JP2000083926A - 位相感応性ｍｒイメ―ジング方法及び装置 - Google Patents
位相感応性ｍｒイメ―ジング方法及び装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ノイズ及びアーティファクトを効果的に低減
しながら、磁化ベクトルの方向情報を保存するようにし
た位相感応性反転回復ＭＲイメージング法を提供する。 【解決手段】 イメージング対象の被検体に反転回復Ｍ
Ｒシーケンスを印加して１組のＭＲデータを取得し、２
５６×２５６画素行列のような指定されたサイズの画素
行列を有する最初の画像を作成する。次いで、最初の画
像の画素によって与えられた情報から、最初の画像より
は実質的に小さい（例えば６４×６４画素行列の）サイ
ズを持つ位相ベクトル画像を作成する。この位相ベクト
ル画像に領域成長手法を適用して、位相誤差を除去す
る。次いで、位相ベクトル画像を指定された画素行列サ
イズまでズーミングすなわち拡大する。
しながら、磁化ベクトルの方向情報を保存するようにし
た位相感応性反転回復ＭＲイメージング法を提供する。 【解決手段】 イメージング対象の被検体に反転回復Ｍ
Ｒシーケンスを印加して１組のＭＲデータを取得し、２
５６×２５６画素行列のような指定されたサイズの画素
行列を有する最初の画像を作成する。次いで、最初の画
像の画素によって与えられた情報から、最初の画像より
は実質的に小さい（例えば６４×６４画素行列の）サイ
ズを持つ位相ベクトル画像を作成する。この位相ベクト
ル画像に領域成長手法を適用して、位相誤差を除去す
る。次いで、位相ベクトル画像を指定された画素行列サ
イズまでズーミングすなわち拡大する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は一般的に反転回復
（ＩＲ）磁気共鳴（ＭＲ）イメージング法の改良に関す
るものである。より具体的に述べると、本発明は、画像
を再構成する際に最初に取得したデータからの固有位相
(intrinsic phase) 情報を保持するようにした上記タイ
プの方法に関するものである。更により具体的に述べる
と、本発明は、ノイズ及びアーティファクトを効果的に
低減しながら、磁化ベクトルの方向情報を保存するよう
にした上記タイプの方法に関するものである。
（ＩＲ）磁気共鳴（ＭＲ）イメージング法の改良に関す
るものである。より具体的に述べると、本発明は、画像
を再構成する際に最初に取得したデータからの固有位相
(intrinsic phase) 情報を保持するようにした上記タイ
プの方法に関するものである。更により具体的に述べる
と、本発明は、ノイズ及びアーティファクトを効果的に
低減しながら、磁化ベクトルの方向情報を保存するよう
にした上記タイプの方法に関するものである。
【０００２】
【発明の背景】当業者に周知のように、反転回復型のＭ
Ｒパルス・シーケンスは１８０°ＲＦ反転パルスを含
み、その印加から反転回復時間（ＴＩ）後に９０°ＲＦ
パルスが印加される。このようなシーケンスは縦磁化の
範囲が１８０°反転パルスによって２倍になるので優れ
たＴ１コントラストが得られる可能性があるとして永く
認識されてきた。しかしながら、ＩＲシーケンスのこれ
まで最も有効な応用でも、或る特定のＴ１を持つ核種の
抑圧に制限されている。Ｔ１コントラスト強調のために
ＩＲシーケンスを使用することは比較的稀であり、その
理由は主に次の２つの欠点による。第１は、ＩＲシーケ
ンス時間が、長い反転回復時間のために他のイメージン
グ・シーケンスよりも通常かなり長いことであり、マル
チスライス・イメージングの場合には全イメージング時
間が実用的でないほどに長くなる可能性がある。第２
は、或る特定の反転時間で取得された画像が逆のコント
ラストで表示され、従って相対的に長いＴ１の組織が相
対的に短いＴ１の組織よりも明るく現れることがあるこ
とである。この変則的な現象は、市販のＭＲＩスキャナ
で広く使用されている大きさ(magnitude) による再構成
により生じることが知られており、画像の解釈を混乱さ
せ困難にすることが報告されている。
Ｒパルス・シーケンスは１８０°ＲＦ反転パルスを含
み、その印加から反転回復時間（ＴＩ）後に９０°ＲＦ
パルスが印加される。このようなシーケンスは縦磁化の
範囲が１８０°反転パルスによって２倍になるので優れ
たＴ１コントラストが得られる可能性があるとして永く
認識されてきた。しかしながら、ＩＲシーケンスのこれ
まで最も有効な応用でも、或る特定のＴ１を持つ核種の
抑圧に制限されている。Ｔ１コントラスト強調のために
ＩＲシーケンスを使用することは比較的稀であり、その
理由は主に次の２つの欠点による。第１は、ＩＲシーケ
ンス時間が、長い反転回復時間のために他のイメージン
グ・シーケンスよりも通常かなり長いことであり、マル
チスライス・イメージングの場合には全イメージング時
間が実用的でないほどに長くなる可能性がある。第２
は、或る特定の反転時間で取得された画像が逆のコント
ラストで表示され、従って相対的に長いＴ１の組織が相
対的に短いＴ１の組織よりも明るく現れることがあるこ
とである。この変則的な現象は、市販のＭＲＩスキャナ
で広く使用されている大きさ(magnitude) による再構成
により生じることが知られており、画像の解釈を混乱さ
せ困難にすることが報告されている。
【０００３】スピン・エコー又は高速スピン・エコー反
転回復シーケンスで取得された時間領域データの２Ｄフ
ーリエ変換は、一般的に、次式のように表すことが出来
る。 Ｓ(x,y)＝Ｉ(x,y) exp（ｊ（φi(x,y)＋φe(x,y)） （１） 式（１）において、φi(x,y)は励起時点におけるスピン
磁化の符号(sign)によって決定される固有位相である。
従って、φi(x,y)は０又はπのいずれかの値のみを取る
ことが出来る。φe(x,y)は遍在する位相誤差項であり、
これは時間に独立であるが、一般に空間位置により変化
する。φe(x,y)に影響を及ぼす可能性のあるソースとし
は、複素通過帯域ＲＦ受信器フィルタ、データ取得窓の
中心合わせ不良、勾配補償の不良、Ｂ0 磁界の不均一
性、及びＲＦ受信コイルによる位相シフトが挙げられ
る。しかしながら、従来の（通常の）再構成において
は、典型的には大きさのみが使用されている。その結
果、固有位相φi(x,y)及び位相誤差項φe(x,y)の両方
共、従来では無視されていた。Ｉ(x,y) は、通常の大き
さによる再構成で得られているような画像ベクトルの大
きさである。Ｉ(x,y) は、一般に、あるイメージング及
び組織パラメータと共に、初期磁化Ｍ0(x,y)の関数であ
り、次式のように表すことが出来る。
転回復シーケンスで取得された時間領域データの２Ｄフ
ーリエ変換は、一般的に、次式のように表すことが出来
る。 Ｓ(x,y)＝Ｉ(x,y) exp（ｊ（φi(x,y)＋φe(x,y)） （１） 式（１）において、φi(x,y)は励起時点におけるスピン
磁化の符号(sign)によって決定される固有位相である。
従って、φi(x,y)は０又はπのいずれかの値のみを取る
ことが出来る。φe(x,y)は遍在する位相誤差項であり、
これは時間に独立であるが、一般に空間位置により変化
する。φe(x,y)に影響を及ぼす可能性のあるソースとし
は、複素通過帯域ＲＦ受信器フィルタ、データ取得窓の
中心合わせ不良、勾配補償の不良、Ｂ0 磁界の不均一
性、及びＲＦ受信コイルによる位相シフトが挙げられ
る。しかしながら、従来の（通常の）再構成において
は、典型的には大きさのみが使用されている。その結
果、固有位相φi(x,y)及び位相誤差項φe(x,y)の両方
共、従来では無視されていた。Ｉ(x,y) は、通常の大き
さによる再構成で得られているような画像ベクトルの大
きさである。Ｉ(x,y) は、一般に、あるイメージング及
び組織パラメータと共に、初期磁化Ｍ0(x,y)の関数であ
り、次式のように表すことが出来る。
【０００４】 Ｉ(x,y) ＝｜Ｍ0(x,y)[1-2e(-TI/T1)-e(-TR/T1)+2e((-TR-TE/2)/T1)]｜ （２）
【０００５】
【発明の概要】本発明によれば、大きさのみによる再構
成を用いる通常のＭＲイメージングにおける不所望な位
相誤差項とと共に失われる固有位相因子ｅｘｐ（ｊ
φi ）を回復する位相感応性(phase sensitive) ＩＲ画
像再構成法が提供される。式（１）から、３つの未知
項、すなわちＩ(x,y) 、φi(x,y)及びφe(x,y)が含まれ
ていることが判る。しかしながら、φe(x,y)は一般にゆ
っくりと変化する関数であり、φi(x,y)は０又はπのい
ずれかである二値（バイナリ）の値である。従って、単
一のデータ取得により３つの未知のパラメータを決定す
る手法が開発された。
成を用いる通常のＭＲイメージングにおける不所望な位
相誤差項とと共に失われる固有位相因子ｅｘｐ（ｊ
φi ）を回復する位相感応性(phase sensitive) ＩＲ画
像再構成法が提供される。式（１）から、３つの未知
項、すなわちＩ(x,y) 、φi(x,y)及びφe(x,y)が含まれ
ていることが判る。しかしながら、φe(x,y)は一般にゆ
っくりと変化する関数であり、φi(x,y)は０又はπのい
ずれかである二値（バイナリ）の値である。従って、単
一のデータ取得により３つの未知のパラメータを決定す
る手法が開発された。
【０００６】本発明の方法は、イメージング対象の被検
体に反転回復ＭＲシーケンスを印加して、２５６×２５
６行列（マトリクス）のような指定されたサイズの画素
（ピクセル）行列を有する最初の画像を構成するための
１組のＭＲデータを取得するステップを含む。各々の画
素は関連するＭＲ信号及び位相ベクトルを持つ。本発明
の方法は更に、最初の画像の画素によって与えられた情
報から位相ベクトル画像を作成するステップを含み、位
相ベクトル画像は最初の画像よりは実質的に小さく、例
えば６４×６４行列のサイズを持つ。この位相ベクトル
画像に領域成長手法を適用して、位相ベクトル画像から
位相誤差を除去する。次いで、位相ベクトル画像は指定
されたサイズの画素行列までズーミングすなわち拡大す
る。
体に反転回復ＭＲシーケンスを印加して、２５６×２５
６行列（マトリクス）のような指定されたサイズの画素
（ピクセル）行列を有する最初の画像を構成するための
１組のＭＲデータを取得するステップを含む。各々の画
素は関連するＭＲ信号及び位相ベクトルを持つ。本発明
の方法は更に、最初の画像の画素によって与えられた情
報から位相ベクトル画像を作成するステップを含み、位
相ベクトル画像は最初の画像よりは実質的に小さく、例
えば６４×６４行列のサイズを持つ。この位相ベクトル
画像に領域成長手法を適用して、位相ベクトル画像から
位相誤差を除去する。次いで、位相ベクトル画像は指定
されたサイズの画素行列までズーミングすなわち拡大す
る。
【０００７】本発明の好ましい実施態様では、位相ベク
トル画像を作成するために、第１の画素行列を有する第
１の中間画像及び第２の画素行列を有する第２の中間画
像を構成する。第１の中間画像の各々の画素の信号強度
は、最初の画像のうちの負の実数成分を持つ位相ベクト
ルを反転した後に、最初の画像のうちの対応する画素の
グループの信号を選択的に平均することによって導き出
される。同様にして、第２の中間画像の各々の画素の信
号強度は、最初の画像のうちの負の虚数成分を持つ位相
ベクトルを反転した後に、最初の画像のうちの対応する
画素のグループの信号を選択的に平均することによって
導き出される。その後、第１および第２の中間画像は、
位相ベクトル画像を形成するように選択的に処理され
る。好ましくは、このような処理は、第１および第２の
中間画像の対応する画素を比較し、比較された画素のう
ちの振幅の大きい方法の画素を位相ベクトル画像の画素
として選択することを含む。
トル画像を作成するために、第１の画素行列を有する第
１の中間画像及び第２の画素行列を有する第２の中間画
像を構成する。第１の中間画像の各々の画素の信号強度
は、最初の画像のうちの負の実数成分を持つ位相ベクト
ルを反転した後に、最初の画像のうちの対応する画素の
グループの信号を選択的に平均することによって導き出
される。同様にして、第２の中間画像の各々の画素の信
号強度は、最初の画像のうちの負の虚数成分を持つ位相
ベクトルを反転した後に、最初の画像のうちの対応する
画素のグループの信号を選択的に平均することによって
導き出される。その後、第１および第２の中間画像は、
位相ベクトル画像を形成するように選択的に処理され
る。好ましくは、このような処理は、第１および第２の
中間画像の対応する画素を比較し、比較された画素のう
ちの振幅の大きい方法の画素を位相ベクトル画像の画素
として選択することを含む。
【０００８】上記の観点から、本発明の重要な目的は、
固有のコントラスト範囲を回復させると共にコントラス
ト反転現象をなくし、また固有位相因子、すなわち最初
に取得されたデータの固有位相情報を保持し又は回復さ
せると共にこのような情報を不所望の位相誤差から分離
し、またイメージング時間を最適化して、全ての必要な
データが単一のデータ取得で得ることが出来るように
し、また信頼性を改善すると共に手動による又は使用者
による介在を何ら必要としないような、反転回復ＭＲイ
メージング法を提供することである。本発明の他の目的
並びに利点は、添付の図面を参照した以下の説明から容
易に明らかになろう。
固有のコントラスト範囲を回復させると共にコントラス
ト反転現象をなくし、また固有位相因子、すなわち最初
に取得されたデータの固有位相情報を保持し又は回復さ
せると共にこのような情報を不所望の位相誤差から分離
し、またイメージング時間を最適化して、全ての必要な
データが単一のデータ取得で得ることが出来るように
し、また信頼性を改善すると共に手動による又は使用者
による介在を何ら必要としないような、反転回復ＭＲイ
メージング法を提供することである。本発明の他の目的
並びに利点は、添付の図面を参照した以下の説明から容
易に明らかになろう。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１には、ここに述べるようにＭ
Ｒデータを取得するために作動し得るＭＲシステム１０
の基本的構成部品が図示されている。システム１０は、
その円筒形ボア（中孔）内に主磁界すなわち静磁界Ｂ0
を作成する磁石１４と共に、ＲＦ送信コイル１２を含ん
でいる。ＲＦ送信コイル１２は、磁石の中孔内に配置さ
れているイメージング対象の患者などの被検体１６にＲ
Ｆ励起信号を送信して、ＭＲ信号を発生させる。システ
ム１０は更に、直交するＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸に対してＧ
ｘ、Ｇｙ及びＧｚ磁界勾配をそれぞれ作成するＧｘ、Ｇ
ｙ及びＧｚ勾配コイル１８、２０及び２２を含んでい
る。図１は、勾配コイル１８、２０及び２２の各々がＧ
ｘ、Ｇｙ及びＧｚ勾配増幅器２４、２６及び２８によっ
てそれぞれ駆動され、またＲＦ送信コイル１２が送信増
幅器３０によって駆動されることを示している。
Ｒデータを取得するために作動し得るＭＲシステム１０
の基本的構成部品が図示されている。システム１０は、
その円筒形ボア（中孔）内に主磁界すなわち静磁界Ｂ0
を作成する磁石１４と共に、ＲＦ送信コイル１２を含ん
でいる。ＲＦ送信コイル１２は、磁石の中孔内に配置さ
れているイメージング対象の患者などの被検体１６にＲ
Ｆ励起信号を送信して、ＭＲ信号を発生させる。システ
ム１０は更に、直交するＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸に対してＧ
ｘ、Ｇｙ及びＧｚ磁界勾配をそれぞれ作成するＧｘ、Ｇ
ｙ及びＧｚ勾配コイル１８、２０及び２２を含んでい
る。図１は、勾配コイル１８、２０及び２２の各々がＧ
ｘ、Ｇｙ及びＧｚ勾配増幅器２４、２６及び２８によっ
てそれぞれ駆動され、またＲＦ送信コイル１２が送信増
幅器３０によって駆動されることを示している。
【００１０】更に図１には、システム１０にＲＦコイル
４０が設けられることが図示されており、該ＲＦコイル
４０は、被検体１６の領域３６からＭＲ信号を取得する
ために、ＲＦ受信増幅器３８と関連して作動される。シ
ステム１０には更にパルス・シーケンス制御装置３２が
設けられており、該パルス・シーケンス制御装置３２
は、ＲＦ増幅器及び勾配増幅器を制御することによっ
て、複数の組のＭＲ信号を生じさせて取得するためのパ
ルス・シーケンスを発生するように作動される。システ
ム１０はまた、本発明に従って、取得されたデータを処
理するように直ぐに作動できる計算及び処理用電子装置
３４を含む。ＭＲシステム１０のそれぞれの構成部品の
構成、機能及び相互関係は、米国特許第５，６７２，９
６９号明細書に記載されているように従来技術において
周知である。
４０が設けられることが図示されており、該ＲＦコイル
４０は、被検体１６の領域３６からＭＲ信号を取得する
ために、ＲＦ受信増幅器３８と関連して作動される。シ
ステム１０には更にパルス・シーケンス制御装置３２が
設けられており、該パルス・シーケンス制御装置３２
は、ＲＦ増幅器及び勾配増幅器を制御することによっ
て、複数の組のＭＲ信号を生じさせて取得するためのパ
ルス・シーケンスを発生するように作動される。システ
ム１０はまた、本発明に従って、取得されたデータを処
理するように直ぐに作動できる計算及び処理用電子装置
３４を含む。ＭＲシステム１０のそれぞれの構成部品の
構成、機能及び相互関係は、米国特許第５，６７２，９
６９号明細書に記載されているように従来技術において
周知である。
【００１１】本発明の有用な実施態様では、ＭＲシステ
ム１０は、被検体１６の領域３６などデータを取得する
ために通常の反転回復ＭＲパルス・シーケンスに従って
作動される。システム１０は更に、取得されたデータの
高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行い、或いはデータを処
理して最初のすなわち元のＭＲ画像を作成するように作
動される。通常、最初の画像は２５６×２５６行列の画
素（ピクセル）配列を有する。前に述べたように、ＩＲ
画像は関連した固有位相φi(ｘ，ｙ)を持つ。
ム１０は、被検体１６の領域３６などデータを取得する
ために通常の反転回復ＭＲパルス・シーケンスに従って
作動される。システム１０は更に、取得されたデータの
高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行い、或いはデータを処
理して最初のすなわち元のＭＲ画像を作成するように作
動される。通常、最初の画像は２５６×２５６行列の画
素（ピクセル）配列を有する。前に述べたように、ＩＲ
画像は関連した固有位相φi(ｘ，ｙ)を持つ。
【００１２】図２には、Ｘ軸のような空間次元に対して
固有位相φi(ｘ，ｙ)をプロットした曲線２４が示され
ている。前に述べたように、固有位相φi は、ｘ1 、ｘ
2 及びｘ3 におけるように固有位相の逆転又は反転を表
す値０又はπのみを持つことが出来る。しかしながら式
（１）に示されるように、全位相は実際には固有位相φ
i と外部位相項φe(x,y)との和である。外部位相は、図
２において、固有位相曲線２４に重畳された位相成分４
４ａ、４４ｂ及び４４ｃによって表されている。外部位
相成分４４ａ及び４４ｂは、固有位相に関連する大きさ
と比べて小さい。従って、このような成分は間違って固
有位相の反転と解釈されることは殆どない。しかし、外
部位相成分４４ｃは、固有位相と比べてかなり大きい信
号強度を示し、従って、ｘ4 におけるように１つ又はそ
れ以上の固有位相の反転を示していると解釈される可能
性がある。
固有位相φi(ｘ，ｙ)をプロットした曲線２４が示され
ている。前に述べたように、固有位相φi は、ｘ1 、ｘ
2 及びｘ3 におけるように固有位相の逆転又は反転を表
す値０又はπのみを持つことが出来る。しかしながら式
（１）に示されるように、全位相は実際には固有位相φ
i と外部位相項φe(x,y)との和である。外部位相は、図
２において、固有位相曲線２４に重畳された位相成分４
４ａ、４４ｂ及び４４ｃによって表されている。外部位
相成分４４ａ及び４４ｂは、固有位相に関連する大きさ
と比べて小さい。従って、このような成分は間違って固
有位相の反転と解釈されることは殆どない。しかし、外
部位相成分４４ｃは、固有位相と比べてかなり大きい信
号強度を示し、従って、ｘ4 におけるように１つ又はそ
れ以上の固有位相の反転を示していると解釈される可能
性がある。
【００１３】本発明によれば、取得されたデータの信号
対ノイズ比（ＳＮＲ）を増大させることによって、固有
位相に関連するＭＲ信号の強度が外部位相誤差に対して
かなり増大されることが認識された。従って、ＩＲ画像
を構成するのに有用な固有位相情報と歪みを起こさせる
外部位相項φe(x,y)とを区別するのがより一層容易にな
る。更に、元のすなわち最初に取得された画像の画素行
列サイズを小さくすること、従って分解能が小さくなる
が画素のサイズを大きくすることによって、ＳＮＲを増
大できることが認められた。そこで、２５６×２５６画
素行列の最初の画像が、相対的に小さい画素行列（例え
ば、６４×６４画素行列）のサイズの画像に縮小され
る。このような画素行列サイズの縮小は一般には、６４
×６４画素行列の画像の各画素の信号値を、最初の画像
から取った対応する４×４画素配列のそれぞれの信号値
から計算することによって、実施される。縮小された画
像の行列の各画素は、その対応する４×４画素配列の磁
化分布によって決定される関連した位相ベクトルを持
つ。
対ノイズ比（ＳＮＲ）を増大させることによって、固有
位相に関連するＭＲ信号の強度が外部位相誤差に対して
かなり増大されることが認識された。従って、ＩＲ画像
を構成するのに有用な固有位相情報と歪みを起こさせる
外部位相項φe(x,y)とを区別するのがより一層容易にな
る。更に、元のすなわち最初に取得された画像の画素行
列サイズを小さくすること、従って分解能が小さくなる
が画素のサイズを大きくすることによって、ＳＮＲを増
大できることが認められた。そこで、２５６×２５６画
素行列の最初の画像が、相対的に小さい画素行列（例え
ば、６４×６４画素行列）のサイズの画像に縮小され
る。このような画素行列サイズの縮小は一般には、６４
×６４画素行列の画像の各画素の信号値を、最初の画像
から取った対応する４×４画素配列のそれぞれの信号値
から計算することによって、実施される。縮小された画
像の行列の各画素は、その対応する４×４画素配列の磁
化分布によって決定される関連した位相ベクトルを持
つ。
【００１４】図３には、対応する４×４画素領域内の起
こり得る異なる磁化分布によってそれぞれ生じる位相ベ
クトルが示されている。さらに図３には、縮小した６４
×６４画素行列の画像の中の１つの画素について位相ベ
クトルを計算するための異なる方法が示されている。よ
り具体的に述べると、図３の列（ａ）〜（ｄ）の各々は
異なる磁化分布を示し、行（１）〜（４）の各々は異な
る位相ベクトル計算手法を示す（これらについては、以
下に詳しく説明する）。
こり得る異なる磁化分布によってそれぞれ生じる位相ベ
クトルが示されている。さらに図３には、縮小した６４
×６４画素行列の画像の中の１つの画素について位相ベ
クトルを計算するための異なる方法が示されている。よ
り具体的に述べると、図３の列（ａ）〜（ｄ）の各々は
異なる磁化分布を示し、行（１）〜（４）の各々は異な
る位相ベクトル計算手法を示す（これらについては、以
下に詳しく説明する）。
【００１５】図３の行（１）は、６４×６４画素行列の
画像の中の１つの画素のＭＲ信号が、その対応する４×
４配列のそれぞれの画素の信号値の複素平均を取ること
によって直接的に計算される手法に関している。これ
は、４×４画素配列の画素の各々が同じ固有位相φ
i(ｘ，ｙ) を持っている場合には全くよく機能する。こ
れは、例えば、それぞれの配列の画素の信号が正の実数
及び虚数成分を持っている列（ａ）の磁化分布４６の場
合に当てはまる。このような場合には、４×４画素配列
の画素の直接的な平均により位相ベクトル４８ａが生
じ、この位相ベクトルは元のすなわち最初の画像からの
位相情報を正確に保存している。しかしながら、列
（ｂ）〜（ｄ）は異なる磁化分布５０〜５４をそれぞれ
示している。これらの分布の各々は、４×４画素領域か
ら由来し、特定の固有位相の画素のグループを含んでい
ると共に、逆の固有位相の画素のグループも含んでい
る。このような状況は、異なるＴ１を持つ２つの組織の
境界領域におけるＩＲイメージングで生じる。このよう
な画素領域に行（１）の平均手法を適用すると、固有位
相の効果が実質的に相殺されて、４８ｂ〜４８ｄのよう
なごく小さい位相ベクトルが生じる。このように、直接
的な平均手法は、逆の位相の画素を含む４×４画素領域
に適用したとき、位相情報が不確かになるか又は失われ
てしまう。
画像の中の１つの画素のＭＲ信号が、その対応する４×
４配列のそれぞれの画素の信号値の複素平均を取ること
によって直接的に計算される手法に関している。これ
は、４×４画素配列の画素の各々が同じ固有位相φ
i(ｘ，ｙ) を持っている場合には全くよく機能する。こ
れは、例えば、それぞれの配列の画素の信号が正の実数
及び虚数成分を持っている列（ａ）の磁化分布４６の場
合に当てはまる。このような場合には、４×４画素配列
の画素の直接的な平均により位相ベクトル４８ａが生
じ、この位相ベクトルは元のすなわち最初の画像からの
位相情報を正確に保存している。しかしながら、列
（ｂ）〜（ｄ）は異なる磁化分布５０〜５４をそれぞれ
示している。これらの分布の各々は、４×４画素領域か
ら由来し、特定の固有位相の画素のグループを含んでい
ると共に、逆の固有位相の画素のグループも含んでい
る。このような状況は、異なるＴ１を持つ２つの組織の
境界領域におけるＩＲイメージングで生じる。このよう
な画素領域に行（１）の平均手法を適用すると、固有位
相の効果が実質的に相殺されて、４８ｂ〜４８ｄのよう
なごく小さい位相ベクトルが生じる。このように、直接
的な平均手法は、逆の位相の画素を含む４×４画素領域
に適用したとき、位相情報が不確かになるか又は失われ
てしまう。
【００１６】図３の行（２）には、列（ｂ）の磁化分布
５０及び列（ｃ）の磁化分布５４の移相情報を保持する
手法が示されている。このような分布では、４×４画素
領域は逆の虚数成分を持つ画素を含んでいる。行（２）
の平均手法によれば、４×４画素領域の画素の全ての負
の虚数成分が反転される。次いで、得られた配列に複素
平均法を適用して、対応する６４×６４の縮小画像につ
いて位相ベクトルを求める。この手法により、列（ｂ）
及び（ｃ）に関連した画素配列の位相情報を保存する位
相ベクトル５６ｂ及び５６ｃがそれぞれ作成される。し
かし、磁化分布５４並びにそれに関連する位相ベクトル
が実数軸の周りに集まっている場合には、行（２）の平
均手法により作成された位相ベクトル５６ｄによって与
えられる位相情報は、不確かなものになる恐れがある。
５０及び列（ｃ）の磁化分布５４の移相情報を保持する
手法が示されている。このような分布では、４×４画素
領域は逆の虚数成分を持つ画素を含んでいる。行（２）
の平均手法によれば、４×４画素領域の画素の全ての負
の虚数成分が反転される。次いで、得られた配列に複素
平均法を適用して、対応する６４×６４の縮小画像につ
いて位相ベクトルを求める。この手法により、列（ｂ）
及び（ｃ）に関連した画素配列の位相情報を保存する位
相ベクトル５６ｂ及び５６ｃがそれぞれ作成される。し
かし、磁化分布５４並びにそれに関連する位相ベクトル
が実数軸の周りに集まっている場合には、行（２）の平
均手法により作成された位相ベクトル５６ｄによって与
えられる位相情報は、不確かなものになる恐れがある。
【００１７】このような欠点を補償するために、図３の
行（３）に示す手法が用いられる。この手法は、行
（２）の手法と非常によく似ているが、複素平均を行う
前に、虚数成分ではなく、４×４画素配列の負の実数成
分を反転する。行（３）の手法は、磁化分布４６、５０
及び５４の固有位相情報を保持する位相ベクトル５８
ａ、５８ｂ及び５８ｄをそれぞれ提供する。位相ベクト
ル５８ｃは、虚数軸の周りに集まっている分布５２の位
相情報を保持しない。
行（３）に示す手法が用いられる。この手法は、行
（２）の手法と非常によく似ているが、複素平均を行う
前に、虚数成分ではなく、４×４画素配列の負の実数成
分を反転する。行（３）の手法は、磁化分布４６、５０
及び５４の固有位相情報を保持する位相ベクトル５８
ａ、５８ｂ及び５８ｄをそれぞれ提供する。位相ベクト
ル５８ｃは、虚数軸の周りに集まっている分布５２の位
相情報を保持しない。
【００１８】もし２つの６４×６４画素行列の画像を最
初の画像から形成し、その内の一方を行（２）の手法に
従って形成し、他方を行（３）の手法に従って形成した
とすると、これらの２つの画像は元の２５６×２５６画
素行列の画像の全ての位相情報を実質的に含んでいるこ
とになる。そこで、中間のステップとして、このような
２つの６４×６４画素行列の画像を形成する。より具体
的に述べると、これらの２つの中間画像の対応する画素
値を比較し、振幅の大きい方の値を持つ画素を、ハイブ
リッド画像の対応する画素として選択する。図３の行
（４）は、このようにして位相ベクトル５６ｃが磁化分
布５２の位相効果を表すように選択され且つ位相ベクト
ル５６ｄが磁化分布５４の位相効果を表すように選択さ
れていることを示す。
初の画像から形成し、その内の一方を行（２）の手法に
従って形成し、他方を行（３）の手法に従って形成した
とすると、これらの２つの画像は元の２５６×２５６画
素行列の画像の全ての位相情報を実質的に含んでいるこ
とになる。そこで、中間のステップとして、このような
２つの６４×６４画素行列の画像を形成する。より具体
的に述べると、これらの２つの中間画像の対応する画素
値を比較し、振幅の大きい方の値を持つ画素を、ハイブ
リッド画像の対応する画素として選択する。図３の行
（４）は、このようにして位相ベクトル５６ｃが磁化分
布５２の位相効果を表すように選択され且つ位相ベクト
ル５６ｄが磁化分布５４の位相効果を表すように選択さ
れていることを示す。
【００１９】前に述べたように、ＩＲ画像中の固有位相
φi(x,y)は、０又はπのいずれかである二値の値のみを
持ち、外部位相誤差はゆっくりと変化する関数である傾
向がある。従って、式（１）によって表されるような所
与の画素の方向、及び近隣の又は隣接の画素の位相ベク
トルの方向は、これらの２つの画素における組織のＴ１
時間に依存して、それらの近辺の小さい角度範囲内か又
は逆方向の小さい角度範囲内に存在するように拘束され
ているはずである。これに基づいて、本発明の実施態様
の更なるステップとして、２Ｄ領域成長プロセスが、図
３に関連して述べたように構成された６４×６４画素行
列のハイブリッド位相ベクトル画像に適用される。領域
成長プロセスは、固有位相φi(x,y)から外部位相誤差φ
e(x,y)を識別して分離する傾向があり、また滑らかな領
域成長、すなわち隣接の画素間の滑らかな遷移を保証す
る。
φi(x,y)は、０又はπのいずれかである二値の値のみを
持ち、外部位相誤差はゆっくりと変化する関数である傾
向がある。従って、式（１）によって表されるような所
与の画素の方向、及び近隣の又は隣接の画素の位相ベク
トルの方向は、これらの２つの画素における組織のＴ１
時間に依存して、それらの近辺の小さい角度範囲内か又
は逆方向の小さい角度範囲内に存在するように拘束され
ているはずである。これに基づいて、本発明の実施態様
の更なるステップとして、２Ｄ領域成長プロセスが、図
３に関連して述べたように構成された６４×６４画素行
列のハイブリッド位相ベクトル画像に適用される。領域
成長プロセスは、固有位相φi(x,y)から外部位相誤差φ
e(x,y)を識別して分離する傾向があり、また滑らかな領
域成長、すなわち隣接の画素間の滑らかな遷移を保証す
る。
【００２０】図４には、前に述べたような６４×６４画
素行列のハイブリッド位相ベクトル画像の一部分６０が
示されている。領域成長プロセスによれば、位相ベクト
ル画像６０の中の１つの画素、例えば画素６２を、最初
にランダムに「シード(seed)」画素として選択する。次
いで、画素６２の位相ベクトル６４と近隣の画素６８の
位相ベクトルとの間の角度θ1 を決定する。そこで、θ
1 を２つの角度範囲０°±θ0 及びπ±θ0 と比較し、
θ1 の値がそのいずれかの角度範囲内にあるかどうか判
定する。θ0 は比較的小さい値、例えば、１５°乃至２
５°程度の値に選択される。図４に示す例では、画素６
８の位相ベクトル６６は、θ1 が角度範囲０°±θ0 内
にあるような方向を持っている。これは外部位相誤差が
最小であり、且つ近隣の画素６２及び６８の間の遷移が
滑らかであることを示している。そこで、画素６８をシ
ード画素として選択して、その位相ベクトル６６と、未
だ領域成長プロセスを適用していない１つ又はそれ以上
の近隣の画素の位相ベクトルとの間の角度を決定する。
素行列のハイブリッド位相ベクトル画像の一部分６０が
示されている。領域成長プロセスによれば、位相ベクト
ル画像６０の中の１つの画素、例えば画素６２を、最初
にランダムに「シード(seed)」画素として選択する。次
いで、画素６２の位相ベクトル６４と近隣の画素６８の
位相ベクトルとの間の角度θ1 を決定する。そこで、θ
1 を２つの角度範囲０°±θ0 及びπ±θ0 と比較し、
θ1 の値がそのいずれかの角度範囲内にあるかどうか判
定する。θ0 は比較的小さい値、例えば、１５°乃至２
５°程度の値に選択される。図４に示す例では、画素６
８の位相ベクトル６６は、θ1 が角度範囲０°±θ0 内
にあるような方向を持っている。これは外部位相誤差が
最小であり、且つ近隣の画素６２及び６８の間の遷移が
滑らかであることを示している。そこで、画素６８をシ
ード画素として選択して、その位相ベクトル６６と、未
だ領域成長プロセスを適用していない１つ又はそれ以上
の近隣の画素の位相ベクトルとの間の角度を決定する。
【００２１】更に図４には、新しいシード画素６８の位
相ベクトル６６とその隣の画素７２の位相ベクトル７０
との間の角度θ2 が示されている。θ2 は角度範囲π±
θ0内にあることが判る。そこで、画素７２をシード画
素として選択する。この場合、画素７２の固有位相は画
素６８の固有位相に対して反転されたものであると認識
される。
相ベクトル６６とその隣の画素７２の位相ベクトル７０
との間の角度θ2 が示されている。θ2 は角度範囲π±
θ0内にあることが判る。そこで、画素７２をシード画
素として選択する。この場合、画素７２の固有位相は画
素６８の固有位相に対して反転されたものであると認識
される。
【００２２】更に図４には、画素７２の位相ベクトル７
０とその近隣の画素７６の位相ベクトル７４との間の角
度θ3 が示されている。θ3 は両方の角度範囲０°±θ
0 及びπ±θ0 の外側にあることが判る。そこで、画素
７６はシード画素とはならない。その代わりに、画素７
２をシード画素として使用し続け、その位相ベクトル７
０を別の画素８０の位相ベクトル７８と、前に述べたよ
うに比較して、画素７２又は８０をその後のシード画素
として使用すべきかどうか判定する。
０とその近隣の画素７６の位相ベクトル７４との間の角
度θ3 が示されている。θ3 は両方の角度範囲０°±θ
0 及びπ±θ0 の外側にあることが判る。そこで、画素
７６はシード画素とはならない。その代わりに、画素７
２をシード画素として使用し続け、その位相ベクトル７
０を別の画素８０の位相ベクトル７８と、前に述べたよ
うに比較して、画素７２又は８０をその後のシード画素
として使用すべきかどうか判定する。
【００２３】上述の領域成長プロセスでは、シード画素
のベクトルの方向と比較される画素のベクトルの方向と
の間の角度差が角度閾値０°±θ0 内にあれば、比較さ
れる画素のexp（ｊφi(x,y)） は値が変更されず、exp
（ｊφe(x,y)） は式（１）に示されているようにその
値を保持する。また角度差が角度閾値π±θ0 内にある
場合には、exp（ｊφi(x,y)） 及びexp（ｊφe(x,y)）
は両方ともその符号が変わる。θ0 の値は、理論的に
は、位相誤差の空間変動の範囲に依存する。しかし、実
際上、前に述べたように１５°と２５°との間のθ0 値
が不要な中断もなく滑らかな領域成長を保証すると思わ
れる。使用される正確なθ0 値は、それが９０°よりも
かなり小さく（従って、人為的な傾きが発生されず）且
つノイズ・レベルより大きい（従って、領域成長が滑ら
かに処理される）限り、余り重要ではない。
のベクトルの方向と比較される画素のベクトルの方向と
の間の角度差が角度閾値０°±θ0 内にあれば、比較さ
れる画素のexp（ｊφi(x,y)） は値が変更されず、exp
（ｊφe(x,y)） は式（１）に示されているようにその
値を保持する。また角度差が角度閾値π±θ0 内にある
場合には、exp（ｊφi(x,y)） 及びexp（ｊφe(x,y)）
は両方ともその符号が変わる。θ0 の値は、理論的に
は、位相誤差の空間変動の範囲に依存する。しかし、実
際上、前に述べたように１５°と２５°との間のθ0 値
が不要な中断もなく滑らかな領域成長を保証すると思わ
れる。使用される正確なθ0 値は、それが９０°よりも
かなり小さく（従って、人為的な傾きが発生されず）且
つノイズ・レベルより大きい（従って、領域成長が滑ら
かに処理される）限り、余り重要ではない。
【００２４】図５及び図６は合わせて、本発明の一実施
態様による方法のステップをまとめた流れ図を示す。最
初に、プロセス・ブロック８２に示されているように、
ＩＲシーケンスにより１組のＭＲデータを取得して、指
定された画素行列サイズ、例えば２５６×２５６画素行
列の画像を形成する。この最初の画像のデータを使用し
て、２つの６４×６４画素行列の中間画像を構成する。
これらの手順は図５のプロセス・ブロック８４及び８６
に示されており、また図３の行（２）及び（３）に関連
してそれぞれ前に述べた通りである。２つの中間画像の
データを用いて、プロセス・ブロック８８に示されてい
るように、また図３の行（４）に関連して前に述べたよ
うにして、６４×６４画素行列のハイブリッド位相ベク
トル画像を形成する。６４×６４画素行列サイズに縮小
された位相ベクトル画像は、元の（すなわち最初の）２
５６×２５６画素行列の画像よりも実質的に大きいＳＮ
Ｒを持つ。同時に、プロセス・ブロック８８の位相ベク
トル画像は、元の（すなわち最初の）画像の固有位相情
報を保存している。
態様による方法のステップをまとめた流れ図を示す。最
初に、プロセス・ブロック８２に示されているように、
ＩＲシーケンスにより１組のＭＲデータを取得して、指
定された画素行列サイズ、例えば２５６×２５６画素行
列の画像を形成する。この最初の画像のデータを使用し
て、２つの６４×６４画素行列の中間画像を構成する。
これらの手順は図５のプロセス・ブロック８４及び８６
に示されており、また図３の行（２）及び（３）に関連
してそれぞれ前に述べた通りである。２つの中間画像の
データを用いて、プロセス・ブロック８８に示されてい
るように、また図３の行（４）に関連して前に述べたよ
うにして、６４×６４画素行列のハイブリッド位相ベク
トル画像を形成する。６４×６４画素行列サイズに縮小
された位相ベクトル画像は、元の（すなわち最初の）２
５６×２５６画素行列の画像よりも実質的に大きいＳＮ
Ｒを持つ。同時に、プロセス・ブロック８８の位相ベク
トル画像は、元の（すなわち最初の）画像の固有位相情
報を保存している。
【００２５】更に図５及び図６の流れ図について説明す
ると、プロセス・ブロック９０は、図４に関連して前に
述べたように、ハイブリッド位相ベクトル画像に適用さ
れる領域成長手法を示している。領域成長手法は、それ
ぞれの画素について固有位相φi(x,y)から外部位相誤差
φe(x,y)を識別して分離して、隣接する画素間の滑らか
な角度連続性を保証する。
ると、プロセス・ブロック９０は、図４に関連して前に
述べたように、ハイブリッド位相ベクトル画像に適用さ
れる領域成長手法を示している。領域成長手法は、それ
ぞれの画素について固有位相φi(x,y)から外部位相誤差
φe(x,y)を識別して分離して、隣接する画素間の滑らか
な角度連続性を保証する。
【００２６】領域成長後の全体の符号を決定するため、
プロセス・ブロック９２で、全磁化が選択されたＴＩに
応じて正または負であることが要求される。このステッ
プは、位相ベクトル画像が正しいコントラストを示すこ
とを保証するために不可欠である。すなわち、位相ベク
トル画像のそれぞれの位相ベクトルの意図しない反転の
結果として画像の明るい領域及び暗い領域が誤って反転
されることのないようにすることが必須である。このよ
うなステップは、プロセス・ブロック９４によって部分
的に実施される。プロセス・ブロック９４では、図３の
行（１）に関連して前に述べたように、元の２５６×２
５６画素行列の画像のそれぞれの４×４画素配列を単純
に平均することによって、６４×６４画素行列の画像が
構成される。このような画像によって与えられる情報は
プロセス・ブロック９２で使用して、正しいコントラス
トを保証するために位相ベクトル画像のそれぞれの画素
の位相ベクトルを反転すべきか又はそのままにしておく
べきかを決定する。
プロセス・ブロック９２で、全磁化が選択されたＴＩに
応じて正または負であることが要求される。このステッ
プは、位相ベクトル画像が正しいコントラストを示すこ
とを保証するために不可欠である。すなわち、位相ベク
トル画像のそれぞれの位相ベクトルの意図しない反転の
結果として画像の明るい領域及び暗い領域が誤って反転
されることのないようにすることが必須である。このよ
うなステップは、プロセス・ブロック９４によって部分
的に実施される。プロセス・ブロック９４では、図３の
行（１）に関連して前に述べたように、元の２５６×２
５６画素行列の画像のそれぞれの４×４画素配列を単純
に平均することによって、６４×６４画素行列の画像が
構成される。このような画像によって与えられる情報は
プロセス・ブロック９２で使用して、正しいコントラス
トを保証するために位相ベクトル画像のそれぞれの画素
の位相ベクトルを反転すべきか又はそのままにしておく
べきかを決定する。
【００２７】プロセス・ブロック９２の手順の完了後、
プロセス・ブロック９６で示されているように、位相ベ
クトル画像が元の（すなわち最初の）画像のサイズすな
わち２５６×２５６画素行列まで拡大すなわちズーミン
グされる。この拡大された画像には、プロセス・ブロッ
ク９８に示されているように、低域通過フィルタ処理が
適用される。この段階で、領域成長手法を行う際に訪れ
ていない画素について滑らかな空間的角度連続性を要求
することによって外部位相誤差exp（ｊφe(x,y)） が決
定される。最終出力、すなわち位相に感応性のＩＲ画像
は、フィルタリング後の位相ベクトル画像の複素共役を
乗算した後の元の画像の実数部を取ることによって作成
される。この手順がプロセス・ブロック１００に示され
ている。ここで、図５及び図６に示されているデータ処
理方法全体が完全に自動化されて手動による開示を何ら
必要としないことに留意されたい。
プロセス・ブロック９６で示されているように、位相ベ
クトル画像が元の（すなわち最初の）画像のサイズすな
わち２５６×２５６画素行列まで拡大すなわちズーミン
グされる。この拡大された画像には、プロセス・ブロッ
ク９８に示されているように、低域通過フィルタ処理が
適用される。この段階で、領域成長手法を行う際に訪れ
ていない画素について滑らかな空間的角度連続性を要求
することによって外部位相誤差exp（ｊφe(x,y)） が決
定される。最終出力、すなわち位相に感応性のＩＲ画像
は、フィルタリング後の位相ベクトル画像の複素共役を
乗算した後の元の画像の実数部を取ることによって作成
される。この手順がプロセス・ブロック１００に示され
ている。ここで、図５及び図６に示されているデータ処
理方法全体が完全に自動化されて手動による開示を何ら
必要としないことに留意されたい。
【００２８】前に述べたように、通常のＩＲシーケンス
の欠点の１つは全イメージング時間がかなり長いことで
あり、これはマルチスライス・イメージングのためには
許容できない程である。通常のＩＲシーケンスでは、所
与のスライスについて反転パルス及びイメージング・パ
ルスの両方が作用され、すなわち発生され、その後、別
のスライスについてのパルスが作用される。ＴＩが長い
とき、ＴＩ時間中にかなりの時間が無駄になる。
の欠点の１つは全イメージング時間がかなり長いことで
あり、これはマルチスライス・イメージングのためには
許容できない程である。通常のＩＲシーケンスでは、所
与のスライスについて反転パルス及びイメージング・パ
ルスの両方が作用され、すなわち発生され、その後、別
のスライスについてのパルスが作用される。ＴＩが長い
とき、ＴＩ時間中にかなりの時間が無駄になる。
【００２９】図７には、長いＴＩ時間を使用するＩＲイ
メージングのためのインターリーブ・モードが示されて
いる。このような取得モードは、「分散インターリーブ
型(distributed interleave)」と称されることがあり、
通常のＩＲシーケンスよりも時間効率が良い。図７は、
第１のスライス（スライス１）のイメージングに関連し
て、反転パルス１０２、及びそれから反転時間（ＴＩ）
1 後に続く第１スライス取得パルス１０４を示してい
る。反転時間（ＴＩ）1 中に、スライス２に関連する反
転パルス１０６及びスライス３に関連する反転パルス１
０８が発生される。スライス２についての画像取得パル
ス１１０が反転パルス１０６から時間（ＴＩ）2 後に生
じ、スライス３についての画像取得パルス１１２が反転
パルス１０８から時間（ＴＩ）3 後に生じる。
メージングのためのインターリーブ・モードが示されて
いる。このような取得モードは、「分散インターリーブ
型(distributed interleave)」と称されることがあり、
通常のＩＲシーケンスよりも時間効率が良い。図７は、
第１のスライス（スライス１）のイメージングに関連し
て、反転パルス１０２、及びそれから反転時間（ＴＩ）
1 後に続く第１スライス取得パルス１０４を示してい
る。反転時間（ＴＩ）1 中に、スライス２に関連する反
転パルス１０６及びスライス３に関連する反転パルス１
０８が発生される。スライス２についての画像取得パル
ス１１０が反転パルス１０６から時間（ＴＩ）2 後に生
じ、スライス３についての画像取得パルス１１２が反転
パルス１０８から時間（ＴＩ）3 後に生じる。
【００３０】図７の取得モードにおいて、２つの異なる
スライスの反転パルスの相互間の時間（期間）は使用さ
れていない。この時間が高速スピン・エコー走査におけ
るように長い場合には、図８に示されているような修正
されたインターリーブ型取得を用いることができ、これ
は「分散インターリーブ型」と称される。この構成で
は、特定のスライスについての反転パルスが他の２つの
スライスについてのイメージング・パルスの相互間に配
置される。具体的に述べると、図８は、スライスｎに関
連して、反転パルス１０２、及びそれから反転時間（Ｔ
Ｉ）1 後に続く画像取得パルスを示している。反転時間
（ＴＩ）1 中に、スライスｎ＋１に関連する反転パルス
１１６及びスライスｎ＋２に関連する反転パルス１１８
がそれぞれの発生される。図８は更に、画像取得パルス
１２０がまた反転時間（ＴＩ）1 中に生じ、詳しくは反
転パルス１１４及び１１６の間にインターリーブされる
ことを示しており、更にまた画像取得パルス１２２が反
転パルス１１６及び１１８の間に生じることを示してい
る。画像取得パルス１２０及び１２２はスライスｎ−２
及びｎ−１にそれぞれ関連するものであり、それらに関
連する反転パルス（図示されていない）は反転パルス１
１４よりも前に発生されている。
スライスの反転パルスの相互間の時間（期間）は使用さ
れていない。この時間が高速スピン・エコー走査におけ
るように長い場合には、図８に示されているような修正
されたインターリーブ型取得を用いることができ、これ
は「分散インターリーブ型」と称される。この構成で
は、特定のスライスについての反転パルスが他の２つの
スライスについてのイメージング・パルスの相互間に配
置される。具体的に述べると、図８は、スライスｎに関
連して、反転パルス１０２、及びそれから反転時間（Ｔ
Ｉ）1 後に続く画像取得パルスを示している。反転時間
（ＴＩ）1 中に、スライスｎ＋１に関連する反転パルス
１１６及びスライスｎ＋２に関連する反転パルス１１８
がそれぞれの発生される。図８は更に、画像取得パルス
１２０がまた反転時間（ＴＩ）1 中に生じ、詳しくは反
転パルス１１４及び１１６の間にインターリーブされる
ことを示しており、更にまた画像取得パルス１２２が反
転パルス１１６及び１１８の間に生じることを示してい
る。画像取得パルス１２０及び１２２はスライスｎ−２
及びｎ−１にそれぞれ関連するものであり、それらに関
連する反転パルス（図示されていない）は反転パルス１
１４よりも前に発生されている。
【００３１】上述の方法では、位相感応性反転回復にお
ける画像強度は物理的な磁化に比例する（非線形動作は
何ら含まれない）。従って、唯一つの特定のＴ１よりは
むしろ全範囲のＴ１を持つ組織が、適切な反転時間ＴＩ
を選び且つ単純な閾値を位相感応性ＩＲ画像に適用する
ことによって、効果的に抑圧されることが理解されよ
う。すなわち、閾値よりも小さいＴ１を持つ組織、或い
は代替的に閾値よりも大きいＴ１を持つ組織は特定の極
性（例えば、負）の磁化を持つ。ここで、閾値はＴＩの
選択によって決定される。次いで、このようなＴ１範囲
内の全ての組織は画像の構成の際に容易に抑圧するか又
は除外することが出来る。
ける画像強度は物理的な磁化に比例する（非線形動作は
何ら含まれない）。従って、唯一つの特定のＴ１よりは
むしろ全範囲のＴ１を持つ組織が、適切な反転時間ＴＩ
を選び且つ単純な閾値を位相感応性ＩＲ画像に適用する
ことによって、効果的に抑圧されることが理解されよ
う。すなわち、閾値よりも小さいＴ１を持つ組織、或い
は代替的に閾値よりも大きいＴ１を持つ組織は特定の極
性（例えば、負）の磁化を持つ。ここで、閾値はＴＩの
選択によって決定される。次いで、このようなＴ１範囲
内の全ての組織は画像の構成の際に容易に抑圧するか又
は除外することが出来る。
【００３２】上記の教示に従って他の多くの改変及び変
更が可能である。従って、本発明は、ここに開示した概
念の範囲内で、具体的に述べたもの以外のやり方で実施
し得ることを理解されたい。
更が可能である。従って、本発明は、ここに開示した概
念の範囲内で、具体的に述べたもの以外のやり方で実施
し得ることを理解されたい。
【図１】本発明の一態様を実施する際に使用されるＭＲ
システムの基本的な構成要素を示す概略構成図である。
システムの基本的な構成要素を示す概略構成図である。
【図２】本発明の対象とする問題を例示するグラフであ
る。
る。
【図３】本発明の一実施態様についての位相ベクトル画
像の構成を示すグラフである。
像の構成を示すグラフである。
【図４】本発明の一実施態様についての領域成長プロセ
スに関する説明図である。
スに関する説明図である。
【図５】本発明の一実施態様による方法のそれぞれのス
テップを示す流れ図の一部である。
テップを示す流れ図の一部である。
【図６】本発明の一実施態様による方法のそれぞれのス
テップを示す流れ図の残りの部分である。
テップを示す流れ図の残りの部分である。
【図７】本発明の一態様に関連して使用されるマルチス
ライスＩＲイメージングのためのインターリーブ・モー
ドを示す流れ図である。
ライスＩＲイメージングのためのインターリーブ・モー
ドを示す流れ図である。
【図８】本発明の一態様に関連して使用されるマルチス
ライスＩＲイメージングのためのインターリーブ・モー
ドを示す流れ図である。
ライスＩＲイメージングのためのインターリーブ・モー
ドを示す流れ図である。
１０ ＭＲシステム １２ ＲＦ送信コイル １４ 磁石 １６ 被検体 １８ Ｇｘ勾配コイル ２０ Ｇｙ勾配コイル ２２ Ｇｚ勾配コイル ２４ Ｇｘ勾配増幅器 ２６ Ｇｙ勾配増幅器 ２８ Ｇｚ勾配増幅器 ３０ 送信増幅器 ３２ パルス・シーケンス制御装置 ３４ 計算及び処理用電子装置 ３８ ＲＦ受信増幅器 ４０ ＲＦコイル ４６、５０、５２、５４ 磁化分布 ４８、５６、５８ 位相ベクトル ６０ 位相ベクトル画像 ６２、６８、７２、７６、８０ 画素 ６４、６６、７０、７４、７８ 位相ベクトル
Claims (19)
- 【請求項１】 被検体に反転回復ＭＲシーケンスを印加
して、各々の画素が関連するＭＲ信号及び位相ベクトル
を持っている指定されたサイズの画素行列を有する最初
の画像を構成するための１組のＭＲデータを取得するス
テップと、 前記最初の画像の画素によって与えられた情報から、前
記指定されたサイズよりも実質的に小さいサイズの画素
行列を有する位相ベクトル画像を作成するステップと、 前記位相ベクトル画像に領域成長手法を適用して、前記
位相ベクトル画像から位相誤差を除去するステップと、 前記位相ベクトル画像を前記指定されたサイズの画素行
列まで拡大するステップと、を有していることを特徴と
する位相感応性ＭＲイメージング方法。 - 【請求項２】 前記位相ベクトル画像を作成するステッ
プは、 第１の画素行列を有する第１の中間画像であって、該第
１の画素行列の各々の画素が、前記最初の画像のうちの
負の実数成分を持つ位相ベクトルを反転した後に、前記
最初の画像のうちの対応する画素のグループの信号を選
択的に平均することによって導き出された信号強度を持
っている第１の中間画像を構成するステップと、 第２の画素行列を有する第２の中間画像であって、該第
２の画素行列の各々の画素が、前記最初の画像のうちの
負の虚数成分を持つ位相ベクトルを反転した後に、前記
最初の画像のうちの対応する画素のグループの信号を選
択的に平均することによって導き出された信号強度を持
っている第２の中間画像を構成するステップと、 前記第１および第２の中間画像を選択的に処理して、前
記位相ベクトル画像を形成するステップと、を有してい
る請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 前記前記第１および第２の中間画像を選
択的に処理するステップは、前記第１および第２の中間
画像の対応する画素を比較し、該比較された画素のうち
の振幅の大きい方の画素を前記位相ベクトル画像の画素
として選択することを有している請求項２記載の方法。 - 【請求項４】 前記領域成長手法は、 前記位相ベクトル画像の中の１つの画素をランダムにシ
ード画素として選択するステップと、 前記シード画素の位相ベクトルと前記位相ベクトル画像
の中の近隣の画素の位相ベクトルとの間の角度が第１又
は第２の角度範囲内にあるかどうか判定するステップ
と、 前記角度が前記第１の角度範囲内にある場合には、前記
近隣の画素をその後に使用するためのシード画素として
選択するステップと、 前記角度が前記第２の角度範囲内にある場合には、前記
近隣の画素の位相ベクトルを反転して、該画素をその後
に使用するためのシード画素として選択するステップ
と、 前記角度が前記第１の角度範囲内にも又前記第２の角度
範囲内にもない場合には、前記近隣の画素をシード画素
として使用しないステップと、を含んでいる請求項３記
載の方法。 - 【請求項５】 前記拡大された位相ベクトル画像に低域
通過フィルタを適用して、該画像からノイズを除去する
請求項４記載の方法。 - 【請求項６】 前記最初の画像の画素行列が、前記フィ
ルタの適用を受けた位相ベクトル画像と組み合わされ
て、位相補正された位相感応性反転回復画像を構成する
請求項５記載の方法。 - 【請求項７】 前記方法がマルチスライス・イメージン
グに用いられ、前記データがイメージング時間の短縮の
ために分散インターリーブ型データ取得法に従って取得
される請求項６記載の方法。 - 【請求項８】 前記反転回復ＭＲシーケンスにおける反
転時間が、前記位相感応性反転回復画像における特定の
範囲内のＴ１を持つ組織を実質的に抑圧するように選択
されており、該特定の範囲は前記選択された反転時間よ
りも選択的に小さい又は大きいＴ１を含んでいる請求項
６記載の方法。 - 【請求項９】 前記第１の角度範囲は０°±θ0 であ
り、前記第２の角度範囲はπ±θ0 であり、θ0 は９０
°より実質的に小さい選ばれた角度である請求項４記載
の方法。 - 【請求項１０】 前記θ0 がほぼ２０°±１０°の範囲
内から選ばれている請求項９記載の方法。 - 【請求項１１】 前記最初の画像の画素行列の前記指定
されたサイズが２５６×２５６であり、前記位相ベクト
ル画像のサイズが６４×６４である請求項４記載の方
法。 - 【請求項１２】 被検体に反転回復ＭＲシーケンスを印
加して、指定されたサイズの画素行列を有する最初の画
像を構成するための１組のＭＲデータを取得するステッ
プであって、所与のスライスについての前記反転回復Ｍ
Ｒシーケンスが、特定の反転回復パルス及びそれに続く
特定の反転時間の後の１組の対応する取得パルスを含ん
でいるステップと、 前記最初の画像の画素によって与えられた情報から、前
記指定されたサイズよりも実質的に小さいサイズの画素
行列を有する位相ベクトル画像を作成するステップと、 前記位相ベクトル画像に領域成長手法を適用して、前記
位相ベクトル画像から位相誤差を除去するステップと、 前記位相ベクトル画像を前記指定されたサイズの画素行
列まで拡大するステップと、を有していることを特徴と
する位相感応性マルチスライスＭＲイメージング方法。 - 【請求項１３】 前記方法は、前記特定の反転時間中
に、前記所与のスライスの後に続く複数のスライスにそ
れぞれ関連した複数の反転回復パルスを発生するステッ
プを含んでいる請求項１２記載の方法。 - 【請求項１４】 前記方法は、前記特定の反転時間中
に、前記所与のスライスの後に続く複数のスライスにそ
れぞれ関連した複数の反転回復パルスを、前記所与のス
ライスの前にある複数のスライスにそれぞれ関連した複
数の取得パルスとインターリーブするステップを含んで
いる請求項１２記載の方法。 - 【請求項１５】 被検体に反転回復ＭＲシーケンスを印
加して、指定されたサイズの画素行列を有する最初の画
像を構成するための１組のＭＲデータを取得するように
配置されている１組のＭＲ構成要素と、 前記ＭＲデータを受け取って、前記最初の画像の画素に
よって与えられた情報から、前記指定されたサイズより
も実質的に小さいサイズの画素行列を有する位相ベクト
ル画像を作成するデータ処理装置であって、前記位相ベ
クトル画像に領域成長手法を適用して、前記位相ベクト
ル画像から位相誤差を除去するように配置されているデ
ータ処理装置と、 分散インターリーブ型モードでデータを取得するように
前記ＭＲ構成要素を作動するパルス・シーケンス制御装
置と、を有していることを特徴とするＭＲイメージング
装置。 - 【請求項１６】 前記データ処理装置は、第１の画素行
列を有する第１の中間画像であって、該第１の画素行列
の各々の画素が、前記最初の画像のうちの負の実数成分
を持つ位相ベクトルを反転した後に、前記最初の画像の
うちの対応する画素のグループの信号を選択的に平均す
ることによって導き出された信号強度を持っている第１
の中間画像を構成すると共に、第２の画素行列を有する
第２の中間画像であって、該第２の画素行列の各々の画
素が、前記最初の画像のうちの負の虚数成分を持つ位相
ベクトルを反転した後に、前記最初の画像のうちの対応
する画素のグループの信号を選択的に平均することによ
って導き出された信号強度を持っている第２の中間画像
を構成する機能を有している請求項１５記載のＭＲイメ
ージング装置。 - 【請求項１７】 前記データ処理装置は、前記第１およ
び第２の中間画像から前記位相ベクトル画像を形成する
機能を有している請求項１６記載のＭＲイメージング装
置。 - 【請求項１８】 前記データ処理装置は、前記第１およ
び第２の中間画像の対応する画素を比較し、該比較され
た画素のうちの振幅の大きい方の画素を前記位相ベクト
ル画像の画素として選択する機能を有している請求項１
７記載のＭＲイメージング装置。 - 【請求項１９】 前記イメージング装置は、前記位相ベ
クトル画像を拡大スク機能を有しており、更に前記拡大
された位相ベクトル画像からノイズを除去するように配
置された低域通過フィルタを含んでいる請求項１８記載
のＭＲイメージング装置。
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|---|---|
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001120514A (ja) * | 1999-10-22 | 2001-05-08 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | 位相分布測定方法および装置、位相補正方法および装置、並びに、磁気共鳴撮像装置 |
| US7474392B2 (en) | 2003-10-24 | 2009-01-06 | Staalkat International B.V. | Inspection device for objects with a spherical surface |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7548787B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-06-16 | Kamilo Feher | Medical diagnostic and communication system |
| JP3454760B2 (ja) * | 1999-10-22 | 2003-10-06 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 位相分布測定方法および装置、位相補正方法および装置、並びに、磁気共鳴撮像装置 |
| WO2005055136A2 (en) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method and apparatus for phase-sensitive magnetic resonance imaging |
| US7166999B2 (en) * | 2004-03-05 | 2007-01-23 | Invivo Corporation | Method and apparatus for serial array excitation for high field magnetic resonance imaging |
| FR2933194B1 (fr) * | 2008-06-26 | 2010-08-13 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de quantification des contaminants particulaires de surface par analyse amelioree |
| US8446148B2 (en) * | 2008-08-29 | 2013-05-21 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Long T1 artifact suppression techniques for magnetic resonance imaging |
| DE102010061970B4 (de) * | 2010-11-25 | 2013-05-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer MR-systembedingten Phaseninformation |
| CN103748478B (zh) * | 2011-04-21 | 2017-07-28 | 皇家飞利浦有限公司 | 同时的非对比mr血管造影与斑块内出血（snap）mr成像 |
| WO2012151551A2 (en) * | 2011-05-04 | 2012-11-08 | Oregon Health And Science University | Method and apparatus for using magnetic resonance imaging for cartilage assessment and monitoring |
| US9449386B2 (en) | 2012-02-28 | 2016-09-20 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method and apparatus for extended phase correction in phase sensitive magnetic resonance imaging |
| JP6581584B2 (ja) | 2013-12-19 | 2019-09-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 水／脂肪分離を用いた位相感応型反転回復ｍｒｉ |
| US9931082B2 (en) | 2015-07-31 | 2018-04-03 | General Electric Company | Time optimal phase sensitive inversion recovery reconstruction for magnetic resonance imaging |
| WO2017113208A1 (zh) * | 2015-12-30 | 2017-07-06 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种磁共振化学位移编码成像方法、装置及设备 |
| US20170294033A1 (en) * | 2016-04-06 | 2017-10-12 | Varex Imaging Corporation | Dose efficient x-ray detector and method |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4777620A (en) * | 1985-02-20 | 1988-10-11 | Elscint Ltd. | Data compression system |
| NL8602019A (nl) * | 1986-08-07 | 1988-03-01 | Philips Nv | Magnetische resonantiewerkwijze en -inrichting voor het elimineren van fasefouten in beeldelementen van een complexe afbeelding van een kernmagnetisatieverdeling. |
| JPS6434344A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Hitachi Ltd | Phase correcting method in magnetic resonance imaging apparatus |
| NL8703127A (nl) * | 1987-12-24 | 1989-07-17 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het genereren van vervlochten multiple-slice en multiple-echo pulssequenties voor mri. |
| US5596659A (en) * | 1992-09-01 | 1997-01-21 | Apple Computer, Inc. | Preprocessing and postprocessing for vector quantization |
| US5933540A (en) * | 1995-05-11 | 1999-08-03 | General Electric Company | Filter system and method for efficiently suppressing noise and improving edge definition in a digitized image |
| US5621321A (en) * | 1995-11-06 | 1997-04-15 | Picker International, Inc. | Magnetic resonance scan calibration method for ultra-fast image acquisition |
| JP3585139B2 (ja) * | 1996-02-19 | 2004-11-04 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴診断装置における流速計算装置 |
| US5982916A (en) * | 1996-09-30 | 1999-11-09 | Siemens Corporate Research, Inc. | Method and apparatus for automatically locating a region of interest in a radiograph |
| US5943433A (en) * | 1996-12-30 | 1999-08-24 | General Electric Company | Method for correcting inhomogeneity of spatial intensity in an aquired MR image |
| US5864233A (en) * | 1997-02-22 | 1999-01-26 | General Electric Company | Method to reduce eddy current effects in diffusion-weighted echo planar imaging |
| US6016057A (en) * | 1998-04-17 | 2000-01-18 | General Electric Company | System and method for improved water and fat separation using a set of low resolution MR images |
-
1998
- 1998-09-01 US US09/145,092 patent/US6192263B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-08-26 DE DE69933911T patent/DE69933911T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-26 EP EP99306781A patent/EP0984294B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-27 JP JP24069299A patent/JP4433344B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001120514A (ja) * | 1999-10-22 | 2001-05-08 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | 位相分布測定方法および装置、位相補正方法および装置、並びに、磁気共鳴撮像装置 |
| JP4558866B2 (ja) * | 1999-10-22 | 2010-10-06 | Ｇｅヘルスケア・ジャパン株式会社 | 位相分布測定方法および装置、位相補正方法および装置、並びに、磁気共鳴撮像装置 |
| US7474392B2 (en) | 2003-10-24 | 2009-01-06 | Staalkat International B.V. | Inspection device for objects with a spherical surface |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| DE69933911T2 (de) | 2007-09-06 |
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