JP2000113694A - メモリ装置 - Google Patents

メモリ装置

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JP2000113694A
JP2000113694A JP10288062A JP28806298A JP2000113694A JP 2000113694 A JP2000113694 A JP 2000113694A JP 10288062 A JP10288062 A JP 10288062A JP 28806298 A JP28806298 A JP 28806298A JP 2000113694 A JP2000113694 A JP 2000113694A
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JP
Japan
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data
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storage unit
output
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Pending
Application number
JP10288062A
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English (en)
Inventor
Satoshi Takahashi
学志 高橋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 メモリ装置において、記憶部が故障したとき
の救済をビット単位で実現可能にする。 【解決手段】記憶手段14,15はビット単位に構成さ
れた記憶部を4個ずつ有している。また記憶手段14,
15はそれぞれ、各記憶部のデータ誤りをそれぞれ監視
し、誤りが生じたとき誤りフラグを出力するデータ監視
手段を備えている。アドレス制御部5はデータ監視手段
からの誤りフラグの出力の有無を検知するフラグ検出手
段5aを有し、このフラグ検出手段5aが誤りフラグの
出力を検知したとき、誤りが生じた記憶部を特定し、こ
の記憶部がアクセスされないようセレクタ11を制御す
る。これにより、データ誤りが生じた記憶部はアクセス
されることはなく冗長な記憶部に置き換えられるので、
外部からは全く故障が起きていないように見えることに
なる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、記憶手段を備えた
メモリ装置であって、特に、故障発生時に、外部から故
障前と同様にアクセスできるようにメモリ構成を変更可
能なメモリ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば人工衛星などのような長期間同一
のデバイスを利用するシステムでは、故障部品の交換が
非常に困難な場合が多い。このようなシステムでは、冗
長部分の入れ換えが動的に可能であり、故障のある記憶
部を切り離しても外部からは故障前と同様にアクセス可
能なメモリ構成を実現可能なメモリ装置の利用が要求さ
れる。
【0003】従来、複数個のメモリを用いた構成によ
り、特定バンクの特定モジュールを任意に切り離すこと
を可能とするメモリ装置はすでに提案されている(特公
昭61−22332号公報参照)。この構成では、メモ
リバンクを複数個用いたメモリにおいて、特定バンクが
故障した際に、この特定バンクを切り離し、かつ、外部
からは全体のメモリ容量が減少したようにみえるが故障
部分のアドレスが欠けたようにみえないように、アドレ
スを再構成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記従来のメモリ装置
では、故障ブロックのアドレスを詰めてアクセスさせ、
故障したアドレスはないように見かけ上見せることはで
きた。ところが、アドレスを置き換える単位がブロック
単位であり、ビット単位で故障した場合には全く手出し
ができないといった問題があった。また、冗長救済によ
って故障したビットを救済するものもあるが、これは製
品出荷の際に内部のROM等の決まったアドレス変換に
よって救済するものであり、後から動的に変更できるも
のではなかった。
【0005】前記の問題に鑑み、本発明は、メモリ装置
として、記憶部が故障したときの救済をビット単位で実
現可能にすることを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の発明が講じた解決手段は、メモリ装置
として、外部とのデータの入出力を行うデータ入出力部
と、ビット単位に構成された記憶部をそれぞれ複数個有
する複数の記憶手段と、前記データ入出力部によって外
部から入力されたデータを、ビット単位で、前記各記憶
部のいずれかに入力するとともに、前記各記憶部のいず
れかから出力されたビット単位のデータを前記データ入
出力部に出力する選択手段と、前記複数の記憶手段にア
ドレスを与えるアドレス制御部とを備え、前記各記憶手
段は、それぞれ、各記憶部に対応して設けられ、当該記
憶部のデータ誤りを監視し、誤りが生じたとき誤りフラ
グを出力するデータ監視手段を備え、前記アドレス制御
部は、前記各データ監視手段からの誤りフラグの出力の
有無を検知するフラグ検出手段を有し、このフラグ検出
手段が誤りフラグの出力を検知したとき、誤りが生じた
記憶部を特定し、この記憶部がアクセスされないよう前
記選択手段を制御するものである。
【0007】請求項1の発明によると、ビット単位に構
成された記憶部にデータ誤りが生じたとき、この記憶部
がアクセスされないように選択手段が制御される。この
ため、データ誤りが生じた記憶部はアクセスされること
がなく、冗長な記憶部に置き換えられるので、外部から
は全く故障が起きていないようにアクセスすることがで
きる。
【0008】請求項2の発明では、前記請求項1のメモ
リ装置において、各記憶部は通常モードと電力停止モー
ドとを有しており、前記データ監視手段は当該記憶部の
モードを監視し、電力停止モードになったときに誤りフ
ラグを出力するものとする。
【0009】請求項3の発明では、前記請求項1のメモ
リ装置におけるデータ監視手段は、前記複数の記憶手段
とは別個に設けられており、各記憶部に対応して設けら
れる代わりに、各記憶部のデータ誤りを一括して監視す
るように構成されているものとする。
【0010】請求項3の発明によると、複数の記憶部に
対して個別にデータ監視手段を設けることがピン数等の
理由によって困難な場合であっても、各記憶部における
データ誤りを監視することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。
【0012】図1は本発明の一実施形態に係るメモリ装
置の構成を示す図である。図1に示すように、第1およ
び第2の記憶手段14,15の中に、誤りフラグを出力
するためのデータ監視手段がそれぞれ設けられている。
誤りフラグは故障したメモリがあるとき、そのメモリを
特定して示すためのフラグであり、誤りフラグをみれば
どのメモリが故障しているかが容易に認識可能となる。
【0013】図2は第1および第2の記憶手段14,1
5の内部構成を示す図である。図2に示すように、第1
および第2の記憶手段14,15にはビット毎に記憶部
21が設けられており、各記憶部21に対し、それぞ
れ、当該記憶部21におけるデータ誤りを監視するデー
タ監視手段22が設けられている。
【0014】図3はデータ監視手段22の構成例を示す
図である。図3において、201は記憶部21に書き込
まれるデータを監視のために蓄える書き込みデータバッ
ファ、202は記憶部21から書き込みと同一のアドレ
スで読み出されたデータを監視のために蓄える読み出し
データバッファ、203は書き込みデータバッファ20
1に蓄えられたデータと読み出しデータバッファ202
に蓄えられたデータとを同一比較するデータ比較部であ
る。データ比較部203は、書き込みデータバッファ2
01のデータと読み出しデータバッファ202のデータ
とが異なるとき、誤りフラグを出力する。
【0015】図4はデータ監視手段22の動作を示すフ
ローチャートである。ステップS1において、記憶部2
1に対してデータ書き込みが開始されると、同時に書き
込みデータバッファ201にも書き込みデータを蓄え
る。次にステップS2において、記憶部21からステッ
プS1における書き込みと同一のアドレスに対してデー
タ読み出しを行う。これにより、実際に書き込まれたデ
ータ内容が記憶部21から読み出され、読み出しデータ
バッファ202に蓄えられる。記憶部21に正しくデー
タが書き込まれているときは、書き込みデータバッファ
201のデータと読み出しデータバッファ202のデー
タとは同一になる。ステップS3において、データ比較
部203は書き込みデータバッファ201および読み出
しデータバッファ202のデータを比較し、同一のとき
はそのまま何も出力せず(S4)、異なっているときは
誤りフラグを出力する(S5)。
【0016】アドレス制御部5が有するフラグ検出手段
5aは、第1および第2の記憶手段14,15から誤り
フラグが出力されるか否かを常時監視している。フラグ
検出手段5aは誤りフラグを検出したとき、誤りが生じ
た記憶部21を特定することができるので、これに応じ
てA/B選択信号を設定することによって、誤りのある
記憶部21がアクセスされないように制御することがで
きる。
【0017】図5は選択手段としてのセレクタ11にお
ける1ビット分のデータを選択するための内部構成を示
す回路図である。図5の構成では、第1および第2の記
憶手段14,15の計8ビット分のデータA1〜A4,
B1〜B4から任意の1ビットD1を選択することが可
能になる。図5において、制御手段4から4ビットのビ
ット選択信号と1ビットのR/W信号とが入力され、ま
たアドレス制御部5のフラグ制御手段5aからA/B選
択信号が入力される。R/W信号が“L”のときは外部
バス側から記憶手段側にデータが流れる一方、“H”の
ときは記憶手段側から外部バス側にデータが流れる。A
/B選択信号が“H”のときは第1の記憶手段14のデ
ータA1〜A4が選択される一方、“L”のときは第2
の記憶手段15のデータB1〜B4が選択される。
【0018】また本実施形態では、データ監視手段22
を記憶部21に対応してそれぞれ設けるものとしたが、
第1および第2の記憶手段14,15とは別個に、各記
憶部21のデータ誤りを一括して監視するようにデータ
監視手段を構成してもかまわない。
【0019】また第1および第2の記憶手段14,15
の各記憶部が、通常モードと、電力停止モードとを有し
ており、データ監視手段が各記憶部のモードを監視し、
電力停止モードになったとき、誤りフラグとして電力停
止フラグを出力するように構成してもよい。この場合、
フラグ検出手段5aは電力停止フラグを検知したとき、
電力停止モードになっている記憶部21がアクセスされ
ないように、セレクタ11にA/B選択信号を出力す
る。これにより、誤りが生じ、電力の供給が停止された
記憶部21がアクセスされることがないので、例えば、
プログラムがその故障領域も含めてマッピングしていた
場合であっても、その故障領域に対しては別の記憶領域
が割り当てられるため、エラーになることがなくなる。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明によると、ビット単
位に構成された記憶部にデータ誤りが生じたとき、この
記憶部がアクセスされないように選択手段が制御される
ため、データ誤りが生じた記憶部はアクセスされること
がなく、冗長な記憶部に置き換えられるので、外部から
は全く故障が起きていないようにアクセスすることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るメモリ装置の構成を
示す図である。
【図2】図1の第1または第2の記憶手段の内部構成を
示す図である。
【図3】データ監視手段の構成例を示す図である。
【図4】図3のデータ監視手段の動作を示すフローチャ
ートである。
【図5】図1のセレクタの構成の一部を示す図である。
【符号の説明】
5 アドレス制御部 5a フラグ検出手段 6 データ入出力部 11 セレクタ(選択手段) 14 第1の記憶手段 15 第2の記憶手段 21 記憶部 22 データ監視手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部とのデータの入出力を行うデータ入
    出力部と、 ビット単位に構成された記憶部をそれぞれ複数個有する
    複数の記憶手段と、 前記データ入出力部によって外部から入力されたデータ
    を、ビット単位で、前記各記憶部のいずれかに入力する
    とともに、前記各記憶部のいずれかから出力されたビッ
    ト単位のデータを前記データ入出力部に出力する選択手
    段と、 前記複数の記憶手段にアドレスを与えるアドレス制御部
    とを備え、 前記各記憶手段は、それぞれ、 各記憶部に対応して設けられ、当該記憶部のデータ誤り
    を監視し、誤りが生じたとき誤りフラグを出力するデー
    タ監視手段を備え、 前記アドレス制御部は、 前記各データ監視手段からの誤りフラグの出力の有無を
    検知するフラグ検出手段を有し、このフラグ検出手段が
    誤りフラグの出力を検知したとき、誤りが生じた記憶部
    を特定し、この記憶部がアクセスされないよう前記選択
    手段を制御することを特徴とするメモリ装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のメモリ装置において、 前記各記憶部は、通常モードと、電力停止モードとを有
    しており、 前記データ監視手段は、当該記憶部のモードを監視し、
    電力停止モードになったときに誤りフラグを出力するこ
    とを特徴とするメモリ装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のメモリ装置において、 前記データ監視手段は、 前記複数の記憶手段とは別個に設けられており、各記憶
    部に対応して設けられる代わりに、各記憶部のデータ誤
    りを一括して監視するように構成されていることを特徴
    とするメモリ装置。
JP10288062A 1998-10-09 1998-10-09 メモリ装置 Pending JP2000113694A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012113783A (ja) * 2010-11-25 2012-06-14 Nec Computertechno Ltd 半導体集積回路装置、制御記憶装置の制御方法及びプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012113783A (ja) * 2010-11-25 2012-06-14 Nec Computertechno Ltd 半導体集積回路装置、制御記憶装置の制御方法及びプログラム

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