FI96636C - Equipment for mapping and measuring irregular workpieces by means of radiation - Google Patents
Equipment for mapping and measuring irregular workpieces by means of radiation Download PDFInfo
- Publication number
- FI96636C FI96636C FI903263A FI903263A FI96636C FI 96636 C FI96636 C FI 96636C FI 903263 A FI903263 A FI 903263A FI 903263 A FI903263 A FI 903263A FI 96636 C FI96636 C FI 96636C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- plane
- measuring zone
- workpiece
- mapping
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
Description
9663696636
Laitteisto epäsäännöllisten työkappaleiden kartoittamiseksi ja mittaamiseksi säteilyn avulla - Anordning för avsök-ning och avmätning medelst strälning av oregelbudna arbets-stycken 5Apparatus for mapping and measuring irregular workpieces by means of radiation - Anordning för avsök-Ning och avmätning medelst strälning av oregelbudna Arbets-stycken 5
Esillä olevan keksinnön kohteena on laitteisto, jolla säteilyn avulla kartoitetaan ja mitataan epäsäännöllisiä työkappaleita, kuten lautoja, johon kuuluu mittausvyöhyke, kuljetuslaite mainittujen työkappaleiden siirtämiseksi 10 mittausvyöhykkeen läpi oleellisesti ensimmäisessä tasossa, käsittäen edelleen ensimmäisen ja toisen säteilylähteen, asennettu lähettämään säteilyä vuoron perään, sijaiten ensimmäisen tason ensimmäisellä sivulla, toisen tason kummallakin puolella, kohtisuorassa ensimmäisen tason 15 suhteen, lisäksi joukko ilmaisinelementtejä, jotka on järjestetty ottamaan vastaan säteilyä mainitulla ensimmäisen tason ensimmäisellä sivulla, varustettu antamaan vastaanotetusta säteilystä riippuen vastaavia signaaleja, sekä signaalikäsittelylaite, joka näiden signaaleiden avulla 20 laskee työkappaleen halutut mittatiedot.The present invention relates to an apparatus for mapping and measuring radiation on irregular workpieces, such as boards, comprising a measuring zone, a conveying device for passing said workpieces through the measuring zone in a substantially first plane, further comprising first and second radiation sources mounted alternately to transmit radiation on a first side, on either side of the second plane, perpendicular to the first plane 15, a plurality of detector elements arranged to receive radiation on said first plane first, provided to provide corresponding signals depending on the received radiation, and a signal processing device for calculating the desired workpiece dimensions .
Tällaiset laitteistot tunnetaan esimerkiksi US-patentti-julkaisusta 3 890 509, ruotsalaisesta patenttijulkaisusta 7808659-3 sekä eurooppalaisesta patenttijulkaisusta 25 EP 79102311.2 (julkaisunumero 7079), jossa jälkimmäisen kirjoituksen laitteistot ovat edellisen edelleenkehittelys-tä, EP 79102311.2:n mukaan voidaan esim. sahattujen, va-jaasärmäisten lautojen huolellinen kartoitus ja mittaus suorittaa tietyin edellytyksin. Niinpä selitetään lähempiä 30 vaatimuksia, mitä tulee sahattuihin, vajaasärmäisiin lautoihin, että paitsi sahatulla pinnalla myös vajaasärmillä . on jokseenkin voimakas säteilyheijastus, samoin kuin, että viimeksi mainittu ei perustu liian paljoa sahatun (horisontaalin) pinnan suhteen, sillä sellaisessa epäsuotuisassa 35 tapauksessa ei voida suorittaa mitään laudan ääriviivojen mittausta.Such equipment is known, for example, from U.S. Pat. No. 3,890,509, Swedish Patent Publication No. 7808659-3 and European Patent Publication No. EP 79102311.2 (Publication No. 7079), in which the equipment of the latter writing is a further development, according to EP 79102311.2, e.g. -careful mapping and measurement of edged boards is performed under certain conditions. Thus, a closer understanding of the 30 requirements for sawn, low-edged boards is explained, not only on the sawn surface but also on the low-edged. there is a somewhat strong radiation reflection, as well as that the latter is not based too much on the sawn (horizontal) surface, since in such an unfavorable case 35 no measurement of the contour of the board can be performed.
2 966362,96636
Keksinnön tarkoitus on aikaansaada alussa mainitun tapainen laitteisto, joka antaa työkappaleen varman kartoituksen ja mittauksen, vaikka sillä olisi huonot heijastusominaisuudet tai huonot geometriset muodot.The object of the invention is to provide an apparatus as mentioned at the beginning, which gives a reliable mapping and measurement of a workpiece, even if it has poor reflection properties or poor geometric shapes.
55
Keksinnön mukaisesti tällainen laitteisto on ensisijaisesti tunnettukolmannestasäteilylähteestä, joka sijaitsee ensimmäisen tason toisella puolella, laitettuna lähettämään säteilyä siten, että mainittu ilmaisinelementti voi ottaa 10 sitä vastaan, kun työkappale ei peitä säteilyä, jotta työkappaleen ääriviivat voidaan mitata.According to the invention, such an apparatus is primarily known from a third radiation source located on the other side of the first plane, arranged to emit radiation so that said detector element can receive 10 when the workpiece does not cover the radiation so that the contours of the workpiece can be measured.
Kolmas säteilylähde voidaan itse asiassa asettaa eri tavoin suhteessa ilmaisinelementtien säteilyvastaanottoon, taval-15 lisesti kameran objektiivin kautta, mutta keksinnön mukaisen laitteiston esitetyssä suoritusmuodossa on kolmas säteilylähde yhdessä ilmaisinelementtien säteilyvastaan-oton, tavallisesti kameraobjektiivin yhteisessä tasossa, kohtisuorassa ensimmäistä tasoa kohden.The third radiation source may in fact be positioned differently with respect to the radiation reception of the detector elements, usually via a camera lens, but in the illustrated embodiment of the apparatus of the invention there is a third radiation source perpendicular to the first plane of radiation reception of detector elements, usually in the camera lens.
2020
Kolmas säteilylähde voi olla varustettu lähettämään säteilyä jatkuvasti, kun taas ensimmäinen ja toinen säteilylähde lähettävät säteilyä vuorottain, mutta keksinnön mukaisen laitteiston esitetyssä suoritusmuodossa lähettää ensimmäi-25 nen, toinen ja kolmas säteilylähde säteilyä yksi kerrallaan * toistuvassa järjestyksessä.The third radiation source may be provided to emit radiation continuously, while the first and second radiation sources emit radiation alternately, but in the illustrated embodiment of the apparatus of the invention, the first, second and third radiation sources emit radiation one at a time * in a repetitive order.
Keksintöä selitetään seuraavassa lähemmin viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa: 30The invention will be explained in more detail below with reference to the accompanying drawings, in which:
Kuvio 1 esittää kaavamaisesti, perspektiivisesti, keksin- . nön mukaista laitteistoa.Figure 1 shows schematically, in perspective, the invention. equipment in accordance with this
Kuvio 2 on osakaavio, joka havainnollistaa kuvion 1 mu-35 kaisen laitteiston yksinkertaista signaalinkäsit telylaitetta .Fig. 2 is a partial diagram illustrating a simple signal processing device of the apparatus of Fig. 1.
;l : ie i liiti Iita· i 3 96636; l: ie i liiti Iita · i 3 96636
Kuviot 3a-3f esittävät aiemmin tunnetun laitteiston työ- kappaleen kartoituksen ja mittauksen toimintatapaa .Figures 3a-3f show the operation of workpiece mapping and measurement of previously known equipment.
5 Kuviot 4a-4h esittävät keksinnön mukaisen laitteiston toimintatapaa.Figures 4a-4h show the mode of operation of the apparatus according to the invention.
Kuviossa 1 tarkoittaa viitenumero 1 lautojen 2 jaksoittaista poikittaissiirtoa, nuolella 13 merkittyyn suuntaan 10 mittausvyöhykkeen 3 läpi, joka on kuvioon merkittyjen kahden linjan 4, 5 välissä.In Fig. 1, reference numeral 1 denotes a periodic transverse displacement of the boards 2, in the direction 10 indicated by the arrow 13, through the measuring zone 3 between the two lines 4, 5 marked in the figure.
Kuljetusjärjestelmään 1 kuuluu joukko yhdensuuntaisia ja vetäviä ketjuja 6, joiden päällä laudat 2 ovat kuljetusten 15 aikana, ja jotta estetään lautojen 2 ja ketjujen 6 välinen liukuminen, mitä ei saa tapahtua mittausvyöhykkeen 3 läpi tapahtuvan kuljetuksen aikana, on ketjuissa tasaisin välein työntöosat 7.The transport system 1 comprises a number of parallel and traction chains 6 on which the boards 2 are on during transport 15, and in order to prevent slippage between the boards 2 and the chains 6, which must not occur during transport through the measuring zone 3, the chains have evenly spaced pusher parts 7.
20 Mittausvyöhykkeellä 3 säteilevät säteilylähteet 9 lautoihin, ne sijaitsevat mittausvyöhykkeen 3 tason yläpuolella symmetrisesti sijoitettuna yhden tason kummallekin puolelle, kohtisuorassa mittausvyöhykkeen tasoa vasten. Esitetyssä laitteistossa kohdistetaan säteily säteilylähteissä 8 25 suunnilleen 45° kulmassa työkappaleeseen nähden sen ollessa ] mittausvyöhykkeen keskellä, säteily on mieluiten optista, näkyvällä alueella, mutta myös muu säteily on mahdollista keksinnön puitteissa.In the measuring zone 3, the radiation sources 9 radiate to the rafts, they are located above the plane of the measuring zone 3, symmetrically placed on each side of one plane, perpendicular to the plane of the measuring zone. In the apparatus shown, radiation is applied at radiation sources 8 at an angle of approximately 45 ° to the workpiece when it is in the middle of the measuring zone, the radiation is preferably in the optical, visible range, but other radiation is also possible within the scope of the invention.
30 Työkappaleissa heijastuvat säteet tunnistetaan ilmaisinele-menteillä, jotka ovat tässä tapauksessa asetetut, kuten . diodisarjat kahteen kameraan 9, jotka ovat laajakulmaoptii kalla varustetut, Diodisarjat, so. rivi valodiodeja, ovat asetetut kameroiden kuvatasoon ja tunnistus tapahtuu elekt-35 ronisesti niin, että laite antaa signaaleja, jotka vastaavat jokaisen ilmaisinelementin vastaanottamaa säteilyinten-siteettiä. Kameraoptiikalla muodostuu siten mittausvyöhyke 4 96636 3 kunkin kameran kuvatasolle. Diodisarjat ovat tietysti asennetut siten, että ainoastaan yksi pitkänomainen pinta 10 on kulloinkin mittausvyöhykkeellä kartoitettavana. Mittausvyöhykkeen tason alapuolelle on sijoitettu kolmas 5 säteilylähde, joka lähettää säteitä olennaisesti siinä tasossa, kohtisuorassa mittausvyöhykkeen 3 tasoa vasten, jossa kamerat 9 ovat, jolloin kameroiden 9 ilmaisinelemen-tit tunnistavat kolmannen säteilylähteen säteet, kun lauta 2 ei peitä säteitä. Täten voidaan laudan ulkoviivat mitata 10 varmasti, jota selitetään lähemmin seuraavassa.The rays reflected in the workpieces are identified by detector elements, which in this case are set, e.g. diode arrays for two cameras 9 with wide angle optics, Diode arrays, i. a series of light emitting diodes, are placed in the image plane of the cameras and the detection takes place electronically so that the device emits signals corresponding to the radiant intensity received by each detector element. The camera optics thus form a measuring zone 4 96636 3 on the image plane of each camera. The diode arrays are, of course, mounted in such a way that only one elongate surface 10 is in each case to be mapped in the measuring zone. Below the level of the measuring zone is a third radiation source 5 which emits rays substantially in the plane perpendicular to the plane of the measuring zone 3 in which the cameras 9 are located, whereby the detector elements of the cameras 9 detect the rays of the third radiation source. Thus, the outer lines of the board can be measured with certainty 10, which will be explained in more detail below.
Jotta lauta voidaan mitata, on sen asema kuljetussuunnassa 13 asetettava suhteessa osittain pitkin pinnan 10 pituussuunnassa mitattuihin säteilytehokkuuksiin ja osittain 15 siihen tunnistettuna säteilyyn, kun lauta 2 ei peitä kolmatta säteilylähdettä 19. Siten tarvitaan signaali, joka ilmaisee laudan aseman joka hetki kuljetussuunnassa.In order for the board to be measured, its position in the conveying direction 13 must be set in proportion to the radiation efficiencies measured along the surface 10 and partly to the radiation detected in the conveying direction when the board 2 does not cover the third radiation source 19. Thus a signal is required.
Sellainen signaali voidaan aikaansaada eri tavoin, esimer-20 kiksi lisäkameralla 11, joka on samanlainen kuin kamera 9, mutta suunnattu siten, että sen näkökenttä 12 leikkaa rist-ikkäin mittausvyöhykkeen 3, kuljetussuunnan kanssa samansuuntaisesti. Kamerasta 11 lähtevien signaalien avulla kyetään seuraamaan laudan 2 kuljetusta mittausvyöhykkeen 3 25 läpi.Such a signal can be provided in various ways, for example by an additional camera 11 similar to the camera 9, but oriented so that its field of view 12 intersects the measuring zone 3, parallel to the direction of transport. The signals from the camera 11 make it possible to monitor the transport of the board 2 through the measuring zone 3 25.
Laitteiston toimintatapa käy ilmi kuvioista 3 ja 4. Toiminnallinen muoto on esitetty kuviossa 2 yksinkertaistetussa suoritusmuodossa. Signaalikäsittelylaitteen tarkka selitys 30 on erityisesti mainitusta eurooppalaisesta patenttijulkaisusta EP 79102311.2. Tätä signaalikäsittelylaitetta voidaan . soveltaa myös keksinnön mukaiseen laitteistoon, mutta sillä edellytyksellä, että kahden säteilylähteen sijasta on kolme säteilylähdettä.The mode of operation of the apparatus is shown in Figures 3 and 4. The functional form is shown in Figure 2 in a simplified embodiment. A detailed description of the signal processing device 30 is in particular from said European patent publication EP 79102311.2. This signal processing device can be. also applies to the apparatus according to the invention, but with the proviso that instead of two radiation sources there are three radiation sources.
3535
Kuvioissa 3a-3f esitetään juuri julkaisun EP 79102311.2 mukaisen laitteiston toimintatapaa. Käytettäessä vastaavia * U i »Iti l i iti : ; < 5 96636 viitenumerolta kuin kuviossa 1, kuviossa 3a tarkoittaa siten viitenumero 2 lautaa, jota siirrettään mittaus-vyöhykkeen 3 läpi suuntaan 13, ja tässä tapauksessa valaistuna vain kahdella säteilylähteellä 8, osittain oikealta, 5 osittain vasemmalta. Diodisarjoilla varustetut kamerat 9 ovat sijoitetut symmetrisesti mittausvyöhykkeen 3 yli.Figures 3a-3f show the operation of the apparatus according to EP 79102311.2. When using the corresponding * U i »Iti l i iti:; <5 96636 from reference numeral than in Fig. 1, thus in Fig. 3a reference numeral 2 denotes a board which is moved through the measuring zone 3 in direction 13, and in this case illuminated by only two radiation sources 8, partly from the right, 5 partly from the left. The cameras 9 equipped with diode arrays are arranged symmetrically over the measuring zone 3.
Kuviossa 3b on lauta esitetty ylhäältä katsottuna, jossa viitenumero 17 tarkoittaa hetkellistä diodisarjaa tunnista-10 maan pintaelementtiä laudan yläpinnalla. Viitenumero 18 tarkoittaa laudan kulu aikana ilmaisuelementin peräkkäin tunnistamia pintaelementtejä laudan yläpuolella. Kuvioissa 3c ja 3b näytetään, kuinka säteilyimpulssit vaihdellen oikealta vasemmalle aiheuttavat heijastuvaa säteilyä vas-15 taavat sähköiset signaalit, kaavamaisesti esitettyjen amplitudien mukaisesti, kaikki laudan siirtymisen mukaan mittausvyöhykkeen läpi.Figure 3b shows a top view of the board, where reference numeral 17 denotes an instantaneous diode array identifying 10 earth surface elements on the top surface of the board. Reference numeral 18 denotes the surface elements above the board successively identified by the detection element during the wear of the board. Figures 3c and 3b show how the radiation pulses varying from right to left cause electrical signals corresponding to the reflected radiation, according to the amplitudes schematically shown, all according to the movement of the board through the measurement zone.
Kuvioissa 3e ja 3f kuvaillaan 3c:n ja 3d:n signaaleita 20 signaalikäsittelylaitteen jälkeen niin, että ainoastaan ne signaalit, jotka ylittävät tietyn kynnystason, antavat impulssin, ts. signaalit voivat antaa vain joko korkean tai matalan arvon. 3e:n ja 3f:n mukaisten signaalien avulla voidaan siten määritellä laudan kokonaisleveys bt, puhtaak-25 sisahattu leveys bp, sekä vajaasärmät oikealla bvh ja va-’ semmalla bw jokaisesta pintaelementistä 18 koko laudan kartoitetulta pituudelta.Figures 3e and 3f illustrate the signals 3c and 3d after the signal processing device 20 so that only those signals that exceed a certain threshold level give an impulse, i.e. the signals can only give either a high or a low value. The signals according to 3e and 3f can thus be used to determine the total width bt of the board, the cleaned inner width bp, as well as the deflections on the right bvh and left bw of each surface element 18 over the entire mapped length of the board.
Toiminnallinen muoto on kuviossa 2 vain hahmoteltu, josta 30 ilmenee, että ohjausyksikkö 15 ohjaa säteilylähteiden vuoronperäistä säteilyimpulssien lähetystä ja ohjaa samalla . kameroiden 9 ja 11 ilmaisuelementtien tunnistamista. Vii meksi mainitusta samoin kuin ohjausyksiköstä lähtevät signaalit viedään sitten signaalikäsittelylaitteeseen 16, 35 joka antaa halutut mittaustiedot selitetyllä tavalla, erityisesti eurooppalaisessa patenttijulkaisussa 79102311.2.The functional form is only outlined in Fig. 2, from which it appears that the control unit 15 controls the alternating transmission of radiation pulses from the radiation sources and at the same time controls. identifying the detection elements of the cameras 9 and 11. The signals from the latter as well as from the control unit are then fed to a signal processing device 16, 35 which provides the desired measurement data as described, in particular in European patent publication 79102311.2.
6 966366 96636
Kuviossa 4 esitetään siten toiminnot eräässä keksinnön mukaisessa laitteistossa. Tässä on siis kolmas säteilylähde 14, joka on asetettu mittausvyöhykkeen alle, tasoon, joka on kohtisuorassa äskenmainittua tasoa vastaan, ja joka on 5 samassa tasossa kuin kameroiden 9 taso. Säteilylähteet lähettävät vuorotellen toistuvia säteilyimpulsseja.Figure 4 thus shows the functions in an apparatus according to the invention. Thus, there is a third radiation source 14 placed below the measuring zone, in a plane perpendicular to the aforementioned plane, and which is 5 in the same plane as the plane of the cameras 9. Radiation sources alternately emit repetitive radiation pulses.
Tässä tapauksessa ovat mitatut laudan vajaasärmät niin mustuneita (vettyneitä), että ne heijastavat tulevat säteet 10 epätäydellisesti, vaikka säteet tulevat melkein kohtisuoraan. Se merkitsee sitä, että heijastuva säteily ei saavuta tietyn kynnysarvon ylittävää intensiteettiä, jonka vuoksi on mahdotonta määritellä laudan ääriviivat vain kahdella mittausvyöhykkeen yläpuolella olevalla säteilylähteellä.In this case, the measured edges of the board are so blackened (hydrogenated) that they reflect incident rays incompletely, even though the rays come almost perpendicularly. This means that the reflected radiation does not reach an intensity exceeding a certain threshold value, which makes it impossible to define the outline of the board with only two radiation sources above the measurement zone.
15 Kuvioissa 4c, 4f ja 4e esitetään signaaliamplitudeja, jotka vastaavat kolmesta säteilylähteestä vastaanotettua säteilyä, ts. ylemmästä vasemmanpuoleisesti, ylemmästä oikeanpuoleisesta ja mittausvyöhykkeen alapuolisesta säteilylähteestä. Signaalikäsittelyn jälkeen, vastaten kuviossa 3e ja 20 3f esitettyjä, saadaan vastaavat signaalit 4f, 4g ja 4h, jolloin voidaan varmuudella määritellä vajaasärmien sisä-ja ulkorajat.Figures 4c, 4f and 4e show the signal amplitudes corresponding to the radiation received from the three radiation sources, i.e. from the upper left, the upper right and below the measurement zone. After the signal processing, corresponding to those shown in Figs. 3e and 3f, the corresponding signals 4f, 4g and 4h are obtained, whereby the inner and outer boundaries of the deficient edges can be determined with certainty.
Il : MM I:IH I iiSI ! !Il: MM I: IH I iiSI! !
Claims (3)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE8902356A SE8902356L (en) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | DEVICE FOR SCANING AND SLOWING MEDIUM RADIATION OF IRREGULAR WORKING PIECES |
| SE8902356 | 1989-06-29 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI903263A0 FI903263A0 (en) | 1990-06-28 |
| FI96636B FI96636B (en) | 1996-04-15 |
| FI96636C true FI96636C (en) | 1996-07-25 |
Family
ID=20376433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI903263A FI96636C (en) | 1989-06-29 | 1990-06-28 | Equipment for mapping and measuring irregular workpieces by means of radiation |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| AT (1) | AT400908B (en) |
| DE (2) | DE9006970U1 (en) |
| FI (1) | FI96636C (en) |
| SE (1) | SE8902356L (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4126988A1 (en) * | 1991-08-15 | 1993-02-18 | Diehl Gmbh & Co | Lighting for optical imaging of elongated diffuse reflectors - enables edges of object to be highlighted against darkened background for scanning by overhead video camera |
| FI952028A0 (en) * | 1995-04-28 | 1995-04-28 | Jorma Reponen | Automatic marketing and qualification station |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3890509A (en) * | 1972-05-09 | 1975-06-17 | Black Clawson Co | Automatic edger set works method and apparatus |
| SE388272B (en) * | 1975-10-15 | 1976-09-27 | Kockums Automation | PROCEDURE AND DEVICE FOR NON-CONTACT SATURATION WITH OPTICAL SENSE OF A METHOD |
| US4186310A (en) * | 1978-06-19 | 1980-01-29 | Maxey Carl W | Automatic wane detector |
| DE3334400C1 (en) * | 1983-09-23 | 1985-06-05 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Photoelectric position-measuring device |
-
1989
- 1989-06-29 SE SE8902356A patent/SE8902356L/en not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-06-22 DE DE9006970U patent/DE9006970U1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-22 DE DE19904019882 patent/DE4019882C2/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-06-25 AT AT134490A patent/AT400908B/en not_active IP Right Cessation
- 1990-06-28 FI FI903263A patent/FI96636C/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SE463638B (en) | 1990-12-17 |
| FI903263A0 (en) | 1990-06-28 |
| FI96636B (en) | 1996-04-15 |
| SE8902356D0 (en) | 1989-06-29 |
| DE9006970U1 (en) | 1990-09-06 |
| DE4019882A1 (en) | 1991-01-03 |
| ATA134490A (en) | 1995-08-15 |
| SE8902356L (en) | 1990-12-30 |
| DE4019882C2 (en) | 1995-01-26 |
| AT400908B (en) | 1996-04-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI109833B (en) | Light scanner with interlaced camera fields and parallel light beams | |
| FI94551C (en) | Method and apparatus for monitoring the surface profile of a moving workpiece | |
| US4301373A (en) | Scanning of workpieces such as lumber cants | |
| US5986745A (en) | Co-planar electromagnetic profile scanner | |
| EP0001178B1 (en) | An optical sensing instrument | |
| EP0917649B1 (en) | Apparatus and method for detecting surface defects | |
| US3983403A (en) | Method and device for optical scanning of a series of transversal dimensional values at a board or plank | |
| US4878754A (en) | Method of and apparatus for measuring irregularities of road surface | |
| FI59300B (en) | FOERFARANDE OCH ANORDNING VID VIDONTONTTFRI MAETNING | |
| JPS5972008A (en) | Measuring device for distance | |
| FI96636C (en) | Equipment for mapping and measuring irregular workpieces by means of radiation | |
| EP0871008B1 (en) | Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour | |
| AU2007299719B2 (en) | Grain angle sensor | |
| JPH1123243A (en) | Surface defect inspection device | |
| CA1284875C (en) | Method for detecting dripping droplet | |
| PL167445B1 (en) | Apparatus for determining dimensions of an object in particular of moving one | |
| CN1155747C (en) | Device for detecting parameter of extended sample | |
| EP0340830A2 (en) | Equipment for the detection and correction of the sideways movement of a belt advancing along a processing line | |
| US4200398A (en) | Automatic visibility measuring system | |
| EP1160566A3 (en) | Apparatus for the continuous detection of oils on water surfaces by means of surface reflection | |
| WO1993022659A1 (en) | Method and system for detection of defects on the surface of a wood article | |
| JPH05126535A (en) | Sheet dimension measuring instrument with net-like belt | |
| KR20030054630A (en) | Apparatus for detection of coil surface defect using multi-wavelength light | |
| EP0033024A2 (en) | Intruder detector | |
| SU769323A1 (en) | Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB | Publication of examined application | ||
| MM | Patent lapsed |
Owner name: REMACONTROL AB |