JP2000161942A - Measuring machine and method for deciding its moving path - Google Patents

Measuring machine and method for deciding its moving path

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JP2000161942A
JP2000161942A JP10338142A JP33814298A JP2000161942A JP 2000161942 A JP2000161942 A JP 2000161942A JP 10338142 A JP10338142 A JP 10338142A JP 33814298 A JP33814298 A JP 33814298A JP 2000161942 A JP2000161942 A JP 2000161942A
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moving path
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measurement
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宏和 道脇
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Numerical Control (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To extensively improve the measuring efficiency of a measuring machine by shortening the moving distance of the measurement probe. SOLUTION: An offset shape generating section 64 inputs the information on the definition of a work, having target points to be measured from a CAD system, etc., and generates an offset shape by having the external surface of the work shift outward by a prescribed distance. A moving path generating section 65 inputs information on the target points to be measured and decides on the moving path so that a measuring probe measures the target points, while the probe moves along the offset shape generated by means of the section 64. The decided moving path is registered in a part program.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、三次元測定機の
プローブ等の被測定物に対する測定のための移動パスを
決定する測定機及びその移動パス決定方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring machine for determining a moving path for measuring an object to be measured, such as a probe of a coordinate measuring machine, and a method for determining the moving path.

【0002】[0002]

【従来の技術】三次元測定機のオフラインティーチング
システム等では、被測定物のCADデータに測定ターゲ
ット点等の測定情報を付加し、これらCADデータや測
定情報に基づいてプローブの移動パスを生成することが
なされている。移動パスを形成する上で考慮すべき点
は、プローブ移動中にプローブと被測定物とが干渉しな
いということである。このため従来は、例えば図9に示
すように、被測定物であるワーク5のXYZの各方向に
最も突出した位置から外側に向かって一定の距離αだけ
離れた位置に面を形成し、形成された6つの面からなる
直方体の内部を安全領域として、ある測定ターゲット点
の測定が終了したら、一旦、上記の面まで測定プローブ
を後退させ、上記面に沿って次の測定ターゲット点上ま
で移動して次の測定ターゲット点へと測定プローブを移
動させるという移動パスを形成するようにしている。
2. Description of the Related Art In an off-line teaching system of a coordinate measuring machine, measurement information such as a measurement target point is added to CAD data of an object to be measured, and a movement path of a probe is generated based on the CAD data and the measurement information. That has been done. A point to be considered when forming the movement path is that the probe and the device under test do not interfere with each other during the movement of the probe. For this reason, conventionally, as shown in FIG. 9, for example, a surface is formed at a position away from the most protruding position in each of the XYZ directions of the workpiece 5 to be measured by a predetermined distance α toward the outside, and formed. When the measurement of a certain measurement target point is completed with the inside of the rectangular parallelepiped consisting of the six surfaces set as a safety area, the measurement probe is once retracted to the above surface, and moved to the next measurement target point along the above surface Then, a movement path of moving the measurement probe to the next measurement target point is formed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の測定機の移動パス決定方法では、図9にも示す
ように、ワーク5の各軸方向に最も突出した位置から一
定の距離αだけ離れた面から各測定ターゲット点を測定
するようにしているので、上記突出した位置以外の位置
に多数の測定ターゲット点を含むような場合、上記面上
から各測定ターゲット点までの距離が長いために、測定
プローブを必要以上に長い距離移動させなければなら
ず、測定時間に多大な無駄が生じるという問題がある。
However, in the above-described conventional method for determining the movement path of the measuring instrument, as shown in FIG. 9, the work 5 is separated from the most protruding position in each axial direction by a certain distance α. Since each measurement target point is measured from the surface, if many measurement target points are included at positions other than the protruding position, the distance from the surface to each measurement target point is long. In addition, there is a problem in that the measurement probe must be moved for a longer distance than necessary, resulting in a great waste of measurement time.

【0004】本発明は、このような点に鑑みなされたも
ので、測定プローブの移動距離を短縮して測定効率を大
幅に向上させることができる測定機及びその移動パス決
定方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a measuring instrument capable of shortening a moving distance of a measuring probe and greatly improving a measuring efficiency, and a method of determining a moving path thereof. Aim.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明に係る測定機の移
動パス決定方法は、測定すべき測定ターゲット点を有す
る被測定物に対して測定値検出のための可動要素が予め
設定された移動パスに沿って相対的に移動することによ
って前記被測定物の測定を行う測定機の移動パス決定方
法において、前記被測定物の外表面を所定の距離だけ外
側にオフセットさせたオフセット形状を作成し、このオ
フセット形状に沿って前記可動要素が移動しながら前記
測定ターゲット点を測定していくように移動パスを決定
することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a method for determining a movement path of a measuring instrument, wherein a movable element for detecting a measurement value is set in advance for an object having a measurement target point to be measured. In a moving path determination method of a measuring machine for measuring the object to be measured by relatively moving along a path, an offset shape in which an outer surface of the object to be measured is offset outward by a predetermined distance is created. The moving path is determined so that the measurement target point is measured while the movable element moves along the offset shape.

【0006】また、本発明に係る測定機は、測定すべき
測定ターゲット点を有する被測定物に対して測定値検出
のための可動要素が予め設定された移動パスに沿って相
対的に移動することによって前記被測定物の測定を行う
測定機において、前記被測定物の形状を特定する定義情
報を入力し前記被測定物の外表面を所定の距離だけ外側
にオフセットさせたオフセット形状を生成するオフセッ
ト形状生成手段と、前記測定すべき測定ターゲット点の
情報を入力し前記オフセット形状生成手段で生成された
オフセット形状に沿って前記可動要素が移動しながら前
記測定ターゲット点を測定していくように移動パスを決
定する移動パス生成手段とを備えたことを特徴とする。
In the measuring instrument according to the present invention, a movable element for detecting a measured value relatively moves along a predetermined moving path with respect to an object having a measurement target point to be measured. In the measuring device for measuring the object to be measured, by inputting definition information for specifying the shape of the object to be measured, an offset shape is generated by offsetting the outer surface of the object to be measured outward by a predetermined distance. Offset shape generation means, inputting information of the measurement target point to be measured, and measuring the measurement target point while the movable element moves along the offset shape generated by the offset shape generation means. Moving path generating means for determining a moving path.

【0007】本発明によれば、被測定物の外表を所定の
距離だけ外側にオフセットさせたオフセット形状を作成
し、このオフセット形状に沿って可動要素が移動しなが
ら測定ターゲット点を測定していくように移動パスが生
成されるので、可動要素を被測定物の外面とほぼ一定の
距離を保って移動させることができ、移動パスに無駄な
移動距離が発生することがない。このため、効率の良い
測定が可能になる。
According to the present invention, an offset shape is prepared by offsetting the outer surface of the object to be measured outward by a predetermined distance, and the measurement target point is measured while the movable element moves along the offset shape. Since the moving path is generated as described above, the movable element can be moved while maintaining a substantially constant distance from the outer surface of the object to be measured, and a useless moving distance does not occur in the moving path. For this reason, efficient measurement becomes possible.

【0008】なお、オフセット形状の生成は、例えば外
部から与えられ、被測定物の形状を特定するCADデー
タを用いて行うことができる。決定された移動パスは、
パートプログラムに登録することにより、同一形状の被
測定物のリピート測定が可能になる。
The generation of the offset shape can be performed using, for example, CAD data provided from the outside and specifying the shape of the object to be measured. The determined travel path is
By registering in the part program, repeat measurement of the DUT having the same shape becomes possible.

【0009】また、測定ターゲット点Aから次に測定す
べき測定ターゲット点Bへと前記オフセット形状に沿っ
てスキャンしてオフセット方向に前記一番突出した位置
をCとしたとき、前記可動要素をA点からCのオフセッ
ト方向の位置まで移動させたのち、オフセット方向の位
置を保ちつつ前記B点に対応する位置まで前記可動要素
が移動するように移動パスを決定するようにすると、移
動パスをオフセット形状に完全に沿って形成するより
も、可動要素の減速・加速が少なくなる分だけ移動時間
が短くなり、更に効率の良い測定が可能になる。
Further, when scanning is performed along the offset shape from the measurement target point A to the next measurement target point B to be measured, and the most protruding position in the offset direction is C, the movable element is defined as A After moving from the point to a position in the offset direction of C, the moving path is determined so that the movable element moves to a position corresponding to the point B while maintaining the position in the offset direction. As compared with the case where the movable element is formed completely along the shape, the moving time is shortened by the reduced deceleration and acceleration of the movable element, and more efficient measurement becomes possible.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照してこの
発明の実施例に係る三次元測定システムについて説明す
る。図1は、このシステムの概略構成を示す斜視図であ
る。この三次元測定システムは、三次元測定機1と、こ
の三次元測定機1を駆動制御すると共に三次元測定機1
から必要な測定値を取り込むための駆動制御装置2と、
この駆動制御装置2を介して三次元測定機1を手動操作
するためのJ/S操作盤3と、駆動制御装置2での測定
手順を指示するパートプログラムを編集・実行すると共
に、駆動制御装置2を介して取り込まれた測定座標値に
幾何形状を当てはめるための計算を行ったり、パートプ
ログラムを記録、送信する機能を備えたホストシステム
4とから構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a three-dimensional measuring system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of this system. This three-dimensional measuring system includes a three-dimensional measuring machine 1, a drive control of the three-dimensional measuring machine 1, and a three-dimensional measuring machine 1.
A drive control device 2 for capturing necessary measurement values from the
A J / S operation panel 3 for manually operating the coordinate measuring machine 1 via the drive control device 2 and a part program for instructing a measurement procedure in the drive control device 2 are edited and executed, and the drive control device And a host system 4 having a function of performing a calculation for applying a geometric shape to the measured coordinate values taken in via the computer 2 and recording and transmitting a part program.

【0011】三次元測定機1は、次のように構成されて
いる。即ち、除振台10の上には、定盤11がその上面
をベース面として水平面と一致するように載置され、こ
の定盤11の両側端から立設されたアーム支持体12
a,12bの上端でX軸ガイド13を支持している。ア
ーム支持体12aは、その下端がY軸駆動機構14によ
ってY軸方向に駆動され、アーム支持体12bは、その
下端がエアーベアリングによって定盤11上にY軸方向
に移動可能に支持されている。X軸ガイド13は、垂直
方向に延びるZ軸ガイド15をX軸方向に駆動する。Z
軸ガイド15には、Z軸アーム16がZ軸ガイド15に
沿って駆動されるように設けられ、Z軸アーム16の下
端に接触式のプローブ17が装着されている。このプロ
ーブ17が定盤11上に載置されたワーク5に接触した
ときに、プローブ17から駆動制御装置2にタッチ信号
が出力され、そのときのXYZ座標値を駆動制御装置2
が取り込むようになっている。
The coordinate measuring machine 1 is configured as follows. That is, on the anti-vibration table 10, a surface plate 11 is placed so as to coincide with a horizontal surface with its upper surface as a base surface, and an arm support 12 standing upright from both side ends of the surface plate 11.
The X-axis guide 13 is supported at the upper ends of the a and 12b. The lower end of the arm support 12a is driven in the Y-axis direction by the Y-axis drive mechanism 14, and the lower end of the arm support 12b is supported on the surface plate 11 by an air bearing so as to be movable in the Y-axis direction. . The X-axis guide 13 drives the Z-axis guide 15 extending in the vertical direction in the X-axis direction. Z
A Z-axis arm 16 is provided on the axis guide 15 so as to be driven along the Z-axis guide 15, and a contact-type probe 17 is attached to a lower end of the Z-axis arm 16. When the probe 17 comes into contact with the work 5 placed on the surface plate 11, a touch signal is output from the probe 17 to the drive control device 2, and the XYZ coordinate values at that time are output to the drive control device 2.
Is to take in.

【0012】J/S操作盤3には、三次元測定機1のプ
ローブ17をXYZ軸方向に手動操作により駆動するた
めのジョイスティック31と、現在のプローブ17の位
置のXYZ座標値を駆動制御装置2に入力するための座
標入力スイッチ32とが設けられている。また、ホスト
システム4は、ホストコンピュータ41、ディスプレイ
42、プリンタ43、キーボード44及びマウス45等
によって構成されている。
The J / S operation panel 3 includes a joystick 31 for manually driving the probe 17 of the coordinate measuring machine 1 in the XYZ-axis directions, and a drive control device for displaying the XYZ coordinate values of the current position of the probe 17. 2 is provided with a coordinate input switch 32 for inputting to the second input. The host system 4 includes a host computer 41, a display 42, a printer 43, a keyboard 44, a mouse 45, and the like.

【0013】図2は、このシステムのブロック図であ
る。駆動制御装置2、プリンタ43、キーボード44及
びマウス45は、ホストコンピュータ41の入出力制御
装置46を介してCPU47に接続され、CPU47に
は、ハードディスク48及びメモリ49が接続されると
共に、表示制御装置50を介してディスプレイ42に接
続される。この他、ホストコンピュータ41には、CA
Dシステム51も接続されており、設計データからパー
トプログラムを生成したり、測定結果をCADシステム
51側に送ることが可能になっている。ハードディスク
48には、パートプログラムファイルやパートプログラ
ム編集/実行用のプログラムファイル等が格納され、こ
れらのファイルとホストシステム4のハードウェアとに
よって本発明に係るオフラインティーチングシステムが
実現される。
FIG. 2 is a block diagram of this system. The drive control device 2, the printer 43, the keyboard 44, and the mouse 45 are connected to a CPU 47 via an input / output control device 46 of the host computer 41. The CPU 47 is connected to a hard disk 48 and a memory 49, and a display control device. It is connected to the display 42 via 50. In addition, the host computer 41 has a CA
The D system 51 is also connected so that it is possible to generate a part program from design data and to send measurement results to the CAD system 51 side. The hard disk 48 stores a part program file, a part program editing / executing program file, and the like, and the offline teaching system according to the present invention is realized by these files and the hardware of the host system 4.

【0014】図3は、このオフラインティーチングシス
テムの機能ブロック図である。このシステムは、CAD
システム側で付加された測定ターゲット点等の測定情報
をCADデータと共に読み込んで、これら情報から最適
な移動パスを生成し、これをパートプログラムとして登
録するものである。パートプログラムファイル61は、
例えば図4に示すように、DMIS(Dimentional Meas
uring Interface Standerd)言語仕様により記述された
ファイルである。DMIS言語によるファイルは、元
々、CADと三次元測定機間の双方向でデータをやりと
りするために開発された言語仕様で、CAD側からは、
設計値として作成された幾何形状の定義情報と測定パス
の情報が出力され、三次元測定機側でDMIS言語に基
づいて測定した測定結果をファイルに追加上書きしてC
AD側に返すといった用途に用いられている。本発明に
おける測定手順ファイルは、典型的にはこのDMIS言
語で記述したものが適しているが、測定対象の定義情報
を含むファイルであれば他の言語で作成されたファイル
も使用可能であることは言うまでもない。
FIG. 3 is a functional block diagram of the off-line teaching system. This system uses CAD
The measurement information such as the measurement target points added by the system is read together with the CAD data, an optimum movement path is generated from the information, and registered as a part program. The part program file 61 is
For example, as shown in FIG. 4, DMIS (Dimentional Meas)
uring Interface Standerd) This file is described by the language specification. A file in the DMIS language is a language specification originally developed for exchanging data in both directions between the CAD and the CMM. From the CAD side,
The definition information of the geometrical shape and the information of the measurement path created as the design values are output, and the measurement result measured based on the DMIS language on the CMM is added to the file and overwritten.
It is used for returning to the AD side. The measurement procedure file in the present invention is typically described in the DMIS language, but a file created in another language can also be used as long as the file contains definition information of the measurement target. Needless to say.

【0015】パートプログラムファイル61は、測定対
象であるワーク5の幾何形状を三次元空間上に定義する
定義情報と、この定義した幾何形状に対してどのような
移動パスを通って測定ターゲット点にアプローチして測
定点座標値を得るかを指定した測定手順情報とを含んで
いる。定義情報としては、ソリッドモデルを表現するた
めの境界表現、CSG(Constructive Solid Geometr
y)表現又はこれらを併用したハイブリッドタイプ(境
界表現/CGS)等の表現形式が知られている。境界表
現法は、図5に示すように、ソリッドモデルを、それを
構成する境界面、稜線、頂点等の座標値で定義する方法
で、あらゆる複雑な形状に対処できるという利点があ
る。CGS法は、図6に示すように、基本立体を定義し
てこれらを集合演算によって組み合わせることでソリッ
ドモデルを表現する方法で、データ構造が簡単であると
いう利点がある。図4の例は、ハイブリッドタイプを用
いてソリッドモデルを表現した例であり、要素定義情報
と境界定義情報とから構成されている。これらの定義情
報は、例えばCADシステム51からそのまま与えられ
ても良いし、CADシステム51からのCADデータに
基づいてパートプログラム編集/実行部62で変換され
ても良い。
The part program file 61 includes definition information for defining a geometric shape of the workpiece 5 to be measured in a three-dimensional space, and a moving path for the defined geometric shape to a measurement target point. And measurement procedure information that specifies whether to obtain measurement point coordinate values by approach. The definition information includes a boundary expression for expressing a solid model, CSG (Constructive Solid Geometr
y) An expression form such as an expression or a hybrid type (boundary expression / CGS) using them in combination is known. As shown in FIG. 5, the boundary representation method has an advantage that any complex shape can be dealt with by defining a solid model by using coordinate values of boundary surfaces, edges, vertices, and the like constituting the solid model. The CGS method is a method of expressing a solid model by defining basic solids and combining them by a set operation as shown in FIG. 6, and has an advantage that the data structure is simple. The example in FIG. 4 is an example in which a solid model is expressed using a hybrid type, and is composed of element definition information and boundary definition information. These definition information may be directly provided from the CAD system 51, for example, or may be converted by the part program editing / executing unit 62 based on the CAD data from the CAD system 51.

【0016】パートプログラム編集/実行部62は、C
ADシステム51からのCADデータ及び測定情報に基
づいて定義情報及び最適移動パスを作成する機能と、キ
ーボード44やマウス45からなる入力部63によって
入力される入力情報に基づいて読み込んだパートプログ
ラムファイル61を編集する機能と、パートプログラム
ファイル61を読み込み、このファイルに記述された測
定手順情報に基づいて駆動制御装置2を制御する機能
と、測定結果をパートプログラムファイル61に追加上
書きする機能とを有する。オフセット形状生成部64
は、CADシステム51からのCADデータに基づいて
測定対象の表面を外側に所定距離だけオフセットさせた
オフセット形状を作成する。また、このオフセット形状
生成部64は、パートプログラムの定義情報が変更され
た場合には、この変更された定義情報から再度オフセッ
ト形状を生成する。移動パス生成部65は、パートプロ
グラム編集/実行部62を介してCADシステム51か
ら読み込まれた測定情報とオフセット形状生成部64で
生成されたオフセット形状とに基づいてプローブ17の
移動経路を生成し、生成された移動パスをパートプログ
ラムの測定手順情報に変換してパートプログラム編集/
実行部62に出力する機能を有する。
The part program editing / execution unit 62
A function of creating definition information and an optimal movement path based on CAD data and measurement information from the AD system 51; and a part program file 61 read based on input information input by an input unit 63 including a keyboard 44 and a mouse 45. , A function of reading the part program file 61 and controlling the drive controller 2 based on the measurement procedure information described in the file, and a function of additionally overwriting the measurement result in the part program file 61. . Offset shape generator 64
Creates an offset shape in which the surface of the measurement target is offset outward by a predetermined distance based on the CAD data from the CAD system 51. When the definition information of the part program is changed, the offset shape generation unit 64 generates an offset shape again from the changed definition information. The movement path generation unit 65 generates a movement path of the probe 17 based on the measurement information read from the CAD system 51 via the part program editing / execution unit 62 and the offset shape generated by the offset shape generation unit 64. , Convert the generated movement path into the measurement procedure information of the part program and edit the part program /
It has a function of outputting to the execution unit 62.

【0017】図7は、このシステムを使用して移動パス
を生成するための手順を示すフローチャート、図8は、
その手順を説明するためのワーク5の断面図である。ま
ず、オフセット形状生成部64が、CADデータから生
成されたワーク5の定義情報に基づいて、ワーク5の外
表面から一定距離だけオフセットしたオフセット形状を
生成する(S1)。オフセット形状は、図8の例では、
破線で示すようにワーク5の各面をαだけ外側にシフト
させた面を持ち、安全移動領域の限界を示している。オ
フセット形状生成の手法は、CAD/CAM等で適用さ
れるボールエンドミル用のオフセット手法等を用いるこ
とができる。定義情報は、ソリッドモデルを生成可能な
情報であるため、オフセット形状の生成は容易である。
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure for generating a moving path using this system, and FIG.
It is sectional drawing of the workpiece | work 5 for demonstrating the procedure. First, the offset shape generation unit 64 generates an offset shape offset by a certain distance from the outer surface of the work 5 based on the definition information of the work 5 generated from the CAD data (S1). The offset shape is, in the example of FIG.
As shown by broken lines, each surface of the work 5 has a surface shifted outward by α, indicating the limit of the safe movement area. As a method of generating an offset shape, an offset method for a ball end mill applied in CAD / CAM or the like can be used. Since the definition information is information capable of generating a solid model, generation of an offset shape is easy.

【0018】次に、測定ターゲット点をオフセット形状
を構成する面(以下、「オフセット面」と呼ぶ)に投影
し、その面上に投影された点Aを求める(S2)。続い
て次の測定ターゲット点も同様にオフセット面上に投影
し、その面上に投影された点Bを求める(S3)。そし
て、点Aから点Bへオフセット面上をスキャンしてオフ
セット方向に一番突出した位置をCとする(S4)。そ
して、A点のオフセット方向の位置がCよりも突出して
いない場合には、A点をCの位置までシフトし、その点
からB点上まで移動パスを形成する(S6)。また、A
点の位置がCに等しい場合には、A点のオフセット方向
の位置を維持したままB点上まで移動するパスを形成す
る(S7)。そして、最終測定ターゲット点に到達する
までステップS2以下の処理を繰り返す。
Next, the measurement target point is projected on a surface constituting an offset shape (hereinafter, referred to as an "offset surface"), and a point A projected on the surface is obtained (S2). Subsequently, the next measurement target point is similarly projected on the offset plane, and a point B projected on the plane is obtained (S3). Then, the point A is scanned from the point A to the point B on the offset plane, and the position that protrudes most in the offset direction is defined as C (S4). If the position of the point A in the offset direction does not protrude beyond the point C, the point A is shifted to the position of the point C, and a movement path is formed from the point to the point B (S6). Also, A
If the position of the point is equal to C, a path that moves to the point B while maintaining the position of the point A in the offset direction is formed (S7). Then, the processing from step S2 is repeated until the final measurement target point is reached.

【0019】例えば図8の例において、同図(a)の測
定ターゲット点P1をオフセット図形Dに投影した点A
1から、測定ターゲット点P2をオフセット図形Dに投
影した点B1へ移動パスを形成する場合、A1からB1
へスキャンしたときの一番高い位置C1は、A1の高さ
と等しいため、同図(b)に示すように、点A1の高さ
のまま移動パスが形成される。一方、同図(a)の測定
ターゲット点P3をオフセット図形Dに投影した点A2
から、測定ターゲット点P4をオフセット図形Dに投影
した点B2へ移動パスを形成する場合、A2からB2へ
スキャンしたときの一番高い位置C2は、A2の高さよ
りも高いため、同図(b)に示すように、A2点から高
さC2までシフトさせて、その点からB2までの移動パ
スが生成されることになる。
For example, in the example of FIG. 8, a point A is obtained by projecting the measurement target point P1 of FIG.
When a moving path is formed from 1 to a point B1 obtained by projecting the measurement target point P2 on the offset figure D, the moving path is defined as A1 to B1.
Since the highest position C1 at the time of scanning is equal to the height of A1, a moving path is formed with the height of the point A1 as shown in FIG. On the other hand, a point A2 obtained by projecting the measurement target point P3 in FIG.
Therefore, when a moving path is formed at the point B2 where the measurement target point P4 is projected on the offset figure D, the highest position C2 when scanning from A2 to B2 is higher than the height of A2, and therefore, FIG. As shown in), a shift path from point A2 to height C2 is generated, and a movement path from that point to B2 is generated.

【0020】このシステムによれば、プローブの移動パ
スがワーク5の各面から一定距離αだけ離れたオフセッ
ト面に沿って形成されるので、無駄な移動距離が削減さ
れる。但し、このシステムでは、移動パスを全てオフセ
ット面に沿って形成するのではなく、図9(a)の測定
ターゲット点P3からP4へと測定プローブを移動させ
るような場合、オフセット形状に沿って移動パスを形成
すると方向転換が4回となるところを、一旦、オフセッ
ト面を超えて次の測定ターゲット点の対応するオフセッ
ト位置まで一気に移動させるようにしているので、同図
(b)のように方向転換は2回だけとなり、更に測定効
率を向上させることができる。
According to this system, the moving path of the probe is formed along the offset plane separated from the respective surfaces of the work 5 by a fixed distance α, so that the useless moving distance is reduced. However, in this system, when the measurement probe is moved from the measurement target point P3 to P4 in FIG. 9A instead of forming all the movement paths along the offset plane, the movement path is moved along the offset shape. When the direction change is made four times when the path is formed, the direction is temporarily moved to the offset position corresponding to the next measurement target point beyond the offset plane, so that the direction is changed as shown in FIG. The conversion is performed only twice, and the measurement efficiency can be further improved.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、被
測定物の外表を所定の距離だけ外側にオフセットさせた
オフセット形状を作成し、このオフセット形状に沿って
可動要素が移動しながら測定ターゲット点を測定してい
くように移動パスが生成されるので、可動要素を被測定
物の外面に沿って移動させることができ、移動パスに無
駄な移動距離が発生することがない、効率の良い測定が
可能になるという効果を奏する。
As described above, according to the present invention, an offset shape is prepared by offsetting the outer surface of the object to be measured outward by a predetermined distance, and measurement is performed while the movable element moves along the offset shape. Since the moving path is generated so as to measure the target point, the movable element can be moved along the outer surface of the object to be measured, so that the moving path does not have a useless moving distance, and the efficiency is improved. This has the effect of enabling good measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係る三次元測定システム
の構成を示す外観斜視図である。
FIG. 1 is an external perspective view illustrating a configuration of a three-dimensional measurement system according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同測定機の信号・情報伝達系を示すブロック
図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a signal / information transmission system of the measuring instrument.

【図3】 同測定機の移動パス決定に関する機能ブロッ
ク図である。
FIG. 3 is a functional block diagram related to determination of a movement path of the measuring device.

【図4】 同測定システムで生成されるパートプログラ
ムの一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a part program generated by the measurement system.

【図5】 同測定システムで取り扱われる被測定物の境
界表現法による表現方法を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for describing a method of expressing a device under test handled by the measurement system using a boundary expression method.

【図6】 同測定システムで取り扱われる被測定物のC
GS法による表現方法を説明するための図である。
FIG. 6 is a diagram showing a C of an object to be measured handled by the measurement system.
FIG. 3 is a diagram for explaining an expression method by the GS method.

【図7】 同測定システムを使用して移動パスを決定す
る手順を示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure for determining a movement path using the measurement system.

【図8】 同移動パス決定の手順を説明するための図で
ある。
FIG. 8 is a diagram illustrating a procedure for determining the movement path.

【図9】 従来の移動パス決定方法を説明するための図
である。
FIG. 9 is a diagram for explaining a conventional moving path determination method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…三次元測定機、2…駆動制御装置、3…J/S操作
盤、4…ホストシステム、5…ワーク。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Coordinate measuring machine, 2 ... Drive control device, 3 ... J / S operation panel, 4 ... Host system, 5 ... Work.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F069 AA04 DD15 GG01 GG06 GG52 GG62 GG72 HH01 JJ08 JJ22 JJ28 LL02 MM13 MM32 MM36 NN09 NN12 5H269 AB19 AB26 BB05 CC02 EE30 FF07 FF09 GG08 JJ18 KK01 NN16 QC01 QC03 QC06 QC10 QD06 SA10  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F069 AA04 DD15 GG01 GG06 GG52 GG62 GG72 HH01 JJ08 JJ22 JJ28 LL02 MM13 MM32 MM36 NN09 NN12 5H269 AB19 AB26 BB05 CC02 EE30 FF07 FF09 GG10 QC10 QC10 QC10 QC10

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定すべき測定ターゲット点を有する被
測定物に対して測定値検出のための可動要素が予め設定
された移動パスに沿って相対的に移動することによって
前記被測定物の測定を行う測定機の移動パス決定方法に
おいて、 前記被測定物の外表面を所定の距離だけ外側にオフセッ
トさせたオフセット形状を作成し、 このオフセット形状に沿って前記可動要素が移動しなが
ら前記測定ターゲット点を測定していくように移動パス
を決定することを特徴とする測定機の移動パス決定方
法。
1. Measurement of an object to be measured by moving a movable element for detecting a measured value relative to an object having a measurement target point to be measured along a predetermined moving path. In the method of determining a movement path of a measuring device, an offset shape is created by offsetting an outer surface of the object to be measured outward by a predetermined distance, and the measurement target is moved while the movable element moves along the offset shape. A moving path determination method for a measuring machine, wherein a moving path is determined so as to measure points.
【請求項2】 外部から前記被測定物の形状を特定する
CADデータが与えられ、このCADデータに基づいて
前記オフセット形状を生成することを特徴とする請求項
1記載の測定機の移動パス決定方法。
2. The moving path determination of a measuring machine according to claim 1, wherein CAD data for specifying the shape of the object to be measured is provided from outside, and the offset shape is generated based on the CAD data. Method.
【請求項3】 前記決定された移動パスはパートプログ
ラムに登録されることを特徴とする請求項1又は2記載
の測定機の移動パス決定方法。
3. The method according to claim 1, wherein the determined moving path is registered in a part program.
【請求項4】 測定ターゲット点Aから次に測定すべき
測定ターゲット点Bへと前記オフセット形状に沿ってス
キャンしてオフセット方向に前記一番突出した位置をC
としたとき、前記可動要素をA点からCのオフセット方
向の位置まで移動させたのち、オフセット方向の位置を
保ちつつ前記B点に対応する位置まで前記可動要素が移
動するように移動パスを決定するようにしたことを特徴
とする請求項1〜3のいずれか1項記載の測定機の移動
パス決定方法。
4. Scanning along the offset shape from a measurement target point A to a measurement target point B to be measured next, and setting the most protruding position in the offset direction to C
Then, after moving the movable element from the point A to the position in the offset direction of C, the moving path is determined so that the movable element moves to the position corresponding to the point B while maintaining the position in the offset direction. The method according to any one of claims 1 to 3, wherein the moving path of the measuring machine is determined.
【請求項5】 測定すべき測定ターゲット点を有する被
測定物に対して測定値検出のための可動要素が予め設定
された移動パスに沿って相対的に移動することによって
前記被測定物の測定を行う測定機において、 前記被測定物の形状を特定する定義情報を入力し前記被
測定物の外表面を所定の距離だけ外側にオフセットさせ
たオフセット形状を生成するオフセット形状生成手段
と、 前記測定すべき測定ターゲット点の情報を入力し前記オ
フセット形状生成手段で生成されたオフセット形状に沿
って前記可動要素が移動しながら前記測定ターゲット点
を測定していくように移動パスを決定する移動パス生成
手段とを備えたことを特徴とする測定機。
5. A measurement of an object to be measured by moving a movable element for detecting a measured value relative to an object having a measurement target point to be measured along a predetermined moving path. An offset shape generating means for inputting definition information for specifying the shape of the measured object and generating an offset shape by offsetting an outer surface of the measured object outward by a predetermined distance; and Movement path generation for inputting information of a measurement target point to be determined and determining a movement path so as to measure the measurement target point while the movable element moves along the offset shape generated by the offset shape generation means. And a measuring device.
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