JP2000214098A - Method and apparatus for visual inspection to substrate - Google Patents

Method and apparatus for visual inspection to substrate

Info

Publication number
JP2000214098A
JP2000214098A JP11012088A JP1208899A JP2000214098A JP 2000214098 A JP2000214098 A JP 2000214098A JP 11012088 A JP11012088 A JP 11012088A JP 1208899 A JP1208899 A JP 1208899A JP 2000214098 A JP2000214098 A JP 2000214098A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
section
imaging section
photographing
inspection
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11012088A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masami Ukai
雅巳 鵜飼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP11012088A priority Critical patent/JP2000214098A/en
Publication of JP2000214098A publication Critical patent/JP2000214098A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To automatically set an optimum pickup condition for visual inspection to substrates by dividing into matrix the whole of a substrate by a pickup section as a range which can be picked up by an image pickup means, and sequentially correcting coordinates of the pickup sections. SOLUTION: Visual inspection to substrates in a printed wiring board- mounting line or the like is first executed by dividing in matrix the whole of the printed wiring board by a pickup section of a camera or the like. Then the pickup section is divided to, for instance, A-D areas. Coordinates of the pickup section for each area are sequentially corrected. For instance, if an electronic part 2a as an inspection point is partly included in the area A, the entirety is accommodated in the pickup section and the inspection point is positioned to the center, or the like process is carried out. A new pickup section is added when an electronic part which is not included in any pickup section appears during the correction. The pickup section to which no electronic part is allotted is deleted. After the above process is repeated, a pickup order for the pickup sections is optimized by a predetermined method.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板の外観を検査
する方法及び装置に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting the appearance of a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント配線板に電子部品を装着し、半
田等で回路接続を行う実装ラインにおいては、クリーム
半田の印刷状態(例えば半田過多、半田少、スクリーン
の目詰まり等)や電子部品の実装状態(例えば未半田、
半田過多、半田少、欠品、ズレ、ブリッジ等)を検査す
る基板外観検査装置が配置されている。この基板外観検
査装置は、プリント配線板における検査個所に対し上方
向と横方向からライトで光照射してカメラで撮影し、そ
れらの2枚の画像を比較して上記状態の良否の判定を行
うようになっている。
2. Description of the Related Art In a mounting line in which electronic components are mounted on a printed wiring board and circuit connection is performed by soldering or the like, the printed state of cream solder (for example, excessive soldering, insufficient soldering, clogging of a screen, etc.), and electronic component Mounting state (for example, unsoldered,
A board appearance inspection device for inspecting an excessive amount of solder, an insufficient amount of solder, a missing item, a deviation, a bridge, etc.) is arranged. This board appearance inspection apparatus irradiates light from above and laterally with a light to an inspection place on a printed wiring board, takes a picture with a camera, and compares these two images to judge the quality of the above state. It has become.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の基板外
観検査装置においては、カメラによる各電子部品の撮影
時に、オペレータ自身が手動でカメラを移動させて撮影
場所を決める必要があった。つまり、プリント配線板の
検査データの入力前に、オペレータ自身が手動で撮影の
ためのカメラ割り、即ちプリント配線板上の検査個所を
カメラで確認しながら設定する処理(以下、割り付けと
いう)を行わなければならなかった。さらに、この割り
付けは、サーボ動作が最も少なくなるように設定する必
要があった。
In the above-described conventional board appearance inspection apparatus, when each electronic component is photographed by the camera, it is necessary for the operator to manually move the camera to determine the photographing place. That is, before inputting the inspection data of the printed wiring board, the operator manually performs a camera split for photographing, that is, a process of setting while checking the inspection location on the printed wiring board with the camera (hereinafter, referred to as allocation). I had to. Further, this allocation has to be set so that the servo operation is minimized.

【0004】本発明は、上述した事情から成されたもの
であり、基板の外観の最適な撮影条件を自動的に設定す
ることができる基板外観検査方法及び装置を提供するこ
とを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a method and an apparatus for inspecting the appearance of a board, which can automatically set the optimal photographing conditions for the appearance of the board.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、基板の外観を撮像手段で撮影して検査する方法
において、前記基板全体を前記撮像手段の撮影可能範囲
である撮影区画でマトリックス状に分割し、前記各撮影
区画を複数のエリアにそれぞれ分割し、前記各撮影区画
について、前記各エリアに対する前記撮影区画の座標を
順次補正し、前記各エリアに対する前記撮影区画の座標
の補正の処理中に、何れの前記撮影区画にも含まれない
検査個所が出現した場合には、その検査個所を収める新
たな撮影区画を追加し、前記各撮影区画のセンター座標
を順次補正し、前記各撮影区画のセンター座標の補正の
処理中に、他の前記撮影区画に含まれる検査個所が出現
した場合には、その検査個所を前記他の撮影区画に変更
し、前記撮影区画内に検査個所が無い場合には、その撮
影区画を削除し、前記各撮影区画の撮影順序を最適化す
ることにより達成される。
According to the present invention, there is provided a method of inspecting the appearance of a substrate by photographing the appearance of the substrate with an image pickup means. The matrix is divided in a matrix, and each of the photographing sections is divided into a plurality of areas. For each of the photographing sections, the coordinates of the photographing section for each of the areas are sequentially corrected, and the coordinates of the photographing section for each of the areas are corrected. During the correction process, if an inspection location that is not included in any of the imaging sections appears, a new imaging section containing the inspection location is added, and the center coordinates of each imaging section are sequentially corrected, During the process of correcting the center coordinates of each imaging section, when an inspection location included in another imaging section appears, the inspection location is changed to the other imaging section, and the imaging section is changed. If test points are not in, remove the imaging section, it is achieved by optimizing the imaging order of the respective imaging sections.

【0006】上記構成によれば、検査個所が撮影区画の
中心に位置するように、その撮影区画の位置を自動補正
し、あるいは新たな撮影区画を追加・変更することがで
きるので、検査個所の撮影品質を高めて検査精度を向上
させることができる。さらに、検査個所が無い撮影区画
を削除することができるので、撮影区画数を最適化させ
て検査時間を短縮させることができる。
According to the above configuration, the position of the imaging section can be automatically corrected or a new imaging section can be added or changed so that the inspection section is located at the center of the imaging section. Inspection accuracy can be improved by improving imaging quality. Furthermore, since the imaging section having no inspection location can be deleted, the number of imaging sections can be optimized and the inspection time can be reduced.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention,
Although various technically preferable limits are given, the scope of the present invention is not limited to these modes unless otherwise specified in the following description.

【0008】図1は、本発明の基板外観検査装置の実施
形態を示す概略斜視図である。この基板外観検査装置1
00の本体101の上部には、プリント配線板(基板)
を搬送するためのコンベア102、このコンベア102
により搬送されてくるプリント配線板を載置する検査テ
ーブル(載置手段)103及びこの検査テーブル103
を移動させる移動機構(移動手段)104が配設されて
いる。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an embodiment of a board appearance inspection apparatus according to the present invention. This board appearance inspection device 1
The printed wiring board (substrate)
Conveyor 102 for conveying the
Table (mounting means) 103 on which the printed wiring board conveyed by the apparatus is mounted, and this inspection table 103
A moving mechanism (moving means) 104 for moving the moving object is provided.

【0009】コンベア102は、本体101を横切るよ
うに配置されて実装ラインを形成する2本のレール等で
構成されており、プリント配線板の両端を支持して移送
するようになっている。検査テーブル103は、図示し
ていないが、エアーシリンダにより動作するクランプ機
構により、載置されたプリント配線板を挟み込んで固定
するようになっている。移動機構104は、例えばボー
ルネジ・ナットやモータ等で構成されており、それらの
回転・直線駆動により検査テーブル103をX方向に移
動するようになっている。
The conveyor 102 is composed of two rails or the like which are arranged so as to cross the main body 101 to form a mounting line, and support and transfer both ends of the printed wiring board. Although not shown, the inspection table 103 is configured to sandwich and fix the mounted printed wiring board by a clamp mechanism operated by an air cylinder. The moving mechanism 104 is composed of, for example, a ball screw / nut, a motor, and the like, and moves the inspection table 103 in the X direction by rotating / linearly driving them.

【0010】本体101の上方には、検査テーブル10
3上のプリント配線板の外観を撮影して表示するカメラ
(撮像手段)106とモニタ107、このカメラ106
を移動させる移動機構(移動手段)108及び各部を操
作するための操作ユニット109が配設され、さらに本
体101の内部には、操作ユニット109に接続された
制御ユニット110が配設されている。
An inspection table 10 is provided above the main body 101.
A camera (imaging means) 106 for photographing and displaying the external appearance of the printed wiring board on the monitor 3; a monitor 107;
A moving mechanism (moving means) 108 for moving the unit and an operation unit 109 for operating each unit are provided, and a control unit 110 connected to the operation unit 109 is provided inside the main body 101.

【0011】カメラ106は、例えばCCD(固体撮像
素子)等を備えており、プリント配線板1の上面を撮影
するようになっている。移動機構108は、例えばボー
ルネジ・ナットやモータ等で構成されており、それらの
回転・直線駆動によりカメラ106をY方向に移動する
ようになっている。操作ユニット109は、例えばタッ
チパネルとモニタ等で構成されており、基板外観検査装
置100の制御用の動作プログラムやデータ等を入力・
表示するようになっている。制御ユニット110は、例
えばCPUやメモリ等を備えており、操作ユニット10
9から入力された動作プログラム等を実行して基板外観
検査装置100を制御するようになっている。
The camera 106 includes, for example, a CCD (solid-state image sensor) and the like, and shoots the upper surface of the printed wiring board 1. The moving mechanism 108 includes, for example, a ball screw / nut, a motor, and the like, and is configured to move the camera 106 in the Y direction by rotating / linearly driving them. The operation unit 109 is composed of, for example, a touch panel and a monitor, and is used to input operation programs and data for controlling the board appearance inspection apparatus 100.
It is displayed. The control unit 110 includes, for example, a CPU, a memory, and the like.
9 to control the board appearance inspection apparatus 100 by executing an operation program and the like input from the CPU 9.

【0012】このような構成において、その動作例を図
2のフローチャート及び図3〜図12の電子部品が搭載
された基板の具体例を参照して説明する。図3に示す電
子部品2が搭載されたプリント配線板1が、コンベア1
02の基板搬入口から搬入されて検査位置に位置決めさ
れ、検査テーブル103上にクランプ固定されて、以下
の割り付け等が開始される。
In such a configuration, an example of the operation will be described with reference to the flowchart of FIG. 2 and a specific example of a substrate on which electronic components are mounted as shown in FIGS. The printed wiring board 1 on which the electronic components 2 shown in FIG.
No. 02 is carried in from the substrate entrance, is positioned at the inspection position, is clamped and fixed on the inspection table 103, and the following allocation and the like are started.

【0013】先ず、プリント配線板1全体をカメラ10
6の撮影可能範囲である撮影区画で図3の点線で示すマ
トリックス状に分割する。ここで、プリント配線板1に
おける各撮影区画を特定するために、プリント配線板1
の長手方向及び短手方向にそれぞれa〜g及びp〜sの
符号を付け、例えば図面上で左下の角部に位置する撮影
区画をa−pと表すことにする(ステップS1)。そし
て、各撮影区画を複数のエリア、例えば図2(a)に示
すように、A〜Dの4つのエリアにそれぞれ分割する
(ステップS2)。
First, the entire printed wiring board 1 is
The image is divided into a matrix shown by a dotted line in FIG. Here, in order to identify each photographing section on the printed wiring board 1, the printed wiring board 1
In the longitudinal direction and the lateral direction, symbols a to g and p to s are assigned, respectively, and for example, an imaging section located at a lower left corner in the drawing is represented by ap (step S1). Then, each photographing section is divided into a plurality of areas, for example, four areas A to D as shown in FIG. 2A (step S2).

【0014】次に、サーボ原点に近い撮影区画から順
に、各エリアA〜Dに対する撮影区画の座標をエリアA
〜Dの順に補正する。例えば図2(b)に示すように、
エリアAに検査個所である電子部品2aの一部分が含ま
れている場合、その電子部品2a全体が対応する撮影区
画内に収まるようにその撮影区画の座標を変更する。但
し、この例のように複数の電子部品2a及び2bがエリ
アAにまたがって配置されていた場合には、Y軸の上ま
たは下のサーボ原点に近いもの、即ち電子部品2aを優
先して撮影区画の座標を補正する。そして、その撮影区
画に対して一旦割り付けられた電子部品2aは、補正処
理の途中でその撮影区画の外へ出ることはないものとす
る。
Next, the coordinates of the photographing section for each of the areas A to D are determined in the order of the area A in order from the photographing section near the servo origin.
The correction is made in the order of D. For example, as shown in FIG.
When the area A includes a part of the electronic component 2a that is the inspection location, the coordinates of the imaging section are changed so that the entire electronic component 2a fits in the corresponding imaging section. However, when a plurality of electronic components 2a and 2b are arranged across the area A as in this example, the electronic component 2a is preferentially photographed at a position closer to the servo origin above or below the Y axis. Correct the parcel coordinates. It is assumed that the electronic component 2a once allocated to the imaging section does not go out of the imaging section during the correction process.

【0015】以上のエリアAに対する撮影区画の座標の
補正をプリント配線板1に施すと、図4に示すように、
プリント配線板1の各撮影区画のうち、実線で示す撮影
区画は移動せず、一点鎖線で示す撮影区画が移動するこ
とになる。そして、この撮影区画の移動に伴って、黒塗
りの電子部品2が撮影区画からはみ出すことになる(ス
テップS3)。
When the above-described correction of the coordinates of the shooting section with respect to the area A is performed on the printed wiring board 1, as shown in FIG.
Of the imaging sections of the printed wiring board 1, the imaging section indicated by the solid line does not move, and the imaging section indicated by the dashed line moves. Then, with the movement of the photographing section, the black-painted electronic component 2 protrudes from the photographing section (step S3).

【0016】続いて、エリアBに対する撮影区画の座標
の補正をプリント配線板1に施すと、図5に示すよう
に、プリント配線板1の各撮影区画のうち、実線で示す
撮影区画は移動せず、一点鎖線で示す撮影区画b−q、
d−q、c−r、d−r、a−s、d−sが移動するこ
とになる。そして、この撮影区画の移動に伴って、図4
に示した黒塗りの電子部品2の一部21〜27は上記撮
影区画内に収まることになるが、新たな黒塗りの電子部
品28が撮影区画d−rからはみ出すことになる(ステ
ップS4)。
Subsequently, when the coordinates of the photographing section with respect to the area B are corrected on the printed wiring board 1, as shown in FIG. 5, of the photographing sections of the printed wiring board 1, the photographing section indicated by a solid line is moved. , The shooting section bq indicated by a dashed line,
dq, cr, dr, as, and ds move. Then, with the movement of the shooting section, FIG.
Although the parts 21 to 27 of the black-painted electronic component 2 shown in (1) will fit in the above-mentioned photographing section, a new black-painted electronic component 28 will protrude from the photographing section dr (step S4). .

【0017】次に、各エリアA、Bに対する撮影区画の
座標の補正の処理中に、何れの撮影区画にも含まれない
電子部品2が出現した場合には、その電子部品2を中心
に収める新たな撮影区画を追加する。尚、この段階での
プリント配線板1では、何れの撮影区画にも含まれない
電子部品2は出現していないので、新たな撮影区画の追
加は行わない(ステップS5)。
Next, when an electronic component 2 not included in any of the imaging sections appears during the process of correcting the coordinates of the imaging section for each of the areas A and B, the electronic component 2 is centered. Add a new shooting section. Since no electronic component 2 not included in any of the photographing sections has appeared on the printed wiring board 1 at this stage, no new photographing section is added (step S5).

【0018】続いて、エリアCに対する撮影区画の座標
の補正をプリント配線板1に施すと、図6に示すよう
に、プリント配線板1の各撮影区画のうち、実線で示す
撮影区画は移動せず、一点鎖線で示す撮影区画b−rの
みが移動することになる。そして、この撮影区画の移動
に伴って、図5に示した黒塗りの電子部品2の1つ29
は上記撮影区画内に収まることになり、図5に示した黒
塗りの電子部品2の一部30、31、32は撮影区画か
ら依然はみ出している(ステップS6)。
Subsequently, when the coordinates of the photographing section with respect to the area C are corrected on the printed wiring board 1, as shown in FIG. 6, of the photographing sections of the printed wiring board 1, the photographing section indicated by a solid line is moved. Instead, only the imaging section br indicated by the dashed line moves. Then, one of the black electronic components 2 shown in FIG.
Is contained in the photographing section, and the parts 30, 31, and 32 of the black-painted electronic component 2 shown in FIG. 5 still protrude from the photographing section (step S6).

【0019】さらに、このエリアCに対する撮影区画の
座標の補正の処理中に、何れの撮影区画にも含まれない
電子部品(斜線の電子部品)33〜36が出現したの
で、電子部品33と34、35及び36を中心に収める
破線で示す新たな撮影区画b’−q’、d’−r’、
g’−q’を追加する(ステップS7)。
Further, during the process of correcting the coordinates of the photographing section with respect to the area C, electronic parts (hatched electronic parts) 33 to 36 which are not included in any of the photographing sections appear. , 35 ′ and 36 ′, new imaging sections b′-q ′, d′-r ′,
g′−q ′ is added (step S7).

【0020】続いて、エリアDに対する撮影区画の座標
の補正をプリント配線板1に施すが、このときは図7に
示すように、プリント配線板1の各撮影区画は、全く移
動しない(ステップS8)。そして、何れの撮影区画に
も含まれない電子部品(斜線の電子部品)30と31及
び32を中心に収める破線で示す新たな撮影区画b’’
−q’’、d’’−q’’を追加する(ステップS
9)。以上により、図8の実線で示すような撮影区画が
設定され、各電子部品2はそれを含む撮影区画に属する
データとして登録される。
Subsequently, the coordinates of the photographing section with respect to the area D are corrected on the printed wiring board 1. At this time, as shown in FIG. 7, each photographing section of the printed wiring board 1 does not move at all (step S8). ). Then, a new imaging section b ″ indicated by a broken line centering on the electronic components (hatched electronic components) 30, 31, and 32 not included in any of the imaging sections.
−q ″ and d ″ −q ″ are added (step S
9). As described above, the shooting section indicated by the solid line in FIG. 8 is set, and each electronic component 2 is registered as data belonging to the shooting section including the shooting section.

【0021】以上の撮影区画の座標の補正処理が終了し
た段階で、例えば図2(c)に示すように、撮影区画内
の電子部品2c、2dがその撮影区画の中心に位置する
ように、その撮影区画のセンター座標を補正する。この
センター座標の補正を行う理由は、カメラ106の画像
は縁がひずむため、撮影区画の端に電子部品2c、2d
が位置していると、誤認検査するおそれがあるからであ
る。
At the stage when the above-described coordinate correction of the photographing section is completed, for example, as shown in FIG. 2C, the electronic components 2c and 2d in the photographing section are positioned at the center of the photographing section. The center coordinates of the imaging section are corrected. The reason for performing the correction of the center coordinates is that the edge of the image of the camera 106 is distorted, so that the electronic components 2c and 2d
This is because there is a risk that a misrecognition test may be performed if is located.

【0022】そして、各撮影区画のセンター座標の補正
の処理中に、他の撮影区画に100%含まれる電子部品
2が出現した場合には、その電子部品2を上記他の撮影
区画に属するデータに変更する(ステップS10)。さ
らに、電子部品2が全く割り付けられていない撮影区画
が出現した場合には、その撮影区画を削除する(ステッ
プS11)。以上のステップS10及びステップS11
の処理は、センター座標の補正が必要無くなるまで繰り
返す。但し、無限ループになることを防止するため、例
えば最大10回の繰り返しを限度とする。
If, during the process of correcting the center coordinates of each photographing section, an electronic component 2 that is 100% included in another photographing section appears, the electronic component 2 is stored in the data belonging to the other photographing section. (Step S10). Further, when a shooting section to which no electronic component 2 is assigned appears, the shooting section is deleted (step S11). Steps S10 and S11 above
Is repeated until the center coordinates need not be corrected. However, in order to prevent an infinite loop, for example, a maximum of 10 repetitions is limited.

【0023】以上の撮影区画のセンター座標の補正、撮
影区画の変更及び撮影区画の削除をプリント配線板1に
例えば4回繰り返すと、各撮影区画は以下のようにな
る。即ち、第1回目では、図9に示すように、各撮影区
画は移動し、図8で存在していた撮影区画e−r、e−
sは削除される。第2回目では、図10に示すように、
一点鎖線で示す撮影区画は移動し、電子部品(斜線の電
子部品)37及び38は、図9に示す撮影区画b−p、
g−rに属するデータから図10に示す撮影区画a−
p、g−sに属するデータに変更される。第3回目で
は、図11に示すように、撮影区画a−p、b−p、g
−sは移動し、撮影区画c−pは削除される。第4回目
では、図12に示すように、撮影区画g−sが移動す
る。
When the correction of the center coordinates of the photographing section, the change of the photographing section and the deletion of the photographing section are repeated four times on the printed wiring board 1, for example, each photographing section becomes as follows. That is, in the first time, as shown in FIG. 9, each imaging section moves, and the imaging sections er, e-
s is deleted. In the second time, as shown in FIG.
The photographing section indicated by the dashed line is moved, and the electronic components (hatched electronic parts) 37 and 38 are the photographing sections bp shown in FIG.
From the data belonging to gr, the photographing section a- shown in FIG.
The data is changed to data belonging to p and g-s. In the third time, as shown in FIG. 11, the imaging sections ap, bp, and g
−s moves, and the imaging section cp is deleted. In the fourth time, the imaging section g-s moves as shown in FIG.

【0024】次に、検査直前にカメラ106のある方向
から例えば図2(d)に示すような順番で上または下に
向かって撮影区画が並ぶように、各撮影区画の撮影順序
を最適化する。ここで、例えば図2(e)に示すよう
に、撮影区画zの次の順番にする撮影区画の検索範囲
は、斜線部分にかかる撮影区画とする。即ち、撮影区画
zに対してX軸の近い撮影区画z1を次の順番とし、さ
らに次の順番とされた撮影区画z1に対してX軸の近い
撮影区画z2を次の順番とする。X軸方向に近い撮影区
画が無くなった場合は、次のY軸の基準となる撮影区画
を上または下に検索し、撮影区画z3を次の順番とする
(ステップS12)。
Next, immediately before the examination, the photographing order of each photographing section is optimized such that the photographing sections are arranged upward or downward in an order as shown in FIG. . Here, as shown in, for example, FIG. 2E, the search range of the imaging section to be set in the next order to the imaging section z is an imaging section related to a hatched portion. That is, the imaging section z1 whose X axis is closer to the imaging section z is set to the next order, and the imaging section z2 whose X axis is closer to the next imaging section z1 is set to the next order. If there are no more imaging sections close to the X-axis direction, the next imaging section serving as a reference for the Y-axis is searched upward or downward, and the imaging section z3 is set in the next order (step S12).

【0025】そして、各撮影区画における検査の終了
後、プリント配線板1は、コンベア102の基板搬出口
102cから次の工程へ搬出される。以上のような基板
外観検査によれば、最適な割り付け作業、特に撮影区画
及び撮影順序の最適化が人手を介さずに自動で行われる
ので、オペレータはプリント配線板の検査データの作成
作業に集中することができ、検査データの作成時間を短
縮させることができる。さらに、検査タクトを短縮させ
ることができる。
Then, after the inspection in each imaging section is completed, the printed wiring board 1 is carried out to the next process from the board outlet 102c of the conveyor 102. According to the above-described board appearance inspection, since the optimal layout work, particularly the optimization of the photographing section and the photographing order is automatically performed without human intervention, the operator concentrates on the work of creating the inspection data of the printed wiring board. And the time required to generate inspection data can be reduced. Further, the inspection tact can be shortened.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば、
基板の外観の最適な撮影条件を自動的に設定することが
でき、検査精度を向上させることができる。
As described above, according to the present invention,
Optimal photographing conditions for the appearance of the substrate can be automatically set, and the inspection accuracy can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の基板外観検査装置の実施形態を示す概
略斜視図。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an embodiment of a board appearance inspection apparatus of the present invention.

【図2】図1の基板外観検査装置の動作例を示すフロー
チャート。
FIG. 2 is a flowchart showing an operation example of the board appearance inspection apparatus of FIG. 1;

【図3】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第1の平面図。
FIG. 3 is a first plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図4】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第2の平面図。
FIG. 4 is a second plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図5】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第3の平面図。
FIG. 5 is a third plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図6】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第4の平面図。
FIG. 6 is a fourth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図7】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第5の平面図。
FIG. 7 is a fifth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図8】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第6の平面図。
FIG. 8 is a sixth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図9】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明す
るための基板の具体例を示す第7の平面図。
FIG. 9 is a seventh plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図10】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明
するための基板の具体例を示す第8の平面図。
FIG. 10 is an eighth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図11】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明
するための基板の具体例を示す第9の平面図。
FIG. 11 is a ninth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【図12】本発明の基板外観検査方法の実施形態を説明
するための基板の具体例を示す第10の平面図。
FIG. 12 is a tenth plan view showing a specific example of a substrate for describing an embodiment of the substrate appearance inspection method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・プリント配線板、2・・・電子部品、100・
・・基板外観検査装置、101・・・本体、102・・
・コンベア、103・・・検査テーブル、104・・・
移動機構、106・・・カメラ、107・・・モニタ、
108・・・移動機構、109・・・操作ユニット、1
10・・・制御ユニット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Printed wiring board, 2 ... Electronic component, 100
..Substrate appearance inspection apparatus, 101, main body, 102 ..
・ Conveyor, 103 ・ ・ ・ Inspection table, 104 ・ ・ ・
Moving mechanism, 106: camera, 107: monitor,
108: moving mechanism, 109: operation unit, 1
10 Control unit

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の外観を撮像手段で撮影して検査す
る方法において、 前記基板全体を前記撮像手段の撮影可能範囲である撮影
区画でマトリックス状に分割し、 前記各撮影区画を複数のエリアにそれぞれ分割し、 前記各撮影区画について、前記各エリアに対する前記撮
影区画の座標を順次補正し、 前記各エリアに対する前記撮影区画の座標の補正の処理
中に、何れの前記撮影区画にも含まれない検査個所が出
現した場合には、その検査個所を収める新たな撮影区画
を追加し、 前記各撮影区画のセンター座標を順次補正し、 前記各撮影区画のセンター座標の補正の処理中に、他の
前記撮影区画に含まれる検査個所が出現した場合には、
その検査個所を前記他の撮影区画に変更し、 前記撮影区画内に検査個所が無い場合には、その撮影区
画を削除し、 前記各撮影区画の撮影順序を最適化することを特徴とす
る基板外観検査方法。
1. A method of inspecting the appearance of a substrate by photographing the appearance of the substrate by an image pickup means, wherein the whole substrate is divided into a matrix by photographing sections which are photographable areas of the image pickup means, and each of the photographing sections is divided into a plurality of areas. In each of the photographing sections, the coordinates of the photographing section for each of the areas are sequentially corrected, and during the process of correcting the coordinates of the photographing section for each of the areas, the coordinates are included in any of the photographing sections. If there is no inspection location, a new imaging section for accommodating the inspection location is added, the center coordinates of each imaging section are sequentially corrected, and during the processing of correcting the center coordinates of each imaging section, other processing sections are added. If an inspection location included in the above imaging section appears,
A board, wherein the inspection location is changed to the other imaging section, and if there is no inspection location in the imaging section, the imaging section is deleted, and the imaging order of each imaging section is optimized. Appearance inspection method.
【請求項2】 前記各エリアに対する前記撮影区画の座
標の補正は、前記エリア内に一部分が含まれる検査個所
に対して、その検査個所全体がその撮影区画内に収まる
ように処理する請求項1に記載の基板外観検査方法。
2. The method according to claim 1, wherein the correction of the coordinates of the imaging section with respect to each of the areas is performed such that the entire inspection location falls within the imaging section for an inspection location that is partially included in the area. The board appearance inspection method according to 1.
【請求項3】 前記各撮影区画のセンター座標の補正
は、その撮影区画内の検査個所がその撮影区画の中心に
位置するように処理する請求項1に記載の基板外観検査
方法。
3. The board appearance inspection method according to claim 1, wherein the correction of the center coordinates of each imaging section is performed such that an inspection location in the imaging section is located at the center of the imaging section.
【請求項4】 基板の外観を撮像手段で撮影して検査す
る方法において、 前記基板全体を前記撮像手段の撮影可能範囲である撮影
区画でマトリックス状に分割し、 前記各撮影区画を複数のエリアにそれぞれ分割し、 前記各撮影区画について、前記各エリアに対する前記撮
影区画の座標を順次補正し、 前記各撮影区画のセンター座標を順次補正し、 前記各撮影区画の撮影順序を最適化することを特徴とす
る基板外観検査方法。
4. A method of inspecting the appearance of a substrate by photographing the appearance of the substrate with an image pickup means, wherein the whole substrate is divided into a matrix in a photographing section which is a photographable range of the image pickup means, and each photographing section is divided into a plurality of areas. Respectively, for each of the shooting sections, sequentially correcting the coordinates of the shooting section with respect to each of the areas, sequentially correcting the center coordinates of each of the shooting sections, and optimizing the shooting order of each of the shooting sections. Characteristic board appearance inspection method.
【請求項5】 前記各エリアに対する前記撮影区画の座
標の補正の処理中に、何れの前記撮影区画にも含まれな
い検査個所が出現した場合には、その検査個所を収める
新たな撮影区画を追加する請求項4に記載の基板外観検
査方法。
5. When an inspection location not included in any of the imaging sections appears during the process of correcting the coordinates of the imaging section for each of the areas, a new imaging section containing the inspection location is set. The board appearance inspection method according to claim 4, further comprising:
【請求項6】 前記各撮影区画のセンター座標の補正の
処理中に、他の前記撮影区画に含まれる検査個所が出現
した場合には、その検査個所を前記他の撮影区画に変更
する請求項4に記載の基板外観検査方法。
6. When an inspection location included in another imaging section appears during the processing of correcting the center coordinates of each imaging section, the inspection location is changed to the other imaging section. 5. The method for inspecting the appearance of a substrate according to item 4.
【請求項7】 前記撮影区画内に検査個所が無い場合に
は、その撮影区画を削除する請求項4に記載の基板外観
検査方法。
7. The board appearance inspection method according to claim 4, wherein when there is no inspection place in the imaging section, the imaging section is deleted.
【請求項8】 基板の外観を検査する装置であって、 前記基板を載置する載置手段と、 前記載置手段上の前記基板の外観を撮影する撮像手段
と、 前記載置手段と撮像手段とを相対移動させる移動手段
と、 前記各手段を制御して前記基板の外観を検査する制御手
段とを備え、 前記制御手段が、前記基板全体を前記撮像手段の撮影可
能範囲である撮影区画でマトリックス状に分割し、記各
撮影区画を複数のエリアにそれぞれ分割し、記各撮影区
画について、前記各エリアに対する前記撮影区画の座標
を順次補正し、前記各エリアに対する前記撮影区画の座
標の補正の処理中に、何れの前記撮影区画にも含まれな
い検査個所が出現した場合には、その検査個所を収める
新たな撮影区画を追加し、前記各撮影区画のセンター座
標を順次補正し、前記各撮影区画のセンター座標の補正
の処理中に、他の前記撮影区画に含まれる検査個所が出
現した場合には、その検査個所を前記他の撮影区画に変
更し、前記撮影区画内に検査個所が無い場合には、その
撮影区画を削除し、前記各撮影区画の撮影順序を最適化
することを特徴とする基板外観検査装置。
8. An apparatus for inspecting the appearance of a substrate, comprising: mounting means for mounting the substrate; imaging means for photographing the appearance of the substrate on the mounting means; Moving means for relatively moving the means, and control means for controlling each of the means and inspecting the appearance of the substrate, wherein the control means is an imaging section in which the entire substrate is a photographable range of the imaging means. In each of the photographing sections, the photographing section is divided into a plurality of areas, and for each photographing section, the coordinates of the photographing section with respect to each area are sequentially corrected, and the coordinates of the photographing section with respect to each area are calculated. During the correction process, if an inspection location that is not included in any of the imaging sections appears, a new imaging section containing the inspection location is added, and the center coordinates of each imaging section are sequentially corrected, Said During the process of correcting the center coordinates of the imaging section, when an inspection location included in another imaging section appears, the inspection location is changed to the other imaging section, and the inspection location is included in the imaging section. When there is no board, the board section inspection apparatus deletes the shooting section and optimizes the shooting order of each of the shooting sections.
【請求項9】 前記各エリアに対する前記撮影区画の座
標の補正は、前記エリア内に一部分が含まれる検査個所
に対して、その検査個所全体がその撮影区画内に収まる
ように処理する請求項8に記載の基板外観検査装置。
9. The correction of the coordinates of the imaging section with respect to each of the areas is performed such that the entire inspection area is included in the imaging section for an inspection area partially included in the area. The board appearance inspection device according to 1.
【請求項10】 前記各撮影区画のセンター座標の補正
は、その撮影区画内の検査個所がその撮影区画の中心に
位置するように処理する請求項8に記載の基板外観検査
装置。
10. The board appearance inspection apparatus according to claim 8, wherein the correction of the center coordinates of each imaging section is performed such that an inspection location in the imaging section is located at the center of the imaging section.
JP11012088A 1999-01-20 1999-01-20 Method and apparatus for visual inspection to substrate Pending JP2000214098A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11012088A JP2000214098A (en) 1999-01-20 1999-01-20 Method and apparatus for visual inspection to substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11012088A JP2000214098A (en) 1999-01-20 1999-01-20 Method and apparatus for visual inspection to substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000214098A true JP2000214098A (en) 2000-08-04

Family

ID=11795832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11012088A Pending JP2000214098A (en) 1999-01-20 1999-01-20 Method and apparatus for visual inspection to substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000214098A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006138782A (en) * 2004-11-15 2006-06-01 Nikon Corp Image measurement apparatus
WO2015026211A1 (en) * 2013-08-23 2015-02-26 주식회사 고영테크놀러지 Substrate inspection apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006138782A (en) * 2004-11-15 2006-06-01 Nikon Corp Image measurement apparatus
JP4513062B2 (en) * 2004-11-15 2010-07-28 株式会社ニコン Image measuring machine
WO2015026211A1 (en) * 2013-08-23 2015-02-26 주식회사 고영테크놀러지 Substrate inspection apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101001521B (en) Printing state detection method and device, printing equipment, installation processing method and installation system
JP4629584B2 (en) Mounting system and electronic component mounting method
JP2006214820A (en) Device and method for inspecting substrate
JPWO2016117016A1 (en) Inspection support device
KR960043055A (en) Pick-up device and pick-up method for semiconductor device
JP2007147354A (en) Inspection machine, inspection method and mounting line
JP4676886B2 (en) Mounting system, mounting machine, printing machine, and electronic component mounting method
JP4896855B2 (en) Component mounting system
JP2022068593A (en) Specification method of substrate support area and device
JP4664550B2 (en) Electric circuit manufacturing apparatus and electric circuit manufacturing method
JP2000214098A (en) Method and apparatus for visual inspection to substrate
JP2006078206A (en) Inspection method and inspection device of mounting substrate
JP6595646B2 (en) Component mounting line and board inspection equipment
JPH10320565A (en) Image processing method and device therefor
KR20000056739A (en) Inspecting apparatus for pcb and teaching method and library modifying method thereof
JP4502760B2 (en) Mounting board inspection data creation method, mounting board inspection method and apparatus
JP3947386B2 (en) Electronic component mounting method and control device for electronic component mounting apparatus
JPH07142530A (en) Method and means for teaching bonding coordinates
JP2000285235A (en) Method and device for picture processing
JPH03131985A (en) Device for inspecting mounted substrate
JP6571002B2 (en) Substrate inspection apparatus and substrate inspection method
JPH04250700A (en) Mounting method for electronic component
KR0135466B1 (en) Component Recognition Method of Electronic Component Mounter
JPH05315389A (en) Method and device for input of bonding coordinate data of wire bonding device
JPH06139335A (en) Method for correcting coordinate data of electronic parts mounting device

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20040617