FR2639171A1 - Reacteur a plasma - Google Patents

Reacteur a plasma Download PDF

Info

Publication number
FR2639171A1
FR2639171A1 FR8909380A FR8909380A FR2639171A1 FR 2639171 A1 FR2639171 A1 FR 2639171A1 FR 8909380 A FR8909380 A FR 8909380A FR 8909380 A FR8909380 A FR 8909380A FR 2639171 A1 FR2639171 A1 FR 2639171A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
chamber
plasma
plasma reactor
specimen
magnetic field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8909380A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2639171B1 (fr
Inventor
Isamu Hijikata
Akira Uehara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Publication of FR2639171A1 publication Critical patent/FR2639171A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2639171B1 publication Critical patent/FR2639171B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

Un réacteur à plasma comprend une chambre 3, un specimen P tel qu'une tranche ou similaire supporté dans la chambre, un dispositif 2 pour engendrer un plasma dans la chambre, et au moins une bobine électromagnétique 9 disposée coaxialement autour de la chambre 3. Le spécimen P est supporté parallèlement à un champ magnétique engendré par la bobine électromagnétique 9. Des particules chargées de haute densité de haute énergie dans le plasma viennent en collision perpendiculairement à la surface du spécimen P pour traiter le spécimen par gravure ou similaire.

Description

1 2639171
REACTEUR A PLASMA
La présente invention concerne un réacteur à plasma destiné à traiter un objet tel qu'une tranche de semi-conducteur ou similaire par un traitement de gravure
ou similaire.
Il existe des appareils divers connus pour traiter des objets de différentes manières par réaction plasma tels que ceux décrits dans les publications de brevets japonais ne
50-9545, 53-34462; 53-44595, et 59-39508, par exemple.
Dans ces appareils connus, un plasma est soumis à un champ électromagnétique pour engendrer un plasma de haute densité, de haute énergie, même dans une zone à faible pression de gaz. Un objet peut être gravé, par exemple, dans le plasma ainsi engendré en vue d'une gravure
anisotrope avec une gravure latérale ou gravure sous-
jacente plus faible.
La vitesse de gravure est plus élevée et la gravure latérale ou gravure sous-jacente est plus faible avec l'appareil décrit qu'avec d'autres appareils classiques dans lesquels aucun champ électromagnétique n'est appliqué au plasma. Il existe pourtant une demande pour un appareil qui puisse traiter des objets à une vitesse de gravure plus élevée et avec une gravure
latérale plus faible.
C'est un but de la présente invention de réaliser un réacteur à plasma pour traiter de façon
efficace un objet.
Selon la présente invention, on réalise un réacteur à plasma comprenant une chambre, des moyens pour engendrer un plasma dans la chambre, des moyens pour engendrer un champ magnétique dans une chambre, et des moyens de support disposés dans la chambre pour supporter un spécimen à traiter, parallèle au champ magnétique
engendré.
2 2639171
Les buts, détails et avantages précédents de la présente invention, ainsi que d'autres, apparaîtront de
la description détaillée qui suit de modes de réalisation
préférés de celle-ci, en relation avec les dessins annexes. La FIG.1 est une vue en coupe transversale d'un réacteur à plasma selon un mode de réalisation de la
présente invention; -
La FIG. 2 est une vue en perspective fragmentaire représentant la manière dont le réacteur à plasma représenté à la FIG. 1 fonctionne; Les FIG. 3 et 4 sont des vues en coupe transversales de réacteurs à plasma selon d'autres modes
de réalisation de la présente invention.
La FIG. 1 représente en coupe transversale un réacteur à plasma selon un mode de réalisation de la présente invention. Le réacteur à plasma comprend une chambre 3, en quartz synthétique ou similaire, et disposée dans un guide d'onde 1 associé à un oscillateur d'hyperfréquence 2 qui engendre une micro-onde possédant une fréquence de 2,45 GHz. Le guide d'onde 1 et la chambre 3 sont fermés sur un côté par une tête 4 dans laquelle sont montées une tubulure de sortie 5 reliée à une source de vide et une tubulure d'entrée de gaz 6 reliée à une source de gaz de réaction. La tête 4 comporte un trou de passage 7 à travers lequel est mobile horizontalement un support 8 susceptible d'entrer et de sortir de la chambre 3. Un spécimen P tel qu'une tranche
de silicium est placé sur le support 8.
Le support 8 est relié électriquement à une alimentation de puissance de haute fréquence 10 qui produit une énergie électrique comportant une fréquence de 13,56 MHz. Une bobine électromagnétique 9 est disposée autour du guide d'onde 1 en relation coaxiale avec le guide d'onde 1 et la chambre 3, de façon qu'un champ magnétique engendré dans la chambre 3 par la bobine
3 2639171
électromagnétique 9 s'étende en parallèle au spécimen P
sur le support 8.
En fonctionnement, la chambre 3 est évacuée par la source de vide à travers la tubulure de sortie 5 et un gaz de réaction tel qu'un gaz de gravure est introduit dans la chambre 3 à partir de la source de gaz de réaction par la tubulure d'entrée de gaz 6. L'oscillateur d'hyperfréquence 2 est excité pour appliquer une hyperfréquence à la chambre 3 et l'alimentation de puissance à haute fréquence 10 est excitée pour appliquer
une puissance électrique de haute fréquence au support 8.
En même temps, la bobine électromagnétique 9 est excitée pour engendrer un champ magnétique statique dans la chambre 3. Puis, un plasma de haute densité et de haute énergie est engendré dans la chambre 3, et des électrons tournent autour des lignes magnétiques de force comme représenté à la FIG. 2. Le mouvement tournant des électrons amène des électrons et des ions actifs du plasma à entrer en collision perpendiculairement à la surface du spécimen P pour graver de cette façon le
spécimen P ou y déposer un film de façon très efficace.
La FIG. 3 représente un réacteur à plasma selon un autre mode de réalisation de la présente invention. Le
réacteur à plasma représenté à la FIG. 3 comprend trois.
bobines électromagnétiques 9 disposées autour d'un guide d'onde 1 pour traiter uniformément un spécimen P placé sur un support 8 dans une chambre 3. Le nombre de bobines
électromagnétiques 9 peut être choisi librement.
La FIG. 4 représente un réacteur à plasma selon un autre mode de réalisation de la présente invention. Le réacteur à plasma représenté à la.FIG. 4 n'emploie pas de guide d'onde, mais possède une électrode supérieure 11 disposée dans une paroi supérieure de la chambre 3 et attachée à celle-ci, l'électrode 11 étant mise à la masse. Un support 8 disposé dans la chambre 3 sert d'électrode inférieure. Un plasma est engendré entre les
4 2639171
électrodes supérieure et inférieure 11, 8 dans la chambre 3. Les réacteurs à plasma représentés aux FIG. 3 et 4 fonctionnent sensiblement de la même manière que les réacteurs à plasma représentés aux FIG. 1 et 2. Le tableau 1 ci-dessous donne les résultats d'essais menés sur des réacteurs à plasma classiques et sur le réacteur à plasma représenté à la FIG. 1, et le tableau 2 ci-dessous indique les résultats d'essais menés sur des réacteurs à plasma classiques et sur le réacteur
à plasma représenté à la FIG. 4.
Bien que l'on ait décrit les modes de réalisation que l'on considère actuellement comme préférés de la présente invention, il faut comprendre que l'invention peut être réalisée sous d'autres formes spécifiques sans s'écarter de ses caractéristiques essentielles. Les modes de réalisation présents doivent donc à tous points de vue être considérés à titre d'exemple et non à titre restrictif. Le cadre de
l'invention est indiqué par les revendications annexées
et non par la description qui précède.
Tableau 1
Sans champ Avec champ Avec champ magnétique magnétique magnétique (non parallèle) (parallèle: exemple de l'invention) Vitesse de gravure PolySi (A/min.) 197 707 924 Vitesse de gravure SiO2 (A/min.) 105 66 117 Condition gravée Forte gravure Faible gravure Sans gravure latérale latérale latérale Les essais sont menés dans les conditions suivantes: Gaz de gravure: SF4 (10 cm3 standard/min.) F114 (20 cm3 standard/min.) Puissance de micro-onde: 200 W Puissance électrique de haute fréquence: 100 W Pression: 8 m torr Champ magnétique: 800 gauss
Tableau 2
Sans champ Avec champ Avec champ magnétique magnétique magnétique (non parallèle) (parallèle: exemple de l'invention) Vitesse de gravure PolySi (A/min.) 103 465 710 Vitesse de gravure SiO2 (A/min.) 93 115 253 Condition gravée Forte gravure Faible gravure Sans gravure latérale latérale latérale Les essais sont menés dans les conditions suivantes: Gaz de gravure: SF4 (10 cm3 standard/min.) F114 (20 cm3 standard/min.) Puissance électrique de haute fréquence: 75 W Pression: 8 m torr Champ magnétique: 800 gauss no
7 2639171

Claims (5)

REVENDICATIONS
1. Réacteur à plasma comprenant: une chambre (3); des moyens (2) pour engender un plasma dans ladite chambre; des moyens (9) pour engendrer un champ magnétique dans ladite chambre; et des moyens de support (8) disposés dans ladite chambre (3) pour supporter un spécimen (P) à traiter parallèle
au champ magnétique engendré.
2. Réacteur à plasma selon la revendication 1, dans lequel lesdits moyens (9) pour engendrer un champ magnétique
comprennent au moins une bobine électromagnétique.
3. Réacteur à plasma selon la revendication 2, dans lequel ladite bobine électromagnétique (9) est disposée
coaxialement autour de ladite chambre (3).
4.'Réacteur à plasma selon la revendication 1, comprenant de plus un guide d'onde (1) o est. logée ladite chambre, qui est associé à un oscillateur d'hyperfréquence, une source de vide et une source de gaz réactif qui sont reliées à ladite chambre (3), et une alimentation en puissance de haute
fréquence (10) reliée aux dits moyens de support (8).
5. Réacteur à plasma selon la revendication 1, dans lequel lesdits moyens (2) pour engendrer un plasma comprennent une électrode (11) reliée à la masse et une électrode (8) reliée à une alimentation de puissance à haute fréquence (10),
lesdites électrodes étant disposées dans ladite chambre (3).
FR8909380A 1988-07-12 1989-07-12 Reacteur a plasma Expired - Fee Related FR2639171B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63173516A JPH0223613A (ja) 1988-07-12 1988-07-12 プラズマ反応装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2639171A1 true FR2639171A1 (fr) 1990-05-18
FR2639171B1 FR2639171B1 (fr) 1996-03-15

Family

ID=15961974

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8909380A Expired - Fee Related FR2639171B1 (fr) 1988-07-12 1989-07-12 Reacteur a plasma

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4946537A (fr)
JP (1) JPH0223613A (fr)
FR (1) FR2639171B1 (fr)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5230317A (en) * 1989-11-29 1993-07-27 Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha Single overhead cam multi-valve engine
JP2973472B2 (ja) * 1990-03-08 1999-11-08 ヤマハ株式会社 プラズマcvd装置
RU2030811C1 (ru) * 1991-05-24 1995-03-10 Инженерный центр "Плазмодинамика" Установка для плазменной обработки твердого тела
US5468296A (en) * 1993-12-17 1995-11-21 Lsi Logic Corporation Apparatus for igniting low pressure inductively coupled plasma
US5696428A (en) * 1995-06-07 1997-12-09 Lsi Logic Corporation Apparatus and method using optical energy for specifying and quantitatively controlling chemically-reactive components of semiconductor processing plasma etching gas
WO2010120810A1 (fr) * 2009-04-14 2010-10-21 Rf Thummim Technologies, Inc. Procédé et appareil pour l'excitation de résonances dans des molécules
CA2830480A1 (fr) 2010-03-17 2011-09-22 Rf Thummim Technologies, Inc. Methode et dispositif de production electromagnetique d'une perturbation dans un milieu avec resonance simultanee des ondes acoustiques creees par la perturbation
RU174287U1 (ru) * 2017-05-10 2017-10-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Институт теоретической и экспериментальной физики имени А.И. Алиханова Национального исследовательского центра "Курчатовский институт" Стабилизированный источник газовых ионов

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4668365A (en) * 1984-10-25 1987-05-26 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for magnetron-enhanced plasma-assisted chemical vapor deposition

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5335779B2 (fr) * 1973-05-31 1978-09-28
JPS5334462A (en) * 1976-09-13 1978-03-31 Toshiba Corp Operation method for accumulating tube
JPS5344795A (en) * 1976-10-05 1978-04-21 Toshiba Corp Fuel assembly
JPS5939508A (ja) * 1982-08-30 1984-03-03 日本鋼管株式会社 溶融金属排出装置の摺動ノズル煉瓦の製造方法
JPH0693447B2 (ja) * 1983-12-23 1994-11-16 株式会社日立製作所 マイクロ波プラズマ処理装置
EP0173583B1 (fr) * 1984-08-31 1990-12-19 Anelva Corporation Appareil de décharge
JPH0650724B2 (ja) * 1984-11-15 1994-06-29 株式会社日立製作所 低温プラズマ電磁界制御機構
JPH0666296B2 (ja) * 1985-09-20 1994-08-24 株式会社日立製作所 プラズマ処理装置
US4668338A (en) * 1985-12-30 1987-05-26 Applied Materials, Inc. Magnetron-enhanced plasma etching process
US4738761A (en) * 1986-10-06 1988-04-19 Microelectronics Center Of North Carolina Shared current loop, multiple field apparatus and process for plasma processing

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4668365A (en) * 1984-10-25 1987-05-26 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for magnetron-enhanced plasma-assisted chemical vapor deposition

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY: PART A. vol. 3, no. 6, décembre 1985, NEW YORK US pages 2135 - 2140; T.H. Yuzuriha et al.: "Magnetic field effects in the plasma-enhanced chemical vapor deposition of boron nitride" *

Also Published As

Publication number Publication date
US4946537A (en) 1990-08-07
JPH0223613A (ja) 1990-01-25
FR2639171B1 (fr) 1996-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5006220A (en) Electrode for use in the treatment of an object in a plasma
US6375860B1 (en) Controlled potential plasma source
KR101183047B1 (ko) 플라즈마 처리 장치
JP2004535672A5 (fr)
KR970003557A (ko) 재료 처리용 이중 주파수의 용량성 결합 플라즈마 리액터
KR19980079752A (ko) 이온화 스퍼터링장치
JP2001500322A (ja) 均一でかつ与える損傷が少なくかつ異方的な処理のための装置と方法
KR19990022731A (ko) 감소된 입자 오염도를 갖는 플라즈마 처리 시스템
KR920020614A (ko) 플라즈마를 이용하는 처리장치
FR2639171A1 (fr) Reacteur a plasma
JPH06283470A (ja) プラズマ処理装置
JPH057861B2 (fr)
TW200823977A (en) Plasma doping method and plasma doping apparatus
US4461237A (en) Plasma reactor for etching and coating substrates
CA2207655A1 (fr) Procede et appareil pour produire un plasma, par induction haute frequence
KR100269552B1 (ko) 플라즈마 처리 장치
US5210055A (en) Method for the plasma treatment of semiconductor devices
JPS61226925A (ja) 放電反応装置
KR960005803A (ko) 스패터링 방법 및 그에 이용되는 장치
MXPA03008615A (es) Metodo de tratamiento de superficie por plasma y dispositivo para la aplicacion de dicho metodo.
JPH0837097A (ja) プラズマ処理装置
JP4384295B2 (ja) プラズマ処理装置
JP3335762B2 (ja) プラズマクリーニング方法
JPS62252943A (ja) 高周波プラズマエツチング装置
FR2775986A1 (fr) Procede et installation de traitement de surface d'une piece metallique

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse