JP2000205499A - 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法 - Google Patents

液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法

Info

Publication number
JP2000205499A
JP2000205499A JP11009251A JP925199A JP2000205499A JP 2000205499 A JP2000205499 A JP 2000205499A JP 11009251 A JP11009251 A JP 11009251A JP 925199 A JP925199 A JP 925199A JP 2000205499 A JP2000205499 A JP 2000205499A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
supply
pipe
storage container
liquid
vacuum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11009251A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Nakagawa
利幸 中川
Naoyuki Nakamoto
直之 中本
Osamu Nishiyama
修 西山
Kenji Nakamura
健二 中村
Takashi Tsujiguchi
孝志 辻口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Air Liquide Japan GK
Original Assignee
Air Liquide Japan GK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Air Liquide Japan GK filed Critical Air Liquide Japan GK
Priority to JP11009251A priority Critical patent/JP2000205499A/ja
Publication of JP2000205499A publication Critical patent/JP2000205499A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Filling Or Discharging Of Gas Storage Vessels (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 成膜用液体材料の貯蔵容器を交換する場合の
パージ作業を容易化且つ確実化するための手段を提供す
ること。 【解決手段】 本発明は、貯蔵容器22の液体供給口に
取外し可能に接続された供給用配管34と、貯蔵容器の
圧送ガス取入れ口に取外し可能に接続された圧送用配管
40と、供給用配管及び圧送用配管の間を連通するバイ
パス配管66と、供給用配管にパージガスを供給するパ
ージガス供給手段46,48と、供給用配管内を真空引
きする真空引き手段とを備える液体供給装置において、
前記真空引き手段を、所定の真空度に内部が減圧される
よう構成され且つ圧送用配管に接続された真空容器94
を備えたものとしたことを特徴としている。この構成に
おいては、真空ポンプ等の真空排気装置を直接配管に接
続せずに、真空容器を用いて配管内の真空引きを短時間
且つ安定的に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造プロセ
ス等で用いられる液体材料を所定の使用先に供給するた
めの液体供給装置に関し、特に、液体材料を貯蔵する貯
蔵容器を交換する際に行う配管内のパージ作業のための
手段に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積デバイスや液晶パネル等のマ
イクロ・エレクトロニクス・デバイスを製造するために
は、基板上に様々な材料の膜を成膜する必要がある。こ
の成膜方法としてはPVD(物理的気相堆積)法とCV
D(化学的気相堆積)法が広く一般に知られている。
【0003】ところで、主としてCVD法による成膜プ
ロセスにおいては、TiCl4(四塩化チタン)やSi
(OC254(TEOS)等の液体材料を成膜材料と
して用いることがある。従来、このような液体材料は、
図2に示すような液体供給装置1により所定の使用先、
例えば液体材料をプロセスガスにガス化するためのガス
化装置に供給されるようになっている。
【0004】図示の液体供給装置1は、基本的には、液
体材料が充填されている小型の貯蔵容器2に接続される
配管系から構成されており、貯蔵容器2の液体供給口に
継手3を介して接続され使用先に延びる供給用配管4
と、貯蔵容器2の圧送ガス取込み口に継手5を介して接
続されHeガス等の圧送ガス供給源6に接続された圧送
用配管7とを備えている。かかる構成において、圧送ガ
ス供給源6から圧送ガスを貯蔵容器2内に送り込むと、
貯蔵容器2の内部空間の圧力が高められて、液体材料が
貯蔵容器2の液体供給口から供給用配管4に圧送され
る。
【0005】一般に、貯蔵容器2は、空になると、液体
材料が十分に充填された新しい貯蔵容器に交換される。
半導体製造プロセスで用いられる液体材料は可燃性、有
毒性等を有するものであるので、貯蔵容器2を液体供給
装置1から取り外す前には、供給用配管4のバルブ8と
貯蔵容器2の液体供給口のバルブ9との間に存在する液
体材料をN2ガス等のパージガスでパージする必要があ
り、また、新しい容器2を接続した後は、交換時に配管
4,7内に入り込んだ大気をパージしなければならな
い。このため、従来の液体供給装置1には、配管4,7
内の液体等を吸引・排出するための排出用配管10、窒
素ガス等のパージガスを配管4内に封入するためのパー
ジガス用配管11、及び、バイパス配管12を備えるシ
ステムが設けられている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、通常、
成膜用の液体材料は沸点が高いため、常温下では液体で
存在し且つ蒸気圧も極めて低いため、図2に示す一般的
なパージシステムを用いてパージ作業を入念に行ったと
しても、継手やバルブに液体材料が液相のまま残存する
ことがある。すなわち、排出用配管10に用いられてい
る真空排気装置13は、従来構成においてはその到達真
空度が50〜60Torr程度(ガスエジェクタ型真空
発生器の場合)に過ぎないため、配管4,7,12内の
ガス及び液体材料を吸引、排出しても、常温下での蒸気
圧が10mmHg以下である四塩化チタンのような液体
材料については、液滴が配管内、特に継手やバルブに残
存する可能性が高かった。
【0007】この問題点は、真空排気装置13の到達真
空度を高めることで解決することができる。実際にオイ
ルレス型の真空ポンプは1Torr、オイル型の真空ポ
ンプでは0.01Torrの到達真空度が得られる。し
かしながら、オイルレス型真空ポンプは所定の真空度に
到達するのに時間がかかり、また、オイル型真空ポンプ
ではオイル成分の逆拡散という問題が生じ、いずれも単
独での使用は困難であった。
【0008】また、腐食性の高い液体材料が真空排気装
置、特にオイルレス型真空ポンプに混入すると、駆動中
にその性能に悪影響を及ぼすことが経験上指摘されてい
る。例えば、真空ポンプの内壁面に液体材料が付着する
と、到達真空度が低下するという現象が現れることがあ
る。
【0009】そこで、従来においては、図3(図2と同
一又は相当部分には同一符号を付す)に示すように、真
空排気装置としてガスエジェクタ型の真空発生器(到達
真空度30〜60Torr)14とオイルレス型の真空
ポンプ(到達真空度1Torr)15とを切替え使用可
能とすると共に、配管4,7,10,12にテープヒー
タ(図示しない)を巻き付けたパージシステムが提案、
採用されている。このようなシステムにおいては、テー
プヒータにより配管内部を加温して液体材料のガス化を
促す一方、配管内の残液分を貯蔵容器2に戻す。そし
て、使用先側の(図3の符号16の位置)から微量のパ
ージガス(窒素ガス)を流しながら、ガスエジェクタ型
の真空発生器14を用いて真空引きを行う。この後、真
空発生器14による真空引きとパージガスの封入を繰り
返すサイクルパージを実施し、最後に、オイルレス型真
空ポンプ15を用いて配管4,7,12内を高真空度に
減圧し、パージガスを封入してから全バルブを閉じ貯蔵
容器2を配管4,7から切り離すのである。
【0010】しかしながら、かかるパージ作業では、ガ
スエジェクタ型真空発生器を繰り返し使用し、且つま
た、安定運転に達するまで長時間を要する真空ポンプを
使用しているので、作業時間が長くなるという問題点が
ある。
【0011】そこで、本発明は、上述した従来における
課題を解決することのできる液体供給装置、及び、パー
ジ方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明は、交換式貯蔵容器に貯蔵され
た液体材料を使用先に供給するための液体供給装置にお
いて、前記貯蔵容器の液体供給口に取外し可能に接続さ
れ、前記貯蔵容器内の液体材料を使用先に供給する供給
用配管と、前記貯蔵容器の圧送ガス取入れ口に取外し可
能に接続され、前記貯蔵容器内に圧送ガスを導入して前
記供給用配管を通して液体材料を圧送させる圧送用配管
と、前記供給用配管及び前記圧送用配管の間を連通する
バイパス配管と、前記供給用配管にパージガスを供給す
るパージガス供給手段と、前記供給用配管内を真空引き
する真空引き手段とを備え、前記真空引き手段を、所定
の真空度に内部が減圧されるよう構成され且つ前記圧送
用配管に接続された真空容器を備えたものとしたことを
特徴としている。
【0013】この構成においては、真空ポンプ等の真空
排気装置を直接配管に接続せずに、真空容器を用いて配
管内の真空引きを行うこととしている。すなわち、真空
容器内を予め減圧しておき、その真空容器を配管に連通
することで、短時間のうちに配管の真空引きを行うこと
が可能となる。しかも、真空ポンプ等に直接、液体材料
の成分が流れることがないので、真空ポンプに悪影響を
及ぼすこともない。更に、真空容器の容積を十分に大き
くすれば、配管内を安定した態様で真空引きすることが
可能となる。かかるパージ方法が、請求項3に係る発明
に相当するものである。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明の好適な
実施形態について詳細に説明する。
【0015】図1は、本発明による液体供給装置の一実
施形態を示すものである。図示の液体供給装置20は、
半導体デバイスや液晶パネル等を製造する場合の成膜プ
ロセスで用いられる液体材料を成膜装置(使用先)に液
相のままで供給するためのものである。成膜用の液体材
料としては、四塩化チタン、テオス、TMOP(トリメ
チルホスフェート)、TMP(トリメチルホスファイ
ト)、TEB(トリエチルボレート)、ペンタエトキシ
タンタリウム、ペンタメトキシタンタリウム等、種々あ
り、いずれも本発明において適用可能であるが、以下で
は、四塩化チタンをCVD成膜装置におけるガス化装置
(図示しない)に供給するものとして説明する。
【0016】液体供給装置20は、液体材料、すなわち
四塩化チタンが貯蔵された交換式の貯蔵容器22を接続
して用いられる。この貯蔵容器22は、例えば容量が6
リットル程度の小型の円筒形密閉容器であり、所定量の
液体材料が充填された状態のものが購入され使用され
る。貯蔵容器22は、容器本体23の天板部を貫通し下
端が底部の近傍に位置する第1の管24と、同じく天板
部を貫通するが下端が上部空間で終端している第2の管
26とを有している。第1の管24の上端は液体供給口
25として、また、第2の管26の上端は圧送ガス取入
れ口27として機能し、各管24,26には開閉バルブ
28,30が設けられている。
【0017】液体供給装置20は、前述した従来構成と
同様に、貯蔵容器22の液体供給口25に切離し可能な
継手32により接続され使用先に続く供給用配管34
と、ヘリウムガス等の圧送ガスをその供給源36から貯
蔵容器22の内部に供給すべく貯蔵容器22の圧送ガス
取入れ口27に切離し可能な継手38により接続される
圧送用配管40とを備えている。供給用配管34には貯
蔵容器を交換する際に閉じられるバルブ42が設けら
れ、圧送用配管40には圧送用ガスの供給バルブ44が
設けられている。
【0018】また、これらの配管34,40内の液体材
料やガスをパージするためのパージシステムとして、窒
素ガス等のパージガスをその供給源46から圧送用配管
40に送り込む第1のパージガス用配管48と、配管3
4,40内の液体材料やガスを外部に排出するために圧
送用配管40に接続された第1の排出用配管50とを備
えている。第1の排出用配管50は、分岐配管52,5
4を介して、到達真空度が低い(例えば50Torr程
度)真空排出装置、好ましくはガスエジェクタ型の真空
発生器56と、到達真空度が高い(1Torr以下)真
空排出装置、好ましくはオイルレス型の真空ポンプ58
とに接続されており、これらの真空排出装置56,58
はバルブ60,62,64により選択的に使用されるよ
うになっている。これらの真空排出装置56,58から
排出されたガスは、適当なガス処理装置(図示しない)
を介して、大気に放出される。
【0019】更に、供給用配管34及び圧送用配管40
の間を連通するバイパス配管66が、可能な限りバルブ
28,30の近傍に配設されている。更にまた、供給用
配管34のバルブ42と継手32との間であって、バル
ブ42の近傍位置には、窒素ガス等のパージガスをその
供給源68から供給用配管34に送り込むための第2の
パージガス用配管70が接続されている。なお、配管4
8,50,66,70にはそれぞれバルブ72,74,
76,78が設けられているが、特にバルブ76,78
は可能な限り供給用配管34に近い側に取り付けられる
ことが好ましい。
【0020】以上の構成については、図3に示した従来
構成と実質的に同様である。本実施形態におけるパージ
システムは、更に、供給用配管34及び圧送用配管40
のそれぞれに、バイパス配管66との接続点に可能な限
り近い位置にバルブ80,82が取り付けられているこ
とを特徴としている。
【0021】また、圧送用配管40とバイパス配管66
との接続点には第2の排出用配管84の一端が接続さ
れ、他端は分岐配管86,88を介して第1の排出用配
管50及び真空ポンプ58側の分岐配管54にそれぞれ
接続されている。第2の排出用配管84には、圧送用配
管40の側から順に、2つのバルブ90,92と真空容
器94が介設されている。また、分岐配管86,88の
それぞれにバルブ96,98が設けられている。真空容
器94は、真空引きされるべき配管34,40,66等
の部分の総容積よりも十分に大きな容積、好ましくは1
000cm3以上の容積を有している。
【0022】更に、液体材料が通過する可能性のある箇
所、具体的には図1において点線100,102で囲ま
れた配管、バルブ及び真空容器94には、テープヒータ
が巻き付けられている。テープヒータ100,102は
配管や真空容器等の内部を加熱して液体材料のガス化を
促進させるためのものであり、配管及びバルブのテープ
ヒータ100と真空容器94のテープヒータ102とは
それぞれ、別個独立の電源系統(図示しない)に接続さ
れている。
【0023】なお、符号104,106で示す配管系が
パージガス供給源46に接続されているが、これは真空
容器94の内部をパージするためのものである。また、
図1において二点鎖線108はシリンダキャビネットを
示している。このようにシリンダキャビネット108で
液体供給装置20の構成容器を囲む理由は、扱う液体材
料が可燃性、支燃性、腐食性、有毒性等の性質を有する
ものであるため、配管の継手部やバルブから万が一液体
が漏洩した際、外部に放散される事態を防ぐためであ
る。
【0024】次に、上記構成における液体供給装置20
にセットされている貯蔵容器22が空になり、液体材料
が十分に充填された新品の貯蔵容器と交換する場合につ
いて説明する。
【0025】まず、バルブ80,82が開状態とされ、
それ以外のバルブが閉じられていることを確認する。次
いで、テープヒータ100に電力を印加し配管34等の
内部温度を70〜80℃に加熱する。これにより、配管
34等の内部に存する液相の四塩化チタンのガス化が促
進される。また同時に、バルブ64,98を開放し真空
ポンプ58を起動して真空容器94の内部を好ましくは
10Torr以下に減圧排気する。
【0026】この後、第1の排出用配管50におけるバ
ルブ74,60及び貯蔵容器22のバルブ28,30を
開放すると、供給用配管34とバイパス配管66の一部
に残存している液相の液体材料はその自重により貯蔵容
器22に戻される。一定時間経過後、殆どの残液は貯蔵
容器22に戻されたものとして、貯蔵容器22のバルブ
28,30を閉じる。
【0027】次に、バルブ60,74の開状態を保った
まま、バイパス配管66のバルブ76を開放し真空発生
器56を駆動して、配管34,40,66等の内部を真
空引きする。配管内部が所定の真空度(50Torr程
度)に達したならば、バルブ60,74を閉じ、真空発
生器56の駆動を停止する。
【0028】ここで、真空容器94内の真空度が所定値
(10Torr以下)に達していることを確認した後、
真空容器94と真空ポンプ58との間のバルブ98を閉
じる。この後、第2の排出用配管84のバルブ90,9
2を開放すると、供給用配管34、圧送用配管40、バ
イパス配管66等の内部が真空引きされる。従来、この
段階では真空ポンプを直接配管に接続して真空引きして
いるが、そのような方法では真空引きに要する時間は相
当に長く、真空ポンプの内壁面に液体材料が付着して性
能が低下し所望の真空度が得られない。これに対して、
本発明のように真空容器94から真空引きした場合に
は、当該配管の内容積よりも真空容器94の容積が十分
に大きいため、極めて短時間に且つ安定した状態で真空
引きが行われる。一定時間経過後、バルブ90,92を
閉じる。
【0029】再び、真空発生器を駆動し、バルブ60,
74を開けると共に、第2のパージガス用配管70のバ
ルブ78を開いて、パージガス供給源68から微量のパ
ージガスを流す。好ましくは、バルブ78をパルス的に
開閉する。これにより、供給用配管34に残存している
ガス化された液体材料は供給用配管34からバイパス配
管66、圧送用配管40、第1の排出用配管50を経て
排出される。
【0030】この時点でほぼ配管34等に残存している
液滴はほぼ完全に除去されているが、液滴の除去の完全
性をより一層高めるために、サイクルパージを数回に実
行する。サイクルパージは、真空発生器56による真空
引きと第1のパージガス用配管48又は第2のパージガ
ス用配管70を介してのパージガス供給の繰り返しであ
り、従来であれば数十回行っていたが、本実施形態では
2〜3回程度で足りる。
【0031】最後にパージガスを配管34内に封入した
後、全てのバルブを閉じると共に、テープヒータ100
をオフして、貯蔵容器22を継手から切り離して新規な
貯蔵容器に交換するのである。
【0032】なお、バイパス配管66との接続点とバル
ブ28,30との間の部分はガスが淀み、極く微量のガ
スが残存する可能性がある。そこで、バルブ80,82
の上側の継手110,112から貯蔵容器22を切り離
し、バイパス配管66を貯蔵容器22と一体物として適
当な処理施設で処理することことが好ましい。かかる観
点から、貯蔵容器22は、その構成要素としてバイパス
配管66及びバルブ80,82を備えるものとし、液体
供給口及び圧送ガス取入れ口を継手110,112の位
置に変更することが有効である。
【0033】貯蔵容器22の交換作業が終了した時点で
は、真空容器94内には液体材料が気相と液相の状態で
含まれているため、真空容器94内の液体材料をパージ
する必要がある。この作業は貯蔵容器22の交換作業の
終了後に適時行えばよい。
【0034】真空容器94のパージ作業は、まず、真空
容器94の外側のテープヒータ102に電力を供給して
真空容器94内における液相の液体材料のガス化を促進
させる。次いで、バルブ92,114又はバルブ116
を開いて微量のパージガスを供給しながら、バルブ6
0,96を開いて真空発生器56により真空容器94内
を真空引きする。この後、バルブ114,116,60
の開閉操作によりサイクルパージを行う。そして、バル
ブ62を開いて真空ポンプ58により真空容器94内を
減圧する。この時、液体材料が僅かに真空ポンプ58に
送られる可能性があるが、真空容器94のパージ作業は
全工程を遠隔操作により行うことができ且つ適時行うこ
とができるので、真空ポンプ58の駆動中における液体
材料による性能低下は特に問題ではない。真空ポンプ5
8による真空引きが完了したならば、真空容器94内に
パージガスを封入し、テープヒータ102をオフし、真
空容器94に関連する全てのバルブを閉じて作業を終了
する。
【0035】以上、本発明の好適な実施形態について詳
細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されない
ことはいうまでもない。
【0036】例えば、貯蔵容器22の交換時に行うパー
ジ作業のための配管系は上記実施形態のものに限られ
ず、第2の供給用配管を有しないもの等、様々な型式が
あり、パージ作業も上記実施形態の手順に限られない。
【0037】また、真空容器の接続位置も第1の排出用
配管の途中とする等、種々考えられる。
【0038】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、貯
蔵容器の交換に際して行うパージ作業において、配管の
真空引きを十分に且つ迅速に、更に安定した状態で行う
ことが可能となる。従って、パージ作業、貯蔵容器の交
換作業を短時間にて完了させることができる。また、配
管内に残存する液体材料は殆どなく、貯蔵容器の交換時
に配管を大気に開放しても、残留した液体材料が反応し
副生成物が生成される等の問題が生じない。
【0039】更に、吸引された液体材料は真空容器にお
いて一時的に貯留され、そのまま真空ポンプ等の真空排
気装置に送られることはないので、パージ作業中におけ
る真空排気装置の性能低下という問題も生じない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による液体供給装置の一実施形態を示す
概略説明図である。
【図2】従来の液体供給装置を示す概略説明図である。
【図3】従来の液体供給装置を示す概略説明図である。
【符号の説明】
20…液体供給装置、22…交換式貯蔵容器、25…液
体供給口、27…圧送ガス取入れ口、34…供給用配
管、40…圧送用配管、48…第1のパージガス用配管
(パージガス供給手段)、50…第1の排出用配管(真
空引き手段)、56…真空発生器(真空引き手段)、5
8…真空ポンプ(真空引き手段)、66…バイパス配
管、70…第2のパージガス用配管(パージガス供給手
段)、94…真空容器(真空引き手段)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西山 修 兵庫県加古郡播磨町新島16 日本エア・リ キード株式会社播磨テクニカルセンター内 (72)発明者 中村 健二 埼玉県大宮市宮町二丁目96番地1(三井生 命大宮宮町ビル内) 日本エア・リキード 株式会社東関東リージョン内 (72)発明者 辻口 孝志 千葉県千葉市中央区末広五丁目8番6号 (大松ビル内) 日本エア・リキード株式 会社千葉セールスセンター内 Fターム(参考) 3E073 AA01 AB08 DB03

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交換式貯蔵容器に貯蔵された液体材料を
    使用先に供給するための液体供給装置であって、 前記貯蔵容器の液体供給口に取外し可能に接続され、前
    記貯蔵容器内の液体材料を使用先に供給する供給用配管
    と、 前記貯蔵容器の圧送ガス取入れ口に取外し可能に接続さ
    れ、前記貯蔵容器内に圧送ガスを導入して前記供給用配
    管を通して液体材料を圧送させる圧送用配管と、 前記供給用配管及び前記圧送用配管の間を連通するバイ
    パス配管と、 前記供給用配管にパージガスを供給するパージガス供給
    手段と、 前記供給用配管内を真空引きする真空引き手段と、を備
    え、 前記真空引き手段が、所定の真空度に内部が減圧される
    よう構成され且つ前記圧送用配管に接続された真空容器
    を備えていることを特徴とする液体供給装置。
  2. 【請求項2】 前記バイパス配管は前記貯蔵容器と一体
    的に前記供給用配管及び前記圧送用配管から取り外すこ
    とができるようになっている請求項1に記載の液体供給
    装置。
  3. 【請求項3】 交換式貯蔵容器に貯蔵された液体材料を
    使用先に供給するための液体供給装置であって、前記貯
    蔵容器の液体供給口に取外し可能に接続され、前記貯蔵
    容器内の液体材料を使用先に供給する供給用配管と、前
    記貯蔵容器の圧送ガス取入れ口に取外し可能に接続さ
    れ、前記貯蔵容器内に圧送ガスを導入して前記供給用配
    管を通して液体材料を圧送させる圧送用配管と、前記供
    給用配管及び前記圧送用配管の間を連通するバイパス配
    管とを備える液体供給装置において、前記貯蔵容器を交
    換する場合に行うパージ方法であって、 真空容器を用意して該真空容器の内部を所定の真空度に
    減圧する第1ステップと、 前記第1ステップにおいて減圧された前記真空容器を前
    記圧送用配管に接続し、前記バイパス配管を介して前記
    供給用配管内の真空引きを行う第2ステップと、を含む
    ことを特徴とする液体供給装置におけるパージ方法。
JP11009251A 1999-01-18 1999-01-18 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法 Pending JP2000205499A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11009251A JP2000205499A (ja) 1999-01-18 1999-01-18 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11009251A JP2000205499A (ja) 1999-01-18 1999-01-18 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000205499A true JP2000205499A (ja) 2000-07-25

Family

ID=11715205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11009251A Pending JP2000205499A (ja) 1999-01-18 1999-01-18 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000205499A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170130351A (ko) * 2015-03-25 2017-11-28 가부시끼가이샤 도꾸야마 액상 화학 물질을 위한 탱크
CN109442208A (zh) * 2018-11-01 2019-03-08 张蕴佳 一种水利工程换气装置
JP2021001383A (ja) * 2019-06-25 2021-01-07 日本エア・リキード合同会社 前駆体供給容器
KR20230064168A (ko) * 2021-11-03 2023-05-10 대우조선해양 주식회사 선박용 증발가스 재액화장치의 퍼징 시스템 및 방법

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0330829A (ja) * 1989-06-27 1991-02-08 Furukawa Electric Co Ltd:The ガス流通路の清掃方法
JPH03208889A (ja) * 1990-01-11 1991-09-12 Toshiba Corp 液体ソース容器
JPH08511322A (ja) * 1993-03-22 1996-11-26 アプライド ケミカル ソリューションズ 化学物質の正確な容量測定希釈/混合のための方法および装置
JPH09143739A (ja) * 1995-11-22 1997-06-03 Tokyo Electron Ltd 処理ガスの供給方法及びその装置
JPH09186107A (ja) * 1995-12-27 1997-07-15 Tokyo Electron Ltd 処理ガス供給装置のクリーニング方法
JPH1057798A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Nikon Corp 液体材料供給装置及び材料供給方法
JPH1057797A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Nikon Corp 液体材料供給装置及び材料交換方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0330829A (ja) * 1989-06-27 1991-02-08 Furukawa Electric Co Ltd:The ガス流通路の清掃方法
JPH03208889A (ja) * 1990-01-11 1991-09-12 Toshiba Corp 液体ソース容器
JPH08511322A (ja) * 1993-03-22 1996-11-26 アプライド ケミカル ソリューションズ 化学物質の正確な容量測定希釈/混合のための方法および装置
JPH09143739A (ja) * 1995-11-22 1997-06-03 Tokyo Electron Ltd 処理ガスの供給方法及びその装置
JPH09186107A (ja) * 1995-12-27 1997-07-15 Tokyo Electron Ltd 処理ガス供給装置のクリーニング方法
JPH1057798A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Nikon Corp 液体材料供給装置及び材料供給方法
JPH1057797A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Nikon Corp 液体材料供給装置及び材料交換方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170130351A (ko) * 2015-03-25 2017-11-28 가부시끼가이샤 도꾸야마 액상 화학 물질을 위한 탱크
KR102468539B1 (ko) 2015-03-25 2022-11-18 가부시끼가이샤 도꾸야마 액상 화학 물질을 위한 탱크
CN109442208A (zh) * 2018-11-01 2019-03-08 张蕴佳 一种水利工程换气装置
CN109442208B (zh) * 2018-11-01 2020-09-29 潘国勇 一种水利工程换气装置
JP2021001383A (ja) * 2019-06-25 2021-01-07 日本エア・リキード合同会社 前駆体供給容器
JP7299448B2 (ja) 2019-06-25 2023-06-28 日本エア・リキード合同会社 前駆体供給容器
KR20230064168A (ko) * 2021-11-03 2023-05-10 대우조선해양 주식회사 선박용 증발가스 재액화장치의 퍼징 시스템 및 방법
WO2023080331A1 (ko) * 2021-11-03 2023-05-11 대우조선해양 주식회사 선박용 증발가스 재액화장치의 퍼징 시스템 및 방법
KR102559317B1 (ko) * 2021-11-03 2023-07-26 한화오션 주식회사 선박용 증발가스 재액화장치의 퍼징 시스템 및 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100377705B1 (ko) 처리 가스 공급 장치 및 그의 세정 방법
US5690743A (en) Liquid material supply apparatus and method
KR101070525B1 (ko) 화학적 증착 또는 원자 층 증착용 화학물 전달 장치
JP2001191043A (ja) 超音波による液体送出装置の溶剤パージ向上
JPH11312649A (ja) Cvd装置
US20050109374A1 (en) Source liquid supply apparatus having a cleaning function
US20080064227A1 (en) Apparatus For Chemical Vapor Deposition and Method For Cleaning Injector Included in the Apparatus
JP2010040695A (ja) 基板処理装置および原料補充方法
JP2007227871A (ja) 基板処理システム
JP2009094401A (ja) 基板処理装置
JP2000205499A (ja) 液体供給装置及び液体供給装置におけるパ―ジ方法
TW200306893A (en) Purgeable manifold for low vapor pressure chemicals containers
JP4963817B2 (ja) 基板処理装置
JPH09298171A (ja) 処理ガスの供給方法及びその装置
KR20010006658A (ko) 프로세싱 액체를 프로세싱 액체 분배라인으로부터제거하기 위한 방법 및 장치
WO2001076779A1 (en) Liquid supply unit and purging method in the liquid supply unit
JP2000306907A (ja) 液体ソース装置
JP5373161B2 (ja) 気化ユニットの洗浄方法
JP3144665B2 (ja) 処理用ガスの供給方法
JP2007227471A (ja) 基板処理装置
WO2022255102A1 (ja) 原料ガス供給システム、粉体原料補充機構、および粉体原料補充方法
JP4149595B2 (ja) 原料ガス供給装置
JP2009094424A (ja) 半導体装置の製造方法、及び基板処理装置
JPH11345770A (ja) 半導体製造装置
JP2981469B1 (ja) 成膜装置用液体供給装置および液体供給方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051104

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20071005

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090417

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090709

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100308

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100921