JP2000195050A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの有無を、光学系のフォトディテ
クタのＤＣオフセット、ノイズの混入などに拘らず、正
確に検出すること。 【解決手段】 光学系１６の入射光量を表す入射光量信
号Ｆ１のレベルと、基準レベルＦＯＫＬＥＶとを、比較
回路２４で比較する。光学系１６を、光ディスク１７の
最も近い上限位置３４から、最も遠去かった下限位置３
６に向けて掃引するとき、入射光量信号Ｆ１が表す入射
光量が、基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満から以上に、一
旦、変化し、その後、基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上から
未満に変化したとき、光ディスクが装填されていると判
断する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクおよび
光磁気ディスクなどの記録媒体に対して、記録内容を光
学的に取り扱う光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、コンパクトディスク（Ｃ
Ｄ）、レーザディスク（ＬＤ）、およびデジタルビデオ
ディスク（ＤＶＤ）などの光ディスクならびに、ミニデ
ィスク（ＭＤ）および磁気光学ディスク（ＭＯ）などの
光磁気ディスクからの記録内容の読出し、さらには、Ｃ
Ｄ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、およびＤＶＤ−ＲＡＭなどへの記
録内容の書込みなどの取り扱いは、光ピックアップなど
を備える光ディスク装置で、光学的に行われている。光
ディスク装置では、光ディスクおよび光磁気ディスクを
ターンテーブルに装着させて回転させ、光ピックアップ
に対するフォーカスサーボやトラッキングサーボの制御
を行いながら、記録内容の読出しや書込みを行う。した
がって、光ディスク装置が光ディスクおよび光磁気ディ
スクなどのディスク状記録媒体を取り扱う際には、ター
ンテーブルへの光ディスクなどの装填の有無を検知して
おく必要がある。上述の光ディスクおよび光磁気ディス
クを総括的に、本件明細書では、光ディスクと言うこと
がある。

【０００３】光ディスクの有無の検知には、光ピックア
ップを用いることができる。たとえば特開平４−７９０
３２や特開平６−２０３４６７には、レンズを移動して
光ピックアップのフォーカスを変化させながら、ディテ
クタの受光量に光ディスクの検出に対応する変化が有る
か否かを調べ、変化が有れば光ディスクが装填されてい
ると判断する先行技術が開示されている。これらの先行
技術では、上述のように光学系の入射光量であるディテ
クタの受光量を基準レベルと比較してレベル弁別してお
り、このようなレベル弁別が確実に達成される必要があ
る。

【０００４】たとえば温度変化などで、ディテクタやそ
の出力を増幅する増幅器などのＤＣオフセットが大きく
なる可能性がある。信号レベル中のＤＣオフセット成分
が大きくなって、基準レベルとの相対的な関係が変化す
ると、常にトータル信号のレベルの方が基準レベルより
も大きくなってしまうおそれがある。このような状態で
は、光ディスクが装填されていなくても装填されている
ように検出してしまうことになる。実際に光ディスクが
装填されていないにもかかわらず、装填されていると判
断されてしまうので、光ディスク装置が誤動作を起こす
おそれが生じる。さらに上述のトータル信号に大きなノ
イズ成分が含まれているとき、誤動作を起こすおそれが
生じる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、誤動
作を起こすおそれが無い光ディスク装置を提供すること
である。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、光学系を光軸
に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光
量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスク
の有無を判断する光ディスク装置において、基準レベル
を表す信号を発生する基準レベル発生回路と、入射光量
信号のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準
レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較
回路と、比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す
入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを
検出する第１検出手段と、比較回路の出力に応答し、入
射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満
に変化したことを検出する第２検出手段と、第１および
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光
量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になっ
た後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填
されていると判断する判断手段とを含むことを特徴とす
る光ディスク装置である。

【０００７】本発明に従えば、光学系のたとえばレーザ
光などの光が光ディスクの記録面に照射され、その反射
光を受光し、この反射光の入射光量を表す入射光量信号
レベルと、比較回路において、基準レベル発生回路から
の基準レベルと比較する。光学系の掃引中には、対物レ
ンズのみを、または対物レンズ、レーザ光などの光を発
生する光源および受光素子であるディテクタなどを含む
ピックアップである光学系全体を変位して、光ディスク
に近づく方向に、または遠去かる方向に変位する。この
入射光量は、光学系の合焦点位置で後述のように最大と
なる。光学系を、合焦点位置よりも光ディスクに近い位
置から遠去かる方向に変位して掃引するとき、または合
焦点位置よりも光ディスクから遠去かった位置から近づ
くように変位するとき、入射光量信号のレベルが変化す
る。第１検出手段は、入射光量が基準レベル未満から基
準レベル以上に変化したことを検出し、その後、第２検
出手段は、入射光量が基準レベル以上から基準レベル未
満に変化したことを検出し、これによって判断手段は、
光ディスクが装填されていると判断する。これによって
光学系のたとえばディテクタおよびその出力を増幅する
増幅回路などのＤＣ（直流）オフセットがたとえ大きく
ても、またその入射光量信号に大きな振幅を有するノズ
ルが含まれていても、判断手段は、光ディスクの有無
を、正確に検出することができ、誤検出を回避すること
ができる。

【０００８】また本発明は、入射光量信号を、利得可変
に、増幅する増幅回路と、第１検出手段の出力に応答
し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から
以上に変化しないとき、増幅回路の利得を増大し、再
度、光学系の掃引を行う利得増大用制御手段とをさらに
含むことを特徴とする。

【０００９】本発明に従えば、図６のステップａ６，ａ
７に関連して後述されるように、第１検出手段によっ
て、入射光量が基準レベル未満から基準レベル以上に変
化したことが検出されないとき、光学系のディテクタか
らの入射光量信号を増幅する増幅回路の利得を増大し、
再度、光学系の掃引を行う。これによって光学系の受光
素子であるディテクタの出力レベルが低いとき、レーザ
光などの光源の出力が小さいときなどにおいても、光デ
ィスクの有無を、確実に検出することができる。

【００１０】また本発明は、判断手段は、利得増大用制
御手段の出力に応答し、利得増大用制御手段によって増
幅回路の利得を、予め定める最大値まで増大しても、第
１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填
されていないと判断することを特徴とする。

【００１１】本発明に従えば、増幅回路の利得が、予め
定める最大値になっても、第１検出手段の出力が得られ
なければ、判断手段は、光ディスクが装填されていない
と判断する。これによって光ディスクの有無を正確に検
出することができるようになる。

【００１２】また本発明は、基準レベル発生回路は、基
準レベルを可変とし、第２検出手段の出力に応答し、光
学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に
変化しないとき、基準レベルを増大し、再度、光学系の
掃引を行う基準レベル増大用制御手段をさらに含むこと
を特徴とする。

【００１３】本発明に従えば、図６のステップａ９，ａ
１０に関連して後述されるように、光学系の入射光量
が、基準レベル以上から基準レベル未満に第２検出手段
によって検出されないとき、基準レベル発生回路の基準
レベルを増大した後、再度、光学系の掃引を行う。こう
して受光素子であるディテクタからの入射光量信号のレ
ベルが大きいとき、またはレーザ光の光源の出力が大き
いときなどにおいても、光ディスクの有無を正確に検出
することができるようになる。

【００１４】また本発明は、判断手段は、基準レベル増
大用制御手段の出力に応答し、基準レベル増大用制御手
段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最大値
まで増大しても、第２検出手段の出力が得られないと
き、光ディスクが装填されていないと判断することを特
徴とする。

【００１５】本発明に従えば、図６のステップａ９に関
連して後述されるように、基準レベル発生回路によって
発生される基準レベルが、予め定める最大値まで増大し
ても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディス
クが装填されていないと判断する。こうして光ディスク
の有無の誤検出を回避し、正確な検出が可能になる。

【００１６】また本発明は、基準レベル発生回路は、基
準レベルを可変とし、第１検出手段の出力に応答し、光
学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に
変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の
掃引を行う基準レベル減小用制御手段をさらに含むこと
を特徴とする。

【００１７】本発明に従えば、前述の請求項２の構成に
代えて、図７のステップａ１２，ａ１３に関連して後述
されるように、第１検出手段の出力が得られないとき、
すなわち入射光量が基準レベル未満から基準レベル以上
に変化しないとき、前述の請求項２において増幅回路の
利得を増大した構成に代えて、請求項６では、基準レベ
ルを減小する。これによって光ディスクの有無の誤検出
を防ぐことができ、光ディスクの有無を正確に検出する
ことができる。

【００１８】また本発明は、判断手段は、基準レベル減
小用制御手段の出力に応答し、基準レベル減小用制御手
段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最小値
まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないと
き、光ディスクが装填されていないと判断することを特
徴とする。

【００１９】本発明に従えば、図７のステップａ１２に
関連して後述されるように、基準レベルが予め定める最
小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られない
とき、光ディスクが装填されていないと判断し、これに
よって光ディスクの有無を正確に検出することができ
る。

【００２０】また本発明は、入射光量信号を、利得可変
に、増幅する増幅回路と、第２検出手段の出力に応答
し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から
未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再
度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに
含むことを特徴とする。

【００２１】本発明に従えば、請求項４に関連して前述
したのと同様に、または図８のステップａ１４，ａ１５
に関連して後述されるように、請求項４における基準レ
ベルを増大する構成に代えて、増幅回路の利得を減小し
て再度、掃引を行い、第２検出手段による検出を行う。
こうして光ディスクの有無の検出を正確に行うことがで
きるようになる。

【００２２】また本発明は、判断手段は、利得減小用制
御手段の出力に応答し、利得減小用制御手段によって増
幅回路の利得を、予め定める最小値にまで減小しても、
第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装
填されていないと判断することを特徴とする。

【００２３】本発明に従えば、図８のステップａ１４に
関連して後述されるように、増幅回路の利得を予め定め
る最小値にまで減小しても、第２検出手段の出力が得ら
れないとき、光ディスクが装填されていないと判断す
る。こうして光ディスクの有無を正確に検出することが
できるようになる。

【００２４】

【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施の第１形態
としての光ディスク装置１０の概略的な電気的構成を示
す。受光面１１へ結像する入射光１２は、レーザ光源１
３から発生されるレーザ光を、ビームスプリッタである
ハーフミラー１４を経て、対物レンズ１５を通して光デ
ィスク１７に照射され、その反射光は、ハーフミラー１
４から、シリンドリカルレンズを経て、受光素子である
ディテクタの受光面１１に受光され、非点収差を用いて
フォーカシングが行われる。光学系を構成する光ピック
アップ１６は、レーザ光源１３、ハーフミラー１４、対
物レンズ１５、ディテクタなどを含む。光ピックアップ
１６には、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボ
のための機構が設けられている。

【００２５】光ピックアップ１６によって、情報の光学
的な再生や記録を行う対象となる光ディスク１７は、タ
ーンテーブル１８に装填され、モータ１９で回転駆動さ
れる。光ディスク１７は、ＣＤなどのように、記録媒体
が直接ターンテーブル１８上に装着される場合ばかりで
はなく、ＭＤなどのように、ジャケットケースに入った
状態で装着される場合もあるけれども、光ピックアップ
１６に対してはジャケットに設けられるシャッタが開く
ので、実質的には同等の状態となる。

【００２６】本実施形態としての光ディスク１７の有無
検出や各種サーボ制御は、制御回路２０によって行われ
る。制御回路２０は、マイクロコンピュータなどを含
み、予め設定されているプログラムに従って制御動作を
行う。

【００２７】光ディスク１７が装填されるときの反射に
よる入射光１２が受光面１１上に結像するときの検出光
量に対応する信号は、受光領域Ａ，Ｂに分けて増幅回路
２１，２２でそれぞれ増幅される。ディテクタの受光面
１１は、フォトダイオードで構成され、検出光量に対応
する電流値が増幅回路２１，２２で電圧値に変換されて
増幅される。

【００２８】図２は、光ピックアップ１６のディテクタ
の受光面１１を概略的に示す。受光面１１は、４分割さ
れ、相互に対角位置にあるＡとＢとの２組の領域に分か
れている。レンズ１５を通って入射する光ディスク１７
からの入射光１２は、光ディスク１７の反射面、レンズ
１５および受光面１１の位置関係に従って、図２
（ａ）、図２（ｂ）および図２（ｃ）に示すように形状
が変化して受光面１１上に結像する。光学系の焦点が合
っている状態が図２（ｂ）であり、図２（ａ）は合焦点
位置よりも光ピックアップ１６のレンズ１５が光ディス
ク１７に近づいているときの状態を示し、図２（ｃ）は
レンズ１５が光ディスク１７から合焦点位置よりも遠去
かっているときの状態を示す。受光面１１の受光領域
Ａ，Ｂは、それぞれ２つずつ対向して配置される。参照
符Ａ，Ｂは、受光領域を示すとともに、それらの受光領
域の入射光量を表すことがある。

【００２９】図３は、フォーカスの変化に伴う受光面１
１の受光領域ＡおよびＢにそれぞれ入射する反射光量に
対応するディテクタ出力信号のレベル変化と、Ａ＋Ｂの
反射光量和であるトータル信号Ｆ１のレベル変化とを示
す。図３（ａ）の状態では受光領域Ａの信号レベルが大
きく、図３（ｃ）の状態では受光領域Ｂの信号レベルが
大きい。図３（ｂ）では信号レベルがＡ＝Ｂとなり、Ａ
＋Ｂのトータル信号レベルも最大となる。したがって、
トータル信号のレベルがピークを示すような変化を行う
か否かで、光ディスクの有無を判断することができる。
増幅回路２１，２２の増幅利得は、制御回路２０によっ
て制御可能である。増幅回路２１，２２でＩ−Ｖ（電流
−電圧）変換されて増幅された信号は、加算回路２３で
加算されて、Ａ＋Ｂの入射光量を表すトータル信号が導
出される。トータル信号の電圧レベルは、比較回路２４
で基準レベル発生回路２５から発生される基準レベルＦ
ＯＫＬＥＶの電圧と比較され、比較結果を表す／ＦＯＫ
信号が制御回路２０に入力される。光ピックアップ１６
のサーボ制御のために、制御回路２０からの出力信号
は、駆動回路２６で電力増幅されて光ピックアップ１６
のアクチュエータを駆動する。

【００３０】なお、「／」は、図面上では文字または文
字列の上に引かれるバー記号を示し、負論理の信号、す
なわち、ローレベルが真を表す論理値であることを示
す。ただし、ハイレベルが真を表す正論理を用いること
も同様に可能であり、これらの選択は設計に応じて行わ
れる。

【００３１】図４は、図１の光ピックアップ１６の光学
系であるレンズ１５を光ディスク１７に対して光軸に沿
って移動させるレンズの掃引と、トータル信号Ｆ１のレ
ベルと、ピーク検出を表すＦＯＫ信号との関係を、図４
（ａ）、図４（ｂ）および図４（ｃ）でそれぞれ示す。
レンズの掃引によるフォーカスの変化で、フォーカスが
合う合焦点の位置で、トータル信号Ｆ１のレベルが最大
となり、基準レベルであるＦＯＫＬＥＶを超えて、／Ｆ
ＯＫ信号がローレベルに変化する。制御回路２０は、／
ＦＯＫ信号がハイレベルからローレベルに遷移するこ
と、すなわち入射光量が基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満か
ら基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上に変化したとき、および
その逆に、／ＦＯＫ信号がローレベルからハイレベルに
遷移すること、すなわち入射光量が基準レベルＦＯＫＬ
ＥＶ以上から基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満に変位したこ
とをそれぞれ検出して、光ディスク１７が装填されてい
ると判断することができる。

【００３２】図５は、トータル信号Ｆ１に対する基準レ
ベルを表すＦＯＫＬＥＶ信号が上昇する状態と、／ＦＯ
Ｋ信号の変化との関係を示す。図５（ａ）に実線２８で
示すレンズの掃引前のトータル信号に対して、一点鎖線
で示すようにＦＯＫＬＥＶ信号のレベルが低ければ、図
５（ｂ）に示すように／ＦＯＫ信号はローレベル３１と
なる。掃引開始前に／ＦＯＫ信号がローレベルになって
いるので、ローレベルへの変化でトータル信号のピーク
を検知することができない。図５（ａ）に二点鎖線３０
で示すようにＦＯＫＬＥＶ信号のレベルがトータル信号
よりも高くなれば、／ＦＯＫ信号はハイレベル３２にな
り、ローレベルへの変化でトータル信号のピークを検知
することが可能になる。

【００３３】図６は、制御回路２０による光ディスク１
７の有無の判断動作を示すフローチャートである。ステ
ップａ１から動作を開始する。動作の開始にあたり、増
幅回路２１，２２の増幅の利得は、利得増大または利得
減小の余地を残すように設定され、また基準レベル発生
回路２５における基準レベルを増大または減小すること
ができる余地を残すように設定される。ステップａ２に
おいて、光ピックアップ１６のレンズ１５を掃引する。
この掃引にあたっては、図４（ａ）に示されるように、
初期点３３から、先ず、光ディスク１７に最も近接した
上限位置３４に移動する。基準レベルＦＯＫＬＥＶとの
比較を行うトータル信号Ｆ１は、上限位置３４から、合
焦点位置３５を経て光ディスク１７から最も遠去かった
下限位置３６に掃引する移動中において、行われる。

【００３４】ステップａ３では、レンズ１５の掃引中、
比較回路２４の比較結果を表す／ＦＯＫ信号のレベル
が、図４（ｃ）で示されるように時刻ｔ１においてハイ
レベルＨからローレベルＬに立下がったかどうかが判断
され、これによってディテクタからの入射光量信号であ
るトータル信号Ｆ１が表す入射光量が、基準レベルＦＯ
ＫＬＥＶ未満から以上に変化したかが判断される。／Ｆ
ＯＫ信号が、時刻ｔ１において立下がったことが検出さ
れたとき、次のステップａ４では、その掃引中、／ＦＯ
Ｋ信号が立上がったかどうか、すなわちトータル信号Ｆ
１が表す入射光量が、基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上から
未満に変化したかが判断される。／ＦＯＫ信号が立上が
ったことが時刻ｔ２において判断されると、ステップａ
５では、光ディスク１７が装填されているものと判断す
る。

【００３５】ステップａ３において、／ＦＯＫ信号が立
下がったことが検出されないとき、次のステップａ６に
移り、増幅回路２１の利得が予め定める最大値であるか
どうかが判断され、最大値でなければ、次のステップａ
７に移る。ステップａ７では、増幅回路２１，２２の利
得を、予め定める値だけ、増大し、ステップａ２に移
る。こうして増幅回路２１，２２の利得を、予め定める
値ずつ段階的に上昇し、上限位置３４から下限位置３６
へのレンズ１５の掃引を、ステップａ２において繰返
す。増幅回路２１，２２は、受光領域Ａ，Ｂの電流信号
を、電圧信号に変換する働きをし、しかも利得を、上述
のように変化することができる。

【００３６】前述のステップａ６において、増幅回路２
１，２２の利得が最大値になったとき、ステップａ８で
は、光ディスク１７が装填されていないものと判断す
る。つまり、増幅回路２１，２２の利得が予め定める最
大値になっても、／ＦＯＫ信号の立下がりが検出されな
ければ、光ディスク１７が装填されていないものと判断
する。

【００３７】ステップａ３において、／ＦＯＫ信号が立
下がったことが判断されたとき、ステップａ４に移り、
この／ＦＯＫ信号が、掃引中、立上がったかが判断され
る。ステップａ４において、掃引中に、／ＦＯＫ信号の
立上がりが検出されないとき、次のステップａ９では、
基準レベル発生回路２５における基準レベルＦＯＫＬＥ
Ｖが予め定める最大値であるかどうかが判断される。基
準レベルＦＯＫＬＥＶが最大値でないとき、次のステッ
プａ１０では、基準レベルＦＯＫＬＥＶを、予め定める
値だけ増大し、ステップａ２に移る。このようにしてレ
ンズ１５が上限位置３４から下限位置３６に移動して掃
引する期間において、／ＦＯＫ信号の立下がりが得られ
ないとき、基準レベルＦＯＫＬＥＶを、予め定める値ず
つ段階的に増大して掃引を繰返す。

【００３８】ステップａ９において、基準レベルＦＯＫ
ＬＥＶが最大値になったとき、ステップａ１１では、光
ディスク１７が装填されていないものと判断する。つま
り、基準レベルＦＯＫＬＥＶが予め定める最大値になっ
ても、レンズ１５の掃引中に／ＦＯＫ信号が立下がった
後、立上がらなければ、光ディスク１７が装填されてい
ないものと判断する。

【００３９】図７は、本発明の実施の他の形態における
制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートで
ある。この図７に示される本発明の実施の形態は、前述
の図１〜図６に示される実施の形態に類似し、対応する
部分には同一の参照符を付す。注目すべきはこの実施の
形態では、前述の図６におけるステップａ６，ａ７に代
えて、図７におけるステップａ１２，ａ１３が等価的に
置換えられて実行する。図７におけるステップａ３にお
いてレンズ１５の掃引中、／ＦＯＫ信号の立下がりが検
出されないとき、ステップａ１２では基準レベル発生回
路２５における基準レベルＦＯＫＬＥＶが予め定める最
小値であるかどうかが判断され、最小値でなければ、次
のステップａ１３に移る。ステップａ１３では、基準レ
ベルＦＯＫＬＥＶを予め定める値だけ減小し、ステップ
ａ２に移る。ステップａ２では、レンズ１５が、再び、
上限位置３４から下限位置３６に掃引され、このような
動作が繰返され、／ＦＯＫ信号が立下がったことが検出
されないかぎり、基準レベルＦＯＫＬＥＶが、予め定め
る値ずつ、段階的に減小される。基準レベルＦＯＫＬＥ
Ｖが、予め定める最小値になっても、／ＦＯＫ信号の立
下がりが検出されなければ、ステップａ８では、光ディ
スク１７が装填されていないものと判断する。そのほか
の動作は、前述の実施の形態と同様である。

【００４０】図８は、本発明の実施のさらに他の形態の
制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートで
ある。この図８に示される実施の形態は、前述の図１〜
図７に示される実施の各形態に類似し、対応する部分に
は同一の参照符を付す。この実施の形態では、図６にお
けるステップａ９，ａ１０が、図８のステップａ１４，
ａ１５に置換えられる。ステップａ４において、レンズ
１５の掃引中、／ＦＯＫ信号の立上がりが検出されない
とき、ステップａ１４に移り、増幅回路２１，２２の利
得が最小値であるかどうかが判断され、最小値でなけれ
ば、次のステップａ１５に移り、増幅回路２１，２２の
利得を、予め定める値だけ減小し、ステップａ２に戻
る。こうしてレンズ１５の掃引中、／ＦＯＫ信号が立下
がった後、立上がらなければ、増幅回路２１，２２の利
得を、予め定める値ずつ減小して掃引を繰返す。増幅回
路２１，２２の利得が最小値になったことがステップａ
１４で判断されたとき、ステップａ１１では、光ディス
ク１７が装填されていないものと判断する。つまり、増
幅回路２１，２２の利得が予め定める最小値になって
も、レンズ１５の掃引中に／ＦＯＫ信号が立下がった
後、立上がらなければ、光ディスク１７が装填されてい
ないものと判断する。

【００４１】本発明の実施の他の形態では、図７のステ
ップａ９，ａ１０を、図８のステップａ１４，ａ１５に
置換えてもよい。

【００４２】上述の実施の形態では、レンズ１５は、上
限位置３４から下限位置３６に向けて移動して掃引され
たけれども、本発明の実施の他の形態では、これとは逆
に、下限位置３６から上限位置３４に向けて変位しても
よく、さらにまた上限位置３４と下限位置３６とに代え
て、合焦点位置３５の図４（ａ）における上および下の
各位置の範囲で、掃引するようにしてもよく、さらにレ
ンズ１５を掃引する代わりに、光ピックアップ１６全体
を掃引するようにしてもよい。

【００４３】

【発明の効果】請求項１の本発明によれば、第１および
第２検出手段の働きによって、光学系の掃引中、光学系
の入射光量が、基準レベル未満から基準レベル以上に、
一旦、変化し、その後、基準レベル以上から基準レベル
未満に変化することによって、光ディスクが装填され、
したがって光ディスクの再生が可能であると判断され
る。したがって光学系の受光素子であるフォトディテク
タのＤＣオフセットが大きくても、またその光学系の出
力に大きな振幅を有するノイズが含まれていても、光デ
ィスクが装填されていることを、誤検出することなく、
正確に検出することができるようになる。

【００４４】請求項２の本発明によれば、第１検出手段
の出力が得られないとき、光学系の入射光量信号を増幅
する増幅回路の利得を増大して、再度、掃引を行うの
で、これによって光ディスクの有無をさらに正確に検出
することができる。

【００４５】請求項３の本発明によれば、第１検出手段
の出力が得られないとき、増幅回路の利得を増大してゆ
き、その利得が予め定める最大値まで増大しても、依然
として第１検出手段の出力が得られないとき、光ディス
クが装填されていないものと判断し、こうして光ディス
クの有無を正確に検出することができるようになる。

【００４６】請求項４の本発明によれば、第２検出手段
の出力が得られないとき、基準レベル発生回路の基準レ
ベルを増大して、再度、掃引を行うので、これによって
光ディスクが装填されているかどうかを正確に検出する
ことができる。

【００４７】請求項５の本発明によれば、第２検出手段
の出力が得られず、これによって基準レベルを予め定め
る最大値まで増大しても、依然として第２検出手段の出
力が得られなければ、光ディスクが装填されていないと
判断し、こうして光ディスクの有無を正確に検出するこ
とができる。

【００４８】請求項６の本発明によれば、第１検出手段
の出力が得られないとき増幅回路の利得を増大する代わ
りに、基準レベル発生回路の基準レベルを減小し、これ
によって光ディスクの有無を正確に検出することができ
る。

【００４９】請求項７の本発明によれば、第１検出手段
の出力が得られないとき、基準レベルを減小し、予め定
める最小値まで減小しても、依然として第１検出手段の
出力が得られなければ、光ディスクが装填されていない
と判断し、こうして光ディスクの有無を誤検出すること
なく、正確に検出することができる。

【００５０】請求項８の本発明によれば、第２検出手段
の出力が得られないとき、基準レベルを増大する構成に
代えて、増幅回路の利得を減小して、再度、掃引を行
い、これによって光ディスクの有無を正確に検出するこ
とができる。

【００５１】請求項９の本発明によれば、第２検出手段
の出力が得られないとき、増幅回路の利得を減小してゆ
き、その利得が予め定める最小値まで減小しても、依然
として第２検出手段の出力が得られなければ、光ディス
クが装填されていないと判断し、こうして光ディスクの
有無を、誤検出することなく、正確に検出することがで
きるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の第１形態としての光ディスク装
置１０の概略的な電気的構成を示す図である。

【図２】光ピックアップ１６のディテクタの受光面１１
を概略的に示す図である。

【図３】フォーカスの変化に伴う受光面１１の受光領域
ＡおよびＢにそれぞれ入射する反射光量に対応するディ
テクタ出力信号のレベル変化と、Ａ＋Ｂの反射光量和で
あるトータル信号のレベル変化とを示す図である。

【図４】図１の光ピックアップ１６の光学系であるレン
ズ１５を光ディスク１７に対して光軸に沿って移動させ
るレンズの掃引と、トータル信号Ｆ１のレベルと、ピー
ク検出を表すＦＯＫ信号との関係を示す図である。

【図５】トータル信号Ｆ１に対する基準レベルを表すＦ
ＯＫＬＥＶ信号が上昇する状態と、／ＦＯＫ信号の変化
との関係を示す図である。

【図６】制御回路２０による光ディスク１７の有無の判
断動作を示すフローチャートである。

【図７】本発明の実施の他の形態における制御回路２０
の動作を説明するためのフローチャートである。

【図８】本発明の実施のさらに他の形態の制御回路２０
の動作を説明するためのフローチャートである。

【符号の説明】

１０ 光ディスク装置 １１ 受光面 １２ 入射光 １５ レンズ １６ 光ピックアップ １７ 光ディスク ２０ 制御回路 ２１，２２ 増幅回路 ２３ 加算回路 ２４ 比較回路 ２５ 基準レベル発生回路 ２６ 駆動回路

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学系を光軸に沿って掃引する際に、光
   学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベ
   ルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディス
   ク装置において、 基準レベルを表す信号を発生する基準レベル発生回路
   と、 入射光量信号のレベルと基準レベル発生回路から発生さ
   れる基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出
   する比較回路と、 比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量
   が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する
   第１検出手段と、 比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量
   が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する
   第２検出手段と、 第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引
   中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル
   以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディ
   スクが装填されていると判断する判断手段とを含むこと
   を特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 入射光量信号を、利得可変に、増幅する
   増幅回路と、 第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射
   光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、増幅
   回路の利得を増大し、再度、光学系の掃引を行う利得増
   大用制御手段とをさらに含むことを特徴とする請求項１
   記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 判断手段は、 利得増大用制御手段の出力に応答し、利得増大用制御手
   段によって増幅回路の利得を、予め定める最大値まで増
   大しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光デ
   ィスクが装填されていないと判断することを特徴とする
   請求項２記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 基準レベル発生回路は、基準レベルを可
   変とし、 第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射
   光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、基準
   レベルを増大し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル
   増大用制御手段をさらに含むことを特徴とする請求項１
   〜３のうちの１つに記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 判断手段は、基準レベル増大用制御手段
   の出力に応答し、基準レベル増大用制御手段によって比
   較回路の基準レベルを、予め定める最大値まで増大して
   も、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスク
   が装填されていないと判断することを特徴とする請求項
   ４記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 基準レベル発生回路は、基準レベルを可
   変とし、 第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射
   光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準
   レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル
   減小用制御手段をさらに含むことを特徴とする請求項
   １，４，５のうちの１つに記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 判断手段は、 基準レベル減小用制御手段の出力に応答し、基準レベル
   減小用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め
   定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得
   られないとき、光ディスクが装填されていないと判断す
   ることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
8. 【請求項８】 入射光量信号を、利得可変に、増幅する
   増幅回路と、 第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射
   光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅
   回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減
   小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする請求項
   １，２，３，６，７のうちの１つに記載の光ディスク装
   置。
9. 【請求項９】 判断手段は、 利得減小用制御手段の出力に応答し、利得減小用制御手
   段によって増幅回路の利得を、予め定める最小値にまで
   減小しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光
   ディスクが装填されていないと判断することを特徴とす
   る請求項８記載の光ディスク装置。