JP2000099961A - 光ディスク装置のフォーカス調整機構 - Google Patents
光ディスク装置のフォーカス調整機構Info
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
- G11B20/10305—Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment
- G11B20/10388—Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment control of the read or write heads, e.g. tracking errors, defocus or tilt compensation
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- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
- G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
- G11B2220/2537—Optical discs
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスクや動作環境に依存せず、常時、高
いフォーカス精度で最適フォーカス点に収束させ、エラ
ーレートを少なくした光ディスク装置のフォーカス調整
機構を提供する。 【解決手段】 ＦＥ信号の信号レベルを最適フォーカス
点レベルに調整する光ディスク装置のフォーカス調整機
構で、光ディスク２への光スポット照射により光ディス
ク２の光情報を読出す光ピックアップ部１、光情報から
ＴＥ信号を検出するＴＥ信号検出部３、光情報からＲＥ
信号を検出するＲＥ信号検出部４、ＴＥ信号振幅が最大
となる第１フォーカスオフセット量及びＲＥ信号振幅が
最大となる第２フォーカスオフセット量間の中間フォー
カスオフセット量に対応した適合フォーカスバイアス電
圧を発生するオフセット量調整部７、８、適合フォーカ
スバイアス電圧を重畳したフォーカスバイアス電圧を用
いて光ディスク２を照射する光スポットをフォーカスサ
ーボ制御するサーボ制御部９を備えている。
いフォーカス精度で最適フォーカス点に収束させ、エラ
ーレートを少なくした光ディスク装置のフォーカス調整
機構を提供する。 【解決手段】 ＦＥ信号の信号レベルを最適フォーカス
点レベルに調整する光ディスク装置のフォーカス調整機
構で、光ディスク２への光スポット照射により光ディス
ク２の光情報を読出す光ピックアップ部１、光情報から
ＴＥ信号を検出するＴＥ信号検出部３、光情報からＲＥ
信号を検出するＲＥ信号検出部４、ＴＥ信号振幅が最大
となる第１フォーカスオフセット量及びＲＥ信号振幅が
最大となる第２フォーカスオフセット量間の中間フォー
カスオフセット量に対応した適合フォーカスバイアス電
圧を発生するオフセット量調整部７、８、適合フォーカ
スバイアス電圧を重畳したフォーカスバイアス電圧を用
いて光ディスク２を照射する光スポットをフォーカスサ
ーボ制御するサーボ制御部９を備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置の
フォーカス調整機構に係わり、特に、ディスク媒体を照
射する光スポットを適合フォーカス状態にするため、オ
フセット量を含むフォーカスバイアスを用いてフォーカ
スサーボ制御を行うようにした光ディスク装置のフォー
カス調整機構に関する。
フォーカス調整機構に係わり、特に、ディスク媒体を照
射する光スポットを適合フォーカス状態にするため、オ
フセット量を含むフォーカスバイアスを用いてフォーカ
スサーボ制御を行うようにした光ディスク装置のフォー
カス調整機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光ディスク装置においては、デ
ィスク媒体に記録されているデータを正確に読み出すた
め、ディスク媒体を駆動した際にフォーカスエラー（Ｆ
Ｅ）信号を検出し、検出したＦＥ信号レベルがゼロにな
るようにフォーカスサーボを行なっている。
ィスク媒体に記録されているデータを正確に読み出すた
め、ディスク媒体を駆動した際にフォーカスエラー（Ｆ
Ｅ）信号を検出し、検出したＦＥ信号レベルがゼロにな
るようにフォーカスサーボを行なっている。
【０００３】ところで、既知の光ディスク装置で行なわ
れているこのようなフォーカスサーボは、本来、ＦＥ信
号レベルがゼロになるように調整すれば、最適フォーカ
ス点への収束を行なうことができる筈であるが、実際の
光ディスク装置は、光ディスク装置の製造過程に製造誤
差が導入されたり、光ピックアップ手段に用いられてい
る光学系に固有の特性誤差がある等の理由によって、Ｆ
Ｅ信号レベルをゼロに調整しても、最適フォーカス点へ
の収束を行なうことはできない。即ち、最適フォーカス
点は、ＦＥ信号レベルがゼロになる点から若干オフセッ
トしたＦＥ信号レベルの点に移動している。
れているこのようなフォーカスサーボは、本来、ＦＥ信
号レベルがゼロになるように調整すれば、最適フォーカ
ス点への収束を行なうことができる筈であるが、実際の
光ディスク装置は、光ディスク装置の製造過程に製造誤
差が導入されたり、光ピックアップ手段に用いられてい
る光学系に固有の特性誤差がある等の理由によって、Ｆ
Ｅ信号レベルをゼロに調整しても、最適フォーカス点へ
の収束を行なうことはできない。即ち、最適フォーカス
点は、ＦＥ信号レベルがゼロになる点から若干オフセッ
トしたＦＥ信号レベルの点に移動している。
【０００４】このため、既知の光ディスク装置において
は、フォーカスサーボを行なうためのフォーカスバイア
スに所定のオフセットバイアス電圧を重畳して、最適フ
ォーカス点への収束を行なうようにしている。この場
合、フォーカスバイアスに重畳させるオフセットバイア
ス電圧は、光ディスク装置が出荷される前の調整作業等
において、熟練した作業者によって予め設定される。
は、フォーカスサーボを行なうためのフォーカスバイア
スに所定のオフセットバイアス電圧を重畳して、最適フ
ォーカス点への収束を行なうようにしている。この場
合、フォーカスバイアスに重畳させるオフセットバイア
ス電圧は、光ディスク装置が出荷される前の調整作業等
において、熟練した作業者によって予め設定される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記既知の
光ディスク装置は、熟練作業者によるフォーカスバイア
スに重畳させるオフセットバイアス電圧の設定が行なわ
れる際に、熟練作業者毎に設定するオフセット電圧にバ
ラツキを生じたり、一旦、適切なオフセットバイアス電
圧の設定を行なっても、その後の周囲温度の変化等によ
りそのオフセットバイアス電圧が必ずしも適切なもので
なくなってしまうことがある。
光ディスク装置は、熟練作業者によるフォーカスバイア
スに重畳させるオフセットバイアス電圧の設定が行なわ
れる際に、熟練作業者毎に設定するオフセット電圧にバ
ラツキを生じたり、一旦、適切なオフセットバイアス電
圧の設定を行なっても、その後の周囲温度の変化等によ
りそのオフセットバイアス電圧が必ずしも適切なもので
なくなってしまうことがある。
【０００６】このように、前記既知の光ディスク装置に
おいては、フォーカスバイアス電圧に予め設定したオフ
セットバイアス電圧を重畳しても、常時、最適フォーカ
ス点に収束することができず、フォーカス精度を高める
ことができないという問題がある。
おいては、フォーカスバイアス電圧に予め設定したオフ
セットバイアス電圧を重畳しても、常時、最適フォーカ
ス点に収束することができず、フォーカス精度を高める
ことができないという問題がある。
【０００７】また、前記既知の光ディスク装置におい
て、フォーカスバイアス電圧に重畳させるオフセットバ
イアス電圧の調整に際して、光ピックアップ手段に用い
られる光学系に非点収差があると、ＲＦ信号の振幅が最
大となるように調整した場合、ＴＥ信号が発生し易くな
って、エラーレートが増大するようになり、一方で、Ｔ
Ｅ信号の振幅が最大となるように調整した場合、ＲＦ信
号の振幅が小さくなって、同様にエラーレートが増大す
るようになる。
て、フォーカスバイアス電圧に重畳させるオフセットバ
イアス電圧の調整に際して、光ピックアップ手段に用い
られる光学系に非点収差があると、ＲＦ信号の振幅が最
大となるように調整した場合、ＴＥ信号が発生し易くな
って、エラーレートが増大するようになり、一方で、Ｔ
Ｅ信号の振幅が最大となるように調整した場合、ＲＦ信
号の振幅が小さくなって、同様にエラーレートが増大す
るようになる。
【０００８】このように、前記既知の光ディスク装置に
おいては、オフセットバイアス電圧の調整の際に、単
に、ＲＦ信号の振幅が最大になるように、または、ＴＥ
信号の振幅が最大になるように調整すると、エラーレー
トを減少させることができないという問題がある。
おいては、オフセットバイアス電圧の調整の際に、単
に、ＲＦ信号の振幅が最大になるように、または、ＴＥ
信号の振幅が最大になるように調整すると、エラーレー
トを減少させることができないという問題がある。
【０００９】本発明は、これらの問題点を解決するもの
で、その目的は、光ディスクや動作環境に依存せず、常
時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に収束さ
せ、エラーレートを少なくできる光ディスク装置のフォ
ーカス調整機構を提供することにある。
で、その目的は、光ディスクや動作環境に依存せず、常
時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に収束さ
せ、エラーレートを少なくできる光ディスク装置のフォ
ーカス調整機構を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明による光ディスク装置のフォーカス調整機構
は、ディスク媒体へ光スポット照射して光情報を読み出
す光ピックアップ手段と、光情報からトラッキングエラ
ー（ＴＥ）信号を検出するＴＥ信号検出手段と、光情報
からビット再生（ＲＦ）信号を検出するＲＦ信号検出手
段と、ＴＥ信号の振幅が最大となる第１フォーカスオフ
セット量及びＲＦ信号の振幅が最大となる第２フォーカ
スオフセット量の間にある中間フォーカスオフセット量
に対応した適合オフセットバイアス電圧を発生するオフ
セット量調整手段と、適合オフセットバイアス電圧を重
畳したフォーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を
照射する光スポットをフォーカスサーボ制御するサーボ
制御手段とからなるなる手段を具備する。
に、本発明による光ディスク装置のフォーカス調整機構
は、ディスク媒体へ光スポット照射して光情報を読み出
す光ピックアップ手段と、光情報からトラッキングエラ
ー（ＴＥ）信号を検出するＴＥ信号検出手段と、光情報
からビット再生（ＲＦ）信号を検出するＲＦ信号検出手
段と、ＴＥ信号の振幅が最大となる第１フォーカスオフ
セット量及びＲＦ信号の振幅が最大となる第２フォーカ
スオフセット量の間にある中間フォーカスオフセット量
に対応した適合オフセットバイアス電圧を発生するオフ
セット量調整手段と、適合オフセットバイアス電圧を重
畳したフォーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を
照射する光スポットをフォーカスサーボ制御するサーボ
制御手段とからなるなる手段を具備する。
【００１１】前述のように、フォーカスバイアス電圧に
重畳させるオフセットバイアス電圧を調整する際に、Ｒ
Ｆ信号の振幅が最大となるように調整した場合、また
は、ＴＥ信号の振幅が最大となるように調整した場合、
光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差があ
ると、エラーレートが増大するようになる。
重畳させるオフセットバイアス電圧を調整する際に、Ｒ
Ｆ信号の振幅が最大となるように調整した場合、また
は、ＴＥ信号の振幅が最大となるように調整した場合、
光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差があ
ると、エラーレートが増大するようになる。
【００１２】これに対して、前記手段によれば、ＴＥ信
号の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセット量
と、ＲＥ信号の信号振幅が最大となる第２フォーカスオ
フセット量をそれぞれ検出し、検出した第１フォーカス
オフセット量と第２フォーカスオフセット量の間にある
中間フォーカスオフセット量に対応した電圧を適合オフ
セットバイアス電圧に選んでいるので、光ピックアップ
手段に用いられる光学系に非点収差があった場合におい
ても、エラーレートを減少させ、最適フォーカス点に収
束させることができる。
号の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセット量
と、ＲＥ信号の信号振幅が最大となる第２フォーカスオ
フセット量をそれぞれ検出し、検出した第１フォーカス
オフセット量と第２フォーカスオフセット量の間にある
中間フォーカスオフセット量に対応した電圧を適合オフ
セットバイアス電圧に選んでいるので、光ピックアップ
手段に用いられる光学系に非点収差があった場合におい
ても、エラーレートを減少させ、最適フォーカス点に収
束させることができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態において、光
ディスク装置のフォーカス調整機構は、ＦＥ信号の信号
レベルを最適フォーカス点を表すレベルに調整する光デ
ィスク装置のフォーカス調整機構であって、ディスク媒
体への光スポット照射によりディスク媒体の光情報を読
み出す光ピックアップ手段と、光情報からＴＥ信号を検
出するＴＥ信号検出手段と、光情報からＲＦ信号を検出
するＲＦ信号検出手段と、ＴＥ信号の振幅が最大となる
第１フォーカスオフセット量及びＲＦ信号の振幅が最大
となる第２フォーカスオフセット量の間にある中間フォ
ーカスオフセット量を選択し、選択した中間フォーカス
オフセット量に対応した適合オフセットバイアス電圧を
発生するオフセット量調整手段と、適合オフセットバイ
アス電圧を重畳したフォーカスバイアス電圧を用いてデ
ィスク媒体を照射する光スポットをフォーカスサーボ制
御するサーボ制御手段とを備えるものである。
ディスク装置のフォーカス調整機構は、ＦＥ信号の信号
レベルを最適フォーカス点を表すレベルに調整する光デ
ィスク装置のフォーカス調整機構であって、ディスク媒
体への光スポット照射によりディスク媒体の光情報を読
み出す光ピックアップ手段と、光情報からＴＥ信号を検
出するＴＥ信号検出手段と、光情報からＲＦ信号を検出
するＲＦ信号検出手段と、ＴＥ信号の振幅が最大となる
第１フォーカスオフセット量及びＲＦ信号の振幅が最大
となる第２フォーカスオフセット量の間にある中間フォ
ーカスオフセット量を選択し、選択した中間フォーカス
オフセット量に対応した適合オフセットバイアス電圧を
発生するオフセット量調整手段と、適合オフセットバイ
アス電圧を重畳したフォーカスバイアス電圧を用いてデ
ィスク媒体を照射する光スポットをフォーカスサーボ制
御するサーボ制御手段とを備えるものである。
【００１４】本発明の実施の形態の好適例において、光
ディスク装置のフォーカス調整機構は、適合フォーカス
オフセット量が第１フォーカスオフセット量と第２フォ
ーカスオフセット量の中間値を示す中間フォーカスオフ
セット量であるものである。
ディスク装置のフォーカス調整機構は、適合フォーカス
オフセット量が第１フォーカスオフセット量と第２フォ
ーカスオフセット量の中間値を示す中間フォーカスオフ
セット量であるものである。
【００１５】これらの本発明の実施の形態によれば、光
ディスク装置のフォーカス調整機構は、光ピックアップ
手段と、ＴＥ信号検出手段と、ＲＦ信号検出手段と、オ
フセット量調整手段と、サーボ制御手段とからなり、Ｔ
Ｅ信号検出手段がＴＥ信号を検出し、ＲＦ信号検出手段
がＲＦ信号を検出し、オフセット量調整手段がＴＥ信号
の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセット量及
びＲＦ信号の信号振幅が最大となる第２フォーカスオフ
セット量の間にある中間フォーカスオフセット量を選択
したあと、選択した中間フォーカスオフセット量に対応
した適合オフセットスバイアス電圧を発生し、サーボ制
御手段が適合オフセットスバイアス電圧を重畳したフォ
ーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を照射する光
スポットをフォーカスサーボ制御するようにしているの
で、光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差
がある場合であっても、エラーレートを減少することが
でき、常時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に
収束することができる。
ディスク装置のフォーカス調整機構は、光ピックアップ
手段と、ＴＥ信号検出手段と、ＲＦ信号検出手段と、オ
フセット量調整手段と、サーボ制御手段とからなり、Ｔ
Ｅ信号検出手段がＴＥ信号を検出し、ＲＦ信号検出手段
がＲＦ信号を検出し、オフセット量調整手段がＴＥ信号
の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセット量及
びＲＦ信号の信号振幅が最大となる第２フォーカスオフ
セット量の間にある中間フォーカスオフセット量を選択
したあと、選択した中間フォーカスオフセット量に対応
した適合オフセットスバイアス電圧を発生し、サーボ制
御手段が適合オフセットスバイアス電圧を重畳したフォ
ーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を照射する光
スポットをフォーカスサーボ制御するようにしているの
で、光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差
がある場合であっても、エラーレートを減少することが
でき、常時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に
収束することができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００１７】図１は、本発明による光ディスク装置のフ
ォーカス調整機構の一実施例の概略構成を示すブロック
図である。
ォーカス調整機構の一実施例の概略構成を示すブロック
図である。
【００１８】図１に示すように、光ディスク装置のフォ
ーカス調整機構は、光ピックアップ部１と、光学系１Ａ
と、光ディスク２と、トラッキングエラー（ＴＥ）信号
検出部３と、ビット再生（ＲＦ）信号検出部４と、第１
アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器５と、第２アナロ
グ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器６と、制御部（ＣＰＵ）
７と、デジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器８と、サー
ボ制御部９とからなっている。この場合、ＣＰＵ７とデ
ジタル−アナログ変換器８は、オフセット量調整部を構
成している。
ーカス調整機構は、光ピックアップ部１と、光学系１Ａ
と、光ディスク２と、トラッキングエラー（ＴＥ）信号
検出部３と、ビット再生（ＲＦ）信号検出部４と、第１
アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器５と、第２アナロ
グ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器６と、制御部（ＣＰＵ）
７と、デジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器８と、サー
ボ制御部９とからなっている。この場合、ＣＰＵ７とデ
ジタル−アナログ変換器８は、オフセット量調整部を構
成している。
【００１９】そして、光ピックアップ部１は、少なくと
も、レーザ光を発生するレーザダイオード等からなる発
光源（図示なし）と、発光源と光ディスク２との間に配
置され、レーザ光スポットを光ディスク２に照射し、光
ディスク２からの反射光スポットを光情報として分岐出
力する光学系１Ａと、光学系１Ａ等の位置を調整して光
ディスク２を照射するレーザ光スポット位置及び照射状
態を制御する走査調整部（図示なし）とを備えている。
光ディスク２は、モーター等のディスク駆動部（図示な
し）の駆動時に、高速度で回転する。ＴＥ信号検出部３
は、光ピックアップ部１から出力された光情報を受ける
２分割フォトセンサ（図示なし）と、２分割フォトセン
サの各出力信号からＴＥ信号を発生する第１信号処理回
路（図示なし）とを備える。ＲＦ信号検出部４は、光ピ
ックアップ部１から出力された光情報を受ける４分割フ
ォトセンサ（図示なし）と、４分割フォトセンサの各出
力信号からＦＥ信号を発生する第２信号処理回路（図示
なし）と、ＦＥ信号及びＴＥ信号検出部３から供給され
るＴＥ信号からＲＦ信号を発生する第３信号処理回路
（図示なし）とを備える。第１アナログ−デジタル変換
器５は、ＴＥ信号をアナログ−デジタル変換してデジタ
ル化ＴＥ信号をＣＰＵ７に供給する。第２アナログ−デ
ジタル変換器６は、ＲＦ信号をアナログ−デジタル変換
してデジタル化ＲＦ信号をＣＰＵ７に供給する。ＣＰＵ
７は、後述するように、入力されたデジタル化ＴＥ信号
及びデジタル化ＲＦ信号の各振幅が最大となるフォーカ
スオフセット量を求め、求めた各フォーカスオフセット
量の中間値である中間フォーカスオフセット量を設定
し、設定した中間フォーカスオフセット量をデジタル−
アナログ変換器８に供給する。デジタル−アナログ変換
器８は、入力された中間フォーカスオフセット量をデジ
タル−アナログ変換して適合オフセットバイアス電圧と
してサーボ制御部９に供給する。サーボ制御部９は、Ｃ
ＰＵ７の制御の基に光ピックアップ部１の走査調整部を
制御駆動し、光ディスク２へのレーザ光スポットの照射
位置及び照射状態を制御する。
も、レーザ光を発生するレーザダイオード等からなる発
光源（図示なし）と、発光源と光ディスク２との間に配
置され、レーザ光スポットを光ディスク２に照射し、光
ディスク２からの反射光スポットを光情報として分岐出
力する光学系１Ａと、光学系１Ａ等の位置を調整して光
ディスク２を照射するレーザ光スポット位置及び照射状
態を制御する走査調整部（図示なし）とを備えている。
光ディスク２は、モーター等のディスク駆動部（図示な
し）の駆動時に、高速度で回転する。ＴＥ信号検出部３
は、光ピックアップ部１から出力された光情報を受ける
２分割フォトセンサ（図示なし）と、２分割フォトセン
サの各出力信号からＴＥ信号を発生する第１信号処理回
路（図示なし）とを備える。ＲＦ信号検出部４は、光ピ
ックアップ部１から出力された光情報を受ける４分割フ
ォトセンサ（図示なし）と、４分割フォトセンサの各出
力信号からＦＥ信号を発生する第２信号処理回路（図示
なし）と、ＦＥ信号及びＴＥ信号検出部３から供給され
るＴＥ信号からＲＦ信号を発生する第３信号処理回路
（図示なし）とを備える。第１アナログ−デジタル変換
器５は、ＴＥ信号をアナログ−デジタル変換してデジタ
ル化ＴＥ信号をＣＰＵ７に供給する。第２アナログ−デ
ジタル変換器６は、ＲＦ信号をアナログ−デジタル変換
してデジタル化ＲＦ信号をＣＰＵ７に供給する。ＣＰＵ
７は、後述するように、入力されたデジタル化ＴＥ信号
及びデジタル化ＲＦ信号の各振幅が最大となるフォーカ
スオフセット量を求め、求めた各フォーカスオフセット
量の中間値である中間フォーカスオフセット量を設定
し、設定した中間フォーカスオフセット量をデジタル−
アナログ変換器８に供給する。デジタル−アナログ変換
器８は、入力された中間フォーカスオフセット量をデジ
タル−アナログ変換して適合オフセットバイアス電圧と
してサーボ制御部９に供給する。サーボ制御部９は、Ｃ
ＰＵ７の制御の基に光ピックアップ部１の走査調整部を
制御駆動し、光ディスク２へのレーザ光スポットの照射
位置及び照射状態を制御する。
【００２０】前記構成による本実施例の光ディスク装置
のフォーカス調整機構は、概略、次のように動作する。
のフォーカス調整機構は、概略、次のように動作する。
【００２１】ディスク駆動部が駆動され、光ディスク２
が高速度で回転すると、光ピックアップ部１は、サーボ
制御部９からの駆動信号の供給により走査調整部を制御
し、光ディスク２の情報読み取り個所に、発光源から光
学系１Ａを通してレーザ光スポットを照射する。このレ
ーザ光スポットの照射に基づいて、光ディスク２から反
射光スポットが得られる。反射光スポットは、光情報と
して光学系１Ａを通る際に分岐され、ＴＥ信号検出部３
及びＲＦ信号検出部４に供給される。
が高速度で回転すると、光ピックアップ部１は、サーボ
制御部９からの駆動信号の供給により走査調整部を制御
し、光ディスク２の情報読み取り個所に、発光源から光
学系１Ａを通してレーザ光スポットを照射する。このレ
ーザ光スポットの照射に基づいて、光ディスク２から反
射光スポットが得られる。反射光スポットは、光情報と
して光学系１Ａを通る際に分岐され、ＴＥ信号検出部３
及びＲＦ信号検出部４に供給される。
【００２２】ＴＥ信号検出部３は、光ピックアップ部１
から出力された光情報を２分割フォトセンサに供給して
２つの信号成分を発生させ、得られた２つの信号成分を
第１信号処理回路に供給して２つの信号成分の減算を行
なってＴＥ信号を発生する。ＲＦ信号検出部４は、光ピ
ックアップ部１から出力された光情報を４分割フォトセ
ンサに供給して４つの信号成分を発生させ、得られた４
つの信号成分を第２信号処理回路に供給して所定の２つ
の信号成分と残りの２つの信号成分とをそれぞれ加算を
行ない、各加算成分の減算を行なってＦＥ信号を発生さ
せ、さらに、得られたＦＥ信号とＴＥ信号検出部３から
供給されたＴＥ信号とを第３信号処理回路に供給して加
算し、ＲＦ信号を発生させる。第１アナログ−デジタル
変換器５は、ＴＥ信号検出部３から出力されたＴＥ信号
をアナログ−デジタル変換してデジタル化ＴＥ信号を形
成し、ＣＰＵ７に供給する。第２アナログ−デジタル変
換器６は、ＲＦ信号検出部４から出力されたＲＦ信号を
アナログ−デジタル変換してデジタル化ＲＦ信号を形成
し、ＣＰＵ７に供給する。
から出力された光情報を２分割フォトセンサに供給して
２つの信号成分を発生させ、得られた２つの信号成分を
第１信号処理回路に供給して２つの信号成分の減算を行
なってＴＥ信号を発生する。ＲＦ信号検出部４は、光ピ
ックアップ部１から出力された光情報を４分割フォトセ
ンサに供給して４つの信号成分を発生させ、得られた４
つの信号成分を第２信号処理回路に供給して所定の２つ
の信号成分と残りの２つの信号成分とをそれぞれ加算を
行ない、各加算成分の減算を行なってＦＥ信号を発生さ
せ、さらに、得られたＦＥ信号とＴＥ信号検出部３から
供給されたＴＥ信号とを第３信号処理回路に供給して加
算し、ＲＦ信号を発生させる。第１アナログ−デジタル
変換器５は、ＴＥ信号検出部３から出力されたＴＥ信号
をアナログ−デジタル変換してデジタル化ＴＥ信号を形
成し、ＣＰＵ７に供給する。第２アナログ−デジタル変
換器６は、ＲＦ信号検出部４から出力されたＲＦ信号を
アナログ−デジタル変換してデジタル化ＲＦ信号を形成
し、ＣＰＵ７に供給する。
【００２３】ＣＰＵ７は、供給されたデジタル化ＴＥ信
号に基づいて、デジタル化ＴＥ信号振幅が最大になると
きの第１フォーカスオフセット量を求め、同時に、供給
されたデジタル化ＲＦ信号に基づいて、デジタル化ＲＥ
信号振幅が最大になるときの第２フォーカスオフセット
量を求める。続いて、ＣＰＵ７は、求めた第１フォーカ
スオフセット量と第２フォーカスオフセット量の中間値
である中間フォーカスオフセット量を設定し、この設定
された中間フォーカスオフセット量がデジタル−アナロ
グ変換器８に供給される。デジタル−アナログ変換器８
は、供給された中間フォーカスオフセット量をデジタル
−アナログ変換し、適合オフセットバイアス電圧として
サーボ制御部９に供給される。
号に基づいて、デジタル化ＴＥ信号振幅が最大になると
きの第１フォーカスオフセット量を求め、同時に、供給
されたデジタル化ＲＦ信号に基づいて、デジタル化ＲＥ
信号振幅が最大になるときの第２フォーカスオフセット
量を求める。続いて、ＣＰＵ７は、求めた第１フォーカ
スオフセット量と第２フォーカスオフセット量の中間値
である中間フォーカスオフセット量を設定し、この設定
された中間フォーカスオフセット量がデジタル−アナロ
グ変換器８に供給される。デジタル−アナログ変換器８
は、供給された中間フォーカスオフセット量をデジタル
−アナログ変換し、適合オフセットバイアス電圧として
サーボ制御部９に供給される。
【００２４】サーボ制御部９は、ＣＰＵ７から供給され
るトラックサーボ情報及びＴＥ信号検出部３から供給さ
れるＴＥ信号に基づいてトラックサーボ制御電圧を発生
し、このトラックサーボ制御電圧を光ピックアップ部１
の走査調整部に供給してレーザ光スポットのトラックサ
ーボ制御が行われ、また、ＲＦ信号検出部４から供給さ
れるＦＥ信号にデジタル−アナログ変換器８から供給さ
れる適合オフセットバイアス電圧を重畳してフォーカス
バイアス電圧を発生し、このフォーカスバイアス電圧を
走査調整部に供給してレーザ光スポットのフォーカスサ
ーボ制御が行われる。
るトラックサーボ情報及びＴＥ信号検出部３から供給さ
れるＴＥ信号に基づいてトラックサーボ制御電圧を発生
し、このトラックサーボ制御電圧を光ピックアップ部１
の走査調整部に供給してレーザ光スポットのトラックサ
ーボ制御が行われ、また、ＲＦ信号検出部４から供給さ
れるＦＥ信号にデジタル−アナログ変換器８から供給さ
れる適合オフセットバイアス電圧を重畳してフォーカス
バイアス電圧を発生し、このフォーカスバイアス電圧を
走査調整部に供給してレーザ光スポットのフォーカスサ
ーボ制御が行われる。
【００２５】次に、図２は、ＣＰＵ７で実行される中間
フォーカスオフセット量設定の動作プロセスを示すフロ
ーチャートである。
フォーカスオフセット量設定の動作プロセスを示すフロ
ーチャートである。
【００２６】ここで、図２を用いてＣＰＵ７で実行され
る中間フォーカスオフセット量設定の動作プロセスにつ
いて説明する。
る中間フォーカスオフセット量設定の動作プロセスにつ
いて説明する。
【００２７】始めに、ステップＳ１において、ＣＰＵ７
は、サーボ制御部９から光ピックアップ部１の走査調整
部に供給されるフォーカスバイアス電圧Ｖｎを初期フォ
ーカスバイアス電圧Ｖ0 だけにし、オフセットスバイア
ス電圧が重畳されない状態（Ｖｎ＝Ｖ0 ）に初期設定に
する。ここで、ＲＦ信号及びＴＥ信号が得られる所定フ
ォーカスバイアス電圧の範囲を微小電圧範囲ΔＶに等分
割した際の分割数をｎとしたとき、数値ｎとして順番に
０、１、２、３、… …、の各値が選択されるもので、
初期設定時にｎ＝０である。
は、サーボ制御部９から光ピックアップ部１の走査調整
部に供給されるフォーカスバイアス電圧Ｖｎを初期フォ
ーカスバイアス電圧Ｖ0 だけにし、オフセットスバイア
ス電圧が重畳されない状態（Ｖｎ＝Ｖ0 ）に初期設定に
する。ここで、ＲＦ信号及びＴＥ信号が得られる所定フ
ォーカスバイアス電圧の範囲を微小電圧範囲ΔＶに等分
割した際の分割数をｎとしたとき、数値ｎとして順番に
０、１、２、３、… …、の各値が選択されるもので、
初期設定時にｎ＝０である。
【００２８】次に、ステップＳ２において、ＣＰＵ７
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎを、初期フォーカスバ
イアス電圧Ｖ0 にオフセットバイアス電圧増分（ｎ＊Δ
Ｖ）を重畳した値（Ｖｎ＝Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）に設定す
る。
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎを、初期フォーカスバ
イアス電圧Ｖ0 にオフセットバイアス電圧増分（ｎ＊Δ
Ｖ）を重畳した値（Ｖｎ＝Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）に設定す
る。
【００２９】次いで、ステップＳ３において、ＣＰＵ７
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎが（Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）
であるときに、ＴＥ信号検出部３で検出したＴＥ信号の
信号振幅を取得し、メモリに収納する。
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎが（Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）
であるときに、ＴＥ信号検出部３で検出したＴＥ信号の
信号振幅を取得し、メモリに収納する。
【００３０】続く、ステップＳ４において、ＣＰＵ７
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎが（Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）
であるときに、ＲＦ信号検出部４で検出したＲＦ信号の
信号振幅を取得し、メモリに収納する。
は、フォーカスバイアス電圧Ｖｎが（Ｖ0 ＋ｎ＊ΔＶ）
であるときに、ＲＦ信号検出部４で検出したＲＦ信号の
信号振幅を取得し、メモリに収納する。
【００３１】続いて、ステップＳ５において、ＣＰＵ７
は、数値ｎに１を加え、ｎ＝ｎ＋１に設定する。
は、数値ｎに１を加え、ｎ＝ｎ＋１に設定する。
【００３２】次に、ステップＳ６において、ＣＰＵ７
は、ＴＥ信号の信号振幅の取得回数ｎ及びＲＦ信号の信
号振幅の取得回数ｎが所定回数、即ち、所定フォーカス
バイアス電圧の範囲の分割数を表す値に達したか否かを
判断する。この場合、取得回数ｎが所定回数に達してい
ると判断した（Ｙ）ときは次のステップＳ７に移行し、
一方、取得回数ｎが未だ所定回数に達していないと判断
した（Ｎ）ときは前のステップＳ２に移行し、ステップ
Ｓ２乃至ステップＳ６の動作が繰り返し実行される。
は、ＴＥ信号の信号振幅の取得回数ｎ及びＲＦ信号の信
号振幅の取得回数ｎが所定回数、即ち、所定フォーカス
バイアス電圧の範囲の分割数を表す値に達したか否かを
判断する。この場合、取得回数ｎが所定回数に達してい
ると判断した（Ｙ）ときは次のステップＳ７に移行し、
一方、取得回数ｎが未だ所定回数に達していないと判断
した（Ｎ）ときは前のステップＳ２に移行し、ステップ
Ｓ２乃至ステップＳ６の動作が繰り返し実行される。
【００３３】次いで、ステップＳ７において、ＣＰＵ７
は、取得したＴＥ信号の信号振幅からそれが最大になる
フォーカスバイアス電圧Ｖｎ（第１フォーカスオフセッ
ト量Ａ）を検出する。このとき、最大になるフォーカス
バイアス電圧Ｖｎの検出は、ステップＳ３において取得
したＴＥ信号振幅の中から最大となるＴＥ信号振幅を求
め、求めた最大となるＴＥ信号振幅が得られたフォーカ
スバイアス電圧Ｖｎを第１フォーカスオフセット量Ａと
することによって行われる。
は、取得したＴＥ信号の信号振幅からそれが最大になる
フォーカスバイアス電圧Ｖｎ（第１フォーカスオフセッ
ト量Ａ）を検出する。このとき、最大になるフォーカス
バイアス電圧Ｖｎの検出は、ステップＳ３において取得
したＴＥ信号振幅の中から最大となるＴＥ信号振幅を求
め、求めた最大となるＴＥ信号振幅が得られたフォーカ
スバイアス電圧Ｖｎを第１フォーカスオフセット量Ａと
することによって行われる。
【００３４】続く、ステップＳ８において、ＣＰＵ７
は、取得したＲＥ信号の信号振幅からそれが最大になる
フォーカスバイアス電圧Ｖｎ（第２フォーカスオフセッ
ト量Ｂ）を検出する。このとき、最大になるフォーカス
バイアス電圧Ｖｎの検出は、ステップＳ４において取得
したＲＦ信号振幅の中から最大となるＲＦ信号振幅を求
め、求めた最大となるＲＦＥ信号振幅が得られたフォー
カスバイアス電圧Ｖｎを第２フォーカスオフセット量Ｂ
とすることによって行われる。
は、取得したＲＥ信号の信号振幅からそれが最大になる
フォーカスバイアス電圧Ｖｎ（第２フォーカスオフセッ
ト量Ｂ）を検出する。このとき、最大になるフォーカス
バイアス電圧Ｖｎの検出は、ステップＳ４において取得
したＲＦ信号振幅の中から最大となるＲＦ信号振幅を求
め、求めた最大となるＲＦＥ信号振幅が得られたフォー
カスバイアス電圧Ｖｎを第２フォーカスオフセット量Ｂ
とすることによって行われる。
【００３５】続いて、ステップＳ９において、ＣＰＵ７
は、検出した第１フォーカスオフセット量Ａ及び第２フ
ォーカスオフセット量Ｂからそれらの中間値となる中間
フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２を設定する。設
定された中間フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２
は、ＣＰＵ７から出力され、この一連の動作プロセスが
終了する。
は、検出した第１フォーカスオフセット量Ａ及び第２フ
ォーカスオフセット量Ｂからそれらの中間値となる中間
フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２を設定する。設
定された中間フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２
は、ＣＰＵ７から出力され、この一連の動作プロセスが
終了する。
【００３６】ところで、図３（ａ）は、ＴＥ信号の信号
振幅と第１フォーカスオフセット量Ａとの関係、ＲＥ信
号の信号振幅と第２フォーカスオフセット量Ｂとの関
係、第１フォーカスオフセット量Ａ及び第２フォーカス
オフセット量Ｂと中間フォーカスオフセット量との関係
の各一例を示すもので、ＴＥ信号の信号振幅が最大値の
ときの第１フォーカスオフセット量Ａは最も小さく、Ｒ
Ｅ信号の信号振幅が最大値のときの第２フォーカスオフ
セット量Ｂは最も大きく、中間フォーカスオフセット量
（Ａ＋Ｂ）／２はそれらの中間値になっている。この場
合、ＴＥ信号の信号振幅が得られるフォーカスオフセッ
ト量の範囲とＲＥ信号の信号振幅が得られるフォーカス
オフセット量の範囲とは、一部がオーバーラップしてい
る。
振幅と第１フォーカスオフセット量Ａとの関係、ＲＥ信
号の信号振幅と第２フォーカスオフセット量Ｂとの関
係、第１フォーカスオフセット量Ａ及び第２フォーカス
オフセット量Ｂと中間フォーカスオフセット量との関係
の各一例を示すもので、ＴＥ信号の信号振幅が最大値の
ときの第１フォーカスオフセット量Ａは最も小さく、Ｒ
Ｅ信号の信号振幅が最大値のときの第２フォーカスオフ
セット量Ｂは最も大きく、中間フォーカスオフセット量
（Ａ＋Ｂ）／２はそれらの中間値になっている。この場
合、ＴＥ信号の信号振幅が得られるフォーカスオフセッ
ト量の範囲とＲＥ信号の信号振幅が得られるフォーカス
オフセット量の範囲とは、一部がオーバーラップしてい
る。
【００３７】また、図４（ｂ）は、エラーレート減少量
と第１フォーカスオフセット量Ａ、第２フォーカスオフ
セット量Ｂ、それに中間フォーカスオフセット量（Ａ＋
Ｂ）／２との関係の一例を示すもので、ＴＥ信号の信号
振幅が最大値になる第１フォーカスオフセット量Ａまた
はＲＥ信号の信号振幅が最大値になる第２フォーカスオ
フセット量のとき、エラーレートの減少量が最も大きく
ならずに、中間フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２
のとき、エラーレートの減少量が最も大きくなる。
と第１フォーカスオフセット量Ａ、第２フォーカスオフ
セット量Ｂ、それに中間フォーカスオフセット量（Ａ＋
Ｂ）／２との関係の一例を示すもので、ＴＥ信号の信号
振幅が最大値になる第１フォーカスオフセット量Ａまた
はＲＥ信号の信号振幅が最大値になる第２フォーカスオ
フセット量のとき、エラーレートの減少量が最も大きく
ならずに、中間フォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２
のとき、エラーレートの減少量が最も大きくなる。
【００３８】このように、本実施例の光ディスク装置の
フォーカス調整機構によれば、ＴＥ信号の信号振幅が最
大となる第１フォーカスオフセット量Ａと、ＲＥ信号の
信号振幅が最大となる第２フォーカスオフセット量Ｂを
それぞれ検出し、検出した第１フォーカスオフセット量
と第２フォーカスオフセット量の間にある中間フォーカ
スオフセット量に対応した電圧が適合オフセットバイア
ス電圧になるように選択しているので、光ピックアップ
手段に用いられる光学系に非点収差がある場合において
も、エラーレートを減少させ、最適フォーカス点に収束
することができる。
フォーカス調整機構によれば、ＴＥ信号の信号振幅が最
大となる第１フォーカスオフセット量Ａと、ＲＥ信号の
信号振幅が最大となる第２フォーカスオフセット量Ｂを
それぞれ検出し、検出した第１フォーカスオフセット量
と第２フォーカスオフセット量の間にある中間フォーカ
スオフセット量に対応した電圧が適合オフセットバイア
ス電圧になるように選択しているので、光ピックアップ
手段に用いられる光学系に非点収差がある場合において
も、エラーレートを減少させ、最適フォーカス点に収束
することができる。
【００３９】なお、前記実施例においては、中間フォー
カスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２が第１フォーカスオフ
セット量Ａと第２フォーカスオフセット量Ｂとの中間値
を示すフォーカスオフセット量である例を挙げて説明し
たが、本発明による中間フォーカスオフセット量は、第
１フォーカスオフセット量Ａと第２フォーカスオフセッ
ト量Ｂとの中間値を示すフォーカスオフセット量である
場合に限られず、第１フォーカスオフセット量Ａとフォ
ーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２との中間からフォー
カスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２に寄った範囲内及びフ
ォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２と第２フォーカス
オフセット量Ｂとの中間からフォーカスオフセット量
（Ａ＋Ｂ）／２に寄った範囲内にあるフォーカスオフセ
ット量であれば、前記実施例とほぼ同様の作用効果を達
成させることが可能である。
カスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２が第１フォーカスオフ
セット量Ａと第２フォーカスオフセット量Ｂとの中間値
を示すフォーカスオフセット量である例を挙げて説明し
たが、本発明による中間フォーカスオフセット量は、第
１フォーカスオフセット量Ａと第２フォーカスオフセッ
ト量Ｂとの中間値を示すフォーカスオフセット量である
場合に限られず、第１フォーカスオフセット量Ａとフォ
ーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２との中間からフォー
カスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２に寄った範囲内及びフ
ォーカスオフセット量（Ａ＋Ｂ）／２と第２フォーカス
オフセット量Ｂとの中間からフォーカスオフセット量
（Ａ＋Ｂ）／２に寄った範囲内にあるフォーカスオフセ
ット量であれば、前記実施例とほぼ同様の作用効果を達
成させることが可能である。
【００４０】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、光ピッ
クアップ手段と、ＴＥ信号検出手段と、ＲＦ信号検出手
段と、オフセット量調整手段と、サーボ制御手段とから
なり、ＴＥ信号検出手段がＴＥ信号を検出し、ＲＦ信号
検出手段がＲＦ信号を検出し、オフセット量調整手段が
ＴＥ信号の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセ
ット量及びＲＦ信号の信号振幅が最大となる第２フォー
カスオフセット量の間にある中間フォーカスオフセット
量を選択したあと、選択した中間フォーカスオフセット
量に対応した適合オフセットスバイアス電圧を発生し、
サーボ制御手段が適合オフセットスバイアス電圧を重畳
したフォーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を照
射する光スポットをフォーカスサーボ制御しているの
で、光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差
がある場合であっても、エラーレートを減少することが
でき、常時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に
収束することができるという効果がある。
クアップ手段と、ＴＥ信号検出手段と、ＲＦ信号検出手
段と、オフセット量調整手段と、サーボ制御手段とから
なり、ＴＥ信号検出手段がＴＥ信号を検出し、ＲＦ信号
検出手段がＲＦ信号を検出し、オフセット量調整手段が
ＴＥ信号の信号振幅が最大となる第１フォーカスオフセ
ット量及びＲＦ信号の信号振幅が最大となる第２フォー
カスオフセット量の間にある中間フォーカスオフセット
量を選択したあと、選択した中間フォーカスオフセット
量に対応した適合オフセットスバイアス電圧を発生し、
サーボ制御手段が適合オフセットスバイアス電圧を重畳
したフォーカスバイアス電圧を用いてディスク媒体を照
射する光スポットをフォーカスサーボ制御しているの
で、光ピックアップ手段に用いられる光学系に非点収差
がある場合であっても、エラーレートを減少することが
でき、常時、高いフォーカス精度で最適フォーカス点に
収束することができるという効果がある。
【図１】本発明による光ディスク装置のフォーカス調整
機構の一実施例の概略構成を示すブロック図である。
機構の一実施例の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１に図示の実施例において、ＣＰＵで実行さ
れる中間フォーカスオフセット量設定の動作プロセスを
示すフローチャートである。
れる中間フォーカスオフセット量設定の動作プロセスを
示すフローチャートである。
【図３】図１に図示の実施例において、ＲＦ信号振幅及
びＴＥ信号振幅とフォーカスオフセット量との関係、エ
ラーレート減少量とフォーカスオフセット量との関係を
示す特性図である。
びＴＥ信号振幅とフォーカスオフセット量との関係、エ
ラーレート減少量とフォーカスオフセット量との関係を
示す特性図である。
１ 光ピックアップ部 １Ａ 光学系 ２ 光ディスク（ディスク媒体） ３ ＲＦ信号検出部 ４ ＴＥ信号検出部 ５ 第１アナログ−デジタル変換器 ６ 第２アナログ−デジタル変換器 ７ 制御部（ＣＰＵ） ８ デジタル−アナログ変換器 ９ サーボ制御部
Claims (2)
- 【請求項１】 フォーカスエラー信号の信号レベルを最
適フォーカス点を表すレベルに調整する光ディスク装置
のフォーカス調整機構であって、ディスク媒体への光ス
ポット照射により前記ディスク媒体の光情報を読み出す
光ピックアップ手段と、前記光情報からトラッキングエ
ラー信号を検出するトラッキングエラー信号検出手段
と、前記光情報からビット再生信号を検出する再生信号
検出手段と、前記トラッキングエラー信号の振幅が最大
となる第１フォーカスオフセット量及び前記再生信号の
振幅が最大となる第２フォーカスオフセット量の間にあ
る中間フォーカスオフセット量を選択し、選択した中間
フォーカスオフセット量に対応した適合オフセットバイ
アス電圧を発生するオフセット量調整手段と、前記適合
オフセットバイアス電圧を重畳したフォーカスバイアス
電圧を用いて前記ディスク媒体を照射する前記光スポッ
トをフォーカスサーボ制御するサーボ制御手段とを備え
ることを特徴とする光ディスク装置のフォーカス調整機
構。 - 【請求項２】 前記中間フォーカスオフセット量は、前
記第１フォーカスオフセット量と前記第２フォーカスオ
フセット量の中間値を示すフォーカスオフセット量であ
ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置の
フォーカス調整機構。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10273436A JP2000099961A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス調整機構 |
| KR1019990031814A KR20000022687A (ko) | 1998-09-28 | 1999-08-03 | 광 디스크 장치의 초점 조정 기구 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10273436A JP2000099961A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス調整機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000099961A true JP2000099961A (ja) | 2000-04-07 |
Family
ID=17527893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10273436A Pending JP2000099961A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス調整機構 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000099961A (ja) |
| KR (1) | KR20000022687A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040032679A (ko) * | 2002-10-10 | 2004-04-17 | 엘지전자 주식회사 | 광디스크 장치의 포커스 바이어스 조정방법 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08279163A (ja) * | 1995-04-06 | 1996-10-22 | Sony Corp | 光ディスク装置およびシーク方法 |
| JPH08287486A (ja) * | 1995-04-18 | 1996-11-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクドライブ装置用制御回路の調整方法 |
| JPH09282678A (ja) * | 1996-04-15 | 1997-10-31 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置及び光ディスクフォーカシング制御方法 |
| KR100447663B1 (ko) * | 1996-09-19 | 2004-11-08 | 엘지전자 주식회사 | Cdp포커스오프셋자동조정장치및그방법 |
| KR100197627B1 (ko) * | 1996-10-31 | 1999-06-15 | 윤종용 | 광디스크서보계에서의 포커스바이어스 자동조절방법 |
| KR100244773B1 (ko) * | 1997-07-26 | 2000-02-15 | 전주범 | 광디스크 플레이어의 옵셋 조정 방법 |
-
1998
- 1998-09-28 JP JP10273436A patent/JP2000099961A/ja active Pending
-
1999
- 1999-08-03 KR KR1019990031814A patent/KR20000022687A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20000022687A (ko) | 2000-04-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040413 |