JP2000235430A - 内部クロック発生回路 - Google Patents

内部クロック発生回路

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JP2000235430A
JP2000235430A JP11256157A JP25615799A JP2000235430A JP 2000235430 A JP2000235430 A JP 2000235430A JP 11256157 A JP11256157 A JP 11256157A JP 25615799 A JP25615799 A JP 25615799A JP 2000235430 A JP2000235430 A JP 2000235430A
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signal
clock
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▲ばえ▼容徹
Yotetsu Bae
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    • H03K5/135Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals

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  • Manipulation Of Pulses (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】外部クロック信号と内部クロック信号との間の
位相差を最少化すると共に、消耗電力を低減する。 【解決手段】外部クロック信号CLKを遅延させたPC
LK−1を発生するクロックバッファ10と、PCLK
−1を分周してPCLK−2を発生する分周器12と、
PCLK−2を遅延させてDCLK−1を発生するメイ
ンディレイ14がある。DCLK−1は直列連結された
ユニットディレイ16−1〜16−mに供給され、この
出力はそれぞれ位相検波器20−1〜nに入り、PCL
K−2と比較される。PCLK−1は直列連結のユニッ
トディレイ18−1〜mに供給されDCLK2′〜n′
を発生する。PCLK−1およびDCLK2′〜n′の
出力は、それぞれ位相検波器20−1〜20−nとSW
1〜SWnを介して結合されている。位相検波器はPC
LK−2とDCLKの同期状態に応じてSW1〜nをイ
ネーブル操作する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置に関す
るものであり、より詳しくは、外部から供給されるクロ
ック信号に同期して動作する同期型半導体装置のような
半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、同期型半導体装置は、外部クロ
ック信号(システムクロック)CLKと内部クロック信
号PCLKを発生するクロックバッファ回路を含む。内
部クロック信号PCLKは、半導体メモリ装置の各回路
に供給される。外部クロック信号CLKと内部クロック
信号PCLKとの間には、不可避に位相差が生じる。
【0003】外部クロック信号PCLKと内部クロック
信号CLKとの間の位相差は、結果として半導体メモリ
装置内の対応する応答遅延を引き起こす。従って、外部
クロック信号CLKに同期した内部クロック信号を有す
る半導体メモリ装置に関連して、かかる好ましくない遅
延を除去する必要がある。
【0004】このような問題を解決するための多様な方
法が開発されてきた。外部クロック信号CLKと内部ク
ロック信号PCLKとの間の位相差を最小化させるた
め、開発された1つの方法は、位相同期ループPLL回
路を使用することである。この分野でよく知られたよう
に、PLL回路は、位相検出器、ループフィルタ、及び
電圧制御発振器で構成される。PLL回路を使用するこ
とによって、外部クロック信号CLKと内部クロック信
号PCLKとの間の前述された位相差は、低減され得
る。
【0005】しかし、PLL回路は、電力消耗が大きい
ため、低電力消耗を要求する同期型ダイナミックランダ
ムアクセスメモリ装置(Synchronous Dy
namic Random Access Memor
y)のような同期型半導体メモリ装置に不適合である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、外部クロック信号との位相差が小さい内部クロック
信号を発生する回路を提供することである。
【0007】本発明の他の目的は、外部クロック信号と
内部クロック信号との間の位相差を最小化すると共に、
消耗電力を低減することができる内部クロック発生回路
を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上述のような目的を達成
するために、本発明によれば、外部クロック信号を受け
入れる入力ノードと外部クロック信号に同期した内部ク
ロック信号を出力する内部クロックノードを有する内部
クロック発生回路が提供される。
【0009】この内部クロック発生回路は、外部クロッ
ク信号を所定の第1時間だけ遅延させて第1クロック信
号を発生するクロックバッファと、第1クロック信号を
分周して第2クロック信号を発生する周波数分周器と、
第2クロック信号を所定の第2時間だけ遅延させて第3
クロック信号を発生するメインディレイ(delay)
と、直列連結された複数の第1ユニットディレイを有す
る第1遅延ラインであって、各第1ユニットディレイ
は、入力端子と出力端子を有し、初段の第1ユニットデ
ィレイの入力端子は、第3クロック信号に連結され、各
第1ユニットディレイは、各入力端子の信号に応じて各
出力端子に第1ユニットディレイ出力信号を提供する、
第1遅延ラインと、直列された複数の第2ユニットディ
レイを有する第2遅延ラインであって、各第2ユニット
ディレイは、入力端子と出力端子を有し、初段の第2ユ
ニットディレイの入力端子は、第1クロック信号を受け
入れるように連結され、各第2ユニットディレイは、各
入力端子の信号に応じて第2ユニットディレイ出力信号
を各出力端子に提供する、第2遅延ラインと、イネイブ
ル信号に応じて、内部クロックノードに、第1クロック
信号の出力ノード及び第2遅延ラインの複数の第2ユニ
ットディレイの出力ノードのうち該当する出力ノードを
連結するための複数のスイッチを有するスイッチング手
段と、第2クロック信号が、前記第1ユニットディレイ
出力信号及びメインディレイの出力信号である第3クロ
ック信号のいずれと同期するかに応じて、複数のスイッ
チのうち該当するスイッチのためのイネイブル信号を発
生する位相比較手段とを含み、位相比較手段は、第1ユ
ニットディレイの出力ノード、メインディレイの出力ノ
ード及び複数のスイッチの各々のイネイブルポートに連
結されている。
【0010】このような回路によって、外部クロック信
号と内部クロック信号との間の位相差が小さくして外部
クロック信号と内部クロック信号を同期させ、SDRA
Mのアクセス時間を短縮させることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の望ましい実施の形
態を参照素面に基づいて説明する。
【0012】図1は、本発明の望ましい実施の形態の内
部クロック発生回路のブロック図である。この内部クロ
ック発生回路は、クロックバッファ10、周波数分周器
12、メイン遅延回路14、複数の第1ユニットディレ
イ16_1〜16_m(mは、定数)、複数の第2ユニ
ットディレイ18_1〜18_m、複数のスイッチSW
1〜SWn(nは、定数)、複数の位相検出器20_1
〜20_n、及びクロックドライバ22を含む。
【0013】クロックバッファ回路10は、外部クロッ
ク信号CLKを所定時間だけ遅延させて遅延クロック信
号PCLK_1を発生する。バッファ10から出力され
たクロック信号PCLK_1は、周波数分周器12の入
力ノード、及び第2ユニットディレイ18_1〜18_
mの各々の入力ノードに供給される。
【0014】周波数分周器12は、遅延クロック信号P
CLK_1を分周して所定の周波数を有するクロック信
号PCLK_2を発生する。例えば、クロック信号PC
LK_1が50MHzの周波数を有するとき、周波数分
周器12から出力されたクロック信号PCLK_2は、
25MHzの周波数を有する。これはクロック信号PC
LK_2の周期がクロック信号PCLK_1の周期より
2倍であることを意味する。
【0015】複数の第1ユニットディレイ16_1〜1
6_mは、互いに直列に連結され、その初段は、メーン
遅延回路14の出力ノードに連結され、各々同一の遅延
時間を発生させる。ユニットディレイ16_1〜16_
mは、クロック信号DCLK2〜DCLKnを発生し、
クロック信号DCLK2_DCLKnの各々は、メーン
遅延回路14によりクロック信号PCLK_2からから
遅延して出力されるクロック信号DCLK1から遅延さ
れる。第1ユニットディレイ16_1〜16_mは、第
1遅延ラインを構成する。
【0016】第2遅延ラインは、直列連結された第2ユ
ニットディレイ18_1〜18_mを含み、ディレイ1
8_1〜18_mの各々は、第1ユニットディレイ16
_1〜16_mの各々による遅延時間と同一の遅延時間
は発生させる。
【0017】スイッチSW1は、クロックドライバ22
の入力ノードとクロックバッファ回路10の出力ノード
との間に連結され、スイッチSW2〜SWnの各々は、
クロックドライバ22の入力ノードと複数の第2ユニッ
トディレイ18_1〜18_mのうち対応するユニット
ディレイとの間に連結される。スイッチSW1〜SWn
は、クロック信号PCLK_1とクロック信号DCLK
2’〜DCLKn’のうち、少なくとも1つを選択し、
クロック信号DCLK2’〜DCLKn’の各々は、対
応するユニットディレイ18_1〜18_mによって遅
延される。
【0018】スイッチSW1〜SWnは、クロックドラ
イバ22の入力ノードに選択されたクロック信号を供給
する。スイッチSW1〜SWnの各々は、複数の位相検
出器20_1〜20_nのうち、対応する位相検出器か
ら出力された対応するイネイブル信号CONnによって
イネイブルされる。
【0019】位相検出器20_1〜20_nの各々は、
分周されたクロック信号PCLK_2と、遅延クロック
信号DCLK1〜DCLKnのうち対応する遅延クロッ
ク信号を受け入れる。位相検出器20_1〜20_nの
各々は、クロック信号PCLK_2の位相と、遅延クロ
ック信号DCLK1〜DCLKnのうち対応する遅延ク
ロック信号との位相を比較し、クロック信号PCLK_
2と対応する遅延クロック信号とが同期しているとき、
該遅延クロック信号をラッチし、クロック信号PCLK
_2がロジック状態であるとき、スイッチイネイブル信
号を活性化させる。
【0020】図1の内部クロック発生回路の動作を図2
に基づいて説明する。外部クロック信号CLKが図2に
図示されたようにクロックバッファ回路10に入力され
る。クロックバッファ回路10は、クロック信号PCL
K_1を発生し、クロック信号PCLK_1は、図2に
図示されたように周波数分周器12によって分周され
る。
【0021】そのように分周されたクロック信号PCL
K_2は、メイン遅延回路14に供給される。クロック
信号PCLK_2は、メイン遅延回路14によって遅延
されてクロック信号DCLK1として出力される。クロ
ック信号PCLK_2は、複数の位相検出器20_1〜
20_nの各々の第1入力ノードに供給される。
【0022】メイン遅延回路14から出力されたクロッ
ク信号DCLK1は、複数のユニットディレイ16_1
〜16_mによって順次遅延される。複数のユニットデ
ィレイ16_1〜16_mの各々は、同一の遅延時間を
発生させる。メイン遅延回路14から出力されたクロッ
ク信号DCLK1とクロック信号DCLK2〜DCLK
nは、対応する位相検出器20_1〜20_nの第2入
力ノードに供給される。
【0023】位相検出器20_1は、クロック信号PC
LK_2の位相とクロック信号DCLK1の位相とを比
較する。同様に、他の位相検出器20_2〜20_n
は、クロック信号PCLK_2の位相と、遅延クロック
信号DCLK2〜DCLKnのうち対応する遅延クロッ
ク信号の位相とを比較する。複数の位相検出器20_1
〜20_nは、全体として、クロック信号PCLK_2
と遅延クロック信号DCLK1〜DCLKnを受け入れ
て、複数のイネイブル信号CON1〜CONnのうち1
つの活性化させる。
【0014】 例えば、分周器12によって分周された
クロック信号PCLK_2とユニットディレイ16_7
から出力された遅延クロック信号DCLK8とが図2に
図示されたように同期していると、位相検出器20_8
は、クロック信号PCLK_2がロジック・ロー状態で
あるとき、遅延されたクロック信号DCLK8をラッチ
する。従って、位相検出器20_8は、出力信号、即ち
スイッチイネイブル信号CON8を活性化させ、その結
果、スイッチSW8をターンオンさせる。これにより、
ユニットディレイ18_1〜18_8によって順次遅延
されたクロック信号DCLK8’は、クロックドライバ
22の入力ノードに連結される。位相検出器20_8の
出力は、ユニットディレイ18_8の遅延クロック信号
DCLK8’を選択し、クロックドライバ22を通し
て、その選択された遅延クロック信号DCLK8’を内
部クロック信号PCLKの出力ノードに連結する。
【0024】前述された方法で内部クロック信号PCL
Kを発生することによって、内部クロック信号PCLK
は、クロック信号PCLK_1よりクロックバッファ回
路10の遅延時間分だけ速くなる。即ち、内部クロック
信号PCLKは、外部クロック信号CLKに同期して変
化する。その上、クロック信号PCLK_2がPCLK
1の周期より2倍長い周期を有するため、クロック信号
PCLK_2によって駆動される回路14、16_1〜
16_m、及び20_1〜20_nは、クロック信号P
CLK_1によって駆動される回路18_1〜18_m
より電力の消耗が少ない。そのため、本発明の望ましい
実施の形態の内部クロック回路の全般的な電力消耗は低
減される。
【0025】図3は、複数のユニットディレイ16_1
〜16_m、複数のスイッチSW1〜SWn、及び複数
の位相検出器20_1〜20_nの具体的な構成及びそ
れらの連結状態を示す。
【0026】図1の内部クロック発生回路において、ク
ロックバッファ回路10は、所定時間だけ外部クロック
信号CLKを遅延させて、図2に図示されたように、ク
ロック信号PLCK_1を発生する。その後、クロック
信号PCLK_1は、第2遅延ラインを構成する複数の
直列連結されたユニットディレイ18_1〜18_mに
よって順次遅延される。ユニットディレイ18_1〜1
8_mは、遅延クロック信号DCLK2’〜DCLK
n’を生成する。
【0027】遅延クロック信号DCLK2’〜DCLK
n’は、図3から分かるように、対応する遅延クロック
信号DCLK2〜DCLKnよりメイン遅延回路14の
遅延時間だけ速い。これは、遅延クロック信号DCLK
2’〜DCLKn’には、メイン遅延回路14を通過し
ない信号が入力されるからである。
【0028】クロック信号PCLK_1は、周波数分周
器12によって分周され、その次に分周されたクロック
信号PCLK_2は、4つの直列連結されたインバータ
で構成されたメイン遅延回路14によって遅延される。
【0029】その後、メイン遅延回路14によって遅延
されたクロック信号DCLK1は、直列連結されたユニ
ットディレイ16_1〜16_mの遅延ラインを通して
順次遅延される。メイン遅延回路14とユニットディレ
イ回路16_1〜16_mの各々は、位相検出器20_
1〜20_nの位相検出器の入力端の伝達ゲートに各々
クロック信号DCLK1〜DCLKnを供給する。
【0030】位相検出器20_1〜20_nは同一の構
成を有するため、ここでは、位相検出器20_1を参照
しながら、それらの動作及び構成を説明する。
【0031】伝達ゲートT1は、PMOSトランジスタ
ーとNMOSトランジスターで構成される。NMOSト
ランジスターのゲートは、クロック信号PCLK_2に
連結され、PMOSトランジスターのゲートは、クロッ
ク信号PCLK_2を反転させるインバータINTの出
力ノードに連結される。
【0032】位相検出器20_1内に提供される伝達ゲ
ートT1の出力ノードは、第1ラッチ回路LT1の入力
ノードに連結され、ラッチ回路LT1は、印加される信
号をラッチする。従って。クロック信号PCLK_2が
ロジック・ハイ状態であるとき、メイン遅延回路14か
ら出力されたクロック信号DCLK1はラッチ回路LT
1にラッチされ出力される。
【0033】第1ラッチ回路LT1の出力ノードは、伝
達ゲートT2に連結され、伝達ゲートT2は、クロック
信号PCLK_2がロジック・ロー状態であるときに活
性化される。伝達ゲートT2の出力ノードは、第2ラッ
チ回路LT2に連結され、第2ラッチ回路LT2は、伝
達ゲートT2を通して伝達された信号をラッチする。第
2ラッチ回路LT2の出力ノードは、対応するスイッチ
(位相検出器20_1の場合、SW1)の制御ポートに
連結された信号発生器SGの入力ノードに連結されてい
る。
【0034】信号発生器SGは、ノードDから出力され
るスイッチイネイブル信号CON1を活性化させ、これ
と同時に、ノードAがロジック・ロー状態(位相検出器
20_1の場合は、常にハイ)を有し、ノードBがロジ
ック・ハイ状態を有するとき、出力Eを非活性化させ
る。出力Eは、次の端の位相検出器の信号発生器SGの
ノードAに連結される。位相同期動作が位相検出器20
_1で行われるとき、信号発生器SGから出力された信
号Eは、ロジック・ハイ状態からロジック・ロー状態に
変化され、結局、次段の位相検出器20_2のノードD
は、ロジック・ハイ状態になる。従って、スイッチSW
2は、ロジック・ハイ状態の信号CON2を受け入れて
ターンオフされ、同時に次段の位相検出器20_3のノ
ードEをロジック・ロー状態にする。
【0035】従って、位相検出器20_1〜20_nの
各々は、第1ラッチ回路LT1により、クロック信号P
CLK_2がロジック・ハイ状態であるときに、対応す
るクロック信号DCLK1〜DCLKnを取り込み、第
2ラッチ回路LT2により、クロック信号PCLK_2
がロジック・ロー状態になったときに、第1ラッチ回路
LT1の出力をラッチして、信号発生器SGを介して、
対応するスイッチイネイブル信号CON1〜CONnを
出力する。
【0036】イネイブル信号CON1〜CONnのうち
いずれか1つがロジック・ロー状態となる。そして、ク
ロック信号PCLK_1及び遅延クロック信号DCLK
1’〜DCLKn’のうち、対応するイネイブル信号が
ロジック・ロー状態である信号が外部クロック信号PC
LKに連結される。ディレイここで、イネイブル信号C
ON1〜CONnのいずれかが活性化されると、その活
性化されたイネイブル信号を発生する位相検出器の次段
の位相検出器が発生するイネイブル信号は、前段の信号
発生器SGから供給される信号によって非活性化され
る。
【0037】以上から、本発明の望ましい実施の形態に
よれば、同期遅延ラインを利用して所定時間だけ遅延さ
れたクロック信号と、遅延されない内部クロック信号と
の位相を比較することによって、外部クロック信号と内
部クロック信号の位相差を最小化させることができる。
従って、本発明の望ましい実施の形態によれば、位相差
が最少化されるように外部クロック信号と内部クロック
信号とを同期させることによって、例えばSDRAMア
クセス時間を短縮させることができる。
【0038】その上、分周器12から出力されたクロッ
ク信号PCLK_2がクロックバッファ回路10から出
力されたクロック信号PCLK_1の周期の2倍の周期
を有するため、クロック信号PLCK_2によって駆動
される回路(メイン遅延回路、第1ユニットディレイ、
位相検出器)は、クロック信号PCLK_1によって駆
動される回路(第2ユニットディレイ)より電力の消耗
が少ない。従って、本発明の望ましい実施の形態の内部
クロック発生回路は、全般的な電力消耗が低減される。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば、外部クロック信号との
位相差が小さい内部クロックを発生することができる。
【0040】また、本発明によれば、外部クロック信号
と内部クロック信号との間の位相差を最少化すると共
に、消耗電力を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の望ましい実施の形態の内部クロック発
生回路のブロック図である。
【図2】図1の内部クロック発生回路の動作を説明する
ためのタイミング図である。
【図3】本発明の望ましい実施の形態の内部クロック発
生回路を具体化した回路を示す図である。
【符号の説明】
10 クロックバッファ 12 周波数分周器 14 メーン遅延回路 22 クロックドライバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03L 7/087 H03L 7/08 J P

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部クロック信号を受け入れる入力ノー
    ドと前記外部クロック信号に同期した内部クロック信号
    を出力する内部クロックノードを有する内部クロック発
    生回路において、 前記外部クロック信号を所定の第1時間だけ遅延させて
    第1クロック信号を発生するクロックバッファと、 前記第1クロック信号を分周して第2クロック信号を発
    生する周波数分周器と、 前記第2クロック信号を所定の第2時間だけ遅延させて
    第3クロック信号を発生するメインディレイと、 直列連結された複数の第1ユニットディレイを有する第
    1遅延ラインであって、各第1ユニットディレイは、入
    力端子と出力端子を有し、初段の第1ユニットディレイ
    の入力端子は、前記第3クロック信号に連結され、各第
    1ユニットディレイは、各入力端子の信号に応じて各出
    力端子に第1ユニットディレイ出力信号を提供する、第
    1遅延ラインと、 直列連結された複数の第2ユニットディレイを有する第
    2遅延ラインであって、各第2ユニットディレイは、入
    力端子と出力端子を有し、初段の第2ユニットディレイ
    の入力端子は、前記第1クロック信号に連結され、各第
    2ユニットディレイは、各入力端子の信号に応じて第2
    ユニットディレイ出力信号を各出力端子に提供する、第
    2遅延ラインと、 イネイブル信号に応じて、前記内部クロックノードに、
    前記第1クロック信号の出力ノード及び前記第2遅延ラ
    インの複数の第2ユニットディレイの出力ノードのうち
    該当する出力ノードを連結するための複数のスイッチを
    有するスイッチング手段と、 前記第2クロック信号が、複数の前記第1ユニットディ
    レイ出力信号及び前記メインディレイの出力信号である
    前記第3クロック信号のいずれと同期するかに応じて、
    前記複数のスイッチのうち該当するスイッチのための前
    記イネイブル信号を発生する位相比較手段と、 を含み、前記位相比較手段は、前記第1ユニットディレ
    イの出力ノード、前記メインディレイの出力ノード及び
    前記複数のスイッチの各々のイネイブルポートに連結さ
    れていることを特徴とする内部クロック発生回路。
  2. 【請求項2】 前記位相比較手段は、 前記第2クロック信号が第1ロジック状態でるとき、第
    1ユニットディレイ出力信号又は前記メインディレイの
    出力信号である前記第3クロック信号をラッチするラッ
    チ手段と、 前記第2クロック信号が第2ロジック状態であるとき、
    前記イネイブル信号により、前記スイッチング手段の複
    数のスイッチのうち該当するスイッチを活性化させる活
    性化手段と、 を含むことを特徴とする請求項1に記載の内部クロック
    発生回路。
  3. 【請求項3】 前記活性化手段は、 前記複数のスイッチのうち該当するスイッチのためのイ
    ネイブル信号を各々発生する複数の信号発生手段と、 1つの前記信号発生手段が前記イネイブル信号を発生す
    る時に、該信号発生手段の次段以降の前記信号発生手段
    が前記イネイブル信号を発生することを禁止する禁止手
    段と、 を含むことを特徴とする請求項2に記載の内部クロック
    発生回路。
  4. 【請求項4】 前記第2クロック信号は、前記第1クロ
    ック信号の周期の少なくとも2倍の周期を有することを
    特徴とする請求項1に記載の内部クロック発生回路。
  5. 【請求項5】 半導体メモリ装置内で外部クロック信号
    に内部クロック信号を同期させる方法において、 所定の第1時間だけ前記外部クロック信号を遅延させて
    第1クロック信号を発生する段階と、 前記第1クロック信号を分周して第2クロック信号を発
    生する段階と、 前記第2クロック信号を所定の第2時間だけ遅延させて
    第3クロック信号を発生する段階と、 複数の第1ユニットディレイによって前記第3クロック
    信号を遅延させて複数の第1遅延クロック信号を発生す
    る段階と、 複数の第2ユニットディレイによって前記第1クロック
    信号を遅延させて複数の第2遅延クロック信号を発生す
    る段階と、 前記の各第1遅延クロック信号及び前記第3クロック信
    号の位相を前記第2クロック信号の位相と比較して、前
    記第2クロック信号及び前記複数の第1遅延クロック信
    号のうち前記第2クロック信号の位相とほぼ同一の位相
    を有する信号を決定する段階とを含むことを特徴とする
    方法。
  6. 【請求項6】 前記複数のスイッチのうち、前記第3ク
    ロック信号と前記第1クロック信号とに関連して設けら
    れたスイッチ、又は、前記複数の第1クロック信号のう
    ち前記第2クロック信号の位相とほぼ同一の位相を有す
    る第1遅延クロック信号と該第1遅延クロック信号に対
    応する第2遅延クロック信号とに関連して設けられたス
    イッチを活性化させる段階をさらに含むことを特徴とす
    る請求項5に記載の方法。
  7. 【請求項7】 前記第1クロック信号の位相とほぼ同一
    の位相を有する第1遅延クロック信号に対応する第2遅
    延クロック信号を前記内部クロックノードに連結する段
    階をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の方
    法。
  8. 【請求項8】 前記の各第1遅延クロック信号の位相と
    前記第2クロック信号の位相を比較する段階は、 前記第2クロック信号が第1ロジック状態であるとき、
    前記第3クロック信号及び前記の各第1遅延クロック信
    号をラッチする段階と、 前記第2クロック信号が第2ロジック状態であるとき、
    前記複数のスイッチのうち該当するスイッチのためのイ
    ネイブル信号を発生する段階とを含むことを特徴とする
    請求項6に記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記スイッチのうち該当するスイッチを
    活性化させる段階は、他のスイッチを非活性化させる段
    階を含むことを特徴とする請求項6に記載の方法。
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