JP3514151B2 - Apparatus and method for mounting conductive ball - Google Patents

Apparatus and method for mounting conductive ball

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JP3514151B2 JP02825199A JP2825199A JP3514151B2 JP 3514151 B2 JP3514151 B2 JP 3514151B2 JP 02825199 A JP02825199 A JP 02825199A JP 2825199 A JP2825199 A JP 2825199A JP 3514151 B2 JP3514151 B2 JP 3514151B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電子部品
(半導体素子)が形成された基板(ウェハ)に導電性ボ
ールを搭載する導電性ボールの搭載装置および搭載方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a conductive ball mounting apparatus and method for mounting a conductive ball on a substrate (wafer) having a plurality of electronic components (semiconductor elements) formed thereon.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子に突出電極であるバンプを形
成する工程においては、導電性ボールなどのバンプ形成
材料が半導体素子の電極に搭載される。近年半導体素子
が個片に切り出される前のウェハの状態で導電性ボール
を搭載する方法が用いられるようになっている。
2. Description of the Related Art In a process of forming bumps which are protruding electrodes on a semiconductor element, a bump forming material such as a conductive ball is mounted on an electrode of the semiconductor element. In recent years, a method of mounting conductive balls in a wafer state before a semiconductor element is cut into individual pieces has been used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、ウェハに直
接導電性ボールを搭載する場合、従来以下に述べるよう
な問題点があった。ウェハは円柱状素材から切り出され
るために円形状であり、このウェハから多数の半導体素
子が切り出される。個片の半導体素子の形状は一般に矩
形状であるため、ウェハの外周と半導体素子の切り出し
線とは一致しない。すなわちウェハ外周近傍では半導体
素子は階段状の切り出し線で切り出され、このため導電
性ボールの搭載時に複数個の半導体素子をまとまり良く
ブロック単位で括ることができない。
However, when the conductive balls are directly mounted on the wafer, there have conventionally been the following problems. The wafer has a circular shape because it is cut out from a cylindrical material, and a large number of semiconductor elements are cut out from this wafer. Since the shape of each individual semiconductor element is generally rectangular, the outer periphery of the wafer does not match the cutting line of the semiconductor element. That is, the semiconductor elements are cut out in a stepwise cutting line in the vicinity of the outer periphery of the wafer. Therefore, when mounting the conductive balls, it is not possible to collectively group a plurality of semiconductor elements into blocks.

【0004】この結果従来ウェハへ導電性ボールを直接
搭載する場合には、個片単位で搭載するかまたはウェハ
全体に対して一括して搭載するかのいずれかを選択する
しかなかった。しかしながら全体を一括して搭載する方
法では、正常な搭載を確保する信頼性に難があり、また
個片単位で搭載する場合には多数回の搭載動作を必要と
するため搭載に長時間を要し生産効率が低いという問題
点があった。
As a result, conventionally, when the conductive balls were directly mounted on the wafer, it was only selectable to mount the conductive balls individually or collectively on the entire wafer. However, the method of mounting all the components at once has a difficulty in ensuring proper mounting, and when mounting in individual units, many mounting operations are required, so mounting requires a long time. However, there was a problem that the production efficiency was low.

【0005】そこで本発明は、複数の電子部品が形成さ
れた基板に効率よく導電性ボールを搭載できる導電性ボ
ールの搭載装置および搭載方法を提供することを目的と
する。
Therefore, an object of the present invention is to provide a conductive ball mounting apparatus and mounting method capable of efficiently mounting conductive balls on a substrate on which a plurality of electronic components are formed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の導電性ボ
ールの搭載装置は、導電性ボールの供給部から搭載ヘッ
ドによって導電性ボールをピックアップし、複数の電子
部品が形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載装
置であって、前記搭載ヘッドに個別に昇降可能な異った
種類の複数のピックアップツールを備えた。
According to another aspect of the present invention, there is provided a conductive ball mounting apparatus, wherein a conductive head is picked up from a conductive ball supply section by a mounting head and mounted on a substrate having a plurality of electronic components formed thereon. It is a conductive ball mounting device that can be moved up and down individually to the mounting head .
Equipped with multiple pick-up tools of different types .

【0007】請求項2記載の導電性ボールの搭載装置
は、請求項1記載の導電性ボールの搭載装置であって、
前記複数のピックアップツールは、半導体素子1個に搭
載する導電性ボールをピックアップするピックアップツ
ールと、所定個数の半導体素子への搭載分の導電性ボー
ルをピックアップするピックアップツールとを含む
A conductive ball mounting apparatus according to a second aspect is the conductive ball mounting apparatus according to the first aspect,
The plurality of pickup tools are mounted on one semiconductor device.
Pickup tool to pick up the conductive balls to be placed
And a pickup tool for picking up the conductive balls mounted on a predetermined number of semiconductor elements.

【0008】請求項3記載の導電性ボールの搭載方法
は、請求項1記載の導電性ボールの搭載装置によって導
電性ボールをピックアップし複数の電子部品が形成され
た基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であって、前
記個別に昇降可能な異った種類の複数のピックアップツ
ールによって供給部の導電性ボールをピックアップし、
導電性ボールを前記基板に搭載する際にはそれぞれのピ
ックアップツールによって当該ピックアップツールに応
じた所定個数の電子部品に導電性ボールを個別に搭載す
るようにした。請求項4記載の導電性ボールの搭載方法
は、請求項2記載の導電性ボールの搭載装置によって導
電性ボールをピックアップし複数の電子部品が形成され
た基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であって、1
回の搭載動作で各半導体素子1個ごとに個別に導電性ボ
ールを搭載する動作と、1回の搭載動作で2個または4
個の半導体素子に導電性ボールを搭載する動作とを含
む。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for mounting a conductive ball, wherein the conductive ball mounting device according to the first aspect picks up the conductive ball and mounts it on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. Mounting method, before
Pick up conductive ball supply portion by Kiko separately liftable said was kind of a plurality of pick-up tool,
When the conductive balls are mounted on the substrate , the conductive balls are individually mounted on a predetermined number of electronic components corresponding to the pick-up tools by each pick-up tool. The method of mounting the conductive balls according to claim 4.
Is a conductive ball mounting device according to claim 2.
The electronic ball is picked up to form multiple electronic components.
A method of mounting conductive balls on a substrate
Each semiconductor element can be electrically
2 or 4 in one loading operation
Mounting the conductive balls on the individual semiconductor elements.
Mu.

【0009】本発明によれば、導電性ボールを搭載する
搭載ヘッドに、個別に昇降可能でそれぞれ所定個数の電
子部品への搭載分の導電性ボールをピックアップする
った種類の複数のピックアップツールを備えることによ
り、基板上の複数の電子部品に対して効率よく導電性ボ
ールを搭載することができる。
According to the present invention, the mounting head to mount the conductive balls, different to pick up the conductive ball mounting portion of the individually liftable electronic component of the respective predetermined number
By providing a plurality of different types of pickup tools, the conductive balls can be efficiently mounted on the plurality of electronic components on the substrate.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1は本発明の
実施の形態1の導電性ボールの搭載装置の斜視図、図2
は同導電性ボールの搭載装置の移載ヘッドの正面図、図
3(a),(b),(c)は同導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図、図4は同導電性ボール
が搭載されるウェハの平面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view of a conductive ball mounting apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
Is a front view of a transfer head of the same conductive ball mounting apparatus, FIGS. 3A, 3B and 3C are plan views of a pick-up tool of the same conductive ball mounting apparatus, and FIG. It is a top view of the wafer in which a ball is mounted.

【0011】まず図1を参照して導電性ボールの搭載装
置の構造を説明する。図1において、基台1の中央には
搬送路2が設けられている。搬送路2はウェハ4を保持
したプレート3を搬送し位置決めする。このウェハ4は
略円形状の基板であり、ウェハ4には複数の電子部品で
ある半導体素子が形成されている。基台1の上面の両端
部には2台のY軸テーブル5が配設されている。2台の
Y軸テーブル5にはX軸テーブル6が架設されており、
X軸テーブル6には搭載ヘッド7が装着されている。
First, the structure of the conductive ball mounting device will be described with reference to FIG. In FIG. 1, a transport path 2 is provided at the center of a base 1. The transport path 2 transports and positions the plate 3 holding the wafer 4. The wafer 4 is a substantially circular substrate, and a plurality of semiconductor elements, which are electronic components, are formed on the wafer 4. Two Y-axis tables 5 are arranged at both ends of the upper surface of the base 1. An X-axis table 6 is erected on the two Y-axis tables 5,
A mounting head 7 is mounted on the X-axis table 6.

【0012】搭載ヘッド7は3つのピックアップヘッド
8を備えている。X軸テーブル6およびY軸テーブル5
を駆動することにより搭載ヘッド7は水平移動する。搬
送路2の前方にはボール供給部9が配設されており、ボ
ール供給部9には導電性ボール10が多数貯溜されてい
る。搭載ヘッド7をボール供給部9の上方に位置させて
ピックアップヘッド8を上下動させることにより、ピッ
クアップヘッド8は導電性ボール10をピックアップす
る。そして搭載ヘッド7を位置決めされたウェハ4上に
位置させてピックアップヘッド8を再度上下動させるこ
とにより、ピックアップヘッド8に保持された導電性ボ
ール10をウェハ4上に搭載する。
The mounting head 7 has three pickup heads 8. X-axis table 6 and Y-axis table 5
The mounting head 7 moves horizontally by driving. A ball supply unit 9 is arranged in front of the transport path 2, and a large number of conductive balls 10 are stored in the ball supply unit 9. The pickup head 8 picks up the conductive ball 10 by moving the pickup head 8 up and down with the mounting head 7 positioned above the ball supply unit 9. Then, the mounting head 7 is positioned on the positioned wafer 4 and the pickup head 8 is moved up and down again to mount the conductive balls 10 held by the pickup head 8 on the wafer 4.

【0013】次に図2、図3を参照して搭載ヘッド7に
ついて説明する。図2において、搭載ヘッド7はX軸テ
ーブル6に装着されて水平移動するプレート部材7aに
3つのピックアップヘッド8を配設して構成されてい
る。3つのピックアップヘッド8はそれぞれZ軸モータ
11aを備えたZ軸テーブル11に装着されている。ピ
ックアップヘッド8の下端部には3つの異った種類のピ
ックアップツール12A,12B,12Cが装着されて
いる。したがって、ピックアップツール12A,12
B,12Cは個別に昇降可能となっている。
Next, the mounting head 7 will be described with reference to FIGS. In FIG. 2, the mounting head 7 is configured by disposing three pickup heads 8 on a plate member 7a that is mounted on the X-axis table 6 and moves horizontally. Each of the three pickup heads 8 is mounted on a Z-axis table 11 equipped with a Z-axis motor 11a. Three different types of pickup tools 12A, 12B and 12C are mounted on the lower end of the pickup head 8. Therefore, the pickup tools 12A, 12
B and 12C can be raised and lowered individually.

【0014】ピックアップツール12A,12B,12
Cの下面には、図3(a),(b),(c)にそれぞれ
示すように、導電性ボールを真空吸着する吸着孔13が
設けられている。ピックアップツール12Aの吸着孔1
3はウェハ4に形成された半導体素子1個に搭載される
導電性ボールの配列パターンに対応して配列されてい
る。またピックアップツール12B,12Cはそれぞれ
ピックアップツール12Aを2個または4個結合した吸
着孔13の配列を有しており、ウェハ4上の2個の半導
体素子または4個の半導体素子に対して同時に導電性ボ
ール10を搭載できるようになっている。すなわち、各
ピックアップツールは所定個数の半導体素子への搭載分
の導電性ボールをピックアップする。なお、ピックアッ
プツールとして、真空吸着によって導電性ボールを吸着
する替りに、静電吸着によって吸着するものであっても
よい。
Pickup tools 12A, 12B, 12
On the lower surface of C, as shown in FIGS. 3A, 3B, and 3C, suction holes 13 for vacuum-sucking the conductive balls are provided. Pickup tool 12A suction hole 1
3 are arranged corresponding to the arrangement pattern of the conductive balls mounted on one semiconductor element formed on the wafer 4. The pick-up tools 12B and 12C each have an array of suction holes 13 in which two or four pick-up tools 12A are coupled to each other, so that two semiconductor elements or four semiconductor elements on the wafer 4 are simultaneously conductive. The sex ball 10 can be mounted. That is, each pickup tool picks up the conductive balls mounted on a predetermined number of semiconductor elements. The pick-up tool may be one that picks up conductive balls by vacuum suction instead of picking up conductive balls by vacuum suction.

【0015】この導電性ボールの搭載装置は上記のよう
に構成されており、以下ウェハ4への導電性ボール10
の搭載について説明する。図4はウェハ4に形成された
半導体素子14の配置を示している。図4において半導
体素子14上の区画15A,15Bおよび15Cは、そ
れぞれピックアップツール12A,12Bおよび12C
によって導電性ボール10が搭載される対象となる半導
体素子14の区分を示している。すなわち区画15Aに
ついては1回の搭載動作で各半導体素子1個ごとに個別
に導電性ボールが搭載され、また区画15B,15Cに
対しては1回の搭載動作でそれぞれ各半導体素子2個ま
たは4個を対象として導電性ボール10が搭載される。
図4に示す例では、1つのウェハ4についての区画15
A,15Bおよび15Cの数はそれぞれ8個,8個およ
び7個となっている。
The device for mounting the conductive balls is constructed as described above, and hereinafter, the conductive balls 10 on the wafer 4 will be described.
The mounting of will be described. FIG. 4 shows the arrangement of the semiconductor elements 14 formed on the wafer 4. In FIG. 4, the sections 15A, 15B and 15C on the semiconductor element 14 are respectively the pickup tools 12A, 12B and 12C.
Indicates a section of the semiconductor element 14 on which the conductive balls 10 are mounted. That is, the conductive balls are individually mounted on each of the semiconductor elements in the partition 15A by one mounting operation, and each of the semiconductor elements in the partitions 15B and 15C is mounted by one mounting operation. The conductive balls 10 are mounted on individual objects.
In the example shown in FIG. 4, the partition 15 for one wafer 4
The numbers of A, 15B and 15C are 8, 8 and 7, respectively.

【0016】実際の搭載動作においては、まず図1に示
すボール供給部9上に搭載ヘッド7を位置させ、3つの
ピックアップヘッド8をボール供給部9に対して下降さ
せる。そしてピックアップツール12A,12B,12
Cにそれぞれ導電性ボール10を吸着させる。この後、
各ピックアップヘッド8を上昇させて搭載ヘッド7を搬
送路2のウェハ4上に移動させる。そしてそこでピック
アップヘッド8を順次ウェハ4に対して下降させ、吸着
状態を解除することにより導電性ボール10を各半導体
素子14上に搭載する。
In the actual mounting operation, first, the mounting head 7 is positioned on the ball supply unit 9 shown in FIG. 1, and the three pickup heads 8 are lowered with respect to the ball supply unit 9. And pick-up tools 12A, 12B, 12
The conductive balls 10 are adsorbed on C, respectively. After this,
The pickup heads 8 are raised to move the mounting head 7 onto the wafer 4 in the transfer path 2. Then, the pickup head 8 is sequentially lowered with respect to the wafer 4 to release the suction state, so that the conductive ball 10 is mounted on each semiconductor element 14.

【0017】このとき、搭載ヘッド7がボール供給部9
とウェハ4の間を移動する1往復動作において、各ピッ
クアップツール12A,12Bおよび12Cに同時に導
電性ボール10を吸着させてウェハ4に搭載することが
できることから、区画15A,15Bおよび15Cの個
数のうちの最大個数に対応した回数だけ搭載ヘッド7を
往復させればよい。すなわち図4に示す例では、搭載ヘ
ッド7に往復動作を8回行わせることにより、ウェハ4
の各半導体素子14の全てに導電性ボール10を搭載す
ることができる。したがって、従来の半導体素子の個片
単位で搭載する方法によれば本実施の形態に示す例では
半導体素子14の総数に等しい52回もの多数回の往復
動作を必要とするのと比較して、搭載作業効率を格段に
向上させることができる。
At this time, the mounting head 7 is mounted on the ball supply unit 9
In one reciprocating motion of moving between the wafer 4 and the wafer 4, since the conductive balls 10 can be simultaneously adsorbed to the pickup tools 12A, 12B and 12C and mounted on the wafer 4, the number of the partitions 15A, 15B and 15C can be reduced. The mounting head 7 may be reciprocated the number of times corresponding to the maximum number. That is, in the example shown in FIG. 4, the wafer 4 is moved by causing the mounting head 7 to reciprocate eight times.
The conductive balls 10 can be mounted on all of the semiconductor elements 14. Therefore, according to the conventional method of mounting individual semiconductor elements in units, in comparison with the example shown in the present embodiment, which requires a large number of reciprocating operations of 52 times, which is equal to the total number of semiconductor elements 14, The mounting work efficiency can be remarkably improved.

【0018】(実施の形態2)図5(a)は本発明の実
施の形態2のピックアップヘッドの正面図、図5(b)
は同ピックアップヘッド下面の平面図である。図5
(a)において、ピックアップヘッド20はZ軸モータ
21aを備えたZ軸テーブル21に装着されている。Z
軸テーブル21は実施の形態1における搭載ヘッド7に
単独または複数で配設される。ピックアップヘッド20
は、ガイド部22によって上下方向にガイドされる複数
(本実施の形態においては4個)のピックアップツール
24を備えており、図5(b)に示すように各ピックア
ップツール24の下面には実施の形態1におけるピック
アップツール12Aと同様の吸着孔13が設けられてい
る。各ピックアップツール24はそれぞれ個別の上下動
機構23と結合されており、したがって各ピックアップ
ツール24は個別に昇降可能となっている。
(Second Embodiment) FIG. 5 (a) is a front view of a pickup head according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 (b).
FIG. 4 is a plan view of the lower surface of the pickup head. Figure 5
In (a), the pickup head 20 is mounted on a Z-axis table 21 having a Z-axis motor 21a. Z
The shaft table 21 is arranged alone or in plural in the mounting head 7 in the first embodiment. Pickup head 20
Is provided with a plurality of (four in the present embodiment) pickup tools 24 that are vertically guided by the guide portion 22, and as shown in FIG. The same suction hole 13 as that of the pickup tool 12A in the first embodiment is provided. Each pickup tool 24 is connected to an individual vertical movement mechanism 23, so that each pickup tool 24 can be raised and lowered individually.

【0019】上記構成のようなピックアップヘッド20
を備えることにより、ウェハ4への導電性ボール10の
搭載において、実施の形態1に示すウェハ4上の各区画
15A,15Bおよび15Cのいずれについても同一の
ピックアップヘッド20によって搭載を行うことがで
き、より効率的な導電性ボール10の搭載を行うことが
可能となる。なお、本実施の形態1および2では、ウェ
ハに形成された半導体素子の電極に導電性ボールを搭載
する例を説明したが本発明はこれに限定されず、1枚に
複数の電子部品を作り込んだ基板に対して導電性ボール
を搭載する場合についても本発明を適用することができ
る。
Pickup head 20 having the above structure
By including the conductive balls 10 on the wafer 4, the same pickup head 20 can be mounted on each of the sections 15A, 15B and 15C on the wafer 4 described in the first embodiment. Therefore, it becomes possible to mount the conductive balls 10 more efficiently. In the first and second embodiments, the example in which the conductive balls are mounted on the electrodes of the semiconductor element formed on the wafer has been described, but the present invention is not limited to this, and a plurality of electronic components are manufactured on one sheet. The present invention can be applied to the case where the conductive balls are mounted on the embedded substrate.

【0020】[0020]

【発明の効果】本発明によれば、導電性ボールを搭載す
る搭載ヘッドにそれぞれ所定個数の半導体素子分の導電
性ボールをピックアップし、個別に昇降可能な異った種
類の複数のピックアップツールを備えるようにしたの
で、1枚の基板に作り込まれた複数の電子部品に対して
効率よく導電性ボールを搭載することができる。
According to the present invention, each of the mounting head to mount the conductive balls picked up semiconductor element content of the conductive ball of a predetermined number were Tsu different elevatable independently species
Since a plurality of kinds of pickup tools are provided, it is possible to efficiently mount the conductive balls on a plurality of electronic components built in one substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装
置の斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a conductive ball mounting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装
置の移載ヘッドの正面図
FIG. 2 is a front view of a transfer head of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図3】(a)本発明の実施の形態1の導電性ボールの
搭載装置のピックアップツールの平面図 (b)本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図 (c)本発明の実施の形態1の導電性ボールの搭載装置
のピックアップツールの平面図
3A is a plan view of a pick-up tool of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3B is a plan view of a pick-up tool of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention. (C) A plan view of a pickup tool of the conductive ball mounting apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態1の導電性ボールが搭載さ
れるウェハの平面図
FIG. 4 is a plan view of a wafer on which the conductive balls according to the first embodiment of the present invention are mounted.

【図5】(a)本発明の実施の形態2のピックアップヘ
ッドの正面図 (b)本発明の実施の形態2のピックアップヘッド下面
の平面図
5A is a front view of a pickup head according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5B is a plan view of a lower surface of a pickup head according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 ウェハ 7 搭載ヘッド 8 ピックアップヘッド 9 供給部 10 導電性ボール 12A、12B、12C ピックアップツール 13 吸着孔 14 半導体素子 4 wafers 7 mounted head 8 pickup heads 9 Supply department 10 conductive balls 12A, 12B, 12C Pickup tool 13 Adsorption hole 14 Semiconductor element

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】導電性ボールの供給部から搭載ヘッドによ
って導電性ボールをピックアップし、複数の電子部品が
形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載装置であ
って、前記搭載ヘッドに個別に昇降可能な異った種類の
複数のピックアップツールを備えたことを特徴とする導
電性ボールの搭載装置。
1. A conductive ball mounting device for picking up a conductive ball from a conductive ball supply section by a mounting head and mounting the conductive ball on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. An electro-conductive ball mounting device comprising a plurality of different types of pick-up tools that can be raised and lowered.
【請求項2】前記複数のピックアップツールは、半導体
素子1個に搭載する導電性ボールをピックアップするピ
ックアップツールと、所定個数の半導体素子への搭載分
の導電性ボールをピックアップするピックアップツール
とを含むことを特徴とする請求項1記載の導電性ボール
の搭載装置。
2. The plurality of pickup tools are semiconductors.
Pick up a conductive ball mounted on one device.
Click-up tool and the pickup tool for picking up a conductive ball mounting portion of the semiconductor element of a predetermined number
2. The conductive ball mounting device according to claim 1 , further comprising:
【請求項3】請求項1記載の導電性ボールの搭載装置
よって導電性ボールをピックアップし複数の電子部品が
形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であ
って、前記個別に昇降可能な異った種類の複数のピック
アップツールによって供給部の導電性ボールをピックア
ップし、導電性ボールを前記基板に搭載する際にはそれ
ぞれのピックアップツールによって当該ピックアップツ
ールに応じた所定個数の電子部品に導電性ボールを個別
に搭載することを特徴とする導電性ボールの搭載方法。
3. A method of mounting a conductive ball according to claim 1, wherein the conductive ball is picked up and mounted on a substrate on which a plurality of electronic components are formed. pick up conductive ball supply portion by the front Kiko separate types of a plurality of pick-up tool Tsu different possible elevation, corresponding to the pickup tool by the conductive balls when mounting on the substrate, each of the pick-up tool A method of mounting conductive balls, characterized in that conductive balls are individually mounted on a predetermined number of electronic components.
【請求項4】請求項2記載の導電性ボールの搭載装置に4. A device for mounting a conductive ball according to claim 2.
よって導電性ボールをピックアップし複数の電子部品がTherefore, the conductive ball is picked up and multiple electronic parts are
形成された基板に搭載する導電性ボールの搭載方法であIt is a method of mounting conductive balls to be mounted on the formed substrate.
って、1回の搭載動作で各半導体素子1個ごとに個別にTherefore, each semiconductor element can be individually mounted by one mounting operation.
導電性ボールを搭載する動作と、1回の搭載動作で2個Two operations for mounting conductive balls and one mounting operation
または4個の半導体素子に導電性ボールを搭載する動作Or operation of mounting conductive balls on four semiconductor elements
とを含むことを特徴とする導電性ボールの搭載方法。A method of mounting a conductive ball, comprising:
JP02825199A 1999-02-05 1999-02-05 Apparatus and method for mounting conductive ball Expired - Fee Related JP3514151B2 (en)

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