JP2000016812A - Production of metal oxide film - Google Patents

Production of metal oxide film

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JP2000016812A
JP2000016812A JP10187209A JP18720998A JP2000016812A JP 2000016812 A JP2000016812 A JP 2000016812A JP 10187209 A JP10187209 A JP 10187209A JP 18720998 A JP18720998 A JP 18720998A JP 2000016812 A JP2000016812 A JP 2000016812A
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film
coating
metal
coating film
metal oxide
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Japanese (ja)
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Toshimi Fukui
俊巳 福井
Motoyuki Toki
元幸 土岐
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KANSAI SHINGIJUTSU KENKYUSHO K
KANSAI SHINGIJUTSU KENKYUSHO KK
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KANSAI SHINGIJUTSU KENKYUSHO K
KANSAI SHINGIJUTSU KENKYUSHO KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method capable of forming a metal oxide film having denseness and high homogeneity even on a base having low heat resistance and on the surface of a base containing an element having a bad influence on the characteristics of a film by using a sol-gel method without requiring excessive energy for improving the microstructure of the film. SOLUTION: This method for producing a metal oxide film comprises coating the surface of a base with a coating solution of a metal oxide obtained by using a metal alkoxide or a metal salt as a starting raw material to form a coating film, irradiating the coating film with ultraviolet rays at <=360 nm wavelength and heat-treating the coating film to crystallize the metal oxide. An indium alkoxide or an indium salt and a tin alkoxide or a tin salt are used as starting raw materials, an obtained coating solution of a metal oxide is a coating solution of In2O3-SnO2, a coating film obtained by coating the surface of a material to be coated with the coating solution is irradiated with ultraviolet rays at <=280 nm wavelength, metal indium and/or metal tin in the coating film is precipitated and the coating film is heat-treated to crystallize In2O3-SnO2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ガラス、セラミ
ックス、プラスチックスなどの基体の表面に、従来法に
比べ低温で結晶性の金属酸化物膜を形成させる金属酸化
物膜の製造方法に関する。特に、インジウムアルコキシ
ドまたはインジウム塩と錫アルコキシドまたは錫塩を出
発原料とする酸化インジウム−酸化錫(In−S
nO;ITO)膜の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a metal oxide film on a surface of a substrate such as glass, ceramics, or plastics at a lower temperature than a conventional method. In particular, indium oxide to indium alkoxide or indium salt and tin alkoxide or tin salt as a starting material - tin oxide (In 2 O 3 -S
nO 2 ; ITO) film.

【0002】[0002]

【従来の技術】透明導電性ITO膜やペロブスカイト系
誘電体膜などの機能性膜は、スパッタリング法、CVD
法などの乾式プロセスや、金属アルコキシドを出発原料
としてゾル−ゲル法により基板の表面に形成された塗布
膜を適当な温度で加熱処理する方法、金属塩を出発原料
とした噴霧分解法などの乾式プロセスにより製造されて
いる。
2. Description of the Related Art A functional film such as a transparent conductive ITO film or a perovskite dielectric film is formed by a sputtering method, a CVD method, or the like.
Dry process such as a dry process, a method of heating a coating film formed on the surface of a substrate by a sol-gel method using a metal alkoxide as a starting material at an appropriate temperature, and a spray decomposition method using a metal salt as a starting material. Manufactured by process.

【0003】上記した方法のうち、スパッタリング法
は、透明導電性のITO膜の形成に最も広く用いられて
いる方法であり、構成金属成分が多い複合酸化物膜の形
成への適用も検討されているが、目的とする化学量論組
成を有する複合酸化物を得ることは難しい場合が多い。
また、スパッタリング法では処理が真空プロセスで行わ
れるため、金属酸化物膜を形成しようとする基板の形状
や大きさが制約される、といった問題点がある。また、
CVD法では、出発原料としての揮発性物質の確保が必
要であり、また、それぞれの原料物質の組成比の制御が
難しいため、この方法の適用が可能である複合酸化物膜
の種類が限定される、といった問題点がある。
[0003] Among the above methods, the sputtering method is the most widely used method for forming a transparent conductive ITO film, and its application to the formation of a composite oxide film having a large amount of constituent metal components has been studied. However, it is often difficult to obtain a composite oxide having a desired stoichiometric composition.
In addition, since a sputtering process is performed in a vacuum process, there is a problem that the shape and size of a substrate on which a metal oxide film is to be formed are restricted. Also,
In the CVD method, it is necessary to secure a volatile substance as a starting material, and it is difficult to control the composition ratio of each raw material. Therefore, the types of composite oxide films to which this method can be applied are limited. Problem.

【0004】これに対し、ゾル−ゲル法を利用して金属
酸化物膜を形成する方法は、所望の化学量論比の膜を容
易に得ることが可能である。しかしながら、ゾル−ゲル
法では、金属酸化物の結晶化のために500℃〜700
℃程度の温度での加熱処理が必要である。
On the other hand, a method of forming a metal oxide film using a sol-gel method can easily obtain a film having a desired stoichiometric ratio. However, in the sol-gel method, 500 ° C. to 700 ° C.
Heat treatment at a temperature of about ° C is required.

【0005】また、ゾル−ゲル法を用いて金属酸化物膜
を製造する方法では、一般に、シリコンアルコキシドを
除く金属アルコキシドの加水分解速度が非常に速いた
め、成膜可能な均質なゾルを調製することが困難であ
る。そこで、金属アルコキシドの加水分解速度を抑制す
るための幾つかの方法が検討されている。
In the method of producing a metal oxide film using a sol-gel method, generally, the rate of hydrolysis of metal alkoxides except silicon alkoxide is very high, so that a uniform sol capable of forming a film is prepared. It is difficult. Therefore, several methods for suppressing the rate of hydrolysis of metal alkoxide have been studied.

【0006】金属アルコキシドの加水分解速度を抑制す
るには、例えば、金属アルコキシドの濃度を極端に低く
することにより、塗布液の均質な成膜が可能である。し
かしながら、この方法は、1回の成膜工程で得られる膜
厚が非常に薄くなるため、工業的な見地からは有効な方
法ではない。
In order to suppress the rate of hydrolysis of the metal alkoxide, for example, by making the concentration of the metal alkoxide extremely low, it is possible to form a uniform film of the coating solution. However, this method is not an effective method from an industrial point of view, since the film thickness obtained in one film forming step becomes extremely thin.

【0007】多座配位可能な有機化合物を添加して、金
属アルコキシドを安定化させる方法が幾つか提案されて
いる。例えば、アルミニウム-s-ブトキシドを出発原料
としたアルミナ薄膜の形成では、β−ジケトンが有効で
ある(日本セラミックス協会学術論文誌、97、396
(1989))。チタンイソプロポキシドを出発原料と
したチタニア薄膜の形成では、1,3−ブタンジオール
(小柴寿夫、豊橋技術科学大学博士論文、平成5年3
月)、ジエタノールアミン(日本セラミックス協会学術
論文誌、97、183(1989))、またはβ−ジケ
トン(日本セラミックス協会学術論文誌、97、213
(1989))が有効であることがそれぞれ報告されて
いる。ジルコニウム−n−ブトキシドを出発原料とした
ジルコニア薄膜の形成では、ジエチレングリコールの使
用が有効であることが報告されている(窯業協会誌、
、942(1987))。β−ジケトンやアルカノー
ルアミンの使用が、PbTiOやPb(Zr,Ti)
などの複合酸化物の合成にも有効であるとの報告
が、ジャーナル・オブ・アメリカン・セラミックス・ソ
サイアティ(Journal of American
Ceramics Society)、74、140
7(1991)や日本セラミックス協会学術論文誌、9
8、745(1990)に開示されている。
Several methods have been proposed for stabilizing metal alkoxides by adding a polydentate organic compound. For example, β-diketone is effective for forming an alumina thin film using aluminum-s-butoxide as a starting material (Academic Journal of the Ceramic Society of Japan, 97 , 396).
(1989)). In forming a titania thin film using titanium isopropoxide as a starting material, 1,3-butanediol (Toshio Koshiba, doctoral dissertation, Toyohashi University of Technology, March 1993)
Mon), diethanolamine (Academic Journal of the Ceramic Society of Japan, 97 , 183 (1989)), or β-diketone (Academic Journal of the Ceramic Society of Japan, 97 , 213)
(1989)) are reported to be effective. It has been reported that the use of diethylene glycol is effective for forming a zirconia thin film using zirconium-n-butoxide as a starting material (Ceramic Industry Association, 9).
5 , 942 (1987)). The use of β-diketones and alkanolamines has led to PbTiO 3 and Pb (Zr, Ti)
A report that it is also effective for the synthesis of complex oxides such as O 3 has been reported in the Journal of American Ceramics Society (Journal of American).
Ceramics Society), 74 , 140
7 (1991) and The Ceramic Society of Japan, 9
8, 745 (1990).

【0008】フィジックス・オブ・チン・フィルム(P
hysics of Tin Film)、、p87
(1969)、アカデミック・プレス(Academi
cPress)には、塩化物、硫酸塩、硝酸塩、アンモ
ニウム塩などの各種無機塩の加水分解およびアクア錯体
を利用した酸化物膜の製造方法が報告されている。さら
に、日本セラミックス協会学術論文誌、102、200
(1994)には、複合酸化物としてのIn−S
nOゾルの調製のために、金属アルコキシドの代わり
に硝酸インジウムと塩化錫とを使用することが示されて
いる。
Physics of Chin Film (P
physics of Tin Film), 5 , p87
(1969), Academic Press (Academi)
cPress) reports a method of hydrolyzing various inorganic salts such as chlorides, sulfates, nitrates, and ammonium salts and a method of producing an oxide film using an aqua complex. Furthermore, The Ceramics Society of Japan, 102 , 200
(1994) describes In 2 O 3 —S as a composite oxide.
It has been shown to use indium nitrate and tin chloride instead of metal alkoxide for the preparation of nO 2 sol.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上記したゾル−ゲル法
では、金属酸化物を結晶化させるために、通常実施され
ている500℃〜700℃程度の温度での加熱処理が必
要である。このため、プラスチックスなどのような耐熱
性の低い基体上に金属酸化物膜を形成することができな
かった。また、Na等の元素を多く含む基板では、数百
℃の加熱処理による膜中へのNa成分の拡散により、高
品位の金属酸化物膜を形成することが非常に難しかっ
た。
In the above-mentioned sol-gel method, heat treatment at a temperature of about 500 ° C. to 700 ° C., which is usually performed, is required to crystallize a metal oxide. Therefore, a metal oxide film could not be formed on a substrate having low heat resistance such as plastics. In addition, in the case of a substrate containing a large amount of an element such as Na, it is very difficult to form a high-quality metal oxide film due to diffusion of the Na component into the film by heat treatment at several hundred degrees Celsius.

【0010】また、上記したように多座配位化合物の添
加により金属アルコキシドの加水分解速度を抑制する方
法によれば、均質な塗布液を容易に調製することができ
るが、得られた塗布膜中に多くの有機物が残留すること
になる。この結果、その残留物の除去のために塗布膜を
500℃程度の高温で加熱処理することが必要になる。
また、塗布膜中に多くの有機物が残存するため、塗布膜
を加熱処理すると膜の重量減少が大きくなる。言い換え
ると、塗布膜からの有機物の除去によって膜中に多くの
気孔が生成し、欠陥となり易い。膜の微細組織を改善す
るためには、余分なエネルギーが必要となる。
According to the method of suppressing the rate of hydrolysis of metal alkoxide by adding a polydentate compound as described above, a homogeneous coating solution can be easily prepared. Many organic matter will remain in it. As a result, it is necessary to heat-treat the coating film at a high temperature of about 500 ° C. to remove the residue.
Further, since many organic substances remain in the coating film, heat treatment of the coating film greatly reduces the weight of the film. In other words, many pores are generated in the film due to the removal of the organic matter from the coating film, which is likely to be a defect. Extra energy is required to improve the microstructure of the film.

【0011】なお、上記したように金属塩を用いる方法
は、基本的には熱分解法であり、加熱処理後の膜質に多
くの問題を生じることになる。
The method using a metal salt as described above is basically a thermal decomposition method, and causes many problems in the film quality after the heat treatment.

【0012】この発明は、以上のような事情に鑑みてな
されたものであり、ゾル−ゲル法を用いて基体の表面に
金属酸化物膜を形成する場合において、塗布膜中からの
残留物除去のために高温で塗布膜の加熱処理を行う必要
が無い、耐熱性の低い基体上やNaなどのように膜特性
に悪影響を与える元素を多く含む基板の表面に、良好な
微細組織と優れた特性を有する金属酸化物膜をより低温
で形成することができる金属酸化物膜の製造方法を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and when a metal oxide film is formed on the surface of a substrate using a sol-gel method, removal of residues from the coating film is performed. It is not necessary to perform heat treatment of the coating film at a high temperature for the purpose. On a substrate having low heat resistance or on a surface of a substrate containing many elements that adversely affect the film characteristics such as Na, a good fine structure and excellent It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a metal oxide film capable of forming a metal oxide film having characteristics at a lower temperature.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
金属アルコキシドまたは金属塩を出発原料として得られ
る金属酸化物塗布液を被塗布物の表面に塗布して塗布膜
を形成し、その塗布膜に対して波長が360nm以下で
ある紫外光を照射した後、塗布膜を加熱処理して金属酸
化物を結晶化させることにより、結晶化された金属酸化
物膜を製造することを特徴とする。
The invention according to claim 1 is
A metal oxide coating solution obtained using a metal alkoxide or a metal salt as a starting material is applied to the surface of an object to be coated to form a coating film, and the coating film is irradiated with ultraviolet light having a wavelength of 360 nm or less. The present invention is characterized in that a crystallized metal oxide film is manufactured by heat-treating the coating film to crystallize the metal oxide.

【0014】請求項2に係る発明は、請求項1記載の製
造方法において、出発原料としてインジウムアルコキシ
ドまたはインジウム塩および錫アルコキシドまた錫塩を
使用し、得られる金属酸化物塗布液がIn−Sn
塗布液であり、その塗布液を被塗布物の表面に塗布
して形成された塗布膜に対して波長が280nm以下で
ある紫外光を照射し、塗布膜中に金属インジウムおよび
/または金属錫を析出させた後、塗布膜を加熱処理して
In−SnOを結晶化させることを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, in the production method of the first aspect, an indium alkoxide or an indium salt and a tin alkoxide or a tin salt are used as starting materials, and the obtained metal oxide coating solution is In 2 O 3 -Sn
O 2 is the coating liquid, its wavelength coating liquid to a coating film formed by coating the surface of the coating object is irradiated with ultraviolet light at 280nm or less, metallic indium and / or metal in the coating film after precipitation of the tin, the in 2 O 3 -SnO 2 and heat treated coating film is characterized by crystallization.

【0015】請求項1に係る発明の方法によると、塗布
膜を加熱処理する前に塗布膜に対して波長が360nm
以下である紫外光を照射することにより、予め塗布膜中
の残留物の除去と膜の緻密化が進行し、このため、金属
酸化物の結晶化までの加熱処理による膜組織の悪化が少
なくなり、低温での結晶化に有効となる。したがって、
塗布膜を加熱処理して金属酸化物を結晶化させる際の加
熱処理温度を低くすることができる。
According to the method of the present invention, the wavelength of the coating film is set to 360 nm before the coating film is subjected to the heat treatment.
By irradiating the following ultraviolet light, removal of residues in the coating film and densification of the film advance in advance, and thus deterioration of the film structure due to heat treatment until crystallization of the metal oxide is reduced. This is effective for crystallization at a low temperature. Therefore,
The heat treatment temperature at the time of crystallizing the metal oxide by heat treatment of the coating film can be reduced.

【0016】請求項2に係る発明の方法によれば、In
−SnOに対して波長が280nm以下の紫外
光を照射したときは、塗布膜中に金属インジウムおよび
/または金属錫が析出する。この金属インジウムおよび
/または金属錫が析出した塗布膜を加熱処理することに
より、In−SnOの結晶化温度を大幅に低下
させることが可能となった。
According to the method of the second aspect of the invention, In
2 O 3 when the wavelength against -SnO 2 was irradiated to the following ultraviolet light 280nm, the metal indium and / or tin metal is deposited on the coating film. By heating the coating film metal indium and / or tin metal was deposited, it becomes possible to significantly reduce the crystallization temperature of the In 2 O 3 -SnO 2.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
について説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below.

【0018】この発明に係る金属酸化物膜の製造方法で
は、金属アルコキシドまたは金属塩を出発原料とし、そ
れらのアルコキシドまたは塩を含む溶液に水を添加し
て、加水分解および重合反応を起こさせることにより、
塗布液(前駆体ゾル)を調製し、その塗布液を基板等の
表面に塗布して塗布膜を形成し、その塗布膜に対して紫
外光を照射した後、塗布膜を加熱処理して金属酸化物を
結晶化させる。
In the method for producing a metal oxide film according to the present invention, starting from a metal alkoxide or a metal salt, water is added to a solution containing the alkoxide or the salt to cause hydrolysis and polymerization reactions. By
A coating solution (precursor sol) is prepared, and the coating solution is applied to the surface of a substrate or the like to form a coating film. Crystallize the oxide.

【0019】この発明に係る製造方法を適用することが
可能である金属酸化物膜は、金属アルコキシドまたは金
属塩を出発原料として金属酸化物の塗布液が得られるも
のであれば、どのようなものでもよく、特に限定されな
い。例えば、この発明に係る方法により製造される金属
酸化物膜としては、チタニア、ジルコニア、酸化バナジ
ウム、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化モリブデン、酸
化タングステン、酸化ニッケル、酸化亜鉛、酸化マンガ
ン、酸化コバルト、酸化鉄、酸化銅、酸化インジウム、
酸化錫などである。また、この発明に係る製造方法は、
化学式ABOで示されるペロブスカイト型複合酸化物
膜の形成にも適用可能である。化学式中、Aは、Ba、
SrまたはPbであり、Bは、Ti、Zr、Geまたは
Snであって、それらの元素を組み合わせたもの、ある
いは、前記式中、Aは、Li、NaまたはKであり、B
は、V、NbまたはTaであって、それらの元素を組み
合わせたものである。また、化学式A(B1/3,C
2/3)Oで示される複合ぺロブスカイト型構造を有
する金属酸化物は、その式中、Aが、Ba、Sr、Pb
またはBであり、Bが、Mg、Mn、Co、Niまたは
Znであり、Cが、V、NbまたはTaであって、それ
らの元素を組み合わせたものである。また、金属酸化物
膜がIn−SnO膜やAl−ZnO膜で
あるような透明導電性膜にも適用可能である。特に、I
−SnO膜やペロブスカイト型構造を有する
複合酸化物などの誘電体膜である場合に、この発明に係
る製造方法は有効である。
The metal oxide film to which the manufacturing method according to the present invention can be applied is not limited as long as a metal oxide coating solution can be obtained using a metal alkoxide or a metal salt as a starting material. However, there is no particular limitation. For example, metal oxide films manufactured by the method according to the present invention include titania, zirconia, vanadium oxide, niobium oxide, tantalum oxide, molybdenum oxide, tungsten oxide, nickel oxide, zinc oxide, manganese oxide, cobalt oxide, and oxide oxide. Iron, copper oxide, indium oxide,
For example, tin oxide. Further, the manufacturing method according to the present invention,
The present invention is also applicable to the formation of a perovskite-type composite oxide film represented by the chemical formula ABO 3 . In the chemical formula, A is Ba,
S is Sr or Pb, B is Ti, Zr, Ge or Sn, a combination of these elements, or A is Li, Na or K;
Is V, Nb or Ta, and is a combination of these elements. The chemical formula A (B 1/3 , C
2/3 ) A metal oxide having a complex perovskite structure represented by O 3 , wherein A is Ba, Sr, Pb
Or B, B is Mg, Mn, Co, Ni or Zn, and C is V, Nb or Ta, and a combination of these elements. Further, the present invention can be applied to a transparent conductive film in which the metal oxide film is an In 2 O 3 —SnO 2 film or an Al 2 O 3 —ZnO film. In particular, I
The manufacturing method according to the present invention is effective for a dielectric film such as an n 2 O 3 —SnO 2 film or a composite oxide having a perovskite structure.

【0020】使用可能な金属アルコキシドまたは金属塩
としては、周期律表の第2周期から第6周期までのアル
カリ金属元素、アルカリ土類金属元素および第3B族元
素、周期律表の第3周期から第6周期までの第4B族元
素および第5B族元素、遷移金属元素、ならびにランタ
ノイド元素からなる群より選ばれた元素の、1種の金属
アルコキシドまたは金属塩、あるいは、2種以上の金属
アルコキシドまたは金属塩の組合せであればよく、特に
限定されるものではない。また、前記元素の、2種以上
の金属アルコキシド間での反応により得られた複合アル
コキシド、あるいは、1種もしくは2種以上の金属アル
コキシドと1種もしくは2種以上の金属塩との反応によ
り得られた複合アルコキシドであってもよい。さらに
は、これらを組み合わせて使用することも可能である。
Examples of usable metal alkoxides or metal salts include alkali metal elements, alkaline earth metal elements and Group 3B elements from the second period to the sixth period of the periodic table, and those of the third period of the periodic table. One metal alkoxide or metal salt, or two or more metal alkoxides, or an element selected from the group consisting of Group 4B elements and Group 5B elements up to the sixth period, transition metal elements, and lanthanoid elements Any combination of metal salts may be used, and there is no particular limitation. Also, a complex alkoxide obtained by a reaction between two or more metal alkoxides of the above element, or a compound alkoxide obtained by a reaction of one or more metal alkoxides with one or more metal salts. Or a complex alkoxide. Furthermore, these can be used in combination.

【0021】2種以上の金属アルコキシド間での反応に
より得られる複合アルコキシドとしては、アルカリ金属
またはアルカリ土類金属のアルコキシドと遷移金属のア
ルコキシドとの反応により得られた複合アルコキシド
や、第3B族元素の組合せにより得られる錯塩としての
複合アルコキシドが用いられる。例えば、BaTi(O
R)、SrTi(OR)、BaZr(OR)、S
rZr(OR)、LiNb(OR)、LiTa(O
R)、および、これらの組合せ、LiVO(O
R)、MgAl(OR)などがある。また、(R
O)SiOAl(OR’)、(RO)SiOTi
(OR’)、(RO)SiOZr(OR’)
(RO)SiOB(OR’)、(RO)SiON
b(OR’)、(RO)SiOTa(OR’)
どのシリコンアルコキシドとの反応物やその縮重合物も
用いられる。ここで、RおよびR’は、アルキル基を示
す。金属アルコキシドのアルコキシル基の炭素数は特に
限定されないが、含有酸化物濃度、有機物の脱離の容易
さ、入手の容易さなどからは、炭素数が1〜4であるも
のが好ましい。また、1種もしくは2種以上の金属アル
コキシドと1種もしくは2種以上の金属塩との反応によ
り得られる複合アルコキシドとしては、塩化物、硝酸
塩、硫酸塩、酢酸塩、蟻酸塩、シュウ酸塩などの金属塩
とアルコキシドとの反応により得られる化合物が用いら
れる。
For the reaction between two or more metal alkoxides
The composite alkoxide obtained from
Or an alkaline earth metal alkoxide and a transition metal
Complex alkoxide obtained by reaction with lucoxide
Or as a complex salt obtained by a combination of Group 3B elements
Complex alkoxides are used. For example, BaTi (O
R)6, SrTi (OR)6, BaZr (OR)6, S
rZr (OR)6, LiNb (OR)6, LiTa (O
R)6, And combinations thereof, LiVO (O
R)4, MgAl2(OR)8and so on. Also, (R
O)3SiOAl (OR ')2, (RO)3SiOTi
(OR ')3, (RO)3SiOZr (OR ') 3,
(RO)3SiOB (OR ')2, (RO)3SiON
b (OR ')4, (RO)3SiOTa (OR ')4What
Any reaction product with silicon alkoxide or its condensation polymer
Used. Here, R and R 'represent an alkyl group.
You. The carbon number of the alkoxyl group of the metal alkoxide is particularly
Although not limited, the concentration of oxides contained and the ease of desorption of organic substances
Now, from the point of easy availability, the carbon number is 1 to 4
Is preferred. In addition, one or more metal
Reaction of coxide with one or more metal salts
The resulting complex alkoxides include chloride, nitric acid
Metal salts such as salts, sulfates, acetates, formates and oxalates
Compounds obtained by the reaction of
It is.

【0022】最終的に得ようとする金属酸化物膜がIn
−SnO膜である場合を例に取ると、出発原料
であるインジウムアルコキシドとしては、インジウムメ
トキシド、インジウムエトキシド、インジウムプロポキ
シドおよびインジウムブトキシドが使用される。また、
錫アルコキシドとしては、錫メトキシド、錫エトキシ
ド、錫プロポキシドおよび錫ブトキシドが使用される。
また、インジウムアルコキシドと錫アルコキシドとの含
有割合は特に限定されないが、より低抵抗のIn
−SnO膜を得るためには、In−SnO
うちにSnOが1重量%〜20重量%だけ含まれるよ
うな割合とすることが好ましい。
The metal oxide film finally obtained is In
2O3-SnO2Taking the case of a membrane as an example, the starting material
The indium alkoxide is
Toxide, indium ethoxide, indium propoxy
Sid and indium butoxide are used. Also,
Tin alkoxides include tin methoxide, tin ethoxy
, Tin propoxide and tin butoxide are used.
In addition, the inclusion of indium alkoxide and tin alkoxide
Although the proportion is not particularly limited, the lower resistance In 2O3
-SnO2In order to obtain a film, In2O3-SnO2of
SnO at home2Contains only 1% to 20% by weight
It is preferable that the ratio be as follows.

【0023】また、金属塩としては、酢酸塩、シュウ酸
塩、硝酸塩、塩化物などが使用される。
As the metal salt, acetate, oxalate, nitrate, chloride and the like are used.

【0024】使用される溶剤としては、金属アルコキシ
ドや金属塩などの原料と加水分解に用いる水とがそれぞ
れ可溶であれば、単一溶剤でも混合溶剤でもよく、特に
限定されない。例えば、極性溶剤と非極性溶剤との組合
せでも構わない。水を添加する温度域での粘度、除去の
容易さなどからは、炭素数1〜3のアルコールであるメ
タノール、エタノールおよびプロパノールが特に好まし
い。また、2−メトキシエタノール、2−エトキシエタ
ノール、2−プロポキシエタノール、2−ブトキシエタ
ノール、1−メチル−2−プロパノール、1−エチル−
2−プロパノールなどのアルコキシアルコールを使用す
ることもできる。
The solvent to be used may be a single solvent or a mixed solvent, as long as the raw materials such as metal alkoxide and metal salt and water used for hydrolysis are respectively soluble, and are not particularly limited. For example, a combination of a polar solvent and a non-polar solvent may be used. Methanol, ethanol and propanol, which are alcohols having 1 to 3 carbon atoms, are particularly preferred from the viewpoint of viscosity in the temperature range in which water is added, ease of removal, and the like. Also, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, 2-propoxyethanol, 2-butoxyethanol, 1-methyl-2-propanol, 1-ethyl-
Alkoxy alcohols such as 2-propanol can also be used.

【0025】ゲル化後において溶剤を脱離しやすくする
ためには、アルコキシドと直接結合する多座配位化合物
は、可能な限りその使用量を抑えることが好ましい。配
位可能な官能基を複数有するRCONR’(R、R’は
水素またはアルキル基)で表される酸アミドなどは、ア
ルコキシル基との置換による結合を形成しないので、水
の添加温度で凝固せず、揮発による除去が容易であれ
ば、その使用は差し支えない。また、β−ジケトンなど
のように溶解性の向上や塗布液の安定性の向上に有効な
有機物は、適度に加えるようにするとよい。
In order to facilitate the elimination of the solvent after gelation, it is preferable to reduce the amount of the polydentate compound directly bonded to the alkoxide as much as possible. An acid amide represented by RCONR '(R, R' is hydrogen or an alkyl group) having a plurality of coordinable functional groups does not form a bond due to substitution with an alkoxyl group, and thus solidifies at the temperature at which water is added. If it is easy to remove by volatilization, it can be used without any problem. Further, an organic substance such as β-diketone, which is effective for improving the solubility and the stability of the coating solution, may be appropriately added.

【0026】水の添加量は、金属アルコキシドにおける
アルコキシル基の種類や金属アルコキシドの混合比率、
金属塩の種類などによって異なるため、特定することは
できない。また、触媒として酸または塩基が適宜併用さ
れる。使用する触媒は特に限定されないが、高純度材料
を得るためには、金属成分を含まない化合物が好まし
い。例えば、酸としては、塩酸、硝酸、硫酸、燐酸など
の鉱酸、炭酸、ほう酸、蟻酸、酢酸、シュウ酸などの有
機酸が用いられる。また、塩基としては、アンモニア、
アミン類などが用いられる。
The amount of water to be added depends on the type of alkoxyl group in the metal alkoxide, the mixing ratio of the metal alkoxide,
It cannot be specified because it differs depending on the type of the metal salt. An acid or a base is appropriately used in combination as a catalyst. The catalyst to be used is not particularly limited, but in order to obtain a high-purity material, a compound containing no metal component is preferable. For example, as the acid, mineral acids such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, and phosphoric acid, and organic acids such as carbonic acid, boric acid, formic acid, acetic acid, and oxalic acid are used. As the base, ammonia,
Amines and the like are used.

【0027】上記したような製造方法で得られた金属酸
化物塗布液を、成膜したい基体上に塗布することによ
り、基体の表面に塗布膜を形成する。塗布の方法とし
て、ディップコート、スピンコート、フローコート、バ
ーコートなど、一般に実施されている方法を利用するこ
とができる。
The metal oxide coating solution obtained by the above-described production method is applied to a substrate on which a film is to be formed, thereby forming a coating film on the surface of the substrate. As a coating method, a generally practiced method such as dip coating, spin coating, flow coating, and bar coating can be used.

【0028】次に、得られた塗布膜に対し、波長が36
0nm以下である紫外光を照射する。照射光の波長が3
60nm以上であると、塗布膜中の残留物の分解がそれ
程進まなくなるので、好ましくない。塗布膜への紫外光
の照射後、塗布膜を比較的低い温度で加熱処理する。加
熱処理温度は、目的とする金属酸化物膜の種類によって
異なるが、前もって塗布膜に対し波長が360nm以下
である紫外光が照射されることにより、塗布膜中の残留
物が少なくなり、膜の緻密化が進行するため、金属酸化
物の結晶化温度が低下し、また、金属酸化物膜の膜質が
向上することとなる。以上の工程により、目的とする機
能性膜が基体の表面に形成される。
Next, a wavelength of 36 was applied to the obtained coating film.
Irradiation with ultraviolet light of 0 nm or less is performed. Irradiation light wavelength is 3
When the thickness is 60 nm or more, the decomposition of the residue in the coating film does not progress so much, which is not preferable. After the application film is irradiated with ultraviolet light, the application film is subjected to a heat treatment at a relatively low temperature. The heat treatment temperature varies depending on the type of the target metal oxide film. However, by previously irradiating the coating film with ultraviolet light having a wavelength of 360 nm or less, residues in the coating film are reduced, and As the densification progresses, the crystallization temperature of the metal oxide decreases, and the quality of the metal oxide film improves. Through the above steps, the desired functional film is formed on the surface of the base.

【0029】紫外光の光源としては、波長が360nm
以下である紫外光を照射可能なものであれば特に限定さ
れないが、例えば、高圧水銀ランプ、低圧水銀ランプ、
エキシマランプ、ArFエキシマレーザ、KrFエキシ
マレーザ、XeClエキシマレーザ、XeFエキシマレ
ーザ、シンクロトロン放射光、YAGレーザ4倍波、Y
AGレーザ3倍波などが使用され、特に好ましくは、ピ
ーク波長がより短い低圧水銀ランプ、エキシマランプ、
ArFエキシマレーザ、KrFエキシマレーザ、シンク
ロトロン放射光またはYAGレーザ4倍波が使用され
る。また、これらの光源のうちの2つもしくはそれ以上
のものを組み合わせて使用することも可能である。
The wavelength of the ultraviolet light source is 360 nm.
There is no particular limitation as long as it can irradiate the following ultraviolet light, for example, a high-pressure mercury lamp, a low-pressure mercury lamp,
Excimer lamp, ArF excimer laser, KrF excimer laser, XeCl excimer laser, XeF excimer laser, synchrotron radiation, YAG laser fourth harmonic, Y
An AG laser third harmonic is used, and particularly preferably, a low-pressure mercury lamp, an excimer lamp, or the like having a shorter peak wavelength is used.
An ArF excimer laser, a KrF excimer laser, synchrotron radiation, or a fourth harmonic of a YAG laser is used. It is also possible to use two or more of these light sources in combination.

【0030】この発明に係る方法は、特にIn
SnO膜を形成する場合に有効であり、その場合にお
いては、In−SnOの塗布膜に対して波長が
280nm以下である紫外光を照射することが好まし
い。この波長域の紫外光の照射により、塗布膜中に還元
された金属インジウムおよび/または金属錫が生成す
る。金属インジウムおよび/または金属錫が析出した状
態の塗布膜を加熱処理することにより、ITO相の結晶
化温度が大幅に低下することとなる。
The method according to the invention is particularly suitable for In 2 O 3-
This is effective when forming a SnO 2 film. In this case, it is preferable to irradiate an In 2 O 3 -SnO 2 coating film with ultraviolet light having a wavelength of 280 nm or less. Irradiation of ultraviolet light in this wavelength range generates reduced metal indium and / or metal tin in the coating film. By heat-treating the coating film on which metal indium and / or metal tin has been deposited, the crystallization temperature of the ITO phase will be significantly reduced.

【0031】[0031]

【実施例】次に、この発明のより具体的な実施例につい
て説明する。
Next, a more specific embodiment of the present invention will be described.

【0032】〈実施例1〉ペンタエトキシニオブを、最
終的な酸化物濃度が2.5重量%となるように2−エト
キシエタノール中に添加して、アルコキシド溶液を調製
した。次に、塩酸触媒(HCl/Nb=0.15)を用
い、5モル倍の水でアルコキシド溶液を加水分解して、
Nb塗布液を得た。得られた塗布液を、スピンコ
ータを使用して500rpmの回転数で5秒間および
2,000rpmの回転数で15秒間の条件でシリコン
基板の表面に1回塗布し、基板上に成膜した。得られた
塗布膜を110℃の温度で30分間乾燥させ、これによ
り、割れの無い塗布膜が得られた。続いて、得られた塗
布膜に低圧水銀ランプ(10mW/cm)を用いて、
紫外光を5時間照射した。
Example 1 An alkoxide solution was prepared by adding pentaethoxy niobium to 2-ethoxyethanol so that the final oxide concentration was 2.5% by weight. Next, using a hydrochloric acid catalyst (HCl / Nb = 0.15), the alkoxide solution was hydrolyzed with 5 moles of water,
An Nb 2 O 5 coating solution was obtained. The obtained coating solution was applied once on the surface of a silicon substrate using a spin coater under the conditions of a rotation speed of 500 rpm for 5 seconds and a rotation speed of 2,000 rpm for 15 seconds to form a film on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, using a low-pressure mercury lamp (10 mW / cm 2 ) on the obtained coating film,
Irradiated with ultraviolet light for 5 hours.

【0033】低圧水銀ランプによる紫外光の照射前・後
における塗布膜を基板の表面からそれぞれ剥離し、TG
−DTAを測定することにより、両塗布膜の違いを評価
した。この結果、未照射の塗布膜(比較例1)では、図
2に示すように、300℃付近の温度で30%近い重量
減少を伴う発熱ピークがみられたが、紫外光の照射後で
は、図1に示すように、この発熱ピークは小さくなり、
重量減少量も10%以下に低下した。また、両塗布膜で
は、膜厚の収縮率も大きく異なり、紫外光照射の前およ
び後で、それぞれ約60%および30%となった。
The coating film before and after the irradiation of the ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp is peeled off from the surface of the substrate, respectively.
-The difference between the two coated films was evaluated by measuring DTA. As a result, in the unirradiated coating film (Comparative Example 1), as shown in FIG. 2, an exothermic peak accompanied by a weight loss of nearly 30% was observed at a temperature around 300 ° C., but after irradiation with ultraviolet light, As shown in FIG. 1, this exothermic peak becomes smaller,
The weight loss was also reduced to 10% or less. In addition, the shrinkage ratios of the film thicknesses of the two coating films were greatly different, and were about 60% and 30% before and after the irradiation of the ultraviolet light, respectively.

【0034】〈実施例2〉テトライソプロポキシチタン
を、最終的な酸化物濃度が2.5重量%となるように2
−エトキシエタノール中に添加して、アルコキシド溶液
を調製した。次に、塩酸触媒(HCl/Ti=0.2)
を用い、5モル倍の水でアルコキシド溶液を加水分解し
て、TiO塗布液を得た。得られた塗布液を、スピン
コータを使用して500rpmの回転数で5秒間および
2,000rpmの回転数で15秒間の条件でシリカガ
ラス基板の表面に1回塗布し、基板上に成膜した。得ら
れた塗布膜を110℃の温度で30分間乾燥させ、これ
により、割れの無い塗布膜が得られた。続いて、得られ
た塗布膜に低圧水銀ランプ(10mW/cm)を用い
て、紫外光を5時間照射した。
Example 2 Tetraisopropoxytitanium was added so that the final oxide concentration was 2.5% by weight.
-An alkoxide solution was prepared by addition in ethoxyethanol. Next, a hydrochloric acid catalyst (HCl / Ti = 0.2)
Was used to hydrolyze the alkoxide solution with 5 moles of water to obtain a TiO 2 coating solution. The obtained coating solution was applied once on the surface of a silica glass substrate using a spin coater under the conditions of a rotation speed of 500 rpm for 5 seconds and a rotation speed of 2,000 rpm for 15 seconds to form a film on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, the obtained coating film was irradiated with ultraviolet light for 5 hours using a low-pressure mercury lamp (10 mW / cm 2 ).

【0035】低圧水銀ランプによる紫外光の照射前・後
における塗布膜を基板の表面からそれぞれ剥離し、TG
−DTAを測定することにより、両塗布膜の違いを評価
した。この結果、未照射の塗布膜(比較例2)では、図
4に示すように、250℃〜360℃の温度領域で40
%近い重量減少を伴う発熱ピークがみられたが、紫外光
の照射後では、図3に示すように、この発熱ピークは殆
ど消失し、340℃の温度付近に、結晶化に伴う残留水
酸基の脱離による約10%の重量減少量のみが観察され
た。
The coating film before and after irradiation with ultraviolet light by a low-pressure mercury lamp is peeled off from the surface of the substrate, respectively.
-The difference between the two coated films was evaluated by measuring DTA. As a result, in the unirradiated coating film (Comparative Example 2), as shown in FIG.
%, But after irradiation with ultraviolet light, as shown in FIG. 3, the exothermic peak almost disappeared, and near the temperature of 340 ° C., the residual hydroxyl group due to crystallization was reduced. Only about 10% weight loss due to elimination was observed.

【0036】以上のように、塗布膜に対して低圧水銀ラ
ンプから紫外光を照射することにより、塗布膜中の残留
物の量を大幅に低減させることができ、膜質の向上を期
待することができる。
As described above, by irradiating the coating film with ultraviolet light from a low-pressure mercury lamp, the amount of residues in the coating film can be significantly reduced, and improvement in film quality can be expected. it can.

【0037】〈実施例3〉化学量論比の金属バリウムと
テトライソプロポキシチタンとを2−メトキシエタノー
ル中に添加し、最終的な酸化物濃度が2.5重量%とな
るように、混合溶液を0.1MHCl(HO/Ti=
1)で加水分解して、BaTiO塗布液を得た。得ら
れた塗布液を、スピンコータを使用して500rpmの
回転数で5秒間および2,000rpmの回転数で15
秒間の条件でPt/Ti/SiO/Si基板(各々1
00nm、30nm、100nm)の表面に1回塗布
し、基板上に成膜した。得られた塗布膜を110℃の温
度で30分間乾燥させ、これにより、割れの無い塗布膜
が得られた。続いて、得られた塗布膜に低圧水銀ランプ
(10mW/cm)を用いて、紫外光を5時間照射し
た。
Example 3 A mixed solution was prepared by adding stoichiometric ratios of barium metal and tetraisopropoxytitanium to 2-methoxyethanol so that the final oxide concentration was 2.5% by weight. With 0.1 M HCl (H 2 O / Ti =
Hydrolysis was performed in 1) to obtain a BaTiO 3 coating solution. Using a spin coater, the obtained coating solution was applied at a rotation speed of 500 rpm for 5 seconds and at a rotation speed of 2,000 rpm for 15 seconds.
Pt / Ti / SiO 2 / Si substrate (each 1
(00 nm, 30 nm, 100 nm) once and formed on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, the obtained coating film was irradiated with ultraviolet light for 5 hours using a low-pressure mercury lamp (10 mW / cm 2 ).

【0038】低圧水銀ランプによる紫外光の照射前・後
における塗布膜を基板の表面からそれぞれ剥離し、TG
−DTAを測定することにより、上記した実施例1およ
び実施例2における場合と同様の結果が得られた。Ba
TiOの結晶化温度をX線回折法により調べ、その結
果、紫外光照射後の塗布膜では、300℃〜400℃の
温度でのBaTiOの結晶化が確認された。一方、未
照射の塗布膜(比較例3)では、BaTiOの結晶化
のために600℃の温度以上での加熱処理が必要であっ
た。
The coating films before and after the irradiation of ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp are respectively peeled from the surface of the substrate, and TG
-Measurement of DTA yielded the same results as in Examples 1 and 2 above. Ba
The crystallization temperature of TiO 3 was examined by an X-ray diffraction method. As a result, crystallization of BaTiO 3 at a temperature of 300 ° C. to 400 ° C. was confirmed in the coating film after irradiation with ultraviolet light. On the other hand, in the unirradiated coating film (Comparative Example 3), a heat treatment at a temperature of 600 ° C. or higher was required for crystallization of BaTiO 3 .

【0039】〈実施例4〉化学量論比のジエトキシ鉛と
テトライソプロポキシチタンとテトラ−n−ブトキシジ
ルコニウム(Zr/Ti=52/48)とを2−メトキ
シエタノール中に添加した後、その混合溶液を80℃の
温度で2時間加熱処理して、アルコキシド混合溶液を得
た。次に、最終的な酸化物濃度が2.5重量%となるよ
うに、混合溶液を0.1MHCl(HO/Pb=1)
で加水分解して、PZT(Pb(Zr,Ti)O)塗
布液を得た。得られた塗布液を、スピンコータを使用し
て500rpmの回転数で5秒間および3,000rp
mの回転数で15秒間の条件でPt/Ti/SiO
Si基板(各々100nm、30nm、100nm)の
表面に1回塗布し、基板上に成膜した。得られた塗布膜
を110℃の温度で30分間乾燥させ、これにより、割
れの無い塗布膜が得られた。さらに、塗布膜の厚みが
0.4μmとなるように、上記した塗布操作を4回繰り
返した。続いて、得られた塗布膜に低圧水銀ランプ(1
0mW/cm)を用いて、紫外光を5時間照射した。
Example 4 Diethoxylead, tetraisopropoxytitanium, and tetra-n-butoxyzirconium (Zr / Ti = 52/48) in stoichiometric ratio were added to 2-methoxyethanol and then mixed. The solution was heated at a temperature of 80 ° C. for 2 hours to obtain an alkoxide mixed solution. Next, the mixed solution was adjusted to 0.1 M HCl (H 2 O / Pb = 1) so that the final oxide concentration was 2.5% by weight.
To obtain a PZT (Pb (Zr, Ti) O 3 ) coating solution. Using a spin coater, the obtained coating solution was rotated at 500 rpm for 5 seconds and 3,000 rpm.
Pt / Ti / SiO 2 /
It was applied once on the surface of a Si substrate (100 nm, 30 nm, and 100 nm, respectively) and formed on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Further, the above coating operation was repeated four times so that the thickness of the coating film was 0.4 μm. Subsequently, a low-pressure mercury lamp (1
(0 mW / cm 2 ) and irradiated with ultraviolet light for 5 hours.

【0040】低圧水銀ランプによる紫外光の照射前・後
における塗布膜を基板の表面からそれぞれ剥離し、TG
−DTAを測定することにより、上記した実施例1およ
び実施例2における場合と同様の結果が得られた。ま
た、紫外光の照射前・後における塗布膜をそれぞれ、急
速昇温法により各種の温度で焼成した。この結果、紫外
光照射後の塗布膜では、膜にクラックなどの欠陥は認め
られず、600℃の温度での焼成でペロブスカイト相単
相のPZT膜となった。一方、未照射の塗布膜(比較例
4)では、どの焼成温度においてもクラックが認めら
れ、均質なPZT膜を得ることはできなかった。
The coating film before and after the irradiation of the ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp was peeled off from the surface of the substrate, and TG
-Measurement of DTA yielded the same results as in Examples 1 and 2 above. Further, the coating films before and after the irradiation of the ultraviolet light were respectively fired at various temperatures by a rapid temperature raising method. As a result, in the coating film after the irradiation with ultraviolet light, no defects such as cracks were found in the film, and a single-phase perovskite phase PZT film was obtained by firing at a temperature of 600 ° C. On the other hand, in the unirradiated coating film (Comparative Example 4), cracks were observed at any firing temperature, and a uniform PZT film could not be obtained.

【0041】〈実施例5〉トリ−t−ブトキシインジウ
ムとテトラ−s−ブトキシ錫(In/Sn=90/1
0)とを2−ブタノールとジメチルホルムアミドとの混
合溶液中に添加し、さらにその溶液にインジウムと等モ
ルのアセチルアセトンを添加した。また、アルコキシド
溶液に添加したときに金属酸化物の固形分濃度が5重量
%となるように、1N塩酸−2−ブタノール混合液(H
O/Inのモル比は0.6)を調製し、その混合液を
室温で金属アルコキシドの混合溶液に添加し、加水分解
によりITO塗布液を得た。得られた塗布液を、スピン
コータを使用して500rpmの回転数で5秒間および
2,000rpmの回転数で15秒間の条件でシリカ基
板の表面に1回塗布し、基板上に成膜した。得られた塗
布膜を110℃の温度で30分間乾燥させ、これによ
り、割れの無い塗布膜が得られた。続いて、得られた塗
布膜に低圧水銀ランプ(10mW/cm)を用いて、
紫外光を5時間照射した。低圧水銀ランプからの紫外光
の照射により、塗布膜中に金属インジウムが生成し、膜
は黒化した。得られた膜のX線回折パターンを図5に示
す。
Example 5 Tri-t-butoxyindium and tetra-s-butoxytin (In / Sn = 90/1)
0) was added to a mixed solution of 2-butanol and dimethylformamide, and acetylacetone in an equimolar amount to indium was added to the solution. Further, a 1N hydrochloric acid-2-butanol mixed solution (H) was added such that the solid content concentration of the metal oxide was 5% by weight when added to the alkoxide solution.
A 2 O / In molar ratio of 0.6) was prepared, and the mixture was added to a mixed solution of metal alkoxide at room temperature, and an ITO coating solution was obtained by hydrolysis. The obtained coating solution was applied once on the surface of a silica substrate using a spin coater under the conditions of a rotation speed of 500 rpm for 5 seconds and a rotation speed of 2,000 rpm for 15 seconds, to form a film on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, using a low-pressure mercury lamp (10 mW / cm 2 ) on the obtained coating film,
Irradiated with ultraviolet light for 5 hours. Irradiation of ultraviolet light from a low-pressure mercury lamp produced metal indium in the coating film, and the film turned black. FIG. 5 shows an X-ray diffraction pattern of the obtained film.

【0042】また、低圧水銀ランプによる紫外光の照射
前・後における塗布膜をそれぞれ、各種の温度でそれぞ
れ1時間加熱処理した。この結果、紫外光照射後の塗布
膜では、図6に示すように、200℃の温度で1時間加
熱処理することにより、ITO相の結晶化が確認され
た。図6に示したX線回折パターンは、下から200
℃、250℃、300℃および400℃の温度でそれぞ
れ加熱処理したときのITO膜についてのものである。
一方、未照射の塗布膜(比較例5)では、図7に示すよ
うに、ITOが結晶化するためには、350℃の温度で
の1時間以上の加熱処理が必要であった。図7に示した
X線回折パターンは、下から200℃、250℃、30
0℃および350℃の温度でそれぞれ加熱処理したとき
のITO膜についてのものである。
The coating films before and after the irradiation of ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp were each subjected to heat treatment at various temperatures for 1 hour. As a result, as shown in FIG. 6, crystallization of the ITO phase was confirmed by heat treatment at a temperature of 200 ° C. for one hour, as shown in FIG. The X-ray diffraction pattern shown in FIG.
This is for the ITO film when heat treatment is performed at temperatures of 250C, 250C, 300C and 400C, respectively.
On the other hand, in the unirradiated coating film (Comparative Example 5), as shown in FIG. 7, in order to crystallize ITO, a heat treatment at a temperature of 350 ° C. for 1 hour or more was required. The X-ray diffraction pattern shown in FIG.
This is for the ITO film when heat treatment is performed at temperatures of 0 ° C. and 350 ° C., respectively.

【0043】〈実施例6〉水酸化インジウムを酢酸と無
水酢酸との混合溶液中に添加し、その溶液を24時間還
流させた後、溶液を濾過して、酢酸インジウムを得た。
得られた酢酸インジウムを1−プロパノール中に分散さ
せ、その溶液にインジウムと等モルのジエタノールアミ
ンとテトラ−t−ブトキシ錫とを添加し、さらに、最終
的な酸化物濃度が5重量%となるように溶液を調製した
後、その溶液を1時間還流させて、透明なITOを得
た。得られた塗布液を、スピンコータを使用して500
rpmの回転数で5秒間および2,000rpmの回転
数で15秒間の条件でシリカ基板の表面に1回塗布し、
基板上に成膜した。得られた塗布膜を110℃の温度で
30分間乾燥させ、これにより、割れの無い塗布膜が得
られた。続いて、得られた塗布膜に低圧水銀ランプ(1
0mW/cm)を用いて、紫外光を5時間照射した。
低圧水銀ランプからの紫外光の照射により、上記した実
施例5における場合と同様に、塗布膜中に金属インジウ
ムが生成し、膜は黒化した。
Example 6 Indium hydroxide was added to a mixed solution of acetic acid and acetic anhydride, and the solution was refluxed for 24 hours. Then, the solution was filtered to obtain indium acetate.
The obtained indium acetate is dispersed in 1-propanol, and equimolar amounts of diethanolamine and tetra-t-butoxytin are added to the solution, so that the final oxide concentration becomes 5% by weight. After the solution was prepared, the solution was refluxed for 1 hour to obtain a transparent ITO. Using a spin coater, the obtained coating solution was
once on the surface of the silica substrate under the conditions of 5 seconds at a rotation speed of rpm and 15 seconds at a rotation speed of 2,000 rpm,
A film was formed on a substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, a low-pressure mercury lamp (1
(0 mW / cm 2 ) and irradiated with ultraviolet light for 5 hours.
Irradiation of ultraviolet light from the low-pressure mercury lamp produced metal indium in the coating film and blackened the film in the same manner as in Example 5 described above.

【0044】また、低圧水銀ランプによる紫外光の照射
前・後における塗布膜をそれぞれ、各種の温度でそれぞ
れ1時間加熱処理した。この結果、図8に示すように、
紫外光照射後の塗布膜では、200℃の温度で1時間加
熱処理することにより、ITO相の結晶化が確認され
た。図8に示したX線回折パターンは、下から200
℃、250℃、300℃および400℃の温度でそれぞ
れ加熱処理したときのITO膜についてのものである。
一方、未照射の塗布膜(比較例6)では、図9に示すよ
うに、ITOが結晶化するためには、300℃の温度で
の1時間以上の加熱処理が必要であった。図9に示した
X線回折パターンは、下から200℃、250℃、30
0℃および400℃の温度でそれぞれ加熱処理したとき
のITO膜についてのものである。
The coating films before and after the irradiation of the ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp were each subjected to a heat treatment at various temperatures for 1 hour. As a result, as shown in FIG.
In the coating film after the irradiation of the ultraviolet light, crystallization of the ITO phase was confirmed by heat treatment at a temperature of 200 ° C. for 1 hour. The X-ray diffraction pattern shown in FIG.
This is for the ITO film when heat treatment is performed at temperatures of 250C, 250C, 300C and 400C, respectively.
On the other hand, in the unirradiated coating film (Comparative Example 6), as shown in FIG. 9, a heat treatment at a temperature of 300 ° C. for 1 hour or more was required for crystallization of ITO. The X-ray diffraction pattern shown in FIG.
This is for the ITO film when heat treatment is performed at temperatures of 0 ° C. and 400 ° C., respectively.

【0045】〈実施例7〉硝酸インジウム無水物とテト
ラ−t−ブトキシ錫とを2−エトキシエタノール中に添
加し、その混合液を室温で20時間撹拌することによ
り、透明な溶液が得られた。得られた溶液を濾過した
後、その溶液(塗布液)を、スピンコータを使用して5
00rpmの回転数で5秒間および2,000rpmの
回転数で15秒間の条件でシリカ基板の表面に1回塗布
し、基板上に成膜した。得られた塗布膜を110℃の温
度で30分間乾燥させ、これにより、割れの無い塗布膜
が得られた。続いて、得られた塗布膜に低圧水銀ランプ
(10mW/cm)を用いて、紫外光を20分間照射
した。低圧水銀ランプからの紫外光の照射により、上記
した実施例5における場合と同様に、塗布膜中に金属イ
ンジウムが生成し、膜は黒化した。
Example 7 Indium nitrate anhydride and tetra-t-butoxytin were added to 2-ethoxyethanol, and the mixture was stirred at room temperature for 20 hours to obtain a clear solution. . After the obtained solution was filtered, the solution (coating solution) was separated using a spin coater.
The coating was performed once on the surface of the silica substrate under the conditions of a rotation speed of 00 rpm for 5 seconds and a rotation speed of 2,000 rpm for 15 seconds, and a film was formed on the substrate. The obtained coating film was dried at a temperature of 110 ° C. for 30 minutes, whereby a coating film without cracks was obtained. Subsequently, the obtained coating film was irradiated with ultraviolet light for 20 minutes using a low-pressure mercury lamp (10 mW / cm 2 ). Irradiation of ultraviolet light from the low-pressure mercury lamp produced metal indium in the coating film and blackened the film in the same manner as in Example 5 described above.

【0046】また、低圧水銀ランプによる紫外光の照射
前・後における塗布膜をそれぞれ、各種の温度でそれぞ
れ1時間加熱処理した。この結果、紫外光照射後の塗布
膜では、図10に示すように、200℃の温度で1時間
加熱処理することにより、ITO相の結晶化が確認され
た。図10に示したX線回折パターンは、下から200
℃および250℃の温度でそれぞれ加熱処理したときの
ITO膜についてのものである。一方、未照射の塗布膜
(比較例7)では、図11に示すように、ITOが結晶
化するためには、300℃の温度での1時間以上の加熱
処理が必要であった。図11に示したX線回折パターン
は、下から200℃、250℃、300℃および400
℃の温度でそれぞれ加熱処理したときのITO膜につい
てのものである。
Further, the coating films before and after the irradiation of the ultraviolet light by the low-pressure mercury lamp were respectively subjected to heat treatment at various temperatures for 1 hour. As a result, in the coating film after the irradiation with the ultraviolet light, as shown in FIG. 10, crystallization of the ITO phase was confirmed by performing the heat treatment at a temperature of 200 ° C. for 1 hour. The X-ray diffraction pattern shown in FIG.
This is for the ITO film when subjected to heat treatment at temperatures of ° C and 250 ° C, respectively. On the other hand, in the unirradiated coating film (Comparative Example 7), as shown in FIG. 11, a heat treatment at a temperature of 300 ° C. for 1 hour or more was required for crystallization of ITO. The X-ray diffraction pattern shown in FIG. 11 shows 200 ° C., 250 ° C., 300 ° C., and 400 ° C. from below.
This is for the ITO film after each heat treatment at a temperature of ° C.

【0047】以上の実施例で示した通り、この発明に係
る方法によれば、従来方法に比べて膜中の残留物量が少
ない金属酸化物膜を形成することができ、結果として、
より低温での加熱処理により膜質の優れた緻密な結晶性
の金属酸化物膜が得られる。特に、ITO膜の製造にお
いては、200℃以下の温度での加熱処理により、結晶
性のITO膜を得ることが可能であり、耐熱性の劣るプ
ラスチックス基板上にも、結晶性の導電性ITO膜を形
成することが可能になる。
As shown in the above embodiments, according to the method of the present invention, it is possible to form a metal oxide film having a smaller amount of residue in the film than the conventional method.
By a heat treatment at a lower temperature, a dense crystalline metal oxide film having excellent film quality can be obtained. In particular, in the production of an ITO film, a crystalline ITO film can be obtained by a heat treatment at a temperature of 200 ° C. or less, and a crystalline conductive ITO film can be formed on a plastic substrate having poor heat resistance. It becomes possible to form a film.

【0048】[0048]

【発明の効果】請求項1に係る発明の製造方法による
と、ゾル−ゲル法を用いて基体の表面に金属酸化物膜を
形成する場合において、塗布膜中からの残留物除去のた
めに高温で塗布膜の加熱処理を行う必要が無くなるの
で、良好な微細組織を持った金属酸化物膜を低温で形成
することができ、膜の微細組織の改善のために余分なエ
ネルギーを必要とすることもない。
According to the manufacturing method of the first aspect of the present invention, when a metal oxide film is formed on the surface of a substrate using a sol-gel method, a high temperature is used to remove residues from the coating film. The need for heat treatment of the coating film is eliminated, so that a metal oxide film having a good fine structure can be formed at a low temperature, and extra energy is required to improve the fine structure of the film. Nor.

【0049】請求項2に係る発明の製造方法によると、
In−SnOの結晶化温度が大幅に低下するこ
ととなるので、より低エネルギーの緩やかな加熱処理に
より、プラスチックスなどのような耐熱性の低い基体上
やNaなどのように導電性に悪影響を与える元素を多く
含む基板の表面にも、目的とする低抵抗性のIn
−SnO膜を形成することが可能になる。
According to the manufacturing method of the second aspect,
In2O3-SnO2The crystallization temperature of
For gentle heating with lower energy
More on substrates with low heat resistance such as plastics
Many elements that adversely affect conductivity, such as Na and Na
The surface of the substrate including2O 3
-SnO2It becomes possible to form a film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1に係る製造方法を実施することにより
得られた紫外光照射後のNb塗布膜についてのT
G−DTA曲線である。
FIG. 1 is a graph showing T of an Nb 2 O 5 coating film after irradiation with ultraviolet light obtained by performing the manufacturing method according to Example 1.
It is a G-DTA curve.

【図2】図1に示した実施例に対する比較例であって、
紫外光未照射のNb塗布膜についてのTG−DT
A曲線である。
FIG. 2 is a comparative example with respect to the embodiment shown in FIG. 1,
TG-DT for Nb 2 O 5 coating film not irradiated with ultraviolet light
It is an A curve.

【図3】実施例2に係る製造方法を実施することにより
得られた紫外光照射後のTiO 塗布膜についてのTG
−DTA曲線である。
FIG. 3 is a diagram showing a state in which the manufacturing method according to the second embodiment is performed.
The obtained TiO after irradiation with ultraviolet light 2TG for coating film
-It is a DTA curve.

【図4】図3に示した実施例に対する比較例であって、
紫外光未照射のTiO塗布膜についてのTG−DTA
曲線である。
FIG. 4 is a comparative example for the embodiment shown in FIG. 3,
TG-DTA for TiO 2 coating film not irradiated with ultraviolet light
It is a curve.

【図5】実施例5に係る製造方法を実施することにより
得られた紫外光照射後のIn−SnO塗布膜の
X線回折パターン示す図である。
FIG. 5 is a view showing an X-ray diffraction pattern of an In 2 O 3 —SnO 2 coating film after irradiation with ultraviolet light obtained by performing the manufacturing method according to Example 5.

【図6】実施例5に係る製造方法を実施することにより
得られたIn−SnO膜のX線回折パターンの
加熱変化を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a heating change of an X-ray diffraction pattern of an In 2 O 3 —SnO 2 film obtained by performing the manufacturing method according to Example 5.

【図7】図6に示した実施例に対する比較例であって、
紫外光未照射のIn−SnO膜のX線回折パタ
ーンの加熱変化を示す図である。
FIG. 7 is a comparative example for the embodiment shown in FIG. 6,
It is a diagram showing a heating change in X-ray diffraction pattern of the In 2 O 3 -SnO 2 layer of ultraviolet light unirradiated.

【図8】実施例6に係る製造方法を実施することにより
得られたIn−SnO膜のX線回折パターンの
加熱変化を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a heating change of an X-ray diffraction pattern of an In 2 O 3 —SnO 2 film obtained by performing the manufacturing method according to Example 6.

【図9】図8に示した実施例に対する比較例であって、
紫外光未照射のIn−SnO膜のX線回折パタ
ーンの加熱変化を示す図である。
9 is a comparative example with respect to the embodiment shown in FIG. 8,
It is a diagram showing a heating change in X-ray diffraction pattern of the In 2 O 3 -SnO 2 layer of ultraviolet light unirradiated.

【図10】実施例7に係る製造方法を実施することによ
り得られたIn−SnO膜のX線回折パターン
の加熱変化を示す図である。
FIG. 10 is a view showing a heating change of an X-ray diffraction pattern of an In 2 O 3 —SnO 2 film obtained by performing the manufacturing method according to Example 7.

【図11】図10に示した実施例に対する比較例であっ
て、紫外光未照射のIn−SnO膜のX線回折
パターンの加熱変化を示す図である。
11 is a comparative example with respect to the example shown in FIG. 10 and is a view showing a heating change of an X-ray diffraction pattern of an In 2 O 3 —SnO 2 film not irradiated with ultraviolet light.

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成10年7月8日(1998.7.8)[Submission date] July 8, 1998 (1998.7.8)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図6[Correction target item name] Fig. 6

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図6】 FIG. 6

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図7[Correction target item name] Fig. 7

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図7】 FIG. 7

【手続補正3】[Procedure amendment 3]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図8[Correction target item name] Fig. 8

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図8】 FIG. 8

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図9[Correction target item name] Fig. 9

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図9】 FIG. 9

【手続補正5】[Procedure amendment 5]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図10[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図10】 FIG. 10

【手続補正6】[Procedure amendment 6]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図11[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図11】 FIG. 11

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 金属アルコキシドまたは金属塩を出発原
料として得られる金属酸化物塗布液を被塗布物の表面に
塗布して塗布膜を形成し、その塗布膜に対して波長が3
60nm以下である紫外光を照射した後、塗布膜を加熱
処理して金属酸化物を結晶化させることを特徴とする金
属酸化物膜の製造方法。
A metal oxide coating solution obtained from a metal alkoxide or a metal salt as a starting material is applied to the surface of an object to be coated to form a coating film.
A method for producing a metal oxide film, comprising irradiating ultraviolet light having a wavelength of 60 nm or less, and then heating the applied film to crystallize the metal oxide.
【請求項2】 出発原料としてインジウムアルコキシド
またはインジウム塩および錫アルコキシドまた錫塩が使
用され、得られる金属酸化物塗布液がIn−Sn
塗布液であり、その塗布液を被塗布物の表面に塗布
して形成された塗布膜に対して波長が280nm以下で
ある紫外光を照射し、塗布膜中に金属インジウムおよび
/または金属錫を析出させた後、塗布膜を加熱処理して
In−SnOを結晶化させる請求項1記載の金
属酸化物膜の製造方法。
2. An indium alkoxide or an indium salt and a tin alkoxide or a tin salt are used as starting materials, and the obtained metal oxide coating solution is In 2 O 3 —Sn.
O 2 is the coating liquid, its wavelength coating liquid to a coating film formed by coating the surface of the coating object is irradiated with ultraviolet light at 280nm or less, metallic indium and / or metal in the coating film after precipitation of the tin, method for producing a metal oxide film according to claim 1, wherein crystallizing the in 2 O 3 -SnO 2 and heating the coating film.
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