JP2000228418A - Device and method for mounting conductive balls - Google Patents

Device and method for mounting conductive balls

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JP2000228418A
JP2000228418A JP2825199A JP2825199A JP2000228418A JP 2000228418 A JP2000228418 A JP 2000228418A JP 2825199 A JP2825199 A JP 2825199A JP 2825199 A JP2825199 A JP 2825199A JP 2000228418 A JP2000228418 A JP 2000228418A
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Teruaki Kasai
輝明 笠井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently mount conductive balls on a wafer. SOLUTION: In this method, conductive balls are picked up by a mounting head 7 and mounted on a wafer on which a plurality of semiconductor elements are formed. The conductive balls are picked up by a plurality of pickup tools 12A, 12B, 12C, each capable of elevating individually, for picking up the conductive balls to be mounted onto a predetermined number of semiconductor elements. Each pickup tool individually mounts the conductive balls onto the predetermined number of semiconductor elements on the wafer depending on the pickup tools. Consequently, the number of the both-way operations of the mounting head 7 is reduced so that the conductive balls can be efficiently mounted on the semiconductor elements in a wafer state.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電子部品
(半導体素子)が形成された基板(ウェハ)に導電性ボ
ールを搭載する導電性ボールの搭載装置および搭載方法
に関するものである。
The present invention relates to a conductive ball mounting apparatus and method for mounting conductive balls on a substrate (wafer) on which a plurality of electronic components (semiconductor elements) are formed.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子に突出電極であるバンプを形
成する工程においては、導電性ボールなどのバンプ形成
材料が半導体素子の電極に搭載される。近年半導体素子
が個片に切り出される前のウェハの状態で導電性ボール
を搭載する方法が用いられるようになっている。
2. Description of the Related Art In a process of forming a bump as a protruding electrode on a semiconductor element, a bump forming material such as a conductive ball is mounted on an electrode of the semiconductor element. In recent years, a method of mounting conductive balls in a state of a wafer before a semiconductor element is cut into individual pieces has been used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、ウェハに直
接導電性ボールを搭載する場合、従来以下に述べるよう
な問題点があった。ウェハは円柱状素材から切り出され
るために円形状であり、このウェハから多数の半導体素
子が切り出される。個片の半導体素子の形状は一般に矩
形状であるため、ウェハの外周と半導体素子の切り出し
線とは一致しない。すなわちウェハ外周近傍では半導体
素子は階段状の切り出し線で切り出され、このため導電
性ボールの搭載時に複数個の半導体素子をまとまり良く
ブロック単位で括ることができない。
However, when conductive balls are directly mounted on a wafer, there have been the following problems. Since the wafer is cut from a cylindrical material, the wafer has a circular shape, and a large number of semiconductor elements are cut from the wafer. Since the shape of each semiconductor element is generally rectangular, the outer periphery of the wafer does not match the cutout line of the semiconductor element. That is, in the vicinity of the outer periphery of the wafer, the semiconductor elements are cut by step-shaped cutout lines, so that a plurality of semiconductor elements cannot be bundled together in blocks when the conductive balls are mounted.

【0004】この結果従来ウェハへ導電性ボールを直接
搭載する場合には、個片単位で搭載するかまたはウェハ
全体に対して一括して搭載するかのいずれかを選択する
しかなかった。しかしながら全体を一括して搭載する方
法では、正常な搭載を確保する信頼性に難があり、また
個片単位で搭載する場合には多数回の搭載動作を必要と
するため搭載に長時間を要し生産効率が低いという問題
点があった。
As a result, when the conductive balls are directly mounted on the wafer in the past, the only option is to mount the conductive balls individually or individually on the entire wafer. However, in the method of mounting the whole unit at once, it is difficult to ensure the normal mounting, and when mounting in individual units, many mounting operations are required, and it takes a long time to mount. However, there is a problem that production efficiency is low.

【0005】そこで本発明は、複数の電子部品が形成さ
れた基板に効率よく導電性ボールを搭載できる導電性ボ
ールの搭載装置および搭載方法を提供することを目的と
する。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a conductive ball mounting apparatus and a mounting method capable of efficiently mounting conductive balls on a substrate on which a plurality of electronic components are formed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の導電性ボ
ールの搭載装置は、導電性ボールの供給部から搭載ヘッ
ドによって導電性ボールをピックアップし、複数の電子
部品が形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載装
置であって、前記搭載ヘッドに個別に昇降可能な複数の
ピックアップツールを備えた。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for mounting a conductive ball, wherein the conductive head is picked up by a mounting head from a conductive ball supply unit and mounted on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. And a plurality of pickup tools that can be individually raised and lowered on the mounting head.

【0007】請求項2記載の導電性ボールの搭載装置
は、請求項1記載の導電性ボールの搭載装置であって、
前記複数のピックアップツールは、それぞれ所定個数の
半導体素子への搭載分の導電性ボールをピックアップす
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a conductive ball mounting apparatus according to the first aspect.
The plurality of pick-up tools pick up the conductive balls for mounting on a predetermined number of semiconductor elements.

【0008】請求項3記載の導電性ボールの搭載方法
は、導電性ボールの供給部から搭載ヘッドによって導電
性ボールをピックアップし複数の電子部品が形成された
基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であって、前記
搭載ヘッドに備えられた個別に昇降可能でそれぞれ所定
個数の電子部品への搭載分の導電性ボールをピックアッ
プする複数のピックアップツールによって供給部の導電
性ボールをピックアップし、導電性ボールを前記ウェハ
に搭載する際には、それぞれのピックアップツールによ
って当該ピックアップツールに応じた所定個数の電子部
品に導電性ボールを個別に搭載するようにした。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method of mounting a conductive ball, wherein the conductive ball is picked up by a mounting head from a conductive ball supply unit and mounted on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. Picking up the conductive balls of the supply unit by a plurality of pick-up tools provided on the mounting head that can be individually raised and lowered and pick up the conductive balls to be mounted on a predetermined number of electronic components, respectively, When the balls are mounted on the wafer, the conductive balls are individually mounted on a predetermined number of electronic components according to the respective pickup tools.

【0009】本発明によれば、導電性ボールを搭載する
搭載ヘッドに、個別に昇降可能でそれぞれ所定個数の電
子部品への搭載分の導電性ボールをピックアップするピ
ックアップツールを備えることにより、基板上の複数の
電子部品に対して効率よく導電性ボールを搭載すること
ができる。
According to the present invention, the mounting head on which the conductive balls are mounted is provided with a pickup tool which can be individually moved up and down and picks up the conductive balls mounted on a predetermined number of electronic components. The conductive balls can be efficiently mounted on the plurality of electronic components.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1は本発明の
実施の形態1の導電性ボールの搭載装置の斜視図、図2
は同導電性ボールの搭載装置の移載ヘッドの正面図、図
3(a),(b),(c)は同導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図、図4は同導電性ボール
が搭載されるウェハの平面図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view of a conductive ball mounting apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG.
Is a front view of a transfer head of the conductive ball mounting device, FIGS. 3A, 3B, and 3C are plan views of a pickup tool of the conductive ball mounting device, and FIG. It is a top view of the wafer in which a ball is mounted.

【0011】まず図1を参照して導電性ボールの搭載装
置の構造を説明する。図1において、基台1の中央には
搬送路2が設けられている。搬送路2はウェハ4を保持
したプレート3を搬送し位置決めする。このウェハ4は
略円形状の基板であり、ウェハ4には複数の電子部品で
ある半導体素子が形成されている。基台1の上面の両端
部には2台のY軸テーブル5が配設されている。2台の
Y軸テーブル5にはX軸テーブル6が架設されており、
X軸テーブル6には搭載ヘッド7が装着されている。
First, the structure of the conductive ball mounting device will be described with reference to FIG. In FIG. 1, a transport path 2 is provided at the center of a base 1. The transfer path 2 transfers and positions the plate 3 holding the wafer 4. The wafer 4 is a substantially circular substrate, on which a plurality of semiconductor elements as electronic components are formed. Two Y-axis tables 5 are arranged at both ends of the upper surface of the base 1. An X-axis table 6 is installed on the two Y-axis tables 5,
A mounting head 7 is mounted on the X-axis table 6.

【0012】搭載ヘッド7は3つのピックアップヘッド
8を備えている。X軸テーブル6およびY軸テーブル5
を駆動することにより搭載ヘッド7は水平移動する。搬
送路2の前方にはボール供給部9が配設されており、ボ
ール供給部9には導電性ボール10が多数貯溜されてい
る。搭載ヘッド7をボール供給部9の上方に位置させて
ピックアップヘッド8を上下動させることにより、ピッ
クアップヘッド8は導電性ボール10をピックアップす
る。そして搭載ヘッド7を位置決めされたウェハ4上に
位置させてピックアップヘッド8を再度上下動させるこ
とにより、ピックアップヘッド8に保持された導電性ボ
ール10をウェハ4上に搭載する。
The mounting head 7 has three pickup heads 8. X axis table 6 and Y axis table 5
, The mounting head 7 moves horizontally. A ball supply unit 9 is provided in front of the transport path 2, and a large number of conductive balls 10 are stored in the ball supply unit 9. The pickup head 8 picks up the conductive balls 10 by moving the pickup head 8 up and down with the mounting head 7 positioned above the ball supply unit 9. Then, by positioning the mounting head 7 on the positioned wafer 4 and moving the pickup head 8 up and down again, the conductive balls 10 held by the pickup head 8 are mounted on the wafer 4.

【0013】次に図2、図3を参照して搭載ヘッド7に
ついて説明する。図2において、搭載ヘッド7はX軸テ
ーブル6に装着されて水平移動するプレート部材7aに
3つのピックアップヘッド8を配設して構成されてい
る。3つのピックアップヘッド8はそれぞれZ軸モータ
11aを備えたZ軸テーブル11に装着されている。ピ
ックアップヘッド8の下端部には3つの異った種類のピ
ックアップツール12A,12B,12Cが装着されて
いる。したがって、ピックアップツール12A,12
B,12Cは個別に昇降可能となっている。
Next, the mounting head 7 will be described with reference to FIGS. In FIG. 2, the mounting head 7 is configured by arranging three pickup heads 8 on a plate member 7a mounted on the X-axis table 6 and moving horizontally. Each of the three pickup heads 8 is mounted on a Z-axis table 11 having a Z-axis motor 11a. At the lower end of the pickup head 8, three different types of pickup tools 12A, 12B, and 12C are mounted. Therefore, the pickup tools 12A, 12A
B and 12C can be individually raised and lowered.

【0014】ピックアップツール12A,12B,12
Cの下面には、図3(a),(b),(c)にそれぞれ
示すように、導電性ボールを真空吸着する吸着孔13が
設けられている。ピックアップツール12Aの吸着孔1
3はウェハ4に形成された半導体素子1個に搭載される
導電性ボールの配列パターンに対応して配列されてい
る。またピックアップツール12B,12Cはそれぞれ
ピックアップツール12Aを2個または4個結合した吸
着孔13の配列を有しており、ウェハ4上の2個の半導
体素子または4個の半導体素子に対して同時に導電性ボ
ール10を搭載できるようになっている。すなわち、各
ピックアップツールは所定個数の半導体素子への搭載分
の導電性ボールをピックアップする。なお、ピックアッ
プツールとして、真空吸着によって導電性ボールを吸着
する替りに、静電吸着によって吸着するものであっても
よい。
Pickup tools 12A, 12B, 12
As shown in FIGS. 3 (a), 3 (b) and 3 (c), suction holes 13 for vacuum suction of the conductive balls are provided on the lower surface of C. Suction hole 1 of pickup tool 12A
Numerals 3 are arranged corresponding to the arrangement pattern of the conductive balls mounted on one semiconductor element formed on the wafer 4. Each of the pick-up tools 12B and 12C has an array of suction holes 13 in which two or four pick-up tools 12A are connected to each other, so that two or four semiconductor elements on the wafer 4 are simultaneously conductive. The sex ball 10 can be mounted. That is, each pick-up tool picks up a predetermined number of conductive balls mounted on a semiconductor element. It should be noted that the pick-up tool may be a tool that sucks the conductive ball by electrostatic suction instead of sucking the conductive ball by vacuum suction.

【0015】この導電性ボールの搭載装置は上記のよう
に構成されており、以下ウェハ4への導電性ボール10
の搭載について説明する。図4はウェハ4に形成された
半導体素子14の配置を示している。図4において半導
体素子14上の区画15A,15Bおよび15Cは、そ
れぞれピックアップツール12A,12Bおよび12C
によって導電性ボール10が搭載される対象となる半導
体素子14の区分を示している。すなわち区画15Aに
ついては1回の搭載動作で各半導体素子1個ごとに個別
に導電性ボールが搭載され、また区画15B,15Cに
対しては1回の搭載動作でそれぞれ各半導体素子2個ま
たは4個を対象として導電性ボール10が搭載される。
図4に示す例では、1つのウェハ4についての区画15
A,15Bおよび15Cの数はそれぞれ8個,8個およ
び7個となっている。
The apparatus for mounting the conductive balls is configured as described above.
The mounting of will be described. FIG. 4 shows an arrangement of the semiconductor elements 14 formed on the wafer 4. In FIG. 4, the sections 15A, 15B and 15C on the semiconductor element 14 correspond to pickup tools 12A, 12B and 12C, respectively.
Indicates the section of the semiconductor element 14 on which the conductive ball 10 is mounted. That is, the conductive balls are individually mounted on each of the semiconductor elements in the section 15A by one mounting operation, and two or four semiconductor elements are respectively mounted on the sections 15B and 15C by one mounting operation. The conductive balls 10 are mounted on the individual objects.
In the example shown in FIG. 4, the section 15 for one wafer 4
The numbers of A, 15B and 15C are 8, 8, and 7, respectively.

【0016】実際の搭載動作においては、まず図1に示
すボール供給部9上に搭載ヘッド7を位置させ、3つの
ピックアップヘッド8をボール供給部9に対して下降さ
せる。そしてピックアップツール12A,12B,12
Cにそれぞれ導電性ボール10を吸着させる。この後、
各ピックアップヘッド8を上昇させて搭載ヘッド7を搬
送路2のウェハ4上に移動させる。そしてそこでピック
アップヘッド8を順次ウェハ4に対して下降させ、吸着
状態を解除することにより導電性ボール10を各半導体
素子14上に搭載する。
In the actual mounting operation, the mounting head 7 is first positioned on the ball supply unit 9 shown in FIG. 1, and the three pickup heads 8 are lowered with respect to the ball supply unit 9. And the pickup tools 12A, 12B, 12
The conductive balls 10 are respectively adsorbed to C. After this,
Each pickup head 8 is raised to move the mounting head 7 onto the wafer 4 in the transfer path 2. Then, the pickup head 8 is sequentially lowered with respect to the wafer 4 to release the suction state, so that the conductive balls 10 are mounted on the respective semiconductor elements 14.

【0017】このとき、搭載ヘッド7がボール供給部9
とウェハ4の間を移動する1往復動作において、各ピッ
クアップツール12A,12Bおよび12Cに同時に導
電性ボール10を吸着させてウェハ4に搭載することが
できることから、区画15A,15Bおよび15Cの個
数のうちの最大個数に対応した回数だけ搭載ヘッド7を
往復させればよい。すなわち図4に示す例では、搭載ヘ
ッド7に往復動作を8回行わせることにより、ウェハ4
の各半導体素子14の全てに導電性ボール10を搭載す
ることができる。したがって、従来の半導体素子の個片
単位で搭載する方法によれば本実施の形態に示す例では
半導体素子14の総数に等しい52回もの多数回の往復
動作を必要とするのと比較して、搭載作業効率を格段に
向上させることができる。
At this time, the mounting head 7 is
In one reciprocating operation of moving between the wafer and the wafer 4, the conductive balls 10 can be simultaneously attracted to the respective pickup tools 12A, 12B and 12C and mounted on the wafer 4, so that the number of the sections 15A, 15B and 15C can be reduced. The mounting head 7 may be reciprocated the number of times corresponding to the maximum number. That is, in the example shown in FIG. 4, the mounting head 7 performs the reciprocating operation eight times so that the wafer 4
The conductive balls 10 can be mounted on all of the semiconductor elements 14. Therefore, according to the conventional method of mounting the semiconductor elements in units of individual pieces, the example shown in the present embodiment requires a large number of reciprocating operations as many as 52 times equal to the total number of the semiconductor elements 14, The mounting work efficiency can be remarkably improved.

【0018】(実施の形態2)図5(a)は本発明の実
施の形態2のピックアップヘッドの正面図、図5(b)
は同ピックアップヘッド下面の平面図である。図5
(a)において、ピックアップヘッド20はZ軸モータ
21aを備えたZ軸テーブル21に装着されている。Z
軸テーブル21は実施の形態1における搭載ヘッド7に
単独または複数で配設される。ピックアップヘッド20
は、ガイド部22によって上下方向にガイドされる複数
(本実施の形態においては4個)のピックアップツール
24を備えており、図5(b)に示すように各ピックア
ップツール24の下面には実施の形態1におけるピック
アップツール12Aと同様の吸着孔13が設けられてい
る。各ピックアップツール24はそれぞれ個別の上下動
機構23と結合されており、したがって各ピックアップ
ツール24は個別に昇降可能となっている。
(Embodiment 2) FIG. 5A is a front view of a pickup head according to Embodiment 2 of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a plan view of the lower surface of the pickup head. FIG.
In (a), the pickup head 20 is mounted on a Z-axis table 21 provided with a Z-axis motor 21a. Z
The axis table 21 is provided alone or in plural on the mounting head 7 in the first embodiment. Pickup head 20
Is provided with a plurality of (four in the present embodiment) pickup tools 24 that are guided in the up-down direction by the guide portions 22. As shown in FIG. A suction hole 13 similar to the pickup tool 12A in the first embodiment is provided. Each of the pick-up tools 24 is connected to an individual vertical movement mechanism 23, and thus each of the pick-up tools 24 can be individually raised and lowered.

【0019】上記構成のようなピックアップヘッド20
を備えることにより、ウェハ4への導電性ボール10の
搭載において、実施の形態1に示すウェハ4上の各区画
15A,15Bおよび15Cのいずれについても同一の
ピックアップヘッド20によって搭載を行うことがで
き、より効率的な導電性ボール10の搭載を行うことが
可能となる。なお、本実施の形態1および2では、ウェ
ハに形成された半導体素子の電極に導電性ボールを搭載
する例を説明したが本発明はこれに限定されず、1枚に
複数の電子部品を作り込んだ基板に対して導電性ボール
を搭載する場合についても本発明を適用することができ
る。
A pickup head 20 having the above-described structure.
By mounting the conductive ball 10 on the wafer 4, the same pickup head 20 can be used to mount each of the sections 15A, 15B and 15C on the wafer 4 shown in the first embodiment. Thus, it is possible to mount the conductive balls 10 more efficiently. In the first and second embodiments, the example in which the conductive balls are mounted on the electrodes of the semiconductor elements formed on the wafer has been described. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of electronic components can be formed on one sheet. The present invention can be applied to the case where conductive balls are mounted on the embedded substrate.

【0020】[0020]

【発明の効果】本発明によれば、導電性ボールを搭載す
る搭載ヘッドにそれぞれ所定個数の半導体素子分の導電
性ボールをピックアップし、個別に昇降可能なピックア
ップツールを備えるようにしたので、1枚の基板に作り
込まれた複数の電子部品に対して効率よく導電性ボール
を搭載することができる。
According to the present invention, since the conductive balls for a predetermined number of semiconductor elements are respectively picked up on the mounting head for mounting the conductive balls, and the pick-up tools which can be individually raised and lowered are provided. Conductive balls can be efficiently mounted on a plurality of electronic components formed on a single substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装
置の斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a conductive ball mounting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装
置の移載ヘッドの正面図
FIG. 2 is a front view of a transfer head of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図3】(a)本発明の実施の形態1の導電性ボールの
搭載装置のピックアップツールの平面図 (b)本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図 (c)本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図
FIG. 3A is a plan view of a pickup tool of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3B is a plan view of a pickup tool of the conductive ball mounting apparatus of the first embodiment of the present invention. (C) A plan view of a pickup tool of the conductive ball mounting device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態1の導電性ボールが搭載さ
れるウェハの平面図
FIG. 4 is a plan view of a wafer on which the conductive balls according to the first embodiment of the present invention are mounted.

【図5】(a)本発明の実施の形態2のピックアップヘ
ッドの正面図 (b)本発明の実施の形態2のピックアップヘッド下面
の平面図
5A is a front view of a pickup head according to a second embodiment of the present invention. FIG. 5B is a plan view of a lower surface of the pickup head according to the second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 ウェハ 7 搭載ヘッド 8 ピックアップヘッド 9 供給部 10 導電性ボール 12A、12B、12C ピックアップツール 13 吸着孔 14 半導体素子 Reference Signs List 4 wafer 7 mounting head 8 pickup head 9 supply unit 10 conductive ball 12A, 12B, 12C pickup tool 13 suction hole 14 semiconductor element

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】導電性ボールの供給部から搭載ヘッドによ
って導電性ボールをピックアップし、複数の電子部品が
形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載装置であ
って、前記搭載ヘッドに個別に昇降可能な複数のピック
アップツールを備えたことを特徴とする導電性ボールの
搭載装置。
1. A conductive ball mounting apparatus for picking up conductive balls from a conductive ball supply section by a mounting head and mounting the conductive balls on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. A conductive ball mounting device, comprising: a plurality of vertically movable pickup tools.
【請求項2】前記複数のピックアップツールは、それぞ
れ所定個数の半導体素子への搭載分の導電性ボールをピ
ックアップすることを特徴とする請求項1記載の導電性
ボールの搭載装置。
2. The conductive ball mounting apparatus according to claim 1, wherein each of the plurality of pickup tools picks up conductive balls mounted on a predetermined number of semiconductor elements.
【請求項3】導電性ボールの供給部から搭載ヘッドによ
って導電性ボールをピックアップし複数の電子部品が形
成された基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であっ
て、前記搭載ヘッドに備えられたそれぞれ所定個数の電
子部品への搭載分の導電性ボールをピックアップし個別
に昇降可能な複数のピックアップツールによって供給部
の導電性ボールをピックアップし、導電性ボールを前記
ウェハに搭載する際にはそれぞれのピックアップツール
によって当該ピックアップツールに応じた所定個数の電
子部品に導電性ボールを個別に搭載することを特徴とす
る導電性ボールの搭載方法。
3. A method for mounting a conductive ball, wherein the conductive ball is picked up by a mounting head from a conductive ball supply unit and mounted on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. When picking up the conductive balls of the supply part by a plurality of pick-up tools which can individually pick up and lower the conductive balls for mounting on a predetermined number of electronic components, when mounting the conductive balls on the wafer, A conductive ball is individually mounted on a predetermined number of electronic components according to the pick-up tool.
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