JP4676886B2 - Mounting system, mounting machine, printing machine, and electronic component mounting method - Google Patents
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Description
この発明は、基板に電子部品を実装する実装システム、実装機、印刷機および電子部品の実装方法に関する。 The present invention relates to a mounting system for mounting electronic components on a substrate, a mounting machine, a printing machine, and a mounting method for electronic components.
電子部品が実装された基板の生産では、一般に、回路パターンが形成された基板に対して、印刷機によってクリーム半田が印刷・塗布され、実装機によって電子部品が搭載される。実装機における電子部品の搭載位置は、通常、基板に形成された回路パターンに応じて設定されている。 In the production of a substrate on which an electronic component is mounted, generally, cream solder is printed and applied to a substrate on which a circuit pattern is formed by a printing machine, and the electronic component is mounted by a mounting machine. The mounting position of the electronic component in the mounting machine is usually set according to the circuit pattern formed on the substrate.
ところが最近では、電子部品の微細化に伴って、極めて高い搭載位置精度が求められるようになっており、基板上の回路パターンと印刷されたハンダとの位置ずれ等に起因する接触不良等の実装不良が問題となる場合もある。 However, recently, with the miniaturization of electronic components, extremely high mounting position accuracy has been demanded, and mounting such as poor contact due to misalignment between the circuit pattern on the substrate and the printed solder is required. Defects can be a problem.
そこで、たとえば下記特許文献1では、印刷機によって印刷されたハンダの位置を各基板毎に測定し、下流側の実装機では測定されたハンダの位置に応じて電子部品を実装する手法が提案されている。
しかしながら、上記特許文献1に示す方法では、各基板毎に印刷されたハンダの位置の測定に時間を要するため、生産効率の点で改善の余地があった。 However, in the method shown in Patent Document 1, it takes time to measure the position of the solder printed for each substrate, so there is room for improvement in terms of production efficiency.
この発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、実装不良の低減を図りながら高い生産効率を得ることができる実装システム、実装機、印刷機および電子部品の実装方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a mounting system, a mounting machine, a printing machine, and an electronic component mounting method capable of obtaining high production efficiency while reducing mounting defects. To do.
本発明は下記の手段を提供する。 The present invention provides the following means.
[1]基板上に電子部品を実装する実装システムであって、
開口部が形成されたマスクを介して基板上にペーストを印刷する印刷機と、
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する開口部位置測定手段と、
測定された開口部の位置に基づいて基板上における電子部品の実装位置を設定する実装位置設定手段と、
設定された実装位置に電子部品を実装する実装機と、
前記開口部位置測定手段によって開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする実装システム。
[1] A mounting system for mounting electronic components on a substrate,
A printing machine for printing a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
An opening position measuring means for photographing the mask and measuring the position of the opening;
Mounting position setting means for setting the mounting position of the electronic component on the substrate based on the position of the measured opening;
A mounting machine for mounting electronic components at a set mounting position;
About the mask whose position of the opening is measured by the opening position measuring means, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
A mounting system characterized by comprising:
[2]前記開口部位置記憶手段は、各マスクに形成された複数の位置基準マーク間の距離について、距離の基準データと、第1の許容値とを記憶するように構成され、
使用するマスクを撮影してその複数の位置基準マーク間の距離を測定するマーク間距離測定手段と、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離を前記開口部位置記憶手段に記憶されている前記距離の基準データと比較し、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離の前記距離の基準データに対する変化が、第1の許容値を越える場合に印刷否と判断する印刷可否判断手段と、を備えた前項1に記載の実装システム。
[2] the opening position storage means, the distance between a plurality of position reference marks formed on the mask is configured to store the reference data of distance, and a first allowable value,
An inter-mark distance measuring unit that photographs a mask to be used and measures a distance between the plurality of position reference marks, and a distance measured by the inter-mark distance measuring unit is stored in the opening position storage unit. A print propriety judging means for judging that the print is rejected when a change of the distance measured by the inter-mark distance measuring means with respect to the reference data of the distance exceeds a first allowable value in comparison with the distance reference data; The mounting system according to the preceding item 1 provided.
[3]前記開口部位置記憶手段は、各マスクに形成された複数の位置基準マーク間の距離について、距離の基準データと、第2の許容値とを記憶するように構成され、
使用するマスクを撮影してその複数の位置基準マーク間の距離を測定するマーク間距離測定手段と、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離を前記開口部位置記憶手段に記憶されている前記距離の基準データと比較し、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離の前記距離の基準データに対する変化が、第2の許容値を越える場合に再度マスクを撮像させ、前記開口部位置測定手段と実装位置設定手段を機能させて、電子部品の実装位置を再設定するようにする実装位置再設定手段と、を備えた前項1または2に記載の実装システム。
[3] the opening position storage means, the distance between a plurality of position reference marks formed on the mask is configured to store the reference data of distance, and a second tolerance value,
An inter-mark distance measuring unit that photographs a mask to be used and measures a distance between the plurality of position reference marks, and a distance measured by the inter-mark distance measuring unit is stored in the opening position storage unit. When the change of the distance measured by the inter-mark distance measuring unit with respect to the reference data of the distance exceeds a second allowable value, the mask is imaged again, and the opening position measuring unit implementation system according to item 1 or 2 with the mounting position setting means is caused to function, the mounting position resetting means adapted to reset the mounting position of the electronic component, a.
[4]前記印刷機によってペーストが塗布された基板について、各基板を特定可能な情報と、各基板の印刷に使用したマスクを特定可能な情報とを関連付けて記憶する使用マスク記憶手段を備えた前項1〜3のいずれかに記載の実装システム。
[ 4 ] With use mask storage means for storing information that can specify each substrate and information that can specify the mask used to print each substrate in association with the substrate coated with paste by the printing machine. 4. The mounting system according to any one of items 1 to 3 .
[5]開口部が形成されたマスクを介してペーストが印刷された基板に電子部品を実装する実装機であって、
前記マスクを撮影して測定された開口部の位置情報に基づいて設定される基板上の実装位置に電子部品を実装する手段と、
開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする実装機。
[ 5 ] A mounting machine for mounting an electronic component on a substrate printed with a paste through a mask in which an opening is formed,
Means for mounting an electronic component at a mounting position on a substrate set based on position information of an opening measured by photographing the mask ;
About the mask whose position of the opening is measured, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
Mounter which comprising the.
[6]開口部が形成されたマスクを介して基板上にペーストを印刷する印刷手段と、
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する開口部位置測定手段と、
電子部品の実装位置の設定に供するために、測定された開口部の位置情報を送信する送信手段と、
前記開口部位置測定手段によって開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする印刷機。
[ 6 ] Printing means for printing a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
An opening position measuring means for photographing the mask and measuring the position of the opening;
In order to provide the setting of the mounting position of the electronic component, transmitting means for transmitting the position information of the measured opening,
About the mask whose position of the opening is measured by the opening position measuring means, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
A printing machine comprising:
[7]基板上に電子部品を実装する実装方法であって、
開口部が形成されたマスクを介して基板上にペーストを塗布する印刷ステップと、
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する測定ステップと、
測定された開口部の位置に基づいて基板上における電子部品の実装位置を設定する設定ステップと、
設定された実装位置に電子部品を実装する実装ステップと、
開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶するステップと、
を備えたことを特徴とする電子部品の実装方法。
[ 7 ] A mounting method for mounting an electronic component on a substrate,
A printing step of applying a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
A measurement step of photographing the mask and measuring the position of the opening;
A setting step for setting the mounting position of the electronic component on the substrate based on the position of the measured opening;
A mounting step for mounting an electronic component at a set mounting position;
For the mask in which the position of the opening is measured, storing information that can identify each mask and position information of the opening of each mask in association with each other;
An electronic component mounting method characterized by comprising:
上記発明[1]によると、マスクを撮影して測定された開口部の位置に基づいて電子部品の実装位置が設定されるため、基板上に印刷されるペースト上に電子部品を確実に搭載して実装不良の低減を図ることができる。また、基板上に実際に印刷されたペーストの位置を各基板毎に測定することもなく、高い生産効率を得ることができる。 According to the invention [1], since the mounting position of the electronic component is set based on the position of the opening measured by photographing the mask, the electronic component is securely mounted on the paste printed on the substrate. Thus, it is possible to reduce mounting defects. Further, high production efficiency can be obtained without measuring the position of the paste actually printed on the substrate for each substrate.
さらに上記発明[1]によると、一旦測定された開口部の位置情報が記憶されるため、この記憶された開口部の位置情報を用いることにより、一度測定が行われたマスクについては再度の測定を行うこともなく実装位置の設定を行うことができ、さらに高い生産効率を得ることができる。
Further , according to the invention [ 1 ], since the position information of the opening once measured is stored, by using the stored position information of the opening, the mask once measured is measured again. The mounting position can be set without performing the above, and higher production efficiency can be obtained.
上記発明[2]によると、マスクに伸びが発生し、その伸びが限界を超える場合に印刷を停止することができるので、無駄な印刷や、実装による不良基板の製造を防止することができる。
According to the above invention [ 2 ], since elongation occurs in the mask and printing can be stopped when the elongation exceeds the limit, it is possible to prevent useless printing and manufacture of defective substrates due to mounting.
上記発明[3]によると、マスクに伸びが発生しても、実装位置をその伸びに対応して修正することができるので、印刷されたペーストの位置と実装位置とのずれがなくなり、実装基板の実装品質を確保できる。
According to the above invention [ 3 ], even if elongation occurs in the mask, the mounting position can be corrected in accordance with the elongation, so there is no deviation between the position of the printed paste and the mounting position, and the mounting substrate. The mounting quality can be secured.
上記発明[4]によると、各基板の印刷に使用したマスクを把握することができるため、同種類の基板の印刷に使用するマスクを交換した場合等であっても、各基板の印刷に実際に使用されたマスクを特定し、各基板に印刷されたペーストの位置に基づいて実装位置を設定することができる。
According to the invention [ 4 ], since the mask used for printing each substrate can be grasped, even when the mask used for printing the same type of substrate is replaced, the printing of each substrate is actually performed. The mounting position can be set based on the position of the paste printed on each substrate.
上記発明[5]によると、マスクを撮影して測定された開口部の位置に基づいて電子部品の実装位置が設定されるため、基板上に印刷されるペースト上に電子部品を確実に搭載して実装不良の低減を図ることができる。また、基板上に実際に印刷されたペーストの位置を各基板毎に測定することもなく、高い生産効率を得ることができる。
According to the invention [ 5 ], since the mounting position of the electronic component is set based on the position of the opening measured by photographing the mask, the electronic component is securely mounted on the paste printed on the substrate. Thus, it is possible to reduce mounting defects. Further, high production efficiency can be obtained without measuring the position of the paste actually printed on the substrate for each substrate.
上記発明[6]にかかる印刷機によると、ペーストの印刷に使用したマスクの開口部の位置情報を送信するため、実装機においては基板上に印刷されるペースト上に電子部品を確実に搭載して実装不良の低減を図ることができる。また、基板上に実際に印刷されたペーストの位置を各基板毎に測定することもなく、高い生産効率を得ることができる。
According to the printing machine of the above invention [ 6 ], since the positional information of the opening of the mask used for printing the paste is transmitted, the mounting machine securely mounts the electronic component on the paste printed on the substrate. Thus, it is possible to reduce mounting defects. Further, high production efficiency can be obtained without measuring the position of the paste actually printed on the substrate for each substrate.
上記発明[7]によると、マスクを撮影して測定された開口部の位置に基づいて電子部品の実装位置が設定されるため、基板上に印刷されるペースト上に電子部品を確実に搭載して実装不良の低減を図ることができる。また、基板上に実際に印刷されたペーストの位置を各基板毎に測定することもなく、高い生産効率を得ることができる。 According to the invention [ 7 ], since the mounting position of the electronic component is set based on the position of the opening measured by photographing the mask, the electronic component is securely mounted on the paste printed on the substrate. Thus, it is possible to reduce mounting defects. Further, high production efficiency can be obtained without measuring the position of the paste actually printed on the substrate for each substrate.
図1は本発明の一実施形態にかかる実装システムを示す構成説明図である。同図に示すように、この実装システムは、生産ラインを構成する印刷機2,複数の実装機1…、検査機3、リフロー炉4を備えている。これら各設備は、基板搬送の上流側から下流側にかけて、この順に並んで配置されている。 FIG. 1 is a configuration explanatory view showing a mounting system according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, this mounting system includes a printing machine 2, a plurality of mounting machines 1,..., An inspection machine 3, and a reflow furnace 4 constituting a production line. Each of these facilities is arranged in this order from the upstream side to the downstream side of substrate conveyance.
またこの実装システムは生産ラインを構成する各設備の他に、マスク開口部測定装置5およびサーバコンピュータ9を備えている。 The mounting system includes a mask opening measuring device 5 and a server computer 9 in addition to each facility constituting the production line.
これら実装システムを構成する各設備は、パーソナルコンピュータなどによって構成される制御装置(制御手段)6…をそれぞれ備え、各制御装置6…によって、実装ラインの各設備の駆動が制御されるよう構成されている。さらに各制御装置6…は、LAN等のネットワーク通信手段を介して接続されており、各制御装置間において信号の送受信を行いつつ、各設備が駆動されて、実装システム全体で統制された動作が行われるよう構成されている。また各設備には、各設備の状態などに関するデータを表示する表示装置7や、各種の情報を入力するためのキーボードやマウスなどの入力装置8が設けられている。 Each facility constituting these mounting systems includes a control device (control means) 6... Constituted by a personal computer or the like, and is configured such that driving of each facility on the mounting line is controlled by each control device 6. ing. Further, each control device 6 is connected via a network communication means such as a LAN, and while the equipment is driven while transmitting and receiving signals between the control devices, the operation controlled in the entire mounting system is performed. It is configured to be done. Each facility is provided with a display device 7 for displaying data related to the state of each facility, and an input device 8 such as a keyboard and a mouse for inputting various information.
サーバコンピュータ9には、後述する開口部位置記憶手段91、使用マスク記憶手段92等が機能的に構成されている。 The server computer 9 is functionally configured with an opening position storage unit 91, a use mask storage unit 92, and the like, which will be described later.
印刷機2は、図示しない基板搬入機などから搬入された基板の所定領域にクリームハンダや接着剤等のペーストをスクリーン印刷により印刷・塗布するものである。 The printing machine 2 prints and applies paste such as cream solder or adhesive by screen printing on a predetermined area of a substrate carried in from a substrate carry-in machine (not shown).
図2は、印刷機の一例を示す斜視図である。同図に示すように、この印刷機2は、印刷される基板Wを保持する印刷ステージ21と、印刷ステージ21に基板Wを搬入および搬出するための搬送コンベア22と、印刷ステージ21の上方でマスクSを保持するマスク保持ユニット23と、マスクS上でペーストを拡張するスキージユニット24と、基板WおよびマスクSを撮影するカメラユニット25と、マスクSを清掃するクリーナーユニット26とを備えている。 FIG. 2 is a perspective view showing an example of a printing machine. As shown in the figure, the printing machine 2 includes a printing stage 21 that holds a substrate W to be printed, a conveyor 22 for carrying the substrate W into and out of the printing stage 21, and an upper side of the printing stage 21. A mask holding unit 23 for holding the mask S, a squeegee unit 24 for expanding paste on the mask S, a camera unit 25 for photographing the substrate W and the mask S, and a cleaner unit 26 for cleaning the mask S are provided. .
印刷ステージ21は、基板Wを搬送するメインコンベア211と、印刷される基板Wをクランプ固定するクランプユニット212とを備えている。これらメインコンベア211およびクランプユニット212は、基台201に対して基板が搬送されるX軸方向(搬送方向)と直交するY軸方向に移動可能なY軸テーブル213と、Y軸テーブル213に対してX軸方向に移動可能なX軸テーブル214と、X軸テーブル214に対して鉛直線(Z軸方向)の軸線回りに回転可能なR軸テーブル215と、さらにY軸テーブル215に対してZ軸方向に昇降可能な昇降テーブル216とによって支持され、XYZRの各方向に移動可能となっている。 The printing stage 21 includes a main conveyor 211 that transports the substrate W and a clamp unit 212 that clamps and fixes the substrate W to be printed. The main conveyor 211 and the clamp unit 212 are connected to the Y-axis table 213 that can move in the Y-axis direction perpendicular to the X-axis direction (transport direction) in which the substrate is transported to the base 201 and the Y-axis table 213. An X-axis table 214 movable in the X-axis direction, an R-axis table 215 rotatable about a vertical line (Z-axis direction) with respect to the X-axis table 214, and a Z-axis relative to the Y-axis table 215 It is supported by a lifting table 216 that can move up and down in the axial direction, and is movable in each direction of XYZR.
マスク保持ユニット23は、ハンダ塗布部分に開口部(パターン孔)が形成されたマスクSを支持するマスク支持台232と、マスク支持台232上のマスクSを固定するマスククランプ233とを備えている。マスク支持台232は、印刷ステージ21の左右両側に立設された支持フレーム202に取り付けられている。 The mask holding unit 23 includes a mask support base 232 that supports a mask S in which an opening (pattern hole) is formed in a solder application portion, and a mask clamp 233 that fixes the mask S on the mask support base 232. . The mask support base 232 is attached to a support frame 202 erected on both the left and right sides of the printing stage 21.
スキージユニット24は、マスクS上でペーストを拡張するスキージ241と、このスキージ241を昇降自在に支持するスキージホルダー242とを備えている。スキージホルダー242は、印刷ステージ21の左右両側に立設された支持フレーム202,202上をY軸方向に移動可能なスキージ支持ビーム203に取り付けられている。そして、スキージ241を降下させた状態で、スキージ支持ビーム203がY軸方向に移動することにより、スキージ241はマスクS上のクリームハンダ等のペーストをローリング(混練)させつつ拡張し、スクリーン印刷が施されるようになっている。 The squeegee unit 24 includes a squeegee 241 that extends the paste on the mask S, and a squeegee holder 242 that supports the squeegee 241 so as to be movable up and down. The squeegee holder 242 is attached to a squeegee support beam 203 that can move in the Y-axis direction on support frames 202, 202 erected on both the left and right sides of the printing stage 21. When the squeegee 241 is lowered and the squeegee support beam 203 moves in the Y-axis direction, the squeegee 241 expands while rolling (kneading) paste such as cream solder on the mask S, and screen printing is performed. It is to be given.
カメラユニット25は、マスク撮影カメラ251と、基板撮影カメラ252と、バーコードリーダ253とを備えている。これらマスク撮影カメラ251、基板撮影カメラ252およびバーコードリーダ253は、カメラヘッド254に取り付けられている。カメラヘッド254は、印刷ステージ21の左右両側に立設された支持フレーム202,202の下面側に支持されたカメラ支持ビーム204に取り付けられている。カメラ支持ビーム204の高さ位置は、降下状態の印刷ステージ21とマスクSとの間に設定されている。カメラヘッド254は、カメラ支持ビーム204上をX軸方向に走行可能に取り付けられ、カメラ支持ビーム204は、支持フレーム202,202に対してY軸方向に移動可能に取り付けられている。これにより、カメラヘッド254は、XY平面上を移動して基板WおよびマスクSの撮影を行うことができるようになっている。 The camera unit 25 includes a mask photographing camera 251, a board photographing camera 252, and a barcode reader 253. The mask photographing camera 251, the board photographing camera 252 and the barcode reader 253 are attached to the camera head 254. The camera head 254 is attached to a camera support beam 204 supported on the lower surface side of support frames 202, 202 erected on both the left and right sides of the printing stage 21. The height position of the camera support beam 204 is set between the printing stage 21 in the lowered state and the mask S. The camera head 254 is attached so as to be able to run on the camera support beam 204 in the X-axis direction, and the camera support beam 204 is attached to the support frames 202 and 202 so as to be movable in the Y-axis direction. As a result, the camera head 254 can move on the XY plane and take an image of the substrate W and the mask S.
図7(a)は、マスクの一例を示す平面図である。同図に示すように、マスクSには、印刷対象となる基板Wとの位置合わせのための複数の位置基準マークS1…、クリームハンダ等のペーストを塗布する開口部S2…、各マスクSを特定して個体識別可能なID情報を示す識別マークS3が形成されている。この実施形態では識別マークS3はバーコードによって構成されている。 FIG. 7A is a plan view showing an example of a mask. As shown in the figure, the mask S includes a plurality of position reference marks S1 for alignment with the substrate W to be printed, an opening S2 for applying paste such as cream solder, and each mask S. An identification mark S3 indicating ID information that can be identified and identified is formed. In this embodiment, the identification mark S3 is constituted by a barcode.
図7(b)は、基板の一例を示す平面図である。同図に示すように基板Wには、マスクS等との位置合わせのための複数の位置基準マークW1…、基板W内に造り込まれた回路から基板表面に露出した電極部(回路パターン)W2…、各基板Wを特定して固体識別可能なID情報を示す識別マークW3が形成されている。 FIG. 7B is a plan view showing an example of the substrate. As shown in the figure, the substrate W has a plurality of position reference marks W1 for alignment with the mask S and the like, and an electrode portion (circuit pattern) exposed on the substrate surface from a circuit built in the substrate W. W2... Is formed with an identification mark W3 indicating ID information which can identify each solid by specifying each substrate W.
マスク撮影カメラ251は、例えば照明を備えたCCDカメラ等からなり、カメラユニット25の上側に位置するマスクSを撮影するために上向きに設けられている。マスク撮影カメラ251は、新たなマスクSがセットされた際には、マスクSに設けられた位置基準マークS1や開口部S2を撮影してその位置を測定するようになっている。また、マスク撮影カメラ251は、クリーナーユニット26によってマスクSの清掃が行われた場合には、清掃状態を確認するためにマスクSの開口部S2等の撮影も行う。 The mask photographing camera 251 includes, for example, a CCD camera equipped with illumination, and is provided upward to photograph the mask S located on the upper side of the camera unit 25. When a new mask S is set, the mask photographing camera 251 photographs the position reference mark S1 and the opening S2 provided on the mask S and measures the position. In addition, when the mask S is cleaned by the cleaner unit 26, the mask photographing camera 251 also photographs the opening S2 of the mask S and the like in order to confirm the cleaning state.
基板撮影カメラ252は、例えば照明を備えたCCDカメラ等からなり、カメラユニット25の下側に位置する基板Wを撮影するために下向きに設けられている。基板撮影カメラ252は、マスクSとの位置合わせのために、印刷ステージ21に固定された基板Wに設けられた位置基準マークW1を撮影して、その位置を測定する。また基板撮影カメラ252は、基板Wに設けられた識別マークW3を検出する。 The board photographing camera 252 includes, for example, a CCD camera equipped with illumination, and is provided downward to take a picture of the board W positioned below the camera unit 25. The substrate photographing camera 252 photographs the position reference mark W1 provided on the substrate W fixed to the printing stage 21 for alignment with the mask S, and measures the position. The board photographing camera 252 detects an identification mark W3 provided on the board W.
バーコードリーダ253は、たとえば赤外光照明を備えたラインセンサカメラ等からなり、マスクSに形成された識別マーク(バーコード)S3を読み取るために上向きに設けられている。 The barcode reader 253 is composed of, for example, a line sensor camera equipped with infrared light illumination, and is provided upward to read an identification mark (barcode) S3 formed on the mask S.
クリーナーユニット26は、前記カメラユニット25と同じカメラ支持ビーム204に取り付けられ、マスクSの下面(印刷面)に摺接して清掃を行うようになっている。 The cleaner unit 26 is attached to the same camera support beam 204 as the camera unit 25, and is slidably brought into contact with the lower surface (printing surface) of the mask S for cleaning.
図3は、印刷機の制御系の構成の一例を示す機能ブロック図である。同図に示すように、印刷機2の制御系は、パーソナルコンピュータ等からなる制御装置6に、演算処理部291、印刷プログラム記憶手段292、搬送系データ記憶手段293、モータ制御部294、外部入出力部295、マスク開口情報記憶手段296、サーバ通信手段297、画像処理部298等の各機能が構成されている。 FIG. 3 is a functional block diagram showing an example of the configuration of the control system of the printing press. As shown in the figure, the control system of the printing press 2 is connected to a control device 6 composed of a personal computer or the like, with an arithmetic processing unit 291, print program storage unit 292, transport system data storage unit 293, motor control unit 294, external input. Each function of the output unit 295, mask opening information storage unit 296, server communication unit 297, image processing unit 298, and the like is configured.
演算処理部291は印刷機2における各種動作を統括的に制御する。 The arithmetic processing unit 291 comprehensively controls various operations in the printing press 2.
印刷プログラム記憶手段292は、基板Wにクリームハンダ等のペーストを印刷・塗布するための生産プログラム(印刷プログラム)を記憶する。 The print program storage unit 292 stores a production program (print program) for printing / applying paste such as cream solder on the substrate W.
搬送系データ記憶手段293は、生産ライン上での基板Wの搬送に関する各種データを記憶する。 The transport system data storage unit 293 stores various data related to transport of the substrate W on the production line.
モータ制御部294は、印刷ステージ21に搬入された基板の位置決めを行うXYZR各軸の駆動モータやスキージ軸(SQ軸)の駆動モータの動作制御を行う。 The motor control unit 294 controls the operation of the drive motor for each axis of XYZR and the drive motor for the squeegee axis (SQ axis) for positioning the substrate carried into the printing stage 21.
外部入出力部295は印刷機2が備える各種センサー類、バーコードリーダ253、ストッパ等の駆動部と各種情報の入出力を行う。 The external input / output unit 295 inputs / outputs various information to / from various sensors provided in the printing machine 2, a barcode reader 253, a driving unit such as a stopper, and the like.
マスク開口情報記憶手段296は、マスク撮影カメラ251によって撮影され、測定されたマスクSの位置基準マークS1および開口部S2の位置情報等を開口部測定データとして記憶する。 The mask opening information storage unit 296 stores the position reference mark S1 of the mask S, the position information of the opening S2, and the like measured by the mask photographing camera 251 as opening measurement data.
サーバ通信手段297は、実装システムのサーバコンピュータ9や他の設備と種々の情報を送受する。 The server communication means 297 sends and receives various information to and from the server computer 9 and other equipment of the mounting system.
画像処理部298は、マスク撮影カメラ251および基板撮影カメラ252による撮影データから必要な情報を抽出する画像処理を行う。 The image processing unit 298 performs image processing for extracting necessary information from data captured by the mask photographing camera 251 and the board photographing camera 252.
実装機(実装機本体)1…は、基板の所定位置に電子部品を実装(搭載)するものである。 The mounting machine (mounting machine main body) 1... Mounts (mounts) electronic components at predetermined positions on the board.
図4は実装機の一例を示す平面図である。同図に示すように、実装機1は、基台11上に配置されて基板Wを搬送するコンベア12と、このコンベアの両側に配置された部品供給部13と、基台11の上方に設けられた電子部品実装用のヘッドユニット14とを備えている。 FIG. 4 is a plan view showing an example of a mounting machine. As shown in the figure, the mounting machine 1 is provided above the base 11, a conveyor 12 that is disposed on the base 11 and conveys the substrate W, component supply units 13 that are disposed on both sides of the conveyor, and the base 11. And a head unit 14 for mounting electronic components.
部品供給部13は、コンベア12に対してフロント側とリア側のそれぞれ上流部と下流部に設けられている。この実施形態では、フロント側とリア側上流部にはテープフィーダ等の部品供給装置を複数並べて取り付け可能な部品供給部15が設けられ、リア側下流部にはパレット等の部品供給装置を積層して取付可能なトレイタイプの部品供給部16が設けられている。これらの部品供給部13から供給される部品は、ヘッドユニット14によってピックアップできるようになっている。 The component supply unit 13 is provided on the upstream side and the downstream side of the conveyor 12 on the front side and the rear side, respectively. In this embodiment, a component supply unit 15 to which a plurality of component supply devices such as tape feeders can be mounted side by side is provided on the front side and the rear side upstream portion, and a component supply device such as a pallet is stacked on the rear side downstream portion. A tray-type component supply unit 16 that can be attached is provided. The components supplied from these component supply units 13 can be picked up by the head unit 14.
また上流側と下流側に分かれた部品供給部13の間には、フロント側およびリア側とも、部品撮影カメラ17,17が設けられている。部品撮影カメラ17,17は、ヘッドユニット14によって吸着された部品の状態を撮像して、部品の位置ずれなどを検出する。 Further, between the component supply unit 13 divided into the upstream side and the downstream side, component photographing cameras 17 and 17 are provided on both the front side and the rear side. The component photographing cameras 17 and 17 image the state of the component sucked by the head unit 14 and detect a positional deviation of the component.
ヘッドユニット14は、部品供給部13から部品をピックアップして基板W上に装着し得るように、部品供給部13と基板W上の実装位置とにわたる領域を移動可能となっている。具体的には、ヘッドユニット14は、X軸方向(コンベア12の基板搬送方向)に延びるヘッドユニット支持部材142にX軸方向に移動可能に支持されている。ヘッドユニット支持部材142はその両端部においてY軸方向(水平面内でX軸と直交する方向)に延びるガイドレール143,143にY軸方向に移動可能に支持されている。そしてヘッドユニット14は、X軸モータ144によりボールねじ145を介してX軸方向の駆動が行われ、ヘッドユニット支持部材142は、Y軸モータ146によりボールねじ147を介してY軸方向の駆動が行われるようになっている。 The head unit 14 is movable in a region extending between the component supply unit 13 and the mounting position on the substrate W so that components can be picked up from the component supply unit 13 and mounted on the substrate W. Specifically, the head unit 14 is supported by a head unit support member 142 extending in the X-axis direction (the substrate transport direction of the conveyor 12) so as to be movable in the X-axis direction. A head unit supporting member 142 is moved rotatably supported in the Y axis direction guide rails 143 and 143 extending in the Y-axis direction (direction perpendicular to the X-axis in a horizontal plane) at its opposite ends. The head unit 14 is driven in the X-axis direction via the ball screw 145 by the X-axis motor 144, and the head unit support member 142 is driven in the Y-axis direction via the ball screw 147 by the Y-axis motor 146. To be done.
また、ヘッドユニット14には、複数のヘッド148がX軸方向に並んで搭載されている。各ヘッド148は、Z軸モータを駆動源とする昇降機構により上下方向(Z軸方向)に駆動されるとともに、R軸モータを駆動源とする回転駆動機構により回転方向(R軸方向)に駆動されるようになっている。 A plurality of heads 148 are mounted on the head unit 14 side by side in the X-axis direction. Each head 148 is driven in the vertical direction (Z-axis direction) by an elevating mechanism using a Z-axis motor as a drive source, and is driven in the rotation direction (R-axis direction) by a rotary drive mechanism using an R-axis motor as a drive source. It has come to be.
各ヘッド148の先端には、電子部品を吸着して基板に装着するための吸着ノズルが設けられ、各ノズルは、図外の負圧手段から供給される負圧による吸引力で電子部品を吸着できるようになっている。 At the tip of each head 148, a suction nozzle for sucking and mounting the electronic component on the substrate is provided, and each nozzle sucks the electronic component with a suction force by a negative pressure supplied from a negative pressure means (not shown). It can be done.
またヘッドユニット14には、例えば照明を備えたCCDカメラ等からなる基板撮影カメラ18が設けられている。この基板撮影カメラ18は、この実装機1に搬入された基板Wに設けられた位置基準マークW1等を撮影して、その位置を測定する。また基板撮影カメラ18は、基板Wに設けられたIDマークを検出する。基板Wに設けられたIDマークは、各基板Wを個体識別して特定可能なID情報を表している。 Further, the head unit 14 is provided with a board photographing camera 18 composed of, for example, a CCD camera equipped with illumination. The board photographing camera 18 photographs the position reference mark W1 and the like provided on the board W carried into the mounting machine 1, and measures its position. The board photographing camera 18 detects an ID mark provided on the board W. The ID mark provided on the substrate W represents ID information that can be identified by identifying each substrate W individually.
図5は、実装機の制御系の構成の一例を示す機能ブロック図である。同図に示すように、実装機1の制御系は、パーソナルコンピュータ等からなる制御装置6に、演算処理部191、実装プログラム記憶手段192、搬送系データ記憶手段193、モータ制御部194、外部入出力部195、画像処理部196、サーバ通信手段197等の各機能が構成されている。 FIG. 5 is a functional block diagram showing an example of the configuration of the control system of the mounting machine. As shown in the figure, the control system of the mounting machine 1 is connected to a control device 6 composed of a personal computer or the like, with an arithmetic processing unit 191, mounting program storage unit 192, transport system data storage unit 193, motor control unit 194, external input. Each function of the output unit 195, the image processing unit 196, the server communication unit 197, and the like is configured.
演算処理部191は実装機1における各種動作を統括的に制御する。 The arithmetic processing unit 191 comprehensively controls various operations in the mounting machine 1.
実装プログラム記憶手段192は、基板Wに各電子部品を実装するための生産プログラム(実装プログラム)を記憶する。この生産プログラムには、基板Wの回路パターンに基づく各電子部品の実装位置(座標)データや、各電子部品を認識するための形状データ、各電子部品が供給されるフィーダ等の位置(座標)等が含まれている。 The mounting program storage unit 192 stores a production program (mounting program) for mounting each electronic component on the substrate W. The production program includes mounting position (coordinate) data of each electronic component based on the circuit pattern of the substrate W, shape data for recognizing each electronic component, and position (coordinate) of a feeder to which each electronic component is supplied. Etc. are included.
搬送系データ記憶手段193は、生産ライン上での基板Wの搬送に関する各種データを記憶する。 The transport system data storage unit 193 stores various data related to transport of the substrate W on the production line.
モータ制御部194は、ヘッドユニット14のXYZR各軸の駆動モータ等の動作制御を行う。 The motor control unit 194 controls the operation of the drive motors for the XYZR axes of the head unit 14.
外部入出力部195は実装機1が備える各種センサー類、ストッパ等の駆動部と各種情報の入出力を行う。 The external input / output unit 195 inputs and outputs various types of information to and from various sensors and stoppers provided in the mounting machine 1.
画像処理部196は、部品撮影カメラ17および基板撮影カメラ18による撮影データから必要な情報を抽出する画像処理を行う。 The image processing unit 196 performs image processing for extracting necessary information from data captured by the component photographing camera 17 and the board photographing camera 18.
サーバ通信手段197は、実装システムのサーバコンピュータ9や他の設備と種々の情報を送受する。 The server communication means 197 sends and receives various information to and from the server computer 9 and other equipment of the mounting system.
検査機3は、実装機1…によって基板Wに実装された各電子部品の実装状態を検査し、各基板Wの良否を判断するものである。 The inspection machine 3 inspects the mounting state of each electronic component mounted on the board W by the mounting machines 1...
リフロー炉4は、基板Wに塗布されたクリームハンダをリフローさせて、電子部品を基板にハンダ接合して安定させるものである。 The reflow furnace 4 reflows the cream solder applied to the substrate W, and stabilizes the electronic component by soldering to the substrate.
リフロー炉4から搬出される基板Wは、基板搬出機(図示省略)などに順次収容されるよう構成されている。 The substrates W that are unloaded from the reflow furnace 4 are configured to be sequentially accommodated in a substrate unloader (not shown).
マスク開口部測定装置5は、生産ライン内ではなく、オフラインでマスクSに形成された開口部の位置を測定するものである。 The mask opening measuring device 5 measures the position of the opening formed in the mask S offline, not in the production line.
図6は、マスク開口部測定装置の構成の一例を示す機能ブロック図である。同図に示すように、マスク開口部測定装置5は、マスクSを固定するマスク固定手段51と、マスクSを撮影するマスク撮影カメラ52と、固定されたマスクSに対してマスク撮影カメラ52をXY方向に移動させるカメラ駆動手段53と、マスクSに形成されたバーコードを読み取る赤外光照明を備えたラインセンサカメラ等からなるバーコードリーダ54と、パーソナルコンピュータ等からなる制御装置6とを備えている。 FIG. 6 is a functional block diagram illustrating an example of the configuration of the mask opening measurement apparatus. As shown in the figure, the mask opening measuring device 5 includes a mask fixing means 51 for fixing the mask S, a mask photographing camera 52 for photographing the mask S, and a mask photographing camera 52 for the fixed mask S. A camera driving unit 53 that moves in the XY directions, a bar code reader 54 that includes a line sensor camera equipped with infrared light illumination that reads a bar code formed on the mask S, and a control device 6 that includes a personal computer or the like. I have.
マスク開口部測定装置5の制御装置6には、演算処理部591、測定プログラム記憶手段592、モータ制御部594、外部入出力部595、マスク開口情報記憶手段596、サーバ通信手段597、画像処理部598等の各機能が構成されている。 The control device 6 of the mask opening measuring device 5 includes an arithmetic processing unit 591, a measurement program storage unit 592, a motor control unit 594, an external input / output unit 595, a mask opening information storage unit 596, a server communication unit 597, an image processing unit. Each function such as 598 is configured.
演算処理部591はマスク開口部測定装置5における各種動作を統括的に制御する。 The arithmetic processing unit 591 comprehensively controls various operations in the mask opening measuring device 5.
測定プログラム記憶手段592は、マスクSの開口部等の位置を測定するための生産プログラム(測定プログラム)を記憶する。 The measurement program storage unit 592 stores a production program (measurement program) for measuring the position of the opening or the like of the mask S.
モータ制御部594は、マスク固定手段51やカメラ駆動手段53の動作制御を行う。 The motor control unit 594 controls the operation of the mask fixing unit 51 and the camera driving unit 53.
外部入出力部595はマスク開口部測定装置5が備えるバーコードリーダ54等の駆動部と各種情報の入出力を行う。 The external input / output unit 595 inputs / outputs various types of information to / from a drive unit such as a barcode reader 54 provided in the mask opening measurement device 5.
マスク開口情報記憶手段596は、マスク撮影カメラ52によって撮影され、測定されたマスクSの位置基準マークS1および開口部S2の位置情報等を開口部測定データとして記憶する。 The mask opening information storage unit 596 stores the position reference mark S1 of the mask S, the position information of the opening S2, and the like measured by the mask photographing camera 52 as opening measurement data.
サーバ通信手段597は、実装システムのサーバコンピュータ9や他の設備と種々の情報を送受する。 The server communication means 597 transmits and receives various information to and from the server computer 9 and other equipment of the mounting system.
画像処理部598は、マスク撮影カメラ52による撮影データから必要な情報を抽出する画像処理を行う。 The image processing unit 598 performs image processing for extracting necessary information from data captured by the mask imaging camera 52.
サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91は、測定されたマスクSの位置基準マークS1および開口部S2の位置情報等を開口部測定データとして記憶する。 The opening position storage unit 91 of the server computer 9 stores the measured position reference mark S1 of the mask S, position information of the opening S2, and the like as opening measurement data.
サーバコンピュータ9の使用マスク記憶手段92は、印刷機2において印刷が行われた各基板Wについて、各基板Wを特定可能な基板ID情報と、各基板Wの印刷に使用したマスクSを特定可能なマスクID情報とを関連付けて記憶する。 The use mask storage means 92 of the server computer 9 can specify the substrate ID information for identifying each substrate W and the mask S used for printing each substrate W for each substrate W printed by the printing machine 2. And associated mask ID information.
次に本実施形態における実装システムによる電子部品の実装方法の手順についてフローチャートを参照しながら説明する。 Next, the procedure of the electronic component mounting method by the mounting system in this embodiment will be described with reference to a flowchart.
本実施形態にかかる実装システムでは、印刷機2において使用されるマスクSの開口部の位置が、製作された直後のマスクSについてはマスク開口部測定装置5によって測定され、印刷に使用されたことがあり、伸びの発生が有り得るマスクSについては、印刷のため印刷機2にマスクS装着された状態において印刷機2によって測定され、測定された開口部の位置情報に基づいて実装機1における実装動作が行われるようになっている。 In the mounting system according to the present embodiment, the position of the opening of the mask S used in the printing machine 2 is measured by the mask opening measuring device 5 for the mask S immediately after being manufactured and used for printing. The mask S that may be stretched is measured by the printing machine 2 in a state in which the mask S is mounted on the printing machine 2 for printing, and is mounted on the mounting machine 1 based on the measured position information of the opening. Operation is to be performed.
以下、マスク開口部測定装置5、印刷機2および実装機1における動作について順に説明する。 Hereinafter, operations in the mask opening measuring device 5, the printing machine 2, and the mounting machine 1 will be described in order.
図8は、マスク開口部測定装置におけるマスク測定動作手順の一例を示すフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart showing an example of a mask measurement operation procedure in the mask opening measurement apparatus.
マスク開口部測定装置5におけるマスク測定では、まず測定対象の製作された直後で伸びのないマスクSがマスク固定手段51に固定される(ステップS10)。マスク固定手段51へのマスクSの搬入はオペレータ等が手で持って行っても、搬送装置等を用いて自動的に行ってもよい。 In mask measurement in the mask opening measuring device 5, a mask S that does not stretch immediately after the measurement object is manufactured is fixed to the mask fixing means 51 (step S10). The mask S may be carried into the mask fixing means 51 by hand by an operator or automatically using a transfer device or the like.
マスクSが固定されると、バーコードリーダ54により、マスクSに形成された識別マーク(バーコード)S3が読み取られ、マスクID情報が取得される(ステップS11)。これにより、測定対象のマスクSが特定され、マスク開口部測定装置5に認識される。 When the mask S is fixed, the identification mark (barcode) S3 formed on the mask S is read by the barcode reader 54, and mask ID information is acquired (step S11). As a result, the mask S to be measured is specified and recognized by the mask opening measuring device 5.
またマスク撮影カメラ52により、マスクSに形成された複数の位置基準マークS1…や、さらにはもっぱらマスクSの伸びの検知のためマスクS上に形成された不図示の複数の位置基準マークが撮影され、画像処理部598により、その位置が測定される(ステップS12)。 Further, the mask photographing camera 52 photographs a plurality of position reference marks S1 formed on the mask S, and a plurality of position reference marks (not shown) formed on the mask S exclusively for detecting the extension of the mask S. Then, the position is measured by the image processing unit 598 (step S12).
そしてマスク撮影カメラ52により、マスクSに形成された開口部S2…が撮影され、画像処理部598により、その位置が測定される(ステップS13)。この実施形態では、マスク撮影カメラ52および画像処理部598は、開口部位置測定手段として機能している。 Then, the opening S2 formed in the mask S is photographed by the mask photographing camera 52, and the position thereof is measured by the image processing unit 598 (step S13). In this embodiment, the mask photographing camera 52 and the image processing unit 598 function as an opening position measuring unit.
こうして開口部S2の位置(座標)が測定されれば、画像処理部598により、その開口部S2によって塗布されるペースト(クリームハンダ)の上に実装されるべき電子部品の中心座標が計算される(ステップS14)。 When the position (coordinates) of the opening S2 is thus measured, the image processing unit 598 calculates the center coordinates of the electronic component to be mounted on the paste (cream solder) applied by the opening S2. (Step S14).
図11(a)は、マスクの開口部の位置に基づいて計算される電子部品の中心座標の説明図である。同図に示すように、2つの開口部S2,S2によって塗布されるペースト(クリームハンダ)に跨って搭載される部品Cの中心座標C1は、マスクSにおける開口部S2の位置に応じて求められる。ここで計算される電子部品Cの中心座標C1は、開口部S2の位置を基準としたものであるため、以下、「開口部中心座標」と称する。この開口部中心座標は、マスクSにおける座標系、すなわちマスクSの位置基準マークS1によって規定される座標系で表現されるものである。 FIG. 11A is an explanatory diagram of the center coordinates of the electronic component calculated based on the position of the opening of the mask. As shown in the figure, the center coordinate C1 of the component C mounted across the paste (cream solder) applied by the two openings S2 and S2 is obtained according to the position of the opening S2 in the mask S. . The center coordinate C1 of the electronic component C calculated here is based on the position of the opening S2, and is hereinafter referred to as “opening center coordinates”. The opening center coordinates are expressed by a coordinate system in the mask S, that is, a coordinate system defined by the position reference mark S1 of the mask S.
こうして開口部中心座標が計算されれば、マスクSに形成された位置基準マークS1の位置と部品毎の開口部中心座標、複数の位置基準マークS1…等の座標、及び複数の位置基準マークS1…等の相互の間の距離(下記するマスクSの伸びの判断のための距離の基準データ)が、マスク開口情報記憶手段596に記憶されるとともに、サーバ通信手段597により、サーバコンピュータ9に送信され、サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91に保存される(ステップS15)。この実施形態では、サーバ通信手段597は、測定により得られる開口部中心座標、複数の位置基準マークS1…等の座標、及び複数の位置基準マークS1…等の相互の間の距離の情報を送信する送信手段として機能している。 If the opening center coordinates are calculated in this way, the position of the position reference mark S1 formed on the mask S, the opening center coordinates for each part, the coordinates of the plurality of position reference marks S1,..., And the plurality of position reference marks S1. .. Are stored in the mask opening information storage means 596 and transmitted to the server computer 9 by the server communication means 597. And stored in the opening position storage means 91 of the server computer 9 (step S15). In this embodiment, the server communication unit 597 transmits information on the distance between the opening center coordinates obtained by measurement, the coordinates of the plurality of position reference marks S1,..., And the plurality of position reference marks S1,. Functioning as a transmission means.
測定の終了したマスクSはマスク固定手段51によって固定解除され(ステップS16)、マスク開口部測定装置5による一連の測定動作が終了する。 The mask S for which measurement has been completed is unfixed by the mask fixing means 51 (step S16), and a series of measurement operations by the mask opening measuring device 5 is completed.
図9は、印刷機における印刷動作手順の一例を示すフローチャートである。 FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a printing operation procedure in the printing press.
印刷機2における印刷動作では、まず生産する基板Wの種類に応じて生産プログラム(印刷プログラム)がオペレータ等によって選択される(ステップS20)。この選択は、実装システム全体を管理するサーバコンピュータ9等によってネットワークを介して行ってもよい。 In the printing operation in the printing machine 2, a production program (printing program) is first selected by an operator or the like according to the type of substrate W to be produced (step S20). This selection may be performed via a network by the server computer 9 or the like that manages the entire mounting system.
続いてオペレータ等により、印刷機2のマスク保持ユニット23に印刷に使用されるマスクSが取り付けられ、固定される(ステップS21)。 Subsequently, a mask S used for printing is attached and fixed to the mask holding unit 23 of the printing press 2 by an operator or the like (step S21).
そして印刷機が起動すると(ステップS22)、まず、バーコードリーダ253により、マスクSに形成された識別マーク(バーコード)S3が読み取られ、マスクID情報が取得される(ステップS23)。これにより、測定対象のマスクSが特定され、印刷機2に認識される。 When the printing press is activated (step S22), first, the identification mark (barcode) S3 formed on the mask S is read by the barcode reader 253, and mask ID information is acquired (step S23). Thereby, the mask S to be measured is specified and recognized by the printing press 2.
またマスク撮影カメラ251により、マスクSに形成された複数の位置基準マークS1…が撮影され、画像処理部298により、その位置が測定される(ステップS24)。 Further, a plurality of position reference marks S1,... Formed on the mask S are photographed by the mask photographing camera 251 and the positions thereof are measured by the image processing unit 298 (step S24).
続いて印刷機2の演算処理部291により、印刷機2に取り付けられたマスクSが、既に開口部の位置が測定され、開口部位置の測定データが記憶されているものであるか否かが判断される(ステップS25)。この判断に際しては、印刷機2自身のマスク開口情報記憶手段296の他、サーバ通信手段297により実装システムのネットワークを介してサーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91やマスク開口部測定装置5のマスク開口情報記憶手段596が参照される。 Subsequently, the calculation processing unit 291 of the printing press 2 determines whether or not the mask S attached to the printing press 2 has already been measured for the position of the opening and the measurement data of the opening is stored. Judgment is made (step S25). For this determination, in addition to the mask opening information storage unit 296 of the printing machine 2 itself, the server communication unit 297 uses the server system 9 via the network of the mounting system to store the opening position storage unit 91 of the server computer 9 and the mask of the mask opening measuring device 5. Reference is made to the opening information storage means 596.
開口部測定データがなければ(ステップS25でNO)(製作された直後で使用による伸びや歪のないマスクSについて、マスク開口部測定装置5によって測定されて得られるマスクSデータや実装位置データの無い場合)、マスク撮影カメラ251により、マスクSに形成された開口部S2…が撮影され、画像処理部298により、その位置が測定される(ステップS23)。この実施形態では、マスク撮影カメラ251および画像処理部298は、開口部位置測定手段として機能している。 If there is no opening measurement data (NO in step S25) (the mask S data and the mounting position data obtained by measuring by the mask opening measuring device 5 for the mask S that is not stretched or distorted due to use immediately after being manufactured). When there is no image, the mask photographing camera 251 photographs the openings S2... Formed in the mask S, and the position is measured by the image processing unit 298 (step S23). In this embodiment, the mask photographing camera 251 and the image processing unit 298 function as an opening position measuring unit.
開口部S2の位置(座標)が測定されれば、画像処理部298により、その開口部S2によって塗布されるペースト(クリームハンダ)の上に実装されるべき電子部品の中心座標(開口部中心座標)が計算される(ステップS27)。 When the position (coordinates) of the opening S2 is measured, the image processing unit 298 performs center coordinates (opening center coordinates) of the electronic component to be mounted on the paste (cream solder) applied by the opening S2. ) Is calculated (step S27).
そしてマスクSに形成された位置基準マークS1…等、複数の位置基準マークS1…等の相互の間の距離、及び部品毎の開口部中心座標がマスク開口情報記憶手段296に記憶されるとともに、サーバ通信手段297により、サーバコンピュータ9に送信され、サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91に保存される(ステップS28)。この実施形態では、サーバ通信手段297は、測定された開口部の位置情報を送信する送信手段として機能している。 The distance between the plurality of position reference marks S1, etc. formed on the mask S, etc., and the opening center coordinates for each part are stored in the mask opening information storage means 296, and The data is transmitted to the server computer 9 by the server communication unit 297 and stored in the opening position storage unit 91 of the server computer 9 (step S28). In this embodiment, the server communication unit 297 functions as a transmission unit that transmits the position information of the measured opening.
なお、ステップS28において複数の位置基準マークS1…等の相互の間の距離のデータがマスク開口情報記憶手段296に記憶されるのは、マスクSの伸びの判断のための距離の基準データとしてであり、下記するステップS30でNOとされた後においては、ステップS28において複数の位置基準マークS1…等の相互の間の距離のデータは、マスク開口情報記憶手段296には記憶されない。 In step S28, the distance data between the plurality of position reference marks S1,... Is stored in the mask aperture information storage means 296 as distance reference data for determining the extension of the mask S. Yes, after NO is determined in step S30 described below, the distance data between the plurality of position reference marks S1, etc. in step S28 is not stored in the mask aperture information storage unit 296.
一方、開口部測定データがある場合には(ステップS25でYES)、画像処理部298により、測定されたマスクSの複数の位置基準マークS1間の距離が算出される(ステップS29)。この実施形態では、マスク撮影カメラ251および画像処理部298は、複数の位置基準マークS1間の距離を測定するマーク間距離測定手段として機能する。 On the other hand, if there is opening measurement data (YES in step S25), the image processing unit 298 calculates the distance between the plurality of position reference marks S1 of the measured mask S (step S29). In this embodiment, the mask photographing camera 251 and the image processing unit 298 function as an inter-mark distance measuring unit that measures the distance between the plurality of position reference marks S1.
そして、演算処理部291により、現在の測定結果から算出された位置基準マークS1間の距離と、サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91等に記憶されている距離の基準データとが比較される(ステップS30)。この距離の基準データは、記憶しておく開口部測定データに含めておいても、現在の測定結果と比較する際に各位置基準マークS1の位置に基づいて算出してもよい。この比較により、マスクSに伸び等が発生して、記憶されている測定データと現在のマスクSの状態とにずれが生じているか否かを判断できる。なおサーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91等は、位置基準マークS1間の距離を直接的に、あるいは算出可能な状態で間接的に記憶するものとなっている。 Then, the arithmetic processing unit 291 compares the distance between the position reference marks S1 calculated from the current measurement result with the distance reference data stored in the opening position storage means 91 of the server computer 9 and the like. (Step S30). The distance reference data may be included in the opening measurement data to be stored, or may be calculated based on the position of each position reference mark S1 when compared with the current measurement result. By this comparison, it is possible to determine whether or not the mask S is stretched or the like and there is a difference between the stored measurement data and the current state of the mask S. Note that the opening position storage means 91 and the like of the server computer 9 store the distance between the position reference marks S1 directly or indirectly in a calculable state.
前記比較の結果、位置基準マークS1間の距離の変化が所定の第1の許容範囲を越えている場合(現在の測定結果から算出された位置基準マークS1等間の距離と、距離の基準データとの差が各距離の長さに対応して長さが長い程大きく設定される差における第1の所定値を超えている場合、あるいは、現在の測定結果から算出された位置基準マークS1等間の距離の、距離の基準データに対する比が、比における第1の所定値を超えている場合)、すなわちマスクSに著しい伸びが発生し、実装位置を変更しても実装不良が発生するであろう場合には、演算処理部291は、印刷工程への移行を停止し、マスクS1が使用不能であることを表示ユニット7に表示し、且つこの使用不能情報をマスクSのID情報と関連付けてサーバ9の使用マスク記憶手段に記憶する。この実施形態では、演算処理部291は、測定された距離を距離の基準データと比較し、その変化に応じて印刷の可否を判断する印刷可否判断手段として機能する。 As a result of the comparison, when the change in the distance between the position reference marks S1 exceeds a predetermined first allowable range (the distance between the position reference marks S1 calculated from the current measurement result and the distance reference data Or the position reference mark S1 calculated from the current measurement result, etc. The ratio of the distance to the reference data of the distance exceeds a first predetermined value in the ratio), that is, the mask S is significantly stretched, and even if the mounting position is changed, a mounting failure occurs. If it is, the arithmetic processing unit 291 stops the transition to the printing process, displays that the mask S1 is unusable on the display unit 7, and associates this unusable information with the ID information of the mask S. Using the server 9 Stored in the storage means. In this embodiment, the arithmetic processing unit 291 functions as a print availability determination unit that compares the measured distance with distance reference data and determines whether printing is possible according to the change.
一方、前記比較の結果、位置基準マークS1の距離の変化が、前記第1の許容範囲を越えてはいないが、前記第1の許容範囲より小さい所定の第2の許容範囲を越えている場合(現在の測定結果から算出された位置基準マークS1等間の距離と、距離の基準データとの差が各距離の長さに対応して長さが長い程大きく設定される差における第2の所定値(前記差における第1の所定値よりは小さい)を超えている場合、あるいは、現在の測定結果から算出された位置基準マークS1等間の距離の、距離の基準データに対する比が、比における第2の所定値(前記比における第1の所定値よりは小さい)を超えている場合)、すなわちマスクSに大きな伸びが発生している場合には(ステップS30でNO)、演算処理部291により、過去の測定データは使用できないと判断され、マスクの開口部S2の位置測定(ステップS26)に進む。この実施形態では、演算処理部291は、記憶されている開口部測定データに基づく後述の実装位置の設定の可否を判断し、後述するように実装位置を再設定させる実装位置再設定手段として機能する。 On the other hand, as a result of the comparison, a change in the distance of the position reference mark S1 does not exceed the first allowable range, but exceeds a predetermined second allowable range smaller than the first allowable range. (The second difference in the difference between the distance between the position reference marks S1 and the like calculated from the current measurement result and the distance reference data is set to be larger as the length is longer corresponding to the length of each distance. If the predetermined value (smaller than the first predetermined value in the difference) is exceeded, or the ratio of the distance between the position reference marks S1 calculated from the current measurement result to the reference data of the distance is When the second predetermined value in (exceeds the first predetermined value in the ratio) is exceeded, that is, when the mask S has a large elongation (NO in step S30), the arithmetic processing unit 291 for past measurements Over data is determined to not be used, the process proceeds to the position measurement of the opening portion S2 of the mask (step S26). In this embodiment, the arithmetic processing unit 291 functions as a mounting position resetting unit that determines whether or not a mounting position to be described later can be set based on the stored opening measurement data and resets the mounting position as described later. To do.
一方、位置基準マークS1間の距離の変化が所定の許容範囲内である場合、すなわちマスクSに大きな伸び等が発生していない場合には(ステップS30でYES)、過去の開口部測定データを使用できるため、マスクの開口部S2の位置測定の各ステップ(ステップS26〜S28)をスキップする。 On the other hand, when the change in the distance between the position reference marks S1 is within a predetermined allowable range, that is, when there is no significant elongation or the like in the mask S (YES in step S30), the past opening measurement data is obtained. Since it can be used, each step of measuring the position of the opening S2 of the mask (steps S26 to S28) is skipped.
こうして印刷に使用するマスクSの開口部の位置情報が保存された状態となれば、基板Wへのクリームハンダ等のペーストの印刷・塗布ステップに進む。 When the positional information of the opening of the mask S used for printing is thus saved, the process proceeds to a printing / application step of paste such as cream solder on the substrate W.
具体的には、まず図示省略の基板搬入機等により印刷機2へ基板Wが搬入され、位置決めされる(ステップS31)。 Specifically, first, the substrate W is carried into the printing press 2 by a substrate carry-in machine (not shown) and positioned (step S31).
そして基板撮影カメラ252により、基板Wに形成された識別マークW3が読み取られ、基板ID情報が取得される(ステップS32)。これにより、印刷対象の基板Wが特定され、印刷機2に認識される。 Then, the substrate photographing camera 252 reads the identification mark W3 formed on the substrate W, and acquires substrate ID information (step S32). Thereby, the substrate W to be printed is specified and recognized by the printing machine 2.
また基板撮影カメラ252により、基板Wに形成された複数の位置基準マークW1…が撮影され、画像処理部298により、その位置が測定される(ステップS33)。 Further, a plurality of position reference marks W1,... Formed on the substrate W are photographed by the substrate photographing camera 252, and their positions are measured by the image processing unit 298 (step S33).
こうして基板Wの位置基準マークW1の位置が測定されると、既に測定済みのマスクSの位置基準マークS1に応じて、演算処理部291により、固定されているマスクSに対して基板Wの位置合わせを行う(ステップS34)。この位置合わせは、マスクSの位置基準マークS1によって規定されるマスクSの座標系と、基板Wの位置基準マークW1によって規定される基板Wの座標系とを一致させるように行われる。これにより、サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91等に記憶されている開口部中心座標は、上述したようにマスクSの位置基準マークS1によって規定される座標系で表現されたものであるが、マスクSの座標系と基板Wの座標系を一致させることにより、開口部中心座標は基板Wの位置基準マークW1によって規定される座標系で表現されたものともなる。 When the position of the position reference mark W1 of the substrate W is thus measured, the position of the substrate W with respect to the fixed mask S is calculated by the arithmetic processing unit 291 in accordance with the position reference mark S1 of the mask S that has already been measured. Matching is performed (step S34). This alignment is performed so that the coordinate system of the mask S defined by the position reference mark S1 of the mask S matches the coordinate system of the substrate W defined by the position reference mark W1 of the substrate W. Thereby, the opening center coordinates stored in the opening position storage means 91 and the like of the server computer 9 are expressed in the coordinate system defined by the position reference mark S1 of the mask S as described above. By making the coordinate system of the mask S and the coordinate system of the substrate W coincide with each other, the opening center coordinates are also expressed in the coordinate system defined by the position reference mark W1 of the substrate W.
なおマスクSと基板Wの一方または両方に製造誤差や伸び等が発生し、マスクSおよび基板Wの印刷対象領域の全域については両者の座標系を一致させることができない場合がある。このような場合には、基板W上の回路パターンに対するペースト(クリームハンダ)の印刷位置ずれに過敏なたとえば微細部品の搭載領域を優先してマスクSと基板Wとの位置合わせを調整してもよい。このような調整は、測定されたマスクSおよび基板Wの位置基準マークS1,W1の位置および距離(伸び量)に応じて、演算処理部291によって自動的に行うことができる。あるいは、オペレータ等が目視により調整量を判断して、印刷機2に入力することで位置合わせを調整してもよい。特に新たな種類の基板Wの生産を開始する際には、マスクSや基板Wの微小な製造誤差等に対応するため、マスクSと基板Wの位置基準マークS1,W1に基づく位置合わせに対するオフセット調整量を設定するようにしてもよい。 In addition, a manufacturing error, elongation, or the like occurs in one or both of the mask S and the substrate W, and the coordinate systems of the mask S and the substrate W may not be able to coincide with each other. In such a case, even if the positioning of the mask S and the substrate W is adjusted with priority given to, for example, a mounting area of a fine component that is sensitive to the printing position shift of the paste (cream solder) with respect to the circuit pattern on the substrate W. Good. Such adjustment can be automatically performed by the arithmetic processing unit 291 in accordance with the measured positions and distances (elongation amounts) of the position reference marks S1 and W1 of the mask S and the substrate W. Alternatively, the operator or the like may visually determine the adjustment amount and input it to the printing press 2 to adjust the alignment. In particular, when production of a new type of substrate W is started, an offset with respect to the alignment based on the position reference marks S1 and W1 of the mask S and the substrate W in order to cope with a minute manufacturing error of the mask S and the substrate W. An adjustment amount may be set.
こうしてマスクSに対して基板Wの位置合わせが行われれば、基板WをマスクSへ密着させて(ステップS35)、スキージ241を動作させてペースト(クリームハンダ)の印刷を実行する(ステップS36)。印刷が完了すれば基板WをマスクSから分離する(ステップS37)。 When the alignment of the substrate W with respect to the mask S is performed in this manner, the substrate W is brought into close contact with the mask S (step S35), and the squeegee 241 is operated to execute paste (cream solder) printing (step S36). . When printing is completed, the substrate W is separated from the mask S (step S37).
そして、サーバ通信手段297により、印刷が行われた基板Wを特定可能な基板ID情報と、印刷に用いたマスクSを特定可能なマスクID情報とを関連付けてサーバコンピュータ9に送信し、使用マスク記憶手段92に保存させる(ステップS38)。このとき、上述したようにマスクSと基板Wの位置基準マークS1,W1の位置に応じた位置合わせに加えて、位置合わせの調整を行った場合には、その調整量も基板ID情報およびマスクID情報に関連付けて保存しておくようになっている。 Then, the server communication unit 297 associates the substrate ID information that can specify the printed substrate W with the mask ID information that can specify the mask S used for printing, and transmits it to the server computer 9 to use the mask. The data is stored in the storage unit 92 (step S38). At this time, in addition to the alignment according to the positions of the position reference marks S1 and W1 of the mask S and the substrate W as described above, when the alignment is adjusted, the adjustment amount is also determined by the substrate ID information and the mask. The information is stored in association with the ID information.
こうしてマスクSと基板Wとを関連付けた情報が保存されれば、印刷の完了した基板が搬出され(ステップS39)、印刷ステップが終了する。なお同じマスクSを使用して次の基板Wへの印刷を続ける場合には、ステップS31から繰り返せばよい。 If the information associating the mask S and the substrate W is thus saved, the printed substrate is carried out (step S39), and the printing step is completed. When printing on the next substrate W is continued using the same mask S, the process may be repeated from step S31.
図10は、実装機における実装動作手順の一例を示すフローチャートである。 FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a mounting operation procedure in the mounting machine.
実装機1における実装動作では、まず生産する基板Wの種類に応じて生産プログラム(実装プログラム)がオペレータ等によって選択される(ステップS40)。この選択は、実装システム全体を管理するサーバコンピュータ9等によってネットワークを介して行ってもよい。 In the mounting operation in the mounting machine 1, a production program (mounting program) is first selected by an operator or the like according to the type of substrate W to be produced (step S40). This selection may be performed via a network by the server computer 9 or the like that manages the entire mounting system.
実装機1が起動すると(ステップS41)、プログラムカウンタがクリアされる(ステップS42)。そして、印刷機2またはより上流側の実装機等からペースト(クリームハンダ)が印刷された基板Wが搬入され、所定の実装作業位置に位置決めされる(ステップS43)。 When the mounting machine 1 is activated (step S41), the program counter is cleared (step S42). Then, the substrate W on which the paste (cream solder) is printed is loaded from the printing machine 2 or a mounting machine on the upstream side, and positioned at a predetermined mounting work position (step S43).
基板Wが位置決めされると、基板撮影カメラ18により、基板Wに形成された識別マークW3が読み取られ、基板ID情報が取得される(ステップS44)。これにより、実装対象の基板Wが特定され、実装機1に認識される。 When the substrate W is positioned, the substrate imaging camera 18 reads the identification mark W3 formed on the substrate W, and acquires substrate ID information (step S44). Thereby, the board | substrate W of mounting object is specified, and the mounting machine 1 recognizes.
続いて、生産プログラム(実装プログラム)に従って、ヘッドユニット14により部品供給部13から電子部品が吸着される(ステップS45)。吸着された部品は部品撮影カメラ17により撮影され、画像処理部196により部品の種類および吸着状態(吸着位置)が認識される(ステップS46)。 Subsequently, according to the production program (mounting program), the electronic component is sucked from the component supply unit 13 by the head unit 14 (step S45). The sucked component is photographed by the component photographing camera 17, and the type and the sucking state (sucking position) of the component are recognized by the image processing unit 196 (step S46).
そして、演算処理部191により、この吸着された部品についての、印刷機2における印刷工程で使用されたマスクSの開口部中心座標が、サーバコンピュータ9の開口部位置記憶手段91からサーバ通信手段197を介して取得される(ステップS47)。具体的には、サーバコンピュータ9の使用マスク記憶手段92から、当該基板Wの印刷に使用したマスクSを特定するマスクID情報を検出し、そのマスクSにおける開口部中心座標が開口部位置記憶手段91から引き出される。ここで、当該基板Wの印刷に当たってマスクSと基板Wの位置基準マークS1,W1の位置に応じた位置合わせに加えて、位置合わせの調整が行われ、その調整量が使用マスク記憶手段92に保存されている場合には、その調整量も取得する。 Then, by the arithmetic processing unit 191, the opening center coordinate of the mask S used in the printing process in the printing machine 2 for the sucked part is transferred from the opening position storage unit 91 of the server computer 9 to the server communication unit 197. (Step S47). Specifically, mask ID information for identifying the mask S used for printing the substrate W is detected from the used mask storage unit 92 of the server computer 9, and the opening center coordinates in the mask S are the opening position storage unit. It is drawn from 91. Here, in the printing of the substrate W, in addition to the alignment according to the positions of the mask S and the position reference marks S1 and W1 of the substrate W, the alignment is adjusted, and the adjustment amount is stored in the used mask storage unit 92. If saved, the adjustment amount is also acquired.
続いて、演算処理部191により、吸着された部品の基板W上における実装位置(搭載座標)が設定される(ステップS48)。この実装位置の設定は、生産プログラム(実装プログラム)において予め設定されている基板Wの回路パターンに応じた搭載座標を、マスクSの開口部S2の位置に基づいて算出される部品中心座標によって補正することによって行われる。この実施形態では、演算処理部191が、マスクSの開口部S2の位置に基づいて基板W上における電子部品の実装位置を設定する実装位置設定手段として機能する。ここで、当該基板Wの印刷に当たってマスクSと基板Wの位置基準マークS1,W1の位置に応じた位置合わせに加えて、位置合わせの調整が行われている場合には、その調整量も加味して実装位置が設定される。 Subsequently, the mounting position (mounting coordinates) of the sucked component on the substrate W is set by the arithmetic processing unit 191 (step S48). The mounting position is set by correcting the mounting coordinates corresponding to the circuit pattern of the substrate W set in advance in the production program (mounting program) with the component center coordinates calculated based on the position of the opening S2 of the mask S. Is done by doing. In this embodiment, the arithmetic processing unit 191 functions as a mounting position setting unit that sets the mounting position of the electronic component on the substrate W based on the position of the opening S2 of the mask S. Here, in the printing of the substrate W, in addition to the alignment according to the positions of the mask S and the position reference marks S1 and W1 of the substrate W, the adjustment amount is also taken into account. The mounting position is set.
図11(b)は、基板Wに印刷・塗布されたペーストの位置に基づく電子部品の実装位置と、基板Wに形成された回路パターンに基づく電子部品の実装位置の説明図である。 FIG. 11B is an explanatory diagram of the mounting position of the electronic component based on the position of the paste printed / applied on the substrate W and the mounting position of the electronic component based on the circuit pattern formed on the substrate W.
基板Wに塗布されたペースト(クリームハンダ)は、マスクSの開口部S2と同じ位置にある。そしてこのペーストPの位置は、理想的には基板Wの回路パターン(電極部)W2と一致する。しかしながら、マスクSまたは基板Wの製造誤差や伸び等の変形のため、全ての部品搭載位置において、ペーストPの位置と回路パターンW2とが完全には一致しないのが現状である。 The paste (cream solder) applied to the substrate W is at the same position as the opening S2 of the mask S. The position of the paste P ideally matches the circuit pattern (electrode part) W2 of the substrate W. However, the current situation is that the position of the paste P and the circuit pattern W2 do not completely match at all the component mounting positions due to deformation such as a manufacturing error or elongation of the mask S or the substrate W.
そこで、この実施形態では、同図に示すように、回路パターンW2の位置に基づいて設定されている生産プログラムにおける搭載座標C2を、ペーストPの位置を示す開口部中心座標C1に基づいて補正して、実装位置を設定する。当該基板Wの印刷に当たってマスクSと基板Wの位置基準マークS1,W1の位置に応じた位置合わせに加えて、位置合わせの調整が行われていなければ、実装位置は開口部中心座標C1に設定されることになる。 Therefore, in this embodiment, as shown in the figure, the mounting coordinates C2 in the production program set based on the position of the circuit pattern W2 is corrected based on the opening center coordinates C1 indicating the position of the paste P. To set the mounting position. In the printing of the substrate W, in addition to the alignment according to the positions of the mask S and the position reference marks S1, W1 of the substrate W, if the alignment is not adjusted, the mounting position is set to the opening center coordinate C1. Will be.
吸着された部品を搭載すべき基板W上の座標(実装位置)が設定されれば、その実装位置に向かって部品を吸着した吸着ノズルを移動させる(ステップS49)。このとき、部品撮影カメラ17の撮影結果に基づく部品の吸着状態(吸着位置)をさらに加味して、吸着ノズルに吸着されている部品の中心が、前記設定された搭載座標(実装位置)に到達するように、吸着ノズルの移動量が制御される。 If the coordinates (mounting position) on the substrate W on which the sucked component is to be mounted are set, the suction nozzle that sucks the component is moved toward the mounting position (step S49). At this time, by further taking into account the suction state (suction position) of the component based on the imaging result of the component imaging camera 17, the center of the component suctioned by the suction nozzle reaches the set mounting coordinate (mounting position). Thus, the amount of movement of the suction nozzle is controlled.
吸着された部品が設定された実装位置に移送されれば、吸着ノズルを降下させ、基板W上に部品が装着され(ステップS50)、当該部品についての実装動作が完了したためプログラムカウンタをインクリメントする(ステップS51)。 When the sucked component is transferred to the set mounting position, the suction nozzle is lowered, the component is mounted on the substrate W (step S50), and the program counter is incremented because the mounting operation for the component is completed (step S50). Step S51).
以上の部品の実装動作(ステップS45〜S51)を全ての部品の装着が完了するまで繰り返し(ステップS52でNO)、全ての部品の装着が完了すれば(ステップS52でYES)、部品装着の完了した基板Wを搬出して(ステップS53)、当該実装機1における一連の部品実装動作を終了する。 The above component mounting operation (steps S45 to S51) is repeated until the mounting of all the components is completed (NO in step S52). When the mounting of all the components is completed (YES in step S52), the mounting of the components is completed. The board W thus carried out is carried out (step S53), and a series of component mounting operations in the mounting machine 1 is completed.
以上のように、本実施形態の実装システムによれば、マスクSを撮影して測定された開口部S2の位置に基づいて電子部品の実装位置が設定されるため、基板W上に印刷されるクリームハンダ等のペーストP上に電子部品を確実に搭載して実装不良の低減を図ることができる。また、基板W上に実際に印刷されたペーストPの位置を各基板W毎に測定することもなく、高い生産効率を得ることができる。 As described above, according to the mounting system of the present embodiment, the mounting position of the electronic component is set based on the position of the opening S <b> 2 measured by photographing the mask S, and is thus printed on the substrate W. An electronic component can be reliably mounted on the paste P such as cream solder to reduce mounting defects. In addition, high production efficiency can be obtained without measuring the position of the paste P actually printed on the substrate W for each substrate W.
また基板W上に印刷されたクリームハンダ等を検出する場合、背景となる基板Wの材質や色、あるいは基板W上に形成された回路パターン等に影響されやすく高い測定精度が得られにくい。この点において、上記実施形態では、基板W上に実際に印刷されたペーストではなく、マスクSを撮影するため、より正確に開口部S2の位置を測定して、ペーストP上への確実な電子部品の搭載に寄与することができる。また、基板W上に印刷されたクリームハンダ等をより正確に測定するための高価な照明やカメラ等の光学機器を必要とすることもない。 Further, when detecting cream solder printed on the substrate W, it is easily influenced by the material and color of the substrate W as a background or a circuit pattern formed on the substrate W, and it is difficult to obtain high measurement accuracy. In this respect, in the above-described embodiment, since the mask S is photographed instead of the paste actually printed on the substrate W, the position of the opening S2 is measured more accurately, and reliable electrons on the paste P are measured. This can contribute to the mounting of parts. Further, there is no need for expensive illumination or optical equipment such as a camera for more accurately measuring cream solder or the like printed on the substrate W.
また、一旦測定された開口部の位置情報が開口部位置記憶手段91等に記憶されるため、この記憶された開口部の位置情報を用いることにより、一度測定が行われたマスクSについては再度の測定を行うこともなく実装位置の設定を行うことができ、さらに高い生産効率を得ることができる。 Further, since the position information of the opening once measured is stored in the opening position storage means 91 and the like, the mask S once measured is again used by using the stored position information of the opening. The mounting position can be set without performing the above measurement, and higher production efficiency can be obtained.
また、印刷機2においてマスクSを使用するとき、位置基準マークS1間の距離が過去に測定された距離と比較され、変化が第1の許容範囲を越えていれば印刷機2での印刷をしないようにし、変化が第1の許容範囲を越えてはいないが、第1の許容範囲より小さい第2の許容範囲を越えていれば印刷機2において開口部S2の位置が再測定される。このため、マスクSに伸びが発生した場合等であっても、現状と異なる開口部S2の位置情報に基づいて実装位置が設定されることを未然に防止することができる。この比較における距離の基準データは、印刷使用回数が少なく伸びの小さい状態のマスクSに対し、撮影することで得ることができる。さらには、ガーバーデータ(マスク製作用データ)に基づいて取得しても良い。 Further, when the mask S is used in the printing machine 2, the distance between the position reference marks S1 is compared with the distance measured in the past, and if the change exceeds the first allowable range, printing on the printing machine 2 is performed. If the change does not exceed the first allowable range but exceeds the second allowable range smaller than the first allowable range, the position of the opening S2 is re-measured in the printing press 2. For this reason, even when elongation occurs in the mask S, it is possible to prevent the mounting position from being set based on the position information of the opening S2 different from the current state. The distance reference data in this comparison can be obtained by photographing the mask S in a state where the number of times of printing use is small and the elongation is small. Furthermore, you may acquire based on Gerber data (mask manufacturing action data).
また、各基板W毎に印刷に使用したマスクSが使用マスク記憶手段92に記憶されるため、同種類の基板Wの印刷に使用するマスクSを交換した場合等であっても、各基板Wの印刷に実際に使用されたマスクSを確実に特定し、各基板Wに印刷されたペーストの位置に基づいて実装位置を設定することができる。 In addition, since the mask S used for printing for each substrate W is stored in the use mask storage unit 92, even when the mask S used for printing the same type of substrate W is exchanged, etc. Thus, the mounting position can be set based on the position of the paste printed on each substrate W.
なお上記実施形態においては、実装システムに、生産ラインを構成せず、オフラインでマスクSの開口部S2の位置を測定するマスク開口部測定装置5を備えたが、マスクSの開口部S2の位置測定は印刷機2のみで行うようにしてもよい。逆に、マスクSの開口部S2の位置測定をオフラインのマスク開口部測定装置5のみで行うようにしてもよい。 In the above embodiment, the mounting system includes the mask opening measuring device 5 that does not constitute a production line and measures the position of the opening S2 of the mask S offline, but the position of the opening S2 of the mask S is not included. The measurement may be performed only by the printing press 2. Conversely, the position measurement of the opening S2 of the mask S may be performed only by the off-line mask opening measuring device 5.
なお、伸びの判断のための使用するマスクを撮影してその複数の位置基準マーク間の距離の測定は、マスクSの開口部S2の位置測定をする機会に合わせて行うようにするので、印刷機2で行うのみでなく、マスク開口部測定装置5で行っても良い。さらに、上記実施形態においては、伸びに応じて実装位置の設定を再実施し、印刷の中止をするようにしているが、いずれか一方のみをするようにしても良い。 Note that the mask used for determining the elongation is photographed, and the distance between the plurality of position reference marks is measured in accordance with the opportunity to measure the position of the opening S2 of the mask S. Not only with the machine 2, but with the mask opening measuring device 5. Furthermore, in the above-described embodiment, the mounting position is set again according to the elongation, and the printing is stopped. However, only one of them may be performed.
また上記実施形態では、測定したマスクSの開口部S2の位置情報を、測定を行ったマスク開口部測定装置5または印刷機2と、サーバコンピュータ9とに記憶するようにしたが、いずれか1箇所のみに記憶するようにしてもよい。あるいは、実装機1に開口部位置記憶手段を設け、印刷機2等で測定した開口部S2の位置情報を実装機1に送信して、実装機1で記憶しておくようにしてもよい。 In the above embodiment, the positional information of the measured opening S2 of the mask S is stored in the measured mask opening measuring device 5 or the printing machine 2 and the server computer 9. You may make it memorize | store only in a location. Alternatively, the mounting machine 1 may be provided with an opening position storage unit, and the position information of the opening S2 measured by the printing machine 2 or the like may be transmitted to the mounting machine 1 and stored in the mounting machine 1.
また上記実施形態では、測定された開口部S2の位置に基づく電子部品の実装位置の設定を実装機1において行うようにしたが、たとえばサーバコンピュータ9に実装位置設定手段を設けて、サーバコンピュータ9等で実装位置を算出し、設定して、この設定結果に基づいて実装機1が電子部品の実装動作を行うようにしてもよい。 In the above embodiment, the mounting position of the electronic component is set in the mounting machine 1 based on the measured position of the opening S2. For example, the server computer 9 is provided with mounting position setting means, and the server computer 9 For example, the mounting position may be calculated and set, and the mounting machine 1 may perform the electronic component mounting operation based on the setting result.
また上記実施形態ではペーストが印刷された各基板Wについて基板を特定可能な基板ID情報と、その印刷に使用したマスクSを特定可能なマスクID情報とをサーバコンピュータ9において記憶するようにしたが、印刷機2または実装機1等の他の設備に使用マスク記憶手段を設けて、印刷機2または実装機1等で使用したマスクSを記憶しておくようにしてもよい。 In the above embodiment, the server computer 9 stores the substrate ID information that can specify the substrate for each substrate W on which the paste is printed and the mask ID information that can specify the mask S used for the printing. Alternatively, the use mask storage means may be provided in other equipment such as the printing machine 2 or the mounting machine 1 to store the mask S used in the printing machine 2 or the mounting machine 1 or the like.
また開口部位置記憶手段に記憶しておく開口部の位置情報は、電子部品の実装位置の設定に供することができる形態であればよく、上記実施形態のように、各開口部S2によって塗布されるクリームハンダ(ペースト)の上に実装される電子部品の中心座標としても、あるいは各開口部S2自身の座標や形状データ等としてもよい。 The position information of the opening stored in the opening position storage means may be in any form that can be used for setting the mounting position of the electronic component, and is applied by each opening S2 as in the above embodiment. The center coordinates of the electronic component mounted on the cream solder (paste) or the coordinates and shape data of each opening S2 itself may be used.
また、開口部位置測定手段により測定する開口部S2は、マスクSに形成された開口部S2の一部だけであってもよい。たとえば実装位置に極めて高い精度が求められる微細部品を載せるペーストのための開口部S2のみとしてもよい。 Further, the opening S2 measured by the opening position measuring means may be only a part of the opening S2 formed in the mask S. For example, only the opening S2 for a paste on which a fine component requiring extremely high accuracy is required at the mounting position may be used.
またマスクSの撮影は、実装動作前であればよく、基板Wへのペーストの印刷前であっても印刷後であってもよい。 The mask S may be photographed before the mounting operation, and may be before or after the paste is printed on the substrate W.
また上記実施形態では実装機1…および印刷機2について具体的構成例を説明したが、両者とも、基板とカメラやマスクあるいはヘッドユニット等を相対移動させる機構等は任意のタイプを採用することができる。 In the above embodiment, specific configuration examples have been described for the mounting machine 1... And the printing machine 2. However, in both cases, a mechanism for moving the substrate and the camera, the mask, the head unit, or the like relative to each other may adopt any type. it can.
1 実装機
18 基板撮影カメラ
2 印刷機
251 マスク撮影カメラ
252 基板撮影カメラ
296 マスク開口情報記憶手段
5 マスク開口部測定装置
52 マスク撮影カメラ
596 マスク開口情報記憶手段
9 サーバコンピュータ
91 開口部位置記憶手段
92 使用マスク記憶手段
W 基板
W1 位置基準マーク
W2 回路パターン(電極部)
S マスク(スクリーン)
S1 位置基準マーク
S2 開口部
P ペースト(クリームハンダ)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mounting machine 18 Board | substrate photography camera 2 Printing machine 251 Mask photography camera 252 Board photography camera 296 Mask opening information storage means 5 Mask opening part measuring device 52 Mask photography camera 596 Mask opening information storage means 9 Server computer 91 Opening part position storage means 92 Used mask storage means W Substrate W1 Position reference mark W2 Circuit pattern (electrode part)
S mask (screen)
S1 Position reference mark S2 Opening P Paste (cream solder)
Claims (7)
開口部が形成されたマスクを介して基板上にペーストを印刷する印刷機と、
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する開口部位置測定手段と、
測定された開口部の位置に基づいて基板上における電子部品の実装位置を設定する実装位置設定手段と、
設定された実装位置に電子部品を実装する実装機と、
前記開口部位置測定手段によって開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする実装システム。 A mounting system for mounting electronic components on a board,
A printing machine for printing a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
An opening position measuring means for photographing the mask and measuring the position of the opening;
Mounting position setting means for setting the mounting position of the electronic component on the substrate based on the position of the measured opening;
A mounting machine for mounting electronic components at a set mounting position;
About the mask whose position of the opening is measured by the opening position measuring means, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
A mounting system characterized by comprising:
使用するマスクを撮影してその複数の位置基準マーク間の距離を測定するマーク間距離測定手段と、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離を前記開口部位置記憶手段に記憶されている前記距離の基準データと比較し、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離の前記距離の基準データに対する変化が、第1の許容値を越える場合に印刷否と判断する印刷可否判断手段と、を備えた請求項1に記載の実装システム。 Said opening position storage means, the distance between a plurality of position reference marks formed on the mask is configured to store the reference data of distance, and a first allowable value,
An inter-mark distance measuring unit that photographs a mask to be used and measures a distance between the plurality of position reference marks, and a distance measured by the inter-mark distance measuring unit is stored in the opening position storage unit. A print propriety judging means for judging that the print is rejected when a change of the distance measured by the inter-mark distance measuring means with respect to the reference data of the distance exceeds a first allowable value in comparison with the distance reference data; The mounting system according to claim 1 provided.
使用するマスクを撮影してその複数の位置基準マーク間の距離を測定するマーク間距離測定手段と、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離を前記開口部位置記憶手段に記憶されている前記距離の基準データと比較し、前記マーク間距離測定手段によって測定された距離の前記距離の基準データに対する変化が、第2の許容値を越える場合に再度マスクを撮像させ、前記開口部位置測定手段と実装位置設定手段を機能させて、電子部品の実装位置を再設定するようにする実装位置再設定手段と、を備えた請求項1または2に記載の実装システム。 Said opening position storage means, the distance between a plurality of position reference marks formed on the mask is configured to store the reference data of distance, and a second tolerance value,
An inter-mark distance measuring unit that photographs a mask to be used and measures a distance between the plurality of position reference marks, and a distance measured by the inter-mark distance measuring unit is stored in the opening position storage unit. When the change of the distance measured by the inter-mark distance measuring unit with respect to the reference data of the distance exceeds a second allowable value, the mask is imaged again, and the opening position measuring unit implementation system according to claim 1 or 2 with the mounting position setting means is caused to function, the mounting position resetting means adapted to reset the mounting position of the electronic component, a.
前記マスクを撮影して測定された開口部の位置情報に基づいて設定される基板上の実装位置に電子部品を実装する手段と、
開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする実装機。 A mounting machine for mounting electronic components on a substrate printed with a paste through a mask in which an opening is formed,
Means for mounting an electronic component at a mounting position on a substrate set based on position information of an opening measured by photographing the mask ;
About the mask whose position of the opening is measured, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
Mounter which comprising the.
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する開口部位置測定手段と、
電子部品の実装位置の設定に供するために、測定された開口部の位置情報を送信する送信手段と、
前記開口部位置測定手段によって開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶する開口部位置記憶手段と、
を備えたことを特徴とする印刷機。 Printing means for printing a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
An opening position measuring means for photographing the mask and measuring the position of the opening;
In order to provide the setting of the mounting position of the electronic component, transmitting means for transmitting the position information of the measured opening,
About the mask whose position of the opening is measured by the opening position measuring means, information that can identify each mask and the position information of the opening of each mask are stored in association with each other.
A printing machine comprising:
開口部が形成されたマスクを介して基板上にペーストを塗布する印刷ステップと、
前記マスクを撮影してその開口部の位置を測定する測定ステップと、
測定された開口部の位置に基づいて基板上における電子部品の実装位置を設定する設定ステップと、
設定された実装位置に電子部品を実装する実装ステップと、
開口部の位置が測定されたマスクについて、各マスクを特定可能な情報と、各マスクの開口部の位置情報とを関連付けて記憶するステップと、
を備えたことを特徴とする電子部品の実装方法。
A mounting method for mounting electronic components on a substrate,
A printing step of applying a paste on a substrate through a mask in which an opening is formed;
A measurement step of photographing the mask and measuring the position of the opening;
A setting step for setting the mounting position of the electronic component on the substrate based on the position of the measured opening;
A mounting step for mounting an electronic component at a set mounting position;
For the mask in which the position of the opening is measured, storing information that can identify each mask and position information of the opening of each mask in association with each other;
An electronic component mounting method characterized by comprising:
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