JP2000146754A - 液晶駆動基板の検査装置及び方法 - Google Patents
液晶駆動基板の検査装置及び方法Info
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Abstract
電圧の十分な書き込み時間を確保することが可能であ
る。 【解決手段】 一面に透明電極が備えられ、画素電極が
行列状に多数設けられた液晶駆動基板に対向配置された
電気光学素子板と、前記透明電極に撮像手段のフレーム
周波数に同期した両極性のバイアス電圧を印加すると共
に、画素電極にはバイアス電圧の各極性毎にデータ電圧
を印加する電源装置と、バイアス電圧とデータ電圧とが
印加された状態で、電気光学素子板の表面の画像を撮像
する撮像手段と、バイアス電圧の各々の極性期間におけ
る複数フレームに亘る画像を加算して被検画像を生成
し、該被検画像を画像処理して画素電極の異常箇所を識
別して検査結果を出力する画像処理装置とを具備する。
Description
用いられる液晶駆動基板の検査装置及び方法に関する。
に電界を加える液晶駆動基板に液晶が封入されたガラス
板を対向配置したものである。この液晶表示パネルは、
液晶駆動基板の画素電極に加えるデータ電圧を制御して
液晶に加える電界を調節し、この電界調節によって液晶
の光透過率をコントロールして画像を表示するものであ
る。このような液晶表示パネルに用いられる液晶駆動基
板は、ガラス板上に行列状態に設けられた複数の画素電
極を備え、これら画素電極に加える電圧をTFT等のス
イッチング素子を用いてコントロールするものである。
置としては、例えば特開平5−256794号公報に記
載された電気光学素子板(モジュレータと称する)を用
いるものがある。
す概要図である。この図において、符号Bはモジュレー
タである。このモジュレータBは、内部に液晶が封入さ
れた液晶シートb1の片面に薄膜透明電極b2を貼り合わ
せ、またもう一方の面にモジュレータBに照射された光
を反射する誘電体反射膜b3を蒸着または貼り合わせて
構成される。このようなモジュレータBは、図示しない
検査装置本体に固定され、また液晶駆動基板Aはモジュ
レータBに微小ギャップ(10μm〜数10μm)を隔
てて対向配置される。液晶駆動基板Aは、ガラス基板a
1上に多数の画素電極a2が行列状に設けられ、これら各
画素電極a2への電圧の印加がTFT(薄膜トランジス
タ:図示略)等のスイッチング素子によって制御される
ようになっている。
2及び液晶駆動基板Aの各TFTのゲート電極とソース
電極には、電圧印加装置Cによって液晶駆動基板Aの動
作を検査するために必要な所定電圧が印加され、さらに
モジュレータBの表面には光源D(LED等)によって
光が照射される。この状態において、CCDカメラE
は、モジュレータBの表面からの反射光によってモジュ
レータBの表面の模様を画像として捉える。
てモジュレータBに対向して配置されているので、液晶
シートb1内に封入された液晶は、薄膜透明電極b2と液
晶駆動基板Aの各画素電極a2との間に発生する電界の
影響を受けて分子の配向状態が変化することになる。こ
の結果、該液晶の分子配向の状態に応じて液晶シートb
1の光透過率が調節され、よってモジュレータBに照射
された光の反射率が変化することになる。
れるモジュレータBの表面画像は、液晶駆動基板Aの各
画素電極a2に印加された電圧を反映させた輝度の画像
(電圧イメージ画像)となる。画像処理装置Fは、この
電圧イメージ画像に一定の画像処理を施すことによって
正常な電圧が印加されていない画素電極a2(欠陥画
素)を特定し、例えばその欠陥数等に基づいて液晶駆動
基板Aの良否を検査する。そして、この検査結果は、モ
ニタGに送られて表示される。
電極b2には、モジュレータBの電気光学特性を考慮し
て一定パターンのバイアス電圧が印加される。図7は、
モジュレータBの電気光学特性の一例を示すものであ
り、この電気光学特性つまりモジュレータBへの印加電
圧に対する反射光量の関係は、図示するように非線形特
性を有する。
有するモジュレータBを用いた液晶駆動基板Aの検査の
際に印加されるバイアス電圧とデータ電圧の波形を示す
ものである。この図に示すように、従来の検査では、例
えば±230Vp-pの両極性方形波をバイアス電圧とし
て薄膜透明電極b2に印加し、該バイアス電圧が正極性
の期間について所定電圧のデータ電圧を各画素電極a2
に印加していた。
の電圧イメージを得るために、モジュレータBの表面画
像を、例えばAフレーム〜Dフレームまで合計4フレー
ム撮影し、これら各フレームの画像を加算することによ
って被検画像(最終的な電圧イメージ画像)としてい
る。そして、この被検画像を画像処理することによって
画素電極a2の電圧印加異常等を検出し、液晶駆動基板
Aの動作異常を検査していた。
ス電圧の周波数は、CCDカメラEのフレーム周波数に
合わせて、例えば33.3msに設定されている。した
がって、バイアス電圧が正極性である期間つまり約16
msの間に、データ電圧をTFTのソース電極に印加し
て各画素電極a2にデータ電圧を書き込み、該データ電
圧の書き込みによってモジュレータBの反射光量が十分
に飽和して安定した状態でモジュレータBの表面の画像
を取得しなければならない。
間が10数ms必要な液晶駆動基板の場合は、画素への
信号の書き込みが完了してからモジュレータBの表面の
画像を取得するまでの時間が数msしか残されていな
い。したがって、このような液晶駆動基板の場合、上記
16msの時間は、液晶シートb1の液晶の応答遅れの
影響によって、モジュレータBからの反射光量が安定す
るために必要な十分な時間ではなく、よってデータ電圧
の書き込み時間を従来よりも長くしたいという要求があ
ったが、この場合、バイアス電圧の周波数は、従来の2
倍つまり66.6msとなるため検査のスループットが
低下するという問題点がある。
たもので、スループットの低下を来すことなく、データ
電圧の十分な書き込み時間を確保することが可能な液晶
駆動基板の検査装置及び方法の提供を目的とする。
に、本発明では、液晶駆動基板の検査装置に係わる第1
の手段として、一面に透明電極が備えられ、画素電極が
行列状に多数設けられた液晶駆動基板に対向配置された
電気光学素子板と、前記透明電極に撮像手段のフレーム
周波数に同期した両極性のバイアス電圧を印加すると共
に、画素電極にはバイアス電圧の各極性毎にデータ電圧
を印加する電源装置と、バイアス電圧とデータ電圧とが
印加された状態で、電気光学素子板の表面の画像を撮像
する撮像手段と、バイアス電圧の各々の極性期間におけ
る複数フレームに亘る画像を加算して被検画像を生成
し、該被検画像を画像処理して画素電極の異常箇所を識
別して検査結果を出力する画像処理装置とを具備する手
段を採用する。
2の手段として、上記第1の手段において、バイアス電
圧の周波数を撮像手段のフレーム周波数の1/2に設定
するという手段を採用する。
段として、上記第2の手段において、データ電圧をバイ
アス電圧の半周期毎に異なる電圧値とし、画像処理装置
は、連続する4フレームの画像をバイアス電圧の各極性
における電気光学素子板の電気光学特性の差を打ち消す
ように加算して被検画像を生成するという手段を採用す
る。
段として、上記第3の手段において、連続する4フレー
ムの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A+B−C−
D)に基づいて被検画像Rを生成するように画像処理装
置を構成するという手段を採用する。
段として、 上記第3の手段において、連続する4フレ
ームの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A−B−C
+D)に基づいて被検画像Rを生成するように画像処理
装置を構成するという手段を採用する。
段として、 上記第4の手段において、データ電圧を画
像A,Dの撮像時には第1の電圧値Vhiとし、画像B,
Cの撮像時には第2の電圧値Vloに設定するように電源
装置を構成するという手段を採用する。
段として、 上記第5の手段において、データ電圧を画
像A,Bの撮像時には第1の電圧値Vhiに設定し、画像
C,Dについては第2の電圧値Vloに設定するように電
源装置を構成するという手段を採用する。
法に係わる第1の手段として、一面に透明電極が備えら
れた電気光学素子板を画素電極が行列状に多数設けられ
た液晶駆動基板に対向配置し、透明電極に撮像手段のフ
レーム周波数に同期した両極性のバイアス電圧また画素
電極にはバイアス電圧に同期したデータ電圧を印加し、
複数フレームに亘って撮像手段で撮影された電気光学素
子板表面の画像を加算して被検画像を生成し、該被検画
像に基づいて画素電極の異常箇所を識別する液晶駆動基
板の検査方法において、バイアス電圧の各々の極性期間
毎にデータ電圧を印加し、これら各極性期間に得られた
前記画像から被検画像を生成するという手段を採用す
る。
2の手段として、上記第1の手段において、バイアス電
圧の周波数を撮像手段のフレーム周波数の1/2とする
という手段を採用する。
段として、上記第2の手段において、データ電圧をバイ
アス電圧の半周期毎に異なる電圧値とし、連続する4フ
レームの画像をバイアス電圧の各極性における電気光学
素子板の電気光学特性の差を打ち消すように加算して被
検画像を生成するという手段を採用する。
段として、上記第3の手段において、連続する4フレー
ムの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A+B−C−
D)に基づいて被検画像Rを生成するという手段を採用
する。
段として、上記第3の手段において、連続する4フレー
ムの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A−B−C+
D)に基づいて被検画像Rを生成するという手段を採用
する。
段として、上記第4の手段において、データ電圧を、画
像A,Dについては第1の電圧値Vhiとし、画像B,C
については第2の電圧値Vloとするという手段を採用す
る。
段として、上記第5の手段において、データ電圧を、画
像A,Bについては第1の電圧値Vhiとし、画像C,D
については第2の電圧値Vloとするという手段を採用す
る。
係わる液晶駆動基板の検査装置及び方法の一実施形態に
ついて説明する。なお、上述した図面について既に説明
した部材については、同一符号を付すと共にその説明を
省略する。
置の構成図である。この図において、符号1は電気光学
素子板(モジュレータ)であって、内部に液晶が封入さ
れた液晶シート1aと薄膜透明電極1bと誘電体反射膜
1cとから構成されている。このモジュレータ1は、例
えば方形状(40mm×40mm)の液晶シート1aの
片面に薄膜透明電極1bを貼り合わせ、かつもう一方の
面に誘電体反射膜1cを蒸着または貼り合わせて構成さ
れている。
誘電体反射膜1cが下向きとなるように図示しない検査
装置本体に固定され、その下方には微小ギャップ△d
(10μm〜数10μm)を隔てて上述した液晶駆動基
板Aが対向配置されるようになっている。
い制御装置による制御の下に、水平面内で液晶駆動基板
Aを移動させるものである。液晶駆動基板Aが比較的大
型の場合には、液晶駆動基板Aの面積がモジュレータ1
よりも大きくなるので、すべての画素電極a2をモジュ
レータ1と対向させることができない。そこで、液晶駆
動基板AをX−Yステージ2上に載置し、該X−Yステ
ージ2を作動させることによって液晶駆動基板Aが水平
面内で移動され、すべての画素電極a2がモジュレータ
1と対向し得るようにしている。
る。ビームスプリッタ3は、モジュレータ1の上方に対
向状態に備えられ、その側方に備えられた光源4から照
射された光を反射してモジュレータ1の全面に照射す
る。また、このビームスプリッタ3は、モジュレータ1
からの反射光を上方に透過させる作用を持つものであ
る。ここで、光源4は、例えばLED(Light-Emitting
Diode)等の高輝度の光を放射するものが適用され、図
示しない制御装置によってストロボ状にその発光が制御
されるものである。
り、上記ビームスプリッタ3の上方に備えられ、該ビー
ムスプリッタ3を透過したモジュレータ1の反射光から
特定波長範囲の光のみをレンズ6に透過するものであ
る。レンズ6は凸レンズであり、フィルタ5を透過した
光を集光させてCCDカメラ7に導くものである。
た光に基づいて上記モジュレータ1の表面の画像を撮像
するものである。このCCDカメラ7は、例えば撮像時
のフレーム周波数が30Hz(周期:33.3ms)、
空間分解能が2.8CCD/100μm、画素数が10
24kの性能を有し、撮像した電圧イメージ画像をデジ
タル映像信号として画像処理装置8に出力する。なお、
上記液晶駆動基板Aの画素電極a2のピッチは、例えば
100μm程度であり、上記CCDカメラ7の分解能
は、この画素電極a2のピッチに対して十分な性能を有
している。
力されたデジタル映像信号に所定の画像処理を施すこと
によって、上記電圧イメージ画像から液晶駆動基板Aの
欠陥部分(正常にデータ電圧が印加されていない、また
は印加されたデータ電圧が正常に保持されない画素電極
a2)を検出し、その結果をモニタ9に出力する。例え
ば、画像処理装置8は、欠陥部分と正常部分とを色分け
してモニタ9に表示させたり、欠陥部分の個数を数値表
示させるための映像信号をモニタに出力する。なお、こ
の画像処理装置8における処理については、以下に詳述
する。
ュレータ1の薄膜透明電極1bにバイアス電圧EBを印
加すると共に、液晶駆動基板Aにデータ電圧EDを印加
するためのものである。バイアス電圧EBは、上記CC
Dカメラ7のフレーム周波数30Hz(周期:33.3
ms)の1/2つまり周波数15Hz(周期:66.6
ms)で±230Vp-pの両極性方形波である。一方、
データ電圧EDは、上記TFTのソース端子に加えられ
て該TFTが導通状態となったときに画素電極a2に印
加されるものであり、上記バイアス電圧EBに同期して
所定電圧Eaから±△eだけ方形波状に変化するもので
ある。
TFTの導通/遮断状態を制御するためのゲート電圧も
電源装置10から供給されるようになっている。この電
源装置10は、図示しない制御装置による制御の下、上
記バイアス電圧EBとデータ電圧EDとを出力する。
の検査装置の動作について詳しく説明する。
上記図2に示すようにモジュレータ1表面に係わるAフ
レーム〜Dフレームまでの連続4フレームの電圧イメー
ジ画像を加算することによって、画像処理の対象とする
被検画像を生成する。
Aフレーム及びCフレームの撮像期間においては正極
性、またBフレーム及びDフレームの撮像期間において
は負極性とされ、また各フレームのデータ電圧EDは全
て異なる値とされる。例えば、図2に示すように、デー
タ電圧EDは、Aフレームでは所定電圧Eaに対して電圧
△eaを加算した値、Bフレームでは所定電圧Eaに対し
て電圧△ebを加算した値、Cフレームでは所定電圧Ea
に対して電圧△ecを減算した値、Dフレームでは所定
電圧Eaに対して電圧△edを減算した値とされる。
ターンと比較すると判るように、本実施形態ではバイア
ス電圧EBの負極性期間をも利用してバイアス電圧EBの
負極性期間及び正極性期間を2倍(約16.6ms→3
3.3ms)とすることによって、従来と同様に4フレ
ームの期間つまりスループットを低下させることなく、
各フレームにおけるデータ電圧EDの印加時間を原理的
に2倍長くすることができる。
EDとがそれぞれ印加された状態において、ゲート電圧
が印加されて各TFTが導通状態とされてデータ電圧E
Dが画素電極a2に印加される。そして、画素電極a2の
電圧が十分に飽和して安定した状態において、光源4か
らストロボ状に光が出射され、ビームスプリッタ3を介
してモジュレータ1に照射される。
極a2へのデータ電圧EDの印加状態に応じてモジュレー
タ1の液晶シート1aに加えられる電界の強度が決ま
り、この電界強度に応じて液晶シート1aの光反射率が
操作されるので、モジュレータ1において反されれる反
射光の光量(反射光量)が変わる。すなわち、CCDカ
メラ7に入射する光は、モジュレータ1に照射された光
がバイアス電圧EB及び各画素電極a2に実際に印加され
た電圧によって強度変調された反射光となる。
シート1aの電荷移動等の影響により、モジュレータ1
の液晶シート1aの内部に印加される実質的な電界が変
化する。これは、同じバイアス電圧EB、同じデータ電
圧EDを印加して液晶シート1aの両面に印加される電
圧が一定であっても、時間の経過とともに液晶シート1
aの内部に実質的に加えられる電界が変化するからであ
る、例えば、そのまま同じ外部電圧を保持した場合、最
終的には液晶シート1aの内部にかかる実質的な電圧は
0Vとなる。
液晶シート1a内部の実質電圧は、当該時刻におけるバ
イアス電圧EBとデータ電圧EDのみから決定されるもの
ではなく、それ以前の印加電圧履歴によって電荷がどこ
に偏在しているかにも影響される。例えば、バイアス電
圧EBの正負の極性のそれぞれの印加期間に長短がある
場合には、期間が長い極性を相殺するような電荷の偏在
が発生しており、正負の両極性で同じ絶対値の外部電圧
が印加されても、液晶シート1a内部の実質電圧は、正
極性と負極性とで差異が発生する。
態から電圧を印加開始した場合には、初期段階では各極
性における液晶シート1aの実質的な内部電圧の絶対値
は等しくない。この場合、モジュレータ1から得られる
反射光量は、バイアスの正負極性期間において、電荷移
動等による影響がない場合の値に対して各々にオフセッ
トを持った値となる。
づいてAフレーム〜Dフレームの電圧イメージ画像を撮
像し、画像処理装置8にデジタル映像信号として出力す
る。そして、画像処理装置8は、これら各フレームの電
圧イメージを以下の式(1)あるいは式(2)に基づい
て被検画像Rを生成する。 R={A−B−C+D}/2 (1) R={A+B−C−D}/2 (2)
ことによって、バイアス電圧EBが正極性側にあるとき
のモジュレータ1の応答特性とバイアス電圧EBが負極
性側にあるときのモジュレータ1の応答特性との間に定
常的に発生している反射光量の差を打ち消すことができ
る。画像処理装置8は、この被検画像Rを電圧に変換す
る係数Gを乗算することにより実際のイメージ電圧を生
成する。
圧EDをPA,PB,PC,PDとし、上式(1)に基づい
てイメージ電圧V1を算出すると、下式(3)のように
求められる。 V1={PA+PB−PC−PD}/2 (3) また、上式(2)に基づいてイメージ電圧V2を算出す
ると下式(4)のように求められる。 V2={PA−PB−PC+PD}/2 (4) なお、このイメージ電圧V1,V2の算出の詳細について
は、以下に詳述する。
ータ電圧EDが正常に印加されない場合、この画素電極
a2に対向するモジュレータ1の部分は、正常にデータ
電圧EDが印加された周囲の画素電極a2に対向するモジ
ュレータ1の部分と比較して輝度が異なることになる。
この場合、画像処理装置8は、被検画像Rを2値化する
ことによって、正常動作をしている画素電極a2の部分
に対して正常に動作していない画素電極a2の部分を識
別することができる。
て異常な画素電極a2の個数やその分布状態等を検査結
果としてモニタ9に出力する。この結果を検査員が指定
した許容値に基づいて当該検査対象となっている液晶駆
動基板の良否を判定して検査が終了する。
を生成することの技術的根拠について説明する。なお、
この説明では説明を容易にするため、データ電圧ED=
0Vとする。
実際に印加される電圧VMの絶対値|VM|と反射光量I
Rとの関係(電気光学特性)を示すグラフである。図3
に示すように、モジュレータ1の電気光学特性は略S字
状の特性(Sカーブ)を有しており、このうち直線状の
特性部分を利用して液晶駆動基板Aのイメージングを行
っている。この電気光学特性の直線部分を数式化する
と、式(5)のように表される。 IR=K1・|VM|+b (5)
タ1の電気光学応答(E/0応答)は、理論的には印加
電圧に対して正負対称である。しかし、実際にはモジュ
レータ1の内部の電荷移動等の影響によってモジュレー
タ1の液晶シートに印加される電圧VMが変化する。同
じバイアス電圧EBを印加していても時間経過とともに
電圧VMが変化して最終的には0Vになってしまう。
を模式的に示した説明図である。図4に示すように、例
えばモジュレータ1の両面に+Eボルトの電圧を印加し
た場合、モジュレータ内では電荷の移動が発生する。こ
の電荷の移動は、ある一定の時間遅れで起こり、印加電
圧の極性が+Eボルトから−Eボルトに反転しても、溜
まった電荷はすぐには解消されず、反転直後においては
モジュレータ1の内部電界を強める方向に働く。
1においては、バイアス電圧EBをの正負極性の印加期
間の微妙な差や電圧レベルの差によって、モジュレータ
1の内部に実際に印加される電圧VMが正負非対称にな
ることが考えられる。図5は、このような状態でのモジ
ュレータ電圧の変化の様子を示す図である。なお、この
図では、正負非対称成分のみを強調するために、パネル
に書き込むデータ電圧EDを0V(一定)としている。
たようにバイアス電圧VBの正負極性の各所定時点にお
いてストロボを発光させて行われる。理論的にはバイア
ス電圧EBの正負極性のパルス幅の差が無い(すなわデ
ューティ比が50%)場合は、電圧イメージを撮像する
タイミングにおける電圧VMの絶対値lVMlは、正極及
び負極の両極において同じ値(以下、理論値という)と
なる。
負極性の期間の微妙な差によって、モジュレータ1の内
部に印加される電圧VMは、理論値に対してオフセット
を持つ。ストロボタイミングにおける理論的な電圧VM
の絶対値をlVMl、正極における絶対値lVMlの理論
値と実際の値との差をVOFFSET(+)、負極における電圧
絶対値lVMlの理論値と実際の値との差をV
OFFSET(-)、データ電圧EDをVP、バイアス電圧EBをV
Bとすると、バイアス電圧EBの各極性について次のよう
な関係式(6),(7)が成立する。
ップの容量の逆比である。エアギャップが同じであれば
一定の値を取る。
代入すると、以下のような関係式(8),(9)が得ら
れる。 正極性の場合:IR+=K1{K2(VB−VP)+VOFFSET(+)}+b (8) 負極正の場合:IR-=K1{K2(−VB+VP)+VOFFSET(-)}+b ……(9)
Rは、モジュレータ1にかかる電圧の大きさに比例して
変化する。バイアス電圧EBの正負に関係なく、モジュ
レータ−液晶駆動基板間の電圧の大きさが同じであれ
ば、同じ反射光量IRとなる。つまり、モジュレータ1
にかかる電圧は、モジュレータ−液晶駆動基板間にかか
る電圧の容量の逆比で表されるため、モジュレータ−液
晶駆動基板間電圧の大きさが同じであれぱ、モジュレー
タ1にかかる電圧も同じとなる。
り、モジュレータ−液晶駆動基板間にかかる電圧が同じ
であっても、オフセット分だけ反射光量IRが変化す
る。この変化分は、データ電圧EDとは無関係であり無
用の情報であるため、バイアス電圧VBの両極性を使用
して液晶駆動基板Aのイメージングをする場合、このオ
フセット分の影響を相殺するための演算方式が必要とな
る。その演算方式について以下に説明する。
ジュレータ1から得られる電圧イメージの演算結果の期
待値も0Vとなる。イメージ電圧は、理論的にはSカー
ブにおけるE/0ゲイン(反射光量IRをイメージ電圧
に変換するための係数)とオフセットとの関係から、反
射光量IRが分かれば求めることができる。しかし、デ
ータ電圧VPとバイアス電圧VBが同じであっても、モジ
ュレータ1と液晶駆動基板Aとの間のギャップは、時と
場所とによって変化し、またランプ照明系の照度も場所
によって変化するため、Sカーブは時と場所によって変
化する。
タ1がカバーする全ての部位におけるE/Oゲインとオ
フセットを予め求める必要がある。E/0ゲインは、S
カーブの直線応答領域のどの場所でも一定であるので、
Sカーブ上の異なる2点のデータを取ることによって測
定できる。しかし、オフセットは、Sカーブに起因する
パラメークが多く、それら全てのパラメータを特定しな
いとその絶対的な値を特定することはできない。そこ
で、絶対値はわからなくても少なくとも2つのフレーム
の反射光量IRの差分を取ることにより、オフセット成
分を相殺する方法を考案した。
知するための基準フレームイメージと捉えることも可能
であるが、液晶駆動基板Aには欠陥画素部も含まれてい
るため、パネル上の全ての部位で同じ条件でオフセット
を検知することはできない。このような意味では、2つ
のイメージのどちらかを基準にするという考え方は成立
しない。また、なるべく多くの現象を時間の無駄なく採
取するという意味で、2つのイメージで別な印加波形を
印加して,2つの現象を一つのイメージとして得られる
というメリットがある。このイメージをフレーム差分イ
メージという。
出力されるイメージ電圧Vは、下式(10)に示すよう
に2つ以上のフレームの差分の電圧である。 V=G・△I (10) ここで、Gは反射光量IRをイメージ電圧に変換するた
めの係数であり、0以外の値を取る。したがって、この
計算結果が0Vになるためには、演算後の反射光量△I
が0となる必要がある。
電圧EBの正極性電圧を+E、負極正電圧を−Eとして
代入すると、バイアス電圧EBが正極性の場合における
反射光量IR+と負極性の場合における反射光量IR-につ
いて、下式(11),(12)が得られる。 正極性の場合:IR+=K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b (11) 負極正の場合:IR-=K1[K2・{−(−E)}+VOFFSET(-)]+b =K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b (12)
の差分を用いて上記イメージ電圧Vを求めると、次式
(13)のように求められる。 V=IR+−IR-=[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b] =K1・K2{VOFFSET(+)−VOFFSET(-)} ……(13)
フレームイメージと負極性のフレームイメージとの差分
だけでは非対称成分のオフセットが残る。このため、こ
のオフセット分を打ち消すための必要最小限のフレーム
数と演算方式を検討する必要がある。
るフレームをAフレーム、次の負極性電圧が印加される
フレームをBフレーム、以後C,D,E,F……とする
と、演算後の反射光量△Iが0となるような演算方式に
は、以下の4式(14)〜(17)がある。 A−C=[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] =0 (14) B−D=[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b] =0 (15) (A+B−C−D)/2=〔[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] +[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b]〕/2 =0 (16) (A−B−C+D)/2=〔[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] +[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b]〕/2 =0 (17)
バイアス電圧EBの同一極性の部分しか使用しないため
検討から除外する。この結果、A+B−C−D,A−B
−C+Dの演算方式が有効であることが判る。
て被検画像Rを生成できるが、以下に詳説するように式
(1)を用いた場合には、モジュレータ1の応答特性の
経時的なドリフトをもキャンセルすることが可能であ
り、より精度の良い被検画像Rを得ることができるとい
う特徴を有する。当然、モジュレータ1の応答特性の経
時的なドリフトを考慮する必要がないと判断される場合
には、式(1)あるいは式(2)のいずれを用いても良
い結果が得られる。
なドリフト成分が無いものとして検討を行っている。こ
れは、実際の検査では相対しきい値手法(電圧分布のピ
ークを基準としてしきい値を設定するの手法)を用いて
いるため、ドリフト成分は影響しないからである。しか
し、実際のモジュレータ1の電気光学特性では、同じ条
件(同じデータ電圧ED、固じバイアス電圧EB、同じモ
ジュレータ−液晶駆動基板間ギャップ)でも時間的に反
射光量IRが変化する。このため、モジュレータ1のド
リフト成分を考えた場合に、A+B−C−DあるいはA
−B−C+Dの演算方式で結果がどのようになるか、以
下に検討する。
間的に比例していると見なすことができる。ここで、A
フレームを基準にドリフト成分を考えた場合と、反射光
量I Rは以下のようになる。なお、ここでは、ドリフト
成分が無い場合の反射光量IRをIA,IB,IC,ID、
ドリフト量をαとする。 Aフレーム:IA Bフレーム:IB+α Cフレーム:IC+2α Dフレーム:ID+3α
D,A−B−C+Dの演算方式で反射光量IRの計算を
行うと、下式(18),(19)のようになる。 (A+B−C−D)/2=〔[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] +[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b+α] −[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b+2α] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b+3α]〕/2 =−2α (18) (A−B−C+D)/2=〔[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b] +[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b+α] −[K1{K2・E+VOFFSET(+)}+b+2α] −[K1{K2・E+VOFFSET(-)}+b+3α]〕/2 =0 (19)
−B−C+Dの演算方式を用いることにより、経時的な
モジュレータ1のドリフト成分をキャンセルできること
を示している。
定電圧Eaに対して電圧△Eeaを加算した値、Bフレー
ムでは所定電圧Eaに対して電圧△Eebを加算した値、
Cフレームでは所定電圧Eaに対して電圧△Eecを減算
した値、Dフレームでは所定電圧Eaに対して電圧△E
edを減算した値とすることの技術的根拠について補足説
明する。
+D)の演算方式を用いた場合において、データ電圧E
Dを一般化した式を導出する。上述したようにイメージ
演算の結果得られるイメージ電圧Vは式(10)によっ
て与えられる。この式(10)において、△Iは演算後
の反射光量であり、(A+B−C−D)あるいは(A−
B−C+D)の演算結果により表される。
=Ea+△Eea)をPA,Bフレームのデータ電圧E
D(ED=Ea+△Eeb)をPB,Cフレームのデータ電圧
ED(ED=Ea−△Eec)をPC,Dフレームのデータ電
圧ED(ED=Ea−△Eed)をPDとし、式(8),
(9),(11),(12)より各フレームにおける演
算後の反射光量IRA,IRB,IRC,IRDは下式(20)
〜(23)のように求められる。 IRA=K1{K2(VB−PA)+VOFFSET(+)}+b (20) IRB=K1{K2(−VB+PB)+VOFFSET(-)}+b (21) IRC=K1{K2(VB−Pc)+VOFFSET(+)}+b (22) IRD=K1{K2(−VB+PD)+VOFFSET(-)}+b (23)
せる。 G=−l/(K1・K2) (25) したがって、上式(24),(25)より、イメージ電
圧V2は下式(26)のように表される。 V2=(PA−PB−PC+PD)/2 (26)
メージ電圧V1は下式(28)のように求められる。 V1=(PA+PB−PC−PD)/2 (28)
Dが各フレーム間で同じである場合、データ電圧EDが0
Vでなくても、イメージ電圧Vは0Vとなる。このた
め、データ電圧EDを得るためには最低2種類の電圧を
液晶駆動基板に印加する必要があることが解る。例え
ば、このデータ電圧EDを2つの異なる電圧値、つまり
第1の電圧値Vhiあるいは第2の電圧値Vlo(Vhi>V
lo)とすると、式(26)によって正極のバイアス電圧
EBにおけるデータ電圧EDを得る場合、各フレームのデ
ータ電圧EDを下式(29),(30)のように設定す
ることが考えられる。 PA=PD=Vhi (29) PB=PC=Vlo (30)
6)に代入すると、式(31)が得られる。 V=(Vhi−Vlo)>0 (31) したがって、演算式(A+B−C−D)を予め2で除算
しておくことにより、データ電圧EDから簡単にイメー
ジ電圧Vの理論値を求めることができる。
EBが正極のときのデータ電圧EDを得る場合、各フレー
ムのデータ電圧EDを下式(32),(33)のように
設定する必要がある。 PA=PB=Vhi (32) PC=PD=Vlo (33)
8)に代入すると、式(34)が得られる。 V=(Vhi−Vlo)>0 (34) この場合についても、演算式A+B−C−Dを2で予め
除算しておくことにより、データ電圧EDから簡単にイ
メージ電圧Vの理論値を求めることができる。
メージ電圧Vを求めるための演算方式を(A+B−C−
D)または(A−B−C+D)とした。また、データ電
圧E Dを一般化した場合のイメージ電圧Vは、演算方式
がA+B−C−Dの場合には、V=(PA−PB−PC+
PD)/2のように求められ、演算方式がA−B−C+
Dの場合には、V=(PA+PB−PC−PD)/2のよう
に求められる。すなわち、各フレームのデータ電圧ED
は任意の値でよい。
画素に対して識別するためには、各フレームのデータ電
圧PA,PB,PC,PDをV≠0となるように設定するこ
とが好ましい。例えば、演算式がA+B−C−Dの場合
には、PA及びPDを第1の電圧値Vhiとし、PB及びPC
を第2の電圧値Vloとすることが考えられる。また、演
算式がA−B−C+Dの場合には、PA及びPBを第1の
電圧値Vhiとし、PC及びPDを第2の電圧値Vloとする
ことが考えられる。この場合、最小限の2種類のデータ
電圧Vhi,Vloによってイメージ電圧V(≠0)を得る
ことができるので、種々の欠陥画素をより正確に検出で
きると共に、データ電圧EDの設定が容易である。
晶駆動基板の検査装置及び方法によれば、以下のような
効果を奏する。 (1)液晶駆動基板の検査装置に係わる第1の手段とし
て、一面に透明電極が備えられ、画素電極が行列状に多
数設けられた液晶駆動基板に対向配置された電気光学素
子板と、前記透明電極に撮像手段のフレーム周波数に同
期した両極性のバイアス電圧を印加すると共に、画素電
極にはバイアス電圧の各極性毎に所定電圧値のデータ電
圧を印加する電源装置と、バイアス電圧とデータ電圧と
が印加された状態で、電気光学素子板の表面の画像を撮
像する撮像手段と、バイアス電圧の各々の極性期間にお
ける複数フレームに亘る画像を加算して被検画像を生成
し、該被検画像を画像処理して画素電極の異常箇所を識
別して検査結果を出力する画像処理装置とを具備するの
で、従来のようにバイアス電圧の一方の極性期間のみに
データ電圧を印加して画像を撮影する場合に対して、ス
ループットの低下を来すことなく、データ電圧の十分な
書き込み時間を確保することが可能である。したがっ
て、液晶駆動基板を短時間かつ精度良く検査することが
できる。
フレーム周波数の1/2に設定するので、スループット
の低下を来すことなくデータ電圧の十分な書き込み時間
を確保することが可能であり、よって液晶駆動基板を短
時間かつ精度良く検査することができる。
毎に異なる電圧値とし、画像処理装置は、連続する4フ
レームの画像をバイアス電圧の各極性における電気光学
素子板の電気光学特性の差を打ち消すように加算して被
検画像を生成するので、バイアス電圧の両極性を用いて
も該極性の違いによる電気光学素子板の電気光学特性の
差の影響を受けることなく安定した検査が可能である。
したがって、液晶駆動基板をさらに精度良く検査するこ
とができる。
ムの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A+B−C−
D)に基づいて被検画像Rを生成するので、バイアス電
圧の両極性を用いても該極性の違いによる電気光学素子
板の電気光学特性の差を最小限のフレーム数でキャンセ
ルすることができる。したがって、液晶駆動基板を短時
間かつ精度良く検査することができる。
ムの画像をA〜Dとした場合に、演算式(A−B−C+
D)に基づいて被検画像Rを生成するので、バイアス電
圧の両極性を用いても該極性の違いによる電気光学素子
板の電気光学特性の差を最小限のフレーム数でキャンセ
ルするとともに、電気光学素子板の電気光学特性の経時
的なドリフトをもキャンセルすることができる。したが
って、さらに精度良く液晶駆動基板を検査することがで
きる。
Dの撮像時には第1の電圧値Vhiに設定し、画像B,C
の撮像時には第2の電圧値Vloに設定するので、最小限
の設定電圧数で種々の原因で発生する欠陥画素を正常画
素に対してより確実に識別することができる。
Bの撮像時には第1の電圧値Vhiに設定し、画像C,D
の撮像時には第2の電圧値Vloに設定するので、最小限
の設定電圧数で種々の原因で発生する欠陥画素を正常画
素に対してより確実に識別することができる。
方法の一実施形態の構成図である。
方法の位置実施形態におけるバイアス電圧とデータ電圧
の印加パターンを示す波形図である。
方法の技術的背景を説明するための第1の説明図であ
る。
方法の技術的背景を説明するための第2の説明図であ
る。
方法の技術的背景を説明するための第3の説明図であ
る。
構成図である。
ある。
印加パターンを示す波形図である。
Claims (14)
- 【請求項1】 一面に透明電極が備えられ、画素電極が
行列状に多数設けられた液晶駆動基板に対向配置された
電気光学素子板と、 前記透明電極に撮像手段のフレーム周波数に同期した両
極性のバイアス電圧を印加すると共に、画素電極には前
記バイアス電圧の各極性毎にデータ電圧を印加する電源
装置と、 バイアス電圧とデータ電圧の印加時に電気光学素子板の
表面の画像を撮像する撮像手段と、 バイアス電圧の各々の極性期間における複数フレームに
亘る画像を加算して被検画像を生成し、該被検画像を画
像処理して画素電極の異常箇所を識別して検査結果を出
力する画像処理装置と、 を具備することを特徴とする液晶駆動基板の検査装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の液晶駆動基板の検査装置
において、前記バイアス電圧の周波数を撮像手段のフレ
ーム周波数の1/2に設定することを特徴とする液晶駆
動基板の検査装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の液晶駆動基板の検査装置
において、データ電圧を、バイアス電圧の半周期毎に異
なる電圧値とし、画像処理装置は、連続する4フレーム
の画像をバイアス電圧の各極性における電気光学素子板
の電気光学特性の差を打ち消すように加算して被検画像
を生成することを特徴とする液晶駆動基板の検査装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の液晶駆動基板の検査装置
において、画像処理装置は、連続する4フレームの画像
をA〜Dとした場合に、演算式(A+B−C−D)に基
づいて被検画像Rを生成することを特徴とする液晶駆動
基板の検査装置。 - 【請求項5】 請求項3記載の液晶駆動基板の検査装置
において、画像処理装置は、連続する4フレームの画像
をA〜Dとした場合に、演算式(A−B−C+D)に基
づいて被検画像Rを生成することを特徴とする液晶駆動
基板の検査装置。 - 【請求項6】 請求項4記載の液晶駆動基板の検査装置
において、電源装置は、データ電圧を画像A,Dの撮像
時については第1の電圧値Vhiに設定し、画像B,Cの
撮像時については第2の電圧値Vloに設定することを特
徴とする液晶駆動基板の検査装置。 - 【請求項7】 請求項5記載の液晶駆動基板の検査装置
において、電源装置は、データ電圧を画像A,Bの撮像
時については第1の電圧値Vhiに設定し、画像C,Dの
撮像時については第2の電圧値Vloに設定することを特
徴とする液晶駆動基板の検査装置。 - 【請求項8】 一面に透明電極が備えられた電気光学素
子板を画素電極が行列状に多数設けられた液晶駆動基板
に対向配置し、透明電極に撮像手段のフレーム周波数に
同期した両極性のバイアス電圧また画素電極にはバイア
ス電圧に同期したデータ電圧を印加し、複数フレームに
亘って撮像手段で撮影された電気光学素子板表面の画像
を加算して被検画像を生成し、該被検画像に基づいて画
素電極の異常箇所を識別する液晶駆動基板の検査方法に
おいて、 バイアス電圧の各々の極性期間毎にデータ電圧を印加
し、これら各極性期間に得られた前記画像から被検画像
を生成することを特徴とする液晶駆動基板の検査方法。 - 【請求項9】 請求項8記載の液晶駆動基板の検査方法
において、バイアス電圧の周波数を撮像手段のフレーム
周波数の1/2とすることを特徴とする液晶駆動基板の
検査方法。 - 【請求項10】 請求項9記載の液晶駆動基板の検査方
法において、データ電圧をバイアス電圧の半周期毎に異
なる電圧値とし、連続する4フレームの画像をバイアス
電圧の各極性における電気光学素子板の電気光学特性の
差を打ち消すように加算して被検画像を生成することを
特徴とする液晶駆動基板の検査方法。 - 【請求項11】 請求項10記載の液晶駆動基板の検査
方法において、連続する4フレームの画像をA〜Dとし
た場合に、演算式(A+B−C−D)に基づいて被検画
像Rを生成することを特徴とする液晶駆動基板の検査方
法。 - 【請求項12】 請求項10記載の液晶駆動基板の検査
方法において、連続する4フレームの画像をA〜Dとし
た場合に、演算式(A−B−C+D)に基づいて被検画
像Rを生成することを特徴とする液晶駆動基板の検査方
法。 - 【請求項13】 請求項11記載の液晶駆動基板の検査
方法において、データ電圧を、画像A,Dについては第
1の電圧値Vhiとし、画像B,Cについては第2の電圧
値Vloとすることを特徴とする液晶駆動基板の検査方
法。 - 【請求項14】 請求項12記載の液晶駆動基板の検査
方法において、データ電圧を、画像A,Bについては第
1の電圧値Vhiとし、画像C,Dについては第2の電圧
値Vloとすることを特徴とする液晶駆動基板の検査方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31520998A JP3961134B2 (ja) | 1998-11-05 | 1998-11-05 | 液晶駆動基板の検査装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31520998A JP3961134B2 (ja) | 1998-11-05 | 1998-11-05 | 液晶駆動基板の検査装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000146754A true JP2000146754A (ja) | 2000-05-26 |
JP3961134B2 JP3961134B2 (ja) | 2007-08-22 |
Family
ID=18062725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31520998A Expired - Lifetime JP3961134B2 (ja) | 1998-11-05 | 1998-11-05 | 液晶駆動基板の検査装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3961134B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100345345B1 (ko) * | 2000-05-31 | 2002-07-24 | 엘지전자주식회사 | 비접촉식 전기광학 변환장치 및 배열전극검사방법 |
KR100416962B1 (ko) * | 2000-11-14 | 2004-02-05 | 이주현 | 비접촉식 전압감지장치 |
KR200477847Y1 (ko) * | 2012-03-27 | 2015-07-28 | 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드 | 비 텔레센트릭 전압 이미징 광학 시스템(ntvios) |
-
1998
- 1998-11-05 JP JP31520998A patent/JP3961134B2/ja not_active Expired - Lifetime
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KR100345345B1 (ko) * | 2000-05-31 | 2002-07-24 | 엘지전자주식회사 | 비접촉식 전기광학 변환장치 및 배열전극검사방법 |
KR100416962B1 (ko) * | 2000-11-14 | 2004-02-05 | 이주현 | 비접촉식 전압감지장치 |
KR200477847Y1 (ko) * | 2012-03-27 | 2015-07-28 | 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드 | 비 텔레센트릭 전압 이미징 광학 시스템(ntvios) |
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