JP2000049442A - Pattern correction device - Google Patents

Pattern correction device

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JP2000049442A
JP2000049442A JP10214017A JP21401798A JP2000049442A JP 2000049442 A JP2000049442 A JP 2000049442A JP 10214017 A JP10214017 A JP 10214017A JP 21401798 A JP21401798 A JP 21401798A JP 2000049442 A JP2000049442 A JP 2000049442A
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JP
Japan
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needle
substrate
ink
coating
conductive paste
Prior art date
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JP10214017A
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Japanese (ja)
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Takayuki Oishi
貴行 大石
Seigo Sakata
清悟 坂田
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NTN Corp
Original Assignee
NTN Corp
NTN Toyo Bearing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pattern correction device of such a structure that a film thickness when a conductive paste or defect correction ink is applied on a defect part in a substrate can be varied freely. SOLUTION: A voltage is applied between a coating needle of an ink coating mechanism 9 and a chuck base 7 to generate an electric field, the point of a conductive paste coated on the point of the needle is formed in such a way that the point is formed into a pointed shape, and a very small amount of the paste is continued to flow as it is. As a result, this pattern correction device is contrived so that the paste is splitted into a fog shape from the point of the above coating needle and is coated on a defect part in a substrate and a coating of a thick film can be realized.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はパターン修正装置
に関し、特に、LCD,PDPなどのフラットディスプ
レイやプリント基板などのパターンが欠如するような欠
陥に導電性ペーストや修正インクを塗布して修正するよ
うなパターン修正装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern correcting apparatus, and more particularly, to a method of applying a conductive paste or a correction ink to a defect such as a flat display such as an LCD or a PDP or a pattern of a printed circuit board which lacks a pattern. The present invention relates to a simple pattern correction device.

【0002】[0002]

【従来の技術】LCDやPDPなどのフラットディスプ
レイは、大型化しつつあるが、電極パターンが微細であ
るため、パターンをエッチングした際にその一部が欠如
して欠陥を生じることがある。このような欠陥であって
も、パターンを修正することによって実用に耐える場合
が多く、このため、従来よりパターン修正装置が用いら
れている。
2. Description of the Related Art Flat displays such as LCDs and PDPs have been increasing in size, but since the electrode patterns are fine, when the patterns are etched, some of them are missing and defects may occur. Even with such a defect, it is often possible to endure practical use by correcting the pattern. For this reason, a pattern correction apparatus has been conventionally used.

【0003】パターン修正装置は、塗布針の先端に導電
性ペーストや修正用インクを付着させて、基板の欠陥部
をXYテーブルによって塗布針の下まで移動させ、塗布
針をそのまま下降させ、修正したい箇所に導電性ペース
トを塗布する。このようなパターン修正装置は、たとえ
ば特開平9−307217号公報において知られてい
る。
[0003] A pattern correction apparatus is intended to apply a conductive paste or a correction ink to the tip of a coating needle, move a defective portion of the substrate to below the coating needle by an XY table, lower the coating needle as it is, and correct it. Apply a conductive paste to the location. Such a pattern correction device is known, for example, from Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-307217.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記のパターン修正装
置においては、塗布針を用いて導電性ペーストを塗布す
るものであるため、塗布されたペーストの直径は塗布針
に依存し、30μm以下の直径にすることは困難とな
る。また、修正部の大きさによって塗布針の交換が必要
となり、また径を小さくしようとすると膜厚が薄くなっ
てしまい、厚膜塗布が困難になってしまう。
In the above-described pattern correcting apparatus, since the conductive paste is applied using an application needle, the diameter of the applied paste depends on the application needle, and the diameter of the paste is 30 μm or less. It is difficult to do. In addition, it is necessary to replace the application needle depending on the size of the correction portion, and if the diameter is reduced, the film thickness becomes thin, and it becomes difficult to apply a thick film.

【0005】それゆえに、この発明の主たる目的は、導
電性ペーストまたは欠陥修正インクを塗布するときの膜
厚を自在に可変できるようなパターン修正装置を提供す
ることである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is a primary object of the present invention to provide a pattern correcting apparatus capable of freely changing a film thickness when applying a conductive paste or a defect correcting ink.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
パターニングされた基板の欠陥部を修正するパターン修
正装置において、基板の欠陥部に導電性ペーストまたは
欠陥修正インクを塗布するための針またはディスペンサ
を含む塗布機構と、塗布機構の針またはディスペンサと
基板との間に電圧を印加して電界を発生させ、針の先端
の導電性ペーストまたは欠陥修正インクの滴を電界によ
って塗布させるための電界印加手段を備えて構成され
る。
The invention according to claim 1 is
In a pattern correction apparatus for correcting a defective portion of a patterned substrate, a coating mechanism including a needle or a dispenser for applying a conductive paste or a defect correction ink to the defective portion of the substrate, and a needle or a dispenser of the coating mechanism and the substrate. And an electric field applying means for applying an electric field to generate an electric field to apply a conductive paste or a defect correction ink droplet at the tip of the needle by the electric field.

【0007】請求項2に係る発明では、さらに針と基板
との間に電圧を印加する時間,印加する電圧の大きさお
よび針と基板との間の距離のいずれかを制御することに
より、塗布される導電性ペーストまたは欠陥修正インク
の膜厚を可変する。
According to the second aspect of the present invention, the coating is further performed by controlling one of a time for applying a voltage between the needle and the substrate, a magnitude of the applied voltage, and a distance between the needle and the substrate. The thickness of the conductive paste or the defect correction ink to be used is varied.

【0008】さらに、請求項3に係る発明では、テーブ
ルを駆動して針または基板のいずれか一方を基板上のパ
ターンのライン方向に走査して塗布を行なう。
Further, in the invention according to the third aspect, the table is driven and either the needle or the substrate is scanned in the line direction of the pattern on the substrate to perform the coating.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】図1はこの発明の実施の形態の全
体の構成を示す図である。図1において、パターン修正
装置は、大きく分類すると、レーザおよびその光学系か
らなるレーザ照射機構5と欠陥修正用インクあるいは導
電性ペーストやインクを塗布する針からなるインク塗布
機構9と、欠陥を認識するための画像処理機構2と、装
置全体を制御するホストコンピュータ1とから構成され
ており、その他にワークを搭載するXYテーブル6と、
XYテーブル6上でワークを保持するチャック台7と、
レーザ照射機構5を上下に駆動するZ軸テーブル4と、
ワークを照明するための透過照明10と、モニタ8など
が設けられている。
FIG. 1 is a diagram showing an entire configuration of an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the pattern correction apparatus is roughly classified into a laser irradiation mechanism 5 including a laser and its optical system, an ink application mechanism 9 including a defect correction ink or a needle for applying conductive paste or ink, and a defect recognition apparatus. And an XY table 6 on which a work is mounted, and an XY table 6 on which a work is mounted.
A chuck table 7 for holding a work on an XY table 6,
A Z-axis table 4 for driving a laser irradiation mechanism 5 up and down;
A transmitted light 10 for illuminating the work, a monitor 8 and the like are provided.

【0010】図2は図1に示したレーザ照射機構の具体
例を示す図である。図2において、レーザ501として
一般にYAGレーザが用いられ、このレーザ501から
のレーザ光はビーム拡大機構502で拡大された後、フ
ィルタ503,ビームスプリッタ504,スリット機構
505,ビームスプリッタ506,結像レンズ507,
ビームスプリッタ508,対物レンズ509を通過し、
ワーク上に照射される。ビーム拡大機構502は十分な
レーザビーム径と均一なエネルギ強度分布で大面積の欠
陥を修正するために設けられている。レーザビーム径は
通常2mm程度であり、これをビーム拡大機構502に
よって3〜5倍程度に拡大する。また、レーザビームを
拡大することにより、ビームの中心と周囲とのエネルギ
差が緩和され、上述の役目を果たす。ビームスプリッタ
506に関連してCCDカメラ511が設けられ、ワー
クからの反射光が撮像される。
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the laser irradiation mechanism shown in FIG. In FIG. 2, a YAG laser is generally used as a laser 501. A laser beam from the laser 501 is expanded by a beam expanding mechanism 502, and then a filter 503, a beam splitter 504, a slit mechanism 505, a beam splitter 506, and an imaging lens. 507,
After passing through the beam splitter 508 and the objective lens 509,
Irradiated on the work. The beam expanding mechanism 502 is provided for correcting a large-area defect with a sufficient laser beam diameter and a uniform energy intensity distribution. The laser beam diameter is usually about 2 mm, and is expanded about 3 to 5 times by the beam expanding mechanism 502. Further, by enlarging the laser beam, the energy difference between the center and the periphery of the beam is reduced, thereby fulfilling the above-mentioned role. A CCD camera 511 is provided in association with the beam splitter 506, and the reflected light from the work is imaged.

【0011】図3は図1に示したインク塗布機構の具体
例を示す図である。図3において、インク塗布機構は、
インク塗布用の針901と、針901を垂直方向に駆動
させるための位置決め用アクチュエータ902とを含
む。針901は保持部材904を介してアクチュエータ
902の駆動軸903の先端部に設けられる。さらに、
インク塗布機構9は、水平に設けられた回転テーブル9
10と、回転テーブル910上に円周方向に順次配置さ
れた複数のインクタンク913〜916,洗浄装置91
7およびエアパージ装置918とを含む。回転テーブル
910の中心には回転軸911が設けられている。回転
テーブル910には、インク塗布時に針901を通過さ
せるための切欠き部912が形成されている。インクタ
ンク913〜916には、それぞれRGBおよび黒の各
色のインクやインクの固着を防ぐための溶剤が適宜注入
されている。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of the ink application mechanism shown in FIG. In FIG. 3, the ink application mechanism includes:
A needle 901 for ink application and a positioning actuator 902 for driving the needle 901 in the vertical direction are included. The needle 901 is provided at the distal end of the drive shaft 903 of the actuator 902 via the holding member 904. further,
The ink application mechanism 9 includes a rotary table 9 provided horizontally.
10 and a plurality of ink tanks 913 to 916, which are sequentially arranged in the circumferential direction on the rotary table 910, and the cleaning device 91.
7 and an air purge device 918. A rotary shaft 911 is provided at the center of the rotary table 910. The rotary table 910 is formed with a notch 912 through which the needle 901 passes when ink is applied. The ink tanks 913 to 916 are appropriately filled with RGB and black inks and a solvent for preventing the ink from being fixed.

【0012】洗浄装置917は針901に付着した導電
性ペーストなどを洗浄するものである。エアパージ装置
918は、針901に付着した洗浄液などを吹き飛ばす
ものである。
The cleaning device 917 is for cleaning the conductive paste or the like attached to the needle 901. The air purge device 918 blows off a cleaning liquid or the like attached to the needle 901.

【0013】さらに、インク塗布機構9には、回転テー
ブル910の回転軸911を回転させるためのインデッ
クス用モータ921と、回転軸911とともに回転する
インデックス板922と、インデックス板922を介し
て回転テーブル910の回転位置を検出するためのイン
デックス用センサ923と、インデックス板922を介
して回転テーブル910の回転位置が原点に復帰したこ
とを検出するための原点復帰用センサ924とを含む。
モータ921は、センサ923,924の出力に基づい
て制御され、回転テーブル910を回転させて切欠き部
912,インクタンク913〜916,洗浄装置917
およびエアパージ装置918のうちのいずれかを針90
1の下方に位置させる。
Further, an index motor 921 for rotating the rotary shaft 911 of the rotary table 910, an index plate 922 that rotates with the rotary shaft 911, and a rotary table 910 via the index plate 922 are provided to the ink application mechanism 9. And an origin return sensor 924 for detecting that the rotational position of the turntable 910 has returned to the origin via the index plate 922.
The motor 921 is controlled based on the outputs of the sensors 923 and 924, and rotates the rotary table 910 to cut out the cutout portions 912, the ink tanks 913 to 916, and the cleaning device 917.
And one of the air purging devices 918 with the needle 90
1 below.

【0014】図4はこの発明の実施形態の動作を説明す
るための図である。まず、図4(a)に示すように、塗
布針901の代わりにディスペンサ100(金属製のチ
ューブ状の針)を用いて、微量の導電性ペーストをその
先端に滴状になるまで流す。ここで、ディスペンサ10
0とチャック7との間に数kVの電圧をかけて電界を発
生させる。すると、滴状の導電性ペーストは図4(b)
に示すように、先端が尖った形のテーラーコーン型とな
る。導電性ペーストをそのまま微量流し続けると、導電
性ペーストの先端から細かい滴状のペーストが分裂して
下方にある修正部に塗布される。これにより、微細な塗
布を可能にする。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of the present invention. First, as shown in FIG. 4A, using a dispenser 100 (metallic tube-shaped needle) instead of the application needle 901, a small amount of conductive paste is flowed to the tip of the paste until it becomes a droplet. Here, the dispenser 10
An electric field is generated by applying a voltage of several kV between 0 and the chuck 7. As a result, the conductive paste in the form of drops is obtained as shown in FIG.
As shown in (1), the shape becomes a tailor cone type with a sharp point. If a small amount of the conductive paste continues to flow as it is, the fine drop-shaped paste is split from the tip of the conductive paste and applied to the correction portion below. This enables fine coating.

【0015】同様の動作をディスペンサ100に代えて
塗布針901で行なうと、さらに微細な塗布が可能にな
る。さらに、時間をかけて塗布し続けることによって、
厚膜の塗布も可能となる。さらに、印加電圧をかける時
間を制御するのみならず、印加電圧の大きさそのものを
制御するようにしても膜厚を制御することができ、厚膜
塗布にも対応できる。
When the same operation is performed by the application needle 901 instead of the dispenser 100, finer application becomes possible. Furthermore, by continuing to apply over time,
It is also possible to apply a thick film. Further, the film thickness can be controlled not only by controlling the time for applying the applied voltage but also by controlling the magnitude of the applied voltage itself.

【0016】さらに、XYテーブル6を駆動して塗布針
901または基板のいずれか一方を基板上のパターンの
ライン方向に走査して塗布するようにしてもよい。さら
に、塗布針901と基板間の距離を可変にし、電流値を
監視しながら制御するようにしてもよい。
Further, the XY table 6 may be driven to scan one of the coating needles 901 and the substrate in the line direction of the pattern on the substrate for coating. Further, the distance between the coating needle 901 and the substrate may be made variable, and the control may be performed while monitoring the current value.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、塗布
機構の針またはディスペンサと基板との間に電圧を印加
して電界を発生させ、針の先端の導電性ペーストまたは
欠陥修正インクの滴を電界によって基板の欠陥部に塗布
するようにしたので微細塗布が可能となり、塗布針の交
換を必要にでき、また時間をかけて塗布を繰返すことに
より膜厚への応用も可能となった。
As described above, according to the present invention, a voltage is applied between the needle or dispenser of the coating mechanism and the substrate to generate an electric field, and the conductive paste or the defect correcting ink at the tip of the needle is formed. Drops are applied to defective parts of the substrate by an electric field, so fine coating is possible, replacement of the coating needle is required, and application to film thickness is also possible by repeating coating over time. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態の全体の構成を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示したレーザ照射機構の具体例を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the laser irradiation mechanism shown in FIG.

【図3】図1に示したインク塗布機構の具体例を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of the ink application mechanism shown in FIG. 1;

【図4】この発明の実施形態の動作を説明するための図
である。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ホストコンピュータ 2 画像処理機構 3 制御用コンピュータ 4 Z軸テーブル 5 レーザ照射機構 6 XYテーブル 7 チャック台 8 モニタ 9 インク塗布機構 501 レーザ 509 対物レンズ 511 CCDカメラ 901 塗布針 913〜916 インクタンク DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Host computer 2 Image processing mechanism 3 Control computer 4 Z-axis table 5 Laser irradiation mechanism 6 XY table 7 Chuck table 8 Monitor 9 Ink coating mechanism 501 Laser 509 Objective lens 511 CCD camera 901 Coating needle 913-916 Ink tank

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 306 G09F 9/30 306 H01S 3/00 H01S 3/00 F Fターム(参考) 2G051 AA65 AA73 AA90 AB20 BA01 BA10 CA03 CA04 CB01 DA07 2H092 MA10 MA30 MA46 MA52 NA30 PA06 5C094 AA03 AA32 AA41 AA42 AA43 AA44 BA31 BA43 CA01 DA13 DB08 DB10 GB10 5E343 BB72 DD12 DD20 ER51 FF05 FF30 GG08 5F072 AB01 FF09 JJ20 KK15 YY20Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (Reference) G09F 9/30 306 G09F 9/30 306 H01S 3/00 H01S 3/00 FF Term (Reference) 2G051 AA65 AA73 AA90 AB20 BA01 BA10 CA03 CA04 CB01 DA07 2H092 MA10 MA30 MA46 MA52 NA30 PA06 5C094 AA03 AA32 AA41 AA42 AA43 AA44 BA31 BA43 CA01 DA13 DB08 DB10 GB10 5E343 BB72 DD12 DD20 ER51 FF05 FF30 GG08 5F072 AB01 FF09 JJ20

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パターニングされた基板の欠陥部を修正
するパターン修正装置において、 前記基板の欠陥部に導電性ペーストまたは欠陥修正イン
クを塗布するための針またはディスペンサを含む塗布機
構、および前記塗布機構の針と前記基板との間に電圧を
印加して電界を発生させ、前記針またはディスペンサの
先端の導電性ペーストまたは欠陥修正インクの滴を前記
電界によって塗布させるための電界印加手段を備えた、
パターン修正装置。
1. A pattern correcting apparatus for correcting a defective portion of a patterned substrate, wherein the coating mechanism includes a needle or a dispenser for applying a conductive paste or a defect correcting ink to the defective portion of the substrate, and the coating mechanism. An electric field generating means for applying a voltage between the needle and the substrate to generate an electric field, and applying a conductive paste or a defect correction ink droplet at the tip of the needle or the dispenser by the electric field,
Pattern correction device.
【請求項2】 さらに、前記針と前記基板との間に電圧
を印加する時間,印加する電圧の大きさおよび前記針と
前記基板との間の距離のいずれかを制御することによ
り、塗布される導電性ペーストまたは欠陥修正インクの
膜厚を可変することを特徴とする、請求項1に記載のパ
ターン修正装置。
2. The method according to claim 1, further comprising controlling a time for applying a voltage between the needle and the substrate, a magnitude of the applied voltage, and a distance between the needle and the substrate. 2. The pattern correction apparatus according to claim 1, wherein the thickness of the conductive paste or the defect correction ink is varied.
【請求項3】 さらに、前記テーブルを駆動して前記針
または前記基板のいずれか一方を前記基板上のパターン
のライン方向に走査して塗布を行なうことを特徴とす
る、請求項1に記載のパターン修正装置。
3. The method according to claim 1, further comprising: driving the table to scan either the needle or the substrate in a line direction of a pattern on the substrate to perform coating. Pattern correction device.
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