ITMI961670A1 - Misura lineare dello spessore o della massa di un nastro di fibre - Google Patents
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Description
"MISURA LINEARE DELLO SPESSORE 0 DELLA MASSA DI UN NASTRO DI FIBRE"
TESTO DELLA DESCRIZIONE
Il campo tecnico dell'invenzione sono i dispositivi di misura, in particolare l'invenzione riguarda un procedimento per la misura rapida dello spessore o della massa di un nastro di fibre in uno stiratoio o in una carda (cosiddetta "regolazione"). Anche contemplato dall'invenzione è un dispositivo per l'esecuzione di questo procedimento, nonché un procedimento di influenzamento linearizzante per segnali misurati (ancora) non lineari.
Nelle menzionate macchine lavoranti un nastro di fibre, i nastri di alimentazione, composti da più nastri di fibre, attraversano principalmente un trasduttore di misura, che rappresenta una coppia di rulli palpatori supportati in modo girevole. Uno di questi due rulli palpatori è inoltre mobile, e viene deflesso più o meno ampiamente rispetto al cilindro palpatore fisso da|lle oscillazioni della massa del nastro -cioè: dello spessore del nastro di fibre che passa attraverso i cilindri palpatori con larghezza costante della fessura di attraversamento. Questi movimenti di deflessione vengono rilevati mediante un sensore senza contatto e possono venire convertiti in un segnale di misura elettrico (un "bersaglio" mobile viene misurato senza contatto per quanto riguarda la sua distanza da un "trasduttore di percorso" fisso). Con questo segnale di misura viene influenzato per esempio lo stiratoio nella sua zona di stiratura in modo tale che i cilindri (cilindro di ingresso, cilindro centrale) dello stiratoio assumano una velocità differente, quando la massa di nastro modificata raggiunge la zona di stiratura (fra cilindro centrale e cilindro di erogazione). In pratica, questo avviene in un tempo di propagazione variabile (cosiddetta "memorizzazione elettronica"), che trasferisce con ritardo il valore di misura ad uno stadio di valore nominale.
Le misure precedentemente menzionate devono venire eseguite rapidamente alle elevate velocità di nastro (per esempio nel campo 15 km/h<vL<50 km/h), affinchè possa venire approntata un'elevata frequenza di campionamento per lo spessore del nastro (massa) da misurare. Poiché alle misure seguono il più delle volte calcoli notevoli, devono venire messi a disposizione microcalcolatori, microcomputer o processori di segnale potenti, eventualmente chip di calcolo a virgola mobile.
Punto di partenza dell'invenzione è il compito di eseguire più rapidamente la misura secondo lo stato della tecnica e mantenere contemporaneamente la precisione della misura, o addirittura aumentarla ancora.
Questo viene raggiunto con l'invenzione quando il segnale di misura primario, che deriva dal trasduttore di misura, viene modificato durante il funzionamento, con l'aiuto di una curva caratteristica memorizzata precedentemente, che si basa su una relazione misurata per punti fra uno spessore definito sul trasduttore di misura e il segnale di misura primario (rivendicazione 1). Il dispositivo adatto per questo procedimento (rivendicazione 9) contiene "un circuito" (con tecnica software o specifico dell 'hardware) , in cui sono contenuti una curva (funzione) memorizzata e/o parole di dati memorizzate che modificano il segnale di misura del trasduttore di misura in modo tale che il segnale di uscita del circuito sia lineare (in caso di spessore variabile linearmente), anche se il segnale di uscita del trasduttore di misura e quindi il segnale di ingresso del circuito non sono lineari. Il contenuto memorizzato del circuito si basa su stadi o passi di apprendimento precedenti il funzionamento, che sono stati eseguiti per più spessori (cosiddette "misure di prova", per esempio 3 nun, 4 mm, 5 min e 6 mm) . In questi stadi di apprendimento sono stati eseguiti i calcoli occupanti molto tempo di calcolo, per i quali nella fase precedente il funzionamento è a disposizione sufficiente tempo; sono stati memorizzati soltanto i risultati dei calcoli che durante il funzionamento vengono soltanto letti, senza che nella fase di funzionamento del dispositivo di misura -quando la macchina funziona e il nastro di fibre viene mosso attraverso il dispositivo di misura- i calcoli debbano venire eseguiti nuovamente (rivendicazione 12).
La fase precedente il funzionamento può avvenire una sola volta fino alla memorizzazione di tutte le parole di dati necessarie o della curva da esse formata. Successivamente il sistema di misura e tarato anche senza fase preliminare per ogni caso di funzionamento e deve venire guidato nuovamente in una fase preliminare soltanto se vengono sostituite o modificate parti del sistema di misura o del trasduttore di misura. Inoltre, può avvenire una nuova taratura, quando vi sono dubbi in merito alle grandezze ' misurate da parte dell 'utilizzatore (rivendicazione 7).
Poiché l'invenzione effettua i calcoli dei segnali di misura prima della fase di funzionamento vera e propria ("preliminarmente") e nella fase di funzionamento esegue soltanto misure, che possono venire convertite mediante una tabella in modo molto rapido, per quanto riguarda un offset o una pendenza (rivendicazione 5), diviene possibile accelerare la misura e contemporaneamente linearizzarla.
Per questi valori di misura linearizzati non sono nemmeno necessari componenti costosi, sono sufficienti componenti logici tradizionali, eventualmente un ASIC. Anche l'ulteriore elaborazione con tecnica programmata dei valori di misura linearizzati si semplifica.
La precisione che viene ottenuta con l'invenzione interessa anche il convertitore analogico/digitale, che è collegato in cascata al trasduttore di misura e mette a disposizione il segnale di misura in forma digitale. Della sua curva caratteristica e delle sue non linearità si tiene conto già durante il calcolo delle parole di dati nella fase precedente il funzionamento (rivendicazione 14).
Moltiplicazione e divisione non divengono più necessarie in tempo reale, e sono superflui co-processori matematici o processori di segnale per il compimento rapido di questa moltiplicazione e divisione con elevata precisione.
Non si deve più prestare particolare attenzione al trasduttore di misura (per esempio "target" e "trasduttore di percorso") , che mette a disposizione il segnale di misura analogico, dal punto di vista della sua linearità, poiché la sua non linearità in ogni caso viene compensata per il fatto che il circuito forma il suo reciproco, cosicché la funzione di trasferimento complessivamente, partendo dallo spessore di ingresso d(t) al segnale di uscita u2(t) del circuito (rivendicazione 9), che può essere digitale o analogico, è lineare.
L'invenzione Viene illustrata e completata qui di seguito con l'aiuto di più esempi d'esecuzione.
La figura 1 è un'immagine del ciclo di lavorazione di un nastro di fibre per uno stiratoio, in cui un trasduttore a cilindri palpatori la, lb -con cilindro lb mobile- misura lo spessore d del nastro di alimentazione 20 composto da più nastri di fibre singoli 19. Con la misura di spessore d(t) è nota anche la massa m(t) del nastro di fibre (per sezione di lunghezza o unità di tempo), poiché si può partire da un peso specifico noto e da una velocità di nastro nota (o misurabile) .
La figura 2 è un ingrandimento del circuito 10 mostrato in figura 1, con i suoi elementi analogici o digitali nonché un trasduttore di temporizzazione 14.
La figura 3 mostra una funzione di trasferimento K1 non lineare come u1=f(d), ove d è orientata parallelamente a x, perpendicolarmente rispetto alla direzione della velocità del nastro. Il segnale idi uscita corrisponde al trasduttore di misura 1 della figura 1, sia che la variabile dipendente sia l'angolo a, sia che essa sia il segnale di uscita ' elettrico di una sonda di misura di smorzamento 2b. La figura 3 mostra anche la funzione M linearizzata, come risulta per il dispositivo di misura complessivo dal punto di vista della relazione u2=f(d) in caso di aggiunta del circuito 10 secondo la figura 1.
La figura 4 mostra la "zona di regolazione", rappresentata in vista laterale in figura 1, con zona di ingresso 22 e zona di stiratura 23 in pianta, ove sono rappresentati gli elementi circuitali della figura 2.
La figura 4 mostra il campo in cui deve venire illustrato l'esempio d'esecuzione dell'invenzione con l'aiuto di una struttura circuitale secondo la figura 2, anche se è evidente che l'esempio di realizzazione in tecnica hardware della figura 2 può venire realizzato anche con tecnica di programmazione, quando il comando di svolgimento è un segmento di programma o un sottoprogramma , che funziona comandato a interruzione e la RAM o ROM 12 rappresenta una sezione di una memoria di dati più grande del processore.
La figura 4 illustra la zona di stiratura fra il cilindro centrale M, che ruota durante il funzionamento con la velocità V2 (velocità periferica), e il cilindro di erogazione L che ruota con la velocità v3 (velocità periferica) e immette in un accumulatore di nastro il nastro di fibre stirato nella zona di stiratura 23 con una velocità molte volte maggiore dallo stiratoio come nastro di fibre 24. Alla zona di stiratura 23 viene alimentato un velo di fibre in forma piatta, come rappresentato in 22, sventagliato da un cilindro di ingresso E, che ruota con la velocità v^ (velocità periferica) e che da un fascio di fibre 21 allarga le fibre per il cilindro centrale M. Prima del cilindro di ingresso è disposto l'organo palpatore la, lb, che è costituito da due dischi o cilindri la, lb ruotanti opposti, che riuniscono a fascio con elevata forza fra di essi il nastro di fibre complessivo composto da più nastri di fibre 19, e rendono determinabile lo spessore d, e quindi la massa del nastro di fibre. Dopo i cilindri palpatori la, lb il nastro di fibre 21 -spinto dal cilindro di ingresso E della zona di stiratura- viene sventagliato e formato nella larghezza con cui viene alimentato al cilindro centràle M e alla zona di stiratura 23.
I cilindri palpatori la, lb sono rappresentati come esempio, possono trovare qui impiego anche altri organi di misura. I cilindri palpatori la, lb ruotano entrambi, uno dei cilindri -come rappresentato schematicamente in figura 1- è a distanza variabile rispetto all'altro e tramite un braccio di leva 3 -caratterizzante il principio- con articolazione orientabile 3a, confronta la sua deflessione con un target 2a, la cui distanza rispetto ad un trasduttore di percorso 2b funzionante in modo induttivo viene determinata.
II segnale di uscita del trasduttore di misura 2b, attraverso un trasduttore di segnale, che può essere un elemento proporzionale 9, viene dato ad una memoria di valori di misura Ila, che imposta un ritardo temporale predeterminato, a cui deve essere sottoposto il segnale di spessore d(t^) misurato al momento, per modificare attraverso uno stadio di valore nominale R, il servoazionamento 15 ed un ruotismo epicicloidale 16, le velocità V2 del cilindro centrale M e contemporaneamente del cilindro di ingresso E, in modo tale che la stiratura desiderata avvenga nella zona 23 in un punto di stiro predeterminato. Il motore principale aziona il cilindro di erogazione L con una velocità v3, esso aziona anche il ruotismo epicicloidale con questa velocità, per cui le variazioni di spessore misurate con il cilindro palpatore lb influenzino le velocità V2, v^ soltanto come differenza di numero di giri attraverso il servoazionamento 15 e il ruotismo epicicloidale 16, mentre lo stato stazionario è regolato in modo tale che la velocità v3 sia un multiplo delle velocità v2, v1, ma sia stazionaria in caso di spessore del nastro di fibre 19 iinvariabile.
Per effetto di imprecisioni e non linearità nel percorso di segnale fra lo spessore del nastro di fibre d sui cilindri palpatori la, lb fino allo stadio di valore nominale 12, si deve lavorare con elaborazione di segnale non lineare, per controllare la regolazione dello stiratoio (il precomando della velocità v2 e v^). Le nonlinearità peggiorano la precisione di regolazione, esse richiedono elevati tempi di calcolo ed elevate potenze di calcolo da installare durante il funzionamento.
Perciò, viene previsto il circuito 10 in figura 1, il quale con trasduttori di misura la, 3, 3a, 2a, 2b (nel seguito brevemente: 1, 2) ancora convenzionali rende possibile una misura di spessore lineare a velocità maggiori e con potenza di calcolo da installare minore.
La variazione del valore di misura, rappresentata secondo il blocco funzionale 10, avviene per esempio con l'aiuto di una realizzazione in tecnica hardware in figura 2. Il segnale di misura u^(t) anòora non lineare viene alimentato ad un convertitore A/D li, che emette per esempio un segnale a 8 bit, che viene interpretato come segnale di indirizzo A·^. Con il segnale di indirizzo Α^, che è a bit paralleli, viene letta la memoria 12, che è una RAM tamponata a batteria o una EEPROM o una ROM. Essa emette parole di dati D-^, che nella loro larghezza di bit non devono corrispondere obbligatoriamente alla larghezza di bit di ingresso, e possono però venire scelte anche a 8 bit. Il segnale digitale u2(t) è un segnale discreto nel tempo. I valori di misura dalla memoria 12 vengono utilizzati da un comando 14, che viene comandato o mediante una temporizzazione fissa oppure mediante una temporizzazione sincronizzata con il numero di giri v3 del cilindro di erogazione L o il numero di giri v-^ del cilindro di ingresso E o il numero di giri v2 del cilindro centrale M. Con ciò si ottiene un modo di funzionamento che è orientato longitudinalmente, ove il tempo di interruzione del calcolatore dipende dalla velocità del velo.
Nella memoria dati 12 sono presenti valori di dati che sono stati determinati prima del funzionamento vero e proprio dello stiratoio che serve qui per la spiegazione e perciò è esemplificativo.
La determinazione del contenuto della memoria 12 viene illustrata con l'aiuto della figura 3. Una funzione di trasferimento K1 normalmente non lineare risulta in parte a causa della struttura meccanica del trasduttore di misura 1, 2 (per esempio una variazione di spessore d lineare del nastro di fibre a fascio non è uguale ad una variazione lineare corrispondente della distanza del target 2a dal trasduttore di percorso 2b oppure la variazione lineare della distanza del bersaglio 2a dal trasduttore di percorso 2d funzionante induttivamente non comporta una variazione di segnale u1’ lineare corrispondente), e in parte a causa di una regolazione mancante. A queste non linearità si aggiungono anche offset, che possono avere cause termiche, ma che sono però inevitabili strutturalmente, così come tali offset, che riguardano il convertitore A/D 11 stesso. Queste non linearità, delle quali vengono esposti qui soltanto esempi, si manifestano nella curva caratteristica K1 non lineare.
La figura 3 mostra la curva caratteristica M linearizzata, che rappresenta la funzione di trasferimento complessiva dalla variazione dello spessore di ingresso D del nastro sul trasduttore di misura 1, 2 fino al segnale di uscita u2, quindi la funzione di trasferimento M=F[u2(t)/d(t)] . Nella memoria dati 12 è depositato anche il reciproco della funzione K1 non lineare, per dare come risultato nuovamente un'uscita u2(t) lineare per un ingresso non lineare, che caratterizza una variazione lineare della grandezza di misura d(t).
Le parole di dati nella memoria 12 vengono determinate in una fase precedente il funzionamento, quando vengono inserite misure di prova singole nel trasduttore di misura 1, 2, e quindi viene determinato il rispettivo segnale di uscita '. Dopo che nel caso delle misure di prova è noto quali valori di uscita sono desiderati sulla curva di adattamento, il rispettivo valore di misura u1 ' (ancora non lineare) può venire memorizzato in modo tale che venga formata una base di calcolo nella fase precedente il funzionamento, per determinare la funzione nella memoria 12, che conduce alla grandezza di uscita u2(t) lineare. Questa funzione è stata indicata precedentemente come il "reciproco", nel reciproco essendo comprese sia una correzione di offset sia anche una correzione di pendenza, se la grandezza di misura u-^’ non lineare può contenere tutti questi errori.
Come misure di prova, che vengono regolarmente fornite insieme in gruppo per la messa in funzione di una macchina, sono adatte misure di 3 mm, 4 mm, 5 mm e 6 mm; possono esservi anche più misure per questo gruppo, esse devono essere soltanto dimensionate con molta precisione.
Dai singoli punti, il sistema nella fase precedente il funzionamento può calcolare i valori di dati della memoria 12, che devono venire soltanto letti durante il funzionamento, poiché essi contengono già le non linearità e possono quindi eseguire rapidamente la linearizzazione e il ricalcolo.
Se nella fase precedente il funzionamento vengono misurati soltanto alcuni punti (per esempio 4), il sistema stesso, con l’aiuto di una funzione di linearizzazione, può creare una forma definita per punti con risoluzione molto più elevata, quando sono note soltanto sezioni o singoli punti. A tale scopo il programma di svolgimento nella fase precedente il funzionamento impiega metodi di linearizzazione o metodi di compensazione dell'offset, per ottenere un reciproco definito per punti o un reciproco definito a sezioni.
Se viene scelta una definizione per punti, allora sull'intero campo di indirizzi A·^ deve essere a disposizione una zona di dati corrispondente; la risoluzione è infatti elevata, purché lo sia anche l'estensione della memoria. Se deve venire scelta una grandezza ridotta con precisione ancora sufficiente, allora possono venire riunite sezioni della zona di indirizzi A^, che vengono associati rispettivamente ad una parola di dati . Questo può avvenire mediante esclusione del bit meno significativo del campo di indirizzi (che rappresenta il segnale di misura u1'). Allora, il reciproco che si trova nella memoria 12 definisce a sezioni la elaborazione dei valori di misura durante il funzionamento della macchina.
I calcoli complessi, da eseguire prima della fase di funzionamento vera e propria della macchina, possono venire risolti senza problemi di tempo, poiché non è necessaria un'elevata frequenza di interruzione prima del funzionamento della macchina vero e proprio. Il tempo di calcolo può venire anche prolungato ampiamente, possono venire impiegati anche processori che non richiedono le elevate capacità di calcolo che richiederebbe un processore che dovesse convertire durante il funzionamento i valori di misura u^' (non lineari) misurati attualmente in valori di misura linearizzati, o addirittura se dovesse convertire i valori di misura prelevati dal trasduttore di percorso 2b soltanto con l'aiuto di relazioni note (divisione e moltiplicazione) in un segnale di misura.
Con l'esempio diviene possibile effettuare sia i ricalcoli delle grandezze di misura basate sulla meccanica del trasduttore sia anche la linearizzazione di queste grandezze di misura prima del funzionamento della macchina. Durante il funzionamento il sistema si occupa della sola lettura di punti di dati o sezioni (zone di indirizzo.) precedentemente memorizzati, per approntare il segnale di misura u2(t) linearizzato e da determinare rapidamente.
Nel calcolo preliminare del contenuto della memoria dati 12, per l'ottenimento di un'elevata precisione è necessario che innanzitutto uno (o più) valori di misura vengano considerati per tener conto innanzitutto dell'offset. Allora la pendenza può venire calcolata dai diversi valori di misura, con cui si è tenuto conto insieme di pendenze e offset. Possono venire impiegate anche più misure o procedimenti di interazione, per "interpolare" una curva caratteristica il più possibile precisa nella memoria 12 , prima che la macchina inizi il suo funzionamento vero e proprio. Prima del funzionamento della macchina, esistono una capacità di calcolo e un tempo di calcolo quasi illimitati, cosicché il procedimento di misura da questo punto di vista non è sottoposto ad alcuna limitazione.
La variazione dei dati memorizzati nella memoria dati 12, che può essere o una memoria esterna o una zona di memoria nel sistema, avviene soltanto molto raramente, per esempio in caso di nuovo montaggio di un nuovo sistema palpatore o in caso si presupponga che nella misura di percorso è contenuto un errore di software o di hardware, un sistema di misura di percorso, (il trasduttore 1, 2 con il suo cilindro palpatore lb esemplificativo) una volta montato s i trova nuovamente individuaiizzato con gli elementi 2a, 2b, 9 associati e convertitore A/D il nella funzione (dei "reciproci" ) nella memoria 12. Soltanto un nuovo montaggio di un trasduttore di misura richiede una nuova regolazione di questa funzione, che viene determinata prima della messa in funzione della macchina con il nuovo sistemi di misura del percorso nel modo descritto.
Claims (16)
- RIVENDICAZIONI 1. Procedimento per la misura veloce dello spessore (d) o della massa di un nastro di fibre (20) in una macchina lavorante un nastro di fibre, come uno stiratoio o una carda, in cui (a) il segnale di misura primario (u1, 1) del trasduttore di misura (1; la, lb; 2, 2a, 2b) prima della trasmissione come segnale di misura (u2, u21) viene condotto attraverso un influenzamento di segnale (10; 11, 12, 14) che modifica il segnale primario a sezioni o per punti; (b) viene predeterminata la variazione di una curva caratteristica memorizzata precedentemente a sezioni o per punti, la quale si basa Su una relazione (Kl) misurata per punti fra spessori (20, d) predeterminati definiti sul trasduttore di misura (1, 2) e un segnale di misura primario (u1, u1') misurato.
- 2. Procedimento secondo la riv. 1, in cui il segnale primario (u1, Uj') viene alimentato come valore di indirizzo (Al) digitale ad un modulo di memoria (12) o una zona di memoria gestita da programma, che alla sua uscita dati emette il segnale di misura (u2, u2') come segnale digitale (Di).
- 3. Procedimento secondo la riv. 2, in cui il modulo di memoria (12) è una RAM o una ROM.
- 4. Procedimento secondo una delle riv. menzionate, in cui le parole di dati memorizzate in un circuito di influenzamento di segnale (10), in particolare nel modulo di memoria (12), emettono un segnale di misura (u2, u2') lineare discreto nel tempo, quando 10 spessore del nastro di fibre (20, d) nel trasduttore di misura (1, 2) varia linearmente (M) anche se il segnale di misura primario (u1, u1 ) varia non linearmente (Kl).
- 5. Procedimento secondo una delle riv. menzionate, in cui (a) un circuito di influenzamento di segnale (10;11,12,14), in particolare il modulo di memoria (12) contiene parole di dati o una curva caratteristica (K) memorizzata per punti, che provocano una variazione di offset e/o di pendenza del segnale primario (u1, u1'); oppure (b) è previsto un influenzamento di segnale (10;11,12,14), che è formato a programma, per modificare a sezioni o per punti 11 segnale primario, che lo attraversa.
- 6. Procedimento secondo una delle riv. menzionate, in cui la curva caratteristica (K) memorizzata o le parole di dati di più valori di sostegno, in particolare quattro o più, vengono determinate e memorizzate prima delle misure in esercizio del trasduttore di misura (1, 2) in una fase di adattamento e di compensazione precedente il funzionamento.
- 7. Procedimento secondo la riv. 6, in cui la fase di adattamento e di compensazione viene iniziata nuovamente soltanto in caso di cambio o di nuovo montaggio di almeno una parte del trasduttore di misura (1, 2) o in caso di dubbi di errore nel trasduttore di misura o nel segnale di misura.
- 8. Procedimento secondo una delle riv. menzionate, in cui il trasduttore di misura (1) presenta un organo palpatore di distanza variabile, in particolare un cilindro (lb) o un dito palpatore orientabile.
- 9. Dispositivo di misura per l'esecuzione del procedimento secondo una delle riv. menzionate, in cui è previsto un sensore di misura (1,2;la,lb, 2a,2b) che alimenta il suo segnale di misura (u^') ad un circuito (9, 10), il quale modifica il segnale di misura con una funzione memorizzata o parole di dati in modo tale che in caso di deflessione lineare del sensore di misura (lb) il segnale di uscita del circuito (9, 10) sia lineare, ove rispettivamente la funzione e le parole di dati, che sono memorizzate nel circuito, si basano su più stadi di apprendimento precedenti il funzionamento.
- 10. Dispositivo di misura secondo la riv. 9, in cui la funzione memorizzata o le parole di dati memorizzate nel circuito (9, 10) sono il reciproco della funzione (Kl) non lineare, che il sensore di misura (1, 2) emette come segnale di misura (u^1) non depurato per la sua deflessione lineare.
- 11. Dispositivo di misura secondo la riv. 9 o 10, in cui il reciproco della funzione (Kl) non lineare del sensore di misura (1, 2) è determinato da solo in modo tale che esso insieme alla funzione (Kl) non lineare dia come risultato una funzione di trasferimento (M) lineare del trasduttore di misura e del circuito (1, 2, 9, 10).
- 12. Procedimento per l'influenzamento di valori di misura di una misura di spessore o di percorso (d) in una macchina di filatura, come carda o stiratoio, in cui la variazione dei valori di misura (u^, u^') viene calcolata in precedenza per un determinato trasduttore (1, 2) e viene memorizzata in un circuito (10) che durante il funzionamento modifica soltanto i valori di misura, ma che non li mette alla base di calcoli.
- 13. Procedimento secondo la riv. 12, in cui l'influenzamento durante il funzionamento del dispositivo di misura è la lettura di parole di dati (DI) da una memoria (12) che presenta valori fissi, i cui valori digitali di ingresso (Al) corrispondono ai valori di misura (u-1 ') effettivi.
- 14. Procedimento secondo la riv. 13, in cui in una fase di compensazione prima della fase di funzionamento ("fase precedente il funzionamento") con l'aiuto di più valori di misura noti (di, d2, d3, d4) per lo spessore (d, 20) da misurare nella fase di funzionamento, vengono eseguiti calcoli, che fissano preliminarmente a quali variazioni deve venire sottoposto il segnale di misura (u1) effettivo nella fase di funzionamento, per ottenere una funzione di trasferimento (M) lineare fra spessore (d) effettivo e segnale di misura (u2, u2') modificato.
- 15. Procedimento secondo una delle riv. da 12 a 14, in cui il circuito (10) contiene almeno un processore, una zona di memoria e un comando di svolgimento, in particolare comandato a interruzione, come un sottoprogramma o un segmento di programma.
- 16. Procedimento secondo una delle riv. da 12 a 15, in cui la variazione dei calori di misura durante il funzionamento avviene mediante lettura discreta nel tempo di una zona di memoria dati (12).
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