JP2000055645A - ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法 - Google Patents
ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法Info
- Publication number
- JP2000055645A JP2000055645A JP10233616A JP23361698A JP2000055645A JP 2000055645 A JP2000055645 A JP 2000055645A JP 10233616 A JP10233616 A JP 10233616A JP 23361698 A JP23361698 A JP 23361698A JP 2000055645 A JP2000055645 A JP 2000055645A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring
- work surface
- measuring device
- spindle
- work
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 型の成形面やモデルの表面等の各種ワーク面
を、簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速に計測すること
ができるようにする。 【解決手段】 ワーク面計測治具１は、スピンドル５の
動きを読み取るダイヤルゲージ２と、ダイヤルゲージ２
を保持するゲージ保持部材１０とからなり、ゲージ保持
部材１０は、ダイヤルゲージ２を取り付ける取付部と、
スピンドル５とは反対側であってかつ同軸上に位置する
シャンク部とを備える。ワーク面計測装置２０には、テ
ーブル２１と、チャック部２３を備えるヘッド２２と
が、ＸＹＺ軸の各方向に相対変位可能に設けられ、その
ＸＹＺ変位量を計測する変位計測器２４を備えている。
チャック部２３にワーク面計測治具１がシャンク部１７
において掴持される。
を、簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速に計測すること
ができるようにする。 【解決手段】 ワーク面計測治具１は、スピンドル５の
動きを読み取るダイヤルゲージ２と、ダイヤルゲージ２
を保持するゲージ保持部材１０とからなり、ゲージ保持
部材１０は、ダイヤルゲージ２を取り付ける取付部と、
スピンドル５とは反対側であってかつ同軸上に位置する
シャンク部とを備える。ワーク面計測装置２０には、テ
ーブル２１と、チャック部２３を備えるヘッド２２と
が、ＸＹＺ軸の各方向に相対変位可能に設けられ、その
ＸＹＺ変位量を計測する変位計測器２４を備えている。
チャック部２３にワーク面計測治具１がシャンク部１７
において掴持される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、型の成形面やモデ
ルの表面等の各種ワーク面における複数の計測点を計測
して点群座標データを取るためのワーク面計測治具、計
測装置及び計測方法に関するものである。
ルの表面等の各種ワーク面における複数の計測点を計測
して点群座標データを取るためのワーク面計測治具、計
測装置及び計測方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】最近の
金型の成形面は三次元ＣＡＤデータに基づいて製作され
ているが、製作後に成形面の一部をチューニング（本明
細書では、製作時の凹凸を直したり、溝等の新しい凹凸
を形成したりする各種調整加工をチューニングと総称す
る。）したい場合がある。従来は、次のいずれかの方法
でチューニング用データを作成し、そのチューニング用
データに基づいて機械加工等でチューニングしていた。
金型の成形面は三次元ＣＡＤデータに基づいて製作され
ているが、製作後に成形面の一部をチューニング（本明
細書では、製作時の凹凸を直したり、溝等の新しい凹凸
を形成したりする各種調整加工をチューニングと総称す
る。）したい場合がある。従来は、次のいずれかの方法
でチューニング用データを作成し、そのチューニング用
データに基づいて機械加工等でチューニングしていた。
【０００３】（１）三次元ＣＡＤデータを直してチュー
ニング用データを作成する方法。しかし、三次元ＣＡＤ
データを直すには、多大な手間を要し、何日もかかるこ
とが多く、コストもかさんでいた。
ニング用データを作成する方法。しかし、三次元ＣＡＤ
データを直すには、多大な手間を要し、何日もかかるこ
とが多く、コストもかさんでいた。
【０００４】（２）製作された成形面そのものを計測し
てプレイバックデータを作成し、そのプレイバックデー
タを直してチューニング用データを作成する方法。特
に、製作された成形面を手加工でチューニングしたよう
な場合、その後は三次元ＣＡＤデータで合わせることが
できなくなるため、このプレイバックデータの作成が必
須になる。しかし、従来の成形面の計測は、非接触型
（レーザーデジタイザー等）又は接触型（スタイラスデ
ジタイザー等）の非常に高価な計測機器を使用し、成形
面の多数の計測点を計測して点群三次元座標データを取
る必要があったため、設備費がかかり、手間も時間もか
かっていた。
てプレイバックデータを作成し、そのプレイバックデー
タを直してチューニング用データを作成する方法。特
に、製作された成形面を手加工でチューニングしたよう
な場合、その後は三次元ＣＡＤデータで合わせることが
できなくなるため、このプレイバックデータの作成が必
須になる。しかし、従来の成形面の計測は、非接触型
（レーザーデジタイザー等）又は接触型（スタイラスデ
ジタイザー等）の非常に高価な計測機器を使用し、成形
面の多数の計測点を計測して点群三次元座標データを取
る必要があったため、設備費がかかり、手間も時間もか
かっていた。
【０００５】そこで、本発明の目的は、型の成形面やモ
デルの表面等の各種ワーク面を、簡便かつ安価な設備で
容易かつ迅速に計測することができるワーク面計測治
具、計測装置及び計測方法を提供することにある。
デルの表面等の各種ワーク面を、簡便かつ安価な設備で
容易かつ迅速に計測することができるワーク面計測治
具、計測装置及び計測方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係るワーク面計
測治具は、スピンドルの動きを読み取る小型測定器と、
小型測定器を保持するゲージ保持部材とからなり、ゲー
ジ保持部材が、小型測定器を取り付ける取付部と、スピ
ンドルとは反対側であってかつ同軸上に位置するシャン
ク部とを備える。
測治具は、スピンドルの動きを読み取る小型測定器と、
小型測定器を保持するゲージ保持部材とからなり、ゲー
ジ保持部材が、小型測定器を取り付ける取付部と、スピ
ンドルとは反対側であってかつ同軸上に位置するシャン
ク部とを備える。
【０００７】本発明に係るワーク面計測装置は、ワーク
を載せるテーブルとチャック部を備えるヘッドとがＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向に相対変位可能に設けられ、そのＸ，Ｙ，
Ｚ変位量を計測する変位計測器を備え、チャック部に上
記ワーク面計測治具がそのシャンク部において掴持され
てなる。
を載せるテーブルとチャック部を備えるヘッドとがＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向に相対変位可能に設けられ、そのＸ，Ｙ，
Ｚ変位量を計測する変位計測器を備え、チャック部に上
記ワーク面計測治具がそのシャンク部において掴持され
てなる。
【０００８】本発明に係るワーク面計測方法は、上記ワ
ーク面計測装置を使用し、ワークをテーブルに載せ、テ
ーブルとヘッドとをＸ，Ｙ軸方向に相対変位させてスピ
ンドルの真下にワーク面の一つの計測点を位置させ、テ
ーブルとヘッドとをＺ軸方向に相対変位させてスピンド
ルの先端を小型測定器が所定の数値を指すまで前記計測
点に押し当て、その所定の数値を指した時のＸ，Ｙ，Ｚ
変位量を変位計測器により計測し、以後、同様に複数の
計測点においてＸ，Ｙ，Ｚ変位量を計測することを特徴
とする。
ーク面計測装置を使用し、ワークをテーブルに載せ、テ
ーブルとヘッドとをＸ，Ｙ軸方向に相対変位させてスピ
ンドルの真下にワーク面の一つの計測点を位置させ、テ
ーブルとヘッドとをＺ軸方向に相対変位させてスピンド
ルの先端を小型測定器が所定の数値を指すまで前記計測
点に押し当て、その所定の数値を指した時のＸ，Ｙ，Ｚ
変位量を変位計測器により計測し、以後、同様に複数の
計測点においてＸ，Ｙ，Ｚ変位量を計測することを特徴
とする。
【０００９】上記小型測定器は、スピンドルの動きを読
み取ることができ、且つチャックで掴持できる小型のも
のであれば、特定のものに限定されず、ダイヤルゲー
ジ、電気マイクロメーター等を例示できる。
み取ることができ、且つチャックで掴持できる小型のも
のであれば、特定のものに限定されず、ダイヤルゲー
ジ、電気マイクロメーター等を例示できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明を金型の成形面の計
測に使用するワーク面計測装置等に具体化した実施形態
例について、図面を参照して説明する。図１はワーク面
計測装置の全体を示し、図２及び図３は同計測装置に使
用するワーク面計測治具を示し、図４は同計測装置を使
用して行うワーク面計測方法を示している。
測に使用するワーク面計測装置等に具体化した実施形態
例について、図面を参照して説明する。図１はワーク面
計測装置の全体を示し、図２及び図３は同計測装置に使
用するワーク面計測治具を示し、図４は同計測装置を使
用して行うワーク面計測方法を示している。
【００１１】まず、ワーク面計測治具１は、図２及び図
３に示すように、スピンドル５の動き（ここでは直線運
動）を拡大して読み取るダイヤルゲージ２と、ダイヤル
ゲージ２を保持するゲージ保持部材１０とからなる。
３に示すように、スピンドル５の動き（ここでは直線運
動）を拡大して読み取るダイヤルゲージ２と、ダイヤル
ゲージ２を保持するゲージ保持部材１０とからなる。
【００１２】ダイヤルゲージ２は、ごく一般的なもの
で、円形ケース３と、円形ケース３から突設されたスリ
ーブ状のステム４と、ステム４内にガイドされて直線的
に動きうるスピンドル５と、円形ケース３内の目盛盤７
及び指針８と、スピンドル５の動きを拡大して指針８の
回転に変換する歯車列（図示略）とを備えている。スピ
ンドル５には測定子６が取り付けられている。本例の目
盛盤７は１周１００目盛で１ｍｍ、すなわち０．０１ｍ
ｍ／目盛である。
で、円形ケース３と、円形ケース３から突設されたスリ
ーブ状のステム４と、ステム４内にガイドされて直線的
に動きうるスピンドル５と、円形ケース３内の目盛盤７
及び指針８と、スピンドル５の動きを拡大して指針８の
回転に変換する歯車列（図示略）とを備えている。スピ
ンドル５には測定子６が取り付けられている。本例の目
盛盤７は１周１００目盛で１ｍｍ、すなわち０．０１ｍ
ｍ／目盛である。
【００１３】ゲージ保持部材１０は、ダイヤルゲージ２
を取り付ける取付部１１と、スピンドル５とは反対側で
あってかつ同軸上に位置するシャンク部１７とを備え
る。取付部１１は、円形ケース３を内挿しうる環状部１
２と、環状部１２の側端面の一部に凹設された凹所１３
にネジ１４で取り付けられる押え片１５とを備え、凹所
１３及び押え片１５にはステム４を挟持するための挟持
溝１６が凹設されている。シャンク部１７は、凹所１３
とは１８０度反対側の環状部１２の外周面に一体的に突
設されている。
を取り付ける取付部１１と、スピンドル５とは反対側で
あってかつ同軸上に位置するシャンク部１７とを備え
る。取付部１１は、円形ケース３を内挿しうる環状部１
２と、環状部１２の側端面の一部に凹設された凹所１３
にネジ１４で取り付けられる押え片１５とを備え、凹所
１３及び押え片１５にはステム４を挟持するための挟持
溝１６が凹設されている。シャンク部１７は、凹所１３
とは１８０度反対側の環状部１２の外周面に一体的に突
設されている。
【００１４】そして、環状部１２に円形ケース３を内挿
するとともに、凹所１３の挟持溝１６にステム４を嵌合
し、凹所１３に押え片１５をネジ１４で取り付けて、両
挟持溝１６でステム４を挟持すれば、ゲージ保持部材１
０にダイヤルゲージ２が保持される。
するとともに、凹所１３の挟持溝１６にステム４を嵌合
し、凹所１３に押え片１５をネジ１４で取り付けて、両
挟持溝１６でステム４を挟持すれば、ゲージ保持部材１
０にダイヤルゲージ２が保持される。
【００１５】次に、ワーク面計測装置２０は、図１に示
すように、一般的なボール盤を利用したものであって、
そのボール盤には、ワークとしての金型３０を載せるテ
ーブル２１と、チャック部２３を備えるヘッド２２と
が、Ｘ軸（左右軸），Ｙ軸（前後軸），Ｚ軸（上下）の
各方向に相対変位可能に設けられ、そのＸ，Ｙ，Ｚ変位
量を計測する変位計測器２４を備えている。本例では、
Ｘ，Ｙ軸方向の相対変位はテーブル２１の移動によって
行われ（ヘッド２２は移動しない）、Ｚ軸方向の相対変
位はヘッド２２の昇降によって行われる（テーブル２１
は昇降しない）。チャック部２３には、上記ワーク面計
測治具１がシャンク部１７において掴持されている。変
位計測器２４は、計測したＸ，Ｙ，Ｚ変位量（原点を定
めて計測すれば、その原点からのＸ，Ｙ，Ｚ座標という
ことになる。）を、その表示部２５にリアルタイムで表
示するようになっている。
すように、一般的なボール盤を利用したものであって、
そのボール盤には、ワークとしての金型３０を載せるテ
ーブル２１と、チャック部２３を備えるヘッド２２と
が、Ｘ軸（左右軸），Ｙ軸（前後軸），Ｚ軸（上下）の
各方向に相対変位可能に設けられ、そのＸ，Ｙ，Ｚ変位
量を計測する変位計測器２４を備えている。本例では、
Ｘ，Ｙ軸方向の相対変位はテーブル２１の移動によって
行われ（ヘッド２２は移動しない）、Ｚ軸方向の相対変
位はヘッド２２の昇降によって行われる（テーブル２１
は昇降しない）。チャック部２３には、上記ワーク面計
測治具１がシャンク部１７において掴持されている。変
位計測器２４は、計測したＸ，Ｙ，Ｚ変位量（原点を定
めて計測すれば、その原点からのＸ，Ｙ，Ｚ座標という
ことになる。）を、その表示部２５にリアルタイムで表
示するようになっている。
【００１６】上記ワーク面計測装置２０を使用して、金
型３０の成形面３１のチューニング部位を計測するに
は、次のような方法（工程（１）〜（３））で行う。
型３０の成形面３１のチューニング部位を計測するに
は、次のような方法（工程（１）〜（３））で行う。
【００１７】（１）金型３０をテーブル２１に載せ、挟
み具２６で挟持固定する。
み具２６で挟持固定する。
【００１８】（２）金型３０の１点、例えば、図１に示
すように金型３０のＰＬ面３２の一つの角点を、原点Ｏ
として定める。原点ＯのＸ，Ｙについては、ワーク面計
測治具１に代えて公知のセンタリングゲージ（図示略）
をチャック部２３に取り付け、そのセンタリングゲージ
を金型３０の原点Ｏ近傍の側面に接触させて定めること
ができ、その接触時の変位計測器２４のＸ，Ｙをそれぞ
れ０，０とする。原点ＯのＺについては、ワーク面計測
治具１をチャック部２３に取り付け、ヘッド２２を下降
させ（テーブル２１とヘッド２２とをＺ軸方向に相対変
位させ）、スピンドル５の測定子６の先端を原点Ｏに接
触させて定める。図４には金型の二箇所が線種を変えて
併記されており、実線は成形面３１の一部を示し、二点
鎖線は原点Ｏ近傍の金型３０を示している。図４（ａ）
に示すように、測定子６の先端が原点Ｏに接触していな
いときは、指針８が若干マイナス側に触れている。測定
子６の先端が原点Ｏに接触すると指針８が振れはじめ、
図４（ｂ）に示すように、指針８が例えば目盛盤７の所
定の数値（例えば０点）を指すまで、測定子６の先端を
原点Ｏに押し当てる。その所定の数値を指した時の変位
計測器２４のＺを０とする。
すように金型３０のＰＬ面３２の一つの角点を、原点Ｏ
として定める。原点ＯのＸ，Ｙについては、ワーク面計
測治具１に代えて公知のセンタリングゲージ（図示略）
をチャック部２３に取り付け、そのセンタリングゲージ
を金型３０の原点Ｏ近傍の側面に接触させて定めること
ができ、その接触時の変位計測器２４のＸ，Ｙをそれぞ
れ０，０とする。原点ＯのＺについては、ワーク面計測
治具１をチャック部２３に取り付け、ヘッド２２を下降
させ（テーブル２１とヘッド２２とをＺ軸方向に相対変
位させ）、スピンドル５の測定子６の先端を原点Ｏに接
触させて定める。図４には金型の二箇所が線種を変えて
併記されており、実線は成形面３１の一部を示し、二点
鎖線は原点Ｏ近傍の金型３０を示している。図４（ａ）
に示すように、測定子６の先端が原点Ｏに接触していな
いときは、指針８が若干マイナス側に触れている。測定
子６の先端が原点Ｏに接触すると指針８が振れはじめ、
図４（ｂ）に示すように、指針８が例えば目盛盤７の所
定の数値（例えば０点）を指すまで、測定子６の先端を
原点Ｏに押し当てる。その所定の数値を指した時の変位
計測器２４のＺを０とする。
【００１９】（３）図４（ａ）に示すように、スピンド
ル５の測定子６の真下に成形面３１の一つの計測点Ｍを
位置させて、ヘッド２２を下降させ（テーブル２１とヘ
ッド２２とをＺ軸方向に相対変位させ）、図４（ｂ）に
示すように、測定子６の先端を指針８が目盛盤７の所定
の数値（例えば０点）を指すまで前記計測点Ｍに押し当
て、その所定の数値を指した時のＸ，Ｙ，Ｚ変位量（原
点ＯからのＸ，Ｙ，Ｚ座標）を変位計測器２４により計
測する。以後、同様に、成形面３１のチューニング部位
における複数の計測点においてＸ，Ｙ，Ｚ座標を計測
し、点群三次元座標データを得る。
ル５の測定子６の真下に成形面３１の一つの計測点Ｍを
位置させて、ヘッド２２を下降させ（テーブル２１とヘ
ッド２２とをＺ軸方向に相対変位させ）、図４（ｂ）に
示すように、測定子６の先端を指針８が目盛盤７の所定
の数値（例えば０点）を指すまで前記計測点Ｍに押し当
て、その所定の数値を指した時のＸ，Ｙ，Ｚ変位量（原
点ＯからのＸ，Ｙ，Ｚ座標）を変位計測器２４により計
測する。以後、同様に、成形面３１のチューニング部位
における複数の計測点においてＸ，Ｙ，Ｚ座標を計測
し、点群三次元座標データを得る。
【００２０】以上の計測方法によれば、従来のレーザー
デジタイザーを使用する計測方法と比べて、成形面３１
を簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速に計測し、点群三
次元座標データを得ることができる。そして、この点群
三次元座標データからプレイバックデータを作成し、そ
のプレイバックデータを直してチューニング用データを
作成し、そのチューニング用データに基づいて機械加工
等で成形面３１をチューニングする。なお、微小間隔で
多数の計測点を計測し、きめ細かな点群三次元座標デー
タを得るほど、滑らかなチューニング用データ及びチュ
ーニング面を得ることができる。
デジタイザーを使用する計測方法と比べて、成形面３１
を簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速に計測し、点群三
次元座標データを得ることができる。そして、この点群
三次元座標データからプレイバックデータを作成し、そ
のプレイバックデータを直してチューニング用データを
作成し、そのチューニング用データに基づいて機械加工
等で成形面３１をチューニングする。なお、微小間隔で
多数の計測点を計測し、きめ細かな点群三次元座標デー
タを得るほど、滑らかなチューニング用データ及びチュ
ーニング面を得ることができる。
【００２１】なお、本発明は前記実施形態に限定される
ものではなく、例えば以下のように、発明の趣旨から逸
脱しない範囲で適宜変更して具体化することもできる。 （１）環状部１２を、円形ケース３の裏側に回り込むコ
字状部又はＵ字状部に変更すること。 （２）目盛盤７及び指針８に代えて数値でディジタル表
示できるようにしたダイヤルゲージを使用すること。 （３）ダイヤルゲージに代えて、スピンドルの動きを静
電容量、インダクタンス、電気抵抗、光量等の変化に変
換して読み取る電気マイクロメーター（リニアマイクロ
メーター）を使用すること。
ものではなく、例えば以下のように、発明の趣旨から逸
脱しない範囲で適宜変更して具体化することもできる。 （１）環状部１２を、円形ケース３の裏側に回り込むコ
字状部又はＵ字状部に変更すること。 （２）目盛盤７及び指針８に代えて数値でディジタル表
示できるようにしたダイヤルゲージを使用すること。 （３）ダイヤルゲージに代えて、スピンドルの動きを静
電容量、インダクタンス、電気抵抗、光量等の変化に変
換して読み取る電気マイクロメーター（リニアマイクロ
メーター）を使用すること。
【００２２】
【発明の効果】本発明に係るワーク面計測治具、計測装
置及び計測方法によれば、型の成形面やモデルの表面等
の各種ワーク面を、簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速
に計測することができるという優れた効果を奏する。
置及び計測方法によれば、型の成形面やモデルの表面等
の各種ワーク面を、簡便かつ安価な設備で容易かつ迅速
に計測することができるという優れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る実施形態のワーク面計測装置の斜
視図である。
視図である。
【図２】同ワーク面計測装置に使用するワーク面計測治
具の分解斜視図である。
具の分解斜視図である。
【図３】同ワーク面計測治具の組立後の斜視図である。
【図４】同ワーク面計測装置を使用したワーク面計測方
法を示す正面図である。
法を示す正面図である。
１ ワーク面計測治具 ２ ダイヤルゲージ ５ スピンドル ６ 測定子 ７ 目盛盤 ８ 指針 １０ ゲージ保持部材 １１ 取付部 １２ 環状部 １３ 凹所 １４ ネジ １５ 押え片 １６ 挟持溝 １７ シャンク部 ２０ ワーク面計測装置 ２１ テーブル ２２ ヘッド ２３ チャック部 ２４ 変位計測器 ３０ 金型 ３１ 成形面 Ｍ 計測点
Claims (4)
- 【請求項１】 スピンドルの動きを読み取る小型測定器
と、小型測定器を保持する保持部材とからなり、保持部
材が、小型測定器を取り付ける取付部と、スピンドルと
は反対側であってかつ同軸上に位置するシャンク部とを
備えるワーク面計測治具。 - 【請求項２】 ワークを載せるテーブルとチャック部を
備えるヘッドとがＸ，Ｙ，Ｚ軸方向に相対変位可能に設
けられ、そのＸ，Ｙ，Ｚ変位量を計測する変位計測器を
備え、チャック部に請求項１記載のワーク面計測治具が
そのシャンク部において掴持されてなるワーク面計測装
置。 - 【請求項３】 請求項２記載のワーク面計測装置を使用
し、ワークをテーブルに載せ、テーブルとヘッドとを
Ｘ，Ｙ軸方向に相対変位させてスピンドルの真下にワー
ク面の一つの計測点を位置させ、テーブルとヘッドとを
Ｚ軸方向に相対変位させてスピンドルの先端を小型測定
器が所定の数値を指すまで前記計測点に押し当て、その
所定の数値を指した時のＸ，Ｙ，Ｚ変位量を変位計測器
により計測し、以後、同様に複数の計測点においてＸ，
Ｙ，Ｚ変位量を計測することを特徴とするワーク面計測
方法。 - 【請求項４】 小型測定器が、ダイヤルゲージ又は電気
マイクロメーターである請求項１記載のワーク面計測治
具、請求項２記載のワーク面計測装置又は請求項３記載
のワーク面計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10233616A JP2000055645A (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10233616A JP2000055645A (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000055645A true JP2000055645A (ja) | 2000-02-25 |
Family
ID=16957844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10233616A Pending JP2000055645A (ja) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000055645A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113770810A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-12-10 | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种用于在机测量的测针调姿辅助装置及其使用方法 |
-
1998
- 1998-08-04 JP JP10233616A patent/JP2000055645A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113770810A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-12-10 | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种用于在机测量的测针调姿辅助装置及其使用方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5111590A (en) | Measuring method of machine tool accuracy using a computer aided kinematic transducer link and its apparatus | |
| US5501096A (en) | Calibration method for determining and compensating differences of measuring forces in different coordinate directions in a multi-coordinate scanning system | |
| US4080741A (en) | Measuring apparatus | |
| JPH05256602A (ja) | 較正兼測定装置 | |
| JPS63182509A (ja) | 座標測定機を較正する方法および装置 | |
| JP2019509902A (ja) | キャリブレーション装置およびキャリブレーション方法 | |
| JP2858926B2 (ja) | 機械の静的精度計測用のマスター計測装置 | |
| JP2000055645A (ja) | ワーク面計測治具、計測装置及び計測方法 | |
| JP2935603B2 (ja) | 真直度測定機能付真円度測定装置 | |
| Nikam | Coordinate Measuring Machine (CMM) | |
| KR101823052B1 (ko) | 자동 선반 가공 후 자동 보정을 위한 가공물 측정 방법 | |
| JP2591913B2 (ja) | 直角測定器 | |
| JPH06138921A (ja) | 数値制御工作機械の直線補間送り精度の測定方法及び自動補正方法 | |
| JPH10103905A (ja) | 測定方法 | |
| CN114102258B (zh) | 机床位置度检测方法及装置 | |
| JPH03121751A (ja) | 機械の運動精度測定装置 | |
| CN216385413U (zh) | 一种倒锥圆柱对比检测量具 | |
| CN211373502U (zh) | 一机两用型测量仪器 | |
| Campbell | An introduction to measuration and calibration | |
| JPH0714801Y2 (ja) | 測定具 | |
| JP2593661Y2 (ja) | 段差測定具 | |
| JPH01158301A (ja) | 歯車の測定装置及び測定方法 | |
| JPH0330804Y2 (ja) | ||
| Schuetz | Striving to New Heights | |
| KR19980017628U (ko) | 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040331 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040622 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041109 |