JP2000015569A - ウェーハ研磨ヘッド - Google Patents
ウェーハ研磨ヘッドInfo
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- diaphragm
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- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
なく、リテーナリングと周壁部との干渉を防ぎ、安定し
た研磨を行うことができるウェーハ研磨ヘッドを提供す
ることを目的としている。 【解決手段】 ウェーハ研磨ヘッド1は、天板部3及び
周壁部4からなるヘッド本体2と、ヘッド本体2の内部
に張られたダイヤフラム5と、ダイヤフラム5下方に固
定されたキャリア6及びリテーナリング7と、周壁部4
とリテーナリング7とを相互可動自在に接続するリンク
手段8とを備えており、該接続部分は高次対偶をなして
いる。このため、リテーナリング7は周壁部4と干渉す
ることなくフローティングされるため、安定した研磨を
行うことができる。
Description
スにおける、半導体ウェーハ表面を研磨する装置に用い
られるウェーハ研磨ヘッドに関するものである。
年、半導体製造装置の高集積化に伴うパターンの微細化
が進んでおり、特に多層構造の微細なパターンの形成が
容易かつ確実に行われるために、製造工程中における半
導体ウェーハの表面を極力平坦化させることが重要とな
ってきている。その場合、表面の膜を研磨するために平
坦化の度合いが高く、凹部への膜の埋め込みも可能とな
る、という観点から、化学機械的研磨法(CMP法)が
脚光を浴びている。
用いて化学的・機械的にウェーハ表面を研磨し、平坦化
する方法であるが、この方法に用いられるウェーハ研磨
ヘッドの一例として、特開平8−229804号に、図
8に示されるものが記載されている。
は、天板部51と天板部51の外周に固定された筒状の
周壁部52とからなるヘッド本体53と、ヘッド本体5
3の内部に張られた、ゴムなどの弾性材料からなるダイ
ヤフラム54と、流体室58内の圧力を調整する圧力調
整機構56と、ダイヤフラム54の下面に固定された円
盤状のキャリア55と、このキャリア55の外周に同心
に配置された円環状のリテーナリング57とを備えてい
る。
ダイヤフラム54の上面に設けられたキャリア固定リン
グ59及びリテーナリング固定リング62にそれぞれ固
定されており、リテーナリング57は、キャリア55の
外周面及び周壁部52との間に僅かな隙間を空けて同心
状に配置されている。ここで、僅かな隙間を空けて配置
されているのは、ダイヤフラム54の弾性変形により、
リテーナリング57の可動範囲が大きくなりすぎる事を
抑えるためである。
ーナリング57によって外周を係止されながら、キャリ
ア55の下面に設けられたウェーハ付着シートSに付着
される。そして、ウェーハWの表面は、プラテン61上
面に貼付された研磨パッド63に当接され、研磨砥粒剤
を含むスラリーが供給されながら、ウェーハ研磨ヘッド
50が回転されることにより研磨される。
57とは、ダイヤフラム54の弾性変形によって、それ
ぞれ独立して上下方向に変位されるフローティング構造
となっており、キャリア55及びリテーナリング57の
研磨パッド63への押圧圧力は、圧力調整機構56によ
って調整された流体室58内部の圧力に応じて変化され
るようになっている。
磨ヘッドは、キャリア55及びリテーナリング57がダ
イヤフラム54に支持されたフローティング構造のた
め、キャリア55及びリテーナリング57の可動範囲に
よって、研磨パッド63の傾斜や各要素の軸傾斜などが
吸収される構造となっているが、研磨パッド63の傾斜
が大きい場合や各要素の軸傾斜が蓄積されて全体として
大きな傾斜となった場合、リテーナリング57の可動範
囲は小さくなり、つまり、周壁部52とリテーナリング
57とのクリアランスは小さくなり、周壁部52と干渉
する場合がある。このとき、リテーナリング57の円滑
な変位は妨げられ、各要素の傾斜が十分に吸収されず、
その結果、ウェーハWの研磨状態にムラが生じてしまう
場合がある。
加工仕上がり精度が不十分だったり、組み立て時にズレ
が生じた場合なども、周壁部52とリテーナリング57
とのクリアランスが安定して保持されないため同様の干
渉による問題が生じる。
のクリアランスを大きく空けすぎると、リテーナリング
57の可動範囲が大きくなりすぎてしまい、ウェーハW
はリテーナリング57に安定して係止されなくなる。
たもので、リテーナリングと周壁部との干渉を防ぎ、リ
テーナリングの円滑な変位が阻害されることなく、安定
した研磨を行うことができるウェーハ研磨ヘッドを提供
することを目的としている。
め、本発明は、天板部と該天板部の外周下方に設けられ
た筒状の周壁部とからなるヘッド本体と、前記ヘッド本
体内にヘッド軸線に対し垂直に張られたダイヤフラム
と、前記ダイヤフラムと前記ヘッド本体との間に形成さ
れる流体室に満たされた流体圧力を調整する圧力調整機
構と、前記ダイヤフラムに固定されてダイヤフラムとと
もにヘッド軸線方向に変位可能に設けられ、研磨すべき
ウェーハの一面を保持するためのキャリアと、前記周壁
部の内壁と前記キャリアの外周との間に同心状に配置さ
れるとともに、前記ダイヤフラムに固定され前記ダイヤ
フラムとともにヘッド軸線方向に変位可能に設けられ、
研磨時には研磨パッドに当接するリテーナリングとを具
備したウェーハ研磨ヘッドにおいて、前記リテーナリン
グと前記周壁部とを離間した位置で接続させるリンク手
段が設けられ、該リンク手段の両接続部分は少なくとも
接線を中心とする回り対偶をなしていることを特徴とす
る。
本体の周壁部とは、リンク手段によって離間した位置で
接続されたことにより、各要素の軸傾斜に起因するリテ
ーナリングの可動範囲の縮小があった場合にも、リテー
ナリングと周壁部との干渉を防ぐことができる。このと
き、リテーナリングの円滑な変位は妨げられないので、
ウェーハは安定して係止される。
であるリテーナリング及び周壁部の少なくとも接線を中
心とする回り対偶をなしたリンク機構を形成しているこ
とにより、リテーナリング及び周壁部は相互可動自在に
支持されている。そのため、リテーナリングは周壁部と
干渉することなくフローティング構造の効果を得ること
ができ、各要素の軸傾斜を吸収してウェーハの研磨を安
定して行うことができる。
は周壁部のいずれか一方と対偶をなす部分が球面対偶を
なしていることにより、該対偶部分を中心としてあらゆ
る方向に回転自在となる。そのため、リンク手段はリテ
ーナリングの上下方向の移動だけでなく、ねじり運動も
吸収することが可能となり、ウェーハ研磨を安定して行
うことができる。
部分が、接線を中心とする回り対偶に加え、接線方向に
沿うすべり対偶をもなしていることにより、リテーナリ
ングの上下方向の移動が吸収されるとともに、対偶をな
す部分どうしは接線方向に対してスライド可能になって
いるため、周壁部とリテーナリングとのクリアランスは
安定して保持されるととともに、すべり対偶による自由
度の高い相対運動が実現される。
ウェーハ研磨ヘッドを図面を参照して説明する。図1は
本発明のウェーハ研磨ヘッドの一実施形態を示す断面図
であり、図2は図1のリンク手段近傍の拡大断面図であ
る。
は、図7に示すウェーハ研磨装置全体図のうち、ヘッド
駆動機構であるカルーセル30下部に複数設けられてお
り、プラテン24上に設けられた研磨パッド23上で遊
星回転されるようになっている。
天板部3及び筒状に形成された周壁部4からなるヘッド
本体2と、ヘッド本体2の内部に張られたダイヤフラム
5と、ダイヤフラム5の下面に固定された円盤状のキャ
リア6と、周壁部4の内壁とキャリア6の外周面に同心
状に設けられた円環状のリテーナリング7と、周壁部4
とリテーナリング7とを連結するリンク手段8とを備え
ている。
部3の外周下方に固定された筒状の周壁部4とから構成
され、ヘッド本体2の下端部は開口されて中空になって
いる。天板部3は、カルーセル30に連結されたシャフ
ト9に同軸に固定されており、シャフト9には、圧力調
整機構20に連通された流路15が鉛直方向に形成され
ている。また、周壁部4の下端部には、全周にわたって
段部4a及び半径方向内方に突出された円環状の係止部
10が形成されており、さらにその下方にはリンク手段
8が係合される部分であるリンク手段第1係合部16が
形成されている。
ヤフラム5は円板状に形成されており、ダイヤフラム固
定リング11によって周壁部4の内壁に形成された段部
4a上に固定されている。
されており、シャフト9に形成された流路15によって
連通されている。そして、流体室14内部に、圧力調整
機構20から流路15を通して、空気をはじめとする流
体が供給されることによって、流体室14内部の圧力は
調整される。
ア6は、円盤状に一定の厚さで形成されており、ダイヤ
フラム5の上面に設けられたキャリア固定リング12に
よって固定されている。
ャリア6の外周面との間に円環状に形成されており、周
壁部4の内壁との間及びキャリア6の外周面との間に僅
かな隙間を空けて、周壁部4及びキャリア6と同心状に
配置されている。また、リテーナリング7は、ダイヤフ
ラム5の上面に設けられたリテーナリング固定リング1
3によって固定されている。リテーナリング7の上端面
及び下端面は水平かつ平坦に形成されており、周壁部4
と対面する部分には、リンク手段8が係合される部分で
あるリンク手段第2係合部17が形成されている。
と、リテーナリング7に形成された第2係合部17との
間にはリンク手段8が設けられている。このリンク手段
8は、リテーナリング7を安定して支持するために、少
なくともリテーナリング7の周囲3箇所以上の複数箇所
設けられるようになっている。
うに、ほぼ一定の厚さで、平面ほぼ三角形状に形成され
ており、リンク手段8先端の、第1係合部16と係合さ
れる部分である第1端部8aは球面状に形成されてい
る。一方、第2係合部17と対偶をなす第2端部8b
は、長手方向に沿ってコロ状に形成されている。
手段8の形状に沿うように、同一厚さで平面ほぼ三角形
状に、図2、3中周壁部4の右方から中空になるように
形成された支持部16aが設けられており、リンク手段
8は、支持部16aに僅かな隙間を空けて係合される。
また、支持部16aの、第1端部8aが係合される部分
である接面部16bは内壁が球面状になるように形成さ
れ、該球面状の接面部16bとリンク手段8の第1端部
8aとは球面接触されて、回り対偶をなすように形成さ
れている。そしてリンク手段8は、第1端部8aを中心
に全ての方向に回転自在に支持されている。
状に沿うように、断面半円筒状に形成されており、第2
端部8bと第2係合部17とは線接触されるようになっ
ている。また、第2係合部17の半円筒状に形成される
部分は、第2端部8bのコロ状部分の長手方向の長さよ
り長く形成されている。そして、リテーナリング7は、
第2係合部17を中心に回転可能であると同時に、第2
端部8bは第2係合部17内部を長手方向にスライド可
能となっており、第2端部8bと第2係合部17とは回
り対偶をなしていると同時に、第2端部8bのコロ状部
分の長手方向に沿ってすべり対偶をなしている。
は、図4に示すように、円環状に形成されたリテーナリ
ング7の周囲6箇所に設けられている。
ェーハの研磨を行う場合、まず、ウェーハ22は、キャ
リア6の下面に設けられたウェーハ付着シート21に付
着される。そして、ウェーハ22はリテーナリング7に
よって係止されつつ、その表面をプラテン24上面に設
けられた研磨パッド23に当接される。このとき、リテ
ーナリング7の下端面も研磨パッド23に当接される。
の流体を流入させることによって、流体室14内の圧力
を調節し、キャリア6及びリテーナリング7の研磨パッ
ド23への押圧圧力を調節する。キャリア6及びリテー
ナリング7はダイヤフラム5に支持された、それぞれ独
立して上下方向に変位可能なフローティング構造となっ
ており、流体室14内部の圧力によって研磨パッド23
への押圧圧力が調節可能となっている。
の押圧圧力を調節しつつ、プラテン24を回転させると
ともに、ウェーハ研磨ヘッド1を遊星回転させるように
なっている。
各要素の軸傾斜が大きすぎると、リテーナリング7の可
動範囲は小さくなり、つまり、リテーナリング7と周壁
部4とのクリアランスは小さくなり、リテーナリング7
は周壁部4と干渉する場合がある。この場合、リテーナ
リング7の円滑な変位は妨げられてしまい、キャリア6
及びリテーナリング7の、フローティングによる軸傾斜
を吸収する効果を十分に得ることができなくなり、その
結果、ウェーハを均一に研磨することができなくなる。
の周壁部4とを、リンク手段8によって離間した位置で
接続させたことにより、各要素の軸傾斜に起因するリテ
ーナリング7の可動範囲の縮小があった場合にも、リテ
ーナリング7と周壁部4との干渉を防ぐことができる。
また、リンク手段8とリテーナリング7と周壁部4とは
リンク機構を形成して、相互可動自在になっているた
め、フローティング構造の効果を得ることができ、各要
素の軸傾斜を吸収してウェーハの研磨を安定して行うこ
とができる。
成され、周壁部4の第1係合部16と球面対偶をなして
いることにより、リンク手段8は第1端部8aを中心と
してあらゆる方向に回転自在となる。そのため、リンク
手段8はリテーナリング7の上下方向の移動だけでな
く、ねじり運動も吸収することが可能となり、ウェーハ
22の研磨を安定して行うことができる。
状に形成され、リテーナリング7の第2係合部17と対
偶をなす部分が、第2端部8bのコロ状部分の接線を中
心とする回り対偶をなすとともに接線方向に沿うすべり
対偶をなしていることにより、リテーナリング7の上下
方向の移動を吸収するとともに、対偶をなす部分どうし
は接線方向に対してスライド可能になっているため、周
壁部4とリテーナリング7とのクリアランスは安定して
保持されるととともに、すべり対偶による自由度の高い
相対運動が実現される。
リンク手段40の周壁部4と対偶をなす部分である第1
端部40aがコロ状に形成され、リテーナリング7と対
偶をなす部分である第2端部40bが球形状に形成され
ても所望の効果を得ることができる。さらに、図6に示
すように、リンク手段41の第1、第2端部41a、4
1bを球面状に形成することも可能である。
ような効果を有するものである。 (1)リテーナリングとヘッド本体の周壁部とは、リン
ク手段によって離間した位置で接続されたことにより、
各要素の軸傾斜に起因するリテーナリングの可動範囲の
縮小があった場合にも、リテーナリングと周壁部との干
渉を防ぐことができる。このとき、リテーナリングの円
滑な変位は妨げられないので、ウェーハは安定して係止
される。 (2)前記リンク手段は、その両接続部分であるリテー
ナリング及び周壁部の少なくとも接線を中心とする回り
対偶をなしたリンク機構を形成していることにより、リ
テーナリング及び周壁部は相互可動自在に支持されてい
る。そのため、リテーナリングは周壁部と干渉すること
なくフローティング構造の効果を得ることができ、各要
素の軸傾斜を吸収してウェーハの研磨を安定して行うこ
とができる。 (3)前記リンク手段は、リテーナリングもしくは周壁
部のいずれか一方と対偶をなす部分が球面対偶をなして
いることにより、該対偶部分を中心としてあらゆる方向
に回転自在となる。そのため、リンク手段はリテーナリ
ングの上下方向の移動だけでなく、ねじり運動も吸収す
ることが可能となり、ウェーハ研磨を安定して行うこと
ができる。 (4)前記リンク手段のうち、他方の対偶部分が、接線
を中心とする回り対偶に加え、接線方向に沿うすべり対
偶をもなしていることにより、リテーナリングの上下方
向の移動が吸収されるとともに、対偶をなす部分どうし
は接線方向に対してスライド可能になっているため、周
壁部とリテーナリングとのクリアランスは安定して保持
されるととともに、すべり対偶による自由度の高い相対
運動が実現される。
を示す縦断面図である。
を示す上方から見た平面図である。
を示すリンク手段近傍の上方から見た平面図である。
を示すリンク手段近傍の上方から見た平面図である。
研磨装置の全体図である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 天板部と該天板部の外周下方に設けられ
た筒状の周壁部とからなるヘッド本体と、前記ヘッド本
体内にヘッド軸線に対し垂直に張られたダイヤフラム
と、前記ダイヤフラムと前記ヘッド本体との間に形成さ
れる流体室に満たされた流体圧力を調整する圧力調整機
構と、前記ダイヤフラムに固定されてダイヤフラムとと
もにヘッド軸線方向に変位可能に設けられ、研磨すべき
ウェーハの一面を保持するためのキャリアと、前記周壁
部の内壁と前記キャリアの外周との間に同心状に配置さ
れるとともに、前記ダイヤフラムに固定され前記ダイヤ
フラムとともにヘッド軸線方向に変位可能に設けられ、
研磨時には研磨パッドに当接するリテーナリングとを具
備したウェーハ研磨ヘッドにおいて、前記リテーナリン
グと前記周壁部とを離間した位置で接続させるリンク手
段が設けられ、該リンク手段の両接続部分は少なくとも
接線を中心とする回り対偶をなしていることを特徴とす
るウェーハ研磨ヘッド。 - 【請求項2】 前記リンク手段は、リテーナリングもし
くは周壁部のいずれか一方と対偶をなす部分が球面対偶
をなし、他方が前記回り対偶に加え接線方向に沿うすべ
り対偶をもなしていることを特徴とする請求項1に記載
のウェーハ研磨ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18531498A JP3614666B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | ウェーハ研磨ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18531498A JP3614666B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | ウェーハ研磨ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000015569A true JP2000015569A (ja) | 2000-01-18 |
JP3614666B2 JP3614666B2 (ja) | 2005-01-26 |
Family
ID=16168686
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18531498A Expired - Fee Related JP3614666B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | ウェーハ研磨ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3614666B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002120150A (ja) * | 2000-07-14 | 2002-04-23 | Applied Materials Inc | 化学機械ポリッシャ用の改善されたダイヤフラム |
CN111015503A (zh) * | 2014-10-30 | 2020-04-17 | 应用材料公司 | 运用于化学机械抛光工艺中的保持环的轮廓及表面制备的方法和设备 |
CN111266993A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 凯斯科技股份有限公司 | 化学机械式研磨装置用承载头的卡环及具备其的承载头 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS614662A (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-10 | Nec Corp | 平面研摩装置の被加工物保持機構 |
JPH08229804A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-10 | Mitsubishi Materials Corp | ウェーハ研磨装置および研磨方法 |
JPH10128656A (ja) * | 1996-10-31 | 1998-05-19 | Toshiba Mach Co Ltd | 研磨装置の加工ヘッド |
-
1998
- 1998-06-30 JP JP18531498A patent/JP3614666B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS614662A (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-10 | Nec Corp | 平面研摩装置の被加工物保持機構 |
JPH08229804A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-10 | Mitsubishi Materials Corp | ウェーハ研磨装置および研磨方法 |
JPH10128656A (ja) * | 1996-10-31 | 1998-05-19 | Toshiba Mach Co Ltd | 研磨装置の加工ヘッド |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002120150A (ja) * | 2000-07-14 | 2002-04-23 | Applied Materials Inc | 化学機械ポリッシャ用の改善されたダイヤフラム |
CN111015503A (zh) * | 2014-10-30 | 2020-04-17 | 应用材料公司 | 运用于化学机械抛光工艺中的保持环的轮廓及表面制备的方法和设备 |
CN111266993A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 凯斯科技股份有限公司 | 化学机械式研磨装置用承载头的卡环及具备其的承载头 |
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---|---|
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