JP2000055824A - 穴のある平面プレートの傷検査装置 - Google Patents
穴のある平面プレートの傷検査装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、穴のある平面プレートの傷検査装置
における設備コストの低減、検出速度の向上、及び、検
出精度の向上を目的とする。 【解決手段】本発明の傷検査装置は、カメラ２と、照明
４と、画像処理装置６とを有する。カメラは、平面プレ
ート１の表面の正面図が写るように、平面プレートと正
対して配設される。照明は、平面プレートの表面に光を
投射する。画像処理装置は、傷又は穴と識別される領域
の数と実際の穴の数が一致しない場合に、傷ありと判定
する。また、一致する場合においては、更に所定の特徴
量と正常な平面プレートの対応する特徴量とが、一致し
ない場合に傷ありと判定し、これが一致する場合に傷な
しと判定する。なお、かかる特徴量を領域の外周長とす
ることによって傷の検出精度が向上する。
における設備コストの低減、検出速度の向上、及び、検
出精度の向上を目的とする。 【解決手段】本発明の傷検査装置は、カメラ２と、照明
４と、画像処理装置６とを有する。カメラは、平面プレ
ート１の表面の正面図が写るように、平面プレートと正
対して配設される。照明は、平面プレートの表面に光を
投射する。画像処理装置は、傷又は穴と識別される領域
の数と実際の穴の数が一致しない場合に、傷ありと判定
する。また、一致する場合においては、更に所定の特徴
量と正常な平面プレートの対応する特徴量とが、一致し
ない場合に傷ありと判定し、これが一致する場合に傷な
しと判定する。なお、かかる特徴量を領域の外周長とす
ることによって傷の検出精度が向上する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、平面プレート表面
の傷の有無を検出する傷検査装置に関する。
の傷の有無を検出する傷検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】平面プレートの傷検査装置は、平面プレ
ート１０（被検査プレート）の平面画像を取込むカメラ
１２と、平面プレート１０に光を照射する照明１４と、
カメラ１２に取込まれる画像を基に傷の有無を検出する
画像処理装置１６とを有する。
ート１０（被検査プレート）の平面画像を取込むカメラ
１２と、平面プレート１０に光を照射する照明１４と、
カメラ１２に取込まれる画像を基に傷の有無を検出する
画像処理装置１６とを有する。
【０００３】図３に示すように、カメラ１２は、平面プ
レート１０と正対するように配設され、平面プレート１
０の平面画像を、濃淡を有する白黒の画像であるグレー
画像で取込む。照明１４は、平面プレート１０の法線方
向に配設される。これにより、平面プレート１０の傷の
ない正常な表面（ａ）は、照明光（ｔ）がほぼ正反射
（ｕ）してカメラ１２に入射するので明るく写るが、平
面プレート１０の傷（ｂ）は、傷の凹凸によって光が散
乱（ｖ）し、その周囲の正常な表面（ａ）よりも暗く写
る。また、平面プレートの穴（ｃ）は、照明光（ｔ）が
穴を通って裏面に貫ける（ｗ）ので最も暗く写る。
レート１０と正対するように配設され、平面プレート１
０の平面画像を、濃淡を有する白黒の画像であるグレー
画像で取込む。照明１４は、平面プレート１０の法線方
向に配設される。これにより、平面プレート１０の傷の
ない正常な表面（ａ）は、照明光（ｔ）がほぼ正反射
（ｕ）してカメラ１２に入射するので明るく写るが、平
面プレート１０の傷（ｂ）は、傷の凹凸によって光が散
乱（ｖ）し、その周囲の正常な表面（ａ）よりも暗く写
る。また、平面プレートの穴（ｃ）は、照明光（ｔ）が
穴を通って裏面に貫ける（ｗ）ので最も暗く写る。
【０００４】このグレー画像を画像処理装置１６に入力
し微分２値化処理を行う。図４に示すように、微分２値
化処理は、明るさの変化の傾きに、ある一定のしきい値
を設けて２値化する処理で、例えば、傷（ｂ）のある部
分では、傷（ｂ）自体の色とその周囲の正常な表面
（ａ）の色と間で、明るさが変化している領域を白で抽
出し、明るさが変化しない傷（ｂ）自体と正常な表面
（ａ）とを黒で抽出することができる。従って、傷
（ａ）はその周囲が浮き出た状態で抽出され実際よりも
太く写る。同様に穴（ｃ）の部分は、穴（ｃ）と正常な
表面（ａ）との間で明るさが変化している領域を白で抽
出し、明るさが変化しない穴（ｃ）と正常な表面（ａ）
とを黒で抽出することができる。
し微分２値化処理を行う。図４に示すように、微分２値
化処理は、明るさの変化の傾きに、ある一定のしきい値
を設けて２値化する処理で、例えば、傷（ｂ）のある部
分では、傷（ｂ）自体の色とその周囲の正常な表面
（ａ）の色と間で、明るさが変化している領域を白で抽
出し、明るさが変化しない傷（ｂ）自体と正常な表面
（ａ）とを黒で抽出することができる。従って、傷
（ａ）はその周囲が浮き出た状態で抽出され実際よりも
太く写る。同様に穴（ｃ）の部分は、穴（ｃ）と正常な
表面（ａ）との間で明るさが変化している領域を白で抽
出し、明るさが変化しない穴（ｃ）と正常な表面（ａ）
とを黒で抽出することができる。
【０００５】その後、例えば、上述の被検査プレートの
微分２値化画像と、予め記憶させた傷のない正常なプレ
ートの微分２値化画像とを比較するパターンマッチング
処理を行う。被検査プレートに傷があれば、正常なプレ
ートと違いが生じるので、その違いによって傷の有無を
判別する。または、上述の被検査プレートの微分２値化
画像に白塊ランド計測処理（白い部分の面積を一つずつ
算出する処理。）を行い、予め記憶させた正常なプレー
トの白塊ランド計測処理の値と比較することによって、
傷の有無を判別する。
微分２値化画像と、予め記憶させた傷のない正常なプレ
ートの微分２値化画像とを比較するパターンマッチング
処理を行う。被検査プレートに傷があれば、正常なプレ
ートと違いが生じるので、その違いによって傷の有無を
判別する。または、上述の被検査プレートの微分２値化
画像に白塊ランド計測処理（白い部分の面積を一つずつ
算出する処理。）を行い、予め記憶させた正常なプレー
トの白塊ランド計測処理の値と比較することによって、
傷の有無を判別する。
【０００６】パターンマッチングは、予め記憶させた傷
のないＡＴバルブプレートの処理画像と、被検査ＡＴバ
ルブプレートの処理画像とを比較し、その違いによって
傷の有無を判別するものである。また、白塊ランド処理
は、正常なＡＴバルブプレートの処理画面と、被検査Ａ
Ｔバルブプレートにおいて、それぞれ白色で表示される
各領域の面積の計算値を比較して傷の有無を判別するも
のである。
のないＡＴバルブプレートの処理画像と、被検査ＡＴバ
ルブプレートの処理画像とを比較し、その違いによって
傷の有無を判別するものである。また、白塊ランド処理
は、正常なＡＴバルブプレートの処理画面と、被検査Ａ
Ｔバルブプレートにおいて、それぞれ白色で表示される
各領域の面積の計算値を比較して傷の有無を判別するも
のである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述の傷検査装置で
は、平面プレートに穴が形成されたものでは、穴の領域
の形状が、傷の有無に関係なく一致するので、パターン
マッチングや白塊ランド計測処理では、傷のない正常な
プレートと、傷のあるプレートとを充分な精度で判別す
ることが難しい。また、パターンマッチング処理で傷の
判定処理を行う場合、充分な検査精度を得るために、高
価な画像処理装置が必要となるので、設備コストが向上
する。
は、平面プレートに穴が形成されたものでは、穴の領域
の形状が、傷の有無に関係なく一致するので、パターン
マッチングや白塊ランド計測処理では、傷のない正常な
プレートと、傷のあるプレートとを充分な精度で判別す
ることが難しい。また、パターンマッチング処理で傷の
判定処理を行う場合、充分な検査精度を得るために、高
価な画像処理装置が必要となるので、設備コストが向上
する。
【０００８】そこで、本発明は、穴のある平面プレート
の傷検査装置における設備コストの低減、検出速度の向
上、及び、検出精度の向上を目的とする。
の傷検査装置における設備コストの低減、検出速度の向
上、及び、検出精度の向上を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る穴のある平
面プレートの傷検査装置は、所定の穴が形成された平面
プレートの表面の傷の有無を検査する傷検査装置におい
て、平面プレートの検査面と正対して配設され、平面プ
レートの検査面の平面画像を取込む画像取込手段と、平
面プレートの検査面に光を投射する照明手段と、画像取
込手段によって取込まれる平面プレートの検査面の平面
画像を入力画像とし、傷の輝度値と正常なプレート表面
の輝度値との間に第一のしきい値を設け、かつ、正常な
プレート表面の輝度値と穴の輝度値との間に第二のしき
い値を設けることによって、平面プレートの平面画像の
うち傷又は穴を示す画素と、正常なプレート表面を示す
画素とを区別する２値化処理手段と、２値化処理手段に
よって得られる２値化画像において、傷又は穴と識別さ
れる領域の数と、実際の平面プレートの穴の数とが一致
しない場合に、傷ありと判定する傷判定手段とを有する
ものである。
面プレートの傷検査装置は、所定の穴が形成された平面
プレートの表面の傷の有無を検査する傷検査装置におい
て、平面プレートの検査面と正対して配設され、平面プ
レートの検査面の平面画像を取込む画像取込手段と、平
面プレートの検査面に光を投射する照明手段と、画像取
込手段によって取込まれる平面プレートの検査面の平面
画像を入力画像とし、傷の輝度値と正常なプレート表面
の輝度値との間に第一のしきい値を設け、かつ、正常な
プレート表面の輝度値と穴の輝度値との間に第二のしき
い値を設けることによって、平面プレートの平面画像の
うち傷又は穴を示す画素と、正常なプレート表面を示す
画素とを区別する２値化処理手段と、２値化処理手段に
よって得られる２値化画像において、傷又は穴と識別さ
れる領域の数と、実際の平面プレートの穴の数とが一致
しない場合に、傷ありと判定する傷判定手段とを有する
ものである。
【００１０】また、傷判定手段は、２値化処理手段によ
って得られる２値化画像において、傷又は穴と識別され
る領域の数と実際の平面プレートの穴の数とが一致しな
い場合に、傷ありと判定し、傷又は穴と識別される領域
の数と、実際の平面プレートの穴の数とが一致する場合
に、更に、傷又は穴と識別される領域の他の特徴量と、
傷のない正常な平面プレートの対応する特徴量とが一致
する場合に傷なしと判定し、また一致しない場合に傷あ
りと判定するものとしても良い。これによって、傷の検
出精度を向上させることができる。かかる特徴量には、
傷又は穴と識別される領域の外周長、面積又は重心など
がある。
って得られる２値化画像において、傷又は穴と識別され
る領域の数と実際の平面プレートの穴の数とが一致しな
い場合に、傷ありと判定し、傷又は穴と識別される領域
の数と、実際の平面プレートの穴の数とが一致する場合
に、更に、傷又は穴と識別される領域の他の特徴量と、
傷のない正常な平面プレートの対応する特徴量とが一致
する場合に傷なしと判定し、また一致しない場合に傷あ
りと判定するものとしても良い。これによって、傷の検
出精度を向上させることができる。かかる特徴量には、
傷又は穴と識別される領域の外周長、面積又は重心など
がある。
【００１１】なお、特徴量は、傷又は穴と識別される領
域の外周長であることが好ましい。
域の外周長であることが好ましい。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の傷検査装置の一実
施形態を図面に基づいて説明する。
施形態を図面に基づいて説明する。
【００１３】図１に示すように、この傷検査装置は、複
数のバルブ穴（Ｃ）が形成されたＡＴバルブプレート１
の表面の傷の有無を検査するもので、カメラ２と、照明
４と、画像処理装置６とを有する。
数のバルブ穴（Ｃ）が形成されたＡＴバルブプレート１
の表面の傷の有無を検査するもので、カメラ２と、照明
４と、画像処理装置６とを有する。
【００１４】なお、図１において、一点鎖線は照明から
の照明光を示し、破線は正反射光を示し、二点鎖線は散
乱光を示す。
の照明光を示し、破線は正反射光を示し、二点鎖線は散
乱光を示す。
【００１５】ＡＴバルブプレート１は、傷検査装置の所
定位置において検査面を下に向けて配設される。カメラ
２は、ＡＴバルブプレート１の検査面の平面図が写るよ
うに、ＡＴバルブプレート１の真下においてＡＴバルブ
プレート１と正対して配設される。照明４は、ＡＴバル
ブプレート１の検査面に斜めから光を投射し、かつ、そ
の照明光（ｏ）の正反射光が直接カメラ２に入射しない
ように、ＡＴバルブプレート１の斜め下方において、２
個の照明４がカメラ２を挟んで対象に配設される。
定位置において検査面を下に向けて配設される。カメラ
２は、ＡＴバルブプレート１の検査面の平面図が写るよ
うに、ＡＴバルブプレート１の真下においてＡＴバルブ
プレート１と正対して配設される。照明４は、ＡＴバル
ブプレート１の検査面に斜めから光を投射し、かつ、そ
の照明光（ｏ）の正反射光が直接カメラ２に入射しない
ように、ＡＴバルブプレート１の斜め下方において、２
個の照明４がカメラ２を挟んで対象に配設される。
【００１６】ＡＴバルブプレート１の傷のない正常な表
面（Ａ）は、照明光（ｏ）の入射角度と同じ角度で反射
する正反射光（ｐ）が、カメラ２に直接入射しないの
で、比較的暗く写る。これに対して、傷のある部分
（Ｂ）は、照明光（ｏ）が傷（Ｂ）の縁に当たって散乱
し、この散乱光の一部（ｑ）が直接カメラ２に入射する
ので明るく写る。また、バルブ穴の部分（Ｃ）は、照明
光（ｒ）が穴を通って裏面側に貫けるので最も暗く写る
が、バルブ穴の外縁（Ｄ）は、傷の部分（Ｂ）と同様に
照明光（ｏ）が散乱し、その一部（ｓ）が直接カメラに
入射するので明るく写る。
面（Ａ）は、照明光（ｏ）の入射角度と同じ角度で反射
する正反射光（ｐ）が、カメラ２に直接入射しないの
で、比較的暗く写る。これに対して、傷のある部分
（Ｂ）は、照明光（ｏ）が傷（Ｂ）の縁に当たって散乱
し、この散乱光の一部（ｑ）が直接カメラ２に入射する
ので明るく写る。また、バルブ穴の部分（Ｃ）は、照明
光（ｒ）が穴を通って裏面側に貫けるので最も暗く写る
が、バルブ穴の外縁（Ｄ）は、傷の部分（Ｂ）と同様に
照明光（ｏ）が散乱し、その一部（ｓ）が直接カメラに
入射するので明るく写る。
【００１７】これによって、後記表１に示すように傷≒
バルブ穴外縁＞正常な表面＞バルブ穴の順で明るさが異
なるグレー画像が得られる。
バルブ穴外縁＞正常な表面＞バルブ穴の順で明るさが異
なるグレー画像が得られる。
【００１８】ＡＴバルブプレート１の傷の部分（Ｂ）
は、散乱光によって周囲より明るく写り、また、光が散
乱するため実際よりも太く写る。この場合、傷（Ｂ）の
深さ等に関係なくその縁で光が散乱するので、カメラ２
は小さな傷も洩らさずに捉えることができる。
は、散乱光によって周囲より明るく写り、また、光が散
乱するため実際よりも太く写る。この場合、傷（Ｂ）の
深さ等に関係なくその縁で光が散乱するので、カメラ２
は小さな傷も洩らさずに捉えることができる。
【００１９】次に、このグレー画像を画像処理装置６に
入力し、傷（Ｂ）又はバルブ穴外縁（Ｄ）を示す輝度値
と、正常な表面（Ａ）の輝度値とを分けるある一定の輝
度値に第一のしきい値を設け、正常な表面（Ａ）の輝度
値とバルブ穴（Ｃ）の輝度値とを分けるある一定の輝度
値における第二のしきい値とを設け、グレー画像を２値
化処理をする。これによって、図２（ａ）に示すよう
に、傷（Ｂ）、バルブ穴（Ｃ）、及び、バルブ穴外縁
（Ｄ）を示す画素を白、正常な表面（Ａ）を示す画素を
黒で区別する２値化画像が得られる。なお、図３は実際
のＡＴバルブプレートの平面図を示す。
入力し、傷（Ｂ）又はバルブ穴外縁（Ｄ）を示す輝度値
と、正常な表面（Ａ）の輝度値とを分けるある一定の輝
度値に第一のしきい値を設け、正常な表面（Ａ）の輝度
値とバルブ穴（Ｃ）の輝度値とを分けるある一定の輝度
値における第二のしきい値とを設け、グレー画像を２値
化処理をする。これによって、図２（ａ）に示すよう
に、傷（Ｂ）、バルブ穴（Ｃ）、及び、バルブ穴外縁
（Ｄ）を示す画素を白、正常な表面（Ａ）を示す画素を
黒で区別する２値化画像が得られる。なお、図３は実際
のＡＴバルブプレートの平面図を示す。
【００２０】ここで、輝度値は、明るさのレベルを示す
値をいう。
値をいう。
【００２１】次に傷の有無は、まず、上記２値化処理画
像において傷（Ｂ）又はバルブ穴（Ｃ）として識別され
る白色領域の数を算出し、予め、画像処理装置６に記憶
した実際のＡＴバルブプレートのバルブ穴（Ｃ）の数と
比較する。このとき、傷（Ｂ）がバルブ穴（Ｃ）と独立
して存在すると、２値化画像において白色領域の数が増
え、また、傷（Ｂ）の両端が異なるバルブ穴（Ｃ）とそ
れぞれ連続すると、２値化画像において白色領域の数が
減るので、白色領域の数と実際のバルブ穴 （Ｃ）の数
が一致しない場合は" 傷あり" と判定できる。
像において傷（Ｂ）又はバルブ穴（Ｃ）として識別され
る白色領域の数を算出し、予め、画像処理装置６に記憶
した実際のＡＴバルブプレートのバルブ穴（Ｃ）の数と
比較する。このとき、傷（Ｂ）がバルブ穴（Ｃ）と独立
して存在すると、２値化画像において白色領域の数が増
え、また、傷（Ｂ）の両端が異なるバルブ穴（Ｃ）とそ
れぞれ連続すると、２値化画像において白色領域の数が
減るので、白色領域の数と実際のバルブ穴 （Ｃ）の数
が一致しない場合は" 傷あり" と判定できる。
【００２２】しかし、図２に示すように、この２値化処
理画像では傷（Ｂ）とバルブ穴（Ｃ）を区別せずに、白
色領域で認識するため、傷（Ｂ）の一端がバルブ穴
（Ｃ）と連続し、かつ、傷（Ｂ）の他端が他のバルブ穴
（Ｃ）と連続しない場合は、２値化処理画像において白
色領域の数が変わらずに実際のバルブ穴（Ｃ）の数と一
致し、また両端が異なる２つのバルブ穴（Ｃ）と連続す
る傷（Ｂ）が一本あり、独立して存在する傷（Ｂ）が一
本ある場合は、２値化画像において互いに白色領域の数
の増減が相殺されて白色領域の数と実際のバルブ穴
（Ｃ）の数が一致するなど、白色領域の数と実際のバル
ブ穴（Ｃ）の数が一致するときでも、特別な条件で傷
（Ｂ）が存在する可能性がある。
理画像では傷（Ｂ）とバルブ穴（Ｃ）を区別せずに、白
色領域で認識するため、傷（Ｂ）の一端がバルブ穴
（Ｃ）と連続し、かつ、傷（Ｂ）の他端が他のバルブ穴
（Ｃ）と連続しない場合は、２値化処理画像において白
色領域の数が変わらずに実際のバルブ穴（Ｃ）の数と一
致し、また両端が異なる２つのバルブ穴（Ｃ）と連続す
る傷（Ｂ）が一本あり、独立して存在する傷（Ｂ）が一
本ある場合は、２値化画像において互いに白色領域の数
の増減が相殺されて白色領域の数と実際のバルブ穴
（Ｃ）の数が一致するなど、白色領域の数と実際のバル
ブ穴（Ｃ）の数が一致するときでも、特別な条件で傷
（Ｂ）が存在する可能性がある。
【００２３】そこで、図４に示すように、この画像処理
装置６の判定処理では、２値化処理画像における白色領
域の数と実際のバルブ穴の数が一致する場合に、更に上
記２値化処理画像における白色領域の外周長を算出し、
予め記憶した傷のないＡＴバルブプレートの同様の２値
化処理画像における白色領域の外周長と比較する。これ
により、白色領域の外周長が一致する場合は" 傷なし"
と判定でき、白色領域の外周長が一致しない場合は" 傷
あり" と判定できる。なお、白色領域の外周長が一致す
るか否かは、厳格に判定するものではなく、画像処理に
おける２値化の誤差を考慮し、ある一定の幅をもって判
定することが適当である。
装置６の判定処理では、２値化処理画像における白色領
域の数と実際のバルブ穴の数が一致する場合に、更に上
記２値化処理画像における白色領域の外周長を算出し、
予め記憶した傷のないＡＴバルブプレートの同様の２値
化処理画像における白色領域の外周長と比較する。これ
により、白色領域の外周長が一致する場合は" 傷なし"
と判定でき、白色領域の外周長が一致しない場合は" 傷
あり" と判定できる。なお、白色領域の外周長が一致す
るか否かは、厳格に判定するものではなく、画像処理に
おける２値化の誤差を考慮し、ある一定の幅をもって判
定することが適当である。
【００２４】なお、この判定処理において、白色領域の
外周長の比較を行えば、傷がある場合と、傷がない場合
とで、傷の外周長がその差として現れるので、他の白色
領域に比べ傷の存在を判定することが容易に行える。
外周長の比較を行えば、傷がある場合と、傷がない場合
とで、傷の外周長がその差として現れるので、他の白色
領域に比べ傷の存在を判定することが容易に行える。
【００２５】この判定処理では、まず白色領域の数が実
際のバルブ穴の数と一致しない場合は、その段階で" 傷
あり" と判定でき、傷が上述したような特殊な場合を除
き、白色領域の外周長を算出し、傷の有無を判定する処
理が省略できるので判定処理の速度が向上する。また、
白色領域の数や白色領域の外周長の算出は、比較的安価
な画像処理装置でも充分な精度で算出することができる
ので、傷検査装置の設備費用を低減することができる。
際のバルブ穴の数と一致しない場合は、その段階で" 傷
あり" と判定でき、傷が上述したような特殊な場合を除
き、白色領域の外周長を算出し、傷の有無を判定する処
理が省略できるので判定処理の速度が向上する。また、
白色領域の数や白色領域の外周長の算出は、比較的安価
な画像処理装置でも充分な精度で算出することができる
ので、傷検査装置の設備費用を低減することができる。
【００２６】以上、本発明にかかる穴のある平面プレー
トの傷検査装置をＡＴバルブプレートに適用した実施形
態について説明したが、本発明の傷検査装置はこれに限
定されるものではない。
トの傷検査装置をＡＴバルブプレートに適用した実施形
態について説明したが、本発明の傷検査装置はこれに限
定されるものではない。
【００２７】例えば、本発明の傷検査装置は、ＡＴバル
ブプレートに限定されず、穴のある種々の平面プレート
の傷検査装置として適用できる。
ブプレートに限定されず、穴のある種々の平面プレート
の傷検査装置として適用できる。
【００２８】また、照明の位置は、平面プレートの検査
面の平面画像において、正常な表面の輝度値と、傷の輝
度値とがある一定のしきい値で分けることができる範囲
内で、カメラの位置や平面プレートの位置に応じて任意
の位置に設定できる。
面の平面画像において、正常な表面の輝度値と、傷の輝
度値とがある一定のしきい値で分けることができる範囲
内で、カメラの位置や平面プレートの位置に応じて任意
の位置に設定できる。
【００２９】次に、他の判定処理について説明する。な
お、画像処理装置における２値化処理は、上述の判定処
理と同様であるので、重複する説明を省略する。
お、画像処理装置における２値化処理は、上述の判定処
理と同様であるので、重複する説明を省略する。
【００３０】図５に示すように、この判定処理では、左
右横方向に引かれた第一走査線Ｘを、上記２地下処理画
像において上下縦方向に上から下に走査させ、第一走査
線Ｘの一定位置において白色領域が走査方向にどれだけ
連続しているかを計測する。白色領域（Ｂ，Ｃ，Ｄ）が
ある一定の長さ以上縦方向に連続していれば、その白色
領域は" 穴" と判定でき、また、ある一定の長さ連続し
ていなければ、その白色領域は" 傷" と判定できる。
右横方向に引かれた第一走査線Ｘを、上記２地下処理画
像において上下縦方向に上から下に走査させ、第一走査
線Ｘの一定位置において白色領域が走査方向にどれだけ
連続しているかを計測する。白色領域（Ｂ，Ｃ，Ｄ）が
ある一定の長さ以上縦方向に連続していれば、その白色
領域は" 穴" と判定でき、また、ある一定の長さ連続し
ていなければ、その白色領域は" 傷" と判定できる。
【００３１】なお、上下縦方向の傷が存在する場合は、
傷が第一走査線Ｘの走査方向に一致するので、その白色
領域が" 傷" と判定されない。そのため、第一走査線Ｘ
を走査し、傷が発見されない場合は、更に上下縦方向に
引かれた第二走査線Ｙを左右横方向に左から右へ走査
し、縦方向の傷の有無を判定する。
傷が第一走査線Ｘの走査方向に一致するので、その白色
領域が" 傷" と判定されない。そのため、第一走査線Ｘ
を走査し、傷が発見されない場合は、更に上下縦方向に
引かれた第二走査線Ｙを左右横方向に左から右へ走査
し、縦方向の傷の有無を判定する。
【００３２】この判定処理では、縦方向に傷が存在する
場合を除き、第一走査線Ｘによって大半の傷が判定でき
るので、傷の判定処理の速度を向上させることができ
る。また、走査線によって画素の白と黒を判定させる処
理は、比較的安価な画像処理装置でも充分な精度できる
ので、傷検査装置の設備費用を低減することができる。
なお、上述の第一走査線と第二走査線の走査の順番は、
入れ替えても良い。
場合を除き、第一走査線Ｘによって大半の傷が判定でき
るので、傷の判定処理の速度を向上させることができ
る。また、走査線によって画素の白と黒を判定させる処
理は、比較的安価な画像処理装置でも充分な精度できる
ので、傷検査装置の設備費用を低減することができる。
なお、上述の第一走査線と第二走査線の走査の順番は、
入れ替えても良い。
【００３３】
【発明の効果】本発明の傷検査装置は、２値化処理によ
って傷又は穴と識別される領域の数と、実際の平面プレ
ートの穴の数とが一致しない場合に、傷がある場合を判
定することができ、この領域の数を充分な精度で算出で
きる比較的安価な画像処理装置によって実現できるの
で、傷判定装置の設備コストを低減することができる。
って傷又は穴と識別される領域の数と、実際の平面プレ
ートの穴の数とが一致しない場合に、傷がある場合を判
定することができ、この領域の数を充分な精度で算出で
きる比較的安価な画像処理装置によって実現できるの
で、傷判定装置の設備コストを低減することができる。
【００３４】また、上記の場合に傷の判定ができない場
合においてのみ、傷又は穴と識別される領域の所定の特
徴量を、正常な平面プレートにおける対応する特徴量と
比較すればよいので、傷の検査速度が向上する。
合においてのみ、傷又は穴と識別される領域の所定の特
徴量を、正常な平面プレートにおける対応する特徴量と
比較すればよいので、傷の検査速度が向上する。
【００３５】また、傷又は穴と識別される領域の特徴量
として、この領域の外周長を用いれば、傷がある場合と
ない場合で、傷の外周分だけ計測値に違いが生じるの
で、傷の検出精度を向上させることができる。
として、この領域の外周長を用いれば、傷がある場合と
ない場合で、傷の外周分だけ計測値に違いが生じるの
で、傷の検出精度を向上させることができる。
【００３６】
【表１】
【図１】本発明の一実施形態に係る傷検査装置の概略図
である。
である。
【図２】本発明の一実施形態に係る傷検査装置における
２値化画像を示す図面である。
２値化画像を示す図面である。
【図３】本発明の一実施形態に係るＡＴバルブプレート
の平面図である。
の平面図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る傷検査装置の画像処
理装置の処理手順を示す流れ図である。
理装置の処理手順を示す流れ図である。
【図５】走査線によって傷の有無を判定する傷検査装置
の判定処理画像を示す図面である。
の判定処理画像を示す図面である。
【図６】傷検査装置の概略図である。
【図７】傷検査装置における平面プレートの微分２値化
画像を示す図面である。
画像を示す図面である。
【符号の説明】 １ ＡＴバルブプレート ２ カメラ ４ 照明 ６ 画像処理装置 Ａ ＡＴバルブプレートの正常な表面 Ｂ 傷 Ｃ バルブ穴 Ｄ バルブ穴の縁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA61 BB13 DD03 DD06 FF04 FF44 GG12 HH12 JJ03 JJ26 QQ04 QQ07 QQ08 QQ24 QQ25 RR09 2G051 AA90 AB07 BA01 BA20 BB05 CA03 CA04 CB05 EA11 EA14 EB01 EB02
Claims (3)
- 【請求項１】所定の穴が形成された平面プレートの表面
の傷の有無を検査する傷検査装置において、 上記平面プレートの検査面と正対して配設され、平面プ
レートの検査面の平面画像を取込む画像取込手段と、 上記平面プレートの検査面に光を投射する照明手段と、 上記画像取込手段によって取込まれる平面プレートの検
査面の平面画像を入力画像とし、傷の輝度値と正常なプ
レート表面の輝度値との間に第一のしきい値を設け、か
つ、正常なプレート表面の輝度値と穴の輝度値との間に
第二のしきい値を設けることによって、平面プレートの
平面画像のうち傷又は穴を示す画素と、正常なプレート
表面を示す画素とを区別する２値化処理手段と、 上記２値化処理手段によって得られる２値化画像におい
て、傷又は穴と識別される領域の数と、実際の平面プレ
ートの穴の数とが一致しない場合に、傷ありと判定する
傷判定手段とを有することを特徴とする穴のある平面プ
レートの傷検査装置。 - 【請求項２】上記傷判定手段が、上記２値化処理手段に
よって得られる２値化画像において、傷又は穴と識別さ
れる領域の数と、実際の平面プレートの穴の数とが一致
しない場合に、傷ありと判定し、傷又は穴と識別される
領域の数と実際の平面プレートの穴の数とが一致する場
合に、更に、傷又は穴と識別される領域の他の特徴量
と、傷のない正常な平面プレートの対応する特徴量とが
一致する場合に傷なしと判定し、また一致しない場合に
傷ありと判定するものであることを特徴とする請求項１
に記載される穴のある平面プレートの傷検査装置。 - 【請求項３】上記特徴量が、傷又は穴と識別される領域
の外周長であることを特徴とする請求項１又は請求項２
に記載される穴のある平面プレートの傷検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22045498A JP3454162B2 (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | 穴のある平面プレートの傷検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22045498A JP3454162B2 (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | 穴のある平面プレートの傷検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000055824A true JP2000055824A (ja) | 2000-02-25 |
| JP3454162B2 JP3454162B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=16751379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22045498A Expired - Fee Related JP3454162B2 (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | 穴のある平面プレートの傷検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3454162B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2245549A1 (es) * | 2003-04-01 | 2006-01-01 | Fundacio Privada Universitat I Tecnologia | "procedimiento y aparato para el analisis automatico de revestimiento industriales". |
| JP2009258069A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-11-05 | Teijin Techno Products Ltd | 紡糸口金の孔内異物の検査装置および検査方法 |
| US20180114309A1 (en) * | 2016-10-26 | 2018-04-26 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Circular scratch inspection apparatus |
| CN111562273A (zh) * | 2020-06-05 | 2020-08-21 | 大连工业大学 | 基于高光谱的鱼水射流除鳞轻微损伤可视化方法 |
-
1998
- 1998-08-04 JP JP22045498A patent/JP3454162B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
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| JP2009258069A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-11-05 | Teijin Techno Products Ltd | 紡糸口金の孔内異物の検査装置および検査方法 |
| US20180114309A1 (en) * | 2016-10-26 | 2018-04-26 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Circular scratch inspection apparatus |
| JP2018072055A (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-10 | 川崎重工業株式会社 | サークルスクラッチ検査装置 |
| US10565698B2 (en) * | 2016-10-26 | 2020-02-18 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Circular scratch inspection apparatus |
| CN111562273A (zh) * | 2020-06-05 | 2020-08-21 | 大连工业大学 | 基于高光谱的鱼水射流除鳞轻微损伤可视化方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3454162B2 (ja) | 2003-10-06 |
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