FR2382074A1 - Procede d'ecriture dans un transistor de memorisation comprenant une double couche dielectrique de porte - Google Patents

Procede d'ecriture dans un transistor de memorisation comprenant une double couche dielectrique de porte

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FR2382074A1
FR2382074A1 FR7805312A FR7805312A FR2382074A1 FR 2382074 A1 FR2382074 A1 FR 2382074A1 FR 7805312 A FR7805312 A FR 7805312A FR 7805312 A FR7805312 A FR 7805312A FR 2382074 A1 FR2382074 A1 FR 2382074A1
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writing
double dielectric
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Klaus Wilmsmeyer
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TDK Micronas GmbH
ITT Inc
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Deutsche ITT Industries GmbH
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/04Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
    • G11C16/0466Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells with charge storage in an insulating layer, e.g. metal-nitride-oxide-silicon [MNOS], silicon-oxide-nitride-oxide-silicon [SONOS]

Abstract

La présente invention concerne un procédé d'écriture dans un transistor de mémorisation comprenant une double couche diélectrique de porte. Ce procédé s'applique à un transistor de mémorisation comprenant un substrat 2, une zone de source 3, une zone de drain 4, une couche d'oxyde 5 et une couche de nitrure 6. Outre l'application classique d'une tension d'écriture entre l'électrode de porte 1 et le substrat 2, la présente invention prévoit l'application d'un potentiel de même polarité entre l'électrode de source 7 et le substrat 2. Application à l'augmentation de la rapidité d'écriture dans des transistors de mémorisation.
FR7805312A 1977-02-25 1978-02-24 Procede d'ecriture dans un transistor de memorisation comprenant une double couche dielectrique de porte Pending FR2382074A1 (fr)

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DE19772708101 DE2708101A1 (de) 1977-02-25 1977-02-25 Verfahren zum schreiben eines speichertransistors mit gate-isolierdoppelschicht

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FR2382074A1 true FR2382074A1 (fr) 1978-09-22

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FR7805312A Pending FR2382074A1 (fr) 1977-02-25 1978-02-24 Procede d'ecriture dans un transistor de memorisation comprenant une double couche dielectrique de porte

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US4456978A (en) * 1980-02-12 1984-06-26 General Instrument Corp. Electrically alterable read only memory semiconductor device made by low pressure chemical vapor deposition process

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2232765A1 (de) * 1971-07-06 1973-01-18 Ibm Monolithisch integrierbare speicherzelle und verwendung derselben zum aufbau eines datenspeichers
US3882469A (en) * 1971-11-30 1975-05-06 Texas Instruments Inc Non-volatile variable threshold memory cell

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EXBK/74 *

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DE2708101A1 (de) 1978-08-31
JPS53106583A (en) 1978-09-16
IT1092733B (it) 1985-07-12
GB1545880A (en) 1979-05-16
IT7820203A0 (it) 1978-02-13

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