JP2000150338A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP2000150338A
JP2000150338A JP10315837A JP31583798A JP2000150338A JP 2000150338 A JP2000150338 A JP 2000150338A JP 10315837 A JP10315837 A JP 10315837A JP 31583798 A JP31583798 A JP 31583798A JP 2000150338 A JP2000150338 A JP 2000150338A
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康夫 川松
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理部の機能調整時に処理部にセットされる
基板の位置を通常の循環搬送時の位置と高い精度にて一
致させることができる基板処理装置を提供する。 【解決手段】 基板処理装置には、塗布処理部SC1等
の複数の処理部とそれら複数の処理部間で基板の搬送を
行う搬送ロボットTR1とが設けられている。通常の基
板処理を行うときには、搬送ロボットTR1が複数の処
理部間で基板の循環搬送を行うことによって一連の処理
が達成される。処理部の機能調整を行うときには、搬送
ロボットTR1が通常の循環搬送における動作と同じ動
作態様にてインデクサIDから直接機能調整の対象とな
っている処理部まで基板を搬送し、通常の循環搬送の一
部のみを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、予め定められた処
理順序に従って半導体基板、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等
(以下、単に「基板」と称する)を複数の処理部間で循
環搬送することにより一連の基板処理を行う基板処理装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、上記のような基板に対しては、
レジスト塗布処理、露光処理、現像処理およびそれらに
付随する熱処理を順次行わせることにより一連の基板処
理を達成している。これらの各処理はそれぞれの専用の
処理部において行われ、例えばレジスト塗布処理は回転
式塗布処理部(スピンコータ)、現像処理は回転式現像
処理部(スピンデベロッパ)、熱処理は加熱処理部(ホ
ットプレート)または冷却処理部(クールプレート)に
おいてそれぞれ行われる。そして、従来より、基板処理
装置は、これらの各処理部と基板を搬送する搬送ロボッ
トとを備えており、搬送ロボットによって基板を各処理
部間で循環搬送することにより、レジスト塗布処理、熱
処理等を順次行わせ、一連の基板処理を達成しているの
である。
【0003】ところで、上記各処理部においては、適宜
その機能の調整を行う必要があり、例えばスピンコータ
においてはレジストを吐出するノズルの位置調整を行う
場合がある。このような場合、実際にスピンコータに基
板をセットして機能調整を行う必要があるため、従来に
おいては、搬送ロボットが実際にスピンコータに搬送ア
ームを挿入し、その搬送アームに作業者が基板を置いた
後、搬送ロボットが搬送アームを降下させて基板をセッ
トするようにしていた。そして、基板がスピンコータに
セットされた後、作業者がノズルの位置調整等を行うの
である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の方法を実施する場合、作業者が各処理部にアク
セスしなければならないため、安全上の配慮から搬送ロ
ボットの動作速度を通常の循環搬送時の動作速度よりも
遅い速度としており、各処理部へ搬送アームを挿入する
動作も通常とは異なる態様となっていた。
【0005】また、搬送アームが基板を保持するときに
は、基板とウェハガイドとの間に若干の遊びを持たせて
保持しているため、搬送アーム上の基板の保持位置は厳
密には一定ではなく、通常の循環搬送時に基板を保持し
た搬送アームが各処理部に挿入された場合と、上述の如
く処理部に挿入された搬送アームに作業者が基板を載せ
る場合とでは搬送アーム上の基板の保持位置が微妙に異
なる可能性が高い。
【0006】従って、処理部にセットされる基板の位置
が通常の循環搬送時と処理部の機能調整時とでは若干な
がら異なることが多い。
【0007】周知のように、半導体基板等の処理には非
常に高い精度が要求されるため、処理部にセットされる
基板の位置が通常時と調整時とで微妙に異なる場合であ
っても、一連の基板処理の結果には少なからぬ影響を与
えるという問題が生じる。
【0008】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、処理部の機能調整時に処理部にセットされる基
板の位置を通常の循環搬送時の位置と高い精度にて一致
させることができる基板処理装置を提供することを目的
とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に所定の処理を行う複数の
処理部と基板を搬送する搬送手段とを備え、予め定めら
れた処理順序に従って前記搬送手段が基板を前記複数の
処理部間で循環搬送することにより一連の基板処理を行
う基板処理装置であって、前記搬送手段に前記複数の処
理部のうち特定の処理部に基板を搬送させて、前記循環
搬送の一部のみを行わせるように前記搬送手段を制御す
る制御手段を備えている。
【0010】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
にかかる基板処理装置において、装置外部から基板を受
け取るとともに、当該基板を前記搬送手段に払い出す払
い出し手段をさらに備え、前記制御手段に、前記循環搬
送における動作と同じ動作態様にて前記払い出し手段か
ら前記特定の処理部まで基板を搬送するように前記搬送
手段を制御させている。
【0011】また、請求項3の発明は、請求項1または
請求項2の発明にかかる基板処理装置において、前記複
数の処理部に、基板の裏面を洗浄する裏面洗浄処理部と
基板の表裏を反転させる反転処理部とを含ませ、前記特
定の処理部が前記裏面洗浄処理部である場合には、前記
制御手段に、前記反転処理部を経由させた後に前記裏面
洗浄処理部まで基板を搬送するように前記搬送手段を制
御させている。
【0012】また、請求項4の発明は、請求項1から請
求項3のいずれかに記載の基板処理装置において、前記
制御手段に、第1の基板については前記循環搬送を行わ
せつつ、第2の基板については前記特定の処理部に搬送
し、前記循環搬送の一部のみを行わせるように前記搬送
手段を制御させている。
【0013】また、請求項5の発明は、請求項2の発明
にかかる基板処理装置において、前記制御手段に、前記
特定の処理部まで基板を搬送した後、当該基板を前記払
い出し手段まで帰還させるように前記搬送手段を制御さ
せている。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0015】まず、本発明に係る基板処理装置の全体構
成について説明する。図1は、本発明に係る基板処理装
置の全体構成を示す図である。図1(a)は、基板処理
装置の平面図であり、図1(b)は、基板処理装置の正
面図である。なお、図1には、その方向関係を明確にす
るためXYZ直交座標系を付している。ここでは、床面
に平行な水平面をXY面とし、鉛直方向をZ方向として
いる。
【0016】図1に示すように、本実施形態において
は、基板処理装置は、基板の搬出入を行うインデクサI
Dと、基板に処理を行う複数の処理部および各処理部に
基板を搬送する基板搬送手段が配置されるユニット配置
部MPと、図示しない露光装置とユニット配置部MPと
の間で基板の搬入/搬出を行うために設けられているイ
ンターフェイスIFとから構成されている。
【0017】ユニット配置部MPは、最下部に、薬液を
貯留するタンクや配管等を収納するケミカルキャビネッ
ト11を備え、この上側であってその4隅には、基板に
液処理を施す液処理部として、基板を回転させつつレジ
スト塗布処理を行う塗布処理部SC1、SC2(スピン
コータ)と、露光後の基板の現像処理を行う現像処理部
SD1、SD2(スピンデベロッパ)とが配置されてい
る。また、これらの液処理部の上側には、基板に熱処理
を行う多段熱処理部20が装置の前部及び後部に配置さ
れている。さらに、図1に示すように、装置の前側(Y
方向の負の向き側)および後側(Y方向の正の向き側)
であって多段熱処理部20の間には、基板の端縁部を露
光するエッジ露光処理部EE1、EE2がそれぞれ配置
されている。なお、図1に示す基板処理装置において
は、液処理部、熱処理部およびエッジ露光処理部EE
1、EE2が「処理部」に相当する。
【0018】塗布処理部SC1、SC2や現像処理部S
D1、SD2に挟まれた装置中央部には、周囲の全処理
部にアクセスしてこれらとの間で基板の受け渡しを行う
ことにより、基板を搬送する搬送手段として、搬送ロボ
ットTR1が配置されている。この搬送ロボットTR1
は、鉛直方向に移動可能であるとともに中心の鉛直軸回
りに回転可能となっている。この搬送ロボットTR1に
ついてはさらに後述する。
【0019】なお、ユニット配置部MPの最上部には、
クリーンエアのダウンフローを形成するフィルタファン
ユニットFFUが設置されている。また、塗布処理部S
C1、SC2および現像処理部SD1、SD2のそれぞ
れの直上にも、液処理部側にクリーンエアのダウンフロ
ーを形成するフィルタファンユニットFFUが設置され
ている。
【0020】さらに、この基板処理装置のインデクサI
Dには制御部10と入力パネル50とが設けられてい
る。制御部10は、コンピュータを用いて構成されてお
り、搬送ロボットTR1、液処理部、熱処理部およびエ
ッジ露光処理部EE1、EE2に電気的に接続されてそ
れらの動作の全てを管理・制御する。入力パネル50
は、作業者が制御部10に指示コマンドや処理用のレシ
ピを与えるための入力手段である。
【0021】次に、図2は、図1の処理部の配置構成を
説明する図である。塗布処理部SC1の上方には、多段
熱処理部20として、3段構成の熱処理部が配置されて
いる。これらのうち、最下段より数えて1段目の位置に
は基板に対して冷却処理を行う冷却処理部CP1が設け
られている。また、最下段より2段目の位置には基板の
加熱処理を行う加熱処理部HP1が設けられており、3
段目についても同様に加熱処理部HP2が設けられてい
る。
【0022】塗布処理部SC2の上方にも、多段熱処理
部20として、2段構成の熱処理部が配置されている。
これらのうち、最下段より1段目の位置には基板に対し
て密着強化処理を行う密着強化部AHL1が設けられて
おり、2段目についても同様に密着強化部AHL2が設
けられている。なお、最上段は、本実施形態の装置の場
合、空状態となっているが、用途及び目的に応じて加熱
処理部や冷却処理部、又はその他の熱処理部を組み込む
ことができる。
【0023】現像処理部SD1の上方にも、多段熱処理
部20として、3段構成の熱処理部が配置されている。
このうち、最下段より1段目の位置には冷却処理部CP
4が設けられており、2段目,3段目の位置には加熱処
理部HP3,HP4が設けられている。
【0024】現像処理部SD2の上方にも、多段熱処理
部20として、3段構成の熱処理部が配置されている。
このうち、最下段より1段目,2段目の位置には、冷却
処理部CP2,CP3が設けられており、3段目の位置
には、基板に対して露光後の加熱処理を行う露光後ベー
クプレート部PEBが設けられている。
【0025】そして、上記の複数の処理部間において、
ユニット配置部MPの中央部に設けられた搬送ロボット
TR1が基板を順次に搬送することによりその基板に対
して一連の処理を行うことができるのである。
【0026】なお、インターフェイスIFは、ユニット
配置部MPにおいてレジストの塗布が終了した基板を装
置外部の露光装置に渡したり露光後の基板を露光装置か
ら受け取るべく、かかる基板を一時的にストックする機
能を有し、図示を省略しているが、搬送ロボットTR1
との間で基板を受け渡すロボットと、基板を載置するバ
ッファカセットとを備えている。また、インデクサID
は、複数の基板を収容して装置外部から搬入されるカセ
ットを載置する載置部と、そのカセットと搬送ロボット
TR1との間で基板の受け渡しを行う移載ロボット(図
示省略)とを備えており、未処理基板をカセットから搬
送ロボットTR1に払い出すとともに、処理済み基板を
搬送ロボットTR1から受け取ってカセットに収納する
機能を有する。すなわち、本実施形態において、インデ
クサIDおよびインターフェイスIFは、ともに装置外
部から基板を受け取るとともに、当該基板を搬送ロボッ
トTR1に払い出す払い出し手段としての役割を果たす
ものである。
【0027】次に、搬送ロボットTR1について説明す
る。図3は、搬送ロボットTR1の外観斜視図である。
この搬送ロボットTR1は、基板Wを保持する一対の搬
送アーム31a,31bを水平方向に移動させる水平移
動機構と、伸縮しつつ鉛直方向に移動させる伸縮昇降機
構と、鉛直軸周りに回転させる回転駆動機構とを備えて
いる。そして、これらの機構によって搬送アーム31
a,31bは3次元的に移動することが可能である。
【0028】本発明にかかる基板処理装置の搬送ロボッ
トTR1の伸縮昇降機構は、いわゆるテレスコピック型
の伸縮機構であって、カバー41dをカバー41cに収
納可能であり、カバー41cをカバー41bに収納可能
であり、カバー41bをカバー41aに収納可能であ
る。そして、搬送アーム31a,31bを降下させる際
には、カバーを順次に収納していくことができ、逆に、
搬送アーム31a,31bを上昇させる際には収納した
状態のカバーが順次に引き出されるように構成されてい
る。これらのカバー41a〜41dは内部に設けられて
いる伸縮昇降機構が、動作する際に発生する粉塵を搬送
ロボットTR1の外部に出さないために設けられてお
り、これにより基板Wへのパーティクルの付着を抑制す
ることができる。
【0029】また、この搬送ロボットTR1は基台44
上に設置されており、基台44の中心を軸として回転す
ることができるように回転駆動機構が構成されている。
なお、基台44に固定された状態で、固定カバー43が
取り付けられている。
【0030】さらに、一対の搬送アーム31a,31b
は、2本のアームセグメントの屈伸動作によって直線状
に進退可能となるように水平移動機構が構成されてい
る。
【0031】以上のような動作機構によって、一対の搬
送アーム31a,31bは3次元的に移動し、インデク
サID、各処理部およびインターフェイスIFの間で基
板の受け渡しが可能である。
【0032】この基板処理装置における基板処理の一例
を以下の表1に示す。このような処理順序が予め入力パ
ネル50からレシピとして入力されており、制御部10
がそのレシピに基づき予め定められた処理順序に従って
搬送ロボットTR1に基板を各処理部間で循環搬送させ
るのである。
【0033】
【表1】
【0034】この処理順序によれば、未処理基板はイン
デクサIDから払い出されて、密着強化処理、冷却処理
およびレジスト塗布処理が行われた後、露光前の熱処理
が施される。その後、インターフェイスIFを介して装
置外部の露光装置に渡され、露光処理に供される(処理
順序)。そして、露光済みの基板はインターフェイス
IFを介してユニット配置部MPに戻され、エッジ露光
処理部EE1にて端縁部露光が行われた後(処理順序
)、露光後ベークが施され(処理順序)、さらにそ
の後、冷却処理、現像処理が行われ、処理済み基板とし
て再びインデクサIDに戻される。
【0035】なお、表1中において、かっこ書きにて示
した処理部は、並行処理が行われる処理部を示してい
る。すなわち、各処理工程での所要時間は同一ではない
ため、所要時間の長い工程については等価な2つの処理
部を割り当てて、そのいずれかにおいて処理するように
しているのである。例えば、インデクサIDから払い出
された未処理基板は、密着強化部AHL1または密着強
化部AHL2のいずれか空いている方に搬入されるので
ある。また、本実施形態において、インデクサIDおよ
びインターフェイスIFは処理部に相当するものではな
いが、搬送ロボットTR1がアクセスする対象であると
いう意味にて表1では便宜上処理部としている。
【0036】以上のように、この基板処理装置では、通
常表1に示す処理順序に従って搬送ロボットTR1が基
板を複数の処理部間で循環搬送することにより一連の基
板処理を行っているのである。つまり、本実施形態にお
ける「循環搬送」とは、表1に示す処理順序に従った搬
送を言う。そして、この基板処理装置において処理部の
機能調整を行う際には、以下のようにして実行される。
【0037】まず、作業者が入力パネル50から機能調
整用のモードである旨とその機能調整の対象となってい
る処理部とを入力するとともに、基板を収容したカセッ
トをインデクサIDに載置する。
【0038】次に、インデクサIDの移載ロボットが上
記カセットから基板を取り出して搬送ロボットTR1に
渡す。その後、機能調整用のモードであることを認識し
ている制御部10は通常の処理順序(表1に示す処理順
序)とは関係なく、搬送ロボットTR1に機能調整の対
象となっている処理部まで基板を直接搬送させるのであ
る。例えば、塗布処理部SC1の機能調整を行う場合に
は搬送ロボットTR1によってインデクサIDから密着
強化部AHL1等を経由することなく直接塗布処理部S
C1に基板が搬送され、現像処理部SD1の機能調整を
行う場合には搬送ロボットTR1によってインデクサI
Dから直接現像処理部SD1に基板が搬送されるのであ
る。
【0039】図5は、処理部の機能調整時における搬送
ロボットTR1による搬送の様子を説明する図である。
同図において、点線は通常の循環搬送(上記表1に示し
た処理順序に従った搬送)の様子を示しており、各処理
部に順次に基板を搬送している。そして、上記の機能調
整用のモードでの搬送は実線P1にて示す搬送であり、
搬送ロボットTR1がインデクサIDから直接現像処理
部SD1に基板を搬送するのである。
【0040】以上のようにして搬送された基板は、搬送
ロボットTR1によって機能調整の対象となっている処
理部にそのままセットされる。この時点にて始めて作業
者が機能調整の対象となっている処理部に介入し、機能
調整作業を行うのである。すなわち、搬送ロボットTR
1がインデクサIDから基板を搬送し、機能調整の対象
となっている処理部にセットするまでの工程において
は、作業者が全く介在していないため、通常の循環搬送
以上の安全性を考慮する必要はない。このため、制御部
10は、通常の循環搬送における動作と同じ動作態様に
てインデクサIDから直接機能調整の対象となっている
処理部まで基板を搬送するように搬送ロボットTR1を
制御するのである。なお、ここでの「動作態様」とは、
搬送ロボットTR1自体の昇降・回転速度および搬送ア
ーム31a,31bの進退速度の如き搬送ロボットTR
1の機械的動作の態様を意味する用語である。
【0041】換言すれば、機能調整用のモードにおいて
は、制御部10が搬送ロボットTR1に機能調整の対象
となっている処理部に基板を搬送させて、通常の循環搬
送の一部のみを行わせるように搬送ロボットTR1を制
御しているのである。
【0042】従って、機能調整の対象となっている処理
部には、搬送ロボットTR1の通常の循環搬送における
動作と同じ動作態様にて基板が搬入され、搬送アーム3
1a,31b上の基板の保持位置も通常の循環搬送にお
ける保持位置と同じとなり、その結果、処理部の機能調
整時に処理部にセットされる基板の位置を通常の循環搬
送時の位置と高い精度にて一致させることができるので
ある。なお、上述の如く、機能調整の対象となっている
処理部にセットするまでの工程においては、作業者が全
く介在していないため、安全上の問題が生じないことは
勿論である。
【0043】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、この発明は上記の例に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態においては、搬送ロボットTR1
がインデクサIDから基板を搬送し、機能調整の対象と
なっている処理部にセットするようにしていたが、これ
をインターフェイスIFから基板を搬送し当該処理部に
セットするようにしてもよい(例えば、図5の実線P2
にて示す搬送)。すなわち、インターフェイスIFは本
来装置外部の露光装置との基板の受け渡しを担当するユ
ニットであるものの、既述したように、インターフェイ
スIFも装置外部から基板を受け取るとともに、その基
板を搬送ロボットTR1に払い出す機能を有しているた
め、本実施形態においては、インデクサIDと同様の使
い方ができるのである。
【0044】また、上記実施形態においては、機能調整
用のモードにおいて搬送ロボットTR1にインデクサI
Dから基板を搬送させ、機能調整の対象となっている処
理部にセットするまでを行わせていたのであるが、機能
調整が終了した処理部から基板を取り出して搬送し、イ
ンデクサIDまで帰還させる動作をさらに搬送ロボット
TR1に行わせるようにしてもよい(例えば、図5の実
線P3にて示す搬送)。このようにすれば、機能調整の
全行程を通じて作業者が基板を持ち運ぶ必要がなくなる
ため、作業性が向上する。なお、インデクサIDまで帰
還された基板は、元のカセットまたは新たに選択された
別のカセットに収容される。
【0045】また、上記実施形態の基板処理装置に機能
調整用の基板搬送と通常の循環搬送とを並列的に行わせ
ることも可能である。例えば、塗布処理部SC1の機能
調整を行う場合、塗布処理部SC1と塗布処理部SC2
とは等価な処理部であるため、ある基板については機能
調整用のモードとして搬送ロボットTR1にインデクサ
IDから塗布処理部SC1に通常の循環搬送における動
作と同じ動作態様にて搬送させるとともに、他の基板に
ついては塗布処理部SC2を経由する表1の手順にて搬
送ロボットTR1に通常の循環搬送を行わせることがで
きる。このようにすれば、通常の循環搬送を中断するこ
となく機能調整用の基板搬送も行うことができるため、
基板の生産性低下を最小限に抑えつつ処理部の機能調整
を行うことができる。
【0046】また、上記実施形態においては、基板処理
装置を基板にレジスト塗布処理、現像処理等を行う装置
としていたが、本発明に係る基板処理装置はこれに限定
されるものではなく、複数の処理部間で基板を循環搬送
することにより一連の基板処理を行う基板処理装置であ
ればよく、例えば、基板を洗浄する装置であってもよ
い。図4は、本発明に係る基板処理装置の他の構成を示
す図である。
【0047】図4の基板処理装置は、基板の表面(パタ
ーン形成が行われる面)および裏面を洗浄するための装
置である。この基板処理装置は、基板の搬出入を行うイ
ンデクサIDと、基板に処理を行う複数の処理部および
各処理部に基板を搬送する基板搬送手段が配置されるユ
ニット配置部MPとを備えている。
【0048】インデクサIDは、図1および図2のイン
デクサIDと同じユニットであり、装置外部から基板を
受け取るとともに、当該基板を搬送ロボットTR1に払
い出す払い出し手段としての役割を果たす。そして、図
示は省略しているが、インデクサIDには図1に示した
制御部10および入力パネル50と同様のものが設けら
れている。また、ユニット配置部MPに設けられている
搬送ロボットTR1も図3の搬送ロボットTR1と同じ
ロボットであり、インデクサIDおよび各処理部の間で
基板の受け渡しが可能である。
【0049】この基板処理装置においては、ユニット配
置部MPに設けられている処理部が洗浄処理部である点
において図1および図2に示した基板処理装置とは異な
る。すなわち、ユニット配置部MPには、2つの表面洗
浄処理部SS1,SS2と、2つの裏面洗浄処理部SS
R1,SSR2と、2つの反転処理部R1,R2とが設
けられている。表面洗浄処理部SS1,SS2は基板の
表面を洗浄するための処理部であり、裏面洗浄処理部S
SR1,SSR2は基板の裏面を洗浄するための処理部
である。また、反転処理部R1,R2は、基板の表裏を
反転させるための処理部である。
【0050】図4の基板処理装置において基板の洗浄処
理を行うときは、通常、インデクサIDから払い出され
た基板が搬送ロボットTR1によって表面洗浄処理部S
S1またはSS2に搬送され、表面洗浄処理が行われ
る。表面洗浄が終了した基板は搬送ロボットTR1によ
って反転処理部R1またはR2に搬送され、表裏が反転
されるのである。そして、反転後の基板が搬送ロボット
TR1によって裏面洗浄処理部SSR1またはSSR2
に搬送され、裏面洗浄処理が行われるのである。すなわ
ち、図4の基板処理装置においては、このような一連の
搬送が通常の循環搬送に相当する。
【0051】この基板処理装置において、裏面洗浄処理
部SSR1またはSSR2の機能調整を行う場合には、
インデクサIDから機能調整の対象となっている裏面洗
浄処理部SSR1またはSSR2まで直接基板が搬送さ
れるのではなく、反転処理部R1またはR2を経由させ
て基板を反転させた後に、裏面洗浄処理部SSR1また
はSSR2まで基板を搬送するように搬送ロボットTR
1が制御されるのである。
【0052】このようにすれば、裏面洗浄処理部SSR
1またはSSR2の機能調整時に、通常の循環搬送にお
ける反転処理部R1またはR2による影響をも加味した
状態にて裏面洗浄処理部SSR1またはSSR2に基板
がセットされるため、そのセットされる基板の位置を通
常の循環搬送時の位置とより高い精度にて一致させるこ
とができるのである。
【0053】なお、このような機能調整の対象となって
いる処理部以外の処理部を経由させてから機能調整の対
象処理部に基板を搬送する手法は、図1および図2に示
した上記実施形態の基板処理装置に適用することも可能
である。例えば、塗布処理部SC1の機能調整を行う場
合には、搬送ロボットTR1に密着強化部AHL1さら
には、冷却処理部CP1を経由させてから塗布処理部S
C1に基板を搬送させるようにしてもよい。
【0054】換言すれば、インデクサIDから機能調整
の対象となっている処理部に基板を直接搬送することに
限定されるものではなく、通常の循環搬送の処理手順に
おいて機能調整の対象となっている処理部よりも上流の
処理部を経由させた後に、当該機能調整の対象となって
いる処理部に搬送するようにしてもよいのである。この
ようにすれば、その上流の処理部による影響をも加味し
た状態にて機能調整の対象となっている処理部に基板が
セットされるため、処理部の機能調整時に処理部にセッ
トされる基板の位置を通常の循環搬送時の位置とより高
い精度にて一致させることができる。すなわち、「循環
搬送の一部」とは、通常の循環搬送の処理手順において
機能調整の対象となっている処理部のみに搬送する場合
と、当該処理部よりも上流の処理部を経由させた後に搬
送する場合との双方を含むものである。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、搬送手段に複数の処理部のうち特定の処理部に
基板を搬送させて、循環搬送の一部のみを行わせている
ため、処理部の機能調整を行うときにその処理部にセッ
トされる基板の位置を通常の循環搬送時の位置と高い精
度にて一致させることができる。
【0056】また、請求項2の発明によれば、循環搬送
における動作と同じ動作態様にて払い出し手段から特定
の処理部まで基板を搬送するため、処理部の機能調整を
行うときにその処理部にセットされる基板の位置を通常
の循環搬送時の位置と高い精度にて一致させることがで
きる。
【0057】また、請求項3の発明によれば、特定の処
理部が裏面洗浄処理部である場合には、反転処理部を経
由させた後に裏面洗浄処理部まで基板を搬送させるた
め、反転処理部による影響をも加味した状態にて裏面洗
浄処理部に基板がセットされることとなり、裏面洗浄処
理部の機能調整を行うときに裏面洗浄処理部にセットさ
れる基板の位置を通常の循環搬送時の位置とより高い精
度にて一致させることができる。
【0058】また、請求項4の発明によれば、第1の基
板については循環搬送を行わせつつ、第2の基板につい
ては特定の処理部に搬送し、循環搬送の一部のみを行わ
せているため、循環搬送を中断することなく機能調整用
の基板搬送も行うことができ、基板の生産性低下を最小
限に抑えつつ処理部の機能調整を行うことができる。
【0059】また、請求項5の発明によれば、特定の処
理部まで基板を搬送した後、当該基板を払い出し手段ま
で帰還させているため、機能調整の作業性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の全体構成を示す図
である。
【図2】図1の基板処理装置の処理部の配置構成を説明
する図である。
【図3】図1の基板処理装置の搬送ロボットの外観斜視
図である。
【図4】本発明に係る基板処理装置の他の構成を示す図
である。
【図5】処理部の機能調整時における搬送ロボットによ
る搬送の様子を説明する図である。
【符号の説明】
10 制御部 ID インデクサ IF インターフェイス R1,R2 反転処理部 SSR1,SSR2 裏面洗浄処理部 TR1 搬送ロボット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西村 和浩 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 CA05 FA01 FA02 FA12 GA43 GA47 GA49 GA50 MA09 MA23 MA24 MA26 MA27 PA02 5F046 CD01 CD05 CD06 DA29 JA04 JA22 LA18

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に所定の処理を行う複数の処理部と
    基板を搬送する搬送手段とを備え、予め定められた処理
    順序に従って前記搬送手段が基板を前記複数の処理部間
    で循環搬送することにより一連の基板処理を行う基板処
    理装置であって、 前記搬送手段に前記複数の処理部のうち特定の処理部に
    基板を搬送させて、前記循環搬送の一部のみを行わせる
    ように前記搬送手段を制御する制御手段を備えることを
    特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 装置外部から基板を受け取るとともに、当該基板を前記
    搬送手段に払い出す払い出し手段をさらに備え、 前記制御手段は、前記循環搬送における動作と同じ動作
    態様にて前記払い出し手段から前記特定の処理部まで基
    板を搬送するように前記搬送手段を制御することを特徴
    とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板処理
    装置において、 前記複数の処理部は、基板の裏面を洗浄する裏面洗浄処
    理部と基板の表裏を反転させる反転処理部とを含み、 前記特定の処理部が前記裏面洗浄処理部である場合に
    は、 前記制御手段は、前記反転処理部を経由させた後に前記
    裏面洗浄処理部まで基板を搬送するように前記搬送手段
    を制御することを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
    の基板処理装置において、 前記制御手段は、 第1の基板については前記循環搬送を行わせつつ、 第2の基板については前記特定の処理部に搬送し、前記
    循環搬送の一部のみを行わせるように前記搬送手段を制
    御することを特徴とする基板処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項2記載の基板処理装置において、 前記制御手段は、前記特定の処理部まで基板を搬送した
    後、当該基板を前記払い出し手段まで帰還させるように
    前記搬送手段を制御することを特徴とする基板処理装
    置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100411098C (zh) * 2003-04-03 2008-08-13 精工爱普生株式会社 制造装置及制造方法
JP2008198882A (ja) * 2007-02-15 2008-08-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
US9050634B2 (en) 2007-02-15 2015-06-09 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing apparatus

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