WO1999013348A1 - Procede et dispositif pour determiner l'etat de vieillissement d'un condensateur - Google Patents

Procede et dispositif pour determiner l'etat de vieillissement d'un condensateur Download PDF

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WO1999013348A1
WO1999013348A1 PCT/FR1998/001913 FR9801913W WO9913348A1 WO 1999013348 A1 WO1999013348 A1 WO 1999013348A1 FR 9801913 W FR9801913 W FR 9801913W WO 9913348 A1 WO9913348 A1 WO 9913348A1
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capacitor
temperature
ripple
test
end signals
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PCT/FR1998/001913
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Inventor
Pascal Venet
Guy Grellet
Amine Lahyani
Original Assignee
Universite Claude Bernard Lyon I
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/64—Testing of capacitors

Definitions

  • the present invention relates to the technical field of testing capacitors in a general sense, making it possible to determine the state of their operation or to predict their failure.
  • the object of the invention finds an application in the field of testing capacitors to determine their aging state.
  • the present invention relates, more particularly, to a technique adapted to predict the failure over time, of the capacitor or capacitors equipping electronic systems, so as to allow the change of the capacitor (s) at an appropriate time chosen so as not to hinder the operation of the electronic systems.
  • Electronic systems are now part of most industrial equipment or materials. Electronic systems are thus installed, for example, in medical, nuclear, military or transport equipment. It is clear that the failure of the electronic systems is likely to involve a real danger as well for the people as for the goods. Similarly, the failure of electronic systems fitted to manufacturing machines inevitably leads to a loss of production.
  • the object of the invention therefore aims to remedy this drawback by proposing a method designed to determine, in a precise manner, the operating state of a capacitor, whatever the operating conditions to which it is subjected.
  • the method aims to detect the aging state of a capacitor intended to be mounted in an electrical circuit having a temperature outside the capacitor and end signals, namely an input voltage and an output current or an input current and an output voltage.
  • the process consists of:
  • Another object of the invention is to provide a method designed to diagnose in advance the moment when a capacitor is considered to no longer properly perform its function for which it is intended.
  • the method consists in taking into account a limit operating coefficient of the capacitor, to allow, using the first reference relationship and the aging law, to predict the moment of failure of the capacitor .
  • Fig. 1 is a general view of an exemplary embodiment of a device for detecting the state of aging of a capacitor.
  • Fig. 2 is a view of curves illustrating the shape of the ripple at the terminals of a capacitor.
  • Fig. 3 is a series of curves illustrating the experimental acquisition phase of the process according to the invention.
  • Fig. 4 is a diagram illustrating the variations of the component of the ripple at the terminals of the capacitor as a function of the outside temperature T e , the output current 1 ⁇ and the input voltage V e .
  • Fig. 5 is a diagram illustrating the variations of the temperature T c of the capacitor box as a function of the outside temperature T e , for given values of the output current, and of the input voltage V e .
  • Fig. 6 is a curve illustrating the variations of the component ⁇ V of of the ripple as a function of the outside temperature T e .
  • Fig. 7 is a curve illustrating the variations in the temperature of the housing T c as a function of the outside temperature T e .
  • Fig. 8 is a curve illustrating the variation of the equivalent resistance series ESR as a function of the temperature T c casing of the capacitor.
  • Fig. 9 is a curve illustrating the variation of the ESR series equivalent resistance as a function of time t.
  • the device 1 is adapted to detect the state of failure or aging of at least one capacitor 2 mounted in an electrical circuit 3 constituted, in a preferred embodiment described below, by a static converter of electrical energy from an input voltage V e to a direct output voltage V s .
  • the power converter 3 is a switching power supply, the forward unidirectional type, the nominal voltage DC input V e is 48 volts, while the DC output voltage V s is 5 Volts.
  • the input voltage V e is conventionally cut using a transistor, the switching operation of which according to a switching frequency f c is controlled by a control circuit.
  • the capacitor (s) 2 are mounted on the output of the converter 3.
  • the filtration capacitor 2 plays the role of a voltage source of value V s and can be of the electrolytic type.
  • the output voltage V s delivered by the converter 3 at the terminals of a load resistor 4 has a continuous value on which is superimposed a periodic ripple ⁇ V 0 .
  • the device 1 comprises means 5 for acquiring and processing the ripple ⁇ V 0 of the voltage across the capacitor or, in the example illustrated, of the output of the converter 3, in order to determine the component ⁇ V of of the undulation of the voltage ⁇ V 0 at the switching frequency f c of the converter.
  • the magnitude ⁇ V of (curve A, fig. 2) is therefore the Fourrier component or the fundamental of the ripple of the voltage across the capacitor at the switching frequency of the converter.
  • these acquisition and processing means 5 are constituted by a bandpass filter centered on the switching frequency of the converter.
  • the output of the bandpass filter is connected to a rectification and amplification circuit making it possible to deliver a signal corresponding to an image of ⁇ V of in DC voltage.
  • Curve B in fig. 2 illustrates the adjusted mean value of the ripple component.
  • the central frequency of the bandpass filter is controlled by the chopping frequency thus allowing the filter to always follow the frequency of the fundamental.
  • the device 1 according to the invention also comprises a sensor 6 for measuring the output current I- of the static converter, and a sensor 7 for measuring the input voltage V e of the static converter 3.
  • the device 1 according to the invention also includes a sensor 8 capable of detecting the outside temperature T e with respect to the capacitor 2.
  • the outside temperature T e can correspond to the ambient temperature, to the temperature of the case of the capacitor or to any other temperature of the converter, for example the electronic card on which the capacitor is mounted.
  • the various sensors 5, 6, 7, 8, 9 are connected to a capture and processing unit 11 communicating by a link 12 with a control and command system 13.
  • the capture and processing unit 11, associated with the command and control system 13, make it possible to implement a method according to the invention for detecting the failure state of the capacitor 2.
  • the method according to the invention comprises a first so-called experimental or reference acquisition phase, aimed at controlling the state of the capacitor 2 considered to be healthy or not faulty.
  • this acquisition phase is carried out as soon as the static converters are manufactured, for example before they leave the site.
  • the capacitors 2 for filtering the output of the converter are identical, so that they have approximately the same housing temperature and the same aging state during operation of the converter. It therefore appears necessary to control a single filter capacitor 2.
  • the input voltage V e , the output current L ,, of the external temperature T e and the ripple ⁇ V 0 of the output voltage are measured. a variation over time and within a given range, of the outside temperature T e , of the output current L ⁇ and of the input voltage V e .
  • a three-dimensional matrix is thus obtained for ⁇ V of which is stored in memory to serve as an initial reference frame of measurements.
  • Fig. 4 shows an example of a matrix ⁇ V of as a function of L, and V e for different outside temperatures T e .
  • This measurement reference system returns to the determination of a reference relationship giving the variation of the temperature of the housing T c as a function of the outside temperature T e for given values of the output current and the input voltage V e .
  • Fig. 5 shows an example of an initial reference frame for measuring the housing temperature T c as a function of the output current I,.
  • FIGs. 4 and 5 show the matrices ⁇ V o and T c as a function of I g and V e , for four external temperatures T e , namely 40 ° C, 20 ° C, 0 ° C and -10 ° C.
  • the first and the second reference relationships are recorded for example in memory, for later use, as will be shown in the following description of the method according to the invention.
  • the method according to the invention also aims to acquire, after definition, an aging law of the capacitor used, giving the variation of the equivalent resistance series ESR of the capacitor as a function of time t, for given values of the housing temperature T c .
  • Fig. 9 illustrates an example of a capacitor aging law which describes the variation of the equivalent ESR series resistance of the capacitor as a function of time. This experimental law which is known, makes it possible to note that an increase in the value of the equivalent resistance series ESR indicates an aging or a degradation of the capacitor.
  • the method according to the invention aims to carry out a phase of testing or checking the state of the capacitor during its operation or after a determined operating time.
  • this test or control operation can be carried out continuously during the operation of the static converter or punctually at determined times.
  • the method consists in deducing, using the first reference relation and the aging law, the state of failure of the capacitor.
  • the operating point P measured at the instant t with coordinates ⁇ V 0 and T g is outside the reference curve.
  • the method consists in determining the theoretical value of the outside temperature T g corresponding to the value of the outside temperature T e , if the capacitor was healthy for the value of the ripple ⁇ V 0 .
  • the initial value ⁇ V of ° of the ripple component corresponding to a non-faulty or healthy capacitor is determined at the outside temperature ⁇ £ measured at time t.
  • the process consists in determining for the ripple limit value ⁇ V of 'of the ripple, the limit outside temperature T ⁇ corresponding to the outside temperature, if the capacitor was healthy for the value of the limit ripple ⁇ 0f .
  • the outside temperature T e is different from the temperature T c of the housing, provision is made to use the second reference relation acquired during the experimental phase. As illustrated in fig. 7, this second relationship giving the variation of the case temperature T c ⁇ ia based on outside temperature T e for given values of the output current I s and the input voltage V e.
  • the process then consists in determining, using the capacitor aging law, the values of the equivalent resistance series ESR as a function of the various values found.
  • the aging law gives the variation of the equivalent resistance series ESR, as a function of the temperature T c of the capacitor box.
  • the method according to the invention thus makes it possible to determine the state of failure or, better still, to predict the moment when the capacitor would be out of order, taking into account the operating conditions to which it is subjected.
  • the process is implemented by means of software adapted to provide the various treatments and steps described above.
  • the capacitor (s) 2 to be checked are mounted at the output of the converter 3.
  • the object of the invention can be implemented to detect the failure state of one or more capacitors placed at the input of a converter.
  • the ripple ⁇ V 0 taken into account across the capacitor is the ripple of the input voltage.
  • the parameters to be measured in this case are the output voltage V s and the input current I e . It is thus possible to determine a common designation for the different applications, considering that the pair of values input voltage V e - output current L, and input current I e - output voltage V s are signals called d 'ends.
  • the device 1 comprises means of measurement, acquisition and processing for end signals, namely either an input voltage V e and an output current V s , or a current d input I e and an output voltage V s .
  • the capacitor to be controlled equips a static converter of electrical energy. It is clear that the subject of the invention applies to the control of the state of failure of a capacitor mounted inside all types of electrical circuits 3. In the same direction, it can be envisaged to test a capacitor by mounting it in an electrical control circuit 3 adapted to determine its aging state.
  • the invention is not limited to the examples described and shown, since various modifications can be made thereto without departing from its scope.

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Abstract

L'objet de l'invention concerne un procédé pour détecter l'état de vieillissement d'un condensateur (2), consistant: dans une phase d'acquisition expérimentale: à déterminer une loi de vieillissement du condensateur, à mesurer les signaux d'extrémités (Ve, -Is, Ie, -Vs), la température extérieure (Te) et l'ondulation (ΔVo) aux bornes du condensateur, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure et des signaux d'extrémités, à définir une première relation de référence donnant la variation de la composante de l'ondulation (ΔVog) en fonction de la température extérieure; dans une phase de test: à mesurer les signaux d'extrémités, la température extérieure et l'ondulation, et à partir de la composante de test de l'ondulation à la température extérieure de test pour les valeurs de test des signaux d'extrémités, à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur.

Description

PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER L'ETAT DE VIEILLISSEMENT D'UN CONDENSATEUR
DOMAINE TECHNIQUE :
La présente invention concerne le domaine technique du test des condensateurs au sens général, permettant de déterminer l'état de leur fonctionnement ou de prévoir leur défaillance.
L'objet de l'invention trouve une application dans le domaine du test des condensateurs pour déterminer leur état de vieillissement.
La présente invention vise, plus particulièrement, une technique adaptée pour prévoir la défaillance dans le temps, du ou des condensateurs équipant des systèmes électroniques, de manière à permettre le changement du ou des condensateurs à un moment opportun choisi pour ne pas entraver le fonctionnement des systèmes électroniques.
TECHNIQUE ANTERIEURE :
Les systèmes électroniques font désormais partie de la plupart des équipements ou matériels industriels. Les systèmes électroniques sont ainsi installés par exemple, dans des équipements médicaux, nucléaires, militaires ou de transport. Il est clair que la défaillance des systèmes électroniques est susceptible d'entraîner un réel danger aussi bien pour les personnes que pour les biens. Dans le même sens, la défaillance des systèmes électroniques équipant les machines de fabrication entraîne inévitablement une perte de production.
Un examen approfondi des défaillances des systèmes électroniques a permis de mettre en évidence que la majeure partie des pannes sont imputables au convertisseur d'énergie électrique alimentant en tension continue les systèmes électroniques. La défaillance des convertisseurs d'énergie conduit, bien évidemment, à une panne des systèmes qu'ils équipent avec les conséquences évoquées ci-dessus. Il a été constaté que la plupart des pannes des convertisseurs statiques d'énergie sont dues à une défaillance des condensateurs électrolytiques de filtrage de la tension de sortie ou de la tension d'entrée.
Pour réduire les conséquences liées à de telles pannes, il a été prévu de mettre en oeuvre des convertisseurs statiques comportant une architecture redondante. Il s'avère qu'une telle technique présente un coût élevé en raison de la redondance des composants et impose une double surveillance en continu pour permettre le remplacement des composants défaillants.
Afin de remédier aux inconvénients de cette technique et en vue de résoudre le problème technique posé, il est connu, notamment, par le document JP 63 128270, de détecter l'ondulation du signal apparaissant aux bornes d'un condensateur et d'analyser la variation de l'ondulation de manière à déceler l'état de défaillance du condensateur, dans la mesure où l'ondulation est modifiée lors de l'apparition d'une altération du fonctionnement du condensateur. Par ailleurs, le brevet US 4216424 décrit une technique de mesure de la résistance équivalente série d'un condensateur pour déceler un vieillissement ou une dégradation du condensateur.
Les différentes techniques décrites dans l'art antérieur ne donnent pas satisfaction en pratique. En effet, il doit être considéré que les techniques proposées pour détecter l'état de défaillance d'un condensateur ne tiennent pas compte des conditions variables de fonctionnement auxquelles le condensateur est soumis. Il s'ensuit une erreur relativement importante sur l'appréciation de l'état de vieillissement du condensateur.
EXPOSE DE L'INVENTION :
L'objet de l'invention vise donc à remédier à cet inconvénient en proposant un procédé conçu pour déterminer, de manière précise, l'état de fonctionnement d'un condensateur, quelles que soient les conditions de fonctionnement auxquelles il est soumis. Conformément à l'invention, le procédé vise à détecter l'état de vieillissement d'un condensateur destiné à être monté dans un circuit électrique présentant une température extérieure au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée et un courant de sortie ou un courant d'entrée et une tension de sortie. Le procédé consiste :
- dans une phase d'acquisition expérimentale : ~ . à déterminer une loi de vieillissement du condensateur donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps, pour des valeurs données de la température extérieure,
. à mesurer les signaux d'extrémités, la température extérieure et l'ondulation aux bornes du condensateur, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée de la température extérieure et des signaux d'extrémités,
. à filtrer l'ondulation, afin de déterminer la composante de l'ondulation aux bornes du condensateur, . à définir une première relation de référence donnant la variation de la composante de l'ondulation en fonction de la température extérieure, pour des valeurs données des signaux d'extrémités,
- dans une phase de test :
. à mesurer les signaux d'extrémités, la température extérieure et l'ondulation aux bornes du condensateur, . à filtrer l'ondulation de test, afin de déterminer la composante de test de l'ondulation,
. et à partir de la composante de test de l'ondulation à la température extérieure de test pour les valeurs de test des signaux d'extrémités, à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur. Un autre objet de l'invention vise à offrir un procédé conçu pour diagnostiquer à l'avance le moment où un condensateur est considéré comme n'assurant plus correctement sa fonction à laquelle il est destiné.
Conformément à l'invention, le procédé consiste à tenir compte d'un coefficient de fonctionnement limite du condensateur, pour permettre, à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, de prédire le moment de défaillance du condensateur. Diverses autres caractéristiques ressortent de la description faite ci- dessous en référence aux dessins annexés qui montrent, à titre d'exemples non limitatifs, des formes de réalisation et de mise en oeuvre de l'objet de l'invention.
BREVE DESCRIPTION DES DESSINS :
La fig. 1 est une vue générale d'un exemple de réalisation d'un dispositif permettant de détecter l'état d'un vieillissement d'un condensateur.
La fig. 2 est une vue de courbes illustrant la forme de l'ondulation aux bornes d'un condensateur.
La fig. 3 est une série de courbes illustrant la phase d'acquisition expérimentale du procédé conforme à l'invention.
La fig. 4 est un schéma illustrant les variations de la composante de l'ondulation aux bornes du condensateur en fonction de la température extérieure Te, du courant de sortie 1^ et de la tension d'entrée Ve.
La fig. 5 est un schéma illustrant les variations de la température Tc du boîtier du condensateur en fonction de la température extérieure Te, pour des valeurs données du courant de sortie , et de la tension d'entrée Ve.
La fig. 6 est une courbe illustrant les variations de la composante ΔVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Te.
La fig. 7 est une courbe illustrant les variations de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Te.
La fig. 8 est une courbe illustrant la variation de la résistance équivalente série ESR en fonction de la température Tc boîtier du condensateur. La fig.9 est une courbe illustrant la variation de la résistance équivalence série ESR en fonction du temps t.
MEILLEURE MANIERE DE REALISER L'INVENTION :
Tel que cela ressort de la fig. 1, le dispositif 1 selon l'invention est adapté pour détecter l'état de défaillance ou de vieillissement d'au moins un condensateur 2 monté dans un circuit électrique 3 constitué, dans un exemple préféré de réalisation décrit ci-après, par un convertisseur statique d'énergie électrique d'une tension d'entrée Ve en une tension de sortie continue Vs. Par exemple, le convertisseur d'énergie 3 est une alimentation à découpage, du type Forwàrd' unidirectionnel dont la tension d'entrée continue nominale Ve est de 48 Volts, tandis que la tension de sortie continue Vs est de 5 Volts. La tension d'entrée Ve est découpée classiquement à l'aide d'un transistor dont le fonctionnement en commutation selon une fréquence de découpage fc est piloté par un circuit de commande. Dans l'exemple illustré, le ou les condensateurs 2 sont montés sur la sortie du convertisseur 3. Ainsi, le condensateur de filtration 2 joue le rôle d'une source de tension de valeur Vs et peut être du type électrolytique. La tension de sortie Vs délivrée par le convertisseur 3 aux bornes d'une résistance de charge 4 présente une valeur continue à laquelle est superposée une ondulation périodique ΔV0.
Conformément à l'invention, le dispositif 1 comprend des moyens 5 d'acquisition et de traitement de l'ondulation ΔV0 de la tension aux bornes du condensateur ou, dans l'exemple illustré, de sortie du convertisseur 3, afin de déterminer la composante ΔVof de l'ondulation de la tension ΔV0 à la fréquence de découpage fc du convertisseur. La grandeur ΔVof (courbe A, fig. 2) est donc la composante de Fourrier ou le fondamental de l'ondulation de la tension aux bornes du condensateur à la fréquence de découpage du convertisseur. Selon une caractéristique de réalisation, ces moyens 5 d'acquisition et de traitement sont constitués par un filtre passe-bande centré sur la fréquence de découpage du convertisseur. La sortie du filtre passe-bande est reliée à un circuit de redressement et d'amplification permettant de délivrer un signal correspondant à une image de ΔVof en tension continue. La courbe B de la fig. 2 illustre la valeur moyenne redressée de la composante de l'ondulation. Dans le cas où la fréquence de découpage fc du convertisseur est variable, la fréquence centrale du filtre passe-bande est asservie à la fréquence de découpage permettant ainsi au filtre de toujours suivre la fréquence du fondamental. Le dispositif 1 selon l'invention comporte également un capteur 6 de mesure du courant de sortie I- du convertisseur statique, et un capteur de mesure 7 de la tension d'entrée Ve du convertisseur statique 3. Le dispositif 1 selon l'invention comporte également un capteur 8 apte à détecter la température Te extérieure par rapport au condensateur 2. La température extérieure Te peut correspondre à la température ambiante, à la température du boîtier du condensateur ou à toute autre température du convertisseur, par exemple, de la carte électronique sur laquelle est monté le condensateur.
Dans le cas où la température Tc du boîtier du condensateur 2 est différente de la température extérieure du condensateur, il est prévu de mettre en oeuvre un capteur 9 de mesure de la température Tc du boîtier du condensateur.
Les différents capteurs 5, 6, 7, 8, 9 sont reliés à une unité de captation et de traitement 11 communiquant par une liaison 12 avec un système de contrôle et de commande 13. L'unité de captation et de traitement 11, associée au système de commande et de contrôle 13, permettent de mettre en oeuvre un procédé conforme à l'invention pour détecter l'état de défaillance du condensateur 2.
Le procédé selon l'invention comprend une première phase d'acquisition dite expérimentale ou de référence, visant à contrôler l'état du condensateur 2 considéré comme sain ou non défaillant. Dans l'exemple illustré, cette phase d'acquisition est effectuée dès la fabrication des convertisseurs statiques, par exemple avant leur sortie du site. Il est à noter que les condensateurs 2 de filtrage de la sortie du convertisseur sont identiques, de sorte qu'ils possèdent approximativement la même température boîtier et le même état de vieillissement durant le fonctionnement du convertisseur. Il apparaît ainsi nécessaire de contrôler un seul condensateur de filtrage 2.
Lors de cette phase d'acquisition, il est procédé à la mesure de la tension d'entrée Ve, du courant de sortie L,, de la température extérieure Te et de l'ondulation ΔV0 de la tension de sortie, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure Te, du courant de sortie L^ et de la tension d'entrée Ve.
Il est à noter que si la température extérieure Te est différente de la température Tc du boîtier du condensateur, il est également prévu de mesurer la température Tc du boîtier.
Il est donc prévu d'acquérir un référentiel initial de mesure pour différents régimes de fonctionnement du convertisseur statique. Ainsi, tel que c " ressort de la fig. 3, il est prévu de faire varier :
- la température extérieure Te dans une gamme donnée, par exemple de -10° à + 40° C en utilisant une étuve à température réglable,
- le courant de sortie Is dans une gamme donnée, par exemple de 0 à 8 A, en utilisant un plan de charge commandable, - la tension d'entrée Ve dans une gamme donnée, par exemple de 18 à 33 Volts, en utilisant une alimentation commandable.
Il peut ainsi être procédé à une série d'acquisitions de mesures à des instants différents tj, par exemple au nombre d'une quinzaine. A chaque instant de mesure, il est mesuré la température Te, le courant de sortie ^, la tension d'entrée Ve, la température boîtier Tc et la composante ΔVof de l'ondulation.
Le procédé consiste, ensuite, à définir un référentiel initial de mesure ou appelé ci-après une première relation de référence, donnant la variation de la composante ΔVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Te, de la tension d'entrée Ve et du courant de sortie Is, soit ΔVof = f (I_, Ve, Te). Cette première relation de référence revient à exprimer la variation de la composante ΔVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Te pour des valeurs données du courant de sortie Ig et de la tension d'entrée Ve, soit ΔVof = f (Te), pour Is et Ve données. Il est ainsi obtenu une matrice tridimensionnelle pour ΔVof qui est stockée en mémoire pour servir de référentiel initial de mesures. La fig. 4 montre un exemple de matrice ΔVof en fonction de L, et Ve pour différentes températures extérieures Te.
Dans le cas où la température Tc du boîtier du condensateur 2 est différente de la température extérieure Te qui est acquise, il est procédé également à l'acquisition d'un deuxième référentiel initial de mesure donnant la variation de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Te, de la tension d'entrée Ve et du courant de sortie Ig, soit Tc = f ( ,, Ve, Te). Ce référentiel de mesure revient à la détermination d'une relation de référence donnant la variation de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Tepour des valeurs données du courant de sortie et de la tension d'entrée Ve. La fig. 5 montre un exemple d'un référentiel initial de mesure de la température de boîtier Tc en fonction du courant de sortie I,. et de la tension d'entrée Ve pour différentes températures extérieures Te. Les fig. 4 et 5 montrent les matrices ΔVo et Tc en fonction de Ig et Ve, pour quatre températures extérieures Te, à savoir 40° C, 20° C, 0° C et -10° C. La première et la deuxième relations de référence sont enregistrées par exemple en mémoire, en vue d'une utilisation ultérieure, comme le montrera la description qui suit du procédé selon l'invention.
Il est à noter que le procédé selon l'invention vise également à acquérir, après définition, une loi de vieillissement du condensateur utilisé, donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps t, pour des valeurs données de la température du boîtier Tc. La fig. 9 illustre un exemple d'une loi de vieillissement du condensateur qui décrit la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps. Cette loi expérimentale qui est connue, permet de constater qu'une augmentation de la valeur de la résistance équivalente série ESR indique un vieillissement ou une dégradation du condensateur.
Le procédé selon l'invention vise à effectuer une phase de test ou de contrôle de l'état du condensateur au cours de son fonctionnement ou après une durée de fonctionnement déterminée. Dans l'exemple illustré, cette opération de test ou de contrôle peut être effectuée en continu pendant le fonctionnement du convertisseur statique ou ponctuellement à des instants déterminés.
Lors de cette phase de test, il est procédé à un instant t, à la mesure de la tension d'entrée V*, du courant de sortie Ij, de la température extérieure T^ et de l'ondulation ΔVQ de la tension de sortie. A partir de l'ondulation ΔVQ de la tension de sortie, il est déterminé la composante ΔV0 de l'ondulation de la tension de sortie, comme expliqué ci-dessus.
Conformément à l'invention, à partir de la composante de l'ondulation de test ΔV,, à la température extérieure de test T*, pour une valeur de tension d'entrée de test V* et une valeur de courant de sortie de test I*, le procédé consiste à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur.
Si pour des valeurs de test de la tension d'entrée V* et du courant de sortie 1^, le point P de coordonnées ΔV0 et T* ne coïncide pas avec ou s'écarte d'un seuil donné de la première relation de référence acquise lors de la phase expérimentale, il peut être déduit que le condensateur de filtrage n'est pas sain ou commence à être usé. La fig. 6 illustre la courbe de référence acquise expérimentalement donnant ΔVof = f (Te) à Ig et Ve données. Dans l'exemple illustré, le point de fonctionnement P mesuré à l'instant t de coordonnées ΔV0 et Tg se trouve en dehors de la courbe de référence. Le procédé consiste à déterminer la valeur théorique de la température extérieure Tg correspondant à la valeur de la température extérieure Te, si le condensateur était sain pour la valeur de l'ondulation ΔV0 . Il est procédé ensuite à la détermination de la valeur initiale ΔVof° de la composante de l'ondulation correspondant à un condensateur non défaillant ou sain à la température extérieure τ£ mesurée à l'instant t.
Par ailleurs, dans le cas où le procédé vise à prédire l'état de défaillance d'un condensateur, il est prévu de définir la limite de fonctionnement correct du convertisseur en fixant un coefficient de fonctionnement F du condensateur. Il est ainsi fixé une valeur limite admissible ΔVof' pour l'ondulation au-delà de laquelle le condensateur est considéré comme défaillant. Le coefficient F est donné par la relation suivante : ΔVof ! = F.ΔVof° .
Le procécé consiste à déterminer pour la valeur limite d'ondulation ΔVof' de l'ondulation, la température extérieure limite T^ correspondant à la température extérieure, si le condensateur était sain pour la valeur de l'ondulation limite Δ 0f . Dans le cas où la température extérieure Te est différente de la température Tc du boîtier, il est prévu d'utiliser la deuxième relation de référence acquise pendant la phase expérimentale. Comme illustré à la fig. 7, cette deuxième relation donne la variation de la température du boîtier Tc en fonction dé~ia température extérieure Te pour des valeurs données du courant de sortie Is et de la tension d'entrée Ve.
Ainsi, à partir des valeurs de température réelle ou de test T*, limite Te l et théorique Ts e, il est prévu de déterminer, à partir de cette deuxième relation de référence, les valeurs de la température Tc du boîtier, respectivement : - T*, c'est-à-dire la valeur réelle de la température boîtier à l'instant t,
- T', c'est-à-dire la température limite du boîtier correspondant à T^,
- Tg, c'est-à-dire la valeur théorique de la température boîtier correspondant à T .
Le procécé consiste ensuite à déterminer, à l'aide de la loi de vieillissement du condensateur, les valeurs de la résistance équivalente série ESR en fonction des diverses valeurs trouvées. Tel que cela apparaît à la fig. 8, la loi de vieillissement donne la variation de la résistance équivalente série ESR, en fonction de la température Tc du boîtier du condensateur. Ainsi, à partir des valeurs de température du boîtier, T*, T* et T', il est déduit, respectivement :
- la valeur ESR0 de la résistance équivalente série considérée pour un condensateur neuf à une température de boîtier T*,
- la valeur réelle ESR1 de la résistance équivalente série à l'instant t, déduite à partir de température du boîtier T*,
- la valeur limite ESR1 de la résistance équivalente série, déduite à partir de la température du boîtier Υc l. II est ensuite utilisé la loi de vieillissement donnant les variations de la résistance équivalente série ESR en fonction du temps t (en heures), pour une température T correspondant à la valeur réelle T' (fig. 9). Ainsi, à partir de cette loi de variation et des valeurs limites ESR1 et réelle ESR1 de la résistance équivalente série, il est obtenu des temps limites t, et réel t, permettant par différence, d'en déduire le temps restant t, avant que le condensateur soit considéré défaillant ou en panne pour un régime de fonctionnement donné.
Le procédé selon l'invention permet ainsi de déterminer l'état de défaillance ou, mieux encore, de prévoir le moment où le condensateur serait -en panne, en tenant compte des conditions de fonctionnement auxquelles il est soumis. Le procécé est mis en oeuvre par l'intermédiaire d'un logiciel adapté pour assurer les différents traitements et étapes décrits ci-dessus.
Dans l'exemple de réalisation décrit ci-dessus, le ou les condensateurs 2 à contrôler sont montés en sortie du convertisseur 3. Bien entendu, l'objet de l'invention peut être mis en oeuvre pour détecter l'état de défaillance d'un ou des condensateurs placés en entrée d'un convertisseur. Selon cet exemple d'application, l'ondulation ΔV0 prise en compte aux bornes du condensateur, est l'ondulation de la tension d'entrée. Les paramètres à mesurer dans ce cas, sont la tension de sortie Vs et le courant d'entrée Ie. Il peut ainsi être déterminé une appellation commune pour les différentes applications, en considérant que le couple de valeurs tension d'entrée Ve - courant de sortie L, et courant d'entrée Ie - tension de sortie Vs sont des signaux dits d'extrémités. Ainsi, le dispositif 1 selon l'invention comporte des moyens de mesure, d'acquisition et de traitement pour des signaux d'extrémités, à savoir soit une tension d'entrée Ve et un courant de sortie Vs, soit un courant d'entrée Ie et une tension de sortie Vs.
POSSIBILITE D'APPLICATION INDUSTRIELLE :
Par ailleurs, dans l'exemple préféré décrit ci-dessus, le condensateur à contrôler équipe un convertisseur statique d'énergie électrique. Il est clair que l'objet de l'invention s'applique au contrôle de l'état de défaillance d'un condensateur monté à l'intérieur de tous types de circuits électriques 3. Dans le même sens, il peut être envisagé de tester un condensateur en le montant dans un circuit électrique de contôle 3 adapté pour déterminer son état de vieillissement. L'invention n'est pas limitée aux exemples décrits et représentés, car diverses modifications peuvent y être apportées sans sortir de son cadre.

Claims

REVENDICATIONS :
1 - Procédé pour détecter l'état de vieillissement d'un condensateur (2) destiné à être monté dans un circuit électrique (3) présentant une température (Te) extérieure au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée g) et urf courant de sortie (Ig) ou un courant d'entrée (Ie) et une tension de sortie (Vg), caractérisé en ce qu'il consiste :
- dans une phase d'acquisition expérimentale :
. à déterminer une loi de vieillissement du condensateur donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps, pour des valeurs données de la température extérieure (Te),
. à mesurer les signaux d'extrémités (Vg-Ig, Ie-Vg), la température extérieure (Te) et l'ondulation (ΔV0) aux bornes du condensateur, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure (Te) et des signaux d'extrémités (Ve-Ig, Ie-Vg), . à filtrer l'ondulation (ΔV0), afin de déterminer la composante (ΔVof) de l'ondulation aux bornes du condensateur, . à définir une première relation de référence donnant la variation de la composante (ΔVof) de l'ondulation en fonction de la température extérieure (Te), pour des valeurs données des signaux d'extrémités (Ve-Ig, Ie- Vg),
- dans une phase de test :
. à mesurer les signaux d'extrémités (Vg-lJ, l - ^) , la température extérieure
(T^) et l'ondulation (ΔV0 l) aux bornes du condensateur, . à filtrer l'ondulation de test (ΔV0 l) , afin de déterminer la composante de test (ΔV0 ) de l'ondulation,
. et à partir de la composante de test de l'ondulation à la température extérieure de test (T ) pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (V*- l , Ig-V^), à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur. 2 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à tenir compte d'un coefficient (F) de fonctionnement limite du condensateur, pour permettre, à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, de prédire le moment de défaillance du condensateur.
3 - Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il consiste pou déterminer la défaillance du condensateur :
- à comparer pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (Vg-_ζ,
Figure imgf000015_0001
la valeur (ΔV,, ) de la composante de test de l'ondulation avec la première relation de référence,
- et à déduire une défaillance du condensateur si la valeur de la composante (ΔV,, ) de test de l'ondulation s'écarte d'un seuil donné par rapport à la valeur de la relation de référence.
4 - Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il consiste pour déterminer la défaillance du condensateur :
- à déterminer, à partir des valeurs de test de la composante de l'ondulation (ΔVof l) en fonction de la température extérieure (T*) pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (V*-^, Ig-V^) et avec la première relation de référence :
. la valeur théorique (Tg) de la température extérieure correspondant à un condensateur non défaillant pour la valeur de test de la composante (ΔV0 ) de l'ondulation, . la valeur initiale (ΔVof°) de la composante de l'ondulation correspondant à un condensateur non défaillant pour la valeur de test de la température extérieure (T^), . la valeur limite Δ\0f) de la composante de l'ondulation, à partir du coefficient de fonctionnement limite (F), . la valeur de la température limite (Tg) correspondant à la valeur limite
(ΔV0 ) de la composante de l'ondulation,
- et à déterminer, à partir des valeurs de température limite (Tg), de test (T1) et théorique (T ), et de la loi de vieillissement, les valeurs correspondantes (ESR1, ESR1, ESRS) de la résistance équivalente série, afin d'en déduire le temps restant jusqu'au moment où le condensateur est considéré défaillant.
5 - Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce qu'il consiste, lorsque la température extérieure (Tg) est différente de la température (T.) du boîtier du condensateur : - ~ - ~ - ~ - dans la phase de référence :
. à mesurer également la température (Tç) du boîtier du condensateur, pour la variation dans le temps et dans la plage donnée, de la température extérieure (Te), des signaux d'extrémités (Vg-ζ, Ig-V^),
. à définir une deuxième relation de référence donnant la variation de température du boîtier (Tc) en fonction de la température extérieure (Te), pour des valeurs données des signaux d'extrémités (V -^, Ig-Vg),
- et dans la phase expérimentale :
. à déduire, à partir des valeurs de température extérieure de test (T^), limite (T^) et théorique (T ), et de la deuxième relation de référence, les valeurs correspondantes de température du boîtier (T*, τ , T ),
. et à déterminer, à partir des valeurs de température de boîtier, respectivement limite (Tg), de test (T*) et théorique (T et de la loi de vieillissement, les valeurs correspondantes (ESR1, ESR1, ESRS) de la résistance équivalente série, afin d'en déduire le temps restant jusqu'au moment où le condensateur est considéré défaillant.
6 - Dispositif pour détecter l'état de vieillissement d'un condensateur monté dans un circuit électrique (3) présentant une température extérieure (Te) au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée (Ve) et un courant de sortie (Ig) ou un courant d'entrée (Ie) et une tension de sortie (Vg), caractérisé en ce qu'il comprend :
- des capteurs (6, 7) de mesure des signaux d'extrémités (Ve-Is, Ie-Vg) du circuit (3),
- un capteur (8) de mesure de la température (Te) extérieure du boîtier du condensateur, - des moyens (5) d'acquisition et de traitement de l'ondulation (ΔV0) de la tension aux bornes du condensateur, afin de déterminer la composante (ΔV1^) de l'ondulation aux bornes du condensateur,
- des moyens assurant une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure (Tg) et des signaux d'extrémités (Vg-I^Ig-Vg), - des moyens d'acquisition des mesures de la température extérieure et des signaux d'extrémités, lors d'une phase d'acquisition expérimentale (Te, Ve-Ig, Ie-Vs) ou de test (T1, V -!^, Ij-V*),
- des moyens de traitement adaptés :
. pour établir une première relation de référence donnant, dans une phase d'acquisition expérimentale, la variation de la composante (ΔVof) de l'ondulation en fonction de la température extérieure pour des valeurs données des signaux d'extrémités (Vg-Ig, Ie-Vg),
. pour déterminer l'état de défaillance du condensateur, à l'aide de la première relation de référence et d'une loi de vieillissement du condensateur, et à partir des valeurs de test de la température extérieure (T1) des signaux d'extrémités (Vg-lJ, Ig-V1) et de la composante de test (ΔV1^) de l'ondulation de sortie.
7 - Dispositif selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend :
- un capteur (9) de mesure de la température (Tc, τ ) du boîtier du condensateur, - des moyens d'acquisition des mesures de la température (Tc, τ ) du boîtier, lors des phases expérimentale d'acquisition ou de test,
- des moyens de traitement adaptés :
. pour établir une seconde relation de référence, donnant pour une phase de référence, la variation de la température (Tg) du boîtier en fonction de la température extérieure (Tg), pour des valeurs données des signaux d'extrémités,
. pour déterminer l'état de défaillance du condensateur, à l'aide des première et seconde relations de référence et de la loi de vieillissement, et à partir des valeurs de test (T^) de la température du boîtier, des signaux d'extrémités et de la composante de l'ondulation.
8 - Dispositif selon la revendication 6, caractérisé en ce que les moyens d'acquisition et de traitement de l'ondulation de la tension aux bornes du condensateur comportent, pour un condensateur équipant un circuit électrique (3) constitué par un convertisseur statique d'énergie, un filtre passe-haut suivi d'un filtre passe-bande dont la fréquence centrale est centrée sur la fréquence de découpageilu convertisseur statique, le filtre passe-bande étant relié en sortie à un étage de redressement du signal filtré.
9 - Dispositif selon la revendication 8, caractérisé en ce que le filtre passe- bande possède une fréquence centrale asservie à la fréquence de découpage du convertisseur statique.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005018339A1 (de) * 2005-04-20 2006-10-26 Siemens Ag Anordnung mit einem Kondensatormodul und Verfahren zu dessen Betrieb
CN110287648A (zh) * 2019-07-18 2019-09-27 中南大学 一种薄膜电容器参数测试方法
WO2023121979A3 (fr) * 2021-12-22 2023-08-24 Schneider Electric USA, Inc. Systèmes et procédés d'identification et de gestion d'état de contrainte, d'état de risque ou d'état de vieillissement associé à des condensateurs

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2797345B1 (fr) * 1999-08-04 2002-03-29 Univ Claude Bernard Lyon Procede et dispositif pour determiner individuellement l'etat de vieillissement d'un condensateur
DE102012208036A1 (de) * 2012-05-14 2013-11-14 Robert Bosch Gmbh Elektrische Energieversorgung
EP3109648B1 (fr) * 2015-06-25 2018-05-02 Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. Procédé et système de surveillance en ligne de l'état d'un condensateur électrolytique

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03269269A (ja) * 1990-03-19 1991-11-29 Hitachi Ltd インバータ装置
JPH0678522A (ja) * 1992-08-21 1994-03-18 Fanuc Ltd 電源装置の出力検出装置
JPH07222436A (ja) * 1994-01-26 1995-08-18 Meidensha Corp 平滑用電解コンデンサの寿命検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03269269A (ja) * 1990-03-19 1991-11-29 Hitachi Ltd インバータ装置
JPH0678522A (ja) * 1992-08-21 1994-03-18 Fanuc Ltd 電源装置の出力検出装置
JPH07222436A (ja) * 1994-01-26 1995-08-18 Meidensha Corp 平滑用電解コンデンサの寿命検出装置

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HARADA K ET AL: "Use of ESR for deterioration diagnosis of electrolytic capacitor", IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS, OCT. 1993, USA, vol. 8, no. 4, ISSN 0885-8993, pages 355 - 361, XP002065128 *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 016, no. 080 (P - 1318) 26 February 1992 (1992-02-26) *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 018, no. 332 (E - 1567) 23 June 1994 (1994-06-23) *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 095, no. 011 26 December 1995 (1995-12-26) *
VENET P ET AL: "DETECTION OF FAULTS OF FILTER CAPACITORS IN A CONVERTER APPLICATION TO PREDICTIVE MAINTENANCE", INTERNATIONAL TELECOMMUNICATIONS ENERGY CONFERENCE. (INTELEC), PARIS, SEPT. 27 - 30, 1993, vol. 2, no. CONF. 15, 27 September 1993 (1993-09-27), SOCIETE DES ELECTRICIENS ET DES ELECTRONICIENS, pages 229 - 234, XP000496224 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005018339A1 (de) * 2005-04-20 2006-10-26 Siemens Ag Anordnung mit einem Kondensatormodul und Verfahren zu dessen Betrieb
CN110287648A (zh) * 2019-07-18 2019-09-27 中南大学 一种薄膜电容器参数测试方法
CN110287648B (zh) * 2019-07-18 2022-12-16 中南大学 一种薄膜电容器参数测试方法
WO2023121979A3 (fr) * 2021-12-22 2023-08-24 Schneider Electric USA, Inc. Systèmes et procédés d'identification et de gestion d'état de contrainte, d'état de risque ou d'état de vieillissement associé à des condensateurs

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