JP2000033342A - 粒子の選別装置における整列流下装置 - Google Patents
粒子の選別装置における整列流下装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 振動板やロ−タリバルブ等の搬送装置より、
穀粒を穀粒検出領域まで複数の流路より整列流下させる
流下装置を有する穀粒色彩選別機の前記搬送装置におい
ては、搬送領域の側面が壁になっているので、搬送装置
の両端側を流れる穀粒は壁に接触・衝突し、搬送装置の
中央側を流れる穀粒に比べて、搬送速度が低下すること
から、流下装置の流路幅が同一であると、両端側の流路
を流れる穀粒量が中央側の流路を流れる穀粒量よりも少
なくなり、その後の穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去
精度が流路ごとで不均一になるという欠点を防止する。 【解決手段】 前記流下装置の流路を少なくとも３つよ
り形成し、流路の両端側における流路幅を他の流路幅よ
り広く形成する。
穀粒を穀粒検出領域まで複数の流路より整列流下させる
流下装置を有する穀粒色彩選別機の前記搬送装置におい
ては、搬送領域の側面が壁になっているので、搬送装置
の両端側を流れる穀粒は壁に接触・衝突し、搬送装置の
中央側を流れる穀粒に比べて、搬送速度が低下すること
から、流下装置の流路幅が同一であると、両端側の流路
を流れる穀粒量が中央側の流路を流れる穀粒量よりも少
なくなり、その後の穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去
精度が流路ごとで不均一になるという欠点を防止する。 【解決手段】 前記流下装置の流路を少なくとも３つよ
り形成し、流路の両端側における流路幅を他の流路幅よ
り広く形成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、穀粒等の粒子を
選別する選別装置に関するものである。
選別する選別装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、原料投入タンクより振動板やロ−
タリバルブで穀粒を流下樋に供給し、４〜５つから形成
される流下装置の流路をそれぞれ穀粒選別領域まで流下
して、そこで穀粒に検査光を照射し、その透過光量ある
いは反射光量と基準色板から得られる光量とを比較し
て、基準色板と異なる色と判定された穀粒を異種粒とし
て除去する色彩選別装置は周知である。
タリバルブで穀粒を流下樋に供給し、４〜５つから形成
される流下装置の流路をそれぞれ穀粒選別領域まで流下
して、そこで穀粒に検査光を照射し、その透過光量ある
いは反射光量と基準色板から得られる光量とを比較し
て、基準色板と異なる色と判定された穀粒を異種粒とし
て除去する色彩選別装置は周知である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記のような、振動板
やロ−タリバルブ等の搬送装置においては搬送領域の側
面が壁になっているので、搬送装置の両端側を流れる穀
粒は壁に接触・衝突し、搬送装置の中央側を流れる穀粒
に比べて、搬送速度が低下するという現象が生じる。そ
の際、流下樋の流路幅が同一であると、両端側の流路を
流れる穀粒量が中央側の流路を流れる穀粒量よりも少な
くなり、その後の穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去精
度が流路ごとで不均一になるという欠点があった。
やロ−タリバルブ等の搬送装置においては搬送領域の側
面が壁になっているので、搬送装置の両端側を流れる穀
粒は壁に接触・衝突し、搬送装置の中央側を流れる穀粒
に比べて、搬送速度が低下するという現象が生じる。そ
の際、流下樋の流路幅が同一であると、両端側の流路を
流れる穀粒量が中央側の流路を流れる穀粒量よりも少な
くなり、その後の穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去精
度が流路ごとで不均一になるという欠点があった。
【０００４】本発明は、流下樋の各流路ごとの流下穀粒
量を均一にすることによって、その後の穀粒の判別精度
や穀粒中の異物除去精度が各流路ごとで不均一になるこ
とを防止することを目的とする。
量を均一にすることによって、その後の穀粒の判別精度
や穀粒中の異物除去精度が各流路ごとで不均一になるこ
とを防止することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の上記課題は次の
構成によって達成される。すなわち、搬送領域の両側に
側壁を有する搬送手段で搬送した粒子を、傾斜面に流路
を線条に形成した流下装置で粒子の選別領域までそれぞ
れ整列流下させ選別領域にて粒子を選別する粒子の選別
装置において、前記搬送領域に対応する前記流下装置の
流路を少なくとも３つより形成し、流路の両端側におけ
る流路幅を他の流路幅より広く形成することを特徴とす
る粒子の選別装置における整列流下装置とする。
構成によって達成される。すなわち、搬送領域の両側に
側壁を有する搬送手段で搬送した粒子を、傾斜面に流路
を線条に形成した流下装置で粒子の選別領域までそれぞ
れ整列流下させ選別領域にて粒子を選別する粒子の選別
装置において、前記搬送領域に対応する前記流下装置の
流路を少なくとも３つより形成し、流路の両端側におけ
る流路幅を他の流路幅より広く形成することを特徴とす
る粒子の選別装置における整列流下装置とする。
【０００６】
【発明の作用】搬送手段における側壁より内側の搬送領
域で搬送された粒子は、少なくとも３つの流路からなる
流下装置にそれぞれ搬送供給され、それぞれの流路を流
下して穀粒検出領域に供給される。その際、搬送面上の
粒子は側壁に接触・衝突しながら搬送されるため、搬送
手段の中央側を搬送される粒子に比べて搬送速度が遅く
なり、流路への搬送供給量が減少するが、その分流路幅
を広く形成することで、搬送供給量の減少分を補うよう
にする。
域で搬送された粒子は、少なくとも３つの流路からなる
流下装置にそれぞれ搬送供給され、それぞれの流路を流
下して穀粒検出領域に供給される。その際、搬送面上の
粒子は側壁に接触・衝突しながら搬送されるため、搬送
手段の中央側を搬送される粒子に比べて搬送速度が遅く
なり、流路への搬送供給量が減少するが、その分流路幅
を広く形成することで、搬送供給量の減少分を補うよう
にする。
【０００７】
【発明の効果】本発明により、各流路ごとを流下する穀
粒量を均一にすることができるので、各流路ごとにおけ
る穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去精度の不均一を防
止することができる。
粒量を均一にすることができるので、各流路ごとにおけ
る穀粒の判別精度や穀粒中の異物除去精度の不均一を防
止することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明を穀粒色彩選別装置に用い
た場合を説明する。まず、図１から図５に基づいて穀粒
色彩選別装置の全体構成を説明する。１は、原料タンク
で１次選別用の１ａと、２次選別用の１ｂとに区切られ
ている。原料タンク１の下部にはロ−タリバルブ２を配
置しており、ロ−タリバルブ２は、側壁２ａ、２ａ間に
穀粒の搬送作用をなす複数の横仕切板２ｂと、１次選別
する穀粒の搬送領域２ｃと、２次選別する穀粒の搬送領
域２ｄとを仕切る縦仕切板２ｅとから構成されている。
ロ−タリバルブ２の下方には流下樋３を斜設しており、
１次選別用流路、２次選別用流路に分かれている。本実
施例では、図３、図４に示すとおり１次選別用流路は４
つの流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄより、２次選別用流路
は１つの流路３ｅよりそれぞれ形成している。また、図
３に示すように、１次選別用流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３
ｄの両端の流路３ａ・３ｄの流路幅ｍは中央側３ｂ・３
ｃの流路幅ｎよりも広く形成している。なお、３ｆは衝
撃吸収部材で、ロ−タリバルブより搬送供給される穀粒
が流下樋上で高くバウンドしないことを目的としてい
る。
た場合を説明する。まず、図１から図５に基づいて穀粒
色彩選別装置の全体構成を説明する。１は、原料タンク
で１次選別用の１ａと、２次選別用の１ｂとに区切られ
ている。原料タンク１の下部にはロ−タリバルブ２を配
置しており、ロ−タリバルブ２は、側壁２ａ、２ａ間に
穀粒の搬送作用をなす複数の横仕切板２ｂと、１次選別
する穀粒の搬送領域２ｃと、２次選別する穀粒の搬送領
域２ｄとを仕切る縦仕切板２ｅとから構成されている。
ロ−タリバルブ２の下方には流下樋３を斜設しており、
１次選別用流路、２次選別用流路に分かれている。本実
施例では、図３、図４に示すとおり１次選別用流路は４
つの流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄより、２次選別用流路
は１つの流路３ｅよりそれぞれ形成している。また、図
３に示すように、１次選別用流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３
ｄの両端の流路３ａ・３ｄの流路幅ｍは中央側３ｂ・３
ｃの流路幅ｎよりも広く形成している。なお、３ｆは衝
撃吸収部材で、ロ−タリバルブより搬送供給される穀粒
が流下樋上で高くバウンドしないことを目的としてい
る。
【０００９】流下樋３の流下排出側には、穀粒に所定の
角度から検査光を照射する発光部４（タングステンラン
プ等）と、穀粒からの透過光を受光する受光センサ５を
設けている。さらに、その下部には異種粒や異物等を除
去する穀粒除去部Ｚを設けており、受光センサ５と穀粒
除去部Ｚを図１におけるボックスＨに内蔵する。なお、
受光センサ５は流下樋３の流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３
ｄ、３ｅそれぞれに対して設けられており、受光センサ
５内には複数の受光素子５ａ…からなるラインセンサカ
メラを内蔵し、穀粒１粒の表面における複数箇所の透過
光量を検出できるようになっている。そして、本実施例
では直径６ミリメ−トルを穀粒検出領域Ｑとし、穀粒の
落下軌道Ｆと、発光部４からの光軸４ａとの交点Ｆ１が
穀粒検出領域Ｑの中心軸５ｃ上になるように設定する。
角度から検査光を照射する発光部４（タングステンラン
プ等）と、穀粒からの透過光を受光する受光センサ５を
設けている。さらに、その下部には異種粒や異物等を除
去する穀粒除去部Ｚを設けており、受光センサ５と穀粒
除去部Ｚを図１におけるボックスＨに内蔵する。なお、
受光センサ５は流下樋３の流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３
ｄ、３ｅそれぞれに対して設けられており、受光センサ
５内には複数の受光素子５ａ…からなるラインセンサカ
メラを内蔵し、穀粒１粒の表面における複数箇所の透過
光量を検出できるようになっている。そして、本実施例
では直径６ミリメ−トルを穀粒検出領域Ｑとし、穀粒の
落下軌道Ｆと、発光部４からの光軸４ａとの交点Ｆ１が
穀粒検出領域Ｑの中心軸５ｃ上になるように設定する。
【００１０】穀粒除去部Ｚはソレノイド６と除去プレ−
ト７とシャフト８等から構成しており、ソレノイド６が
作動するとシャフト８が除去プレ−ト７を押圧すること
で、弾性変位可能な除去プレ−ト７が穀粒の落下軌道Ｆ
に入り込み、穀粒をはじき出せるようになっている。さ
らに、除去プレ−ト７におけるシャフト８が押圧する側
の面には、ゴム等の弾性体である振動吸収部材９を接着
している。これは、ソレノイド６が作動し、除去プレ−
ト７が弾性変位した際に発生するソレノイド６の軸方向
への振動を吸収することでソレノイド６の作動間隔を短
くすることを可能にし、着色米の除去精度を向上させる
ことを可能にしている。
ト７とシャフト８等から構成しており、ソレノイド６が
作動するとシャフト８が除去プレ−ト７を押圧すること
で、弾性変位可能な除去プレ−ト７が穀粒の落下軌道Ｆ
に入り込み、穀粒をはじき出せるようになっている。さ
らに、除去プレ−ト７におけるシャフト８が押圧する側
の面には、ゴム等の弾性体である振動吸収部材９を接着
している。これは、ソレノイド６が作動し、除去プレ−
ト７が弾性変位した際に発生するソレノイド６の軸方向
への振動を吸収することでソレノイド６の作動間隔を短
くすることを可能にし、着色米の除去精度を向上させる
ことを可能にしている。
【００１１】次に、本実施の形態における穀粒色彩選別
装置の作用を図６から図１１に基づいて説明する。選別
対象となる穀粒の組み合わせ（例えば白米と玄米とを選
別する）をボリュ−ム１０にてセットして、色彩選別装
置の電源Ｄを入りにして装置各部を起動させると、原料
投入タンク１ａに貯留されている穀粒は、ロ−タリバル
ブ２のうち１次選別用穀粒の搬送領域２ｃで、流下樋の
１次選別用の流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄに搬送供給す
る。その際、ロ−タリバルブ２の搬送領域２ｃで搬送さ
れる穀粒は、側壁２ａと縦仕切板２ｅと接触、あるいは
衝突しながら搬送されるため、穀粒の搬送速度が低下
し、両端側の流路３ａ、３ｄへの搬送供給能率は中央側
流路３ｂ、３ｃよりも低いが、その分、流路３ａ、３ｄ
の流路幅を広げて供給穀粒量を増加させることによっ
て、３ｂ、３ｃと略同量の穀粒量が流下する。そして、
これらの各流路を流下した穀粒は穀粒検出領域Ｑに落下
供給される。
装置の作用を図６から図１１に基づいて説明する。選別
対象となる穀粒の組み合わせ（例えば白米と玄米とを選
別する）をボリュ−ム１０にてセットして、色彩選別装
置の電源Ｄを入りにして装置各部を起動させると、原料
投入タンク１ａに貯留されている穀粒は、ロ−タリバル
ブ２のうち１次選別用穀粒の搬送領域２ｃで、流下樋の
１次選別用の流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄに搬送供給す
る。その際、ロ−タリバルブ２の搬送領域２ｃで搬送さ
れる穀粒は、側壁２ａと縦仕切板２ｅと接触、あるいは
衝突しながら搬送されるため、穀粒の搬送速度が低下
し、両端側の流路３ａ、３ｄへの搬送供給能率は中央側
流路３ｂ、３ｃよりも低いが、その分、流路３ａ、３ｄ
の流路幅を広げて供給穀粒量を増加させることによっ
て、３ｂ、３ｃと略同量の穀粒量が流下する。そして、
これらの各流路を流下した穀粒は穀粒検出領域Ｑに落下
供給される。
【００１２】穀粒検出領域Ｑにおいては、１次選別用の
流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄから落下供給された穀粒そ
れぞれを発光部４からの検査光で照射すると、測定信号
検出手段１１から制御部１２に割込み入力され、受光セ
ンサ５に光量検出指令が出される。すると、受光センサ
５に対向する穀粒１粒の表面における複数個所で穀粒か
らの透過光量がそれぞれ受光素子５ａ…により検出され
る。そして、受光素子５ａ…で検出された光量がそれぞ
れ平滑回路１３を経た後、制御部１２に内蔵されている
Ａ／Ｄ変換回路１２ａで電圧値に変換され、入力インタ
−フェイス１２ｂを経てＣＰＵ１２ｃに入力される。そ
の際、穀粒１粒の表面における複数個所の電圧値の分布
状態は図７、８のように表される。
流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄから落下供給された穀粒そ
れぞれを発光部４からの検査光で照射すると、測定信号
検出手段１１から制御部１２に割込み入力され、受光セ
ンサ５に光量検出指令が出される。すると、受光センサ
５に対向する穀粒１粒の表面における複数個所で穀粒か
らの透過光量がそれぞれ受光素子５ａ…により検出され
る。そして、受光素子５ａ…で検出された光量がそれぞ
れ平滑回路１３を経た後、制御部１２に内蔵されている
Ａ／Ｄ変換回路１２ａで電圧値に変換され、入力インタ
−フェイス１２ｂを経てＣＰＵ１２ｃに入力される。そ
の際、穀粒１粒の表面における複数個所の電圧値の分布
状態は図７、８のように表される。
【００１３】図７と図８における縦軸は電圧値を、横軸
は受光素子５ａ…の位置を表し、電圧が発生している部
分が穀粒表面であり、ここでは３種類の電圧値が示され
ているが、これは上から光の３原色であるＲ・Ｇ・Ｂそ
れぞれの電圧値である。そして、図７は白米で、図８は
玄米を表している。白米の場合には図７に示されている
ように、Ｒ・Ｇ・Ｂのすべてが表面全体にわたって略均
一の電圧値の分布状態が表されている。これは、白米内
部では透過光の乱反射を起こしやすく、内部が均一な明
るさになるためである。
は受光素子５ａ…の位置を表し、電圧が発生している部
分が穀粒表面であり、ここでは３種類の電圧値が示され
ているが、これは上から光の３原色であるＲ・Ｇ・Ｂそ
れぞれの電圧値である。そして、図７は白米で、図８は
玄米を表している。白米の場合には図７に示されている
ように、Ｒ・Ｇ・Ｂのすべてが表面全体にわたって略均
一の電圧値の分布状態が表されている。これは、白米内
部では透過光の乱反射を起こしやすく、内部が均一な明
るさになるためである。
【００１４】一方、玄米の場合には、図８に示されてい
るように、穀粒表面場所によって検出電圧値が異なり、
略曲線上の電圧値が表されている。これは、玄米が白米
と異なり、玄米内部では透過光の乱反射を起こしにく
く、検査光の穀粒に対する照射角度によって、透過光が
多い場所と少ない場所が発生するためである。このよう
に、白米と玄米とでは穀粒表面の複数個所における電圧
値の分布状態が異なることから穀粒の判定をする。
るように、穀粒表面場所によって検出電圧値が異なり、
略曲線上の電圧値が表されている。これは、玄米が白米
と異なり、玄米内部では透過光の乱反射を起こしにく
く、検査光の穀粒に対する照射角度によって、透過光が
多い場所と少ない場所が発生するためである。このよう
に、白米と玄米とでは穀粒表面の複数個所における電圧
値の分布状態が異なることから穀粒の判定をする。
【００１５】そして、穀粒の判定の方法であるが、ま
ず、図７、図８におけるＲ・Ｇ・Ｂの分布状態から、最
小２乗法より回帰直線Ｌを設定する（図９参照）。回帰
直線ＬはＹ＝ａｘ＋ｂ（ｙは電圧値・ｘは受光素子の位
置・ａとｂは定数）の式で表される。そして、電圧値の
分布状態と回帰直線Ｌとの間の相関関係が強いか弱いか
で穀粒の種類を判定するのだが、相関関係は決定係数を
算出することにより表される。すなわち、次のような式
で決定係数ｒ2 ｒ2＝（Ｃｘｙ／ΣｘΣｙ）2（Σｘはｘの分散、Σｙは
ｙの分散、Ｃｘｙはｘとｙの共分散） 算出した決定係数ｒ2があらかじめ設定してある値以上
なら、回帰直線Ｌとの相関関係が強いとして白米と判定
し、設定値以下なら相関関係が弱いとして玄米と判定す
る。
ず、図７、図８におけるＲ・Ｇ・Ｂの分布状態から、最
小２乗法より回帰直線Ｌを設定する（図９参照）。回帰
直線ＬはＹ＝ａｘ＋ｂ（ｙは電圧値・ｘは受光素子の位
置・ａとｂは定数）の式で表される。そして、電圧値の
分布状態と回帰直線Ｌとの間の相関関係が強いか弱いか
で穀粒の種類を判定するのだが、相関関係は決定係数を
算出することにより表される。すなわち、次のような式
で決定係数ｒ2 ｒ2＝（Ｃｘｙ／ΣｘΣｙ）2（Σｘはｘの分散、Σｙは
ｙの分散、Ｃｘｙはｘとｙの共分散） 算出した決定係数ｒ2があらかじめ設定してある値以上
なら、回帰直線Ｌとの相関関係が強いとして白米と判定
し、設定値以下なら相関関係が弱いとして玄米と判定す
る。
【００１６】なお、本実施例では３種類の光Ｒ・Ｇ・Ｂ
の透過光量を測定しているが、その内の１種類の光のみ
を測定して穀粒の種類を判定しても良い。次に、図１
０、図１１に基づいて胴割れ粒を検出する方法について
説明する。図１０は図７、図８と同様、穀粒１粒の表面
における複数個所のＲ・Ｇ・Ｂの透過光量（電圧値）の
分布状態を示したものであるが、穀粒表面の電圧値の分
布状態を変化率に示したものが図１０である。
の透過光量を測定しているが、その内の１種類の光のみ
を測定して穀粒の種類を判定しても良い。次に、図１
０、図１１に基づいて胴割れ粒を検出する方法について
説明する。図１０は図７、図８と同様、穀粒１粒の表面
における複数個所のＲ・Ｇ・Ｂの透過光量（電圧値）の
分布状態を示したものであるが、穀粒表面の電圧値の分
布状態を変化率に示したものが図１０である。
【００１７】図１０に示すように、ｓの範囲で電圧値が
減少し、図１０において電圧値の変化率が大きくマイナ
ス方向に傾いている。これは、ｓの範囲の部分が胴割れ
しているため透過光量が減少し、その結果対応する電圧
値も減少していることを示している。そして、例えば図
１０におけるｔレベルよりも大きい電圧値の変化率を示
した場合を胴割れ粒と判定する。なお、本実施の形態で
は３種類の光Ｒ・Ｇ・Ｂの透過光量を測定しているが、
前記穀粒の種類の時と同様その内の１種類の光のみを測
定して胴割れ粒を判定しても良い。
減少し、図１０において電圧値の変化率が大きくマイナ
ス方向に傾いている。これは、ｓの範囲の部分が胴割れ
しているため透過光量が減少し、その結果対応する電圧
値も減少していることを示している。そして、例えば図
１０におけるｔレベルよりも大きい電圧値の変化率を示
した場合を胴割れ粒と判定する。なお、本実施の形態で
は３種類の光Ｒ・Ｇ・Ｂの透過光量を測定しているが、
前記穀粒の種類の時と同様その内の１種類の光のみを測
定して胴割れ粒を判定しても良い。
【００１８】そして、前記異なる種類の穀粒の判別、あ
るいは胴割れ粒を判定がなされると、ＣＰＵ１２ｃより
出力インタ−フェイス１２ｄを介して、これらの不良品
である穀粒を除去すべくタイミング信号が出力され、ソ
レノイド６が作動する。すると、ソレノイド６に設けて
いるシャフト８が除去プレ−ト７に押圧作用をなすこと
で、除去プレ−ト７が７ａを支点に流下樋３からの穀粒
の落下軌跡Ｆに入り込み、穀粒を不良品還元通路１５に
弾き、ノズル等（図示せず）で二次選別用の貯留室１ｂ
に搬送する。一方、良品と判定された穀粒は良品通路１
６を経て機外に排出する。
るいは胴割れ粒を判定がなされると、ＣＰＵ１２ｃより
出力インタ−フェイス１２ｄを介して、これらの不良品
である穀粒を除去すべくタイミング信号が出力され、ソ
レノイド６が作動する。すると、ソレノイド６に設けて
いるシャフト８が除去プレ−ト７に押圧作用をなすこと
で、除去プレ−ト７が７ａを支点に流下樋３からの穀粒
の落下軌跡Ｆに入り込み、穀粒を不良品還元通路１５に
弾き、ノズル等（図示せず）で二次選別用の貯留室１ｂ
に搬送する。一方、良品と判定された穀粒は良品通路１
６を経て機外に排出する。
【００１９】そして、二次選別用の貯留室１ｂに貯留さ
れた穀粒は、一次選別の時と同様に、二次選別用の貯留
室１ｂ下部に設けられているロ−タリバルブ２の２次選
別する穀粒の搬送領域２ｄで２次選別用の流下樋３の２
次選別用の流路３ｅに供給され、穀粒検出領域Ｆまで流
下する。そして前記と同様に異種粒と胴割れ粒の選別作
用がなされ、良品は良品通路１６を経て機外に、不良品
は不良品機外排出通路１７を経て機外に排出される。
れた穀粒は、一次選別の時と同様に、二次選別用の貯留
室１ｂ下部に設けられているロ−タリバルブ２の２次選
別する穀粒の搬送領域２ｄで２次選別用の流下樋３の２
次選別用の流路３ｅに供給され、穀粒検出領域Ｆまで流
下する。そして前記と同様に異種粒と胴割れ粒の選別作
用がなされ、良品は良品通路１６を経て機外に、不良品
は不良品機外排出通路１７を経て機外に排出される。
【００２０】なお、選別作業を終了して電源ＤをＯＦＦ
にすると、ロ−タリバルブ２は所定回転後、横仕切板２
ｂの先端がロ−タリバルブ２の近傍に設けている仕切板
位置検出センサ２ｆ（近接センサ等）の検出に従って所
定位置で停止するようにする。本実施例のように、流下
樋３の１次選別用流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄにおける
両端側の流路３ａ・３ｄの流路幅ｍを、中央側の流路３
ｂ・３ｄの流路幅ｎより広くすることで、原料タンク１
における１次選別用の貯留室１ａの穀粒をロ−タリバル
ブ２の１次選別用搬送領域２ｃで搬送する際、ロ−タリ
バルブ２の側壁２ａ、及び縦仕切板２ｄ近傍を搬送され
る穀粒が側壁や縦仕切板２ｄに接触して、中央部分を搬
送される穀粒と比較して搬送速度が遅くなることによる
流路３ａ・３ｄへの穀粒供給量の減少をカバ−すること
ができる。従って、穀粒検出領域Ｑへ略均一量の穀粒を
それぞれ落下供給することが可能になり、その後の異物
検出作業精度、及び異物除去作業精度が流路ごとに不均
一になることを防止することができる。
にすると、ロ−タリバルブ２は所定回転後、横仕切板２
ｂの先端がロ−タリバルブ２の近傍に設けている仕切板
位置検出センサ２ｆ（近接センサ等）の検出に従って所
定位置で停止するようにする。本実施例のように、流下
樋３の１次選別用流路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄにおける
両端側の流路３ａ・３ｄの流路幅ｍを、中央側の流路３
ｂ・３ｄの流路幅ｎより広くすることで、原料タンク１
における１次選別用の貯留室１ａの穀粒をロ−タリバル
ブ２の１次選別用搬送領域２ｃで搬送する際、ロ−タリ
バルブ２の側壁２ａ、及び縦仕切板２ｄ近傍を搬送され
る穀粒が側壁や縦仕切板２ｄに接触して、中央部分を搬
送される穀粒と比較して搬送速度が遅くなることによる
流路３ａ・３ｄへの穀粒供給量の減少をカバ−すること
ができる。従って、穀粒検出領域Ｑへ略均一量の穀粒を
それぞれ落下供給することが可能になり、その後の異物
検出作業精度、及び異物除去作業精度が流路ごとに不均
一になることを防止することができる。
【図１】色彩選別装置全体の斜視図
【図２】色彩選別装置の装置各部の配置を表した図
【図３】ロ−タリバルブ、流下樋の正面図、及び側面か
ら見たロ−タリバルブの断面図
ら見たロ−タリバルブの断面図
【図４】流下樋の断面図
【図５】穀粒検出領域を示した図
【図６】ブロック図
【図７】穀粒１粒の表面における透過光量（電圧値）の
分布状態を表した図
分布状態を表した図
【図８】穀粒１粒の表面における透過光量（電圧値）の
分布状態を表した図
分布状態を表した図
【図９】回帰直線Ｌを設定した図
【図１０】穀粒１粒の表面における透過光量（電圧値）
の分布状態を表した図
の分布状態を表した図
【図１１】穀粒１粒の表面における透過光量（電圧値）
の分布状態を変化率に換算した図
の分布状態を変化率に換算した図
１…原料タンク、２…ロ−タリバルブ、２ａ…側壁、２
ｂ…横仕切板、２ｃ…１次選別用搬送領域、２ｄ…２次
選別用搬送領域、２ｅ…縦仕切板、３…流下樋、３ａ・
３ｂ・３ｃ・３ｄ…１次選別用流路、３ｅ…２次選別用
流路、３ｆ…衝撃吸収部材、４…発光部、５…受光セン
サ、５ａ…受光素子、５ｂ…穀粒検出領域、６…ソレノ
イド、１２…制御部
ｂ…横仕切板、２ｃ…１次選別用搬送領域、２ｄ…２次
選別用搬送領域、２ｅ…縦仕切板、３…流下樋、３ａ・
３ｂ・３ｃ・３ｄ…１次選別用流路、３ｅ…２次選別用
流路、３ｆ…衝撃吸収部材、４…発光部、５…受光セン
サ、５ａ…受光素子、５ｂ…穀粒検出領域、６…ソレノ
イド、１２…制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 搬送領域の両側に側壁を有する搬送手段
で搬送した粒子を、傾斜面に流路を線条に形成した流下
装置で粒子の選別領域までそれぞれ整列流下させ選別領
域にて粒子を選別する粒子の選別装置において、前記搬
送領域に対応する前記流下装置の流路を少なくとも３つ
より形成し、流路の両端側における流路幅を他の流路幅
より広く形成することを特徴とする粒子の選別装置にお
ける整列流下装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10205075A JP2000033342A (ja) | 1998-07-21 | 1998-07-21 | 粒子の選別装置における整列流下装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10205075A JP2000033342A (ja) | 1998-07-21 | 1998-07-21 | 粒子の選別装置における整列流下装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000033342A true JP2000033342A (ja) | 2000-02-02 |
Family
ID=16501018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10205075A Pending JP2000033342A (ja) | 1998-07-21 | 1998-07-21 | 粒子の選別装置における整列流下装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000033342A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10226150A1 (de) * | 2002-06-13 | 2004-01-15 | Beining, Rolf, Prof.Dr. | Verfahren zur sortenreinen Trennung von Stoffteilen aus einem Gemisch von vielen Stoffteilsorten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
-
1998
- 1998-07-21 JP JP10205075A patent/JP2000033342A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10226150A1 (de) * | 2002-06-13 | 2004-01-15 | Beining, Rolf, Prof.Dr. | Verfahren zur sortenreinen Trennung von Stoffteilen aus einem Gemisch von vielen Stoffteilsorten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
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