FI96636C - Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla - Google Patents

Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla Download PDF

Info

Publication number
FI96636C
FI96636C FI903263A FI903263A FI96636C FI 96636 C FI96636 C FI 96636C FI 903263 A FI903263 A FI 903263A FI 903263 A FI903263 A FI 903263A FI 96636 C FI96636 C FI 96636C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
plane
measuring zone
workpiece
mapping
Prior art date
Application number
FI903263A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI903263A0 (fi
FI96636B (fi
Inventor
Leif Aronsson
Original Assignee
Rema Control Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rema Control Ab filed Critical Rema Control Ab
Publication of FI903263A0 publication Critical patent/FI903263A0/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI96636B publication Critical patent/FI96636B/fi
Publication of FI96636C publication Critical patent/FI96636C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8986Wood

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

96636
Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla - Anordning för avsök-ning och avmätning medelst strälning av oregelbudna arbets-stycken 5
Esillä olevan keksinnön kohteena on laitteisto, jolla säteilyn avulla kartoitetaan ja mitataan epäsäännöllisiä työkappaleita, kuten lautoja, johon kuuluu mittausvyöhyke, kuljetuslaite mainittujen työkappaleiden siirtämiseksi 10 mittausvyöhykkeen läpi oleellisesti ensimmäisessä tasossa, käsittäen edelleen ensimmäisen ja toisen säteilylähteen, asennettu lähettämään säteilyä vuoron perään, sijaiten ensimmäisen tason ensimmäisellä sivulla, toisen tason kummallakin puolella, kohtisuorassa ensimmäisen tason 15 suhteen, lisäksi joukko ilmaisinelementtejä, jotka on järjestetty ottamaan vastaan säteilyä mainitulla ensimmäisen tason ensimmäisellä sivulla, varustettu antamaan vastaanotetusta säteilystä riippuen vastaavia signaaleja, sekä signaalikäsittelylaite, joka näiden signaaleiden avulla 20 laskee työkappaleen halutut mittatiedot.
Tällaiset laitteistot tunnetaan esimerkiksi US-patentti-julkaisusta 3 890 509, ruotsalaisesta patenttijulkaisusta 7808659-3 sekä eurooppalaisesta patenttijulkaisusta 25 EP 79102311.2 (julkaisunumero 7079), jossa jälkimmäisen kirjoituksen laitteistot ovat edellisen edelleenkehittelys-tä, EP 79102311.2:n mukaan voidaan esim. sahattujen, va-jaasärmäisten lautojen huolellinen kartoitus ja mittaus suorittaa tietyin edellytyksin. Niinpä selitetään lähempiä 30 vaatimuksia, mitä tulee sahattuihin, vajaasärmäisiin lautoihin, että paitsi sahatulla pinnalla myös vajaasärmillä . on jokseenkin voimakas säteilyheijastus, samoin kuin, että viimeksi mainittu ei perustu liian paljoa sahatun (horisontaalin) pinnan suhteen, sillä sellaisessa epäsuotuisassa 35 tapauksessa ei voida suorittaa mitään laudan ääriviivojen mittausta.
2 96636
Keksinnön tarkoitus on aikaansaada alussa mainitun tapainen laitteisto, joka antaa työkappaleen varman kartoituksen ja mittauksen, vaikka sillä olisi huonot heijastusominaisuudet tai huonot geometriset muodot.
5
Keksinnön mukaisesti tällainen laitteisto on ensisijaisesti tunnettukolmannestasäteilylähteestä, joka sijaitsee ensimmäisen tason toisella puolella, laitettuna lähettämään säteilyä siten, että mainittu ilmaisinelementti voi ottaa 10 sitä vastaan, kun työkappale ei peitä säteilyä, jotta työkappaleen ääriviivat voidaan mitata.
Kolmas säteilylähde voidaan itse asiassa asettaa eri tavoin suhteessa ilmaisinelementtien säteilyvastaanottoon, taval-15 lisesti kameran objektiivin kautta, mutta keksinnön mukaisen laitteiston esitetyssä suoritusmuodossa on kolmas säteilylähde yhdessä ilmaisinelementtien säteilyvastaan-oton, tavallisesti kameraobjektiivin yhteisessä tasossa, kohtisuorassa ensimmäistä tasoa kohden.
20
Kolmas säteilylähde voi olla varustettu lähettämään säteilyä jatkuvasti, kun taas ensimmäinen ja toinen säteilylähde lähettävät säteilyä vuorottain, mutta keksinnön mukaisen laitteiston esitetyssä suoritusmuodossa lähettää ensimmäi-25 nen, toinen ja kolmas säteilylähde säteilyä yksi kerrallaan * toistuvassa järjestyksessä.
Keksintöä selitetään seuraavassa lähemmin viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa: 30
Kuvio 1 esittää kaavamaisesti, perspektiivisesti, keksin- . nön mukaista laitteistoa.
Kuvio 2 on osakaavio, joka havainnollistaa kuvion 1 mu-35 kaisen laitteiston yksinkertaista signaalinkäsit telylaitetta .
;l : ie i liiti Iita· i 3 96636
Kuviot 3a-3f esittävät aiemmin tunnetun laitteiston työ- kappaleen kartoituksen ja mittauksen toimintatapaa .
5 Kuviot 4a-4h esittävät keksinnön mukaisen laitteiston toimintatapaa.
Kuviossa 1 tarkoittaa viitenumero 1 lautojen 2 jaksoittaista poikittaissiirtoa, nuolella 13 merkittyyn suuntaan 10 mittausvyöhykkeen 3 läpi, joka on kuvioon merkittyjen kahden linjan 4, 5 välissä.
Kuljetusjärjestelmään 1 kuuluu joukko yhdensuuntaisia ja vetäviä ketjuja 6, joiden päällä laudat 2 ovat kuljetusten 15 aikana, ja jotta estetään lautojen 2 ja ketjujen 6 välinen liukuminen, mitä ei saa tapahtua mittausvyöhykkeen 3 läpi tapahtuvan kuljetuksen aikana, on ketjuissa tasaisin välein työntöosat 7.
20 Mittausvyöhykkeellä 3 säteilevät säteilylähteet 9 lautoihin, ne sijaitsevat mittausvyöhykkeen 3 tason yläpuolella symmetrisesti sijoitettuna yhden tason kummallekin puolelle, kohtisuorassa mittausvyöhykkeen tasoa vasten. Esitetyssä laitteistossa kohdistetaan säteily säteilylähteissä 8 25 suunnilleen 45° kulmassa työkappaleeseen nähden sen ollessa ] mittausvyöhykkeen keskellä, säteily on mieluiten optista, näkyvällä alueella, mutta myös muu säteily on mahdollista keksinnön puitteissa.
30 Työkappaleissa heijastuvat säteet tunnistetaan ilmaisinele-menteillä, jotka ovat tässä tapauksessa asetetut, kuten . diodisarjat kahteen kameraan 9, jotka ovat laajakulmaoptii kalla varustetut, Diodisarjat, so. rivi valodiodeja, ovat asetetut kameroiden kuvatasoon ja tunnistus tapahtuu elekt-35 ronisesti niin, että laite antaa signaaleja, jotka vastaavat jokaisen ilmaisinelementin vastaanottamaa säteilyinten-siteettiä. Kameraoptiikalla muodostuu siten mittausvyöhyke 4 96636 3 kunkin kameran kuvatasolle. Diodisarjat ovat tietysti asennetut siten, että ainoastaan yksi pitkänomainen pinta 10 on kulloinkin mittausvyöhykkeellä kartoitettavana. Mittausvyöhykkeen tason alapuolelle on sijoitettu kolmas 5 säteilylähde, joka lähettää säteitä olennaisesti siinä tasossa, kohtisuorassa mittausvyöhykkeen 3 tasoa vasten, jossa kamerat 9 ovat, jolloin kameroiden 9 ilmaisinelemen-tit tunnistavat kolmannen säteilylähteen säteet, kun lauta 2 ei peitä säteitä. Täten voidaan laudan ulkoviivat mitata 10 varmasti, jota selitetään lähemmin seuraavassa.
Jotta lauta voidaan mitata, on sen asema kuljetussuunnassa 13 asetettava suhteessa osittain pitkin pinnan 10 pituussuunnassa mitattuihin säteilytehokkuuksiin ja osittain 15 siihen tunnistettuna säteilyyn, kun lauta 2 ei peitä kolmatta säteilylähdettä 19. Siten tarvitaan signaali, joka ilmaisee laudan aseman joka hetki kuljetussuunnassa.
Sellainen signaali voidaan aikaansaada eri tavoin, esimer-20 kiksi lisäkameralla 11, joka on samanlainen kuin kamera 9, mutta suunnattu siten, että sen näkökenttä 12 leikkaa rist-ikkäin mittausvyöhykkeen 3, kuljetussuunnan kanssa samansuuntaisesti. Kamerasta 11 lähtevien signaalien avulla kyetään seuraamaan laudan 2 kuljetusta mittausvyöhykkeen 3 25 läpi.
Laitteiston toimintatapa käy ilmi kuvioista 3 ja 4. Toiminnallinen muoto on esitetty kuviossa 2 yksinkertaistetussa suoritusmuodossa. Signaalikäsittelylaitteen tarkka selitys 30 on erityisesti mainitusta eurooppalaisesta patenttijulkaisusta EP 79102311.2. Tätä signaalikäsittelylaitetta voidaan . soveltaa myös keksinnön mukaiseen laitteistoon, mutta sillä edellytyksellä, että kahden säteilylähteen sijasta on kolme säteilylähdettä.
35
Kuvioissa 3a-3f esitetään juuri julkaisun EP 79102311.2 mukaisen laitteiston toimintatapaa. Käytettäessä vastaavia * U i »Iti l i iti : ; < 5 96636 viitenumerolta kuin kuviossa 1, kuviossa 3a tarkoittaa siten viitenumero 2 lautaa, jota siirrettään mittaus-vyöhykkeen 3 läpi suuntaan 13, ja tässä tapauksessa valaistuna vain kahdella säteilylähteellä 8, osittain oikealta, 5 osittain vasemmalta. Diodisarjoilla varustetut kamerat 9 ovat sijoitetut symmetrisesti mittausvyöhykkeen 3 yli.
Kuviossa 3b on lauta esitetty ylhäältä katsottuna, jossa viitenumero 17 tarkoittaa hetkellistä diodisarjaa tunnista-10 maan pintaelementtiä laudan yläpinnalla. Viitenumero 18 tarkoittaa laudan kulu aikana ilmaisuelementin peräkkäin tunnistamia pintaelementtejä laudan yläpuolella. Kuvioissa 3c ja 3b näytetään, kuinka säteilyimpulssit vaihdellen oikealta vasemmalle aiheuttavat heijastuvaa säteilyä vas-15 taavat sähköiset signaalit, kaavamaisesti esitettyjen amplitudien mukaisesti, kaikki laudan siirtymisen mukaan mittausvyöhykkeen läpi.
Kuvioissa 3e ja 3f kuvaillaan 3c:n ja 3d:n signaaleita 20 signaalikäsittelylaitteen jälkeen niin, että ainoastaan ne signaalit, jotka ylittävät tietyn kynnystason, antavat impulssin, ts. signaalit voivat antaa vain joko korkean tai matalan arvon. 3e:n ja 3f:n mukaisten signaalien avulla voidaan siten määritellä laudan kokonaisleveys bt, puhtaak-25 sisahattu leveys bp, sekä vajaasärmät oikealla bvh ja va-’ semmalla bw jokaisesta pintaelementistä 18 koko laudan kartoitetulta pituudelta.
Toiminnallinen muoto on kuviossa 2 vain hahmoteltu, josta 30 ilmenee, että ohjausyksikkö 15 ohjaa säteilylähteiden vuoronperäistä säteilyimpulssien lähetystä ja ohjaa samalla . kameroiden 9 ja 11 ilmaisuelementtien tunnistamista. Vii meksi mainitusta samoin kuin ohjausyksiköstä lähtevät signaalit viedään sitten signaalikäsittelylaitteeseen 16, 35 joka antaa halutut mittaustiedot selitetyllä tavalla, erityisesti eurooppalaisessa patenttijulkaisussa 79102311.2.
6 96636
Kuviossa 4 esitetään siten toiminnot eräässä keksinnön mukaisessa laitteistossa. Tässä on siis kolmas säteilylähde 14, joka on asetettu mittausvyöhykkeen alle, tasoon, joka on kohtisuorassa äskenmainittua tasoa vastaan, ja joka on 5 samassa tasossa kuin kameroiden 9 taso. Säteilylähteet lähettävät vuorotellen toistuvia säteilyimpulsseja.
Tässä tapauksessa ovat mitatut laudan vajaasärmät niin mustuneita (vettyneitä), että ne heijastavat tulevat säteet 10 epätäydellisesti, vaikka säteet tulevat melkein kohtisuoraan. Se merkitsee sitä, että heijastuva säteily ei saavuta tietyn kynnysarvon ylittävää intensiteettiä, jonka vuoksi on mahdotonta määritellä laudan ääriviivat vain kahdella mittausvyöhykkeen yläpuolella olevalla säteilylähteellä.
15 Kuvioissa 4c, 4f ja 4e esitetään signaaliamplitudeja, jotka vastaavat kolmesta säteilylähteestä vastaanotettua säteilyä, ts. ylemmästä vasemmanpuoleisesti, ylemmästä oikeanpuoleisesta ja mittausvyöhykkeen alapuolisesta säteilylähteestä. Signaalikäsittelyn jälkeen, vastaten kuviossa 3e ja 20 3f esitettyjä, saadaan vastaavat signaalit 4f, 4g ja 4h, jolloin voidaan varmuudella määritellä vajaasärmien sisä-ja ulkorajat.
Il : MM I:IH I iiSI ! !

Claims (3)

7 96636
1. Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden, kuten lautojen tutkimiseksi ja mittaamiseksi, johon sisältyy 5 - mittausvyöhyke (3), - kuljetuslaite mainittujen työkappaleiden (2) kuljettamiseksi mittausvyöhykkeen läpi, oleellisesti ensimmäisessä tasossa, - ensimmäinen ja toinen säteilylähde (8), joka on laitettu 10 lähettämään säteilyä vuorotellen, sijoitettuina ensimmäisen tason ensimmäiselle puolelle, kummallekin puolelle toista tasoa, joka on kohtisuorassa ensimmäisen tason suhteen, - joukko ilmaisinelementtejä (9) sijoitettuna vastaanottamaan säteilyä ensimmäisen tason ensimmäisellä puolella, 15 laitettuna lähettämään signaaleja riippuen vastaanotetusta säteilystä, sekä - signaalinkäsittelylaite (16), joka näiden signaalien perusteella laskee työkappaleen halutut mittatiedot, tunnettu kolmannesta säteilylähteestä (14), joka 20 sijaitsee ensimmäisen tason toisella puolella, laitettuna lähettämään säteilyä siten, että mainittu ilmaisinelementti (9) voi ottaa sitä vastaan, kun työkappale (2) ei peitä säteilyä, jotta työkappaleen (2) ääriviivat voidaan mitata.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tun nettu kolmannesta säteilylähteestä (14), joka sijaitsee ilmaisinelementin säteilyvastaanottimen kanssa yhteisessä tasossa, kohtisuorassa ensimmäistä tasoa kohden.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että ensimmäinen (8), toinen (8) ja kolmas (14) säteilylähde lähettävät säteilyä yksi kerrallaan, toistuvassa järjestyksessä. 8 96636
FI903263A 1989-06-29 1990-06-28 Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla FI96636C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8902356 1989-06-29
SE8902356A SE8902356L (sv) 1989-06-29 1989-06-29 Anordning foer avsoekning och avmaetning medelst straalning av oregelbundna arbetsstycken

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI903263A0 FI903263A0 (fi) 1990-06-28
FI96636B FI96636B (fi) 1996-04-15
FI96636C true FI96636C (fi) 1996-07-25

Family

ID=20376433

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI903263A FI96636C (fi) 1989-06-29 1990-06-28 Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla

Country Status (4)

Country Link
AT (1) AT400908B (fi)
DE (2) DE4019882C2 (fi)
FI (1) FI96636C (fi)
SE (1) SE8902356L (fi)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4126988A1 (de) * 1991-08-15 1993-02-18 Diehl Gmbh & Co Beleuchtungsanordnung zur optischen erfassung der kontur von langgegenstaenden mit diffus reflektierender oberflaeche
FI952028A0 (fi) * 1995-04-28 1995-04-28 Jorma Reponen Automatisk maetnings- och kvalifeceringsstation

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3890509A (en) * 1972-05-09 1975-06-17 Black Clawson Co Automatic edger set works method and apparatus
SE388272B (sv) * 1975-10-15 1976-09-27 Kockums Automation Forfarande och anordning vid kontaktfri metning med optisk avkenning av ett metforemal
US4186310A (en) * 1978-06-19 1980-01-29 Maxey Carl W Automatic wane detector
DE3334400C1 (de) * 1983-09-23 1985-06-05 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE4019882C2 (de) 1995-01-26
ATA134490A (de) 1995-08-15
DE4019882A1 (de) 1991-01-03
SE463638B (sv) 1990-12-17
FI903263A0 (fi) 1990-06-28
DE9006970U1 (fi) 1990-09-06
SE8902356D0 (sv) 1989-06-29
AT400908B (de) 1996-04-25
FI96636B (fi) 1996-04-15
SE8902356L (sv) 1990-12-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI109833B (fi) Valoskanneri lomitetuin kamerakentin ja samansuuntaisin valonsätein
FI94551C (fi) Menetelmä ja laite liikkuvan työkappaleen pintaprofiilin tarkkailemiseksi
US4301373A (en) Scanning of workpieces such as lumber cants
US5986745A (en) Co-planar electromagnetic profile scanner
EP0917649B1 (en) Apparatus and method for detecting surface defects
US3983403A (en) Method and device for optical scanning of a series of transversal dimensional values at a board or plank
US4878754A (en) Method of and apparatus for measuring irregularities of road surface
GB2052734A (en) Position and dimension measuring apparaus
FI59300B (fi) Foerfarande och anordning vid kontaktfri maetning
JPS5972008A (ja) 距離測定装置
FI96636C (fi) Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla
EP0871008B1 (en) Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour
AU2007299719B2 (en) Grain angle sensor
JPH1123243A (ja) 表面欠陥検査装置
CA1284875C (en) Method for detecting dripping droplet
PL167445B1 (pl) Urzadzenie do okreslania wymiarów, zwlaszcza ruchomego przedmiotu PL PL PL PL PL
CN1155747C (zh) 伸长的试样的参数检测装置
EP0340830A2 (en) Equipment for the detection and correction of the sideways movement of a belt advancing along a processing line
US4200398A (en) Automatic visibility measuring system
EP1160566A3 (en) Apparatus for the continuous detection of oils on water surfaces by means of surface reflection
WO1993022659A1 (en) Method and system for detection of defects on the surface of a wood article
KR20030054630A (ko) 다파장 광을 이용한 코일 표면결함 검출장치
EP0033024A2 (en) Intruder detector
SU769323A1 (ru) Устройство дл определени класса шероховатости полированных металлических поверхностей издели
WO1991005983A1 (en) A method and a device for measuring the height of material pieces

Legal Events

Date Code Title Description
BB Publication of examined application
MM Patent lapsed

Owner name: REMACONTROL AB