き、IC試験の信頼性、歩留り、生産性等の向上に寄与
する。
【図1】 本発明のICキャリアの実施形態を示す縦断
面図である。
面図である。
【図2】 本発明のICキャリアの実施形態を示す平面
図である。
図である。
【図3】 本発明のICソケットの実施形態を示す側面
図である。
図である。
【図4】 本発明のICソケットの実施形態を示す平面
図である。
図である。
【図5】 本発明のICソケットの他の実施形態を示す
側面図である。
側面図である。
【図6】 本発明のICソケットの他の実施形態を示す
平面図である。
平面図である。
1 IC 2 パッケージ本体 3 ボール端子 11,41 キャリアフィルム 11a,41a 貫通穴 12,42 フレーム 12a,42a ガイド穴 13,43 IC保持板 13a,43a 凹部 14,44 クッション 15,45 クランプ 21,31 ソケット本体 21a,31a,31b 垂直ガイド穴 22 接触子 23,33 ガイドピン 24,34,37 支持ピン 25,35,38 スプリング 26,36 ストッパ 27 プランジャ 32 軸受ハウジング 32a 長穴 37a 水平穴 39 ストッパ 40 軸 42b 貫通穴 46 キャリア保持板 47 有頭ピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浅野 良秀 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 小沢 徹 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 池田 博人 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 小椋 芳浩 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 井戸 剛 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 友廣 英一 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 2G003 AA07 AG01 AG11 AG12 AH07 4M106 AA04 BA14 DG02 DG25 DJ34
Claims (3)
- 【請求項1】 パッケージ本体の一面に複数のボール端
子が配設されてなるICを収容して、複数の接触子が該
ICのボール端子の配置に合わせて配設されてなるIC
ソケットに装着するICキャリアであって、 絶縁フィルムからなり該ボール端子が緩く嵌合する径の
貫通穴が該ICのボール端子の配置に合わせて配設され
たキャリアフィルムと、該キャリアフィルムの周縁部に
固着されたフレームと、該パッケージ本体を納置する凹
部を備えたIC保持板と、該凹部に納置した該パッケー
ジ本体のボール端子配設面が該キャリアフィルムに当接
する状態で該フレームを介して該キャリアフィルムを該
IC保持板に固定するクランプとを有し、 該キャリアフィルムの周縁部若しくは該フレームには該
ICソケットに設けられた複数のガイドピンのそれぞれ
と嵌合する複数のガイド穴が配設されており、 該ガイド穴と該貫通穴との相対位置は、該ICソケット
における該ガイドピンと該接触子との相対位置と合致し
ていることを特徴とするICキャリア。 - 【請求項2】 前記ICを収容した請求項1記載のIC
キャリアが装着されるICソケットであって、 複数の接触子が該ICのボール端子の配置に合わせて配
設されたソケット本体と、該ソケット本体の周縁部に植
設されて直立し前記複数のガイド穴のそれぞれと嵌合す
る複数のガイドピンと、該ソケット本体上方で該ICキ
ャリアを水平に支持しつつ昇降させるICキャリア支持
昇降手段とを有し、 該ガイドピンと該接触子との相対位置は、該ICキャリ
アの前記ガイド穴と前記貫通穴との相対位置と合致して
いることを特徴とするICソケット。 - 【請求項3】 前記ソケット本体の周縁部で水平に延在
する軸を有し、請求項1記載のICキャリアが該軸によ
り該ソケット本体に該軸の長手方向及び半径方向に遊び
を有して軸支されており、 該ソケット本体上方で該ICキャリアを水平に支持しつ
つ降下させる過程で前記ガイド穴が前記ガイドピンにガ
イドされて調動するように構成されていることを特徴と
する請求項2記載のICソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11074009A JP2000266808A (ja) | 1999-03-18 | 1999-03-18 | Icキャリア及びicソケット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11074009A JP2000266808A (ja) | 1999-03-18 | 1999-03-18 | Icキャリア及びicソケット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000266808A true JP2000266808A (ja) | 2000-09-29 |
Family
ID=13534668
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11074009A Withdrawn JP2000266808A (ja) | 1999-03-18 | 1999-03-18 | Icキャリア及びicソケット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000266808A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006097973A1 (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Micronics Japan Co., Ltd. | Icキャリア,icソケット及びicデバイスの試験方法 |
KR100816620B1 (ko) * | 2000-11-06 | 2008-03-24 | 센사타 테크놀로지스, 인크 | 전자 패키지를 착탈 가능하게 장착하는 소켓 |
KR100893132B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2009-04-15 | 가부시키가이샤 엔프라스 | 전기 부품용 소켓 |
-
1999
- 1999-03-18 JP JP11074009A patent/JP2000266808A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100816620B1 (ko) * | 2000-11-06 | 2008-03-24 | 센사타 테크놀로지스, 인크 | 전자 패키지를 착탈 가능하게 장착하는 소켓 |
WO2006097973A1 (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Micronics Japan Co., Ltd. | Icキャリア,icソケット及びicデバイスの試験方法 |
DE112005003496T5 (de) | 2005-03-11 | 2008-07-17 | Micronics Japan Co., Ltd., Musashino | IC Träger, IC Fassung und Verfahren zum Testen einer IC Vorrichtung |
US7884630B2 (en) | 2005-03-11 | 2011-02-08 | Micronics Japan Co., Ltd. | IC carrie, IC socket and method for testing IC device |
KR100893132B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2009-04-15 | 가부시키가이샤 엔프라스 | 전기 부품용 소켓 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8143909B2 (en) | Universal test socket and semiconductor package testing apparatus using the same | |
JP3690928B2 (ja) | パッケージされないチップをテストするためのキャリア | |
US5872458A (en) | Method for electrically contacting semiconductor devices in trays and test contactor useful therefor | |
US5108302A (en) | Test socket | |
JP2006208356A (ja) | 半導体素子テスト用のソケットアセンブリ | |
US5057904A (en) | Socket unit for package having pins and pads | |
JP3256175B2 (ja) | Icパッケージ測定用ソケット | |
US7274093B2 (en) | Semiconductor device connector, semiconductor device carrier, semiconductor device socket using the same and probe card | |
JP2000266808A (ja) | Icキャリア及びicソケット | |
JPH09274066A (ja) | 半導体試験装置及びこれを利用した試験方法及び半導体装置 | |
US6872083B2 (en) | Socket for electrical parts | |
CN114994424B (zh) | 测试用载具 | |
JP2004085238A (ja) | 半導体集積回路の接続機構 | |
US6204676B1 (en) | Testing apparatus for testing a ball grid array device | |
KR100269953B1 (ko) | 반도체칩검사용소켓장치 | |
JPH06180345A (ja) | 半導体装置収納用トレイ及び半導体装置の試験装置,試験方法 | |
KR20030041908A (ko) | 인쇄 회로 기판용 유니버셜 테스트 지그, 테스트 소켓 및테스트 지그용 카세트 | |
JP3256455B2 (ja) | ソケット | |
CN219104997U (zh) | 一种双芯片同测用测试座 | |
CN218037201U (zh) | 一种芯片测试装置 | |
JP2003066095A (ja) | デバイスキャリア及びオートハンドラ | |
KR100278766B1 (ko) | 마이크로비지에이(μBGA)타입소자용캐리어모듈 | |
US7303929B2 (en) | Reloading of die carriers without removal of die carriers from sockets on test boards | |
JP2932999B2 (ja) | 半導体チップ | |
JP2606309Y2 (ja) | Icソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060606 |