JP2000137041A - プロ―ブ - Google Patents
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- JP2000137041A JP2000137041A JP11293028A JP29302899A JP2000137041A JP 2000137041 A JP2000137041 A JP 2000137041A JP 11293028 A JP11293028 A JP 11293028A JP 29302899 A JP29302899 A JP 29302899A JP 2000137041 A JP2000137041 A JP 2000137041A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06766—Input circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】高速低インピーダンス回路が支障なく測定可能
な測定用のプローブ。 【解決手段】プローブ先端部と、前記プローブ先端に接
続される第1端部および第2端部を有するチップ抵抗器
(220)と、前記チップ抵抗器の前記第2端部に接続
される第1端部および第2端部を有するケーブル(21
0)と、前記ケーブルの前記第2端部に接続される第1
端部、および、グランドに接続される第2端部を有する
AC終端部(333)と、前記AC終端部の前記第1端
部に接続されるRCRフィルタ(332)とを有する。
出力OUTPUTが測定器に送られる。
な測定用のプローブ。 【解決手段】プローブ先端部と、前記プローブ先端に接
続される第1端部および第2端部を有するチップ抵抗器
(220)と、前記チップ抵抗器の前記第2端部に接続
される第1端部および第2端部を有するケーブル(21
0)と、前記ケーブルの前記第2端部に接続される第1
端部、および、グランドに接続される第2端部を有する
AC終端部(333)と、前記AC終端部の前記第1端
部に接続されるRCRフィルタ(332)とを有する。
出力OUTPUTが測定器に送られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に、試験および測定
用器械に関し、より詳細には、高周波で低インピーダン
スとなり、低周波で高インピーダンスとなるプローブに
関する。
用器械に関し、より詳細には、高周波で低インピーダン
スとなり、低周波で高インピーダンスとなるプローブに
関する。
【0002】
【従来の技術】3ステート論理システム解析用に設計さ
れており、典型的低インピーダンス・プローブ(即ち、
全周波で低インピーダンスであるプローブ)を具備する
測定装置は、プローブをバスに取付けるとフローティン
グ・データ・バスを3ステート化する。即ち、高速低イ
ンピーダンス(約50オーム)のバス構造体は、ドライ
バがバスの駆動を中止する時、高インピーダンスまで3
ステート化することがある。低インピーダンス・プロー
ブがプルアップ抵抗器の値に依存したプルダウンを行う
ことがあるからである。
れており、典型的低インピーダンス・プローブ(即ち、
全周波で低インピーダンスであるプローブ)を具備する
測定装置は、プローブをバスに取付けるとフローティン
グ・データ・バスを3ステート化する。即ち、高速低イ
ンピーダンス(約50オーム)のバス構造体は、ドライ
バがバスの駆動を中止する時、高インピーダンスまで3
ステート化することがある。低インピーダンス・プロー
ブがプルアップ抵抗器の値に依存したプルダウンを行う
ことがあるからである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】高速低インピーダンス
回路が測定可能で、且つ回路の駆動が停止された時は高
い抵抗を示す測定用のプローブが求められる。
回路が測定可能で、且つ回路の駆動が停止された時は高
い抵抗を示す測定用のプローブが求められる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明では、例えば、高
速低インピーダンスバス構造体を精査する改良型プロー
ブを提供する。本プローブは、AC終端部とRCRフィ
ルタとを特徴とする。第1実施例においてAC終端部
は、直列接続された抵抗器とコンデンサとを特徴とす
る。AC終端部が生成する時定数は、信号がプローブ・
ケーブルを通過するのに要する時間よりも十分に長い。
第2実施例においてこれら抵抗器およびコンデンサは、
プローブのピーク応答を制御するため、インダクタと直
列に結合される。
速低インピーダンスバス構造体を精査する改良型プロー
ブを提供する。本プローブは、AC終端部とRCRフィ
ルタとを特徴とする。第1実施例においてAC終端部
は、直列接続された抵抗器とコンデンサとを特徴とす
る。AC終端部が生成する時定数は、信号がプローブ・
ケーブルを通過するのに要する時間よりも十分に長い。
第2実施例においてこれら抵抗器およびコンデンサは、
プローブのピーク応答を制御するため、インダクタと直
列に結合される。
【0005】RCRフィルタは、AC終端部の抵抗器と
グラウンドとの間に配置された2つの直列抵抗器を特徴
とする。DCから高周波まで均一パルス応答を得るた
め、第1抵抗器にコンデンサが並列に接続される。
グラウンドとの間に配置された2つの直列抵抗器を特徴
とする。DCから高周波まで均一パルス応答を得るた
め、第1抵抗器にコンデンサが並列に接続される。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明は、一言でいえば回路を試
験する改良型プローブを提供し、より詳細には、データ
・バスなどの高速低インピーダンス回路を試験する改良
型プローブを提供する。本発明のプローブは、AC終端
部とRCRフィルタと特徴とする。
験する改良型プローブを提供し、より詳細には、データ
・バスなどの高速低インピーダンス回路を試験する改良
型プローブを提供する。本発明のプローブは、AC終端
部とRCRフィルタと特徴とする。
【0007】図1は、本発明のプローブを使用して、被
試験デバイス(DUT)上の信号を測定するための簡略
化した回路図を示す。例えば、プローブ部105で測定
システムへの入力が開放されている場合、このシステム
はRout122が無限大であると等価になり、アナログ・
デジタル変換器(ADC)130で測定される電圧は、
デジタル・アナログ変換器(DAC)110および抵抗
器Rsig112、Rad132によって生成される信号によ
ってのみ制御される。DAC110は、測定システムに
それほど著しい悪影響を与えず、例えば、測定システム
の出力表示で1カウント未満としながら、ADC130
で十分に測定できる程度の小さな大きさで出力を揺動す
る。
試験デバイス(DUT)上の信号を測定するための簡略
化した回路図を示す。例えば、プローブ部105で測定
システムへの入力が開放されている場合、このシステム
はRout122が無限大であると等価になり、アナログ・
デジタル変換器(ADC)130で測定される電圧は、
デジタル・アナログ変換器(DAC)110および抵抗
器Rsig112、Rad132によって生成される信号によ
ってのみ制御される。DAC110は、測定システムに
それほど著しい悪影響を与えず、例えば、測定システム
の出力表示で1カウント未満としながら、ADC130
で十分に測定できる程度の小さな大きさで出力を揺動す
る。
【0008】測定システムへの入力に負荷がある場合、
Rdut122は何等かの有限値でモデル化される。この
ことにより、ADC130で測定されるDAC110か
らの信号はRdut122、Rinput114の新たな負荷に
よって減衰する。何等かの所定減衰しきい値において
は、もはや入力が開放されているとは考えられない。他
の好適な実施例では、DAC110を信号発生器に置き
換えることができる。
Rdut122は何等かの有限値でモデル化される。この
ことにより、ADC130で測定されるDAC110か
らの信号はRdut122、Rinput114の新たな負荷に
よって減衰する。何等かの所定減衰しきい値において
は、もはや入力が開放されているとは考えられない。他
の好適な実施例では、DAC110を信号発生器に置き
換えることができる。
【0009】図2では、チップ抵抗器Rt220と、同
軸ケーブル210と、終端抵抗器Rterm230とを特徴
とする図1のプローブ部105に実施される低インピー
ダンス・プローブの簡単な回路図を示す。入力信号は、
Rt220を介して測定装置(図示なし)へ伝送され
る。Rt220の第1端部は、プローブチップ(プロー
ブ先端部)に接続されており、一方、Rt220の第2
端部は、同軸ケーブル210の第1端部に接続される。
同軸ケーブル210は、Rterm230を介してプローブ
に必要なグラウンドを提供する。外部減衰信号OUTP
UTは、測定装置へ伝送される。
軸ケーブル210と、終端抵抗器Rterm230とを特徴
とする図1のプローブ部105に実施される低インピー
ダンス・プローブの簡単な回路図を示す。入力信号は、
Rt220を介して測定装置(図示なし)へ伝送され
る。Rt220の第1端部は、プローブチップ(プロー
ブ先端部)に接続されており、一方、Rt220の第2
端部は、同軸ケーブル210の第1端部に接続される。
同軸ケーブル210は、Rterm230を介してプローブ
に必要なグラウンドを提供する。外部減衰信号OUTP
UTは、測定装置へ伝送される。
【0010】図3Aでは、図1のプローブ部105に実
施される本発明による改良型プローブを示す。AC終端
部333は、AC終端抵抗器R1t350に直列に付加さ
れたコンデンサCt352を特徴とする。Ct352の値
は、R1t350と生成する時定数が、信号が同軸ケーブ
ル210を通過するのに要する通過時間よりも大幅に長
くなるように選択する。プローブ特性は、好もしくはロ
ーパスフィルタになぞらえることができる。換言すれ
ば、このプローブは、DCで利得1を示し、高周波では
その利得の何分の1かになる、但し、Rt220のイン
ピーダンスとCt352でのインピーダンスとは、大体
等しいものとする。
施される本発明による改良型プローブを示す。AC終端
部333は、AC終端抵抗器R1t350に直列に付加さ
れたコンデンサCt352を特徴とする。Ct352の値
は、R1t350と生成する時定数が、信号が同軸ケーブ
ル210を通過するのに要する通過時間よりも大幅に長
くなるように選択する。プローブ特性は、好もしくはロ
ーパスフィルタになぞらえることができる。換言すれ
ば、このプローブは、DCで利得1を示し、高周波では
その利得の何分の1かになる、但し、Rt220のイン
ピーダンスとCt352でのインピーダンスとは、大体
等しいものとする。
【0011】ハイパスRCRフィルタ332により、広
帯域、平坦パルス応答を生じるように補償することがで
きる。この追加フィルタ332は、高周波でAC終端部
が行う減衰と同じ減衰をDCで行うことができる。フィ
ルタ332は、2つの直列抵抗Rs340、Rterm230
を特徴とする。Rs340の第1端部は、AC終端抵抗
器R1t350に接続される。尚、Rs340の第2端部
は、Rterm230の第1端部に接続されており、Rterm2
30の第2端部は、グラウンドに接続されている。
帯域、平坦パルス応答を生じるように補償することがで
きる。この追加フィルタ332は、高周波でAC終端部
が行う減衰と同じ減衰をDCで行うことができる。フィ
ルタ332は、2つの直列抵抗Rs340、Rterm230
を特徴とする。Rs340の第1端部は、AC終端抵抗
器R1t350に接続される。尚、Rs340の第2端部
は、Rterm230の第1端部に接続されており、Rterm2
30の第2端部は、グラウンドに接続されている。
【0012】コンデンサCf342は、ハイパスフィル
タを得るためにRs340に並列に接続される。この並
列接続素子が与える時定数は、DCから高周波まで平坦
な応答を得るため、チップ抵抗器Rt220とAC終端
コンデンサCt352とが与える時定数に等しくしなけ
ればならない。
タを得るためにRs340に並列に接続される。この並
列接続素子が与える時定数は、DCから高周波まで平坦
な応答を得るため、チップ抵抗器Rt220とAC終端
コンデンサCt352とが与える時定数に等しくしなけ
ればならない。
【0013】図3Bでは、本発明による改良型プローブ
の別の実施例を示す。AC終端抵抗器350およびコン
デンサ352は、インダクタ354に対し直列に接続さ
れる。インダクタ354は、増幅器またはコンパレータ
の入力容量がプローブの終端に与える影響を調整する。
インダクタ354は、増幅器またはコンパレータがロル
オフさせる応答のピーキングをおこなうように選択され
る。
の別の実施例を示す。AC終端抵抗器350およびコン
デンサ352は、インダクタ354に対し直列に接続さ
れる。インダクタ354は、増幅器またはコンパレータ
の入力容量がプローブの終端に与える影響を調整する。
インダクタ354は、増幅器またはコンパレータがロル
オフさせる応答のピーキングをおこなうように選択され
る。
【0014】好適な実施例に関し、本発明を図示し説明
したが、本発明は、以上で示した特定の構造体に限定さ
れるものではない。更に広範に亘る本発明の態様の真の
範囲および精神から逸脱することなく、添付クレームの
範囲内で種々の変更、修正が可能であることは、当業者
に理解されるはずである。例えば、本発明の実施態様の
一例は次のとおりである。
したが、本発明は、以上で示した特定の構造体に限定さ
れるものではない。更に広範に亘る本発明の態様の真の
範囲および精神から逸脱することなく、添付クレームの
範囲内で種々の変更、修正が可能であることは、当業者
に理解されるはずである。例えば、本発明の実施態様の
一例は次のとおりである。
【0015】(実施態様1)プローブ先端部と、前記プ
ローブ先端に接続される第1端部および第2端部を有す
るチップ抵抗器(220)と、前記チップ抵抗器の前記
第2端部に接続される第1端部および第2端部を有する
ケーブル(210)と、前記ケーブルの前記第2端部に
接続される第1端部、および、グランドに接続される第
2端部を有するAC終端部(333)と、前記AC終端
部の前記第1端部に接続されるRCRフィルタ(33
2)とを有するプローブ。
ローブ先端に接続される第1端部および第2端部を有す
るチップ抵抗器(220)と、前記チップ抵抗器の前記
第2端部に接続される第1端部および第2端部を有する
ケーブル(210)と、前記ケーブルの前記第2端部に
接続される第1端部、および、グランドに接続される第
2端部を有するAC終端部(333)と、前記AC終端
部の前記第1端部に接続されるRCRフィルタ(33
2)とを有するプローブ。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、高周波で低インピーダ
ンスを呈し、低周波で高インピーダンスを呈する高速低
インピーダンス回路試験用のプローブが提供される。
ンスを呈し、低周波で高インピーダンスを呈する高速低
インピーダンス回路試験用のプローブが提供される。
【図1】本発明のプローブを使用し、被試験デバイス
(DUT)上の信号を測定するための簡略した回路図を
示す図である。
(DUT)上の信号を測定するための簡略した回路図を
示す図である。
【図2】低インピーダンス・プローブの簡単な回路図を
示す図である。
示す図である。
【図3A】本発明による改良型プローブを示す図であ
る。
る。
【図3B】本発明による改良型プローブの別の実施態様
を示す図である。
を示す図である。
210 プローブの同軸ケーブル 220 チップ抵抗器 332 RCRフィルタ 333 AC終端部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 Page Mill Road P alo Alto,California U.S.A. (72)発明者 スティーブン・ディー・ドレイビング アメリカ合衆国コロラド州コロラド・スプ リングス カールソン・ドライブ 1050
Claims (1)
- 【請求項1】プローブ先端部と、 前記プローブ先端に接続される第1端部、および第2端
部を有するチップ抵抗器と、 前記チップ抵抗器の前記第2端部に接続される第1端
部、および第2端部を有するケーブルと、 前記ケーブルの前記第2端部に接続される第1端部、お
よび、グランドに接続される第2端部を有するAC終端
部と、 前記AC終端部の前記第1端部に接続されるRCRフィ
ルタとを有するプローブ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US183,468 | 1998-10-30 | ||
US09/183,468 US6175228B1 (en) | 1998-10-30 | 1998-10-30 | Electronic probe for measuring high impedance tri-state logic circuits |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000137041A true JP2000137041A (ja) | 2000-05-16 |
Family
ID=22672923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11293028A Pending JP2000137041A (ja) | 1998-10-30 | 1999-10-14 | プロ―ブ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6175228B1 (ja) |
JP (1) | JP2000137041A (ja) |
DE (1) | DE19943366A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001349903A (ja) * | 2000-06-07 | 2001-12-21 | Noozeru Engineering Kk | 高周波プローブ |
KR20190089453A (ko) * | 2018-01-22 | 2019-07-31 | 삼성전자주식회사 | 교류 터미네이션 및 능동 인덕터를 포함하는 전자 장치 및 그것의 인터페이스 설정 방법 |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6002263A (en) * | 1997-06-06 | 1999-12-14 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station having inner and outer shielding |
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