FR2796724A1 - Procede de diagnostic pour detecter tout contact deffectueux eventuel du a un faible court-circuit d'un fil conducteur - Google Patents
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Abstract
La présente invention est un procédé de diagnostic pour détecter tout contact défectueux dû à un faible court-circuit instantané survenant dans un fil conducteur suite à un choc extérieur quelconque.Les fils de sortie d'un dispositif de mesure quelconque sont fixés aux deux extrémités du fil conducteur, un courant électrique est appliqué audit fil conducteur, et une vibration extérieure est appliquée (étape 50) audit fil conducteur, la différence de tension entre lesdits fils de sortie est mesurée (étape 60) et comparée (étape 70) avec une valeur de référence préalablement mesurée (étape 20) et enregistrée (étape 40).Un écart significatif entre les deux valeurs témoigne d'un contact défectueux dû à un faible court-circuit causé par la vibration.
Description
PROCEDE DE DIAGNOSTIC POUR DETECTER TOUT CONTACT DEFECTUEUX EVENTUEL DÛ A UN FAIBLE COURT-CIRCUIT D'UN FIL CONDUCTEUR La présente invention vise un procédé pour détecter tout contact défectueux dû à un faible court-circuit d'un fil conducteur. En particulier, la présente invention vise un procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux dû à un faible court-circuit instantané, qui fait que le fil conducteur, qui est connecté électriquement, devient instantanément court-circuité suite à un choc extérieur quelconque tel qu'une vibration, etc., ou lorsque le temps pendant lequel le fil conducteur court-circuité est connecté électriquement est inférieur à une milliseconde.
Les progrès de l'électronique et les techniques de mesure permettent de faire fonctionner la presque totalité des produits et systèmes électroniques contemporains par l'intermédiaire de leur commande électronique. La configuration de base d'un tel produit ou système commandé électroniquement comprend une section d'exécution, pour exécuter une certaine fonction, une section de commande, pour commander cette exécution en détectant un quelconque signal électrique de réponse de la section d'exécution, qui correspond à un signal d'entrée spécifique, puis en transmettant à la section d'exécution un signal électrique de commande qui correspond audit signal de réponse, et une section de connexion, pour connecter électriquement la section d'exécution avec la section de commande.
En cas d'incident quelconque au niveau de ce système ou de ces éléments commandés électroniquement, les dispositifs de diagnostic antérieurs examinaient généralement comme suit s'il existait un défaut éventuel dans les sections respectives.
Ces dispositifs antérieurs pouvaient découvrir toute région éventuellement défectueuse en identifiant si la section d'exécution émettait ou non le signal de sortie normal correspondant au signal d'entrée spécifique, si le signal de sortie de la section de commande correspondant au signal d'entrée émis par la section d'exécution possédait une valeur normale, et si la section de connexion présentait ou non un quelconque défaut électrique tel qu'un court-circuit ou une déconnexion.
Avec l'évolution de la technologie de commande électronique, ces dispositifs de diagnostic sont devenus des dispositifs ayant diverses fonctions et diverses formes. Cependant, quel que soit l'avancement technologique de ces dispositifs de diagnostic, il existe encore un élément particulier qui devrait être mesuré et diagnostiqué fondamentalement et très simplement, mais qui ne peut pas être mesuré ni examiné par ces dispositifs de diagnostic antérieurs.
Un élément de base typique qui ne peut pas être mesuré et diagnostiqué par ces dispositifs de diagnostic antérieurs est un quelconque contact défectueux causé par un faible court-circuit qui survient instantanément dans un fil conducteur dans un intervalle de temps extrêmement court.
Il existe de nombreuses causes de tels contacts défectueux instantanés et, pour citer un exemple, si une quelconque fatigue physique a été accumulée dans le fil conducteur suite à une quelconque vibration extérieure continue, il survient un faible court-circuit à l'intérieur de ce fil. Au cas où un tel faible court-circuit survient dans le fil conducteur du fait d'une quelconque vibration extérieure, un contact défectueux instantané a lieu régulièrement ou irrégulièrement. Dès lors, aucun dispositif de diagnostic antérieur ne pourrait mesurer un tel contact défectueux instantané dû audit faible court-circuit, lesdits dispositifs pouvant uniquement identifier si le fil conducteur a ou non été complètement déconnecté.
Par exemple, dans le cas d'un quelconque élément électronique tel qu'un élément utilisé dans une voiture, il est fort possible que la vibration continue provoque à l'intérieur de l'élément le contact défectueux instantané. Cependant, un dispositif de diagnostic antérieur tel qu'un dispositif à balayage indiquait simplement qu'un incident était survenu dans une partie ou une région donnée et, dans de nombreux cas, les résultats d'une vérification de la partie ou de la région en cause indiquaient en fait qu'elle fonctionnait normalement, au contraire des résultats du diagnostic de ce dispositif de diagnostic. Il est presque impossible de mesurer un contact défectueux instantané dû à un tel faible court circuit, même avec un appareil de mesure général. Et l'atelier de réparation automobile ne peut donc pas diagnostiquer le contact défectueux instantané dû à un tel faible court-circuit, bien que les mécaniciens passent un temps considérable à tenter de découvrir la cause exacte d'un tel incident, ce qui aboutit fréquemment à un malentendu entre l'atelier de réparation et le client.
En fait, le contact défectueux instantané dû à un tel faible court-circuit devrait pouvoir être mesuré et diagnostiqué extrêmement simplement. Néanmoins, aucune solution efficace à ce problème n'a été offerte jusqu'ici.
La présente invention vise à proposer un procédé de diagnostic pour détecter un contact défectueux instantané dû à un faible court- circuit à titre de solution au problème de l'art antérieur.
Le procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux instantané selon la présente invention est décrit ci-dessous.
Dans un premier temps, toute région de fonctionnement défectueux est identifiée par un dispositif de diagnostic antérieur, après quoi les fils de sortie d'un dispositif de mesure quelconque sont fixés aux deux extrémités du fil conducteur à examiner, à savoir par exemple le fil électrique à l'intérieur de la région de fonctionnement défectueux ou le fil électrique connecté à la région de fonctionnement défectueux, et ces fils de sortie sont mis en contact électrique. A ce stade, les fils de sortie devraient être fixés de façon à demeurer immobiles afin de réduire toute erreur de mesure.
Ensuite, un courant électrique est appliqué au fil conducteur, après quoi toute différence de tension entre les deux fils de sortie est mesurée.
La différence de tension mesurée est introduite dans un microprocesseur, et le microprocesseur détermine si la différence de tension mesurée est ou non dans une plage d'erreurs spécifique. Si elle est dans la plage d'erreurs spécifique, le microprocesseur établit et enregistre la différence de tension mesurée comme une valeur de référence de mesure. Ensuite, une vibration extérieure quelconque est appliquée au fil conducteur.
S'il existe un quelconque faible court-circuit à l'intérieur du fil conducteur, la vibration provoque un contact défectueux instantané dans le fil conducteur et, à ce moment précis, la différence de tension entre les deux fils de sortie change subitement.
La mesure d'une telle différence de tension causée par le contact défectueux instantané peut être affectée par une quelconque erreur de l'instrument de mesure proprement dit ou par un bruit quelconque au voisinage de la région de mesure, et la variation de cette différence de tension due à l'un des effets susmentionnés ne sera pas considérée comme résultant du contact défectueux dû au faible court-circuit du fil conducteur proprement dit.
Ensuite, la différence de tension entre les deux fils de sortie telle que mesurée après l'application de la vibration extérieure au fil conducteur est introduite dans le microprocesseur, qui la compare avec la valeur de référence de mesure déjà enregistrée. De ce fait, si un écart quelconque entre les deux valeurs demeure dans une quelconque plage spécifique, l'écart constaté est attribué à l'erreur de l'instrument de mesuré proprement dit ou au bruit au voisinage de la région de mesure, et la différence de tension entre les deux fils de sortie est mesurée une deuxième fois. De ce fait, si l'écart se trouve hors de la plage spécifique, la différence de tension mesurée est déterminée comme représentant le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur.
La plage spécifique peut être décidée et introduite par l'utilisateur selon son choix, en fonction du degré de précision de mesure exigé par l'utilisateur.
Si le microprocesseur détermine que la différence de tension mesurée représente le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur, il émet un signal d'erreur particulier vers un dispositif d'affichage séparé pour en informer l'utilisateur.
Le dispositif d'affichage, qui reçoit le signal d'erreur particulier, indique alors à l'utilisateur la survenue de l'erreur sous une forme de signal identifiable.
En particulier, le procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux dû au faible court-circuit du fil conducteur selon la présente invention convient à la détection du contact défectueux instantané dû au faible court-circuit instantané du fil conducteur qui fait que le fil conducteur, qui est électriquement connecté, est instantanément court-circuité par la vibration extérieure, ou à la détection dudit contact défectueux instantané lorsque le temps pendant lequel le fil conducteur court-circuité est connecté électriquement est inférieur à une milliseconde.
De plus, le dispositif d'affichage selon la présente invention affiche toute forme spécifique de signal d'erreur sur le moniteur et il est possible d'afficher le signal d'erreur engendré au sein d'un cycle défini par l'utilisateur soit continuellement, soit de façon fixe, sur le moniteur.
Un autre procédé pour informer l'utilisateur du contact défectueux causé par le faible court-circuit selon la présente invention consiste à en informer l'utilisateur par un signal sonore. Une telle indication sonore de l'erreur peut prendre la forme d'un son dont l'intensité varie en fonction du degré de l'erreur.
Un autre procédé pour informer l'utilisateur du contact défectueux causé par le faible court-circuit selon la présente invention consiste à en informer l'utilisateur par un moyen séparé émettant de la lumière. Un tel affichage de l'erreur par émission de lumière peut prendre la forme d'une lumière émise dont l'intensité varie en fonction du degré de l'erreur.
Comme décrit ci-avant, la présente invention vise à appliquer un signal électrique aux deux extrémités du fil conducteur, entre lesquelles il faut mesurer toute variation éventuelle du signal électrique, puis à mesurer la variation du signal électrique entre ces deux extrémités, et enfin à comparer la valeur mesurée avec la valeur de référence.
Ici, si un quelconque type de signal électrique peut être mesuré et si la valeur mesurée est comparable à une valeur de référence, ce signal peut être utilisé comme signal électrique pour le procédé de diagnostic, le type de signal préféré étant en particulier la valeur de la tension.
La présente invention est décrite ci-après plus en détail, en référence aux figures annexées qui représentent un mode de réalisation de l'invention donné à titre d'exemple non limitatif.
La Figure 1 est un organigramme du procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux instantané selon l'invention.
La Figure 2 est un schéma de principe de la configuration du matériel utilisé pour la détection du contact défectueux instantané selon la présente invention.
Dans un premier temps, le matériel du dispositif de mesure est initialisé (Étape 10).
Ensuite, un courant électrique est appliqué par le dispositif d'alimentation électrique 210 au fil conducteur entre les deux extrémités duquel la différence de tension va être mesurée, puis, la différence de tension entre les deux fils de sortie 200 tels que fixés aux deux extrémités du fil conducteur est mesurée (Étape 20).
La différence de tension mesurée par les moyens de mesure 220 est introduite dans le microprocesseur et le microprocesseur détermine si la différence de tension mesurée est ou non dans une plage spécifique d'erreurs (Étape 30), grâce aux premiers moyens de comparaison 230.
En conséquence de quoi, si la différence demeure dans la plage spécifique d'erreurs, le microprocesseur détermine et enregistre la différence de tension mesurée comme valeur de référence de mesure (Étape 40), grâce aux moyens d'enregistrement 240.
Ensuite, une quelconque vibration extérieure est appliquée au fil conducteur (Étape 50) par les moyens de vibrations 250.
La différence de tension entre les deux fils de sortie est mesurée par les moyens de mesure 220 et la différence de tension mesurée est introduite dans le microprocesseur (Étape 60).
Le microprocesseur compare la différence de tension mesurée entre les deux fils de sortie avec la valeur de référence de mesure précédemment enregistrée (Étape 70), grâce aux deuxièmes moyens de comparaison 260.
En résultat de cette comparaison, si un écart quelconque entre les deux valeurs demeure dans une quelconque plage spécifique ( 3% par exemple), on considère que la différence de tension mesurée avec cet écart est affectée par une erreur de l'instrument de mesure proprement dit ou par un bruit au voisinage de la région de mesure, et la différence de tension entre les deux fils de sortie est à nouveau mesurée (Étape 80). Cette étape est réalisée par les moyens de détermination 270.
En résultat de la comparaison, si la valeur de l'écart est hors de la plage spécifique, on considère que la différence de tension représente le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur (Étape 90). Cette étape est réalisée par les moyens de détermination 270.
Si le microprocesseur détermine que la différence de tension mesurée représente le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur, il émet un signal d'erreur particulier à un dispositif d'affichage 280 séparé pour en informer l'utilisateur (Étape l00).
Le dispositif d'affichage 280, qui reçoit le signal d'erreur particulier, informe l'utilisateur de la survenue de l'erreur sous une forme de signal identifiable (Étape 110).
Le procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux instantané selon la présente invention est applicable à divers domaines de mesure. Par exemple, il est applicable au dispositif à balayage, à l'appareil de mesure antérieur et à l'oscilloscope qui sont des moyens essentiels de diagnostic de l'état d'un véhicule dans un atelier de réparation automobile.
En particulier, il était difficile pour quiconque autre qu'un mécanicien expert d'utiliser le dispositif à balayage antérieur pour diagnostiquer exactement l'état de la voiture, mais, si un quelconque dispositif de diagnostic est utilisé pour mettre en oeuvre le procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux instantané dû au court-circuit instantané du fil conducteur selon l'invention, le propriétaire de la voiture peut diagnostiquer l'état de celle-ci, même chez lui.
Selon la présente invention, le moyen spécifique de résoudre le problème inhérent à la technique antérieure semble être simple au premier abord, pourtant, bien qu'une solution au problème ait fait l'objet de recherches approfondies par l'industrie de la maintenance de véhicules, elle n'a pas à ce jour été présentée. La présente invention fournit exactement la solution que personne n'avait présentée jusqu'alors, ce qui tend à prouver la brevetabilité de la présente invention.
Le procédé de diagnostic pour détecter le contact défectueux instantané selon la présente invention, qui peut être mis en oeuvre par un dispositif à balayage, par un testeur et par un oscilloscope pour diagnostiquer l'état de la voiture, présente l'avantage de permettre à quiconque de diagnostiquer exactement le contact défectueux instantané causé par le faible court-circuit du fil conducteur, facilement et rapidement. Dans le passé, même un mécanicien expert trouvait difficile de diagnostiquer le contact défectueux instantané dû au faible court-circuit du fil conducteur.
Claims (8)
1. Procédé de diagnostic pour détecter un contact défectueux instantané dû à un faible court-circuit d'un fil conducteur, comprenant - une étape de fixation de fils de sortie (200) de moyens de mesure (220) aux deux extrémités du fil conducteur à examiner et de mise en contact électrique de ceux-ci ; - une étape d'application d'un courant électrique au fil conducteur, puis de mesure (20) de la différence de tension entre les deux fils de sortie (200) ; - une étape d'introduction de ladite différence de tension mesurée dans un microprocesseur et de détermination (30) par le microprocesseur si la différence de tension mesurée est ou non dans une plage d'erreurs spécifique ; - en résultat de cette détermination, si la mesure est dans la plage d'erreurs spécifique, une étape au cours de laquelle le microprocesseur établit et enregistre (40) ladite différence de tension mesurée comme une valeur de référence de mesure ; - une étape d'application (50) d'une quelconque vibration extérieure au fil conducteur ; - après l'application de la vibration extérieure au fil conducteur, une étape de mesure (b0) de la différence de tension entre les deux fils de sortie (200) et d'introduction dans le microprocesseur de ladite différence de tension mesurée ; - une étape de comparaison (70), par le microprocesseur, de la différence de tension mesurée entre les deux fils de sortie avec la valeur de référence de mesure déjà enregistrée ; - en résultat de ladite comparaison, si un écart quelconque entre les deux valeurs demeure dans une quelconque plage spécifique, une étape (80) au cours de laquelle la valeur de la différence de tension mesurée avec cet écart est déterminée comme étant affectée par une erreur de l'instrument de mesure proprement dit ou par un bruit au voisinage de la région de mesure, et une deuxième mesure de la différence de tension entre les deux fils de sortie est commandée ; - en résultat de ladite comparaison, si l'écart entre les deux valeurs se trouve hors de la plage spécifique, une étape (90) au cours de laquelle la valeur mesurée est déterminée comme représentant le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur ; - une étape (l00) au cours de laquelle, si le microprocesseur détermine que la différence de tension mesurée représente le contact défectueux causé par le faible court-circuit du fil conducteur, il émet un signal d'erreur particulier vers un dispositif d'affichage (280) séparé pour en informer l'utilisateur ; et - une étape (1l0) au cours de laquelle ledit dispositif d'affichage, qui reçoit le signal d'erreur particulier, indique à l'utilisateur la survenue de l'erreur sous une forme de signal identifiable.
2. Procédé de diagnostic selon la revendication 1, appliqué à un fil conducteur qui, en état de connexion électrique, est instantanément court-circuité par une vibration, ou qui, en état de court-circuit électrique, est connecté électriquement dans un délai de quelques millisecondes.
3. Procédé de diagnostic selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel ladite étape (110) d'information de l'utilisateur quant à la survenue de l'erreur est caractérisée par l'affichage d'une forme particulière de signal d'erreur sur le moniteur.
4. Procédé de diagnostic selon la revendication 3, dans lequel, pendant ledit affichage (110), une forme particulière de signal d'erreur sur le moniteur est affichée de façon fixe au sein d'un cycle défini par l'utilisateur.
5. Procédé de diagnostic selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel ladite étape d'information de l'utilisateur de la survenue de l'erreur est caractérisée par l'indication du signal d'erreur sous forme d'un son.
6. Procédé de diagnostic selon la revendication 5, dans lequel, pendant ladite indication du signal d'erreur sous forme d'un son, l'intensité du son varie en fonction du degré de l'erreur.
7. Procédé de diagnostic selon la revendication 1 ou 2, dans lequel ladite étape (110) d'information de l'utilisateur de la survenue de l'erreur est caractérisée par l'affichage du signal d'erreur par un moyen émettant de la lumière.
8. Procédé de diagnostic selon la revendication 7, dans lequel, pendant ledit affichage du signal d'erreur par un moyen émettant de la lumière, l'intensité varie en fonction du degré de l'erreur.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019990029474A KR100304045B1 (ko) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 전도성 도선상의 미세 단락에 의한 접촉불량 감지 방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2796724A1 true FR2796724A1 (fr) | 2001-01-26 |
Family
ID=19603205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR0009542A Pending FR2796724A1 (fr) | 1999-07-21 | 2000-07-20 | Procede de diagnostic pour detecter tout contact deffectueux eventuel du a un faible court-circuit d'un fil conducteur |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001056354A (fr) |
| KR (1) | KR100304045B1 (fr) |
| CN (1) | CN1281990A (fr) |
| DE (1) | DE10033687A1 (fr) |
| FR (1) | FR2796724A1 (fr) |
| IT (1) | IT1318200B1 (fr) |
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- 2000-07-11 DE DE10033687A patent/DE10033687A1/de not_active Withdrawn
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- 2000-07-19 IT IT2000MI001641A patent/IT1318200B1/it active
- 2000-07-20 FR FR0009542A patent/FR2796724A1/fr active Pending
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