JP2000028673A - プリント配線回路基板試験装置 - Google Patents
プリント配線回路基板試験装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造が容易で安価な整合インピーダンス試験
点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装
置を提供する。 【解決手段】 プリント配線回路基板の上方に位置し、
同軸の試験ケーブルによって時間領域反射率計へ接続さ
れている第１のプローバーヘッドと第２のプローバーヘ
ッドを有するｘ−ｙプローバーを用いる。信号プローブ
はプローバーヘッドの一つに取付けられている。試験ケ
ーブルは、信号プローブへ電気的に接続されている信号
ワイヤーと信号プローブの回りに配設された接地シール
ドエクステンダーへ電気的に接続された接地シールドを
含む。接地プローブは、第２のプローバーヘッドへ接続
され、試験ケーブルの接地シールドへ接地信号を伝達す
るために接地シールドエクステンダーと一時的に接触す
るための接地ばねを有している。
点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装
置を提供する。 【解決手段】 プリント配線回路基板の上方に位置し、
同軸の試験ケーブルによって時間領域反射率計へ接続さ
れている第１のプローバーヘッドと第２のプローバーヘ
ッドを有するｘ−ｙプローバーを用いる。信号プローブ
はプローバーヘッドの一つに取付けられている。試験ケ
ーブルは、信号プローブへ電気的に接続されている信号
ワイヤーと信号プローブの回りに配設された接地シール
ドエクステンダーへ電気的に接続された接地シールドを
含む。接地プローブは、第２のプローバーヘッドへ接続
され、試験ケーブルの接地シールドへ接地信号を伝達す
るために接地シールドエクステンダーと一時的に接触す
るための接地ばねを有している。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気回路の試験に
関する。より詳細には、ｘ−ｙプローバーを用いた時間
領域反射率計（ＴＤＲ）による回路基板上の整合インピ
ーダンス試験点の試験に関する。
関する。より詳細には、ｘ−ｙプローバーを用いた時間
領域反射率計（ＴＤＲ）による回路基板上の整合インピ
ーダンス試験点の試験に関する。
【０００２】
【従来の技術】回路基板上の整合インピーダンス試験点
を試験するためには、試験プローブによって試験点に接
触することと、ＴＤＲで試験信号を分析することが必要
である。従来のＴＤＲ技術は独立した手持ち式のプロー
ブを具備している。この手持ち式のプローブは、手動で
操作して必要な試験部位に接触させる信号プローブと、
接地プローブから成っている。多数の試験部位が存在す
る場合、それぞれの部位を手動で試験することは、効率
が悪く時間のかかる作業となる。それ故、より自動化さ
れたＴＤＲの構成が開発された。それはプローバーヘッ
ドの一つだけが使用され、ＴＤＲケーブルの信号ワイヤ
ーと接地シールドが、ｘ−ｙプローバーのヘッドの一つ
の先端部へ延びているように改良されているｘ−ｙプロ
ーバーから成る。この一つのヘッドは異なる試験パッド
の間隔に対して調整され、回転できるように構成されて
いる。
を試験するためには、試験プローブによって試験点に接
触することと、ＴＤＲで試験信号を分析することが必要
である。従来のＴＤＲ技術は独立した手持ち式のプロー
ブを具備している。この手持ち式のプローブは、手動で
操作して必要な試験部位に接触させる信号プローブと、
接地プローブから成っている。多数の試験部位が存在す
る場合、それぞれの部位を手動で試験することは、効率
が悪く時間のかかる作業となる。それ故、より自動化さ
れたＴＤＲの構成が開発された。それはプローバーヘッ
ドの一つだけが使用され、ＴＤＲケーブルの信号ワイヤ
ーと接地シールドが、ｘ−ｙプローバーのヘッドの一つ
の先端部へ延びているように改良されているｘ−ｙプロ
ーバーから成る。この一つのヘッドは異なる試験パッド
の間隔に対して調整され、回転できるように構成されて
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一つのプローバーヘッ
ドに回転、調節可能な先端部を組み込むことにより、整
合インピーダンス試験点の試験装置は、大変高価で複雑
になる。従って、従来技術の問題の解決を図り、製造が
容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる
自動化されたＴＤＲ試験装置が必要となる。
ドに回転、調節可能な先端部を組み込むことにより、整
合インピーダンス試験点の試験装置は、大変高価で複雑
になる。従って、従来技術の問題の解決を図り、製造が
容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる
自動化されたＴＤＲ試験装置が必要となる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、プローバーの
回転、幅調節可能なヘッドを必要としないＴＤＲ試験装
置である。本発明は、普通２つのプローバーヘッドを有
し、ｘ、ｙ両方向及びｚ方向に移動可能なｘ−ｙプロー
バーを含んでいる。信号ワイヤーと接地シールドを有す
る同軸テストケーブルが、第１のプローバーヘッドに接
続されている。信号プローブが同軸ケーブルにコネクタ
ーを介して電気的に接続され、それによって信号プロー
ブは、同軸ケーブルの信号ワイヤーに電気的に接続され
る。接地シールドエクステンダーが、信号プローブのた
めのコネクターの回りに配設されており、同軸ケーブル
の接地シールドに電気的に接続される。信号プローブ組
立体はブラケット装置によって第１のプローバーヘッド
へ取付けられている。接地プローブは第２のプローバー
ヘッドにブラケット装置で接続されている。接地ばね
は、接地プローブへ電気的に接続されている。使用にお
いて、プローバーヘッドは、信号プローブと接地プロー
ブを移動して所望の試験部位に接触させ、信号プローブ
組立体の接地シールドエクステンダーが接地プローブの
接地ばねに接触するようにし、試験部位からの試験信号
が同軸ケーブルを介して試験分析器に電気的に伝えられ
るようにする。ｘ−ｙプローバーヘッドは、所望の試験
部位を試験するのに必要である様に自動的に様々な位置
に移動するようにプログラムされる。
回転、幅調節可能なヘッドを必要としないＴＤＲ試験装
置である。本発明は、普通２つのプローバーヘッドを有
し、ｘ、ｙ両方向及びｚ方向に移動可能なｘ−ｙプロー
バーを含んでいる。信号ワイヤーと接地シールドを有す
る同軸テストケーブルが、第１のプローバーヘッドに接
続されている。信号プローブが同軸ケーブルにコネクタ
ーを介して電気的に接続され、それによって信号プロー
ブは、同軸ケーブルの信号ワイヤーに電気的に接続され
る。接地シールドエクステンダーが、信号プローブのた
めのコネクターの回りに配設されており、同軸ケーブル
の接地シールドに電気的に接続される。信号プローブ組
立体はブラケット装置によって第１のプローバーヘッド
へ取付けられている。接地プローブは第２のプローバー
ヘッドにブラケット装置で接続されている。接地ばね
は、接地プローブへ電気的に接続されている。使用にお
いて、プローバーヘッドは、信号プローブと接地プロー
ブを移動して所望の試験部位に接触させ、信号プローブ
組立体の接地シールドエクステンダーが接地プローブの
接地ばねに接触するようにし、試験部位からの試験信号
が同軸ケーブルを介して試験分析器に電気的に伝えられ
るようにする。ｘ−ｙプローバーヘッドは、所望の試験
部位を試験するのに必要である様に自動的に様々な位置
に移動するようにプログラムされる。
【０００５】
【発明の実施の形態】図１に示すように、本発明は、ｘ
−ｙプローバー１６を使用してプリント配線回路基板１
４の整合インピーダンス試験部位１２を試験するための
ＴＤＲ試験装置１０に関する。プローバー１６は、試験
のためにプリント配線回路基板が取付けられる取付台１
８を含んでいる。プローバーは更に、固定された位置で
取付台１８より僅かに上方に取付けられた上部ｘアーム
２０及び下部ｘアーム２２を含んでいる。プローバーは
更に、スライド２８によって上部と下部のｘアームに連
結された第１のｙアーム２４と、第２のｙアーム２６と
を有している。ｙアームは、従来のｘ−ｙプローバーの
ように、ｘアームに沿って、ｘ方向に移動可能である。
第１のプローバーヘッド３０が第１のｙアーム２４上を
移動して位置決めでき、第２のプローバーヘッド３２が
第２のｙアーム２６上を移動して位置決めできるように
設けられている。プローバーヘッド３０、３２は、ｙプ
ローバーアームに沿ってｙ方向に移動できる。ｙプロー
バーアームのｘ方向の動作とｙアームに沿ったプローバ
ーヘッドのｙ方向の動作の組合せにより、プローバーヘ
ッドが、テストされる任意の２ヶ所の試験部位１２に近
接して位置決め可能となっている。プローバーヘッド３
０、３２は又、ソレノイド又はリニアモーターによっ
て、従来のｘ−ｙプローバーのように、ｚ方向にも移動
可能である。
−ｙプローバー１６を使用してプリント配線回路基板１
４の整合インピーダンス試験部位１２を試験するための
ＴＤＲ試験装置１０に関する。プローバー１６は、試験
のためにプリント配線回路基板が取付けられる取付台１
８を含んでいる。プローバーは更に、固定された位置で
取付台１８より僅かに上方に取付けられた上部ｘアーム
２０及び下部ｘアーム２２を含んでいる。プローバーは
更に、スライド２８によって上部と下部のｘアームに連
結された第１のｙアーム２４と、第２のｙアーム２６と
を有している。ｙアームは、従来のｘ−ｙプローバーの
ように、ｘアームに沿って、ｘ方向に移動可能である。
第１のプローバーヘッド３０が第１のｙアーム２４上を
移動して位置決めでき、第２のプローバーヘッド３２が
第２のｙアーム２６上を移動して位置決めできるように
設けられている。プローバーヘッド３０、３２は、ｙプ
ローバーアームに沿ってｙ方向に移動できる。ｙプロー
バーアームのｘ方向の動作とｙアームに沿ったプローバ
ーヘッドのｙ方向の動作の組合せにより、プローバーヘ
ッドが、テストされる任意の２ヶ所の試験部位１２に近
接して位置決め可能となっている。プローバーヘッド３
０、３２は又、ソレノイド又はリニアモーターによっ
て、従来のｘ−ｙプローバーのように、ｚ方向にも移動
可能である。
【０００６】本発明では、所望の試験部位１２を試験す
るために両方のプローバーヘッド３０、３２を利用する
ことによって、プローバーの回転、幅調節可能なヘッド
の必要性が無くなる。図２から図４に示すように、信号
プローブ３４と接地プローブ３６は、試験部位１２に接
触する。信号プローブ３４は、信号プローブ組立体３８
によってプローバーヘッド３０へ取付けられている。信
号プローブ組立体３８は、プローバーヘッド３０へ機械
的に固定され、取付台１８の方へ下方へ延びているブラ
ケット４０を有している。ブラケット４０の底部には、
信号プローブ３４と試験ケーブル４６を挿入するための
所定の角度に傾けた穴４４を有する信号プローブハウジ
ング４２が設けられている。試験ケーブルは、信号ワイ
ヤー４８、信号ワイヤーの回りに設けた誘電体５０、誘
電体の回りに設けた接地シールド５２、接地シールドの
外側に設けた絶縁被覆５４を含む同軸ケーブル４６であ
る。信号プローブ３４は、信号プローブに近接した試験
ケーブルの端部に設けたコネクター５６によって信号ワ
イヤー４８に電気的に接続されている。信号プローブと
試験ケーブルは、ボルト５８によって穴４４の中でコネ
クターを締め付けることによって信号プローブハウジン
グへ連結されている。試験ケーブルは、ｘ−ｙプローバ
ーから外方へ延びており、図１で示すようにコネクター
６０によって電気的にＴＤＲに接続されている。接地シ
ールドエクステンダー６２又は緩衝棒が信号プローブ３
４の回りに配設され、ボルト５８によって信号プローブ
ハウジング４２の外表面へ連結されている。接地シール
ドエクステンダー６２の機能については、詳細に後述す
る。
るために両方のプローバーヘッド３０、３２を利用する
ことによって、プローバーの回転、幅調節可能なヘッド
の必要性が無くなる。図２から図４に示すように、信号
プローブ３４と接地プローブ３６は、試験部位１２に接
触する。信号プローブ３４は、信号プローブ組立体３８
によってプローバーヘッド３０へ取付けられている。信
号プローブ組立体３８は、プローバーヘッド３０へ機械
的に固定され、取付台１８の方へ下方へ延びているブラ
ケット４０を有している。ブラケット４０の底部には、
信号プローブ３４と試験ケーブル４６を挿入するための
所定の角度に傾けた穴４４を有する信号プローブハウジ
ング４２が設けられている。試験ケーブルは、信号ワイ
ヤー４８、信号ワイヤーの回りに設けた誘電体５０、誘
電体の回りに設けた接地シールド５２、接地シールドの
外側に設けた絶縁被覆５４を含む同軸ケーブル４６であ
る。信号プローブ３４は、信号プローブに近接した試験
ケーブルの端部に設けたコネクター５６によって信号ワ
イヤー４８に電気的に接続されている。信号プローブと
試験ケーブルは、ボルト５８によって穴４４の中でコネ
クターを締め付けることによって信号プローブハウジン
グへ連結されている。試験ケーブルは、ｘ−ｙプローバ
ーから外方へ延びており、図１で示すようにコネクター
６０によって電気的にＴＤＲに接続されている。接地シ
ールドエクステンダー６２又は緩衝棒が信号プローブ３
４の回りに配設され、ボルト５８によって信号プローブ
ハウジング４２の外表面へ連結されている。接地シール
ドエクステンダー６２の機能については、詳細に後述す
る。
【０００７】接地プローブ３６は、取付台１８に向かっ
てプローバーヘッドから下方へ延びているブラケット６
４によって第２のプローバーヘッドに連結されている。
接地プローブ３６は、ブラケット６４の端部に設けた接
地プローブハウジング６６によってブラケット６４へ接
続される。接地ばね６８が、接地プローブ３６へ電気的
に接続されると共に、接地プローブハウジング６６に固
定、連結され、信号プローブ組立体の方へ外方へ延びる
ことができるようになっている。この実施態様の接地ば
ねは柔軟な針金であり、接地シールドエクステンダーは
柔軟な金属帯であって、信号プローブと接地プローブが
所望の試験部位に接触するように移動すると、接地ばね
と接地シールドエクステンダーが所望の試験部位間の様
々に異なる間隔に適応できるようになっている。従っ
て、使用に際しては、信号プローブが試験部位に接触す
るように移動し、接地プローブが試験部位に接触するよ
うに移動すると、接地ばねと接地シールドエクステンダ
ーは互いに接触する。信号プローブからの試験信号は信
号ワイヤーを介してＴＤＲへ送出される。接地プローブ
からの接地信号は、接地ばねを介して接地シールドエク
ステンダーへ送出され、次いで分析のためにＴＤＲ試験
装置への試験ケーブルの接地シールドへ送出される。
てプローバーヘッドから下方へ延びているブラケット６
４によって第２のプローバーヘッドに連結されている。
接地プローブ３６は、ブラケット６４の端部に設けた接
地プローブハウジング６６によってブラケット６４へ接
続される。接地ばね６８が、接地プローブ３６へ電気的
に接続されると共に、接地プローブハウジング６６に固
定、連結され、信号プローブ組立体の方へ外方へ延びる
ことができるようになっている。この実施態様の接地ば
ねは柔軟な針金であり、接地シールドエクステンダーは
柔軟な金属帯であって、信号プローブと接地プローブが
所望の試験部位に接触するように移動すると、接地ばね
と接地シールドエクステンダーが所望の試験部位間の様
々に異なる間隔に適応できるようになっている。従っ
て、使用に際しては、信号プローブが試験部位に接触す
るように移動し、接地プローブが試験部位に接触するよ
うに移動すると、接地ばねと接地シールドエクステンダ
ーは互いに接触する。信号プローブからの試験信号は信
号ワイヤーを介してＴＤＲへ送出される。接地プローブ
からの接地信号は、接地ばねを介して接地シールドエク
ステンダーへ送出され、次いで分析のためにＴＤＲ試験
装置への試験ケーブルの接地シールドへ送出される。
【０００８】図５は、信号プローブ３４と接地プローブ
３６が試験部位１２に接触しているとき、接地ばね６８
が接地シールドエクステンダー６２に接触している状態
を示している。注意すべき点は、図５の実施態様では既
述の実施態様と異なり、接地ばね６８が接地プローブ３
６と一体になっており、接地プローブハウジング６６へ
固定された別々の針金ではなく接地プローブからの延長
部分となっている点である。
３６が試験部位１２に接触しているとき、接地ばね６８
が接地シールドエクステンダー６２に接触している状態
を示している。注意すべき点は、図５の実施態様では既
述の実施態様と異なり、接地ばね６８が接地プローブ３
６と一体になっており、接地プローブハウジング６６へ
固定された別々の針金ではなく接地プローブからの延長
部分となっている点である。
【０００９】図６、７は、信号プローブ組立体７２の接
地シールドエクステンダー７０と接地プローブ組立体７
６へ接続されている接地ばね７４に関する他の実施態様
を示している。この実施態様では、接地シールドエクス
テンダーは、信号プローブコネクター５６の回りに配設
された金属帯であり、接地プローブ組立体７６へ向かっ
て信号プローブ３４から上方及び外方に延びている手の
指のような延長部分又は突縁部を含んでいる。この実施
態様では、まず接地プローブが所望の試験点に接触する
ように位置決めされ、次に信号プローブが所望の試験部
位に接触するための位置へ移動して、接地シールドエク
ステンダー７０の手の指のような突起が、接地ばね７４
へ接触するようにする。接地ばねは、接地シールドエク
ステンダーが接触したときに曲がるように柔軟である。
この構成では、接地シールドエクステンダーは剛体であ
る。
地シールドエクステンダー７０と接地プローブ組立体７
６へ接続されている接地ばね７４に関する他の実施態様
を示している。この実施態様では、接地シールドエクス
テンダーは、信号プローブコネクター５６の回りに配設
された金属帯であり、接地プローブ組立体７６へ向かっ
て信号プローブ３４から上方及び外方に延びている手の
指のような延長部分又は突縁部を含んでいる。この実施
態様では、まず接地プローブが所望の試験点に接触する
ように位置決めされ、次に信号プローブが所望の試験部
位に接触するための位置へ移動して、接地シールドエク
ステンダー７０の手の指のような突起が、接地ばね７４
へ接触するようにする。接地ばねは、接地シールドエク
ステンダーが接触したときに曲がるように柔軟である。
この構成では、接地シールドエクステンダーは剛体であ
る。
【００１０】図８、９は、接地シールドエクステンダー
７８と接地ばね８０に関する更に他の実施態様を示して
いる。この実施態様では接地シールドエクステンダー７
８は、接地プローブ組立体８２へ向かって信号プローブ
３４から上方及び外方へ延びていて、信号プローブコネ
クター５６の回りに配設されている柔軟な線ばねであ
る。接地ばねは、接地プローブハウジング６６へ固定さ
れた屈曲又は湾曲した剛体の棒材であり、接地プローブ
３６へ電気的に接続されている。接地プローブが試験部
位に接触するように移動し、それから信号プローブが試
験部位の場所へ移動して、柔軟な接地シールドエクステ
ンダーが接地ばねに接触するようにする。この実施態様
では、接地ばねが剛体の棒材であり、接地シールドエク
ステンダーが柔軟である。
７８と接地ばね８０に関する更に他の実施態様を示して
いる。この実施態様では接地シールドエクステンダー７
８は、接地プローブ組立体８２へ向かって信号プローブ
３４から上方及び外方へ延びていて、信号プローブコネ
クター５６の回りに配設されている柔軟な線ばねであ
る。接地ばねは、接地プローブハウジング６６へ固定さ
れた屈曲又は湾曲した剛体の棒材であり、接地プローブ
３６へ電気的に接続されている。接地プローブが試験部
位に接触するように移動し、それから信号プローブが試
験部位の場所へ移動して、柔軟な接地シールドエクステ
ンダーが接地ばねに接触するようにする。この実施態様
では、接地ばねが剛体の棒材であり、接地シールドエク
ステンダーが柔軟である。
【００１１】図１０は、接地シールドエクステンダー８
４と接地ばね８６に関する更に他の実施態様の構成を表
している。この実施態様では、接地シールドエクステン
ダーは、信号プローブコネクターの回りに延設された管
状の金属帯である。接地ばねは、接地プローブハウジン
グに固定された片持ちのループ状のばねである。図１１
は、接地シールドエクステンダー８８と接地ばね９０に
関する更に他の実施態様を示している。この実施態様で
は、接地シールドエクステンダーは、信号プローブコネ
クター５６のまわりに配設されたブラケット９２であ
り、信号プローブから上方に延びて一端に従来型のばね
プローブ９６のための取付台９４を有している。接地ば
ね９０は、接地プローブ３６と接地プローブハウジング
６６から延びている鉛直の壁である。接地ばね９０は、
接地プローブ３６と信号プローブ３４が各々のテスト位
置に移動したときに、ばねプローブ９６を圧縮するのに
十分に抵抗する剛体となっている。
４と接地ばね８６に関する更に他の実施態様の構成を表
している。この実施態様では、接地シールドエクステン
ダーは、信号プローブコネクターの回りに延設された管
状の金属帯である。接地ばねは、接地プローブハウジン
グに固定された片持ちのループ状のばねである。図１１
は、接地シールドエクステンダー８８と接地ばね９０に
関する更に他の実施態様を示している。この実施態様で
は、接地シールドエクステンダーは、信号プローブコネ
クター５６のまわりに配設されたブラケット９２であ
り、信号プローブから上方に延びて一端に従来型のばね
プローブ９６のための取付台９４を有している。接地ば
ね９０は、接地プローブ３６と接地プローブハウジング
６６から延びている鉛直の壁である。接地ばね９０は、
接地プローブ３６と信号プローブ３４が各々のテスト位
置に移動したときに、ばねプローブ９６を圧縮するのに
十分に抵抗する剛体となっている。
【００１２】全ての実施態様において、接地信号は、接
地プローブを介して接地ばねへ送出され、次いで接地シ
ールドエクステンダーへ送出されて、ＴＤＲ自身へ向か
う試験ケーブルの中の接地シールドへ送出される。試験
信号は、試験部位から信号プローブを介して、ＴＤＲへ
向かう試験ケーブルの中の信号ワイヤーへ送出される。
信号プローブ及び接地プローブは、必要なｘ、ｙ及びｚ
方向に、ｘ−ｙプローバーのプローバーヘッドによって
移動する。
地プローブを介して接地ばねへ送出され、次いで接地シ
ールドエクステンダーへ送出されて、ＴＤＲ自身へ向か
う試験ケーブルの中の接地シールドへ送出される。試験
信号は、試験部位から信号プローブを介して、ＴＤＲへ
向かう試験ケーブルの中の信号ワイヤーへ送出される。
信号プローブ及び接地プローブは、必要なｘ、ｙ及びｚ
方向に、ｘ−ｙプローバーのプローバーヘッドによって
移動する。
【００１３】本発明は以下の特徴を有することもでき
る。 ａ．回路基板試験装置において、２つのプローバーヘッ
ドを有するｘ−ｙプローバーと、時間領域反射率計と、
試験信号と接地信号をｘ−ｙプローバーに配置されたプ
リント配線回路基板から時間領域反射率計へ伝達する信
号ワイヤーと接地シールドを有する試験ケーブルと、第
１のプローバーヘッドに配設されている信号プローブへ
接続されている試験ケーブルの接地シールドへ電気的に
接続されたシールド部材であって、前記信号プローブが
試験ケーブルの信号ワイヤーへ電気的に接続されて成る
シールド部材と、接地シールドへ接地信号を伝達するた
めにシールド部材と一次的に接触するための手段を有
し、信号プローブに関して不定に位置を変えることが可
能な第２のプローバーヘッドに配設された接地プローブ
とを具備する回路基板試験装置。 ｂ．シールド部材へ接地信号を伝達するための手段が接
地プローブに電気的に接続された接地ばねを含む特徴ａ
に記載の試験装置。 ｃ．シールド部材が柔軟な金属帯である特徴ａに記載の
試験装置。 ｄ．接地ばねが接地プローブと一体に構成されている特
徴ｂに記載の試験装置。 ｅ．シールド部材が接地ばねを押すための剛体の指状の
構成要素を含んでいる特徴ｂに記載の試験装置。 ｆ．シールド部材が柔軟な線ばねである特徴ａに記載の
試験装置。 ｇ．接地ばねが、剛体の棒材である特徴ｆに記載の試験
装置。 ｈ．シールド部材が、信号プローブの回りに配設された
柔軟な筒状のハウジングである特徴ａに記載の試験装
置。 ｉ．接地ばねが、片持ちのループ状のばねである特徴ｈ
に記載の試験装置。 ｊ．シールド部材が、ばねプローブである特徴ａに記載
の試験装置。 ｋ．接地ばねが、剛体の垂直な壁である特徴ｊに記載の
試験装置。
る。 ａ．回路基板試験装置において、２つのプローバーヘッ
ドを有するｘ−ｙプローバーと、時間領域反射率計と、
試験信号と接地信号をｘ−ｙプローバーに配置されたプ
リント配線回路基板から時間領域反射率計へ伝達する信
号ワイヤーと接地シールドを有する試験ケーブルと、第
１のプローバーヘッドに配設されている信号プローブへ
接続されている試験ケーブルの接地シールドへ電気的に
接続されたシールド部材であって、前記信号プローブが
試験ケーブルの信号ワイヤーへ電気的に接続されて成る
シールド部材と、接地シールドへ接地信号を伝達するた
めにシールド部材と一次的に接触するための手段を有
し、信号プローブに関して不定に位置を変えることが可
能な第２のプローバーヘッドに配設された接地プローブ
とを具備する回路基板試験装置。 ｂ．シールド部材へ接地信号を伝達するための手段が接
地プローブに電気的に接続された接地ばねを含む特徴ａ
に記載の試験装置。 ｃ．シールド部材が柔軟な金属帯である特徴ａに記載の
試験装置。 ｄ．接地ばねが接地プローブと一体に構成されている特
徴ｂに記載の試験装置。 ｅ．シールド部材が接地ばねを押すための剛体の指状の
構成要素を含んでいる特徴ｂに記載の試験装置。 ｆ．シールド部材が柔軟な線ばねである特徴ａに記載の
試験装置。 ｇ．接地ばねが、剛体の棒材である特徴ｆに記載の試験
装置。 ｈ．シールド部材が、信号プローブの回りに配設された
柔軟な筒状のハウジングである特徴ａに記載の試験装
置。 ｉ．接地ばねが、片持ちのループ状のばねである特徴ｈ
に記載の試験装置。 ｊ．シールド部材が、ばねプローブである特徴ａに記載
の試験装置。 ｋ．接地ばねが、剛体の垂直な壁である特徴ｊに記載の
試験装置。
【図１】本発明のｘ−ｙプローバーの略平面図である。
【図２】図１のプローバーのプローバーヘッドに取付け
られている信号プローブ及び接地プローブ装置の正面図
である。
られている信号プローブ及び接地プローブ装置の正面図
である。
【図３】図２の信号プローブ及び接地プローブ装置の平
面図である。
面図である。
【図４】図２の信号プローブ及び接地プローブ装置の側
面図である。
面図である。
【図５】図２の信号プローブと接地プローブの変形の実
施態様の正面図であり、接地プローブが接地ばねと一体
になっている。
施態様の正面図であり、接地プローブが接地ばねと一体
になっている。
【図６】本発明の信号プローブと接地プローブ装置の更
に他の実施態様の正面図である。
に他の実施態様の正面図である。
【図７】図６の信号プローブと接地プローブの平面図で
ある。
ある。
【図８】本発明の信号プローブと接地プローブ装置の更
に他の実施態様である。
に他の実施態様である。
【図９】図８の信号プローブと接地プローブの平面図で
ある。
ある。
【図１０】本発明の信号プローブと接地プローブ装置の
更に他の実施態様である。
更に他の実施態様である。
【図１１】本発明の信号プローブと接地プローブ装置の
更に他の実施態様の正面図である。
更に他の実施態様の正面図である。
１０…ＴＤＲ試験装置 １２…整合インピーダンス試験部位 １４…プリント配線回路基板 １６…ｘ−ｙプローバー １８…取付台 ３０…第１のプローバーヘッド ３２…第２のプローバーヘッド ３４…信号プローブ ３６…接地プローブ ４６…試験ケーブル ４８…信号ワイヤー ５２…接地シールド ６２、７０、７８、８４、９８…接地シールドエクステ
ンダー ６８、７４、８０、８６、９０…接地ばね
ンダー ６８、７４、８０、８６、９０…接地ばね
Claims (11)
- 【請求項１】 プリント配線回路基板の整合インピーダ
ンス試験部位を試験するためのプリント配線回路基板試
験装置において、 プリント配線回路基板を受容するためのプリント配線回
路基板台と、 前記台の上方でｘ、ｙ及びｚ方向に移動可能な第１の試
験ヘッドと、 前記台の上方でｘ、ｙ及びｚ方向に移動可能な第２の試
験ヘッドと、 第１と第２の試験ヘッドの一方へ取付けられた信号プロ
ーブと、 信号プローブへ電気的に接続されている信号ワイヤー
と、接地シールドとを含み、時間領域反射率計へ試験信
号を伝達する試験ケーブルと、 信号プローブの回りに配設され、試験ケーブルの接地シ
ールドへ電気的に接続された接地シールドエクステンダ
ーと、 接地シールドエクステンダーへ接地信号を伝達するため
の手段を有する第１と第２の試験ヘッドの他方に取付け
られた接地プローブとを具備するプリント配線回路基板
試験装置。 - 【請求項２】 接地シールドエクステンダーへ接地信号
を伝達するための手段が、接地プローブへ電気的に接続
された接地ばねを含む請求項１に記載の試験装置。 - 【請求項３】 接地シールドエクステンダーが柔軟な金
属帯である請求項１に記載の試験装置。 - 【請求項４】 接地ばねが接地プローブと一体に構成さ
れている請求項２に記載の試験装置。 - 【請求項５】 接地シールドエクステンダーが、接地ば
ねを押すための剛体の指状の構成要素を含んでいる請求
項２に記載の試験装置。 - 【請求項６】 接地シールドエクステンダーが、柔軟な
線ばねである請求項１に記載の試験装置。 - 【請求項７】 接地ばねが剛体の棒材である請求項６に
記載の試験装置。 - 【請求項８】 接地シールドエクステンダーが、信号プ
ローブの回りに配設された柔軟な筒状ハウジングである
請求項１に記載の試験装置。 - 【請求項９】 接地ばねが、片持ちのループ状のばねで
ある請求項８に記載の試験装置。 - 【請求項１０】 接地シールドエクステンダーが、ばね
プローブである請求項１に記載の試験装置。 - 【請求項１１】 接地ばねが剛体の鉛直の壁である請求
項１０に記載の試験装置。
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