JP2000190291A - スライサ装置 - Google Patents
スライサ装置Info
- Publication number
- JP2000190291A JP2000190291A JP10366832A JP36683298A JP2000190291A JP 2000190291 A JP2000190291 A JP 2000190291A JP 10366832 A JP10366832 A JP 10366832A JP 36683298 A JP36683298 A JP 36683298A JP 2000190291 A JP2000190291 A JP 2000190291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- base
- cutter
- slicing
- mouthpiece unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Details Of Cutting Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料の表層部分のスライスを繰り返しなが
ら、順次、切断面のデータを取り込むスライサ装置にお
いて、スライスによって発生した切り屑が切断面に再付
着することを防止する。 【解決手段】 カッタ12は加工室21の中に収容され
る。加工室11の底部13には口金部15が設けられ、
この口金部15の下に試料ホルダ18が配置される。口
金部15の上端面は、加工室11の底部13よりも高い
位置にある。試料10は、試料ホルダ18に保持され、
口金部15を通って加工室11内に所定量づつ送り込ま
れる。カッタ12は、口金部15の上端面に沿って水平
方向に走行する。加工室11の天井部には観察用の窓1
6が設けられ、この窓16の上方には、切断面の状態を
検出するためのセンサ19が配置される。試料のスライ
スによって発生した切り屑20は、口金部15の周囲に
堆積する。
ら、順次、切断面のデータを取り込むスライサ装置にお
いて、スライスによって発生した切り屑が切断面に再付
着することを防止する。 【解決手段】 カッタ12は加工室21の中に収容され
る。加工室11の底部13には口金部15が設けられ、
この口金部15の下に試料ホルダ18が配置される。口
金部15の上端面は、加工室11の底部13よりも高い
位置にある。試料10は、試料ホルダ18に保持され、
口金部15を通って加工室11内に所定量づつ送り込ま
れる。カッタ12は、口金部15の上端面に沿って水平
方向に走行する。加工室11の天井部には観察用の窓1
6が設けられ、この窓16の上方には、切断面の状態を
検出するためのセンサ19が配置される。試料のスライ
スによって発生した切り屑20は、口金部15の周囲に
堆積する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、カッタを用いて試
料の表層部分のスライスを繰り返しながら、スライスの
都度現れた切断面の状態をセンサによって検出し、順
次、データとして取り込むスライサ装置に係る。
料の表層部分のスライスを繰り返しながら、スライスの
都度現れた切断面の状態をセンサによって検出し、順
次、データとして取り込むスライサ装置に係る。
【0002】
【従来の技術】図2に、従来のスライサ装置の一例を示
す。
す。
【0003】カッタ12は、加工室11の中に収容され
ている。カッタ12は、加工室11の底面に沿って、底
面の近傍を水平方向に走行する。加工室11の底部13
には開口部14が形成され、この開口部14の下に、試
料ホルダ18が配置されている。試料10は、試料ホル
ダ18の上面に保持され、試料ホルダ18によって開口
部14を通って加工室11内に所定量づつ送り込まれ
る。加工室11の天井部の、試料10の上方に当たる部
分には、観察用の窓16が設けられ、この窓16の上方
には、試料10の切断面の状態(例えば、画像など)を
検出するためのセンサ19が配置されている。
ている。カッタ12は、加工室11の底面に沿って、底
面の近傍を水平方向に走行する。加工室11の底部13
には開口部14が形成され、この開口部14の下に、試
料ホルダ18が配置されている。試料10は、試料ホル
ダ18の上面に保持され、試料ホルダ18によって開口
部14を通って加工室11内に所定量づつ送り込まれ
る。加工室11の天井部の、試料10の上方に当たる部
分には、観察用の窓16が設けられ、この窓16の上方
には、試料10の切断面の状態(例えば、画像など)を
検出するためのセンサ19が配置されている。
【0004】上記のスライサ装置において、試料10の
切断面のデータの取り込みは、次の様に行われる。即
ち、試料10を試料ホルダ18の上面に保持し、試料1
0の上面部分を開口部14を介して加工室11の中に挿
入する。カッタ12の往復走行を開始する。カッタ12
の往復走行に同期させて、試料ホルダ18を用いて試料
10を所定量づつ上方へ送り出すことによって、試料1
0の表層部分のスライスを繰り返す。スライスの都度現
れた試料切断面の状態を、センサ19を用いて検出す
る。この様にして検出されたデータを、順次、データ処
理装置(図示せず)に取り込んで行く。
切断面のデータの取り込みは、次の様に行われる。即
ち、試料10を試料ホルダ18の上面に保持し、試料1
0の上面部分を開口部14を介して加工室11の中に挿
入する。カッタ12の往復走行を開始する。カッタ12
の往復走行に同期させて、試料ホルダ18を用いて試料
10を所定量づつ上方へ送り出すことによって、試料1
0の表層部分のスライスを繰り返す。スライスの都度現
れた試料切断面の状態を、センサ19を用いて検出す
る。この様にして検出されたデータを、順次、データ処
理装置(図示せず)に取り込んで行く。
【0005】試料10の表層部分のスライスの結果、発
生した切り屑20は、加工室11の底部13に堆積す
る。これらの切り屑20は、データの取り込みが終了し
た後、人手によって加工室11から排出される。
生した切り屑20は、加工室11の底部13に堆積す
る。これらの切り屑20は、データの取り込みが終了し
た後、人手によって加工室11から排出される。
【0006】なお、例えば、試料10が生体試料であ
り、センサ19として顕微鏡を使用してその切断面の画
像を、順次、撮影して行く場合、試料10の送り出し量
は、通常、1回当たり数μm〜数十μm程度であり、撮
影時間は数百ミリ秒程度である。
り、センサ19として顕微鏡を使用してその切断面の画
像を、順次、撮影して行く場合、試料10の送り出し量
は、通常、1回当たり数μm〜数十μm程度であり、撮
影時間は数百ミリ秒程度である。
【0007】(従来の装置の問題点)加工室11の底部
13に堆積した切り屑20の一部が、カッタ12の刃に
付着して運ばれ、試料10の切断面に再付着することが
ある。試料10の切断面に切り屑が再付着すると、切断
面の観察の際に障害となる。また、再付着によって切断
面を傷付けると、観察の精度を損なう要因となる。
13に堆積した切り屑20の一部が、カッタ12の刃に
付着して運ばれ、試料10の切断面に再付着することが
ある。試料10の切断面に切り屑が再付着すると、切断
面の観察の際に障害となる。また、再付着によって切断
面を傷付けると、観察の精度を損なう要因となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の様な
従来のスライサ装置の問題点に鑑み成されたもので、本
発明の目的は、試料の表層部分のスライスによって発生
した切り屑が切断面に再付着することがないスライサ装
置を提供することにある。
従来のスライサ装置の問題点に鑑み成されたもので、本
発明の目的は、試料の表層部分のスライスによって発生
した切り屑が切断面に再付着することがないスライサ装
置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のスライサ装置
は、測定対象の試料を、その側面からガイドして上方へ
送り出す口金部と、この口金部の上端面に沿って水平面
内で走行するカッタとを備え、口金部を介して所定量づ
つ試料を送り出しながら、カッタを用いて試料の上面部
分のスライスを繰り返し、スライスの都度現れた切断面
の状態をセンサによって検出し、順次、データとして取
り込むスライサ装置において、前記口金部の上端面を口
金部の周囲よりも上方に突出させたことを特徴とする。
は、測定対象の試料を、その側面からガイドして上方へ
送り出す口金部と、この口金部の上端面に沿って水平面
内で走行するカッタとを備え、口金部を介して所定量づ
つ試料を送り出しながら、カッタを用いて試料の上面部
分のスライスを繰り返し、スライスの都度現れた切断面
の状態をセンサによって検出し、順次、データとして取
り込むスライサ装置において、前記口金部の上端面を口
金部の周囲よりも上方に突出させたことを特徴とする。
【0010】本発明のスライサ装置によれば、口金部の
周囲が口金部の上端面よりも低くなっているので、この
部分に溜まった切り屑がカッタの刃に再付着することを
防止することができる。
周囲が口金部の上端面よりも低くなっているので、この
部分に溜まった切り屑がカッタの刃に再付着することを
防止することができる。
【0011】なお、口金部の上端面とその周囲との間の
段差は、切り屑の厚さ及び容積、切り屑の回収作業の頻
度などに応じて定められる。
段差は、切り屑の厚さ及び容積、切り屑の回収作業の頻
度などに応じて定められる。
【0012】例えば、生体組織の顕微鏡撮影を行う場
合、試料の直径は3〜50mm程度、スライスにより発
生する切り屑の厚みは数μm〜数十μm程度、スライス
の繰り返し数は100〜10,000回程度である。こ
の場合、上記の段差として、5〜8mm程度あれば、切
断面への切り屑の再付着を防止することができる。
合、試料の直径は3〜50mm程度、スライスにより発
生する切り屑の厚みは数μm〜数十μm程度、スライス
の繰り返し数は100〜10,000回程度である。こ
の場合、上記の段差として、5〜8mm程度あれば、切
断面への切り屑の再付着を防止することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1に、本発明のスライサ装置の
概要を示す。図中、10は試料、11は加工室、12は
カッタ、15は口金部、19はセンサを表す。
概要を示す。図中、10は試料、11は加工室、12は
カッタ、15は口金部、19はセンサを表す。
【0014】カッタ12は、加工室11の中に収容され
ている。加工室11の底部13には口金部15が設けら
れ、この口金部15の下に、試料ホルダ18が配置され
ている。口金部15の上端面は、その周囲の加工室11
の底部13よりも高い位置にある。
ている。加工室11の底部13には口金部15が設けら
れ、この口金部15の下に、試料ホルダ18が配置され
ている。口金部15の上端面は、その周囲の加工室11
の底部13よりも高い位置にある。
【0015】試料10は、試料ホルダ18の上面に保持
され、試料ホルダ18によって口金部15を通って加工
室11内に所定量づつ送り込まれる。カッタ12は、口
金部15の上端面に沿って、上端面の近傍を水平方向に
走行する。加工室11の天井部には、試料10の上方に
当たる部分に、観察用の窓16が設けられ、この窓16
の上方には、試料10の切断面の状態(例えば、画像、
表面粗さ、硬さ、放射線量、温度など)を検出するため
のセンサ19が配置されている。
され、試料ホルダ18によって口金部15を通って加工
室11内に所定量づつ送り込まれる。カッタ12は、口
金部15の上端面に沿って、上端面の近傍を水平方向に
走行する。加工室11の天井部には、試料10の上方に
当たる部分に、観察用の窓16が設けられ、この窓16
の上方には、試料10の切断面の状態(例えば、画像、
表面粗さ、硬さ、放射線量、温度など)を検出するため
のセンサ19が配置されている。
【0016】試料10の表層部分のスライスの結果、発
生した切り屑20は、口金部15の周囲に堆積する。こ
れらの切り屑20は、データの取り込みが終了した後、
人手によって加工室11から排出される。
生した切り屑20は、口金部15の周囲に堆積する。こ
れらの切り屑20は、データの取り込みが終了した後、
人手によって加工室11から排出される。
【0017】上記の装置において、加工室11の底部1
3が口金部15の上端面よりも低くなっているので、底
部13に溜まった切り屑がカッタ12の刃に再付着する
ことがない。
3が口金部15の上端面よりも低くなっているので、底
部13に溜まった切り屑がカッタ12の刃に再付着する
ことがない。
【0018】
【発明の効果】本発明のスライサ装置によれば、試料の
表層部分をスライスすることによって発生した切り屑
が、試料の切断面に再付着することを防止することがで
きる。従って、試料の切断面が清浄な状態に保たれ、観
察あるいは測定の精度を良好な状態で維持することがで
きる。
表層部分をスライスすることによって発生した切り屑
が、試料の切断面に再付着することを防止することがで
きる。従って、試料の切断面が清浄な状態に保たれ、観
察あるいは測定の精度を良好な状態で維持することがで
きる。
【図1】本発明に基づくスライサ装置の概要を示す図。
【図2】従来のスライサ装置の概要を示す図。
10・・・試料、 11・・・加工室、 12・・・カッタ、 13・・・加工室の底部、 14・・・開口部、 15・・・口金部、 16・・・窓、 18・・・試料ホルダ、 19・・・センサ、 20・・・切り屑。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大友 明宏 静岡県沼津市大岡2068の3 東芝機械株式 会社沼津事業所内 (72)発明者 浅野目 裕 静岡県沼津市大岡2068の3 東芝機械株式 会社沼津事業所内 (72)発明者 小久保 光典 静岡県沼津市大岡2068の3 東芝機械株式 会社沼津事業所内 (72)発明者 樋口 俊郎 神奈川県横浜市都筑区荏田東3−4−26 (72)発明者 工藤 謙一 東京都豊島区巣鴨5−15−16 (72)発明者 横田 秀夫 神奈川県川崎市多摩区菅2−15−7 キャ ピタル稲田堤206 Fターム(参考) 3C021 DB05 FA02 FC02 FC03 GA02 GA04
Claims (2)
- 【請求項1】 測定対象の試料を、その側面からガイド
して上方へ送り出す口金部と、 この口金部の上端面に沿って水平面内で走行するカッタ
とを備え、 口金部を介して所定量づつ試料を送り出しながら、カッ
タを用いて試料の上面部分のスライスを繰り返し、スラ
イスの都度現れた切断面の状態をセンサによって検出
し、順次、データとして取り込むスライサ装置におい
て、 前記口金部の上端面を口金部の周囲よりも上方に突出さ
せたことを特徴とするスライサ装置。 - 【請求項2】 前記口金部の上端面を口金部の周囲より
も上方に、5mm以上8mm以下、突出させたことを特
徴とする請求項1に記載のスライサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10366832A JP2000190291A (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | スライサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10366832A JP2000190291A (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | スライサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000190291A true JP2000190291A (ja) | 2000-07-11 |
Family
ID=18487792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10366832A Pending JP2000190291A (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | スライサ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000190291A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240522A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-09-20 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置、及び薄切片の作製方法 |
US11435268B2 (en) | 2020-02-22 | 2022-09-06 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
CN117464760A (zh) * | 2023-11-14 | 2024-01-30 | 厦门眼科中心有限公司 | 一种组织切片智能培养装置 |
US11959835B2 (en) | 2020-10-23 | 2024-04-16 | Clarapath, Inc. | Preliminary diagnoses of cut tissue sections |
-
1998
- 1998-12-24 JP JP10366832A patent/JP2000190291A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240522A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-09-20 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置、及び薄切片の作製方法 |
US11435268B2 (en) | 2020-02-22 | 2022-09-06 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
US11467071B2 (en) | 2020-02-22 | 2022-10-11 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
US11609162B2 (en) | 2020-02-22 | 2023-03-21 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
US11821826B2 (en) | 2020-02-22 | 2023-11-21 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
US11898948B2 (en) | 2020-02-22 | 2024-02-13 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
US11959835B2 (en) | 2020-10-23 | 2024-04-16 | Clarapath, Inc. | Preliminary diagnoses of cut tissue sections |
CN117464760A (zh) * | 2023-11-14 | 2024-01-30 | 厦门眼科中心有限公司 | 一种组织切片智能培养装置 |
CN117464760B (zh) * | 2023-11-14 | 2024-04-19 | 厦门眼科中心有限公司 | 一种组织切片智能培养装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051102 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081027 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081104 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090303 |