JP2000164946A - 焦電形素子 - Google Patents
焦電形素子Info
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- JP2000164946A JP2000164946A JP10334824A JP33482498A JP2000164946A JP 2000164946 A JP2000164946 A JP 2000164946A JP 10334824 A JP10334824 A JP 10334824A JP 33482498 A JP33482498 A JP 33482498A JP 2000164946 A JP2000164946 A JP 2000164946A
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- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 37
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 検知性能が良好な焦電形素子を提供する。
【解決手段】 厚み方向の両面に電極が形成された素子
片5は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハか
ら切り出され、切り出し面5a〜5fが該Zカット単結
晶ウェハの劈開面である{10−2}面に一致してい
る。したがって、切り出し面の加工損傷の発生を防止す
ることができ、検知性能を向上させることができる。
片5は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハか
ら切り出され、切り出し面5a〜5fが該Zカット単結
晶ウェハの劈開面である{10−2}面に一致してい
る。したがって、切り出し面の加工損傷の発生を防止す
ることができ、検知性能を向上させることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、焦電形赤外線セン
サなどに使用される焦電形素子に関するものである。
サなどに使用される焦電形素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、熱や温度変化の検知器として利
用されている焦電形赤外線センサに使用される焦電形素
子の材料には、焦電性を有する種々の強誘電体が用いら
れている。
用されている焦電形赤外線センサに使用される焦電形素
子の材料には、焦電性を有する種々の強誘電体が用いら
れている。
【0003】一般に提供されている焦電形素子は、例え
ば、図7に示すように、矩形板状の基板1と、基板の厚
み方向の両面に互いに対向する形で形成された一対の電
極2a,2bとで構成されている。
ば、図7に示すように、矩形板状の基板1と、基板の厚
み方向の両面に互いに対向する形で形成された一対の電
極2a,2bとで構成されている。
【0004】ところで、焦電形素子の材料の形態とし
て、単結晶バルクは材料の均質性が高く、近年良質な単
結晶ウェハが安価に入手可能となったこともあり、広く
利用されるようになっている。この焦電形素子の材料と
してよく用いられているのが、焦電性を有する強誘電体
の1つであるタンタル酸リチウムのいわゆるZカット単
結晶ウェハである。なお、タンタル酸リチウムは、三方
晶系に属する。
て、単結晶バルクは材料の均質性が高く、近年良質な単
結晶ウェハが安価に入手可能となったこともあり、広く
利用されるようになっている。この焦電形素子の材料と
してよく用いられているのが、焦電性を有する強誘電体
の1つであるタンタル酸リチウムのいわゆるZカット単
結晶ウェハである。なお、タンタル酸リチウムは、三方
晶系に属する。
【0005】図7に示すような矩形板状の素子片1を図
8(a)に示すようなZカット単結晶ウェハ4から複数
個切り出す場合、オリエンテーションフラットに平行に
形成されたスクライブ線およびオリエンテーションフラ
ットに直交して形成されたスクライブ線に沿って機械加
工(例えば、ダイシング)される。なお、Zカット単結
晶ウェハ4は、表面に直交する軸をZ軸とし、(01
0)面に上記オリエンテーションフラットが形成されて
おり、いま<010>方向にY軸をとり、<2−10>
方向にX軸をとると、図8(a)の左下側に示した直交
座標系を定義することができる。
8(a)に示すようなZカット単結晶ウェハ4から複数
個切り出す場合、オリエンテーションフラットに平行に
形成されたスクライブ線およびオリエンテーションフラ
ットに直交して形成されたスクライブ線に沿って機械加
工(例えば、ダイシング)される。なお、Zカット単結
晶ウェハ4は、表面に直交する軸をZ軸とし、(01
0)面に上記オリエンテーションフラットが形成されて
おり、いま<010>方向にY軸をとり、<2−10>
方向にX軸をとると、図8(a)の左下側に示した直交
座標系を定義することができる。
【0006】ここにおいて、各素子片1は、図8(b)
に示すように、オリエンテーションフラットに直交する
スクライブ線に沿って切断された切り出し面1cが(2
−10)面(以下、X面と称す)となり、オリエンテー
ションフラットに平行するスクライブ線に沿って切断さ
れた面1d切り出し面1dが(010)面(以下、Y面
と称す)となる。
に示すように、オリエンテーションフラットに直交する
スクライブ線に沿って切断された切り出し面1cが(2
−10)面(以下、X面と称す)となり、オリエンテー
ションフラットに平行するスクライブ線に沿って切断さ
れた面1d切り出し面1dが(010)面(以下、Y面
と称す)となる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来構
成では、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ4
からダイシングなどの機械加工により素子片1を切り出
しており、上述のように素子片1の切り出し面1c、1
dがそれぞれ(2−10)面、(010)面となってい
る。しかしながら、タンタル酸リチウムのZカット単結
晶ウェハ4の劈開面は{10−2}面なので、素子片1
の切り出し面1c、1dがこの劈開面に一致しておら
ず、切り出し面に、チッピングと呼ばれる欠けや、マイ
クロクラックと呼ばれる微小破砕などの加工損傷が生じ
てしまう。
成では、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ4
からダイシングなどの機械加工により素子片1を切り出
しており、上述のように素子片1の切り出し面1c、1
dがそれぞれ(2−10)面、(010)面となってい
る。しかしながら、タンタル酸リチウムのZカット単結
晶ウェハ4の劈開面は{10−2}面なので、素子片1
の切り出し面1c、1dがこの劈開面に一致しておら
ず、切り出し面に、チッピングと呼ばれる欠けや、マイ
クロクラックと呼ばれる微小破砕などの加工損傷が生じ
てしまう。
【0008】ここにおいて、タンタル酸リチウムなどの
ような焦電性を有する種々の強誘電体は圧電性も有して
いるので、素子片1に機械的応力が作用した場合や素子
片1自体が作る歪み場などによって、上述の加工損傷が
発生している部位に、局所的な強電場あるいは自由電荷
の蓄積が生じ、やがては放電を引き起こす状態に達し、
ノイズが発生して焦電形素子の検知性能が低下してしま
うという不具合があった。
ような焦電性を有する種々の強誘電体は圧電性も有して
いるので、素子片1に機械的応力が作用した場合や素子
片1自体が作る歪み場などによって、上述の加工損傷が
発生している部位に、局所的な強電場あるいは自由電荷
の蓄積が生じ、やがては放電を引き起こす状態に達し、
ノイズが発生して焦電形素子の検知性能が低下してしま
うという不具合があった。
【0009】本発明は、上記事由に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、検知性能が良好な焦電形素子を提
供することにある。
であり、その目的は、検知性能が良好な焦電形素子を提
供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、焦電
性を有する強誘電体の単結晶ウェハから切り出された素
子片と、該素子片に設けられた少なくとも2つの電極と
を備え、素子片の切り出し面は、単結晶ウェハの表面と
劈開面とが交差する線を含むことを特徴とするものであ
る。この構成によれば、素子片の切り出し面への加工損
傷の発生が少なくなるので、検知性能を向上させること
ができる。
性を有する強誘電体の単結晶ウェハから切り出された素
子片と、該素子片に設けられた少なくとも2つの電極と
を備え、素子片の切り出し面は、単結晶ウェハの表面と
劈開面とが交差する線を含むことを特徴とするものであ
る。この構成によれば、素子片の切り出し面への加工損
傷の発生が少なくなるので、検知性能を向上させること
ができる。
【0011】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記単結晶ウェハは、タンタル酸リチウムよりなる
ものである。この構成によれば、タンタル酸リチウムは
大型単結晶の作製が容易であるので、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハとして大口径のものを利用す
ることができ、1枚のZカット単結晶ウェハから切り出
す素子片の数を多くすることができ、製造コストの低コ
スト化を図ることができる。
て、上記単結晶ウェハは、タンタル酸リチウムよりなる
ものである。この構成によれば、タンタル酸リチウムは
大型単結晶の作製が容易であるので、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハとして大口径のものを利用す
ることができ、1枚のZカット単結晶ウェハから切り出
す素子片の数を多くすることができ、製造コストの低コ
スト化を図ることができる。
【0012】請求項3の発明は、請求項2の発明におい
て、上記素子片の厚み方向の両面に互いに対向する形で
2つ一組の上記電極が形成され、上記素子片の切り出し
面は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハの劈
開面である{10−2}面からなるものである。この構
成によれば、素子片の切り出し面に発生する加工損傷を
少なくすることができ、検知性能が向上する。
て、上記素子片の厚み方向の両面に互いに対向する形で
2つ一組の上記電極が形成され、上記素子片の切り出し
面は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハの劈
開面である{10−2}面からなるものである。この構
成によれば、素子片の切り出し面に発生する加工損傷を
少なくすることができ、検知性能が向上する。
【0013】請求項4の発明は、請求項2の発明におい
て、上記素子片の切り出し面は、タンタル酸リチウムの
Zカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を
含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面から
なるものである。この構成によれば、請求項3の発明よ
りも素子片の切り出し用いる機械加工装置の制約が少な
くなる。
て、上記素子片の切り出し面は、タンタル酸リチウムの
Zカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を
含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面から
なるものである。この構成によれば、請求項3の発明よ
りも素子片の切り出し用いる機械加工装置の制約が少な
くなる。
【0014】請求項5の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、熱分離スリットの内周面が{10−2}面からなる
ものである。この構成によれば、熱分離スリットを備え
ていることにより感度が向上し、しかも熱分離スリット
の内周面が{10−2}面からなることにより熱分離ス
リットの内周面に加工損傷が発生するのを少なくするこ
とができる。
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、熱分離スリットの内周面が{10−2}面からなる
ものである。この構成によれば、熱分離スリットを備え
ていることにより感度が向上し、しかも熱分離スリット
の内周面が{10−2}面からなることにより熱分離ス
リットの内周面に加工損傷が発生するのを少なくするこ
とができる。
【0015】請求項6の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、上記熱分離スリットの内周面が、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する
線を含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面
からなるものである。この構成によれば、熱分離スリッ
トを備えていることにより感度が向上し、しかも請求項
5の発明に比べて熱分離スリットの加工が容易になる。
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、上記熱分離スリットの内周面が、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する
線を含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面
からなるものである。この構成によれば、熱分離スリッ
トを備えていることにより感度が向上し、しかも請求項
5の発明に比べて熱分離スリットの加工が容易になる。
【0016】請求項7の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、熱分離スリットの内周
面が{10−2}面からなるものである。この構成によ
れば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的に低減さ
せることができる。
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、熱分離スリットの内周
面が{10−2}面からなるものである。この構成によ
れば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的に低減さ
せることができる。
【0017】請求項8の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、上記熱分離スリットの
内周面が、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ
の表面と劈開面とが交差する線を含み且つZカット単結
晶ウェハの表面と直交する面からなるものである。この
構成によれば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的
に低減させることができ、しかも請求項7の発明に比べ
て熱分離スリットの加工が容易になる。
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、上記熱分離スリットの
内周面が、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ
の表面と劈開面とが交差する線を含み且つZカット単結
晶ウェハの表面と直交する面からなるものである。この
構成によれば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的
に低減させることができ、しかも請求項7の発明に比べ
て熱分離スリットの加工が容易になる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。なお、以下説明する実施形態で
は、焦電形素子の材料としてタンタル酸リチウムのZカ
ット単結晶ウェハを用いている。
に基づいて説明する。なお、以下説明する実施形態で
は、焦電形素子の材料としてタンタル酸リチウムのZカ
ット単結晶ウェハを用いている。
【0019】(実施形態1)本実施形態の基本構成は、
図7に示した従来構成と略同じであって、上述の図8に
示した直交座標系において、図1に示すように、素子片
5の平面形状を六角形として、該素子片5の各切り出し
面5a〜5fをタンタル酸リチウムのZカット単結晶ウ
ェハ4の劈開面である{10−2}面に一致させて機械
加工した点に特徴がある。なお、各切り出し面5a,5
b,5c,5d,5e,5fは、それぞれ(−10−
2)面,(0−1−2)面,(1−1−2)面,(10
−2)面,(01−2)面,(−11−2)面により構
成される。
図7に示した従来構成と略同じであって、上述の図8に
示した直交座標系において、図1に示すように、素子片
5の平面形状を六角形として、該素子片5の各切り出し
面5a〜5fをタンタル酸リチウムのZカット単結晶ウ
ェハ4の劈開面である{10−2}面に一致させて機械
加工した点に特徴がある。なお、各切り出し面5a,5
b,5c,5d,5e,5fは、それぞれ(−10−
2)面,(0−1−2)面,(1−1−2)面,(10
−2)面,(01−2)面,(−11−2)面により構
成される。
【0020】しかして、本実施形態では、素子片5の切
り出し面5a〜5fがタンタル酸リチウムのZカット単
結晶ウェハ4の劈開面に一致するように切り出してある
ので、素子片5の切り出し面5a〜5fへの加工損傷の
発生が少なく、図7および図8に示した従来構成に比べ
て検知性能を向上させることができる。
り出し面5a〜5fがタンタル酸リチウムのZカット単
結晶ウェハ4の劈開面に一致するように切り出してある
ので、素子片5の切り出し面5a〜5fへの加工損傷の
発生が少なく、図7および図8に示した従来構成に比べ
て検知性能を向上させることができる。
【0021】(実施形態2)ところで、実施形態1で説
明した各切り出し面5a〜5fは、Zカット単結晶ウェ
ハ4の表面(Z面)に対して直交していないので、機械
加工装置などの制約で切り出し面5a〜5fを劈開面に
一致させることが難しい場合が考えられる。
明した各切り出し面5a〜5fは、Zカット単結晶ウェ
ハ4の表面(Z面)に対して直交していないので、機械
加工装置などの制約で切り出し面5a〜5fを劈開面に
一致させることが難しい場合が考えられる。
【0022】本実施形態はこの種の不具合を解決するも
のであり、基本構成は図7に示した従来構成と略同じで
あって、上述の図8に示した直交座標系において、図2
に示すように、素子片7の形状を図2(b)に示すよう
な六角柱状として、図2(a)に示すZカット単結晶ウ
ェハ4からの素子片7の各切り出し面7a,7b,7
c,7d,7e,7fは、(−100)面,(0−1
0)面,(1−10)面,(100)面,(010)
面,(−110)面により構成されている。
のであり、基本構成は図7に示した従来構成と略同じで
あって、上述の図8に示した直交座標系において、図2
に示すように、素子片7の形状を図2(b)に示すよう
な六角柱状として、図2(a)に示すZカット単結晶ウ
ェハ4からの素子片7の各切り出し面7a,7b,7
c,7d,7e,7fは、(−100)面,(0−1
0)面,(1−10)面,(100)面,(010)
面,(−110)面により構成されている。
【0023】ところで、図1に示した実施形態1の素子
片5における各切り出し面(つまり、劈開面)とZカッ
ト単結晶ウェハ4の表面(Z面)との交線は、図2
(a)に示すX軸に平行な線6aに平行する線と、X軸
に対して+60°傾斜した線6bに平行する線と、X軸
に対して−60°傾斜した線6cに平行する線となる。
片5における各切り出し面(つまり、劈開面)とZカッ
ト単結晶ウェハ4の表面(Z面)との交線は、図2
(a)に示すX軸に平行な線6aに平行する線と、X軸
に対して+60°傾斜した線6bに平行する線と、X軸
に対して−60°傾斜した線6cに平行する線となる。
【0024】これに対し、本実施形態における素子片7
の表面の外周の各辺が上述の線6a,6b,6cのいず
れかに平行し、且つ、各切り出し面7a〜7fがZ面に
直交している。
の表面の外周の各辺が上述の線6a,6b,6cのいず
れかに平行し、且つ、各切り出し面7a〜7fがZ面に
直交している。
【0025】しかして、本実施形態では、Zカット単結
晶ウェハ4から素子片7を切り出す場合の機械加工装置
の制約が実施形態1の素子片5を切り出す場合に比べて
少なくなる。なお、各切り出し面7a〜7fの加工損傷
は実施形態1の各切り出し面5a〜5fに比べて増加す
るものの図8に示した従来構成に比べれば加工損傷は少
ない。
晶ウェハ4から素子片7を切り出す場合の機械加工装置
の制約が実施形態1の素子片5を切り出す場合に比べて
少なくなる。なお、各切り出し面7a〜7fの加工損傷
は実施形態1の各切り出し面5a〜5fに比べて増加す
るものの図8に示した従来構成に比べれば加工損傷は少
ない。
【0026】(実施形態3)本実施形態の焦電形素子の
基本構成は実施形態2と略同じであって、平面形状が図
3に示すようY軸方向に縦長の六角形状に形成され、素
子片7’の厚み方向の両面に互いに対向するる形で形成
される一対の電極9,10が2組設けられている点に特
徴がある。ここにおいて、互いに対向する一対の電極
9,10とその間に介在するタンタル酸リチウムとで1
つの検知部8を構成している。なお、各電極9,10
は、蒸着により形成された金属膜により構成される。
基本構成は実施形態2と略同じであって、平面形状が図
3に示すようY軸方向に縦長の六角形状に形成され、素
子片7’の厚み方向の両面に互いに対向するる形で形成
される一対の電極9,10が2組設けられている点に特
徴がある。ここにおいて、互いに対向する一対の電極
9,10とその間に介在するタンタル酸リチウムとで1
つの検知部8を構成している。なお、各電極9,10
は、蒸着により形成された金属膜により構成される。
【0027】また、素子片7’のY軸方向における両端
部には外部接続するための端子部12がそれぞれ設けら
れており、上述の検知部8はY軸方向に沿って並んで形
成されている。ここで、一対の検知部8は、素子片7’
の表面および裏面に蒸着などにより形成された配線11
および端子部2によって自発分極の方向が互いに逆方向
になるように並列接続されている。
部には外部接続するための端子部12がそれぞれ設けら
れており、上述の検知部8はY軸方向に沿って並んで形
成されている。ここで、一対の検知部8は、素子片7’
の表面および裏面に蒸着などにより形成された配線11
および端子部2によって自発分極の方向が互いに逆方向
になるように並列接続されている。
【0028】なお、素子片7’の表面の外周の6つの辺
16a〜16fのうち辺16a,16dはX軸に平行
し、辺16b,16eはX軸に対して+60°傾斜し、
辺16c,16fはX軸に対して−60°傾斜してお
り、且つ各切り出し面はZ面に直交している。
16a〜16fのうち辺16a,16dはX軸に平行
し、辺16b,16eはX軸に対して+60°傾斜し、
辺16c,16fはX軸に対して−60°傾斜してお
り、且つ各切り出し面はZ面に直交している。
【0029】さらに、2つの検知部8が互いに自発分極
の方向が逆方向になるように並列接続されていることに
より、環境温度の変化などによる2つの検知部8での暗
雑音などが互いに打ち消し合うので、検知性能をさらに
向上させることができる。また、出力値の極性の変化順
によって各検知部8のどちらが先に検知したかを知るこ
とが可能である。
の方向が逆方向になるように並列接続されていることに
より、環境温度の変化などによる2つの検知部8での暗
雑音などが互いに打ち消し合うので、検知性能をさらに
向上させることができる。また、出力値の極性の変化順
によって各検知部8のどちらが先に検知したかを知るこ
とが可能である。
【0030】(実施形態4)本実施形態の焦電形素子の
基本構成は実施形態3と略同じであって、図4に示すよ
うに、素子片7’の外形形状が相違するだけなので、実
施形態3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明
を省略する。
基本構成は実施形態3と略同じであって、図4に示すよ
うに、素子片7’の外形形状が相違するだけなので、実
施形態3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明
を省略する。
【0031】なお、本実施形態においても、素子片7’
の表面の外周の6つの辺16a〜16fのうち辺16
a,16dはX軸に平行し、辺16b,16eはX軸に
対して+60°傾斜し、辺16c,16fはX軸に対し
て−60°傾斜しており、且つ各切り出し面はZ面に直
交している。
の表面の外周の6つの辺16a〜16fのうち辺16
a,16dはX軸に平行し、辺16b,16eはX軸に
対して+60°傾斜し、辺16c,16fはX軸に対し
て−60°傾斜しており、且つ各切り出し面はZ面に直
交している。
【0032】(実施形態5)本実施形態の基本構成は、
実施形態3と略同じであって、図5に示すように、六角
形状に形成された4つの検知部8を備え、4つの検知部
8のうち対角位置にある検知部8同士は自発分極の方向
が同一方向となるように並列接続され、互いに異なる対
角に位置する検知部8同士は自発分極の方向が逆方向と
なるように並列接続されている点に特徴がある。なお、
実施形態3と同様の構成要素には同一の符号を付して説
明を省略する。
実施形態3と略同じであって、図5に示すように、六角
形状に形成された4つの検知部8を備え、4つの検知部
8のうち対角位置にある検知部8同士は自発分極の方向
が同一方向となるように並列接続され、互いに異なる対
角に位置する検知部8同士は自発分極の方向が逆方向と
なるように並列接続されている点に特徴がある。なお、
実施形態3と同様の構成要素には同一の符号を付して説
明を省略する。
【0033】しかして、本実施形態では、実施形態3と
同様に、自発分極の方向が逆方向になるように並列接続
されている検知部8同士で、環境温度の変化などによる
2つの検知部8での暗雑音などが互いに打ち消し合うの
で、検知性能をさらに向上させることができる。また、
出力値の極性の変化順によって各検知部8のどれが先に
検知したかを知ることが可能である。
同様に、自発分極の方向が逆方向になるように並列接続
されている検知部8同士で、環境温度の変化などによる
2つの検知部8での暗雑音などが互いに打ち消し合うの
で、検知性能をさらに向上させることができる。また、
出力値の極性の変化順によって各検知部8のどれが先に
検知したかを知ることが可能である。
【0034】また、本実施形態では、素子片7’の各検
知部8を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリッ
ト13がそれぞれ形成されている。熱分離スリット13
は角検知部8において配線11を引き出す部位以外の略
全周にわたって形成されており、互いに他の検知部8間
での熱伝導を空間的に低減させることができるので、感
度を向上させることができ、検知部8の面積が小さくな
る場合に特に有効となる。なお、熱分離スリット13は
素子片7’の表裏に貫通するように形成してもよいし、
表面側から溝状に形成してもよい。
知部8を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリッ
ト13がそれぞれ形成されている。熱分離スリット13
は角検知部8において配線11を引き出す部位以外の略
全周にわたって形成されており、互いに他の検知部8間
での熱伝導を空間的に低減させることができるので、感
度を向上させることができ、検知部8の面積が小さくな
る場合に特に有効となる。なお、熱分離スリット13は
素子片7’の表裏に貫通するように形成してもよいし、
表面側から溝状に形成してもよい。
【0035】また、熱分離スリット13の内周面はZ面
に直交しており熱分離スリット13の内周面と素子片
7’のZ面との交線は、X軸に平行な線、X軸に対して
+60°傾斜した線、X軸に対して−60°傾斜した線
になる。
に直交しており熱分離スリット13の内周面と素子片
7’のZ面との交線は、X軸に平行な線、X軸に対して
+60°傾斜した線、X軸に対して−60°傾斜した線
になる。
【0036】なお、熱分離スリット13の内周面を実施
形態1で説明した劈開面に一致するように形成してもよ
いことは勿論である。
形態1で説明した劈開面に一致するように形成してもよ
いことは勿論である。
【0037】(実施形態6)本実施形態の基本構成は、
実施形態5と略同じであって、図6に示すように、素子
片7’の外形形状が相違するだけなので、実施形態5と
同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。
実施形態5と略同じであって、図6に示すように、素子
片7’の外形形状が相違するだけなので、実施形態5と
同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。
【0038】なお、本実施形態においても、素子片7’
の表面の外周の6つの辺16a〜16fのうち辺16
a,16dはX軸に平行し、辺16b,16eはX軸に
対して+60°傾斜し、辺16c,16fはX軸に対し
て−60°傾斜しており、且つ各切り出し面はZ面に直
交している。
の表面の外周の6つの辺16a〜16fのうち辺16
a,16dはX軸に平行し、辺16b,16eはX軸に
対して+60°傾斜し、辺16c,16fはX軸に対し
て−60°傾斜しており、且つ各切り出し面はZ面に直
交している。
【0039】
【発明の効果】請求項1の発明は、焦電性を有する強誘
電体の単結晶ウェハから切り出された素子片と、該素子
片に設けられた少なくとも2つの電極とを備え、素子片
の切り出し面は、単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差
する線を含むので、素子片の切り出し面への加工損傷の
発生が少なくなるので、検知性能を向上させることがで
きるという効果がある。
電体の単結晶ウェハから切り出された素子片と、該素子
片に設けられた少なくとも2つの電極とを備え、素子片
の切り出し面は、単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差
する線を含むので、素子片の切り出し面への加工損傷の
発生が少なくなるので、検知性能を向上させることがで
きるという効果がある。
【0040】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記単結晶ウェハは、タンタル酸リチウムよりなる
ものである。この構成によれば、タンタル酸リチウムは
大型単結晶の作製が容易であるので、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハとして大口径のものを利用す
ることができ、1枚のZカット単結晶ウェハから切り出
す素子片の数を多くすることができ、製造コストの低コ
スト化を図ることができるという効果がある。
て、上記単結晶ウェハは、タンタル酸リチウムよりなる
ものである。この構成によれば、タンタル酸リチウムは
大型単結晶の作製が容易であるので、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハとして大口径のものを利用す
ることができ、1枚のZカット単結晶ウェハから切り出
す素子片の数を多くすることができ、製造コストの低コ
スト化を図ることができるという効果がある。
【0041】請求項3の発明は、請求項2の発明におい
て、上記素子片の厚み方向の両面に互いに対向する形で
2つ一組の上記電極が形成され、上記素子片の切り出し
面は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハの劈
開面である{10−2}面からなるものである。この構
成によれば、素子片の切り出し面に発生する加工損傷を
少なくすることができ、検知性能が向上するという効果
がある。
て、上記素子片の厚み方向の両面に互いに対向する形で
2つ一組の上記電極が形成され、上記素子片の切り出し
面は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハの劈
開面である{10−2}面からなるものである。この構
成によれば、素子片の切り出し面に発生する加工損傷を
少なくすることができ、検知性能が向上するという効果
がある。
【0042】請求項4の発明は、請求項2の発明におい
て、上記素子片の切り出し面は、タンタル酸リチウムの
Zカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を
含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面から
なるものである。この構成によれば、請求項3の発明よ
りも素子片の切り出し用いる機械加工装置の制約が少な
くなるという効果がある。
て、上記素子片の切り出し面は、タンタル酸リチウムの
Zカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を
含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面から
なるものである。この構成によれば、請求項3の発明よ
りも素子片の切り出し用いる機械加工装置の制約が少な
くなるという効果がある。
【0043】請求項5の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、熱分離スリットの内周面が{10−2}面からなる
ものである。この構成によれば、熱分離スリットを備え
ていることにより感度が向上し、しかも熱分離スリット
の内周面が{10−2}面からなることにより熱分離ス
リットの内周面に加工損傷が発生するのを少なくするこ
とができるという効果がある。
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、熱分離スリットの内周面が{10−2}面からなる
ものである。この構成によれば、熱分離スリットを備え
ていることにより感度が向上し、しかも熱分離スリット
の内周面が{10−2}面からなることにより熱分離ス
リットの内周面に加工損傷が発生するのを少なくするこ
とができるという効果がある。
【0044】請求項6の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、上記熱分離スリットの内周面が、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する
線を含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面
からなるものである。この構成によれば、熱分離スリッ
トを備えていることにより感度が向上し、しかも請求項
5の発明に比べて熱分離スリットの加工が容易になると
いう効果がある。
4の発明において、上記素子片には、上記一対の電極と
両電極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部
を他の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備
え、上記熱分離スリットの内周面が、タンタル酸リチウ
ムのZカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する
線を含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面
からなるものである。この構成によれば、熱分離スリッ
トを備えていることにより感度が向上し、しかも請求項
5の発明に比べて熱分離スリットの加工が容易になると
いう効果がある。
【0045】請求項7の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、熱分離スリットの内周
面が{10−2}面からなるものである。この構成によ
れば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的に低減さ
せることができるという効果がある。
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、熱分離スリットの内周
面が{10−2}面からなるものである。この構成によ
れば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的に低減さ
せることができるという効果がある。
【0046】請求項8の発明は、請求項3または請求項
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、上記熱分離スリットの
内周面が、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ
の表面と劈開面とが交差する線を含み且つZカット単結
晶ウェハの表面と直交する面からなるものである。この
構成によれば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的
に低減させることができ、しかも請求項7の発明に比べ
て熱分離スリットの加工が容易になるという効果があ
る。
4の発明において、上記素子片は上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複
数備えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離す
るための熱分離スリットを備え、上記熱分離スリットの
内周面が、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハ
の表面と劈開面とが交差する線を含み且つZカット単結
晶ウェハの表面と直交する面からなるものである。この
構成によれば、互いに他の検知部間での熱伝導を空間的
に低減させることができ、しかも請求項7の発明に比べ
て熱分離スリットの加工が容易になるという効果があ
る。
【図1】本発明の実施形態1の概略構成図である。
【図2】本発明の実施形態2同上を示す斜視図である。
【図3】本発明の実施形態3を示す平面図である。
【図4】本発明の実施形態4を示す平面図である。
【図5】本発明の実施形態5を示す平面図である。
【図6】本発明の実施形態6を示す平面図である。
【図7】従来例を示し、(a)は正面図、(b)は平面
図、(c)は斜視図である。
図、(c)は斜視図である。
【図8】同上を示し、(a)はウェハの平面図、(b)
は素子片の概略斜視図である。
は素子片の概略斜視図である。
【符号の説明】 5 素子片 5a〜5f 切り出し面
Claims (8)
- 【請求項1】 焦電性を有する強誘電体の単結晶ウェハ
から切り出された素子片と、該素子片に設けられた少な
くとも2つの電極とを備え、素子片の切り出し面は、単
結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を含むことを
特徴とする焦電形素子。 - 【請求項2】 上記単結晶ウェハは、タンタル酸リチウ
ムよりなることを特徴とする請求項1記載の焦電形素
子。 - 【請求項3】 上記素子片の厚み方向の両面に互いに対
向する形で2つ一組の上記電極が形成され、上記素子片
の切り出し面は、タンタル酸リチウムのZカット単結晶
ウェハの劈開面である{10−2}面からなることを特
徴とする請求項2記載の焦電形素子。 - 【請求項4】 上記素子片の切り出し面は、タンタル酸
リチウムのZカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交
差する線を含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交
する面からなることを特徴とする請求項2記載の焦電形
素子。 - 【請求項5】 上記素子片には、上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を他
の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備え、
熱分離スリットの内周面が{10−2}面からなること
を特徴とする請求項3または請求項4記載の焦電形素
子。 - 【請求項6】 上記素子片には、上記一対の電極と両電
極間に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を他
の部位と熱的に分離するための熱分離スリットを備え、
上記熱分離スリットの内周面が、タンタル酸リチウムの
Zカット単結晶ウェハの表面と劈開面とが交差する線を
含み且つZカット単結晶ウェハの表面と直交する面から
なることを特徴とする請求項3または請求項4記載の焦
電形素子。 - 【請求項7】 上記素子片は上記一対の電極と両電極間
に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複数備
えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離するた
めの熱分離スリットを備え、熱分離スリットの内周面が
{10−2}面からなることを特徴とする請求項3また
は請求項4記載の焦電形素子。 - 【請求項8】 上記素子片は上記一対の電極と両電極間
に介在するタンタル酸リチウムよりなる検知部を複数備
えるとともに、各検知部を他の部位と熱的に分離するた
めの熱分離スリットを備え、上記熱分離スリットの内周
面が、タンタル酸リチウムのZカット単結晶ウェハの表
面と劈開面とが交差する線を含み且つZカット単結晶ウ
ェハの表面と直交する面からなることを特徴とする請求
項3または請求項4記載の焦電形素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10334824A JP2000164946A (ja) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | 焦電形素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10334824A JP2000164946A (ja) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | 焦電形素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000164946A true JP2000164946A (ja) | 2000-06-16 |
Family
ID=18281636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10334824A Withdrawn JP2000164946A (ja) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | 焦電形素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000164946A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001343282A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子、赤外線2次元イメージセンサおよびその製造方法 |
WO2012114579A1 (ja) * | 2011-02-24 | 2012-08-30 | 日本碍子株式会社 | 焦電素子 |
WO2013084787A1 (ja) * | 2011-12-05 | 2013-06-13 | 日本碍子株式会社 | 赤外線検出素子,赤外線検出モジュール及びその製造方法 |
US9214582B2 (en) | 2010-12-16 | 2015-12-15 | Alcatel Lucent | Uni-travelling-carrier photodiode |
JP2016156782A (ja) * | 2015-02-26 | 2016-09-01 | 株式会社島津製作所 | 焦電型赤外線検出器 |
-
1998
- 1998-11-25 JP JP10334824A patent/JP2000164946A/ja not_active Withdrawn
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001343282A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子、赤外線2次元イメージセンサおよびその製造方法 |
JP4612932B2 (ja) * | 2000-06-01 | 2011-01-12 | ホーチキ株式会社 | 赤外線検出素子および赤外線2次元イメージセンサ |
US9214582B2 (en) | 2010-12-16 | 2015-12-15 | Alcatel Lucent | Uni-travelling-carrier photodiode |
JP5174995B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2013-04-03 | 日本碍子株式会社 | 焦電素子 |
US8436306B2 (en) | 2011-02-24 | 2013-05-07 | Ngk Insulators, Ltd. | Pyroelectric element |
KR101283058B1 (ko) | 2011-02-24 | 2013-07-05 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 초전 소자 |
CN103493231A (zh) * | 2011-02-24 | 2014-01-01 | 日本碍子株式会社 | 热电元件 |
WO2012114579A1 (ja) * | 2011-02-24 | 2012-08-30 | 日本碍子株式会社 | 焦電素子 |
WO2013084787A1 (ja) * | 2011-12-05 | 2013-06-13 | 日本碍子株式会社 | 赤外線検出素子,赤外線検出モジュール及びその製造方法 |
JPWO2013084787A1 (ja) * | 2011-12-05 | 2015-04-27 | 日本碍子株式会社 | 赤外線検出素子,赤外線検出モジュール及びその製造方法 |
US9267846B2 (en) | 2011-12-05 | 2016-02-23 | Ngk Insulators, Ltd. | Infrared detection element, infrared detection module, and manufacturing method therefor |
DE112012005068B4 (de) | 2011-12-05 | 2023-11-09 | Ngk Insulators, Ltd. | Infraroterfassungselement, Infraroterfassungsmodul und Herstellungsverfahren derselben |
JP2016156782A (ja) * | 2015-02-26 | 2016-09-01 | 株式会社島津製作所 | 焦電型赤外線検出器 |
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---|---|---|---|
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