JP2000088617A - 計測器 - Google Patents

計測器

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JP2000088617A
JP2000088617A JP10261070A JP26107098A JP2000088617A JP 2000088617 A JP2000088617 A JP 2000088617A JP 10261070 A JP10261070 A JP 10261070A JP 26107098 A JP26107098 A JP 26107098A JP 2000088617 A JP2000088617 A JP 2000088617A
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nonvolatile memory
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賢治 荻野
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 メンテナンス性がよい計測器を実現すること
を目的にする。 【解決手段】 本装置は、センサの固有データを格納す
る第１の不揮発メモリをもつセンサ部と、このセンサ部
の出力を入力し、センサの固有データを格納する第２の
不揮発メモリをもち、第１の不揮発メモリまたは第２の
不揮発メモリの一方の固有データにより演算を行うＣＰ
Ｕ部とを有することを特徴とする装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、センサの固有デー
タ、例えば、キャリブレーションデータ、補正データ等
を持つ計測器に関し、メンテナス性がよい計測器に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、センサを有する計測器において
は、そのセンサの固有データ（キャリブレーションデー
タ、補正データ等）を、ＣＰＵボードの不揮発メモリに
センサの固有のデータを保存することが一般的であっ
た。
【０００３】このような装置を図３に示し説明する。図
において、計測器１０は、センサ部２０とＣＰＵボード
（ＣＰＵ部）３０とを有する。センサ部２０は、被計測
対象（図示せず）を計測する。ＣＰＵボード３０は、セ
ンサ部２０からの測定結果を入力し、校正や補正等を行
う。
【０００４】そして、ＣＰＵボード３０は、ＣＰＵ３
１、不揮発メモリ３２、ＲＡＭ３３、ＲＯＭ３４からな
る。不揮発メモリ３２は、センサ部２０のセンサ（図示
せず）の固有データを格納する。ＲＡＭ３３は、データ
を格納する。ＲＯＭ３４は、ＣＰＵ３１のプログラムを
格納する。
【０００５】このような装置の動作を以下に説明する。
センサ部１０は、被計測対象を計測し、計測結果を出力
する。この出力を、ＣＰＵボード３０は入力し、ＲＯＭ
３４に格納されたプログラムにより動作し、不揮発メモ
リ３２に格納された固有データを用いて、計測結果の校
正や補正等を行い、結果をＲＡＭ３３に格納する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】このような装置の場
合、万一故障等が発生してセンサ部２０を交換する必要
があった場合、ＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２内
には旧センサ部２０の固有データが書き込まれている。
そのため、新しいセンサ部２０を取り付けた際に、ＣＰ
Ｕボード３０と組み合わせた状態で、新たに固有データ
を求めた上、そのデータをＣＰＵボード３０の不揮発メ
モリ３２に書き込まなければならなかった。
【０００７】また、同様に、ＣＰＵボード３０を交換す
る必要があった場合も、新たに取り付けたＣＰＵボード
３０の不揮発メモリ３２にはセンサ部２０の固有データ
が書き込まれていないため、双方を組み合わせた状態
で、再度センサ部２０の固有データを求めた上で、その
データをＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２に書き込
まなければならなかった。
【０００８】上記に示した問題点は、特に、光スペクト
ラムモニタなど、センサ部２０として光デバイスを用い
た計測器については、さらに、深刻で、センサ部２０の
固有データを求めるために、専用の治具あるいは光計測
器を必要とするものも多く、また、暗室等で作業をしな
ければならないことや、作業自体に多大な工数を必要と
することが多い。このため、現実的には計測器を納入し
た客先で交換修理をすることは不可能であり、メンテナ
ンス性が非常に悪かった。
【０００９】そこで、本発明の目的は、メンテナンス性
がよい計測器を実現することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、センサの固有
データを格納する第１の不揮発メモリをもつセンサ部
と、このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有デ
ータを格納する第２の不揮発メモリをもち、前記第１の
不揮発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有デ
ータにより演算を行うＣＰＵ部とを有することを特徴と
するものである。
【００１１】このような本発明では、ＣＰＵ部は、第１
の不揮発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有
データにより、演算を行う。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図
３と同一のものは同一符号を付して説明を省略する。図
において、シリアルフラッシュメモリ２１は第２の不揮
発メモリで、センサ部２０に設けられ、センサの固有デ
ータを、例えば、ＬＺ(Lempel-Ziv)方式で圧縮して格納
される。ここで、使用されるシリアルフラッシュメモリ
２１は、例えば、約４．３ｍｍ×２．６ｍｍの小型表面
実装部品で、容量は４ｋ×８ｂｉｔである。
【００１３】このような装置の動作を以下で説明する。
図２は、図１に示す装置の動作を示したフローチャート
である。計測器１０の電源投入後、ＣＰＵ３１は、ＲＯ
Ｍ３４のプログラムに従って、センサ部２０のシリアル
フラッシュメモリ２１の圧縮された固定データを読み出
す。この読み出した固定データを解凍し、ＲＡＭ３３に
格納する。
【００１４】そして、ＲＡＭ３３から解凍した固定デー
タを呼び出し、固定データのサム値により、固定データ
のチェックサムを行う。次に、不揮発メモリ３２の固定
データのチェックサムを行う。
【００１５】両者が異常であるならば、ＲＯＭ３４に書
き込まれている固定データの初期値を、シリアルフラッ
シュメモリ２１に圧縮して書き込みと共に、不揮発メモ
リ３２に書き込む。
【００１６】シリアルフラッシュメモリ２１の固定デー
タが異常で、不揮発メモリ３２の固定データが正常の場
合は、不揮発メモリ３２の固定データを圧縮して、シリ
アルフラッシュメモリ２１にコピーする。
【００１７】シリアルフラッシュメモリ２１の固定デー
タが正常で、不揮発メモリ３２の固定データが異常の場
合は、シリアルフラッシュメモリ２１の固定データを不
揮発メモリ３２にコピーする。
【００１８】両者のチェックサムが正常の場合、それぞ
れ別のデータである可能性があるため、シリアルフラッ
シュメモリ２１と不揮発メモリ３２の固定データを比較
する。比較した結果、データが異なっていた場合は、シ
リアルフラッシュメモリ２１の固定データを優先し、シ
リアルフラッシュメモリ２１の固定データを不揮発メモ
リ３２にコピーする。データが同じの場合、何も行わな
い。
【００１９】ここで、センサ部２０による測定後、ＣＰ
Ｕボード３０による校正、補正等の動作は従来と同様で
ある。つまり、固定データは、不揮発メモリ３２に格納
されたデータを用いる。
【００２０】このように、センサ部２０のシリアルフラ
ッシュメモリ２１とＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３
２とにセンサの固有データを保存しているため、万一故
障が発生したとしても、その故障している側の交換のみ
で、センサの固有データの更新ができる。従って、メン
テナンス性が向上する。
【００２１】例えば、センサ部２０が故障した場合に
は、予め製造調整を行う場所で、センサ部２０のシリア
ルフラッシュメモリ２１にデータを書き込んでおけば、
納入先にてセンサ部２０を交換するのみで、固有データ
の更新ができる。
【００２２】また、センサの固有データを２重化してい
るため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【００２３】そして、圧縮して固定データをセンサ部２
０に格納してので、シリアルフラッシュメモリ２１の容
量を小さくすることができ、シリアルフラッシュメモリ
２１の設置場所の確保が容易に行える。
【００２４】さらに、シリアルフラッシュメモリ２１と
不揮発メモリ３２とに格納される固定データをチェック
し、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼性
が向上する。
【００２５】その上、センサ部２０が光デバイスであれ
ば、メンテナンス性はさらに向上する。
【００２６】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項１によれば、センサ部の第１の不揮発メモリ
とＣＰＵ部の第２の不揮発メモリとに、センサの固有デ
ータを保存しているため、万一故障が発生したとして
も、その故障している側の交換のみで、センサの固有デ
ータの更新ができる。従って、メンテナンス性が向上す
る。
【００２７】また、センサの固有データを２重化してい
るため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【００２８】請求項２によれば、圧縮して固定データを
センサ部に格納してので、第１の不揮発メモリの容量を
小さくすることができ、第１の不揮発メモリの設置場所
の確保が容易に行える。
【００２９】請求項３によれば、第１の不揮発メモリと
第２の不揮発メモリとに格納される固定データをチェッ
クし、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼
性が向上する。
【００３０】請求項４によれば、センサ部が光デバイス
であれば、メンテナンス性はさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャート
である。
【図３】従来の計測器の構成を示した図である。
【符号の説明】
１０ 計測器 ２０ センサ部 ２１ シリアルフラッシュメモリ ３０ ＣＰＵボード ３２ 不揮発メモリ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 センサの固有データを格納する第１の不
    揮発メモリをもつセンサ部と、 このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有データ
    を格納する第２の不揮発メモリをもち、前記第１の不揮
    発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有データ
    により演算を行うＣＰＵ部とを有することを特徴とする
    計測器。
  2. 【請求項２】 第１の不揮発メモリには、固有データを
    圧縮して格納することを特徴とする請求項１記載の計測
    器。
  3. 【請求項３】 ＣＰＵ部は、第１の不揮発メモリと第２
    の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の
    固有データに書き換えることを特徴とする請求項１また
    は２記載の計測器。
  4. 【請求項４】 センサ部は、光デバイスであることを特
    徴とする請求項１〜３記載の計測器。
JP26107098A 1998-09-16 1998-09-16 計測器 Expired - Lifetime JP3554762B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013024816A (ja) * 2011-07-25 2013-02-04 Horiba Advanced Techno Co Ltd 水質分析計、水質分析計用管理装置、水質分析計用プログラム、水質分析計用管理プログラム及び水質分析システム

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