JP2000201284A - Ｎｔｓｃ／ｐａｌ判定装置及び電子内視鏡装置 - Google Patents
Ｎｔｓｃ／ｐａｌ判定装置及び電子内視鏡装置Info
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- JP2000201284A JP2000201284A JP11003241A JP324199A JP2000201284A JP 2000201284 A JP2000201284 A JP 2000201284A JP 11003241 A JP11003241 A JP 11003241A JP 324199 A JP324199 A JP 324199A JP 2000201284 A JP2000201284 A JP 2000201284A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】固体撮像素子を駆動するために使用される原発
振周波数のクロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式
のものかを、他のクロックを使用せずに判定することが
できるようにする。 【解決手段】ＣＣＤを駆動するために使用するＮＴＳＣ
方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロックを一定時
間カウントし（ステップＳ１６、Ｓ１８）、そのカウン
ト値と所定の判定値とを比較し、カウント値と判定値と
の比較結果に基づいてＮＴＳＣ方式の標準クロックかＰ
ＡＬ方式の標準クロックかを判定する（ステップＳ２
０）。前記一定時間は、積分回路に基準電圧が加えられ
てから積分値が所定の閾値に達するまでの時間とする。
また、前記判定値は、予め前記一定時間内にカウントさ
れるＮＴＳＣ方式の標準クロック数よりも多くＰＡＬ方
式の標準クロック数よりも少ない所定の値として設定す
る。
振周波数のクロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式
のものかを、他のクロックを使用せずに判定することが
できるようにする。 【解決手段】ＣＣＤを駆動するために使用するＮＴＳＣ
方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロックを一定時
間カウントし（ステップＳ１６、Ｓ１８）、そのカウン
ト値と所定の判定値とを比較し、カウント値と判定値と
の比較結果に基づいてＮＴＳＣ方式の標準クロックかＰ
ＡＬ方式の標準クロックかを判定する（ステップＳ２
０）。前記一定時間は、積分回路に基準電圧が加えられ
てから積分値が所定の閾値に達するまでの時間とする。
また、前記判定値は、予め前記一定時間内にカウントさ
れるＮＴＳＣ方式の標準クロック数よりも多くＰＡＬ方
式の標準クロック数よりも少ない所定の値として設定す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＮＴＳＣ／ＰＡＬ判
定装置に係り、特に電子スコープと、電子スコープが接
続され電子スコープの出力信号を処理するプロセッサと
からなる電子内視鏡装置に適用されるＮＴＳＣ／ＰＡＬ
判定装置及び電子内視鏡装置に関する。
定装置に係り、特に電子スコープと、電子スコープが接
続され電子スコープの出力信号を処理するプロセッサと
からなる電子内視鏡装置に適用されるＮＴＳＣ／ＰＡＬ
判定装置及び電子内視鏡装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、電子スコープには、スコープ先
端の固体撮像素子（ＣＣＤ）を駆動するための各種の駆
動パルスを出力するＣＣＤ駆動回路や、該ＣＣＤ駆動回
路にＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックを出力する原発振器等が設けられ、電子スコープが
接続されるプロセッサは、電子スコープからＣＣＤ出力
信号とともに電子スコープ側の原発振器から発振される
原発振周波数のクロックを取り込み、このクロックに同
期してＣＣＤ出力信号を処理して映像信号をモニタなど
に出力するようにしている。
端の固体撮像素子（ＣＣＤ）を駆動するための各種の駆
動パルスを出力するＣＣＤ駆動回路や、該ＣＣＤ駆動回
路にＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックを出力する原発振器等が設けられ、電子スコープが
接続されるプロセッサは、電子スコープからＣＣＤ出力
信号とともに電子スコープ側の原発振器から発振される
原発振周波数のクロックを取り込み、このクロックに同
期してＣＣＤ出力信号を処理して映像信号をモニタなど
に出力するようにしている。
【０００３】また、電子スコープは用途に応じて各種の
ものが準備されており、所望の電子スコープを選択し、
その電子スコープをプロセッサに接続して使用するよう
にしている。
ものが準備されており、所望の電子スコープを選択し、
その電子スコープをプロセッサに接続して使用するよう
にしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、電子スコー
プ及びプロセッサには、ＮＴＳＣ方式のものとＰＡＬ方
式のものがある。この両者を有する病院などでは、ＮＴ
ＳＣ方式のプロセッサにＰＡＬ方式の電子スコープを接
続して使用したり、あるいはＰＡＬ方式のプロセッサに
ＮＴＳＣ方式の電子スコープを接続して使用するといっ
た間違いが生ずるおそれがある。
プ及びプロセッサには、ＮＴＳＣ方式のものとＰＡＬ方
式のものがある。この両者を有する病院などでは、ＮＴ
ＳＣ方式のプロセッサにＰＡＬ方式の電子スコープを接
続して使用したり、あるいはＰＡＬ方式のプロセッサに
ＮＴＳＣ方式の電子スコープを接続して使用するといっ
た間違いが生ずるおそれがある。
【０００５】このように電子スコープとプロセッサの方
式が異なるもの同士を使用すると、間延びした画像にな
ったり、画質が劣化するなどの問題が生じる。一方、プ
ロセッサ側では接続された電子スコープの原発振器から
原発振周波数のクロックを取り込んで使用するため、原
発振周波数を検知することができず、接続されている電
子スコープがＮＴＳＣ方式のものがＰＡＬ方式のものか
を認識することができない。
式が異なるもの同士を使用すると、間延びした画像にな
ったり、画質が劣化するなどの問題が生じる。一方、プ
ロセッサ側では接続された電子スコープの原発振器から
原発振周波数のクロックを取り込んで使用するため、原
発振周波数を検知することができず、接続されている電
子スコープがＮＴＳＣ方式のものがＰＡＬ方式のものか
を認識することができない。
【０００６】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、固体撮像素子を駆動するために使用される原発
振周波数のクロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式
のものかを、他のクロックを使用せずに判定することが
できるＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置を提供することを目的
とする。
もので、固体撮像素子を駆動するために使用される原発
振周波数のクロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式
のものかを、他のクロックを使用せずに判定することが
できるＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置を提供することを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本願請求項１に係るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置は、
一定時間の測定開始時に基準電圧が加えられ、該基準電
圧に基づく積分動作を行う積分回路と、該積分回路の積
分値が所定の閾値に達した時点を検出する検出手段とを
有し、前記基準電圧が加えられてから前記検出手段の検
出出力が得られるまでの時間を前記一定時間として測定
するタイマ手段と、前記一定時間内にカウントされるＮ
ＴＳＣ方式の原発振周波数のクロック数よりも多くＰＡ
Ｌ方式の原発振周波数のクロック数よりも少ない所定の
判定値を設定する判定値設定手段と、固体撮像素子を駆
動するために使用するＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原
発振周波数のクロックを入力し、該クロックを前記タイ
マ手段によって測定される前記一定時間カウントするカ
ウンタと、前記カウンタによってカウントされたカウン
ト値と前記判定値設定手段によって設定された判定値と
を比較し、その比較結果に基づいてＮＴＳＣ方式の原発
振周波数のクロックかＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックかを判定する判定手段と、を備えたことを特徴とし
ている。
に、本願請求項１に係るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置は、
一定時間の測定開始時に基準電圧が加えられ、該基準電
圧に基づく積分動作を行う積分回路と、該積分回路の積
分値が所定の閾値に達した時点を検出する検出手段とを
有し、前記基準電圧が加えられてから前記検出手段の検
出出力が得られるまでの時間を前記一定時間として測定
するタイマ手段と、前記一定時間内にカウントされるＮ
ＴＳＣ方式の原発振周波数のクロック数よりも多くＰＡ
Ｌ方式の原発振周波数のクロック数よりも少ない所定の
判定値を設定する判定値設定手段と、固体撮像素子を駆
動するために使用するＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原
発振周波数のクロックを入力し、該クロックを前記タイ
マ手段によって測定される前記一定時間カウントするカ
ウンタと、前記カウンタによってカウントされたカウン
ト値と前記判定値設定手段によって設定された判定値と
を比較し、その比較結果に基づいてＮＴＳＣ方式の原発
振周波数のクロックかＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックかを判定する判定手段と、を備えたことを特徴とし
ている。
【０００８】即ち、固体撮像素子を駆動するために使用
するＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックを一定時間カウントし、そのカウント値と所定の判
定値とを比較し、カウント値と判定値との比較結果に基
づいてＮＴＳＣ方式の原発振周波数かＰＡＬ方式の原発
振周波数かを判定する。前記一定時間は、前記積分回路
に基準電圧が加えられてから積分値が所定の閾値に達す
るまでの時間としている。また、前記判定値は、予め前
記一定時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振周
波数のクロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波数
のクロック数よりも少ない所定の値として設定されてい
る。
するＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ックを一定時間カウントし、そのカウント値と所定の判
定値とを比較し、カウント値と判定値との比較結果に基
づいてＮＴＳＣ方式の原発振周波数かＰＡＬ方式の原発
振周波数かを判定する。前記一定時間は、前記積分回路
に基準電圧が加えられてから積分値が所定の閾値に達す
るまでの時間としている。また、前記判定値は、予め前
記一定時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振周
波数のクロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波数
のクロック数よりも少ない所定の値として設定されてい
る。
【０００９】本願請求項２に係る発明は、前記判定手段
による判定結果に基づいて前記固体撮像素子の出力信号
を処理するのに適したパラメータを選択使用し、良好な
信号処理を行うようにしている。一方、本願請求項３に
係る発明は、前記判定手段による判定結果に基づいて必
要な警告を表示する警告表示手段を備え、これにより誤
った使用であることを認識させる。
による判定結果に基づいて前記固体撮像素子の出力信号
を処理するのに適したパラメータを選択使用し、良好な
信号処理を行うようにしている。一方、本願請求項３に
係る発明は、前記判定手段による判定結果に基づいて必
要な警告を表示する警告表示手段を備え、これにより誤
った使用であることを認識させる。
【００１０】本願請求項４に係る発明は、固体撮像素子
と、ＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振器を有し、該
原発振器のクロックに基づいて前記固体撮像素子を駆動
する駆動パルスを発生する固体撮像素子駆動部と、前記
駆動パルスに基づいて固体撮像素子出力信号を出力する
ＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の電子スコープと、前記電
子スコープが接続されるプロセッサであって、前記原発
振器からのクロックを取り込み、該クロックに同期して
前記固体撮像素子出力信号を処理して映像信号をモニタ
に出力するプロセッサと、からなる電子内視鏡装置にお
いて、前記プロセッサは、一定時間の測定開始時に基準
電圧が加えられ、該基準電圧に基づく積分動作を行う積
分回路と、該積分回路の積分値が所定の閾値に達した時
点を検出する検出手段とを有し、前記基準電圧が加えら
れてから前記検出手段の検出出力が得られるまでの時間
を前記一定時間として測定するタイマ手段と、前記一定
時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振周波数の
クロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ック数よりも少ない所定の判定値を設定する判定値設定
手段と、前記原発振器からのクロックを取り込み、該ク
ロックを前記タイマ手段によって測定される前記一定時
間カウントするカウンタと、前記カウンタによってカウ
ントされたカウント値と前記判定値設定手段によって設
定された判定値とを比較し、その比較結果に基づいてプ
ロセッサに接続された電子スコープがＮＴＳＣ方式かＰ
ＡＬ方式かを判定する判定手段と、を備えたことを特徴
としている。
と、ＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の原発振器を有し、該
原発振器のクロックに基づいて前記固体撮像素子を駆動
する駆動パルスを発生する固体撮像素子駆動部と、前記
駆動パルスに基づいて固体撮像素子出力信号を出力する
ＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式の電子スコープと、前記電
子スコープが接続されるプロセッサであって、前記原発
振器からのクロックを取り込み、該クロックに同期して
前記固体撮像素子出力信号を処理して映像信号をモニタ
に出力するプロセッサと、からなる電子内視鏡装置にお
いて、前記プロセッサは、一定時間の測定開始時に基準
電圧が加えられ、該基準電圧に基づく積分動作を行う積
分回路と、該積分回路の積分値が所定の閾値に達した時
点を検出する検出手段とを有し、前記基準電圧が加えら
れてから前記検出手段の検出出力が得られるまでの時間
を前記一定時間として測定するタイマ手段と、前記一定
時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振周波数の
クロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波数のクロ
ック数よりも少ない所定の判定値を設定する判定値設定
手段と、前記原発振器からのクロックを取り込み、該ク
ロックを前記タイマ手段によって測定される前記一定時
間カウントするカウンタと、前記カウンタによってカウ
ントされたカウント値と前記判定値設定手段によって設
定された判定値とを比較し、その比較結果に基づいてプ
ロセッサに接続された電子スコープがＮＴＳＣ方式かＰ
ＡＬ方式かを判定する判定手段と、を備えたことを特徴
としている。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置及び電子内視鏡装置の好ま
しい実施の形態について詳説する。図１は本発明に係る
ＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置が適用された電子内視鏡装置
の概略構成を示すブロック図である。同図に示すよう
に、電子内視鏡装置は、電子スコープ１０とプロセッサ
２０とからなり、電子スコープ１０は、プロセッサ２０
に接続されて使用される。
るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置及び電子内視鏡装置の好ま
しい実施の形態について詳説する。図１は本発明に係る
ＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置が適用された電子内視鏡装置
の概略構成を示すブロック図である。同図に示すよう
に、電子内視鏡装置は、電子スコープ１０とプロセッサ
２０とからなり、電子スコープ１０は、プロセッサ２０
に接続されて使用される。
【００１２】電子スコープ１０は、対物レンズ１２、Ｃ
ＣＤ１４、ＣＣＤ駆動部１６及びライトガイド１８等を
有し、ライトガイド１８によって照明された被写体は、
対物レンズ１２を介してＣＣＤ１４の受光面に結像され
る。ＣＣＤ１４は、受光面に結像された被写体光をその
光量に応じた量の信号電荷に変換する。このようにして
変換された信号電荷は、ＣＣＤ駆動部１６から加えられ
るＣＣＤ駆動パルスに基づいて信号電荷に応じたＣＣＤ
出力信号（電圧信号）として順次読み出され、後段のプ
ロセッサ２０に出力する。尚、ＣＣＤ駆動部１６は原発
振器を有し、この原発振器から発振される原発振周波数
のクロック（以下、「標準クロック」という）に基づい
てＣＣＤ駆動パルスをＣＣＤ１４に出力する。
ＣＤ１４、ＣＣＤ駆動部１６及びライトガイド１８等を
有し、ライトガイド１８によって照明された被写体は、
対物レンズ１２を介してＣＣＤ１４の受光面に結像され
る。ＣＣＤ１４は、受光面に結像された被写体光をその
光量に応じた量の信号電荷に変換する。このようにして
変換された信号電荷は、ＣＣＤ駆動部１６から加えられ
るＣＣＤ駆動パルスに基づいて信号電荷に応じたＣＣＤ
出力信号（電圧信号）として順次読み出され、後段のプ
ロセッサ２０に出力する。尚、ＣＣＤ駆動部１６は原発
振器を有し、この原発振器から発振される原発振周波数
のクロック（以下、「標準クロック」という）に基づい
てＣＣＤ駆動パルスをＣＣＤ１４に出力する。
【００１３】一方、プロセッサ２０は、主として信号処
理回路２２、マイコン２４、光源装置２６及びタイマ回
路２８から構成されている。信号処理回路２２は、ホワ
イトバランス回路、ガンマ補正回路、カラーエンコーダ
等を有し、これらの回路によって電子スコープ１０から
加えられるＣＣＤ出力信号を処理して映像信号を生成
し、これをモニタ装置３０に出力する。これによりモニ
タ装置３０に被写体像が表示される。
理回路２２、マイコン２４、光源装置２６及びタイマ回
路２８から構成されている。信号処理回路２２は、ホワ
イトバランス回路、ガンマ補正回路、カラーエンコーダ
等を有し、これらの回路によって電子スコープ１０から
加えられるＣＣＤ出力信号を処理して映像信号を生成
し、これをモニタ装置３０に出力する。これによりモニ
タ装置３０に被写体像が表示される。
【００１４】マイコン２４は電子内視鏡装置を統括・制
御するもので、電子スコープ１０の原発振器より基準ク
ロックを入力しており、ＣＣＤ駆動部１６と同期して信
号処理回路２２を制御し、また、信号処理回路２２から
輝度信号を入力し、所定の明るさの輝度信号が得られる
ように光源装置２６のライトガイド１８への出射光量を
制御するようにしている。更に、マイコン２４は、プロ
セッサ２０に接続された電子スコープ１０がＮＴＳＣ方
式のものかＰＡＬ方式のものかを判定する。
御するもので、電子スコープ１０の原発振器より基準ク
ロックを入力しており、ＣＣＤ駆動部１６と同期して信
号処理回路２２を制御し、また、信号処理回路２２から
輝度信号を入力し、所定の明るさの輝度信号が得られる
ように光源装置２６のライトガイド１８への出射光量を
制御するようにしている。更に、マイコン２４は、プロ
セッサ２０に接続された電子スコープ１０がＮＴＳＣ方
式のものかＰＡＬ方式のものかを判定する。
【００１５】次に、本発明に係るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定
の原理について説明する。いま、ＣＣＤ１４の水平画素
数として７６８のものを使用したとして説明する。基本
周波数ｆs をサブキャリア周波数（ＮＴＳＣは3.579545
ＭＨｚ、ＰＡＬは4.43361875ＭＨｚ）の４倍のものを使
用すれば、この周期に従ってＣＣＤ１４の画素出力信号
を確実に伝送することができる。また、この基本周波数
ｆs の標準クロックをマイコン２４のクロックとして入
力し、マイコン２４内のカウンタを一定時間動作させ、
その期間のカウント値を所定の判定値と比較することに
より、ＮＴＳＣかＰＡＬかを判定することができる。
の原理について説明する。いま、ＣＣＤ１４の水平画素
数として７６８のものを使用したとして説明する。基本
周波数ｆs をサブキャリア周波数（ＮＴＳＣは3.579545
ＭＨｚ、ＰＡＬは4.43361875ＭＨｚ）の４倍のものを使
用すれば、この周期に従ってＣＣＤ１４の画素出力信号
を確実に伝送することができる。また、この基本周波数
ｆs の標準クロックをマイコン２４のクロックとして入
力し、マイコン２４内のカウンタを一定時間動作させ、
その期間のカウント値を所定の判定値と比較することに
より、ＮＴＳＣかＰＡＬかを判定することができる。
【００１６】この一定時間は、タイマ回路２８によって
測定される。タイマ回路２８は、図２に示すように抵抗
ＲとコンデンサＣとからなる積分回路２９と、ツェナー
ダイオードＤと、トランジスタＱ1 、Ｑ2 と、インバー
タＩとから構成されている。マイコン２４は、一定時間
の測定開始時にタイマ回路２８の出力ポートをマイコン
２４に加えられる電源電圧と同等の電圧値（Ｈレベル）
にする。この電圧値で積分回路２９の抵抗Ｒを通してコ
ンデンサＣに１／ＲＣで電荷が充電され、コンデンサＣ
の電荷量がツェナーダイオードＤのツェナー電圧を越え
たとき、ツェナーダイオードＤに電流が流れ、トランジ
スタＱ1 が駆動することによりトランジスタＱ2 が駆動
する。さらに、トランジスタＱ2 の駆動によってインバ
ータＩの出力をＨレベルから接地レベル（Ｌレベル）へ
変化させる。つまり、タイマ回路２８の積分回路２９
は、Ｈレベル信号をＣＲ時定数にしたがって積分し、ツ
ェナーダイオードＤは、積分回路２９での積分値が所定
の閾値に達すると、トランジスタＱ1 にベース電流を流
し、トランジスタＱ1 をＯＮにする。トランジスタＱ1
がＯＮされると、トランスジスタＱ2 がＯＮし、インバ
ータＩにＨレベル信号が入力される。これにより、イン
バータＩからマイコンの入力ポートにＬレベル信号が加
えられる。
測定される。タイマ回路２８は、図２に示すように抵抗
ＲとコンデンサＣとからなる積分回路２９と、ツェナー
ダイオードＤと、トランジスタＱ1 、Ｑ2 と、インバー
タＩとから構成されている。マイコン２４は、一定時間
の測定開始時にタイマ回路２８の出力ポートをマイコン
２４に加えられる電源電圧と同等の電圧値（Ｈレベル）
にする。この電圧値で積分回路２９の抵抗Ｒを通してコ
ンデンサＣに１／ＲＣで電荷が充電され、コンデンサＣ
の電荷量がツェナーダイオードＤのツェナー電圧を越え
たとき、ツェナーダイオードＤに電流が流れ、トランジ
スタＱ1 が駆動することによりトランジスタＱ2 が駆動
する。さらに、トランジスタＱ2 の駆動によってインバ
ータＩの出力をＨレベルから接地レベル（Ｌレベル）へ
変化させる。つまり、タイマ回路２８の積分回路２９
は、Ｈレベル信号をＣＲ時定数にしたがって積分し、ツ
ェナーダイオードＤは、積分回路２９での積分値が所定
の閾値に達すると、トランジスタＱ1 にベース電流を流
し、トランジスタＱ1 をＯＮにする。トランジスタＱ1
がＯＮされると、トランスジスタＱ2 がＯＮし、インバ
ータＩにＨレベル信号が入力される。これにより、イン
バータＩからマイコンの入力ポートにＬレベル信号が加
えられる。
【００１７】即ち、マイコン２４は、出力ポートをＨレ
ベルにしてから入力ポートがＬレベルになるまでの時間
を一定時間として認識し、この一定時間の間、基準クロ
ックをマイコン内のカウンタでカウントする。例えば、
上記タイマ回路２８によって測定される一定時間を0.01
秒とし、原発振周波数のクロックが14.31818ＭＨｚ（Ｎ
ＴＳＣ）の場合には、一定時間のカウント値は、
ベルにしてから入力ポートがＬレベルになるまでの時間
を一定時間として認識し、この一定時間の間、基準クロ
ックをマイコン内のカウンタでカウントする。例えば、
上記タイマ回路２８によって測定される一定時間を0.01
秒とし、原発振周波数のクロックが14.31818ＭＨｚ（Ｎ
ＴＳＣ）の場合には、一定時間のカウント値は、
【００１８】
【数１】 となる。一方、原発振周波数の標準クロックが17.73447
5 ＭＨｚ（ＰＡＬ）の場合には、一定時間のカウント値
は、
5 ＭＨｚ（ＰＡＬ）の場合には、一定時間のカウント値
は、
【００１９】
【数２】 となる。
【００２０】従って、上記一定時間内のカウント値と所
定の判定値とを比較することにより、標準クロックがＮ
ＴＳＣ方式に対応するものか、ＰＡＬ方式に対応するも
のかを判定することができる。尚、積分回路２９のコン
デンサＣや抵抗Ｒの温度係数や許容差によるバラツキを
考慮して判定値として、例えば143182と177345の略中間
の160000を判定値とする。
定の判定値とを比較することにより、標準クロックがＮ
ＴＳＣ方式に対応するものか、ＰＡＬ方式に対応するも
のかを判定することができる。尚、積分回路２９のコン
デンサＣや抵抗Ｒの温度係数や許容差によるバラツキを
考慮して判定値として、例えば143182と177345の略中間
の160000を判定値とする。
【００２１】次に、本発明の作用について図３のフロー
チャートを参照しながら説明する。電子内視鏡装置の電
源が投入されると、まずマイコン２４のポート設定など
の初期処理を行い（ステップＳ１０）、カウンタ用メモ
リをクリアする（ステップＳ１２）。続いて、タイマ回
路２８の積分回路２９への出力ポートをＨレベルにし
（ステップＳ１４）、マイコン２４のタイマ回路２８か
らの入力ポートがＬレベルに変化したか否かを判別する
（ステップＳ１６）。
チャートを参照しながら説明する。電子内視鏡装置の電
源が投入されると、まずマイコン２４のポート設定など
の初期処理を行い（ステップＳ１０）、カウンタ用メモ
リをクリアする（ステップＳ１２）。続いて、タイマ回
路２８の積分回路２９への出力ポートをＨレベルにし
（ステップＳ１４）、マイコン２４のタイマ回路２８か
らの入力ポートがＬレベルに変化したか否かを判別する
（ステップＳ１６）。
【００２２】入力ポートがＬレベルに変化していない場
合には、標準クロックによりカウンタ用メモリをカウン
トアップし（ステップＳ１８）、ステップＳ１６に戻
る。一方、一定時間経過し、入力ポートがＬレベルに変
化すると、そのときのカウント値が判定値以上か否かを
判別する（ステップＳ２０）。そして、カウント値が判
定値以下と判別されると、標準クロックはＮＴＳＣ方式
に対応するもの（即ち、プロセッサ２０に接続された電
子スコープ１０は、ＮＴＳＣ方式に対応するもの）と判
別し、予めマイコン２４のＲＯＭ内に格納されたＮＴＳ
Ｃ用のパラメータを読み込む（ステップＳ２２）。この
ＮＴＳＣ用のパラメータは信号処理回路などに送信さ
れ、ＮＴＳＣ用の適切な信号処理を行うことができるよ
うにする。
合には、標準クロックによりカウンタ用メモリをカウン
トアップし（ステップＳ１８）、ステップＳ１６に戻
る。一方、一定時間経過し、入力ポートがＬレベルに変
化すると、そのときのカウント値が判定値以上か否かを
判別する（ステップＳ２０）。そして、カウント値が判
定値以下と判別されると、標準クロックはＮＴＳＣ方式
に対応するもの（即ち、プロセッサ２０に接続された電
子スコープ１０は、ＮＴＳＣ方式に対応するもの）と判
別し、予めマイコン２４のＲＯＭ内に格納されたＮＴＳ
Ｃ用のパラメータを読み込む（ステップＳ２２）。この
ＮＴＳＣ用のパラメータは信号処理回路などに送信さ
れ、ＮＴＳＣ用の適切な信号処理を行うことができるよ
うにする。
【００２３】一方、カウント値が判定値以上と判別され
ると、標準クロックはＰＡＬ方式に対応するもの（即
ち、プロセッサ２０に接続された電子スコープ１０は、
ＰＡＬ方式に対応するもの）と判別し、予めマイコン２
４のＲＯＭ内に格納されたＰＡＬ用のパラメータを読み
込む（ステップＳ２４）。このＰＡＬ用のパラメータは
信号処理回路などに送信され、ＰＡＬ用の適切な信号処
理を行うことができるようにする。
ると、標準クロックはＰＡＬ方式に対応するもの（即
ち、プロセッサ２０に接続された電子スコープ１０は、
ＰＡＬ方式に対応するもの）と判別し、予めマイコン２
４のＲＯＭ内に格納されたＰＡＬ用のパラメータを読み
込む（ステップＳ２４）。このＰＡＬ用のパラメータは
信号処理回路などに送信され、ＰＡＬ用の適切な信号処
理を行うことができるようにする。
【００２４】尚、プロセッサ２０は、ＮＴＳＣ用及びＰ
ＡＬ用のいずれの電子スコープにも対応できるものとし
たが、これに限らず、ＮＴＳＣ専用又はＰＡＬ専用のも
のでもよい。この場合には、方式の異なる電子スコープ
がプロセッサに接続されたことがＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定
により検知されると、電子スコープの方式が異なる旨の
警告表示を行い、電子スコープの交換を促すようにす
る。
ＡＬ用のいずれの電子スコープにも対応できるものとし
たが、これに限らず、ＮＴＳＣ専用又はＰＡＬ専用のも
のでもよい。この場合には、方式の異なる電子スコープ
がプロセッサに接続されたことがＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定
により検知されると、電子スコープの方式が異なる旨の
警告表示を行い、電子スコープの交換を促すようにす
る。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、固
体撮像素子を駆動するために使用される原発振周波数の
クロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式のものか
を、他のクロックを使用せずに判定することができる。
これによりＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式に応じた適切な
信号処理が可能になり、あるいは不適合の場合には警告
することができる。尚、クロックを１系統にすることに
よって映像信号等のアナログ処理部分へのノイズの影響
を少なくすることができる。
体撮像素子を駆動するために使用される原発振周波数の
クロックがＮＴＳＣ方式のものかＰＡＬ方式のものか
を、他のクロックを使用せずに判定することができる。
これによりＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方式に応じた適切な
信号処理が可能になり、あるいは不適合の場合には警告
することができる。尚、クロックを１系統にすることに
よって映像信号等のアナログ処理部分へのノイズの影響
を少なくすることができる。
【図１】本発明に係るＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置が適用
された電子内視鏡装置の概略構成を示すブロック図
された電子内視鏡装置の概略構成を示すブロック図
【図２】上記ＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置におけるタイマ
回路の詳細を示す回路図
回路の詳細を示す回路図
【図３】本発明の作用を説明するために用いたフローチ
ャート
ャート
１０…電子スコープ １２…対物レンズ １４…ＣＣＤ １６…ＣＣＤ駆動部 １８…ライトガイド ２０…プロセッサ ２２…信号処理回路 ２４…マイコン ２６…光源装置 ２８…タイマ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H040 GA02 GA05 4C061 AA00 BB01 CC06 DD00 JJ17 LL02 NN05 SS03 SS17 SS21 SS30 5C022 AA09 AB00 AC01 AC13 AC18 AC69 CA00 5C024 BA03 CA25 FA01 GA11 HA20 JA32 5C054 AA01 CA04 CC02 CD03 CE02 EA01 EA05 EC06 FA01 FE21 FF02 HA12
Claims (4)
- 【請求項１】 一定時間の測定開始時に基準電圧が加え
られ、該基準電圧に基づく積分動作を行う積分回路と、
該積分回路の積分値が所定の閾値に達した時点を検出す
る検出手段とを有し、前記基準電圧が加えられてから前
記検出手段の検出出力が得られるまでの時間を前記一定
時間として測定するタイマ手段と、 前記一定時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振
周波数のクロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波
数のクロック数よりも少ない所定の判定値を設定する判
定値設定手段と、 固体撮像素子を駆動するために使用するＮＴＳＣ方式又
はＰＡＬ方式の原発振周波数のクロックを入力し、該ク
ロックを前記タイマ手段によって測定される前記一定時
間カウントするカウンタと、 前記カウンタによってカウントされたカウント値と前記
判定値設定手段によって設定された判定値とを比較し、
その比較結果に基づいてＮＴＳＣ方式の原発振周波数の
クロックかＰＡＬ方式の原発振周波数のクロックかを判
定する判定手段と、 を備えたことを特徴とするＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置。 - 【請求項２】 前記判定手段による判定結果に基づいて
前記固体撮像素子の出力信号を処理するのに適したパラ
メータを選択使用することを特徴とする請求項１のＮＴ
ＳＣ／ＰＡＬ判定装置。 - 【請求項３】 前記判定手段による判定結果に基づいて
必要な警告を表示する警告表示手段を備えたことを特徴
とする請求項１のＮＴＳＣ／ＰＡＬ判定装置。 - 【請求項４】 固体撮像素子と、ＮＴＳＣ方式又はＰＡ
Ｌ方式の原発振器を有し、該原発振器のクロックに基づ
いて前記固体撮像素子を駆動する駆動パルスを発生する
固体撮像素子駆動部と、前記駆動パルスに基づいて固体
撮像素子出力信号を出力するＮＴＳＣ方式又はＰＡＬ方
式の電子スコープと、 前記電子スコープが接続されるプロセッサであって、前
記原発振器からのクロックを取り込み、該クロックに同
期して前記固体撮像素子出力信号を処理して映像信号を
モニタに出力するプロセッサと、からなる電子内視鏡装
置において、 前記プロセッサは、 一定時間の測定開始時に基準電圧が加えられ、該基準電
圧に基づく積分動作を行う積分回路と、該積分回路の積
分値が所定の閾値に達した時点を検出する検出手段とを
有し、前記基準電圧が加えられてから前記検出手段の検
出出力が得られるまでの時間を前記一定時間として測定
するタイマ手段と、 前記一定時間内にカウントされるＮＴＳＣ方式の原発振
周波数のクロック数よりも多くＰＡＬ方式の原発振周波
数のクロック数よりも少ない所定の判定値を設定する判
定値設定手段と、 前記原発振器からのクロックを取り込み、該クロックを
前記タイマ手段によって測定される前記一定時間カウン
トするカウンタと、 前記カウンタによってカウントされたカウント値と前記
判定値設定手段によって設定された判定値とを比較し、
その比較結果に基づいてプロセッサに接続された電子ス
コープがＮＴＳＣ方式かＰＡＬ方式かを判定する判定手
段と、 を備えたことを特徴とする電子内視鏡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11003241A JP2000201284A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Ｎｔｓｃ／ｐａｌ判定装置及び電子内視鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11003241A JP2000201284A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Ｎｔｓｃ／ｐａｌ判定装置及び電子内視鏡装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000201284A true JP2000201284A (ja) | 2000-07-18 |
Family
ID=11551972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11003241A Pending JP2000201284A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Ｎｔｓｃ／ｐａｌ判定装置及び電子内視鏡装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000201284A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009279061A (ja) * | 2008-05-20 | 2009-12-03 | Fujinon Corp | 内視鏡システム及びオプション基板 |
-
1999
- 1999-01-08 JP JP11003241A patent/JP2000201284A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009279061A (ja) * | 2008-05-20 | 2009-12-03 | Fujinon Corp | 内視鏡システム及びオプション基板 |
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