FR3073626A1

FR3073626A1 - Procede et dispositif de test de circuit electronique

Info

Publication number: FR3073626A1
Application number: FR1760591A
Authority: FR
Inventors: Yann BACHER; Nicolas Froidevaux
Original assignee: STMicroelectronics Rousset SAS
Current assignee: STMicroelectronics Rousset SAS
Priority date: 2017-11-10
Filing date: 2017-11-10
Publication date: 2019-05-17
Also published as: US10502777B2; US20190146029A1

Abstract

L'invention concerne un procédé de test d'un premier circuit, comprenant : a) appliquer un premier signal (203) entre deux bornes (110A, 110B) du premier circuit (100), le premier circuit étant hors tension d'alimentation ; et b) vérifier que des ondes radiofréquences (209) émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.

Description

La présente demande concerne le domaine des circuits électroniques, et en particulier un procédé et un dispositif de test d'un circuit électronique.

Exposé de l'art antérieur

Après avoir fabriqué un circuit électronique tel qu'un circuit intégré, on procède généralement à des tests destinés à vérifier que le circuit est apte à fonctionner, en particulier que ses connexions internes sont correctes.

Cependant, lorsque le circuit comporte des connexions internes difficilement accessibles depuis l'extérieur du circuit, le test de ces connexions pose divers problèmes de mise en oeuvre et de fiabilité. Ces problèmes pourraient conduire à de fausses validations ou à de faux rejets.

Résumé

Un mode de réalisation prévoit de pallier tout ou partie des inconvénients des procédés de test usuels.

Ainsi, un mode de réalisation prévoit un procédé de test d'un premier circuit, comprenant : a) appliquer un premier signal entre deux bornes du premier circuit, le premier circuit étant hors tension d'alimentation ; et b) vérifier que des ondes

B16475 - 16-RO-0605 radiofréquences émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.

Selon un mode de réalisation, seul le premier signal est appliqué au premier circuit.

Selon un mode de réalisation, le premier signal varie dans le temps.

Selon un mode de réalisation, les deux bornes sont des bornes d'application d'une tension continue ou d'une tension d'alimentation.

Selon un mode de réalisation, le un circuit intégré comportant une puce dans

Selon un mode de réalisation, premier circuit est un boîtier.

le premier signal comprend au moins un front.

mode de réalisation, l'étape 1'étape

d) déduire circuit à

Selon un simultanément radiofréquences radiofréquence résultat du test en vérifiant f

du

c) une signature

e) déterminer le une signature de référence.

Selon un mode de réalisation, le premier signal chacune présente une ou plusieurs premières fréquences pour desquelles : la signature radiofréquence comprend une valeur et la signature de référence comprend et l'étape e) comprend la comparaison à valeur absolue entre la première valeur valeur ;

écart en une première deuxième un seuil d'un et la deuxième valeur.

Selon un mode de réalisation, pour chacune de la ou des premières fréquences, la première valeur est représentative d'une intensité obtenue à l'étape b) par un filtrage passe-bande centré sur la première fréquence.

Selon un mode de réalisation, le premier signal a une fréquence variable en fonction du temps, et, pour chaque première fréquence, la première valeur est représentative d'une intensité du deuxième signal à un instant où la fréquence du premier signal est la première fréquence.

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Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, avant l'étape e) : f) appliquer à deux bornes d'un deuxième circuit, un deuxième signal présentant la ou les premières fréquences ; g) simultanément à l'étape f), capter des ondes radiofréquences émises par le deuxième circuit ; et h) déduire de l'étape g) les deuxièmes valeurs.

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, avant l'étape e) : i) appliquer à un troisième circuit un troisième signal présentant une fréquence balayant une plage de fréquences ; j) simultanément à l'étape i) , capter des ondes radiofréquences émises par le troisième circuit ; et k) choisir les premières fréquences parmi des fréquences correspondant à des maxima d'intensité des ondes captées à l'étape i).

Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif de test adapté à la mise en oeuvre du procédé ci-dessus.

Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend : une source configurée pour fournir le premier signal entre deux bornes de la source ; deux éléments de contact reliés aux deux bornes de la source, configurés pour être en contact électrique avec lesdites deux bornes du premier circuit ; une antenne agencée pour capter lesdites ondes radiofréquences émises par le premier circuit ; et un quatrième circuit relié à l'antenne et configuré pour vérifier que lesdites ondes radiofréquences émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.

Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend un support de circuit intégré comprenant les deux éléments de contact.

Selon un mode de réalisation, le premier signal présente une ou plusieurs premières fréquences, et le quatrième circuit comprend, pour chaque première fréquence, un élément de filtrage passe-bande selon la première fréquence, l'élément de filtrage étant relié à l'antenne.

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Brève description des dessins

Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles :

la figure 1 est une vue schématique en coupe d'un circuit intégré ;

la figure 2 illustre schématiquement un mode de réalisation d'un dispositif de test d'un circuit ;

la figure 3 illustre schématiquement un exemple de circuit de traitement du dispositif de test de la figure 2 ;

la figure 4A illustre schématiquement un exemple de signal mis en oeuvre dans le dispositif de test de la figure 2 ;

les figures 4B et 4C illustrent chacun schématiquement un exemple de réponse en fréquence d'un circuit soumis au signal de la figure 4A ; et les figures 5A à 5C illustrent un mode de sélection de fréquences d'excitation d'un circuit à des fins de test. Description détaillée

De mêmes éléments ont été désignés par de mêmes références dans les différentes figures et, de plus, les diverses figures ne sont pas tracées à l'échelle. Par souci de clarté, seuls les éléments utiles à la compréhension des modes de réalisation décrits ont été représentés et sont détaillés. En particulier, le fonctionnement du circuit testé n'a pas été détaillé, les modes de réalisation décrits étant applicables à tout circuit usuel.

Dans la description qui suit, lorsque l'on fait référence à des qualificatifs de position absolue, tels que les termes avant, arrière, haut, bas, gauche, droite, etc., ou relative, tels que les termes dessus, dessous, supérieur, inférieur, etc., il est fait référence à l'orientation de l'élément concerné dans les figures concernées, étant entendu que, dans la pratique, les dispositifs décrits peuvent être orientés différemment. Sauf précision contraire,

B16475 - 16-RO-0605 les expressions approximativement, sensiblement, de l'ordre de et environ signifient à 10 % près, de préférence à 5 % près.

La figure 1 est une vue schématique en coupe d'un circuit intégré 100. Le circuit intégré 100 comprend typiquement une puce électronique 102 dans un boîtier 104.

La puce 102 est disposée sur un plan conducteur 106 et est connectée, par exemple par des fils soudés, à des broches périphériques 110. L'ensemble est encapsulé par exemple dans de la résine époxy qui constitue le boîtier 104.

La puce 102 comprend, en face supérieure, des plots de connexion 120. Plusieurs plots 120 peuvent être reliés entre eux par des connexions 122. Un ou plusieurs plots 120 peuvent être reliés au plan conducteur 106 par des connexions 124, et/ou aux broches 110 par des connexions 126. On a représenté une seule connexion 122, une seule connexion 124, et une seule connexion 126, mais en pratique le circuit intégré comprend plusieurs connexions 122, 124 ou 126, voire plusieurs dizaines de ces connexions. Chaque connexion 122, 124 ou 126 comprend par exemple un fil conducteur soudé ou brasé à ses deux extrémités

sur les	plots 120, et/ou	sur les i	croches	110	ou	le plan
conducteur 106.
	Les broches 110	constituent	des bornes	du	circuit
intégré	accessibles de l'extérieur du	boîtier	104.	Le	circuit

intégré comprend typiquement, parmi les broches 110, au moins deux bornes d'application d'une tension d'alimentation. A titre d'exemple, la tension d'alimentation est alors appliquée à la puce par l'intermédiaire de deux connexions 126, et est répartie en divers endroits de la puce 102 par l'intermédiaire de connexions 122 et de connexions 124. A titre de variante, une borne du circuit, typiquement une borne reliée au plan conducteur 106, peut être accessible de l'extérieur par la face inférieure du boîtier.

Après fabrication d'un circuit intégré du type du circuit 100, il arrive que certaines des connexions 122, 124 ou

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126 soient défectueuses (par exemple mal soudées, coupées, etc.). Le circuit risque de ne pas pouvoir être utilisable. Selon l'exemple où une connexion 122 est prévue pour répartir la tension d'alimentation dans la puce, si cette connexion est défectueuse, le circuit 100 risque de ne pas avoir le niveau de performances ou de rapidité souhaité.

On prévoit de procéder à un test permettant de détecter la présence éventuelle d'un défaut dans le circuit 100. Plus particulièrement, on prévoit de tester le circuit lorsqu'il n'est pas alimenté. Pour cela, on applique un signal prédéfini variant dans le temps, par exemple un signal radiofréquence, entre deux broches 110 du circuit 100 non destinées à l'application d'un tel signal en utilisation normale. Le signal est de préférence multi-fréquentiel. Ceci provoque l'émission, par le circuit 100, d'ondes électromagnétiques radiofréquences que l'on capte depuis l'extérieur du circuit 100.

Les inventeurs ont constaté que les ondes radiofréquences ainsi émises par le circuit dépendent de la présence ou de l'absence de défaut dans le circuit. Si le circuit présente un défaut tel qu'une connexion interne défectueuse, on prévoit de détecter ce défaut en vérifiant que les ondes captées correspondent à celles que l'on attend d'un circuit sans défaut.

La figure 2 illustre schématiquement un mode de réalisation d'un dispositif de test 200 d'un circuit 100.

Le dispositif de test 200 comprend une source 202 d'un signal 203 variant dans le temps, un élément 204 adapté à recevoir le circuit 100, et une antenne 206.

Dans l'exemple où le circuit 100 est un circuit intégré du type de celui de la figure 1, l'élément 204 peut être un support de circuit intégré. Le support 204 a deux bornes 204A et 204B reliées électriquement aux bornes de la source 202 par des conducteurs 207A et 207B. Lorsque le circuit intégré 100 est en place, les bornes 204A et 204B sont en contact électrique avec des broches 110A et 110B du circuit 100. Les broches 110A

B16475 - 16-RO-0605 et 110B sont alors reliées par des conducteurs électriques aux bornes de la source 202.

Un avantage du support de circuit intégré est qu'il permet, pour tester des circuits intégrés 100 successifs, de mettre en place facilement chaque circuit 100 dans une même position prédéfinie par rapport à l'antenne 206 et de le retirer facilement une fois testé.

Le circuit 100 peut être tout circuit électronique dans lequel on souhaite détecter la présence d'un éventuel défaut. L'homme du métier saura concevoir un élément 204 adapté à coopérer avec le circuit à tester, permettant par exemple de mettre le circuit à tester en place dans une position prédéfinie par rapport à l'antenne 206 et de le retirer facilement après le test. En particulier, le rôle des bornes 204A et 204B peut être joué par des éléments configurés pour réaliser des contacts avec des bornes du circuit à tester, tels que des pointes, ces éléments de contact étant reliés aux bornes de la source 202.

Le dispositif de test comprend en outre un circuit de traitement 208 (RF SIGNATURE) relié à l'antenne 206. Le circuit de traitement 208 comprend par exemple une mémoire contenant un programme, et un composant capable d'exécuter le programme, tel qu'un microprocesseur.

A titre d'exemple, l'élément 204 et l'antenne 206 sont disposés sur un circuit imprimé non représenté (PCB Printed Circuit Board). L'antenne peut être une piste du circuit imprimé, par exemple en forme de boucle.

En fonctionnement, le signal 203 fourni par la source 202 est appliqué aux bornes 110A et 110B du circuit 100. De préférence, le signal 203 est de sorte que les valeurs de tension entre les bornes 110A et 110B restent inférieures à la valeur de tension d'alimentation du circuit 100 en utilisation normale, par exemple inférieures à environ 50 %, par exemple à 50 %, voire à environ 20 %, par exemple à 20 %, de la valeur de la tension d'alimentation en utilisation normale. De préférence, le signal 203 est de sorte que les valeurs de tension entre les

B16475 - 16-RO-0605 bornes 110A et 110B restent inférieures à une tension de diode du circuit, par exemple inférieure à environ 0,5 V, par exemple à 0,5 V. Le signal 203 est par exemple de sorte que la valeur maximale de la tension entre les bornes 110A et 110B soit supérieure à environ 50 %, par exemple à 50 %, de la tension d'alimentation. Le signal 203 est par exemple de sorte que la tension entre les bornes 110A et 110B prenne successivement des valeurs positives et négatives, ou par exemple de sorte que la tension entre les bornes 110A et 110B prenne successivement la valeur nulle et des valeurs positives, ou encore par exemple de sorte que la tension entre les bornes 110A et 110B prenne successivement la valeur nulle, des valeurs positives et des valeurs négatives.

On note que les bornes 110A et 110B peuvent être toutes des bornes du circuit 100. De préférence, les bornes 110A et 110B sont des bornes d'application, en utilisation normale en dehors du test, d'une tension continue ou d'une tension d'alimentation. Cependant, dans l'exemple où les bornes 110A et 110B sont des bornes d'application d'une tension d'alimentation en utilisation normale, le signal 203 appliqué aux bornes 110A et 110B ne correspond pas à cette tension d'alimentation. Le signal 203 peut alors correspondre à une tension de valeur par exemple inférieure à environ 50 %, par exemple à 50 %, de préférence inférieure à environ 20 %, par exemple à 20 %, de la valeur de cette tension d'alimentation, ou inférieure à une valeur de tension de diode. Le signal 203 peut en outre présenter des fréquences plus d'environ 100 fois, par exemple plus de 100 fois, de préférence plus d'environ 1000 fois, par exemple plus de 1000 fois supérieures à celles de cette tension d'alimentation.

Le signal 203 joue le rôle d'un signal d'excitation qui provoque l'émission d'ondes radiofréquences 209 par le circuit 100. Ces ondes sont captées par l'antenne 206 et correspondent à un signal 210 aux bornes de l'antenne. A titre d'exemple, le circuit de traitement 208 détermine, à partir du

B16475 - 16-RO-0605 signal 210, une signature radiofréquence du circuit 100. La signature radiofréquence comprend par exemple des éléments du spectre fréquentiel et/ou de la répartition spatiale des ondes radiofréquences émises par le circuit 100. Le circuit de traitement 208 détecte un écart entre la signature radiofréquence du circuit 100 et une signature de référence, par exemple la signature d'un circuit sans défaut. Des exemples d'un circuit de traitement 208, de son fonctionnement et des signatures radiofréquence, sont décrits ci-après en relation avec les figures 3, et 4A à 4C.

La figure 3 illustre schématiquement un exemple de circuit de traitement 208 d'un dispositif du type de celui de la figure 2, relié à l'antenne 206.

Le circuit de traitement 208 comprend par exemple un amplificateur radiofréquence 302 (AMP) relié à l'antenne 206. Le circuit de traitement 208 comprend en outre N filtres passebande 304-i, i prenant les valeurs entre 1 et N, de fréquences centrales respectives f-i (N = 2 dans l'exemple représenté). Bien que l'on ait prévu deux filtres passe-bande dans l'exemple représenté, on peut prévoir un nombre quelconque de filtres passe-bande. Les fréquences du ou des filtres passe-bande sont choisies dans une plage radiofréquence s'étendant par exemple entre environ 1 MHz et environ 10 GHz, par exemple entre 1 MHz et 10 GHz, de préférence entre environ 10 MHz et environ 3 GHz, par exemple entre 10 MHz et 3 GHz. Un exemple d'une manière de sélectionner les fréquences f-i sera décrit par la suite en relation avec les figures 5A et 5B.

Chacun des filtres passe-bande a son entrée reliée à la sortie de l'amplificateur 302. Un circuit 306 (TEST) est relié aux sorties des filtres passe-bande et est configuré pour fournir le résultat du test. Un exemple de fonctionnement du circuit 306 sera décrit par la suite en relation avec la figure 4B.

La figure 4A illustre schématiquement un exemple de signal 203 en fonction du temps, correspondant par exemple à une

B16475 - 16-RO-0605 tension V fournie par la source 202 du dispositif de la figure

2.

Dans cet exemple, le signal d'excitation 203 présente un front montant 402. La durée At du front montant 402 est suffisamment courte pour que l'on retrouve les fréquences f-i du ou des filtres passe-bande 304-i parmi les fréquences du signal 203. La durée At est par exemple inférieure à environ 150 ps. Selon un avantage, la source d'un tel signal est particulièrement simple à réaliser.

A titre de variante, le signal d'excitation 203 peut présenter un front descendant, de durée par exemple inférieure à 150 ps, ou une succession de fronts montants et descendants de durées par exemple inférieures à 150 ps. Par exemple le signal 203 est un signal en créneaux.

La figure 4B illustre schématiquement une réponse en fréquence d'un circuit 100 sans défaut soumis au signal 203 de la figure 4A, obtenue par le circuit de traitement 208 de la figure 3 et correspondant à une signature radiofréquence.

La signature comprend, pour chacune des fréquences f-i, une valeur S-i représentative de l'intensité d'un signal filtré fourni par le filtre passe-bande correspondant. Chacune des valeurs S-i peut être, par exemple, une intensité moyenne ou l'intensité crête du signal filtré, ou, par exemple, une amplitude ou une valeur crête du signal filtré. A titre d'exemple, la bande passante à -3 dB de chaque filtre passebande est compris entre environ 100 kHz et environ 10 MHz, par exemple entre 100 kHz et 10 MHz.

Le circuit 306 vérifie que la signature radiofréquence du circuit 100 corresponde à une signature de référence. La signature de référence correspond à la signature radiofréquence du circuit 100 sans défaut. Les valeurs S-l, ..., S-N correspondent à des valeurs de référence, respectivement ^ref'

..., S N_ref·

A titre d'exemple, pour obtenir la signature de référence, on peut utiliser, dans le dispositif de test de la

B16475 - 16-RQ-0605 figure 2, un circuit 100 que l'on sait être sans défaut, ou circuit de référence, à la place du circuit à tester, et prévoir que le circuit 208 du dispositif de test soit configuré pour fournir la signature de référence.

A titre de variante, la signature de référence peut être obtenue par tout dispositif configuré pour appliquer un signal d'excitation à un circuit de référence et pour fournir la signature du circuit de référence à partir d'ondes radiofréquences captées par une antenne. Le circuit de référence et l'antenne utilisée pour déterminer la signature de référence sont de préférence agencés de la même manière que le circuit 100 à tester et l'antenne utilisée pour tester le circuit 100 à tester. De préférence, lorsque l'on détermine la signature de référence, le signal d'excitation 203 appliqué au circuit 100 lors du test est identique au signal d'excitation appliqué au circuit de référence. De préférence, lorsque l'on détermine la signature de référence, les bornes du circuit de référence auxquelles le signal d'excitation est appliqué correspondent, dans le circuit à tester, aux bornes auxquelles le signal d'excitation 203 est appliqué pendant le test.

La figure 4C illustre schématiquement une réponse en fréquence d'un circuit 100 défectueux soumis au signal 203 de la figure 4A, obtenue par le circuit de traitement de la figure 3. L'une au moins des valeurs S-i diffère de la valeur S-i_ref correspondant.

Pour détecter la présence d'un défaut dans le circuit 100, le circuit 306 détermine, pour chacune des fréquences f-i, l'écart 410 en valeur absolue de la valeur S-i de la signature du circuit 100 à la valeur de référence S-i_ref correspondante. Le circuit 306 compare cet écart 410 à un seuil associé à chacune des fréquences f-i. Un défaut dans le circuit 100 est détecté lorsque l'un au moins de ces écarts 410 est supérieur au seuil associé.

A titre d'exemple, pour définir chaque seuil, on prévoit un ensemble de circuits 100 sans défaut. Pour chacun de

B16475 - 16-RO-0605 ces circuits, on détermine la signature de référence, par exemple de la manière décrite ci-dessus en relation avec la figure 4B. Pour chacune des fréquences f-i, le seuil associé peut alors être déterminé en fonction de l'écart type statistique de la valeur de référence S-i_ref dans les diverses signatures de référence, par exemple le seuil est cet écart type multiplié par une valeur par exemple supérieure à 3. A titre de variante, le seuil peut-être une valeur inférieure, ou égale, à environ 10 % de la valeur de référence S-i_ref associée.

Bien que l'on ait décrit ci-dessus, en relation avec les figures 3, et 4A à 4C, un circuit 208 particulier conçu pour obtenir une signature radiofréquence présentant une valeur pour chacune des fréquences f-i, le circuit 208 peut être conçu pour obtenir une telle signature radiofréquence de toute autre manière adaptée, par exemple en appliquant au circuit 100 un signal d'excitation 203 présentant successivement les fréquences f-i et en déterminant pour chacune des fréquences f-i une valeur représentative de l'intensité des ondes captées par l'antenne à l'instant où le signal radiofréquence 203 a la fréquence considérée.

Les figures 5A à 5C illustrent un exemple d'étapes permettant de sélectionner les fréquences d'excitation f-1, ..., f-N présentées par le signal 203. Ces fréquences correspondent à celles des filtres passe-bande 304-1, ..., 304-N dans l'exemple du circuit 208 de la figure 3.

La figure 5A représente la fréquence f en fonction du temps t d'un signal radiofréquence 500, par exemple un signal sinusoïdal de fréquence variable. A titre d'exemple, la fréquence f balaye une plage de fréquences s'étendant par exemple de 100 MHz à 2 GHz. A titre de variante, la fréquence f peut aussi être décroissante, ou peut présenter toutes variations permettant à la fréquence de prendre successivement les diverses valeurs de la plage de fréquences.

On commence par appliquer le signal radiofréquence 500 à un circuit de référence, par exemple à deux bornes

B16475 - 16-RO-0605 d'application d'une tension d'alimentation du circuit de référence. On capte, par une antenne, des ondes radiofréquences alors émises par le circuit de référence. On mesure l'intensité des ondes captées par l'antenne en fonction du temps, pendant que la fréquence du signal radiofréquence 500 appliqué prend successivement les diverses valeurs de la plage de fréquences. On en déduit ainsi, pour chaque fréquence, l'intensité des ondes captées.

La figure 5B représente un exemple d'intensité des ondes captées, en fonction de la fréquence f du signal radiofréquence 500 appliqué au circuit de référence. L'intensité des ondes captées présente des maxima 502 pour certaines valeurs de la fréquence f.

On sélectionne les fréquences f-i parmi celles qui correspondent aux maxima 502. Dans l'exemple représenté, on sélectionne 4 fréquences f-1, f-2, f-3, f-4.

La figure 5C représente schématiquement une signature de référence obtenue par exemple de la même manière que la signature de la figure 4B, les fréquences des N filtres passebande 304-i étant les fréquences f-i choisies à l'étape de la figure 5C.

Un avantage est que la fréquence et 1 ' intensité des maxima 502 dépendent fortement de la présence ou de l'absence de défauts dans le circuit 100 à tester. Ainsi, du fait que les fréquences f-i sont choisies parmi les fréquences des maxima 502, le test est particulièrement sensible et fiable.

Des modes de réalisation particuliers ont été décrits. Diverses variantes et modifications apparaîtront à l'homme du métier. En particulier, on peut utiliser, à la place du signal de la figure 4A, un signal radiofréquence du type de celui de la figure 5A, de fréquence variable et balayant une plage de fréquences. La signature radiofréquence peut alors être obtenue en déterminant, pour chacune de fréquences f-i de la plage balayée, une valeur représentative de l'intensité des ondes

B16475 - 16-RO-0605 captées par l'antenne à l'instant où le signal radiofréquence a la fréquence considérée.

De plus, l'antenne peut être située dans un plan différent de celui du circuit imprimé, par exemple perpendiculaire au circuit imprimé. On peut en outre prévoir plusieurs antennes ayant des positions et/ou des orientations différentes par rapport au circuit à tester, et déterminer une signature radiofréquence comprenant pour chaque antenne une ou plusieurs valeurs représentatives chacune d'une intensité des ondes captées par l'antenne, par exemple l'intensité moyenne ou une intensité associée à une fréquence prédéfinie. De préférence, l'antenne ou les antennes sont reliées mécaniquement de manière rigide à l'élément 204 coopérant avec le circuit à tester, afin que l'agencement de l'antenne ou des antennes et du circuit testé ne soit pas modifié lors de tests successifs de divers circuits.

On peut utiliser une ou plusieurs antennes et un circuit de référence agencés de toute manière permettant de capter des ondes radiofréquences émises par le circuit de référence et d'en déduire une signature de référence. En outre, la signature de référence peut être obtenue par exemple par simulation numérique.

De plus, on peut appliquer au circuit de référence tout signal permettant de déduire la signature de référence des ondes radiofréquences émises par le circuit de référence, par exemple tout signal ayant le même spectre en fréquences que le signal appliqué au circuit testé.

En outre, on peut adapter les modes de réalisation décrits pour appliquer un ou plusieurs signaux du type du signal 203 à plus de deux bornes, le circuit testé restant non alimenté en cours de test, c'est-à-dire qu'aucun signal appliqué sur d'éventuelles bornes d'alimentation du circuit ne correspond à une tension d'alimentation du circuit.

Enfin, bien que les modes de réalisation de dispositifs décrits ci-dessus soient conçus pour tester un seul

B16475 - 16-RO-0605 dispositif à la fois, on pourra réaliser, à partir des éléments de la présente description, un dispositif configuré pour tester plusieurs circuits simultanément en parallèle, en appliquant simultanément aux divers circuits un signal fourni par exemple 5 par une même source commune, le dispositif comprenant par exemple une antenne ou plusieurs antennes pour chaque circuit à tester.

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Claims

REVENDICATIONS

1.

a) (110A, 110B) hors tension

b)

Procédé de test d'un premier circuit, comprenant : appliquer un premier signal (203) entre deux bornes du premier circuit (100), le premier circuit étant d'alimentation ; et vérifier que des ondes radiofréquences (209) émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.

la revendication 1, dans lequel seul appliqué au premier circuit (100).

la revendication 1 ou 2, dans lequel le premier signal (203) varie dans le temps.

4. Procédé selon l'une quelconque des à 3, dans lequel les deux bornes (110A, 110B) d'application d'une tension continue ou d'alimentation.
2. Procédé selon revendications 1 sont des bornes d'une tension
5. Procédé selon l'une quelconque des à 4, dans lequel le premier circuit (100) est un circuit intégré comportant une puce (102) dans un boîtier (104).

selon l'une quelconque des revendications 1 premier signal (203) comprend au moins un revendications 1
6. Procédé à 5, dans lequel le front.
7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 comprend :

à l'étape a), capter lesdites ondes à 6, dans lequel l'étape b)

c) simultanément radiofréquences (209) ;

déduire de l'étape c) une signature radiofréquence tester ; et déterminer le

d) du circuit à

e) ladite signature correspond
8. Procédé selon résultat du test en vérifiant si à une signature de référence, la revendication 7, dans premier signal (203) présente une ou plusieurs fréquences (f-i) pour chacune desquelles :

la signature radiofréquence comprend une lequel le premières première valeur (S-i) et la signature de référence comprend une deuxième valeur (S-i_ref) ; et

B16475 - 16-RO-0605 l'étape e) comprend la comparaison à un seuil d'un écart en valeur absolue entre la première valeur et la deuxième valeur.
9. Procédé selon la revendication 8, dans lequel, pour chacune de la ou des premières fréquences (f—1, f-2), la première valeur est représentative d'une intensité obtenue à l'étape b) par un filtrage passe-bande (304-1, 304-2) centré sur la première fréquence (f—1, f-2) .
10. Procédé selon la revendication 8 ou 9, dans lequel le premier signal a une fréquence variable en fonction du temps, et, pour chaque première fréquence (f-i), la première valeur (S-i) est représentative d'une intensité du deuxième signal à un instant (t) où la fréquence du premier signal (203) est la première fréquence.
11. Procédé selon la revendication 10, comprenant en outre, avant l'étape e) :

f) appliquer à deux bornes (110A, 110B) d'un deuxième

circuit, un deuxième signal présentant la ou les premières fréquences ( f-i) ; g) simultanément à 1'étape f), capter des ondes radiofréquences émises par le deuxième circuit ; et h) déduire de l'étape g) les deuxièmes valeurs (S i_ref) · 12 . Procédé selon la revendication 10 ou 11, comprenant

en outre, avant l'étape e) :

i) appliquer à un troisième circuit un troisième signal (500) présentant une fréquence balayant une plage de fréquences ; j) simultanément à 1'étape i) , capter des ondes radiofréquences émises par le troisième circuit ; et

k) choisir les premières fréquences (f—1, f-2, f-3, f-4) parmi des fréquences (f) correspondant à des maxima (502) d'intensité des ondes captées à l'étape i).
13. Dispositif de test adapté à la mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12.

B16475 - 16-RQ-0605
14. Dispositif selon la revendication 13, comprenant : une source (202) configurée pour fournir le premier signal (203) entre deux bornes de la source ;

deux éléments de contact (204A, 204B) reliés aux deux bornes de la source, configurés pour être en contact électrique avec lesdites deux bornes (110A, 110B) du premier circuit ;

une antenne (206) agencée pour capter lesdites ondes radiofréquences émises par le premier circuit (100); et un quatrième circuit (208) relié à l'antenne et configuré pour vérifier que lesdites ondes radiofréquences (209) émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.

15. Dispositif selon la revendication 13 ou 14 comprenant un support de circuit intégré (204) comprenant les deux éléments de contact i (204A, 204B). 16. Dispositif selon l'une quelconque des

revendications 13 à 15, dans lequel le premier signal (203) présente une ou plusieurs premières fréquences (f—i), et le quatrième circuit comprend, pour chaque première fréquence, un élément de filtrage passe-bande (304—i) selon la première fréquence, l'élément de filtrage étant relié à l'antenne (208).