FR2805892A1 - Dispositif de mesure optique, notamment pour la surveillance de la qualite dans des processus continus - Google Patents
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Abstract
L'invention se rapporte à un dispositif de mesure optique, notamment pour la surveillance de la qualité dans des processus continus.Ce dispositif comprend une tête de mesure (1) disposée directement à côté d'un objet de mesure (M), une source de lumière de mesure (3) retenue à la tête de mesure (1) pour éclairer une tache (F) à l'objet de mesure (M), un dispositif de réception de lumière de mesure (6), au moins un spectromètre qui est couplé optiquement par un dispositif de guidage de lumière (7) au dispositif de réception de lumière de mesure (6), où le spectromètre et le dispositif de guidage de lumière (7) sont reçus dans la tête de mesure (1) ainsi qu'un dispositif de traitement de signaux (12) qui est également reçu dans la tête de mesure (1).L'invention est applicable notamment dans le domaine des dispositifs de mesure optique.
Description
L'invention se réfère à un dispositif de mesure optique pour déterminer
des caractéristiques d'objets de mesure, notamment pour la surveillance de la qualité d'objets de mesure s'écoulant et/ou déplacés continuellement devant le
dispositif de mesure.
Par l'art antérieur, des dispositifs de mesure fonctionnant selon le principe de la spectroscopie sont connus au moyen desquels peut être détecté, par exemple, le degré de réflexion ou aussi le degré de transmission d'objets de mesure. A l'aide du spectre de mesure déterminé, des propositions ou assertions peuvent être faites à la fois sur des caractéristiques optiques et aussi non optiques des objets de mesure, qui sont utilisées à leur tour pour une
appréciation des objets de mesure examinés.
Par des analyses spectroscopiques peuvent être surveillés par exemple des bandes ou panneaux de matériau en ce qui concerne le respect des dimensions et des paramètres de qualité. Egalement une surveillance de flux
de matériaux non solides est possible.
Il est connu par l'art antérieur dans ce contexte de détecter le
comportement à la réflexion des objets de mesure pour obtenir à partir de celui-
ci des critères d'appréciation pour le contrôle de qualité. Dans le cas d'objets de mesure transparents, la transparence de l'objet de mesure peut être déterminée d'une manière spectroscopique à l'aide d'une mesure de transmission. Des dispositifs de mesure classiques pour la mesure de la réflexion ou de la transmission utilisent en règle générale une tête de mesure optique qui est disposée à proximité de l'objet de mesure. Cette tête de mesure comprend une source de lumière de mesure pour éclairer une tache de mesure sur l'objet de mesure. En outre, il est prévu un récepteur pour détecter la lumière au voisinage de la tache de mesure directement à côté de l'objet de mesure. Dans le cas d'une mesure de réflexion, le récepteur se trouve du côté de la source
de lumière de mesure et détecte la lumière réfléchie par l'objet de mesure.
Dans le cas d'une mesure de transmission, le récepteur est disposé par contre sur le côté de l'objet de mesure opposé relativement à la tache de mesure et
détecte la lumière passant à travers l'objet de mesure.
Pour évaluer la lumière détectée de la tache de mesure, un spectromètre est utilisé qui est établi à l'écart de l'objet de mesure. La lumière détectée par le récepteur est transmise par un chemin comparativement long de l'ordre de grandeur d'environ 20 mètres au moyen d'un guide de lumière qui est constitué d'une pluralité de fibres individuelles, vers le spectromètre. De la longueur du trajet de transmission découlent des influences qui agissent sur les valeurs physiques de la lumière de mesure et par conséquent sur la qualité des propositions à déterminer. Par exemple, il peut y avoir des modifications de transmission du guide de lumière par suite d'influences mécaniques ou
io thermiques.
En outre, il faut tenir compte du fait que la tête de mesure optique doit être déplaçable au-dessus respectivement à côté de l'objet à mesurer pour pouvoir examiner également des bandes ou flux de matériau plus larges. A cette fin, la tête de mesure est alors disposée sur un agencement à traverse qui est déplaçable relativement à l'objet de mesure. Pour éviter, dans de tels cas, un endommagement mécanique du guide de lumière, des mesures techniques à l'encontre d'une rupture prématurée sont nécessaires. La pose du guide de lumière doit donc être faite avec un soin particulier. A part les influences défavorables optiques et mécaniques, le dispositif de mesure optique connu est de plus d'une complexité d'installation relativement importante étant donné que la tête de mesure peut être couplée au spectromètre seulement sur place après que le guide de lumière a été posé soigneusement. Pour obtenir des résultats reproductibles, le dispositif doit être ajusté sur place à un état de consigne. Cet ajustement sera nécessaire à
chaque réinstallation des dispositifs connus.
L'invention a donc pour objet le perfectionnement d'un dispositif de mesure optique fonctionnant selon le principe de la spectroscopie de façon que celui-ci convienne pour la surveillance de la qualité d'objets de mesure s'écoulant et/ou déplacés continuellement devant le dispositif de mesure et qui
puisse être monté respectivement démonté avec un complexité réduite.
Cet objet est atteint par un dispositif de mesure optique du type indiqué au début, qui comprend une tête de mesure positionnée dans une position définie relativement à l'objet de mesure, une source de lumière de mesure reliée à la tête de mesure pour l'éclairage d'une tache de mesure à l'objet de mesure, un récepteur de lumière de mesure prévu dans la tête de mesure pour détecter la lumière de la zone de la tache de mesure, au moins un spectromètre couplé optiquement avec le récepteur de lumière de mesure, intégré dans la tête de mesure et une installation de traitement de signaux intégrée également dans la tête de mesure pour le traitement des signaux de
sortie d'au moins un spectromètre.
Le dispositif de mesure conforme à l'invention permet un montage simple et rapide à proximité de l'objet de mesure à examiner. L'ajustage pour accorder le récepteur de lumière de mesure au(x) spectromètre(s) peut être effectué déjà à l'usine de telle sorte que lors du montage sur place, à part les réglages requis de toute façon de la tête de mesure relativement à l'objet de mesure, il n'y a pas d'autres étapes d'ajustage. Cela permet de simplifier considérablement le montage initial et aussi un remontage du dispositif de mesure. D'un agencement de tous les composants dans une tête de mesure respectivement d'une tête de mesure compacte résultent de plus des trajets de liaison les plus courts entre le récepteur de lumière de mesure et le ou les spectromètres. Cela entraîne non seulement des économies de matériau et de coût en ce qui concerne l'utilisation du matériau du guide de lumière. Au contraire, également l'intensité de la lumière de mesure dépendant de la longueur du dispositif de guidage de lumière peut être améliorée. De plus, des modifications de transmission sont réduites et leurs influences perturbatrices sur les résultats de mesure sont diminuées. En outre, une sollicitation mécanique excessive des dispositifs sensibles formant guide de lumière peut
être empêchée.
Le terme "tête de mesure" couvre ici à la fois des boîtiers ouverts et fermés ainsi que des constructions de retenue en forme de portique qui
supportent tous les ensembles précités.
Dans une réalisation avantageuse de l'invention, deux spectromètres sont reçus dans la tête de mesure qui couvrent des zones de longueurs d'onde avoisinantes o les deux spectromètres coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure et sont couplés optiquement avec celui-ci par un guide de lumière Y. De préférence, le dispositif de mesure couvre ensemble une zone de longueurs d'ondes totale d'environ 350 nm à 2500 nm. Ce faisant, la zone VIS (lumière visible) fournit de préférence des informations optiques, par exemple se rapportant aux caractéristiques de couleur et aux couches réfléchissantes et antireflets, tandis que la zone NIR (zone infrarouge proche) fournit des informations sur des concentrations de parties constitutives des objets de mesure. De préférence, on utilise dans ce cas un spectromètre pour la zone NIR et un autre spectromètre pour la zone VIS et pour la zone UV. Par cette répartition se référant à la longueur d'onde des spectromètres, ceux-ci peuvent être construits d'une manière particulièrement compacte et peuvent être logés
ensemble dans une tête de mesure respectivement boîtier.
L'utilisation du guide de lumière Y permet une mesure simultanée sur toute la zone de longueurs d'ondes large, o la qualité des résultats de mesure est favorisée par l'agencement directement avoisinant des spectromètres au récepteur de lumière de mesure. La longueur des guides de lumière en forme
de Y est dans ce cas de préférence inférieure à 20 cm.
De préférence, il est prévu à la tête de mesure un interface ou jonction de données pour relier le dispositif de mesure optique à un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe. Ceux-ci peuvent être logés, par exemple, à une distance du lieux de mesure, dans un poste de commande. La liaison est établie par une ligne électrique ou aussi par une liaison infrarouge à distance. Dans une autre réalisation avantageuse de l'invention, il est prévu à la tête de mesure une sphère intégrante d'Ulbricht avec une ouverture orientée vers la tache de mesure, o la source de lumière de mesure est intégrée dans la sphère intégrante d'Ulbricht pour permettre un éclairage indirect diffus de la tache de mesure. Le récepteur de lumière de mesure également prévu à la sphère intégrante est dirigé à travers l'ouverture de la sphère intégrante sur la tache de mesure. Ainsi, les éléments requis pour produire la lumière de mesure et pour recevoir les signaux de mesure à évaluer peuvent être intégrés dans un module qui peut être utilisé, par exemple, pour des types de boîtiers différents
d'une série d'appareils.
Pour compenser des modifications de l'intensité de la source de lumière de mesure ainsi que des erreurs de mesure systématiques, notamment lors de s l'utilisation d'une sphère intégrante d'Ulbricht, il est prévu pour chaque spectromètre un deuxième spectromètre du même type dans la tête de mesure dans lequel est introduite, d'une manière synchronisée avec le fonctionnement du spectromètre indiqué en premier, la lumière d'une face de référence. Lors de l'utilisation de deux spectromètres pour les zones de longueurs d'ondes précitées, de nouveau un guide de lumière Y court est utilisé. Par une formation de signal de compensation entre les spectromètres respectivement similaires, l'importance ou la justesse des déductions faites à partir des signaux
de mesure peut être améliorée davantage.
De préférence, la face de référence se trouve à un tronçon de paroi intérieure de la sphère intégrante d'Ulbricht dont la lumière est détectée également par un récepteur de lumière de référence prévu à la sphère intégrante. Pour éviter des altérations ou falsifications, il est approprié que le récepteur de lumière de référence ne soit pas frappé directement par la lumière
de mesure.
Dans une autre réalisation avantageuse qui, à part une mesure de réflexion permet additionnellement une mesure de transmission, le dispositif de mesure optique comprend une deuxième tête de mesure pouvant être disposée directement à côté de l'objet de mesure dans une position définie, qui est opposée diamétralement à la première tête de mesure quant à la tache de mesure et à l'objet de mesure. A la deuxième tête de mesure est prévu un récepteur de lumière de mesure pour détecter la lumière de la zone de la tache de mesure et en outre au moins un spectromètre qui est couplé optiquement par un dispositif de guidage de lumière avec le récepteur de lumière de mesure, et enfin une installation de traitement de signaux pour le traitement des signaux de départ d'au moins un spectromètre de la deuxième tête de mesure. Cet agencement permet une mesure simultanée de la réflexion et de la transmission au même lieu de mesure ce qui permet d'atteindre une vitesse de mesure élevée. Le temps de mesure pour l'appréciation d'un lieu de mesure peut se situer nettement en dessous d'une seconde. De préférence, dans la deuxième tête de mesure sont reçus deux spectromètres qui couvrent des zones de longueurs d'ondes avoisinantes, o les deux spectromètres coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure de la deuxième tête de mesure et sont couplés optiquement avec celui-ci par un guide de lumière Y. Comme cela a déjà été exposé en rapport avec la première tête de mesure, io cela permet de couvrir simultanément une large zone de longueurs d'ondes, par exemple de 350 nm à 2500 nm, avec une seule mesure, par quoi l'efficacité
de mesure peut être améliorée davantage.
Pour la compensation de modifications d'intensité de la source de lumière de mesure ainsi que, le cas échéant, d'erreurs systématiques produites, une compensation de signaux peut également être effectuée lors de la mesure de la transmission. A cette fin sera utilisé de préférence le même
signal de compensation que pour la mesure de la réflexion.
Pour la compensation de signaux, il est avantageux de prévoir à la deuxième tête de mesure également un interface de données pour relier le dispositif de mesure optique à un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe. L'échange de données requis pour une compensation de signaux peut avoir lieu par le calculateur externe de telle sorte qu'une ligne de liaison entre les différentes têtes de mesure n'est pas nécessaire. Par l'utilisation double des spectromètres de compensation dans la première tête de mesure, la dépense constructive pour une compensation additionnelle lors de la mesure de transmission peut être maintenue à un niveau réduit. La détermination des signaux compensés peut avoir lieu dans ce cas dans chaque
tête de mesure ainsi que dans le calculateur externe.
L'objet de l'invention est également atteint par un dispositif de mesure optique qui est conçu uniquement pour la mesure de la transmission. A cette fin, celui-ci comprend une première tête de mesure pouvant être disposée directement à côté d'un objet de mesure dans une position définie, une source de lumière de mesure retenue à la première tête de mesure pour éclairer une tache de mesure à un objet de mesure, une deuxième tête de mesure pouvant être disposée directement à côté de l'objet de mesure dans une position définie qui est diamétralement opposée à la première tête de mesure relativement à la tache de mesure de l'autre côté de l'objet de mesure, un récepteur de lumière de mesure prévu à la deuxième tête de mesure pour détecter la lumière provenant de la zone de la tache de mesure, au moins un spectromètre qui est couplé optiquement par un dispositif de guidage de lumière au récepteur de lumière de mesure, o le spectromètre et le dispositif de guidage de lumière sont reçus dans la deuxième tête de mesure ainsi qu'une installation de traitement de signaux pour le traitement des signaux de départ d'au moins un
spectromètre de la deuxième tête de mesure.
On obtient ainsi les avantages déjà exposés ci-dessus en rapport avec la
mesure de réflexion.
Comme dans celle-ci, également dans le cas d'un dispositif de mesure conçu pour la mesure de transmission, deux spectromètres peuvent être prévus dans la deuxième tête de mesure qui recouvrent des zones de longueurs d'ondes avoisinantes, o les deux spectromètres coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure de la deuxième tête de mesure et sont couplés optiquement à celui-ci par un guide de lumière Y. Ainsi peut être recouverte, également lors d'une mesure de transmission, avec une seule opération de mesure, une large zone de longueurs d'ondes qui correspond aux zones UV, VIS ainsi que IR, par exemple la zone de longueurs d'ondes totale
d'environ 350 nm à 2500 nm.
Dans une autre réalisation avantageuse, il est prévu pour chaque spectromètre dans la deuxième tête de mesure un deuxième spectromètre similaire dans la première tête de mesure dans lequel est introduite, d'une manière synchronisée avec le fonctionnement du spectromètre indiqué en premier, la lumière d'une face de référence. Cela permet de compenser de nouveau des modifications de l'intensité des sources de lumière de mesure
ainsi que des erreurs systématiques pendant la mesure.
De plus, la sphère intégrante d'Ulbricht déjà mentionnée peut être mise en place dans la première tête de mesure, et à celle-ci, dans le cas d'une pure mesure de transmission, un récepteur de lumière de mesure n'est pas requis et peut donc être omis. En utilisant une sphère intégrante unitaire dans une série d'appareils, une ouverture de réception prévue à un emplacement
correspondant pour le récepteur de lumière de mesure peut rester inoccupée.
De préférence, l'ouverture correspondante est fermée par un capuchon.
Pour la communication avec un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe, il est prévu aux deux têtes de mesure respectivement un interface de données, o la transmission des données a lieu par une ligne électrique ou également par une liaison infrarouge à distance. Dans la mesure o des spectromètres pour la compensation des signaux ne sont pas utilisés dans la première tête de mesure respectivement le boîtier, I'interface de
données à la première tête de mesure peut également être omise.
1s Pour simplifier davantage le dispositif de mesure, il est avantageux de réaliser le dispositif de guidage de lumière par des fibres de guidage de lumière dont les extrémités libres forment vers l'objet de mesure en même temps le
récepteur de la lumière de mesure.
Un mode de réalisation particulièrement compact des têtes de mesure respectivement des boîtiers peut être obtenu lorsque les spectromètres utilisés sont réalisés respectivement comme spectromètres miniatures avec des
récepteurs à lignes ou rangées de diodes.
Dans une autre réalisation avantageuse, la source de lumière de mesure, pour la formation des signaux, peut être mise en et hors service. Cela permet, contrairement à l'utilisation d'une source de lumière constante, d'éviter des obturateurs mobiles qui y sont requis pour la mesure à l'obscurité de telle sorte que le dispositif de mesure est simplifié encore plus. De plus, des secousses résultants du déplacement des obturateurs sont évitées de telle
sorte que les intervalles entre les différentes mesures peuvent être très courts.
L'invention sera mieux comprise, et d'autres buts, caractéristiques, détails et avantages de celle-ci apparaîtront plus clairement au cours de la
description explicative qui va suivre faite en référence aux dessins
schématiques annexés donnés uniquement à titre d'exemple illustrant des modes de réalisation de l'invention, et dans lesquels: la Fig. 1 représente un premier mode de réalisation d'un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure de réflexion, la Fig. 2 représente un deuxième exemple de réalisation d'un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure de réflexion, o a lieu une compensation des signaux, la Fig. 3 représente un troisième exemple de réalisation d'un dispositif de mesure spectroscopique qui permet une mesure de réflexion et de transmission simultanée dans une zone spectrale partielle (UV ou VIS ou NIR) avec compensation et la Fig. 4 représente un quatrième exemple de réalisation d'un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure de transmission dans la zone
spectrale UV, VIS et NIR avec compensation des signaux.
Le premier mode de réalisation sur la Fig. 1 montre un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure de réflexion avec une tête de mesure
I sous la forme d'un boîtier compacte qui peut être disposée devant ou au-
dessus d'un objet de mesure M à une distance définie. Dans l'exemple de réalisation représenté, le dispositif de mesure est utilisé pour le contrôle de la qualité à une bande de matériau ou une plaque de matériau. Cependant, il peut également être utilisé pour d'autres objets de mesure solides et aussi pour des
flux de matériau sans forme fixe.
De préférence, la tête de mesure 1 est fixée à une traverse déplaçable transversalement à l'objet de mesure M respectivement la bande de matériau de telle sorte que la détermination des caractéristiques peut être effectuée sur toute la largeur de la bande de matériau, de la plaque de matériau ou du flux de matériau étant donné que la partie de la tache de mesure F utilisée par le dispositif de mesure est en règle générale nettement plus petite que l'extension
totale de celle-ci.
Dans la tête de mesure 1 qui ne doit pas être fermée nécessairement vers tous les côtés, mais qui peut être par exemple également une plate-forme de retenue, il est prévu une unité de mesure 2 qui comprend une source de lumière de mesure 3. Dans l'exemple de réalisation représenté, il est utilisé à cette fin une lampe halogène. Cependant, il est également possible d'utiliser à cet endroit une lampe à deutérium ou bien également une lampe halogène
ensemble avec une lampe à deutérium.
Comme cela ressort de la Fig. 1, I'unité de mesure 1 comprend en outre une lentille de condenseur 4 pour la projection verticale de la lumière de mesure de la source de lumière de mesure 3 sur l'objet de mesure M. Par l'utilisation de la lentille 4, il est obtenu un éclairage régulier de la tache de mesure F sur l'objet de mesure M. L'unité de mesure 2, à son extrémité orientée vers l'objet de mesure M, est fermée par un verre protecteur 5 laissant
passer la lumière.
Pour détecter la lumière réfléchie dans la zone de la tache de mesure F par l'objet de mesure M, il est prévu un récepteur de lumière de mesure 6 qui est constitué par des extrémités libres de guides de lumière monofibre disposés d'une manière radialement symétrique autour de l'axe médian de l'unité de mesure 2. Les extrémités libres des guides de lumière monofibre sont inclinées ici selon un angle de 45 à la surface de l'objet de mesure M. L'écart des extrémités individuelles à la tache de mesure F est dans ce cas sélectionné de façon que le cône d'observation de chaque guide de lumière monofibre individuel détecte le même tronçon F' de la tache de mesure F. Ce tronçon F' est un peu plus petit que la tache de mesure éclairée F, par quoi la sensibilité de l'agencement peut être fortement diminuée par rapport à des oscillations de l'écart de l'unité de mesure 2 à l'objet de mesure M. Des écarts liés à l'objet de mesure de la régularité spatiale de la lumière réfléchie sont égalisés par
I'agencement.
Les guides de lumière monofibre sont réunis en un faisceau et sont couplés à un emplacement de couplage au voisinage d'un socle arrière de l'unité de mesure 2 à un guide de lumière Y 8. Par celui-ci a lieu la répartition de la lumière de mesure détectée par le récepteur de lumière de mesure 6 à deux spectromètres SP1 et SP2. Ceux-ci sont réalisés respectivement comme spectromètres miniatures avec un récepteur à lignes de diodes 15. Dans ce cas, un spectromètre SP1 couvre la zone UV ainsi que la ll zone de la lumière visible tandis que le deuxième spectromètre SP2 fait suite dans la zone d'ondes longues à la zone de longueurs d'ondes du premier spectromètre SP1, et couvre donc la zone infrarouge proche. Ensemble, les deux spectromètres SP1 et SP2 couvrent une zone de longueurs d'ondes de 350 nm à 2500 nm. Dans les spectromètres SP1, SP2 sont formés pour des zones de longueurs d'ondes différentes respectivement des signaux électriques proportionnels qui sont transmis à une unité électronique 9 logée dans la tête de mesure 1. Dans cette unité électronique 9 est prévue une installation de traitement de signaux 12 dans laquelle a lieu un traitement et, le cas échéant,
également une numérisation des signaux reçus des spectromètres SP1 et SP2.
En outre, il est prévu dans l'unité électronique 9 un interface 13 pour relier le dispositif de mesure à un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe. La transmission des signaux traités peut également avoir lieu par une ligne de signaux appropriée ou aussi par une transmission infrarouge à distance. Le calculateur externe est mis en place, par exemple, dans un poste de mesurage au loin du lieu de mesure. Dans le calculateur externe peuvent être effectués d'autres taches d'évaluation. Dans le cas o seulement des valeurs momentanées sont requises pour l'objet de mesure M à examiner, également un dispositif d'indication pour représenter le résultat de mesure peut suffir, o alors les opérations d'évaluation requises peuvent être effectuées
dans rl'installationdetraitement de signaux 12 à l'endroit des mesurages lui-même.
L'unité électronique 9 comprend en outre un dispositif pour l'alimentation stabilisée en tension 10 de la source de lumière de mesure 3 ainsi qu'un raccordement à une alimentation en courant 14. La commande des différents composants ainsi que la mise en et hors service de la source de lumière de mesure 3 pour effectuer une mesure est assurée par un microprocesseur 11
également logé dans l'unité électronique 9.
Le déroulement de la mesure pour l'obtention spectrale des signaux lors d'une mesure de réflexion sans signal de compensation a lieu d'une manière commandée par microprocesseur en déterminant les signaux suivants. Lorsque la lampe est éteinte, on procède d'une manière synchronisée à une mesure à l'obscurité dans les deux spectromètres SP1 et SP2:
SD1; SD2
Lorsque la lampe est allumée et qu'un standard de blanc est introduit, une mesure à la lumière ou clarté a lieu d'une manière synchronisée dans les deux spectromètres SP1 et SP2:
SW1; SW2.
Lorsque la lampe est allumée et selon l'exigence méthodique respective sans sonde ou avec sonde de noir introduite, il est effectué d'une manière synchrone une mesure additionnelle à la lumière dans les deux spectromètres
SS1; SS2
En outre, lorsque la lampe est allumée, on procède dans les deux spectromètres SP1 et SP2 d'une manière synchrone à une mesure à la lumière à une sonde de mesure introduite:
SP1; SP2.
Les résultats de mesure sont formés comme cela est expliqué ci-après.
Tout d'abord a lieu une correction à l'obscurité par une formation de la différence des signaux spectraux de la mesure à la lumière et de la mesure à l'obscurité ayant précédé si possible directement pour chaque spectromètre, o pour les deux mesures, la même sonde est introduite:
Skorr i= Si - SDi-
L'indice i décrit à la fois le numéro du spectromètre considéré et aussi le
type de sonde commun (W, S, P).
Les signaux corrigés à l'obscurité de la sonde de mesure et de la sonde de blanc sont diminués selon les signaux corrigés à l'obscurité de la sonde de noir, et la différence des signaux de mesure est divisée par la différence du signal blanc. Le quotient est le degré de réflexion de la sonde de mesure relativement à celui de la sonde de blanc: R = SkoprPI Sko-slR = SkorrP,, -SkorrS2 SkorrWl - SkoSI Sko-r2 SkorrS2 Le deuxième exemple de réalisation sur la Fig. 2 représente un autre dispositif de mesure optique qui fonctionne selon le principe de la spectroscopie. Celui-ci est utilisé comme dans le premier exemple de réalisation pour la mesure de la réflexion et se distingue de celui-ci notamment par la réalisation de l'unité de mesure 2 ainsi que par l'utilisation additionnelle de deux autres spectromètres SP3 et SP4 pour la compensation d'oscillations de l'intensité de la lumière de la source de lumière de mesure 3 ainsi que
d'erreurs systématiques lors de la mesure.
L'unité de mesure 2 selon le deuxième exemple de réalisation est réalisée comme sphère intégrante d'Ulbricht 16 qui se trouve avec une ouverture 19 orientée vers l'objet M à un écart défini relativement à l'objet de mesureM. Il est intégré dans la sphère intégrante 16 une source de lumière de mesure 3 sous la forme d'une lampe halogène, et celle-ci est disposée de façon qu'à travers l'ouverture 19 ait lieu un éclairement diffus régulier de la tache de mesure F sur l'objet de mesure M. En outre, un récepteur de lumière de mesure 6 est disposée à la sphère intégrante 16 qui regarde à travers lI'ouverture 19 la tache de mesure F. Dans ce cas, la direction de réception du récepteur de lumière de mesure 6 est inclinée de préférence selon un angle de 8 par rapport à la normale à l'objet de mesure M. La lumière de mesure reçue dans le récepteur de lumière de mesure 6 est guidée par un guide de lumière Y 7 simultanément dans deux spectromètres miniatures SP1 et SP2 qui présentent chacun un récepteur à lignes de diodes 15 pour l'obtention des signaux de mesure. L'agencement et la répartition selon des zones spectrales
correspondent dans ce cas à ceux du premier exemple de réalisation.
En plus du récepteur de lumière de mesure 6, il est prévu à la sphère intégrante 16 un dispositif de réception supplémentaire 17 qui voit directement ni la source de lumière de mesure 3 ni l'objet de mesure M. Au contraire, le dispositif de réception additionnel 17 est orienté vers une face de référence 18 à la paroi intérieure de la sphère intégrante 16. La lumière de référence détectée par le dispositif de réception 17 est de nouveau transmise par un guide de lumière Y 20 à deux spectromètres SP3 et SP4. Les spectromètres SP3 et SP4 correspondent dans leur conception aux spectromètres SP1 et SP2 de telle sorte que les signaux reçus au spectromètre SP3 peuvent être utilisés pour la compensation des signaux reçus par le spectromètre SP1, et les signaux reçus par le spectromètre SP4 pour la compensation des signaux reçus par le spectromètre SP2. Tous les signaux reçus aux spectromètres sont transmis à une unité électronique 9 qui est réalisée de la même manière que dans le premier exemple de réalisation. La formation des résultats de mesure peut avoir lieu dans ce cas dans le calculateur externe déjà mentionné. Cependant, il est également possible de déplacer ces opérations dans
l'installation de traitement de signaux 12 de l'unité électronique 9.
Pour l'obtention des signaux lors d'une mesure de réflexion avec formation de signaux de compensation, les mesures suivantes sont effectuées: la lampe étant éteinte, il est effectué d'une manière synchrone une mesure à l'obscurité dans les deux spectromètres SP1 et SP2 et dans les deux spectromètres SP3 et SP4:
SD1; SD2, SD3, SD4.
La lampe étant allumée et la sonde de blanc étant introduite, on procède à une mesure supplémentaire à la lumière dans tous les quatre spectromètres:
SW; SW2; SW3; SW4.
La lampe étant allumée, et selon l'exigence méthodique sans sonde (avec air) ou avec sonde de noir, on procède à la mesure à la lumière ou clarté dans tous les quatre spectromètres:
Ssl; SS2; SS3; S4.
Enfin, la lampe étant allumée, on procède à une mesure synchrone à la lumière dans tous les quatre spectromètres à une sonde de mesure introduite:
SP1; SP2; SP3; Sp4.
Les résultats de mesure sont formés de la manière suivante: tout d'abord, il y a une correction à l'obscurité par une formation de la différence à partir des signaux spectraux de la mesure à la lumière et de la mesure à l'obscurité si possible directement précédente pour chaque spectromètre et la même sonde:
Skorrj = Si - SDi-
L'indice i décrit de nouveau le numéro du spectromètre et le type de
sonde commun (W; P; S).
Les signaux de mesure corrigés à l'obscurité du spectromètre SP1 sont normalisés aux signaux de compensation corrigés à l'obscurité du spectromètre SP3 et ceux du spectromètre SP2 à ceux de SP4. Dans ce cas, il s'agit toujours de mesures avec une sonde unitaire _ _korP, SOP0 Skorr. ..: _ oW =P SkOrrS2 SPI = 2_P2 =Q _ _ = n.QW2 = k _QS1 = s = S Skorr,P3 Sorrp4 Skorr,3 Skorr,W4 Skor.S3 korr,S4 A partir du quotient des spectromètres appartenant à chaque zone partielle spectrale, le degré de réflexion pour chaque zone partielle est calculé: R = - QPI SI -, R; = On2-QS2 QWI -QS1 QW2 -Qs2 Le troisième exemple de réalisation sur la Fig. 3 représente un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure simultanée de la réflexion et de la transmission, qui présente deux dispositifs de réception opposés, relativement à une tache de mesure F à l'objet de mesure, I'un à l'autre, ou l'un sert à la mesure de la réflexion, I'autre par contre à la mesure de la transmission. Pour la mesure de réflexion, un dispositif de mesure peut être utilisé tel que décrit dans le premier ou le deuxième exemple de réalisation, o sont utilisés pour la mesure de longue portée deux spectromètres. Cela est possible en principe également dans le cas du troisième exemple de réalisation. Pour simplifier la représentation, celui-ci est décrit ici cependant avec respectivement un seul spectromètre pour la mesure de la réflexion et un seul spectromètre pour la mesure de la transmission. Un troisième spectromètre est prévu à des fins de
compensation.
Le dispositif de mesure comprend une première tête de mesure 1 avec une sphère intégrante 16 dont l'ouverture 18 peut être disposée à un écart défini relativement à une tache de mesure F à un objet de mesure. Dans la sphère intégrante 16 est disposée une source de lumière de mesure 3 pour éclairer d'une manière diffuse la tache de mesure F. Conformément à la zone spectrale requise, comme source de lumière de mesure 3 peut être utilisée une lampe halogène, une lampe à xénon ou une lampe à deutérium qui, à des fins de mesure, sont mises en service par phase. Dans les pauses a lieu une mesure à l'obscurité qui est requise pour la compensation d'un décalage
électronique inévitable ainsi que d'éventuelles influences de lumière étrangère.
De la même manière, dans le troisième exemple de réalisation, comme dans les deux exemples de réalisation décrits avant, également un flash à xénon peut être utilisé. Dans les deux cas, un obturateur mécanique pour la mesure à
l'obscurité n'est plus requis.
A la paroi de la sphère intégrante 16 sont prévus de nouveau, comme dans le deuxième exemple de réalisation, un récepteur de lumière de mesure 6 ainsi qu'un dispositif de réception 17 qui sont reliés chacun par un dispositif de
guidage de lumière propre 23 à un spectromètre SP1 respectivement SP3.
Pour atteindre une qualité élevée des signaux, les dispositifs de guidage de lumière 23 sont de nouveau courts, et auront de préférence une longueur inférieure à 20 cm. Comme spectromètres SP1, SP3 sont utilisés également ici de nouveau des spectromètres miniatures avec des récepteurs à lignes de diodes 15 qui, comme la sphère intégrante 16 et les dispositifs de guidage de
lumière 23, sont disposés dans la première tête de mesure 1.
Pour commander la source de lumière de mesure 3 et pour le traitement des signaux et pour la liaison avec un calculateur externe respectivement un dispositif indicateur externe, il est disposé en outre une unité électronique 9 dans la tête de mesure 1 qui est réalisée d'une manière correspondante à celle
du deuxième exemple de réalisation.
Pour la mesure de la transmission, il est prévu une deuxième tête de mesure 21 qui présente un récepteur de lumière de mesure additionnel 22 orienté vers la tache de mesure F. Celui-ci se situe pendant une opération de mesure sur le côté de la tache de mesure F opposé à l'ouverture 19 de la sphère intégrante 16. La lumière de mesure du récepteur de lumière de mesure 22 de la deuxième tête de mesure 21 est introduite dans un spectromètre SPI' séparé, disposé dans la deuxième tête de mesure 21, à récepteur à lignes de diodes 15, o le couplage optique a lieu par un dispositif de guidage de lumière 23. Il est prévu dans la deuxième tête de mesure 21 une unité électronique 9 qui, à part une installation de traitement de signaux et un interface pour la transmission des données à un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe, présente en outre un microprocesseur pour la commande de la communication avec le calculateur externe respectivement le dispositif
d'indication externe (non représenté en détail).
Les deux têtes de mesure 1 et 21 sont ajustées l'une relativement à l'autre dans un bâti fixe ou sont déplaçables d'une manière synchrone dans une traverse double. Par la miniaturisation des spectromètres, la masse des têtes de mesure individuelles reste réduite de telle sorte que dans le cas de forces d'accélération réduites, une dynamique de mesure élevée est assurée. o0 Dans l'exemple de réalisation représenté, le calculateur externe déjà mentionné commande la coopération des deux têtes de mesure 1 et 21 lors des déroulements de mesure, stocke les signaux de mesure détectés et traités
dans les têtes de mesure et produit les résultats de mesure à partir de ceux-ci.
Pour une mesure de réflexion et de transmission combinée, tout d'abord
les signaux suivants sont détectés.
La lampe étant éteinte (ou le cas échéant il n'y a pas de flash), on procède d'une manière synchrone à une mesure à l'obscurité dans les trois spectromètres SP1, SP3 et SPI' des deux têtes de mesure 1 et 21. Celle-ci peut avoir lieu, en vue d'une actualisation permanente, selon un nombre de fois au choix (en principe avant chaque mesure à la clarté ou lumière):
SD1; SDI'; SD3.
La lampe étant allumée (ou le cas échéant pendant le flash) dans la tête de mesure de réflexion et sans sonde (R), on procède d'une manière synchrone à une mesure à la lumière dans les trois spectromètres des deux têtes de mesure: SIl; SH1; SH3 La lampe étant allumée et un standard de blanc étant introduit, on procède d'une manière synchrone à une autre mesure à la lumière avec les deux spectromètres SP1 et SP3 de la tête de mesure de réflexion:
SW1; Sw3.
Lors d'une exigence méthodique spéciale, on procède avec la lampe allumée et un standard de noir introduit, d'une manière synchrone à une mesure à la lumière ou clarté avec les deux spectromètres de la tête de mesure de réflexion: SS1; Ss3 Enfin, la lampe étant allumée et la sonde de mesure étant introduite, on procède à une mesure synchrone à la lumière dans les trois spectromètres des deux têtes de mesure:
Spi; Spil; Sp3.
Les résultats de mesure sont alors formés de la manière suivante: tout d'abord, on procède de nouveau à une correction à l'obscurité par la formation de la différence à partir des signaux spectraux de la mesure à la clarté ou lumière et de la mesure à l'obscurité directement précédente du spectromètre respectif. Une correction exacte est assurée lorsque chaque mesure à la lumière est précédée directement d'une mesure à l'obscurité avec la même sonde (air, blanc, noir, mesure). Ainsi est assurée l'actualité la plus grande possible des signaux d'obscurité: Skoor, i = Si- SDi
(i indique les différentes sondes et spectromètres).
Les signaux de mesure corrigés à l'obscurité dans les deux têtes de mesure lors de la mesure sans sonde (air) sont normalisés au signal de compensation corrigé à l'obscurité (formation de quotient). Les signaux normalisés ne contiennent généralement pas d'oscillation d'intensité temporaire de la lampe et compensent lors de la mesure de la réflexion l'erreur de sphère systématique inévitable. Le signal normalisé de la mesure de transmission est utilisé ensuite comme signal de référence (100% T) pour les mesures de transmission à sonde suivantes. Le signal normalisé de la mesure de réflexion
peut être utilisé en outre comme signal de référence de noir (0% R).
= Q r;OQ3 -Orr Skorfr3 SonIf 3 Le signal de mesure corrigé à l'obscurité de la tête de mesure de réflexion lors de la mesure avec le standard de blanc est normalisé au signal de compensation associé, corrigé à l'obscurité. Le signal normalisé de la mesure de réflexion est utilisé ensuite comme signal de référence de blanc (100% R): S orrW 1 Qr - S korrW 3 Lors d'une exigence méthodique spéciale, le signal de mesure corrigé à l'obscurité peut être normalisé lors de la mesure avec le standard de noir au signal de compensation associé corrigé à l'obscurité et peut être utilisé pour la
mesure de la réflexion comme signal de référence de noir spécial (0% R).
=S kor"S 1 S korrS 3 Les signaux de mesure corrigés à l'obscurité dans les deux têtes de mesure lors de la mesure à sonde sont normalisés au signal de compensation corrigé à l'obscurité. Le signal normalisé de la mesure de transmission est rapporté au signal de référence stocké (100% T) . Le quotient représente le degré de transmission de la sonde par rapport à l'air. Le signal normalisé de la mesure de réflexion est diminué du signal de référence de noir (formation de différence) et est rapporté à la différence des signaux de référence de blanc et de noir stockés. Le quotient représente le degré de réflexion de la sonde par rapport aux standards de blanc et de noir utilisés: s s QP1 = T/.orPt;QPI'=-s konP3 korrP3 T- QEL DR =QPI -Qffl oderR = QPI - Qs Q-, Q_ oQ, -dQs Le quatrième exemple de réalisation sur la Fig. 4 représente un dispositif de mesure spectroscopique pour la mesure de la transmission avec obtention du signal de compensation. Il comprend deux têtes de mesure 1 et 21 qui sont disposées de part et d'autre d'un objet de mesure M. Dans ce cas, la partie d'éclairage y compris les composants pour la mesure de compensation sont disposés dans une première tête de mesure I tandis que la deuxième tête de mesure 21 présente les composants pour la détection de la lumière de mesure et l'analyse. Les deux têtes de mesure 1 et 21 sont ajustées l'une relativement à l'autre dans un bâti fixe ou sont disposées dans une traverse double déplaçable transversalement. Dans ce cas, la première tête de mesure 1 correspond essentiellement à la première tête de mesure du deuxième exemple de réalisation, o uniquement les spectromètres SP1 et SP2 requis pour la mesure de la réflexion ainsi que le récepteur de lumière de mesure
associé 6 sont omis.
Par conséquent, la sphère intégrante 16 prévue dans la première tête de mesure 1 comprend uniquement une source de lumière de mesure 3 ainsi qu'un dispositif de réception 17 qui est dirigé sur une face de référence 18 à la surface intérieure de la sphère intégrante. La lumière détectée de la face de référence 18 est introduite par un guide de lumière Y court 20 dans deux spectromètres SP3 et SP4, o le premier couvre la zone UV ainsi que la zone de la lumière visible, le dernier par contre la zone infrarouge proche. En outre, il est prévu dans la première tête de mesure 1 de nouveau une unité électronique 9 avec une installation de traitement de signaux 12, un interfacé 13 et une alimentation en tension stabilisante 10 de la source de lumière de mesure 3 qui
sont gérés par un microprocesseur 11.
La détection de la lumière de mesure proprement dite qui est rayonnée à travers l'ouverture 19 de la sphère intégrante 16 sur la tache de lumière de mesure F, a lieu par un récepteur de lumière de mesure disposé à la deuxième tête de mesure 21 coaxialement à l'ouverture 19. La lumière de mesure détectée par celui-ci est couplée par un dispositif de guidage de lumière 23 sous la forme d'un guide de lumière Y court simultanément dans deux spectromètres SP1 et SP2 qui sont réalisés ici de nouveau comme spectromètres miniatures avec un récepteur à lignes de diodes 15. Dans ce cas, le premier spectromètre SP1 couvre la même plage de fréquence que le spectromètre associé SP3 dans la première tête de mesure 1. La même chose vaut pour le deuxième spectromètre SP2 par rapport au spectromètre SP4
disposé dans la première tête de mesure.
L'unité électronique 9 prévue dans la deuxième tête de mesure 21 assure ici le traitement des signaux ainsi que la communication avec un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe, o le traitement des signaux et la communication externe sont commandés par le microprocesseur
1 1. Les deux unités électroniques 9 sont accordées par le calculateur externe.
Ce faisant, I'obtention des signaux a lieu de la manière suivante: La lampe étant éteinte, on procède d'une manière synchrone à une mesure à l'obscurité dans les deux spectromètres SP1 et SP2 et dans les deux spectromètres SP3 et SP4:
SD1; SD2; SD3; SD4,
La lampe étant allumée, on procède selon l'exigence méthodique dans l'air (sans sonde) ou avec une sonde de référence prédéfinie d'une manière synchrone à une mesure à la lumière dans tous les quatre spectromètres:
SH1; SH2; SH3; SH4.
La lampe étant allumée et la sonde de mesure étant introduite, on procède d'une manière synchrone à une autre mesure à la lumière dans tous les quatre spectromètres:
SP1; SP2; SP3; Sp4.
Les résultats de mesure sont alors formés de la manière suivante: tout d'abord, on procède à une correction à l'obscurité par la formation de la différence à partir des signaux spectraux de la mesure à la lumière et de la mesure à l'obscurité si possible directement précédente pour chaque spectromètre, o dans les deux mesures, la même sonde est introduite: Skorri = Si - SDi L'indice i décrit à la fois le numéro du spectromètre et aussi le type de
sonde commun (H, P).
Les signaux de mesure corrigés à l'obscurité du spectromètre SP1 sont normalisés aux signaux de compensation corrigés à l'obscurité du spectromètre SP3 et ceux du spectromètre SP2 à ceux du spectromètre SP4. Ce faisant, les signaux d'un type de sonde commun sont considérés: ',rr Pl SkorrP2 SkOrr.H; SkrrRff2 QPI =,. Qp2 kr.V;QP S;QHI. So,., 0 Q2 =,r= S 30.Skr... OrrP3 k4 k,3 kcrr 4 A partir des quotients des spectromètres appartenant à chaque zone partielle spectrale, on calcule enfin le degré de transmission de la sonde pour les zones partielles: ri = QT QP; T2 = QP2
T T 2QH
I 2t,
Claims (18)
1. Dispositif de mesure optique pour déterminer des qualités d'objets de mesure, notamment pour la surveillance de la qualité d'objets de mesure s'écoulant et/ou déplacés continuellement devant le dispositif de mesure, caractérisé en ce qu'il comprend: - une tête de mesure (1) positionnée dans une position définie relativement à l'objet de mesure (M), - une source de lumière de mesure (3) reliée à la tête de mesure (1) pour l'éclairage d'une tache de mesure (F) à l'objet de mesure (M), - un récepteur de lumière de mesure (6) prévu dans la tête de mesure (1) pour détecter la lumière de la zone de la tache de mesure (F), - au moins un spectromètre couplé optiquement avec le récepteur de lumière de mesure (6) et intégré dans la tête de mesure (1) et - une installation de traitement de signaux (12) intégrée également dans la tête de mesure (1) pour le traitemer:t des signaux de départ d'au moins un
spectromètre précité.
2. Dispositif de mesure optique selon la revendication 1, caractérisé en ce que la tête de mesure (1) comprend deux spectromètres (SP1, SP2) qui sont réalisés pour des zones de longueurs d'ondes avoisinantes, par quoi de préférence des longueurs d'ondes de 350 nm jusqu'à 2500 nm peuvent être appréciées sans lacune, et o les deux spectromètres (SP1, SP2) coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure (6) et sont couplés optiquement
avec celui-ci par un guide de lumière Y (8).
3. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 ou 2,
caractérisé en ce qu'il est prévu à la tête de mesure (1) un interface (13) vers
un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe.
4. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 3,
caractérisé en ce qu'il est prévu dans la tête de mesure (1) une sphère intégrante (16) avec une ouverture (19) dirigée sur la tache de mesure (F) , o la source de lumière de mesure (3) et le récepteur de lumière de mesure (6) sont reliés à la sphère intégrante (16) de façon que la lumière de mesure soit dirigée indirectement à travers l'ouverture (19) sur la tache de mesure (F) et la lumière partant de la tache de mesure (F) directement sur la face de réception
du récepteur de lumière de mesure (6).
5. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 4,
caractérisé en ce qu'il est associé à chaque spectromètre présent (SP1, SP2) en plus un deuxième spectromètre (SP3, SP4) similaire en ce qui concerne les zones de mesure, o les spectromètres additionnels (SP3, SP4) sont prévus
pour l'évaluation de la lumière provenant d'une face de référence (18).
6. Dispositif de mesure optique selon la revendication 5, caractérisé en ce que la face de référence (18) se trouve à un tronçon de paroi intérieure de la o sphère intégrante (16), et que les spectromètres additionnels (SP3, SP4) sont couplés optiquement par un guide de lumière Y (20) à un dispositif de réception (17).
7. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 6,
caractérisé par - une deuxième tête de mesure (21) positionnée dans une position définie à l'objet de mesure (M), o la première tête de mesure (1) et la deuxième tête de mesure (21) s'opposent diamétralement relativement à la tache de mesure (F), et la deuxième tête de mesure (21) avec un deuxième récepteur de lumière de mesure (22) est prévue pour la réception de la lumière transmise dans la zone de la tache de mesure (F) par l'objet de mesure (M), - au moins un spectromètre additionnel (SP1', SP2') reçu dans la deuxième tête de mesure (21) qui est couplé optiquement par un dispositif de guidage de lumière (23) avec le récepteur de lumière de mesure (22) et - une installation de traitement de signaux intégrée également dans la deuxième tête de mesure (21) pour le traitement des signaux émis par le
spectromètre additionnel (SP1', SP2').
8. Dispositif de mesure optique selon la revendication 7, caractérisé en ce que deux spectromètres (SP1', SP2') sont reçus dans la deuxième tête de mesure (21) qui sont réalisés pour des zones de longueurs d'ondes avoisinantes l'une à l'autre, par quoi de préférence des longueurs d'ondes de 350 nm jusqu'à 2500 nm peuvent être évaluées sans lacune, et o les deux spectromètres (SP1', SP2') coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure et sont couplés optiquement avec celui-ci par un dispositif de guidage
de lumière (23).
9. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 7 ou 8,
caractérisé en ce qu'il est prévu à la deuxième tête de mesure (21) un interface s de données (13) à un calculateur externe et/ou un dispositif d'indication externe.
10. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 7 à 9,
caractérisé en ce que les signaux de départ des spectromètres additionnels (SP3, SP4) dans la première tête de mesure (1) sont liés en vue d'une io compensation des signaux aux signaux des spectromètres additionnels (SP1',
SP2') se trouvant dans la deuxième tête de mesure (21).
11. Dispositif de mesure optique pour la détermination de caractéristiques d'objets de mesure, notamment pour la surveillance de la qualité d'objets de mesure s'écoulant et/ou déplacés continuellement devant le 1 5 dispositif de mesure, comprenant: - une première tête de mesure (1) positionnée dans une position définie à l'objet de mesure (M), - une source de lumière de mesure (3) reliée à la première tête de mesure (1) pour l'éclairage d'une tache de mesure (F) à l'objet de mesure (M), - une deuxième tête de mesure (21) positionnée dans une position définie à l'objet de mesure (M), qui est opposée diamétralement à la première tête de mesure (1) relativement à la tache de mesure (F), - un récepteur de lumière de mesure (22) prévu à la deuxième tête de mesure (21) pour la détection de la lumière dans la zone de la tache de mesure
(F),
- au moins un spectromètre (SPI', SP2') intégré dans la deuxième tête de mesure (21), couplé optiquement avec le récepteur de lumière de mesure (22) et - une installation de traitement de signaux (12) intégrée également dans la deuxième tête de mesure (21) pour le traitement des signaux de départ d'au
moins un spectromètre précité (SPI', SP2').
12. Dispositif de mesure optique selon la revendication 11, caractérisé en ce que sont reçus dans la deuxième tête de mesure (21) deux spectromètres (SP1', SP2') qui sont réalisés pour des zones de longueurs d'ondes avoisinantes, par quoi de préférence des longueurs d'ondes de 350 nm jusqu'à 2500 nm peuvent être évaluées sans lacune, et o les deux spectromètres (SP1', SP2') coopèrent avec le même récepteur de lumière de mesure (22) et sont couplés optiquement avec celui-ci par un dispositif de
guidage de lumière (23).
13. Dispositif de mesure optique selon la revendication 11 ou 12, caractérisé en ce qu'il est prévu pour chaque spectromètre (SP1', SP2') dans la deuxième tête de mesure (21) additionnellement un deuxième spectromètre (SP3, SP4) similaire en ce qui concerne la zone de mesure, dans la première tête de mesure (1), o les spectromètres additionnelles (SP3, SP4) sont prévus
pour l'évaluation de la lumière provenant d'une face de référence (18).
14. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 11 à 13,
caractérisé en ce qu'il est prévu dans la tête de mesure (1) une sphère intégrante (16) avec une ouverture (19) dirigée sur la tache de mesure (F) , o la source de lumière de mesure (3) et le récepteur de lumière de mesure (6) sont reliés à la sphère intégrante (16) de façon que la lumière de mesure soit dirigée indirectement à travers l'ouverture (19) sur la tache de mesure (F) et la lumière partant de la tache de mesure (F) directement sur la face de réception du récepteur de lumière de mesure, et qu'il est prévu à la sphère intégrante (16) en outre un dispositif de réception (17) qui est couplé optiquement par un guide de lumière Y (20) avec les spectromètres (SP3, SP4) et o la face de référence (18) se trouve à un tronçon de paroi intérieur de la sphère intégrante (16).
15. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 11 à 14,
caractérisé en ce qu'il est prévu aux deux têtes de mesure (1, 21) respectivement un interface (13) à un calculateur externe et/ou un dispositif
d'indication externe.
16. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 15,
caractérisé en ce que les dispositifs de guidage de lumière (23) sont formés par
des fibres de guidage de lumière.
17. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 16,
caractérisé en ce que les spectromètres (SP1, SP2, SP3, SP4, SPI', SP2') sont réalisés comme spectromètres miniatures avec des récepteurs à lignes de diodes (15).
18. Dispositif de mesure optique selon l'une des revendications 1 à 17,
caractérisé en ce que la source de lumière de mesure (3) peut être mise en et
hors service.
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