JP2000124063A - Ceramic electronic component - Google Patents

Ceramic electronic component

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JP2000124063A
JP2000124063A JP10296404A JP29640498A JP2000124063A JP 2000124063 A JP2000124063 A JP 2000124063A JP 10296404 A JP10296404 A JP 10296404A JP 29640498 A JP29640498 A JP 29640498A JP 2000124063 A JP2000124063 A JP 2000124063A
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electronic component
layer
ceramic electronic
terminal member
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Japanese (ja)
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Takuji Nakagawa
卓二 中川
Giichi Takagi
義一 高木
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the generation of cracks or the like in the jointing material such as solder that joints terminal members and the main body of an electronic component due to the difference in thermal expansion coefficient between the them, and to suppress ESR of the electronic component to a low level. SOLUTION: A metallic plate constituting terminal members 9 has an at least two-layered structure comprising a layer of a first metal, having thermal expansion coefficient of equal or close to that of a ceramic material, and a layer of a second metal of low electrical resistivity. For example, a clad metal is used in which either a first layer 12 or a second layer 13 is constituted of a first metal, and the other layer is constituted of a second metal. The thermal expansion coefficient of the layer constituted of the first metal is in the range of 1×10-6/ deg.C-1.5×10-5/ deg.C, and the electrical resistivity of the layer constituted of the second metal is at most 10 ×Ω.cm.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電子部品本体上
に形成された端子電極に端子部材が接合された構造を有
するセラミック電子部品に関するもので、特に、端子部
材の材質の改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a ceramic electronic component having a structure in which a terminal member is joined to a terminal electrode formed on an electronic component body, and more particularly to an improvement in the material of the terminal member. .

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば積層セラミックコンデンサのよ
うなセラミック電子部品は、セラミックをもって構成さ
れる電子部品本体を備えている。このようなセラミック
電子部品において、その電子部品本体の外表面上に形成
された端子電極に、導電性の金属板からなる端子部材を
接合した状態とされることがある。端子部材を備えるセ
ラミック電子部品を配線基板上に実装する場合には、端
子部材を配線基板へ半田付けするようにされる。
2. Description of the Related Art A ceramic electronic component such as a multilayer ceramic capacitor has an electronic component body made of ceramic. In such a ceramic electronic component, there is a case where a terminal member formed of a conductive metal plate is joined to a terminal electrode formed on an outer surface of the electronic component body. When a ceramic electronic component having a terminal member is mounted on a wiring board, the terminal member is soldered to the wiring board.

【0003】これは、セラミック電子部品を配線基板上
に実装するにあたって、電子部品本体上に形成された端
子電極を、直接、配線基板へ半田付けした状態とする
と、温度変化がもたらされる環境において、電子部品本
体と配線基板との間の熱膨張率の差が原因となって、電
子部品本体の破壊等の機械的損傷が生じることを、端子
部材の変形によって防止しようとするためのものであ
る。
[0003] When mounting a ceramic electronic component on a wiring board, if the terminal electrodes formed on the electronic component main body are directly soldered to the wiring board, in an environment where a temperature change is caused, The purpose is to prevent the occurrence of mechanical damage such as destruction of the electronic component body due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the electronic component body and the wiring board by deformation of the terminal member. .

【0004】なお、上述のような問題は、配線基板が熱
放散性に優れたアルミニウムをもって構成される場合に
おいて、特に生じやすい。アルミニウム配線基板の熱膨
張率が、セラミックをもって構成される電子部品本体の
熱膨張率に比べて、格段に大きいからである。
[0004] The above-mentioned problems are particularly likely to occur when the wiring board is made of aluminum having excellent heat dissipation. This is because the coefficient of thermal expansion of the aluminum wiring board is much higher than the coefficient of thermal expansion of the electronic component body made of ceramic.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した端子部材の端
子電極への接合には、通常、半田が用いられる。しかし
ながら、このように接合材として半田を用いた場合、前
述したような温度変化がもたらされる環境におかれたと
き、この半田に亀裂が入ることがある。その原因は、端
子部材と電子部品本体との間の熱膨張率の差にある。こ
の問題は、電子部品本体上の端子電極が乾式めっき等に
よる薄膜をもって形成される場合において、特に生じや
すい。
[0005] Solder is usually used for joining the above-mentioned terminal member to the terminal electrode. However, when the solder is used as the bonding material in this manner, the solder may be cracked in an environment where the above-mentioned temperature change is caused. The cause is a difference in the coefficient of thermal expansion between the terminal member and the electronic component body. This problem is particularly likely to occur when the terminal electrode on the electronic component body is formed with a thin film by dry plating or the like.

【0006】上述したような半田の亀裂の問題を解決す
るためには、端子部材と電子部品本体との間の熱膨張率
の差をできるだけ小さくすることが有効である。言い換
えると、金属は概してセラミックより大きい熱膨張係数
を有しているが、端子部材を構成する金属として、セラ
ミックをもって構成される電子部品本体と同等か、これ
にできるだけ近い熱膨張係数を有するものを用いること
が有効である。
In order to solve the problem of solder cracks as described above, it is effective to minimize the difference in the coefficient of thermal expansion between the terminal member and the electronic component body as much as possible. In other words, the metal generally has a thermal expansion coefficient larger than that of the ceramic, but as the metal constituting the terminal member, a metal having a thermal expansion coefficient equal to or as close as possible to the electronic component body made of the ceramic is used. It is effective to use.

【0007】そのため、端子部材を構成する金属とし
て、Fe−Ni系合金またはFe−Ni−Co系合金を
用いることが考えられる。Fe−Ni系合金は、熱膨張
係数が小さく、また、Fe−Ni−Co系合金は、これ
よりさらに熱膨張係数が小さいため、これらの合金から
なる端子部材の熱膨張率を電子部品本体の熱膨張率に近
づけることができ、したがって、端子部材と端子電極と
を接合する半田の亀裂を防止することができるようにな
る。
For this reason, it is conceivable to use an Fe—Ni-based alloy or an Fe—Ni—Co-based alloy as the metal constituting the terminal member. The Fe-Ni-based alloy has a small coefficient of thermal expansion, and the Fe-Ni-Co-based alloy has a smaller coefficient of thermal expansion. The coefficient of thermal expansion can be approximated, and therefore, cracks in the solder joining the terminal member and the terminal electrode can be prevented.

【0008】しかしながら、上述のようなFe−Ni系
合金やFe−Ni−Co系合金は、電気伝導率が比較的
低い、すなわち抵抗率が比較的高いため、端子部材の材
料として用いた場合、電子部品全体の等価直列抵抗(E
SR)を高くしてしまうという問題を引き起こす。特
に、Fe−Ni−Co系合金は、Fe−Ni系合金に比
べて、抵抗率がより高いため、ESRの上昇の問題は深
刻である。
However, the above-mentioned Fe-Ni-based alloys and Fe-Ni-Co-based alloys have relatively low electric conductivity, that is, have relatively high resistivity. Equivalent series resistance (E
SR) is raised. In particular, the Fe-Ni-Co-based alloy has a higher resistivity than the Fe-Ni-based alloy, so the problem of the increase in ESR is serious.

【0009】このように、熱膨張係数の小さい金属は、
一般に、抵抗率が高くなる傾向があり、そのため、接合
材としての半田の亀裂を防止しながらも、ESRの上昇
を招かない端子部材を実現し得る、適当な金属材料がな
いのが現状である。
As described above, a metal having a small coefficient of thermal expansion is
Generally, there is a tendency that the resistivity tends to be high. Therefore, there is no suitable metal material which can realize a terminal member which does not cause an increase in ESR while preventing cracks of solder as a bonding material. .

【0010】なお、接合材として導電性接着剤を用いた
場合にも、程度の差こそあれ、端子部材と電子部品本体
との間の熱膨張率の差によって、亀裂等がもたらされる
ことがある。
[0010] Even when a conductive adhesive is used as a bonding material, cracks or the like may be caused due to a difference in the coefficient of thermal expansion between the terminal member and the electronic component body, although the degree is different. .

【0011】そこで、この発明の目的は、熱膨張率がセ
ラミックをもって構成される電子部品本体と同等か、こ
れに近いという性質と、抵抗率が低いという性質との双
方を満たし得る端子部材を備える、セラミック電子部品
を提供しようとすることである。
An object of the present invention is to provide a terminal member which can satisfy both the property that the thermal expansion coefficient is equal to or close to the electronic component body made of ceramic and the property that the resistivity is low. And ceramic electronic components.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明は、外表面上に
端子電極が形成され、かつセラミックをもって構成され
る、電子部品本体と、端子電極に電気的に接続されるよ
うに接合される、導電性の金属板からなる端子部材とを
備える、セラミック電子部品に向けられるものであっ
て、上述した技術的課題を解決するため、次のような構
成を備えることを特徴としている。
According to the present invention, there is provided an electronic component body having a terminal electrode formed on an outer surface and made of ceramic, which is joined so as to be electrically connected to the terminal electrode. The present invention is directed to a ceramic electronic component including a terminal member made of a conductive metal plate, and has the following configuration in order to solve the above-described technical problem.

【0013】すなわち、端子部材を構成する金属板は、
熱膨張係数が1×10-6/℃〜1.5×10-5/℃の範
囲内にある第1の金属からなる層と抵抗率が10μΩ・
cm以下の第2の金属からなる層とを含む少なくとも2
層構造を有していることを特徴としている。
That is, the metal plate constituting the terminal member is
A first metal layer having a coefficient of thermal expansion of 1 × 10 −6 / ° C. to 1.5 × 10 −5 / ° C. and a resistivity of 10 μΩ ·
cm or less of a second metal layer.
It is characterized by having a layer structure.

【0014】この発明において、第1の金属からなる層
および第2の金属からなる層は、一実施態様では、それ
ぞれ、互いに貼り合わされた第1および第2の板材をも
って構成され、他の実施態様では、一方が板材をもって
構成され、他方がこの板材上に形成されるめっき膜をも
って構成される。
In the present invention, in one embodiment, the layer made of the first metal and the layer made of the second metal are respectively constituted by first and second plate members bonded to each other, and in another embodiment, In the example, one is formed of a plate material and the other is formed of a plating film formed on the plate material.

【0015】上述した第1の金属としては、たとえば、
Fe、Ni、Fe−Ni系合金、Fe−Cr系合金、ま
たはFe−Ni−Co系合金が有利に用いられる。
As the above-mentioned first metal, for example,
Fe, Ni, Fe-Ni-based alloy, Fe-Cr-based alloy, or Fe-Ni-Co-based alloy is advantageously used.

【0016】また、第2の金属としては、Cu、Ag、
Al、またはこれら少なくとも1種を含む合金が有利に
用いられる。
Further, as the second metal, Cu, Ag,
Al or an alloy containing at least one of these is advantageously used.

【0017】また、この発明は、端子部材が端子電極に
半田付けされることによって接合されるとき、特に有利
に適用される。
The present invention is particularly advantageously applied when the terminal member is joined to the terminal electrode by soldering.

【0018】上述のように、接合材として半田が用いら
れる場合、好ましくは、端子部材を構成する金属板は、
逆U字状に折り曲げられた形状を有し、その外側に向く
面が、半田濡れ性の良好な面とされ、その内側に向く面
が、半田濡れ性の悪い面とされる。
As described above, when solder is used as the bonding material, preferably, the metal plate forming the terminal member is
It has a shape bent in an inverted U-shape, and the surface facing the outside is a surface with good solder wettability, and the surface facing the inside is a surface with poor solder wettability.

【0019】上述の好ましい実施態様において、第1の
金属からなる層が外側に向く面を与え、かつ第2の金属
からなる層が内側に向く面を与える場合には、第1の金
属としては、Fe、Ni、またはFe−Ni系合金が有
利に用いられ、第2の金属としては、AlまたはAl合
金が有利に用いられる。
In the preferred embodiment described above, if the first metal layer provides an outward facing surface and the second metal layer provides an inward facing surface, the first metal may be , Fe, Ni, or an Fe-Ni alloy is advantageously used, and Al or an Al alloy is advantageously used as the second metal.

【0020】他方、第1の金属からなる層が内側に向く
面を与え、かつ第2の金属からなる層が外側に向く面を
与える場合には、第1の金属としては、Fe−Cr系合
金またはFe−Ni−Co系合金が有利に用いられ、第
2の金属としては、Cu、Ag、またはこれら少なくと
も1種を含む合金が有利に用いられる。
On the other hand, in the case where the layer made of the first metal gives the surface facing inward and the layer made of the second metal gives the surface facing outward, the first metal is made of an Fe--Cr-based material. An alloy or an Fe-Ni-Co-based alloy is advantageously used, and as the second metal, Cu, Ag, or an alloy containing at least one of these is advantageously used.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】図1および図2は、この発明の一
実施形態によるセラミック電子部品1を説明するための
もので、図1は、セラミック電子部品1の全体の外観を
示す正面図であり、図2は、図1の部分IIの拡大断面
図である。
1 and 2 are views for explaining a ceramic electronic component 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a front view showing the entire appearance of the ceramic electronic component 1. FIG. FIG. 2 is an enlarged sectional view of a portion II of FIG.

【0022】セラミック電子部品1は、セラミックをも
って構成される、たとえば2つのチップ状の電子部品本
体2を備えている。電子部品本体2は、たとえば積層セ
ラミックコンデンサを構成するものである。電子部品本
体2の外表面上、より特定的には、相対向する2つの端
部上には、端子電極3がそれぞれ形成されている。
The ceramic electronic component 1 has, for example, two chip-shaped electronic component bodies 2 made of ceramic. The electronic component body 2 constitutes, for example, a multilayer ceramic capacitor. Terminal electrodes 3 are respectively formed on the outer surface of the electronic component body 2, more specifically, on two opposite ends.

【0023】端子電極3は、スパッタリング、蒸着、湿
式めっき等の薄膜形成技術により形成されても、導電性
ペーストを付与し、焼付ける厚膜形成技術により形成さ
れても、さらには、厚膜形成技術により形成された厚膜
上にめっきを施すことによって形成されてもよい。
The terminal electrode 3 may be formed by a thin film forming technique such as sputtering, vapor deposition, wet plating, or the like, or may be formed by a thick film forming technique of applying and baking a conductive paste. It may be formed by plating on a thick film formed by technology.

【0024】この図示の実施形態では、図2に示すよう
に、端子電極3は、それぞれスパッタリングにより形成
された3層構造の薄膜電極とされ、たとえば、内層4は
Ni−Crで構成され、中間層5はNi−Cuで構成さ
れ、外層6はAgで構成される。
In the illustrated embodiment, as shown in FIG. 2, each of the terminal electrodes 3 is a thin-film electrode having a three-layer structure formed by sputtering. For example, the inner layer 4 is made of Ni--Cr, The layer 5 is made of Ni-Cu, and the outer layer 6 is made of Ag.

【0025】また、図2には、電子部品本体2の内部に
形成されかつ端子電極3に電気的に接続される内部電極
7が図示されている。このような内部電極7は、積層状
に複数形成され、静電容量を形成するためのものであ
る。
FIG. 2 shows an internal electrode 7 formed inside the electronic component body 2 and electrically connected to the terminal electrode 3. A plurality of such internal electrodes 7 are formed in a stacked shape to form a capacitance.

【0026】図1に示すように、2つの電子部品本体2
は、互いに同じ姿勢で配向されながら、上下に積み重ね
られ、たとえば接着剤8によって互いに接合される。
As shown in FIG. 1, two electronic component bodies 2
Are stacked one above the other while being oriented in the same posture, and are joined to each other by, for example, an adhesive 8.

【0027】2つの電子部品本体2の各々の端子電極3
に共通に電気的に接続されるように、導電性の金属板か
らなる端子部材9が接合される。端子部材9は、この実
施形態では、全体として逆U字状に折り曲げられた形態
をなしており、その外側の端部において、下の電子部品
本体2の下方に向く側面に対向する方向へさらに折り曲
げられ、ここに配線基板(図示せず。)への接続のため
の接続端子部10を形成している。この接続端子部10
には、たとえば膨出加工することによって形成された凸
部11が設けられることが好ましい。凸部11は、下の
電子部品本体2の下方に向く側面に向かって突出し、接
続端子部10と下の電子部品本体2の下方に向く側面と
の間に所定の間隔を確実に形成するように作用する。
Each terminal electrode 3 of the two electronic component bodies 2
A terminal member 9 made of a conductive metal plate is joined so as to be electrically connected in common. In this embodiment, the terminal member 9 is bent in an inverted U-shape as a whole, and has an outer end portion further in a direction facing a lower side surface of the lower electronic component body 2. It is bent to form a connection terminal portion 10 for connection to a wiring board (not shown). This connection terminal 10
Is preferably provided with a convex portion 11 formed by, for example, bulging. The convex portion 11 protrudes toward the lower side surface of the lower electronic component body 2 so as to reliably form a predetermined gap between the connection terminal portion 10 and the lower side surface of the lower electronic component body 2. Act on.

【0028】端子部材9を構成する金属板は、図2に示
すように、第1の層12と第2の層13とを含む少なく
とも2層構造を有している。これら第1および第2の層
12および13は、クラッド材のように、それぞれ、互
いに貼り合わされ、各々がたとえば0.01mm〜0.
1mm程度の厚みを有する、第1および第2の金属板材
をもって構成されても、あるいは、一方が金属板材をも
って構成され、他方がこの金属板材上に形成されるめっ
き膜をもって構成されてもよい。
The metal plate constituting the terminal member 9 has at least a two-layer structure including a first layer 12 and a second layer 13, as shown in FIG. These first and second layers 12 and 13 are respectively bonded to each other like a clad material, and each of the first and second layers 12 and 13 is, for example, 0.01 mm to 0.2 mm.
It may be composed of first and second metal plates having a thickness of about 1 mm, or one may be composed of a metal plate and the other may be composed of a plating film formed on the metal plate.

【0029】第1および第2の層12および13は、互
いに異なる金属から構成される。第1の金属は、熱膨張
係数が1×10-6/℃〜1.5×10-5/℃の範囲内に
あるもので、第2の金属は、抵抗率が10μΩ・cm以
下のものであり、これら第1および第2の金属のいずれ
か一方によって第1の層12が構成され、いずれか他方
によって第2の層13が構成される。
The first and second layers 12 and 13 are made of different metals. The first metal has a coefficient of thermal expansion in the range of 1 × 10 −6 / ° C. to 1.5 × 10 −5 / ° C., and the second metal has a resistivity of 10 μΩ · cm or less. The first layer 12 is constituted by one of the first and second metals, and the second layer 13 is constituted by the other.

【0030】なお、第1および第2の金属のいずれをも
って第1および第2の層12および13の各々を構成す
るかについては、後述するように、第1および第2の金
属が有する半田濡れ性と第1および第2の層12および
13に要求される半田濡れ性とを考慮して決定するのが
好ましい。
It should be noted that which of the first and second metals constitutes each of the first and second layers 12 and 13 will be described later. It is preferable to determine in consideration of the properties and the solder wettability required for the first and second layers 12 and 13.

【0031】上述した第1の金属としては、たとえば、
Fe、Ni、Fe−Ni系合金、Fe−Cr系合金、ま
たはFe−Ni−Co系合金が有利に用いられる。
As the above-mentioned first metal, for example,
Fe, Ni, Fe-Ni-based alloy, Fe-Cr-based alloy, or Fe-Ni-Co-based alloy is advantageously used.

【0032】他方、第2の金属としては、たとえば、C
u、Ag、Al、またはこれらの少なくとも1種を含む
合金が有利に用いられる。
On the other hand, as the second metal, for example, C
u, Ag, Al or an alloy containing at least one of these is advantageously used.

【0033】このような端子部材9と電子部品本体2上
の端子電極3とは、たとえば半田14によって接合され
る。
The terminal member 9 and the terminal electrode 3 on the electronic component body 2 are joined by, for example, solder 14.

【0034】上述のような半田14による良好な接合を
可能にするためには、逆U字状に折り曲げられた端子部
材9の外側に位置する第2の層13を構成する金属が良
好な半田濡れ性を有していることが必要である。この点
で、第2の層13が、前述したような熱膨張係数の比較
的小さい第1の金属から構成される場合には、第1の金
属として、たとえば、Fe、Ni、またはFe−Ni系
合金を用いることが好ましく、電気伝導性に優れた第2
の金属から構成される場合には、第2の金属として、た
とえば、CuまたはAgを用いることが好ましい。
In order to enable good bonding with the solder 14 as described above, the metal constituting the second layer 13 located outside the terminal member 9 bent in an inverted U-shape is made of a good solder. It is necessary to have wettability. In this regard, when the second layer 13 is made of the first metal having a relatively small coefficient of thermal expansion as described above, as the first metal, for example, Fe, Ni, or Fe-Ni It is preferable to use a second alloy,
In the case where the second metal is used, for example, Cu or Ag is preferably used.

【0035】なお、端子部材9の逆U字状に折り曲げら
れた状態で外側に位置する第2の層13が、半田濡れ性
の悪い、たとえば、Fe−Cr系合金またはFe−Ni
−Co系合金のような第1の金属、あるいは、Alまた
はAl合金のような第2の金属によって構成されたとし
ても、この第2の層13上に、半田濡れ性の良好な金属
からなる層を貼り合わせまたはめっき等によって形成し
て、半田14による接合を良好なものとするようにして
もよい。
It should be noted that the second layer 13 located on the outside in a state where the terminal member 9 is bent in an inverted U-shape has poor solder wettability, for example, an Fe—Cr alloy or Fe—Ni alloy.
-Even if it is made of a first metal such as a Co-based alloy or a second metal such as Al or an Al alloy, the second layer 13 is made of a metal having good solder wettability. The layers may be formed by bonding, plating, or the like, so that the bonding by the solder 14 is improved.

【0036】上述のように、逆U字状に折り曲げられた
端子部材9の外側に位置する第2の層13が良好な半田
濡れ性を有していると、端子電極3との間での半田14
による良好な接合状態を実現するだけでなく、また、端
子部材9の配線基板への半田付けに際しても良好な接合
状態を実現することができる。
As described above, if the second layer 13 located outside the terminal member 9 bent in an inverted U-shape has a good solder wettability, the second layer 13 between the terminal member 3 and the terminal electrode 3 may have a good solder wettability. Solder 14
Not only realizes a good bonding state, but also achieves a good bonding state when soldering the terminal member 9 to the wiring board.

【0037】なお、逆U字状に折り曲げられた端子部材
9の外側に位置する第2の層13が上述のように良好な
半田濡れ性を有する金属から構成されているとしても、
さらに、第2の層13上に半田濡れ性に優れた半田また
は錫のような金属のめっきを施すなどして、より良好な
半田濡れ性を与えるようにしてもよい。
It should be noted that even if the second layer 13 located outside the inverted U-shaped terminal member 9 is made of a metal having good solder wettability as described above,
Further, a better solder wettability may be given by plating the second layer 13 with a metal such as solder or tin having excellent solder wettability.

【0038】他方、端子部材9の逆U字状に折り曲げら
れた状態における内側に位置する第1の層12は、半田
濡れ性の悪い表面を与えることが好ましい。これによっ
て、端子部材9の逆U字状に折り曲げられた部分の内側
への半田の回り込みを防止でき、その結果、前述した温
度変化による電子部品本体2の破壊等を防止するための
端子部材9の変形が不所望にも阻害されないようにする
ことができるからである。
On the other hand, it is preferable that the first layer 12 located on the inner side in the state where the terminal member 9 is bent in an inverted U shape has a surface with poor solder wettability. Accordingly, it is possible to prevent the solder from flowing into the inside of the inverted U-shaped portion of the terminal member 9, and as a result, the terminal member 9 for preventing the electronic component main body 2 from being broken due to the temperature change described above. Can be prevented from being undesirably inhibited.

【0039】このような要望を満たすためには、第1の
層12が、前述した熱膨張係数の比較的大きい第1の金
属で構成される場合には、第1の金属として、たとえ
ば、Fe−Cr系合金またはFe−Ni−Co系合金を
用いることが好ましく、電気伝導性に優れた第2の金属
で構成される場合には、第2の金属として、たとえば、
AlまたはAl合金を用いることが好ましい。
In order to satisfy such a demand, when the first layer 12 is made of the above-mentioned first metal having a relatively large thermal expansion coefficient, for example, Fe -Cr-based alloy or Fe-Ni-Co-based alloy is preferably used. When the second metal having excellent electrical conductivity is used, as the second metal, for example,
It is preferable to use Al or an Al alloy.

【0040】なお、第1の層12に良好な半田濡れ性を
与える金属が用いられたとしても、この第1の層12上
に、半田濡れ性の悪い材料、たとえば樹脂の層を形成し
たり、酸化膜を形成するような表面処理を施して、半田
濡れ性の悪い面を与えるようにしてもよい。
Even if a metal that gives good solder wettability is used for the first layer 12, a material having poor solder wettability, such as a resin layer, may be formed on the first layer 12. Alternatively, a surface treatment for forming an oxide film may be performed to provide a surface having poor solder wettability.

【0041】このように、端子部材9を構成する金属板
の第1および第2の層12および13のいずれか一方
が、セラミックと同等か、これに近い熱膨張係数を有す
る第1の金属から構成されるので、温度変化によって、
半田14に亀裂が生じることを防止することができると
ともに、第1および第2の層12および13のいずれか
他方が抵抗率の低い第2の金属から構成されるので、セ
ラミック電子部品1のESRを小さくすることができ
る。
As described above, one of the first and second layers 12 and 13 of the metal plate constituting the terminal member 9 is made of a first metal having a thermal expansion coefficient equal to or close to that of ceramic. Because it is composed, by the temperature change,
Cracking of the solder 14 can be prevented, and the other of the first and second layers 12 and 13 is made of the second metal having a low resistivity. Can be reduced.

【0042】以上、この発明を図示した実施形態に関連
して説明したが、この発明の範囲内において、その他、
種々の変形例が可能である。
Although the present invention has been described with reference to the illustrated embodiments, other than the above, within the scope of the present invention,
Various modifications are possible.

【0043】たとえば、図示のセラミック電子部品1
は、2つの電子部品本体2を備えていたが、電子部品本
体の数は任意に変更でき、3つ以上であっても、単に1
つであってもよい。
For example, the illustrated ceramic electronic component 1
Has two electronic component bodies 2, but the number of electronic component bodies can be arbitrarily changed, and even if three or more,
It may be one.

【0044】また、電子部品本体2は、積層セラミック
コンデンサを構成するものであったが、他の機能を有す
るセラミック電子部品のための電子部品本体を構成する
ものであってもよい。
Although the electronic component body 2 constitutes a multilayer ceramic capacitor, the electronic component body 2 may constitute an electronic component body for a ceramic electronic component having other functions.

【0045】また、図示の電子部品本体2は、相対向す
る2つの端部上に端子電極3を形成するものであった
が、さらに、中間部等の他の外表面部分に端子電極を形
成するものでもよい。
Although the illustrated electronic component body 2 has the terminal electrodes 3 formed on two opposite ends, the terminal electrodes 3 are formed on other outer surface portions such as an intermediate portion. You may do it.

【0046】また、図示の実施形態では、端子部材9を
端子電極3に接合するため、半田14が用いられたが、
半田以外のたとえば導電性接着剤が用いられてもよい。
In the illustrated embodiment, the solder 14 is used to join the terminal member 9 to the terminal electrode 3.
For example, a conductive adhesive other than solder may be used.

【0047】また、端子部材9の厚み、より特定的に
は、第1および第2の層12および13の各厚みは、接
合材としての半田14の亀裂を防止し得るような熱膨張
挙動を端子部材9に与える機能、および求められるES
Rの程度等に応じて、種々に変更することができる。
The thickness of the terminal member 9, more specifically, the thickness of each of the first and second layers 12 and 13 has a thermal expansion behavior that can prevent cracking of the solder 14 as a bonding material. Function given to terminal member 9 and required ES
Various changes can be made according to the degree of R and the like.

【0048】また、端子部材9は、図示の実施形態で
は、逆U字状に折り曲げられた形状とされたが、単なる
1重の形状等、他の形状にされてもよい。
In the illustrated embodiment, the terminal member 9 is bent in an inverted U-shape. However, the terminal member 9 may have another shape such as a single shape.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、セラ
ミックをもって構成される電子部品本体上の端子電極に
電気的に接続されるように接合される端子部材を構成す
る導電性の金属板が、第1の金属からなる層と第2の金
属からなる層とを含む少なくとも2層構造とされ、第1
の金属として、熱膨張係数が1×10-6/℃〜1.5×
10-5/℃の範囲内にあるものが用いられることによっ
て、セラミックと同等か、これに近い熱膨張率を与える
ようにされるとともに、第2の金属として、抵抗率が1
0μΩ・cm以下のものが用いられることによって、電
気伝導性が高められるので、端子部材と電子部品本体と
の間での熱膨張率の差が原因となって、これらを互いに
接合する半田のような接合材に亀裂等が生じることを防
止できるとともに、セラミック電子部品のESRを低く
抑えることができる。
As described above, according to the present invention, the conductive metal plate constituting the terminal member joined so as to be electrically connected to the terminal electrode on the electronic component body made of ceramic. Has at least a two-layer structure including a layer made of a first metal and a layer made of a second metal.
As a metal having a coefficient of thermal expansion of 1 × 10 −6 / ° C. to 1.5 ×
By using a material having a temperature within the range of 10 -5 / ° C., it is possible to provide a thermal expansion coefficient equal to or close to that of ceramic, and to have a resistivity of 1 as a second metal.
Since the electrical conductivity is enhanced by using a material having a resistance of 0 μΩ · cm or less, the difference in the coefficient of thermal expansion between the terminal member and the electronic component body causes the difference in the coefficient of thermal expansion between the terminal member and the electronic component. It is possible to prevent cracks and the like from being generated in a simple bonding material and to suppress ESR of the ceramic electronic component to a low level.

【0050】端子部材と端子電極との接合のために半田
が用いられる場合には、半田は、導電性接着剤より亀裂
が生じやすいので、この発明に係る特徴的構成が特に有
効となる。
When the solder is used for joining the terminal member and the terminal electrode, the solder is more likely to crack than the conductive adhesive, so that the characteristic structure according to the present invention is particularly effective.

【0051】また、この発明において、端子部材を構成
する第1の金属からなる層および第2の金属からなる層
は、それぞれ、互いに貼り合わされた第1および第2の
板材をもって構成される場合と、一方が板材をもって構
成され、他方がこの板材上に形成されるめっき膜をもっ
て構成される場合とがあるが、特に、前者の場合には、
第1および第2の金属のそれぞれの機能を効果的に発揮
させるための必要な層の厚みを容易に与えることができ
る。
Further, in the present invention, the first metal layer and the second metal layer constituting the terminal member may be respectively composed of first and second plate members bonded to each other. , One may be constituted by a plate material and the other may be constituted by a plating film formed on this plate material, but in particular, in the former case,
It is possible to easily provide the thickness of the layer necessary for effectively exerting the respective functions of the first and second metals.

【0052】また、この発明において、第1の金属とし
て、Fe、Ni、Fe−Ni系合金、Fe−Cr系合
金、およびFe−Ni−Co系合金からなる群から選ば
れたものを用い、また、第2の金属として、Cu、A
g、Al、およびこれら少なくとも1種を含む合金から
なる群から選ばれた1種を用いるようにすれば、第1お
よび第2の金属のいずれについても、半田濡れ性の良好
なものとそうでないものとを所望に応じて選び出すこと
ができるので、端子部材の形状等に応じて、端子部材の
特定の面を半田濡れ性の良好な面としたり、半田濡れ性
の悪い面としたりすることが容易になる。
In the present invention, the first metal is selected from the group consisting of Fe, Ni, Fe-Ni alloy, Fe-Cr alloy, and Fe-Ni-Co alloy. Also, Cu, A as the second metal
By using one selected from the group consisting of g, Al, and an alloy containing at least one of these, both the first and second metals have good solder wettability and not so. Can be selected as desired, so that a specific surface of the terminal member can be a surface having good solder wettability or a surface having poor solder wettability, depending on the shape of the terminal member. It will be easier.

【0053】端子部材と端子電極との接合のため、前述
のように、半田が用いられる場合であって、端子部材を
構成する金属板が、逆U字状に折り曲げられた形状を有
し、その外側に向く面が、半田濡れ性の良好な面とさ
れ、その内側に向く面が、半田濡れ性の悪い面とされる
と、端子電極との間での半田による良好な接合状態を実
現するだけでなく、端子部材の配線基板への半田付けに
際しても良好な接合状態を実現することができ、また、
温度変化による電子部品本体の破壊等を防止するための
端子部材の変形の程度がより大きくなって、電子部品本
体の破壊等の防止機能が高められるとともに、端子部材
の逆U字状に折り曲げられた部分の内側への半田の回り
込みを防止できるので、電子部品本体の破壊等の防止機
能が不所望にも阻害されないようにすることができる。
As described above, in the case where solder is used for joining the terminal member and the terminal electrode, the metal plate constituting the terminal member has a shape bent in an inverted U-shape, If the surface facing the outside is a surface with good solder wettability, and the surface facing the inside is a surface with poor solder wettability, a good joint state by soldering with the terminal electrode is realized In addition to the above, it is possible to realize a good bonding state when soldering the terminal member to the wiring board,
The degree of deformation of the terminal member for preventing destruction of the electronic component main body due to temperature change is increased, and the function of preventing the electronic component main body from being destructed is enhanced, and the terminal member is bent in an inverted U shape. Since it is possible to prevent the solder from entering the inside of the bent portion, it is possible to prevent the function of preventing the electronic component main body from being broken or the like from being undesirably hindered.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態によるセラミック電子部
品1の外観を示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing the appearance of a ceramic electronic component 1 according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の部分IIの拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view of a part II of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 セラミック電子部品 2 電子部品本体 3 端子電極 9 端子部材 12 第1の層 13 第2の層 14 半田 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ceramic electronic component 2 Electronic component main body 3 Terminal electrode 9 Terminal member 12 First layer 13 Second layer 14 Solder

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外表面上に端子電極が形成され、かつセ
ラミックをもって構成される、電子部品本体と、 前記端子電極に電気的に接続されるように接合される、
導電性の金属板からなる端子部材とを備え、 前記端子部材を構成する金属板は、熱膨張係数が1×1
-6/℃〜1.5×10-5/℃の範囲内にある第1の金
属からなる層と抵抗率が10μΩ・cm以下の第2の金
属からなる層とを含む少なくとも2層構造を有する、セ
ラミック電子部品。
1. An electronic component main body having a terminal electrode formed on an outer surface and made of ceramic, and joined to be electrically connected to the terminal electrode.
A terminal member made of a conductive metal plate, wherein the metal plate constituting the terminal member has a coefficient of thermal expansion of 1 × 1
At least a two-layer structure including a layer made of a first metal within a range of 0 −6 / ° C. to 1.5 × 10 −5 / ° C. and a layer made of a second metal having a resistivity of 10 μΩ · cm or less. A ceramic electronic component having:
【請求項2】 前記第1の金属からなる層および前記第
2の金属からなる層は、それぞれ、互いに貼り合わされ
た第1および第2の板材をもって構成される、請求項1
に記載のセラミック電子部品。
2. The device according to claim 1, wherein the first metal layer and the second metal layer are respectively composed of first and second plate members bonded to each other.
3. The ceramic electronic component according to 1.
【請求項3】 前記第1の金属からなる層および前記第
2の金属からなる層は、一方が板材をもって構成され、
他方が前記板材上に形成されるめっき膜をもって構成さ
れる、請求項1に記載のセラミック電子部品。
3. One of the layer made of the first metal and the layer made of the second metal is formed of a plate material,
The ceramic electronic component according to claim 1, wherein the other is configured by a plating film formed on the plate material.
【請求項4】 前記第1の金属は、Fe、Ni、Fe−
Ni系合金、Fe−Cr系合金、およびFe−Ni−C
o系合金からなる群から選ばれた1種である、請求項1
ないし3のいずれかに記載のセラミック電子部品。
4. The method according to claim 1, wherein the first metal is Fe, Ni, Fe-
Ni-based alloy, Fe-Cr-based alloy, and Fe-Ni-C
2. A material selected from the group consisting of o-based alloys.
4. The ceramic electronic component according to any one of claims 1 to 3.
【請求項5】 前記第2の金属は、Cu、Ag、Al、
およびこれら少なくとも1種を含む合金からなる群から
選ばれた1種である、請求項1ないし4のいずれかに記
載のセラミック電子部品。
5. The method according to claim 1, wherein the second metal is Cu, Ag, Al,
The ceramic electronic component according to claim 1, wherein the ceramic electronic component is at least one selected from the group consisting of an alloy containing at least one of these.
【請求項6】 前記端子部材は、前記端子電極に半田付
けされることによって接合される、請求項1ないし5の
いずれかに記載のセラミック電子部品。
6. The ceramic electronic component according to claim 1, wherein the terminal member is joined by being soldered to the terminal electrode.
【請求項7】 前記端子部材を構成する金属板は、逆U
字状に折り曲げられた形状を有し、その外側に向く面
は、半田濡れ性の良好な面とされ、その内側に向く面
は、半田濡れ性の悪い面とされる、請求項6に記載のセ
ラミック電子部品。
7. A metal plate forming the terminal member,
The surface which has the shape bent in the shape of a letter, and the surface facing the outside is a surface with good solder wettability, and the surface facing the inside is a surface with poor solder wettability. Of ceramic electronic components.
【請求項8】 前記第1の金属からなる層が前記外側に
向く面を与え、かつ前記第2の金属からなる層が前記内
側に向く面を与え、前記第1の金属は、Fe、Ni、お
よびFe−Ni系合金からなる群から選ばれた1種であ
り、前記第2の金属は、AlまたはAl合金である、請
求項7に記載のセラミック電子部品。
8. The layer of the first metal provides the outwardly facing surface, and the layer of the second metal provides the inwardly facing surface, wherein the first metal comprises Fe, Ni. 8. The ceramic electronic component according to claim 7, wherein the second metal is one selected from the group consisting of, and an Fe—Ni alloy, and the second metal is Al or an Al alloy.
【請求項9】 前記第1の金属からなる層が前記内側に
向く面を与え、かつ前記第2の金属からなる層が前記外
側に向く面を与え、前記第1の金属は、Fe−Cr系合
金またはFe−Ni−Co系合金であり、前記第2の金
属は、Cu、Ag、およびこれら少なくとも1種を含む
合金からなる群から選ばれた1種である、請求項7に記
載のセラミック電子部品。
9. The layer of the first metal provides the inwardly facing surface, and the layer of the second metal provides the outwardly facing surface, wherein the first metal is Fe-Cr. The second metal according to claim 7, wherein the second metal is one selected from the group consisting of Cu, Ag, and an alloy including at least one of these. Ceramic electronic components.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006270944A (en) * 2005-02-25 2006-10-05 Kyocera Corp Piezo-electric component
JP2017120855A (en) * 2015-12-28 2017-07-06 Tdk株式会社 Electronic component
JP2017135275A (en) * 2016-01-28 2017-08-03 三菱電機株式会社 Electronic component module, circuit module, manufacturing method of electronic component module, and manufacturing method of circuit module
JP2017183652A (en) * 2016-03-31 2017-10-05 Tdk株式会社 Electronic component

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