JP2000028558A - 熱物性測定方法と装置 - Google Patents

熱物性測定方法と装置

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JP2000028558A JP10193406A JP19340698A JP2000028558A JP 2000028558 A JP2000028558 A JP 2000028558A JP 10193406 A JP10193406 A JP 10193406A JP 19340698 A JP19340698 A JP 19340698A JP 2000028558 A JP2000028558 A JP 2000028558A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】固体、液体、気体の熱拡散率、熱伝導率を同時
に測定でき、熱浸透率や体積比熱も測定できる方法と装
置を提供すること。 【解決手段】薄い難導電性の被測定試料3の片面に交流
電力を与えて交流熱を発生させ、該交流熱による該試料
の他面の波状の温度変化を抵抗式温度計の電圧の変化に
より測定し、与えた交流電力の波形と測定した電圧の波
形の位相差に基づき該試料の熱拡散率等の熱物性を算出
する測定方法に於いて、該交流熱を一定周波数の任意波
形16の交流電力を与えて発生させ、測定される電圧の
波形をn次の高調波成分に分解するとともにその各次の
高調波の波形について該矩形波に対する振幅比および位
相差を求め、求めた振幅比および位相差から該試料の熱
拡散率や熱伝導率、熱浸透率或いは体積比熱の熱物性の
少なくとも1つを求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、難導電性の薄板や
フィルム、液体、気体などの物質の熱拡散率や熱伝導
率、体積比熱、熱浸透率の熱物性を測定する方法と装
置、並びにその測定と同時に示差熱分析を行なう装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、樹脂成形品の成形の際の金型内で
の樹脂の挙動や樹脂成形品の応力を解析するため、樹脂
の熱拡散率や熱伝導率などの熱物性を正確に把握するこ
との要望がある。熱拡散率の測定方法として、板状の試
料に光吸収膜を設けてこれに間欠的にレーザを照射し、
該吸収膜に生じる瞬間的な熱の波動が該試料の他面に伝
わる時間と温度を測定するレーザフラッシュ法や、薄板
やフィルムなどの薄い難導電性の被測定材料の両面に導
電性の薄膜を形成あるいは密着させ、その片面の薄膜を
交流電源に接続して通電により発熱する発熱体とし、他
面の薄膜を抵抗式温度計の電気抵抗として組み込み、片
面の薄膜で発生する交流発熱の波形と、該温度計で測定
される温度波形の位相差を求め、この位相差と交流電流
の周波数との関係式から該被測定試料の厚さ方向の熱拡
散率を求める交流ジュール熱法(交流法、acカロリー
メータ法、交流加熱法とも呼ばれている。特開平6−1
30012号公報参照)が知られている。
【0003】このうち交流ジュール熱法は、被測定試料
の量がわずかで済む利点があり、その導電性の薄膜は、
金などの金属薄膜をオングストローム台の厚さで被測定
試料に直接スパッタリングや蒸着により形成され、被測
定試料自体にスパッタリングや蒸着で薄膜を直接形成で
きないときは、図1及び図2に示すように、導電性の薄
膜a、aをスパッタリングなどで2枚の板ガラスなどの
平板の媒質b、bの片面に形成し、被測定試料cの両面
にこれら媒質b、bを密着させることにより薄膜a、a
が密着される。そして、この方法の測定には、図3に示
したような、片面の薄膜aに周波数fのsin波の交流
電流を与える交流信号発振器dと、他面の薄膜aの温度
波形を増幅するロックインアンプeと、位相差を求めて
周波数との関係から熱拡散率を算出する演算器gを備え
た装置が使用され、被測定試料cは温度制御器hで温度
制御された炉i内に設置される。
【0004】この交流ジュール熱法の測定原理は次の通
りである。片面の薄膜aに周波数fの交流電力を与える
ことにより波状の交流熱が発生し、その熱は被測定試料
の厚さ方向に伝播してその裏面へ到達し、裏面温度が交
流的に変化する。この裏面温度の変化(温度波)は他面
の薄膜の電気抵抗に変化を与え、この抵抗変化を電圧変
化として読み取ることにより測定できる。他面の薄膜a
には交流増幅器の1種であるロックインアンプeが接続
されており、これにより印加した周波数fで固定して入
力波形と、試料cの厚みを通して伝播することにより位
相遅れを生じた出力波形との位相差Δφを求める。一次
元の熱伝導を仮定して熱伝導方程式を解くと、試料cに
よる位相差Δφは次式で表される(橋本寿正、他;第2
5回記念熱測定討論会講演要旨集、(1989)p.3104
B)。 Δφ=−kd−π/4−β=−(πf/α)1/2・d−π/4−β (1) β=tan-1{exp(-2kd)sin(-2kd)/〔[(ξ+1)/(ξ−1)]2−exp(-2kd )cos(2kd)〕 (2) ξ=c√α/CS√αS、k=√(ω/2α)=√(πf/α) ここで添字sは媒質または基盤を示し、dは被測定試料
の厚さ、αは被測定試料の熱拡散率、βは被測定試料と
周囲の媒質に関係する量で、もし媒質bが被測定試料と
同じ熱浸透率(=√λCPρ;λは熱伝導率、CPは定圧
比熱、ρは密度)をもつとすると、β=0となる。また
被測定試料が(πf/α)1/2・d>1の場合には、第
2項のβは第1項に比べて無視できる程に小さく、実験
誤差範囲で次の近似式が成り立つ。 Δφ≒−(πf/α)1/2・d−π/4 (3) したがって、周波数fを変えて位相差Δφを測定し、周
波数fの平方根〜位相差をプロットすれば、β=0の条
件が成り立つ範囲では、図4に示されるような直線が得
られ、この直線の勾配は、π/αに一致するから、勾配
から被測定試料の熱拡散率が求められる。
【0005】また、被測定試料は図2に示すような単一
層に限らず、図5に示すような多層試料であってもよ
く、層間の熱接触抵抗が無視できる場合には、前記と同
様の解析の結果、p番目の層による温度波の位相差Δφ
Pは、近似的にΔφP=(πf/αP1/2・dP と表す
ことができる(荒木信幸、他;第17回日本熱物性シン
ポジュウム講演論文集、(1996)p.31−34)。この式の
添え字Pは、p番目の層を示す(p=1,2,3,…)。
【0006】熱拡散率は被測定試料自体の温度により変
化するので、熱拡散率の温度依存性を知ることの要望が
あり、その依存性を求めるための一法として、1つの周
波数f1を固定して前記(1)式より直ちに熱拡散率を求
め、被測定試料温度対熱拡散率のプロットを得る方法が
ある(橋本寿正;第29回熱測定討論会講演要旨集、(1
993)p.222−223)。しかし、この方法では、100℃
以上では0.2℃/min以下の昇温速度に制限されると
いう制約がある。他の方法として、定速昇温−冷却−昇
温−冷却を繰り返し、各昇温の際に周波数fを変えて位
相差をそれぞれ測定し、各温度毎の周波数の平方根対位
相差のプロットから熱拡散率を求める方法があるが、こ
の方法も毎回の昇温過程が被測定試料内で全く同じメカ
ニズムで進行しているという保証はなく、物によっては
昇温融解の過程で内部構造の変質する可能性があり、し
たがって現象に対して測定結果が忠実に反映していない
という問題を残している。更に他の方法として、被測定
試料を各温度に定温制御して一定温度に保ち、その間に
周波数fを変えて測定を行い、その温度における熱拡散
率を求め、次により高い温度に保持して測定を繰り返す
という方法があるが、この方法も融解やガラス転移の過
程で一定の温度に保持されている間に内部構造の変質の
可能性があり、前記の方法と同様の問題を残している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記したレーザフラッ
シュ法や交流ジュール熱法は熱拡散率の測定方法であ
り、熱伝導率は直接求めることができず、熱伝導率λ
(=αCPρ)を求めるには、熱拡散率αを求めたのち
別の測定法または別の測定装置で定圧比熱CPと密度ρ
を測定して計算により求めなければならない。しかも、
これらの方法では気体の熱拡散率を求めることができ
ず、液体の熱拡散率も特別の容器を使用したり特殊な測
定方法でないと測定ができない不都合があった。
【0008】また、レーザフラッシュ法では、試料が厚
さ0.1mm以下或いは5mm以上であったり、ダイヤ
モンドのように熱拡散率が大きい試料、レーザ光が透過
するガラスなどの試料、大きさが3mm以下の試料、に
ついては測定が困難か不可能で、試料についての制約が
多い欠点がある。交流ジュール熱法は、測定時間にある
程度の時間を要するために、試料の急速な昇温および冷
却過程の熱拡散率の変化を測定することが困難である。
【0009】さらに、熱拡散率の温度依存性を求める従
来の方法は、被測定試料温度についての熱拡散率は得ら
れても、実際の昇温または冷却の過程における真の値と
は異なる可能性があり、その改良が要望されている。
【0010】本発明は、固体、液体のみならず気体の熱
拡散率、熱伝導率を同時に測定でき、熱浸透率や体積比
熱も測定できる方法と装置を提供すること、測定時間が
短く融解または凝固過程の固体と液体の混合状態の試料
の熱物性を連続的に測定でき、透光性試料や厚さがナノ
メータ単位の薄膜から数ミリメートルの薄板まで広い厚
さ範囲の試料の熱物性を測定できる方法と装置を提供す
ること、熱拡散率の測定と同時に示差熱分析できる装置
を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では、薄い難導電
性の被測定試料の片面に交流電力を与えて交流熱を発生
させ、該交流熱による該試料の他面の波状の温度変化を
抵抗式温度計の電圧の変化により測定し、与えた交流電
力の波形と測定した電圧の波形の位相差に基づき該試料
の熱拡散率等の熱物性を算出する測定方法に於いて、該
交流熱を一定周波数の任意波形の交流電力を与えて発生
させ、測定される電圧の波形をn次の高調波成分に分解
するとともにその各次の高調波の波形について該任意波
形に対する振幅比および位相差を求め、求めた振幅比お
よび位相差から該試料の熱拡散率や熱伝導率、熱浸透率
或いは体積比熱の熱物性の少なくとも1つを求めること
により、上記の目的を達成するようにした。該任意波形
には0より大きく1より小さいデューティ比をもつ矩形
波を使用し、該電圧の波形の分解はフーリエ変換により
行われる。
【0012】上記目的は、請求項3或いは請求項4に記
載の構成をもつ装置により達成され、流体の熱物性の測
定は請求項5或いは請求項6の構成を有する方法や装置
により的確に行える。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
き説明すると、図6に於いて符号1は温度コントローラ
2により昇温・冷却・一定温度保持に制御された炉、3
は該炉1内に置かれた高分子材料や無機材料、セラミッ
クスなどの難導電性の薄板、薄膜、フィルムなどの薄い
被測定試料を示す。この被測定試料3の両面に、通電に
より発熱し且つ温度変化により電気抵抗が変化する金な
どの金属材料の薄膜6、7を片面に形成したガラスなど
の絶縁材料製の基板4、5を当接させた。各基板4、5
の詳細は図7に示す如くであり、各薄膜6、7はスパッ
タリング或いは蒸着により厚さ10〜5000オングス
トローム、10Ω〜10KΩの抵抗値になるように形成
され、各基板4、5の当接で各薄膜6、7が該試料3の
両面に直接密着する。各薄膜6、7は、リード薄膜8を
介してリード線9に接続され、一方の薄膜6はファンク
ションシンセサイザー11で制御された交流電源10に
接続される。該電源10はファンクションシンセサイザ
ー11により制御されて例えば任意波形として図8のよ
うなデューティ比aが0<a<1の矩形波16の交流電
力を出力し、薄膜6はこの矩形波に対応した温度波を発
生する。そして、その温度波は被測定材料3の厚さ方向
に伝わり、もう一方の薄膜7を加熱する。該他方の薄膜
7は直流電源12に接続されて抵抗式温度計を構成し、
該薄膜7に補償器13及びロックインアンプ14を介し
てパーソナルコンピュータなどの演算器15に接続し、
該薄膜7で検出される電圧の矩形波をn次の高調波に分
解するフーリエ変換器17を該補償器13の前方に介在
させた。尚、被測定試料3が溶解性のある場合、図9の
ようにスペーサ30、30を一方の基板に設けておき、
該試料が溶解してもその厚さが変わらないようにした。
【0014】本発明の特徴は、従来の交流ジュール熱法
が、被測定試料への熱入力として、周波数を変えたいく
つかのサイン波の交流熱を加えるのに対して、熱入力と
してフーリエ変換でn次の周波数の波形に分解できる1
つの周波数の波形例えば矩形波の熱を与え、熱出力とし
てn次の周波数の温度波を検出し、それぞれの温度波の
位相差を測定することにより被測定試料の熱拡散率を求
めるようにした点に存し、従来法に比べて極めて短時間
に熱拡散率を求めることができ、これに伴い被測定試料
の昇温過程または冷却過程での熱拡散率や熱伝導率を容
易に求めることができる。
【0015】本発明の適切な実施例によれば、熱入力と
して1つの周波数の矩形波を与えるのみであり、熱出力
の検出と解析に10波長程度を検出し、n次の高調波と
してn=10程度をとるとしても、f=2Hzでは約1
℃/min、f=200Hzでは100℃/minの昇温速度
でも測定可能になり、実際の熱分析の昇温速度で或いは
より一層高速で昇温させながら熱拡散率の変化を追跡で
きる。
【0016】図6の装置を使用して被測定試料3を熱分
析する場合、まず該電源10から次式(4)で表され図8
の波形を有する矩形波の交流を金属抵抗Rの薄膜6に与
える。
【0017】
【表4】
【0018】ここでV0は矩形波の振幅電圧、mは自然
数、aは矩形波のデューティ比で0<a<1である。
【0019】このV(t)をフーリエ変換し、角周波数空
間で表すと次式(5)のように示される。
【0020】
【表5】
【0021】この電圧によるジュール熱はq(t)=V2
(S・R)であるので、(5)式の高次項の線形結合とし
て(6)式が得られる。Sは加熱面の面積すなわち薄膜6
の面積である。
【0022】
【表6】
【0023】薄膜6で発生する熱すなわち熱入力が厚さ
dの被測定試料3内を一次元熱流で伝わると仮定して、
高次項のそれぞれについて熱伝導方程式を解くと、厚さ
dの面へ伝わる温度波T(d、t)は線形結合を仮定して(7)
式が得られる。
【0024】
【表7】
【0025】薄膜6からの熱入力の各n次の温度波に対
する温度出力(熱出力)の位相遅れ(位相差)は、近似
的に前記(2)式と同様に次式(8)がなりたつ。 Δφn=−(nπf/αn1/2・d−π/4−anπ …(8) そして、位相差が測定されることによって、各n次の温
度波について平方根〜位相差をプロットすることがで
き、従来の交流ジュール熱法と同様にβ=0の条件がな
りたつ範囲では直線的なプロットになるので、その勾配
から被測定試料3の熱拡散率が求まる。
【0026】また、振幅からも熱拡散率を求めることも
できる。即ち、周波数fの基本波の振幅をA1、n次の
高調波の振幅をAnとすると、(7)式から
【0027】
【表9】
【0028】従って、(9)式の対数からkdが得られ、
波数k(熱拡散長さの逆数)から熱拡散率αが求められ
る。尚、図8のような矩形波16以外の三角波、サイン
波等の任意の波形についても同様の結果が得られる。
【0029】次に基板4の体積比熱と熱拡散率が既知で
あり、さらに被測定試料3の熱拡散率も既知である場
合、(5)式の振幅電圧および(10)式から被測定試料3の
体積比熱(または熱伝導率)を求めることができる。(1
0)式のRは抵抗、Eは検出回路の直流電源電圧、RD
検出回路のダミー抵抗値である。
【0030】
【表10】
【0031】(10)式を用いて被測定試料3の体積比熱を
精度よく求める方法がいくつかある。その内の一つは熱
入力qを変えて熱出力の振幅を測定し、横軸にq、縦軸
に振幅をとり、そのプロットして得られる直線の勾配Z
を測定する。次に被測定試料を基板4と同一材料で同様
に測定し、プロットして得られた直線の勾配ZSを求め
る。この勾配の比は、C、α、CS、αSの関数なので、
S、αSが既知であれば、Cは(11)式より計算で求めら
れる。添え字のsは、基板4を表す。
【0032】
【表11】
【0033】ここで体積比熱Cと熱拡散率αおよび熱浸
透率Eなどの関係式をまとめておく。 λ=α・CP・ρ=α・C E=(λ・CP・ρ)1/2=(λ・C)1/2=C・(α)1/2 本発明によれば、被測定試料が液体や気体の流体であっ
てもその熱拡散率、熱伝導率、熱浸透率の測定が可能で
あり、この場合、図10に示すようなガラスなどの絶縁
板18の両面に、金などの通電発熱し温度による抵抗変
化のある金属薄膜19、20をスパッタ等により形成し
た測定プローブ23を用い、該プローブ23を図11に
示すようなポリエチレンなどの絶縁体の容器21内の液
体22もしくは気体中に浸漬し、該金属薄膜19、20
から延びるリード線24、25を図6と同様に電源10
とフーリエ変換器17、演算器15などに接続して測定
が行われる。該絶縁板18の比熱と熱拡散率を予め本発
明の上記方法により知っておき、一方の金属薄膜に電源
から矩形波の交流電力を与え、他方の金属薄膜から温度
波を検出し、前記の関係式から位相差を測定すれば、液
体もしくは気体の熱拡散率を求めることができ、位相差
と振幅比を測定すれば、液体もしくは気体の熱伝導率お
よび比熱を容易に求めることが出来る。尚、比熱と熱伝
導率が既知の標準液体または標準気体を測定プローブ2
3の較正用として用意し、測定値を較正することが必要
である。
【0034】また、被測定試料3の熱拡散率の測定と同
時にこの試料3の示差熱分析を行うことが可能であり、
この場合には、温度コントローラ2で昇温・冷却が制御
された炉1内の被測定試料3の抵抗式温度計を図12に
示すようにブリッジ回路26で構成し、直流電源12に
対して被測定試料3の他面の薄膜7と導電性の示差熱分
析用標準物質からなる薄い標準薄膜27とを電気抵抗と
して直列に接続し、該ブリッジ回路26の電圧計28を
演算器15に接続する。この場合、薄膜7から直流変化
成分と交流変化成分を同時に検出することができ、被測
定試料3の昇温・冷却中に融解などの吸発熱を伴う相転
移が生じると、被測定試料3と標準薄膜27との間に温
度差が生じ、その差を電圧計28で測定し、その温度差
を演算器15で積分することにより被測定試料3の示差
熱分析を行える。すなわち、薄膜7から検出される電圧
変化をその抵抗の絶対値である直流変化成分と、温度波
による抵抗値の位相変化である交流変化成分が同時に測
定されるから、温度環境が同一となり正確な熱分析を行
える。
【0035】
【実施例】実施例1 厚さ26ミクロンのポリエチレンの薄膜の被測定試料3
の両面に、図9に示す構成の、片面に金を200オング
ストロームの厚さでスパッタして薄膜6、7を形成した
ガラス製の基板4、5を密着させ、これを図6の装置の
温度コントローラ2により27℃一定に保持した炉1に
収容し、薄膜6に電源10から周波数62Hzでデュー
ティ比が50%の矩形波を与えた。該薄膜6、7の抵抗
は50Ωである。この場合、各矩形波の電圧及び他方の
薄膜7で検出される温度波を11次の高調波にフーリエ
変換器17で分解した。そして各高調波についての位相
差を前記関係式に基づき演算器15で算出したプロット
は図13の如くとなった。比較のために従来のサイン波
の周波数を変えて測定した周波数の平方根〜位相差のプ
ロットを同図に併記した。本発明の方法により得られた
プロットを結ぶ直線Aの勾配すなわち熱拡散率は、サイ
ン波の直線Bと平行しており、正しい熱拡散率が求めら
れていることがわかる。
【0036】実施例2 図12の装置を使用してC25(ノーマルパラフィン)
の熱拡散率と示差熱分析を行った。この場合、ガラス基
板5にはNiの薄膜7を形成し、基板4には金の薄膜6
を形成した。また、ガラス基板31に標準物質薄膜27
としてNiの薄膜を形成した。炉1の温度は15〜95
℃に変化させ、ヒータとなる薄膜6への投入電力を5種
に変えた結果は図14の通りであり、各種熱物性を同時
測定可能とするためには0.06W/mm2程度が最適
電力であることがわかる。尚、熱拡散率の結果について
は省略した。
【0037】実施例3 図10に示した測定プローブ23を使用して空気と流動
パラフィン(流パラ)の熱拡散率、熱伝導率を求めた。
この測定の較正のために熱伝導率および熱拡散率が判明
しているエタノール及びトルエンを基準物質として用意
した。測定装置は図6と同じもので、同図の被測定試料
と基板の代わりに測定プローブ23が設けられ、その各
リード線は電源とフーリエ変換器、直流電源、ロックイ
ンアンプなどに接続される。測定は、まず図11に示し
た空の容器内に測定プローブ23を入れ、実施例1の場
合と同様に矩形波の周波数25Hzの交流電流を投入
し、温度波を測定しフーリエ変換して位相差を求め同時
に振幅比を求めた。位相差からは空気、流動パラフィン
およびエタノールの熱拡散率が実施例1の場合と同様に
して求まる。この測定の際、交流電流の通電量を次第に
増加させると図15の振幅比の直線的プロットCが求ま
る。そして容器に流動パラフィンを入れ同様の測定を行
うと、直線的プロットDが求まり、容器にエタノールを
入れて同様の測定を行うと直線的プロットEが求まる。
そしてこれらの直線的プロットC、Dの勾配と直線的プ
ロットEの勾配の比を求め、位相差から求まる熱拡散率
との関係式から体積比熱Cおよび熱伝導率λが求められ
る。
【0038】この場合、空気の熱拡散率は位相差から
2.2×10-52/sと算出され、エタノールに対す
る空気の勾配の比は1.6であるから、体積比熱は1.
2×103kg/K・m・s2と求まり、熱伝導率は0.
026W/m・kと求まる。また、流動パラフィンの熱
拡散率は位相差から0.64×10-72/sと算出さ
れ、エタノールに対する流動パラフィンの勾配の比は
0.94であるから、体積比熱は2.2×106kg/
K・m・s2と求まり、熱伝導率は0.14W/m・k
と求まる。
【0039】
【発明の効果】以上のように本発明の方法によるとき
は、被測定試料の片面の薄膜に任意波形の交流電力を与
えて発熱させ、該被測定試料の他面の薄膜で測定される
温度波の電圧をn次の高調波に分解するとともにその各
次の高調波の波形について該任意波形に対する振幅比お
よび位相差を求め、求めた振幅比および位相差から該試
料の熱拡散率や熱伝導率、熱浸透率或いは体積比熱の熱
物性を求めるようにしたので、1度の測定で短時間に熱
物性を求めることができると共に気体の熱拡散率、熱伝
導率を測定でき、融解または凝固過程の固体と液体の混
合状態の試料の熱物性を連続的に測定でき、さらに、広
い厚さ範囲の被測定試料の熱物性を測定できる効果があ
り、請求項3,4の装置によれば本発明の方法を適切に
実施でき、請求項6の構成とすることにより、示差熱分
析も熱拡散率などの熱物性の測定と同時に測定すること
が可能になる等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の熱拡散率測定方法の分解説明図
【図2】図1の測定部の側面図
【図3】従来の熱拡散率測定装置の説明図
【図4】従来の装置により測定される位相差〜周波数の
関係図
【図5】従来の測定可能な多層試料の側面図
【図6】本発明の装置の説明図
【図7】本発明の方法に使用した基板の斜視図
【図8】本発明の方法に使用される矩形波の線図
【図9】本発明の方法に使用した他の基板の斜視図
【図10】本発明の流体の熱物性測定用の測定プローブ
の斜視図
【図11】図10の測定プローブの使用状態の斜視図
【図12】本発明の熱物性及び示差熱分析の同時測定装
置の説明図
【図13】本発明による測定例の線図
【図14】本発明による示差熱分析の1例の線図
【図15】本発明による流体の熱分析例の線図
【符号の説明】
3 被測定試料、4・5・31 基板、6・7 薄膜、
10 交流電源、11ファンクションシンセサイザー、
14 ロックインアンプ、15 演算器、16任意波
形、17 フーリエ変換器、23 測定プローブ、26
ブリッジ回路、27 標準薄膜、28 電圧計、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森川 淳子 千葉県市原市草刈1904 ちはら台4−10− 2 サウスヒルズ中央13−101 Fターム(参考) 2G040 AB05 AB08 AB09 BA23 BA24 BA27 CA02 DA02 DA13 EA02 EB02 EC04 FA01 HA08 HA16 ZA05

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】薄い難導電性の被測定試料の片面に交流電
    力を与えて交流熱を発生させ、該交流熱による該試料の
    他面の波状の温度変化を抵抗式温度計の電圧の変化によ
    り測定し、与えた交流電力の波形と測定した電圧の波形
    の位相差に基づき該試料の熱拡散率等の熱物性を算出す
    る測定方法に於いて、該交流熱を一定周波数の任意波形
    の交流電力を与えて発生させ、測定される電圧の波形を
    n次の高調波成分に分解するとともにその各次の高調波
    の波形について該任意波形に対する振幅比および位相差
    を求め、求めた振幅比および位相差から該試料の熱拡散
    率や熱伝導率、熱浸透率或いは体積比熱の熱物性の少な
    くとも1つを求めることを特徴とする熱物性測定方法。
  2. 【請求項2】上記任意波形は0より大きく1より小さい
    デューティ比をもつ矩形波で、上記の分解をフーリエ変
    換により行うことを特徴とする請求項1に記載の熱物性
    測定方法。
  3. 【請求項3】薄い難導電性の被測定試料の両面に導電性
    の薄膜を形成若しくは密着させ、その片面の薄膜に交流
    電力を与えて交流熱を発生させる電源を接続し、該試料
    の他面の薄膜によりこれを電気抵抗とする抵抗式温度計
    を構成し、該抵抗式温度計の出力部にその出力波形と交
    流電力の波形の振幅幅および位相差を算出して熱拡散
    率、熱伝導率、体積比熱或いは熱浸透率のうちの少なく
    とも1つの熱物性を算出する演算器をロックインアンプ
    を介して接続した熱物性測定装置に於いて、該電源を任
    意波形の交流電力を発生する電源で構成し、該抵抗式温
    度計の出力部にその出力波形をn次の高調波成分に分解
    するフーリエ変換器を接続し、該フーリエ変換器を介し
    て該演算器に接続したことを特徴とする熱物性測定装
    置。
  4. 【請求項4】上記抵抗式温度計を、上記被測定試料の他
    面の薄膜と導電性の示差熱分析用標準物質からなる薄い
    標準薄膜とを直流電源に対して直列に接続したブリッジ
    回路を備えた抵抗式温度計で構成し、該ブリッジ回路の
    電圧計にその測定値をもとに上記被測定試料の吸発熱を
    算出する演算器を接続し、該被測定試料および標準薄膜
    を温度制御された炉内に収容したことを特徴とする請求
    項3に記載の熱物性測定装置。
  5. 【請求項5】熱拡散率と熱伝導率が既知の非導電性の薄
    板の両面に導電性の薄膜を形成した測定プローブを流体
    の被測定試料に浸漬けし、該薄板の片面の薄膜に一定周
    波数の任意波形の交流電力を与えて交流熱を発生させ、
    該交流熱により該薄板の他面に発生する波状の温度変化
    を該他面の薄膜の電気抵抗変化による電圧の変化として
    測定する際にその電圧の波形をn次の高調波成分に分解
    してその各次の高調波の波形について該任意波形に対す
    る振幅比および位相差を求め、求めた振幅比および位相
    差に基づき熱拡散率や熱伝導率、体積比熱および熱浸透
    率の熱物性の少なくとも1つを算出し、その算出値を該
    測定プローブによりその熱物性値が既知の標準物質を測
    定して較正することを特徴とする流体の熱物性測定方
    法。
  6. 【請求項6】熱拡散率と熱伝導率が既知の非導電性の薄
    板の両面に導電性の薄膜を形成した測定プローブの片面
    の薄膜に、任意波形の交流電力を該片面の薄膜に与えて
    交流熱を発生させる電源を接続し、該測定プローブの他
    面の薄膜によりこれを電気抵抗とする抵抗式温度計を構
    成し、該抵抗式温度計の出力部にその出力波形と交流電
    力の波形の振幅比および位相差を算出して熱拡散率、熱
    伝導率、体積比熱或いは熱浸透率のうちの少なくとも1
    つの熱物性を算出する演算器をロックインアンプを介し
    て接続した熱物性測定装置に於いて、該電源を任意波形
    の交流電力を発生する電源で構成し、該抵抗式温度計の
    出力部にその出力波形をn次の高調波成分に分解するフ
    ーリエ変換器を接続し、該フーリエ変換器を介して該演
    算器に接続したことを特徴とする流体の熱物性測定装
    置。
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