FR2885415A1 - Mesure dynamique de l'impedance de composants hyperfrequences - Google Patents

Abstract

L'invention se rapporte au domaine de la mesure dynamique des caractéristiques relatives à un composant électronique, cette mesure pouvant être réalisée pour un mode de fonctionnement continu (CW) ou impulsionnel.Elle a pour objet un procédé de mesure de l'impédance dynamique d'un composant électronique comportant les étapes suivantes :a) une étape de stimulation du composant durant laquelle un signal CW de durée T est appliqué sur l'entrée du composant, à un instant d'origine t0,b) une étape de mesure, au niveau de l'entrée stimulée, des amplitudes et phases du signal incident et du signal réfléchi sur le composant,c) une étape de calcul de l'impédance instantanée du composant, à partir des amplitudes et phases des signaux mesurés,d) une étape d'arrêt de la stimulation.Ce procédé est en caractérisé en ce que les étapes a) à d) sont répétées de manière itérative, la durée T du stimulus et la valeur de l'intervalle de temps Deltat étant incrémentées à chaque itération, deux itérations consécutives étant séparées par une étape intermédiaire durant laquelle le composant est mis hors tension de façon à ce que sa température interne redevienne égale à la température ambiante.L'invention s'applique en particulier à la mesure dynamique de l'impédance non linéaire de composants électroniques hyperfréquence tels que des diodes ou des transistors par exemple.

Description

Mesure dynamique de l'impédance de composants hyperfréquence.

DOMAINE DE L'INVENTION L'invention se rapporte au domaine de la mesure dynamique des caractéristiques relatives à un composant électronique. Elle s'applique en particulier à la mesure dynamique de l'impédance non linéaire de composants électroniques hyperfréquences tels que des diodes ou des transistors par exemple, cette mesure pouvant être réalisée pour un mode de fonctionnement continu (CW) ou impulsionnel.

CONTEXTE DE L'INVENTION - ART ANTERIEUR A ce jour, des mesures effectuées en laboratoire permettent de déterminer l'impédance optimale à présenter à un composant électronique sous test, une diode ou un transistor par exemple, afin d'en optimiser les performances en matière de puissance de sortie, de rendement ou plus généralement de gain. Ce type de mesure est basé sur l'utilisation de bancs, de type load-pull par exemple, bien connu de l'homme du métier. De tels bancs, fonctionnent généralement à la fréquence fondamentale du signal pour lequel on souhaite optimiser le composant sous test. Ils font appel à des moyens de réglage de type mécanique ou parfois électronique.

Pour les composants fonctionnant en régime pulsé (en mode impulsionnel), la détermination de l'impédance se fait toujours en utilisant une durée d'impulsion fixe et une période de répétition constante du signal appliqué au composant sous test. De plus cette détermination est réalisée uniquement lorsque l'équilibre thermodynamique du composant sous test est atteint, c'est-à-dire lorsque sa température de jonction est pratiquement stabilisée. Enfin, comme il a été dit précédemment, la mesure d'impédance est généralement effectuée à la fréquence fondamentale du signal.

Les mesures actuelles permettent ainsi seulement une détermination de la valeur moyenne dans l'impulsion de l'impédance du composant testé. Elles ne donnent par exemple aucune indication sur l'évolution dynamique des impédances du composant à l'intérieur d'une impulsion, à la fréquence fondamentale et aux fréquences harmoniques du signal pour lequel on souhaite optimiser le composant sous test.

D'autre part, L'utilisation de stimuli homogènes dont la durée d'impulsion et la période de répétition sont fixes s'avère particulièrement pénalisante pour la détermination de l'impédance du composant, spécialement dans le cas où le fonctionnement réel du composant s'éloigne de ce schéma simple. C'est notamment le cas pour les composants hyperfréquences mis en oeuvre dans une chaîne d'émission ou de réception radar pour lesquelles la durée et la période de répétition de l'impulsion émise ou reçue varie en fonction du mode de fonctionnement mis en oeuvre à un instant donné.

Les mesures actuelles ne permettent en outre pas d'évaluer l'évolution des impédances à la mise en marche du composant, pendant l'émission des premières impulsions alors que la température de jonction dudit composant évolue fortement. Or cette dernière mesure est très importante car elle est liée aux caractéristiques de stabilité, de phase et d'amplitude, d'impulsion à impulsion, du sous-ensemble intégrant le composant testé.

Les mesures d'impédance réalisées à ce jour permettent ainsi seulement une caractérisation médiocre de l'impédance d'un composant donné.

PRESENTATION DE L'INVENTION 25 Un des buts de l'invention est d'améliorer la détermination de l'impédance d'un composant électronique dont on cherche à caractériser le fonctionnement en présence d'un signal donné, en particulier un signal impulsionnel de durée et de période de répétition variable. L'invention a également pour but de permettre d'établir la courbe d'évolution de cette impédance au cours du temps lorsqu'un signal est appliqué au composant.

A cet effet l'invention a pour objet un procédé de mesure de l'impédance dynamique d'un composant électronique comportant les étapes suivantes: a) une étape de stimulation du composant durant laquelle un signal CW de durée T est appliqué sur l'entrée du composant, à un instant d'origine to, b) une étape de mesure, au niveau de l'entrée stimulée, des amplitudes 5 et phases du signal incident et du signal réfléchi sur le composant, c) une étape de calcul de l'impédance instantanée du composant, à partir des amplitudes et phases des signaux mesurés, d) une étape d'arrêt de la stimulation.

Ce procédé est en outre caractérisé en ce que les étapes a) à d) sont répétées de manière itérative, la durée T du stimulus et la valeur de l'intervalle de temps At étant incrémentées à chaque itération, deux itérations consécutives étant séparées par une étape intermédiaire durant laquelle le composant est mis hors tension de façon à ce que sa température interne redevienne égale à la température ambiante.

Selon l'invention le procédé peut comporter une condition d'arrêt correspondant au mode de fonctionnement pour lequel on désire connaître l'impédance dynamique du composant est vérifiée. Les itérations sont interrompues lorsque la condition est vérifiée.

Selon une variante de mise en oeuvre, la condition d'arrêt est vérifiée si la 25 durée T du stimulus devient supérieure à la durée de l'impulsion du signal pour lequel on souhaite optimiser le composant sous test.

Selon une autre variante du procédé selon l'invention, la condition d'arrêt est remplie si l'impédance calculée est devenue sensiblement constante.

Selon une autre variante, le procédé selon l'invention comporte en outre une étape e) de mémorisation de la valeur dynamique de l'impédance calculée, permettant de déterminer l'évolution de l'impédance au cours du temps. Ce procédé met avantageusement en oeuvre une analyse temporelle en amplitude et en phase du signal appliqué et du signal réfléchi. Cette analyse temporelle peut être associée à un banc d'adaptation de type loadpull multi harmoniques par exemple.

L'invention a également pour objet un dispositif de mesure de l'impédance 5 dynamique d'un composant mettant en oeuvre le procédé revendiqué comportant au moins: - un générateur d'ondes CW de fréquence FRF, - des moyens pour réaliser une adaptation active d'impédance du composant dont on souhaite mesurer l'impédance instantanée, - des moyens pour effectuer une mesure temporelle des signaux incidents et réfléchis à l'entrée du composant, à un instant donné après l'instant de début de l'onde CW, L'impédance du composant étant calculée à partir des signaux incident et réfléchi mesurés.

Selon l'invention le dispositif peut également comporter: - un élément non linéaire permettant de générer des harmoniques de la fréquence FRF, - des moyens pour séparer les harmoniques, chaque harmonique suivant une voie séparée, - des moyens pour réaliser, séparément pour chaque harmonique, 25 une adaptation active du composant dont on souhaite mesurer l'impédance instantanée, - des moyens pour recombiner à l'entrée du composant les voies véhiculant les différentes harmoniques.

Le dispositif selon l'invention permet ainsi avantageusement de déterminer l'impédance du composant sous test alors que celui-ci se trouve adapté à plusieurs fréquences simultanément.

L'invention a encore pour objet un banc de mesure automatique comportant: - un dispositif de mesure selon l'invention, - des moyens pour implémenter de manière automatique le procédé selon l'invention.

DESCRIPTION DES FIGURES

D'autres caractéristiques et avantages apparaitront au fil de la description qui fait référence aux figures annexées qui représentent: -la figure 1: un organigramme de principe des étapes du procédé selon l'invention, - la figure 2: l'illustration de la mise en oeuvre du procédé selon 15 l'invention avec un stimulus ayant la forme d'un échelon temporel, - la figure 3: l'illustration de la mise en oeuvre du procédé selon l'invention avec un stimulus ayant la forme d'un train d'impulsions de durée et de période de répétition constantes, - la figure 4: l'illustration de la mise en oeuvre du procédé selon l'invention avec un stimulus ayant la forme d'un train d'impulsions de durées variables, - la figure 5: le schéma de principe d'un dispositif permettant de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention, - la figure 6 le schéma détaillé d'un exemple de dispositif permettant de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention.

DESCRIPTION DETAILLEE

On se réfère tout d'abord à la figure 1. Comme cela a été dit précédemment, la figure présente un organigramme de principe des 35 principales étapes du procédé selon l'invention.

Le procédé selon l'invention a notamment pour objet de permettre de mesurer l'évolution de l'impédance d'un composant auquel est appliqué un signal hyperfréquence complexe en différents instants suivant l'instant de début d'application du signal sur le composant. Ce signal complexe qui peut par exemple être un signal impulsionnel de durée et de période de répétition variables est simulé au moyen d'un signal stimulus CW découpé, appliqué de manière répétitive au composant électronique à tester pendant des durées de plus en plus longues. Pendant l'application du stimulus il est procédé au calcul de l'impédance instantanée du composant à un instant donné.

Le procédé selon l'invention comporte principalement une première étape 11 de stimulation du composant à tester, une deuxième étape 12 de mesure des signaux incidents et réfléchis présents à l'entrée du composant pendant la stimulation et une troisième étape 13 d'arrêt de la stimulation. Ces trois étapes sont répétées de manière itérative.

L'étape 11 consiste à appliquer un stimulus sur l'entrée du composant à mesurer, sous la forme d'un signal CW découpé, pendant une durée 20 T1 = At + To.

La durée TI est ici définie comme étant égale à la somme d'un intervalle de temps At variable et d'un intervalle de temps fixe To.

Selon l'invention, l'intervalle de temps At est initialisé à une valeur Ato. La valeur de To est quant à elle déterminée en fonction du temps nécessaire 25 pour effectuer la mesure de l'étape 12 L'étape 12 est exécutée pendant l'exécution de l'étape 11. Cette étape consiste à mesurer au bout du temps At défini au paragraphe précédent l'amplitude et la phase des signaux incident et réfléchi présents à l'entrée du composant électronique sous test. Elle est précédée d'une boucle d'attente 14. Le temps nécessaire pour effectuer ces mesures d'amplitude et de phase conditionnent la durée To qui doit être au moins égale à ce temps de mesure.

La mesure des signaux incidents et réfléchis est ici réalisée par numérisation rapide sur un temps très court et mémorisation des signaux numérisés. Le calcul de l'impédance du composant à l'instant de la mesure est alors réalisé classiquement à partir des signaux numérisés.

L'étape 13 constitue l'étape d'arrêt d'une mesure. Durant cette étape la 5 génération du stimulus cesse et le composant est mis hors tension.

Suivant la forme du signal que l'on souhaite simuler à l'entrée du composant il est nécessaire, si l'on veut étudier l'évolution de l'impédance du composant au cours du temps que dure le signal, de répéter les opérations 11 à 13 un certain nombre de fois en différents instants. A cet effet le procédé selon l'invention comporte une boucle d'itération constituée des étapes 15, 16 et 17.

L'étape 15 consiste à incrémenter d'une durée déterminée 'r la durée At pendant laquelle le stimulus CW découpé est appliqué au composant. Cette durée 'r est notamment définie le nombre de points de mesure de l'impédance que l'on souhaite obtenir pendant la durée du signal que l'on simule au moyen du stimulus.

L'étape 16 consiste en une boucle d'attente qui prend place après la phase 13 d'arrêt du stimulus et de mise hors tension du composant sous test. Le but de cette étape est de permettre que le composant ait retrouvé une température interne proche de la température ambiante avant de procéder à une nouvelle itération des étapes 11 à 13 avec une nouvelle valeur de Al Cette étape d'attente permet avantageusement de garantir que la mesure effectuée à l'itération qui suit ne dépend pas de l'itération précédente et en particulier de l'échauffement du composant qui en a résulté. Cet échauffement a en effet pour conséquence connue de modifier la valeur de l'impédance du composant.

Le nombre d'itérations effectuées par le procédé selon l'invention dépend naturellement du signal qui doit être simulé. En faisant varier la durée Al à chaque itération il est possible de constituer des impulsions successives de largeur croissante et d'effectuer des mesures d'impédance en des instants de plus en plus éloignés de l'instant de début du stimulus. On peut ainsi acquérir des mesures de l'impédance instantanée du composant réparties sur toute la durée du signal à simuler. L'ensemble des mesures est alors obtenu lorsque la durée du stimulus est égale à la durée du signal que l'on souhaite simuler. Le processus itératif est alors stoppé.

Cette condition d'arrêt est contrôlée par l'étape de test 17 qui test, par exemple, si la valeur de At après incrémentation de T est ou non supérieure à la durée du signal simulé. Si tel n'est pas le cas une nouvelle itération est effectuée. Sinon, le procédé s'arrête.

Afin de pouvoir traiter les mesures ainsi effectuées, le procédé selon l'invention peut comporter également une étape 18 de stockage des mesures effectuées à chaque itération et une étape 19 de traitement des données stockées. La mémorisation des mesures permet avantageusement de réaliser un traitement différé des valeurs de l'évolution au cours du temps, pendant la durée du signal simulé, des valeurs de l'impédance du composant.

Le procédé selon l'invention, dans sa forme de principe illustrée par la figure 1, traite particulièrement de la détermination de l'évolution de l'impédance instantanée du composant sous test lorsqu'on lui applique un échelon de signal sinusoïdal ou encore un signal impulsionnel hyperfréquence dont la période de répétition est grande.

En effet dans le cas d'un échelon de signal sinusoïdal, l'évolution de l'impédance se produit dans un intervalle de temps déterminé qui suit l'instant où l'échelon est appliqué. Après cet intervalle de temps l'impédance se stabilise à une valeur donnée et reste sensiblement constante. La condition d'arrêt de l'étape 17 porte donc non pas sur la durée du signal, mais sur un temps suffisant pour que l'impédance atteigne une valeur sensiblement constante qui peut être mesurée par des procédés connus.

De même, dans le cas où le signal appliqué est un signal impulsionnel de largeur faible et de période de répétition élevée, il est possible de considérer qu'à l'apparition de chaque nouvelle impulsion la température du composant est égale à la température ambiante, ou égale à une température fixée, et que l'impédance du composant suit une évolution identique pour chaque impulsion. La condition d'arrêt de l'étape 17 porte alors sur la durée d'une impulsion.

Dans le cas où le signal appliqué prend une forme plus complexe la détermination de l'évolution de l'impédance du composant peut elle-même se complexifier. Il peut par exemple être nécessaire d'enchaîner plusieurs fois la séquence d'étapes décrite par la figure 1 pour déterminer la loi d'évolution de l'impédance correspondant au signal appliqué.

Néanmoins, le principe décrit par la figure 1 reste valable.

La figure 2 illustre la mise en oeuvre du procédé selon l'invention dans le cas, 10 pris à titre d'exemple, où le signal appliqué à l'instant to est un échelon de sinusoïde 21.

Comme le montre la figure 2, le procédé selon l'invention comporte ici N itérations, chaque itération donnant lieu à une mesure d'impédance instantanée 22. A chaque nouvelle itération la durée 23 du stimulus CW augmente d'un temps i, de même que le retard entre l'instant to de début du stimulus et l'instant 24 d'acquisition des signaux incident et réfléchi.

On obtient ainsi comme l'illustre la figure les graphes 26 et 27 d'évolution en amplitude et phase de l'impédance instantanée depuis l'instant to d'application du stimulus 21 jusqu'à l'instant d'établissement d'une valeur 25 sensiblement constante de l'impédance instantanée.

Dans cet exemple particulier, le signal pour lequel on souhaite connaître l'impédance du composant étant un échelon, la condition 17 d'arrêt des itérations, présentée sur la figure 1, n'est pas une condition sur la durée de ce signal qui est a priori infinie ou tout au moins très longue par rapport au phénomène que représente la variation de l'impédance. Cette condition porte ici sur la stabilisation de la valeur de l'impédance au bout d'un temps AtN déterminé.

Il est à noter, comme cela a été mentionné précédemment, qu'entre deux mesures prend place une phase d'attente 16 destinée à permettre à la température interne du composant de retomber à la température initiale ambiante.

La figure 3 présente également à titre d'exemple une deuxième illustration concrète du procédé selon l'invention. Dans cet exemple le procédé est appliqué à la détermination dynamique de l'impédance d'un composant électronique auquel on applique une impulsion sinusoïdale 31 à partir d'un instant to. Cette impulsion est de durée et de période de répétition constantes.

Le principe de mise en oeuvre du procédé selon l'invention est identique à celui de l'exemple de la figure 2. Le stimulus appliqué sur l'entrée du composant à tester consiste dans cet exemple en un signal CW découpé 32 appliqué de manière discontinue pendant une durée croissante.

Dans cet exemple particulier, la condition 17 d'arrêt des itérations, porte sur le nombre d'impulsion qu'il est nécessaire de simuler pour décrire la loi d'évolution complète de l'impédance du composant, compte tenu du fait que la variation d'impédance durant une impulsion est fonction de la température interne du composant, elle-même fonction du nombre d'impulsions déjà appliquées. Ainsi, si le composant est à sa température d'équilibre après P impulsions la détermination de l'évolution de l'impédance peut nécessiter P cycles consécutifs de N mesures chaque cycle étant réalisé conformément au procédé selon l'invention tel qu'illustré par la figure 1. Le stimulus appliqué correspond alors à un signal CW découpé, tel que celui représenté sur la figure 3.

L'exemple de la figure 3 décrit les conditions de mise en oeuvre du procédé selon l'invention dans le cas où le signal appliqué est un signal sinusoïdal impulsionnel de durée d'impulsion et de période de répétition constantes. Ce cas particulier peut aisément être généralisé à un signal sinusoïdal impulsionnel présentant des impulsions de durée et de période de répétition variables. Dans ce cas plus général illustré par la figure 4. le signal appliqué est ici composé d'impulsions 41 et 42 de durées différentes, l'intervalle de temps séparant deux impulsions n'étant pas constant.

Dans cet exemple, l'intervalle de temps pendant lequel il est nécessaire d'opérer des mesures d'impédances instantanées est encore une fois fonction de la durée des impulsions appliquées et de la période de répétition de ces impulsions, la loi de variation de l'impédance étant complètement déterminée lorsque les mesures sont effectuées sur le composant dont la température interne est à la température d'équilibre en fonctionnement permanent.

On se réfère ensuite à la figure 5 qui représente de manière schématique la structure d'un dispositif permettant de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention.

Comme le montre la figure ce dispositif comporte un sous-ensemble 51 permettant de générer les stimuli à appliquer au composant sous test 52. Le sous-ensemble 51 comporte en particulier un générateur Eg d'ondes sinusoïdales (CW) ayant une impédance Zg et un circuit de découpe 53 commandable.

Le dispositif selon l'invention comporte également des moyens d'acquisition 54 permettant de déterminer la valeur de l'impédance instantanée à partir des mesures des signaux incidents et réfléchis présent à l'entrée du composant dont on veut connaître l'impédance.

Les moyens d'acquisition 54 peuvent par exemple comporter un système d'acquisition temporelle réalisant un échantillonnage à très haute vitesse des signaux incidents et réfléchis. Cet échantillonnage est par exemple suivi d'un traitement numérique de ces signaux. La fréquence d'échantillonnage des moyens d'acquisition est par ailleurs suffisamment élevée pour permettre un échantillonnage respectant la condition de Shannon.

L'acquisition est contrôlée au moyen de commandes d'acquisition qui définissent en particulier l'instant de début d'acquisition.

Les moyens d'acquisition 54 peuvent en outre comporter des moyens pour mémoriser les valeurs d'impédance successivement calculées au cours des mesures successives effectuées et des moyens pour afficher la courbe d'évolution de l'impédance calculée au cours du temps.

Le dispositif selon l'invention comporte en outre des moyens de couplage 55 dont la voie directe permet d'appliquer les stimuli générés par le sous- ensemble 51 sur l'entrée du composant dont on veut connaître l'impédance et dont les voies découplées, reliées aux entrées des moyens d'acquisition 54, permettent d'effectuer simultanément l'acquisition des signaux incident (le) et réfléchi (Re).

Comme l'illustre la figure 5, le dispositif selon l'invention peut être avantageusement complété, dans la mesure où les moyens d'acquisition comporte deux voies de mesure, par un deuxième moyen de couplage 56. La voie directe de ce deuxième moyen de couplage est utilisée pour relier la sortie du composant sous test 52 à une charge d'adaptation 57 tandis que les voies découplées sont reliées aux entrées des moyens d'acquisition 54.

Un tel dispositif présente l'avantage de permettre de déterminer simultanément la variation au cours du temps des impédances d'entrée et de sortie du composant.

Le dispositif selon l'invention tel que présenté à la figure 5 peut être utilisé soit manuellement, soit de manière automatique l'ensemble des mesures, leur paramétrage et la mise en oeuvre du procédé selon l'invention étant alors pilotés par un calculateur 58.

On se réfère à présent à la figure 6 qui représente une variante de réalisation du dispositif selon l'invention. Dans cette variante qui constitue un mode de réalisation préféré, le dispositif illustré à la figure 5 est complété par l'ajout de moyens 61 permettant de déterminer l'impédance instantanée du composant sous test 52 en procédant à une adaptation dynamique de l'entrée et de la sortie dudit composant. L'adaptation est ici réalisée pour la fréquence (RF) du signal impulsionnel pour lequel on souhaite connaître l'impédance du composant, mais aussi pour l'harmonique deux (H2) et l'harmonique trois (H3) de ce signal, voire même pour des harmoniques de rangs plus élevés.

L'adaptation est ici réalisée en jouant sur l'amplitude et la phase du signal appliqué sur l'entrée et la sortie du composant, à l'aide de moyens 62 appropriés. L'adaptation de l'amplitude et de la phase est par ailleurs réalisée de manière séparée pour le signal fondamental, l'harmonique 2 et l'harmonique 3. De même, cette adaptation est réalisée de manière indépendante pour l'entrée et pour la sortie du composant. II est ainsi possible de réaliser une bonne adaptation du composant non seulement à la fréquence du signal impulsionnel considéré, mais aussi aux fréquences harmoniques les plus proches qui composent ce signal impulsionnel.

La génération de stimuli de test comportant des harmoniques de niveau suffisant, est réalisée au moyen du sous-ensemble 51 auquel est associé un élément non linéaire 63, qui peut être un multiplicateur de fréquence par exemple. Le signal issu de l'élément 63 est ensuite distribué sur différentes voies 64 comportant chacune des moyens 62 pour contrôler l'amplitude et la phase du signal. Chacun de ces moyens est pourvu d'un filtre 65 en entrée, ce filtre étant réglé de façon à ce que la voie considérée ne traite qu'une fréquence. Les signaux ainsi traités sont ensuite recombinés et appliqués directement sur l'entrée du composant sous test et sur sa sortie, par l'intermédiaire d'un coupleur simple 66.

L'utilisation de moyens d'adaptation dynamique présente l'avantage de rendre le dispositif selon l'invention utilisable pour une pluralité de composants et pour des signaux de fréquences diverses contrairement à l'utilisation d'une adaptation conventionnelle au moyen de composants électroniques câblés.

Le dispositif selon l'invention dans le mode de réalisation illustré par la figure 6 peut bien entendu être utilisé de façon manuelle ou automatisée.

Claims (9)

REVENDICATIONS

1. Procédé de mesure de l'impédance instantanée d'un composant électronique comportant les étapes suivantes: a) une étape de stimulation du composant durant laquelle un stimulus de durée T est appliqué sur l'entrée du composant, b) une étape de mesure, au niveau de l'entrée stimulée, des amplitudes et phases du signal incident et du signal réfléchi sur le composant, c) une étape de calcul de l'impédance instantanée du composant, à partir des amplitudes et phases des signaux mesurés, d) une étape d'arrêt de la stimulation caractérisé en ce que les étapes a) à d) sont répétées de manière itérative, la durée T du stimulus et la valeur de l'intervalle de temps At étant incrémentées à chaque itération, deux itérations consécutives étant séparées par une étape intermédiaire durant laquelle le composant est mis hors tension de façon à ce que sa température interne redevienne égale à la température ambiante

2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les itérations sont interrompues lorsqu'une condition d'arrêt correspondant au mode de fonctionnement pour lequel on désire connaître l'impédance dynamique du composant est vérifiée.

3. Procédé selon la revendication 2 pour lequel la condition d'arrêt est remplie si la durée T devient supérieure à la durée de l'impulsion du signal pour lequel on souhaite optimiser le composant sous test ou si l'impédance calculée est devenue sensiblement constante.

4. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes 30 comportant en outre une étape e) de mémorisation de la valeur de l'impédance dynamique calculée.

5. Dispositif de mesure de l'impédance dynamique d'un composant mettant en oeuvre le procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte au moins: - un générateur d'ondes CW de fréquence FRF, - des moyens pour réaliser une adaptation active d'impédance du composant dont on souhaite mesurer l'impédance instantanée, - des moyens pour effectuer la mesure des signaux incidents et réfléchis à l'entrée du composant à un instant donné après l'instant de début de l'onde CW.

6. Dispositif selon la revendication 5 comportant en outre: - u n élément non linéaire permettant de générer des harmoniques 15 de la fréquence FRF, - des moyens pour séparer les harmoniques, chaque harmonique suivant une voie séparée, - des moyens pour réaliser, séparément pour chaque harmonique, une adaptation active du composant dont on souhaite mesurer 20 l'impédance instantanée, - des moyens pour recombiner à l'entrée du composant les voies véhiculant les différentes harmoniques

7. Système de mesure simultanée des impédances dynamiques d'entrée et de sortie d'un composant électronique caractérisé en ce qu'il incorpore deux dispositifs selon la revendication 6 fonctionnant simultanément, l'un des dispositifs étant appliqué sur l'entrée du composant et l'autre dispositif étant appliqué sur la sortie du composant.

8. Système selon la revendication 7 dans lequel les deux dispositifs partagent un générateur CW unique.

9. Banc de mesure automatique comportant: - un système de mesure selon la revendication7, - des moyens pour implémenter de manière automatique le procédé selon l'une des revendications 1 à 4.