FI95421B - Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä - Google Patents

Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä Download PDF

Info

Publication number
FI95421B
FI95421B FI935854A FI935854A FI95421B FI 95421 B FI95421 B FI 95421B FI 935854 A FI935854 A FI 935854A FI 935854 A FI935854 A FI 935854A FI 95421 B FI95421 B FI 95421B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
reactors
vacuum
silicon wafer
reactor
common
Prior art date
Application number
FI935854A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI935854A0 (fi
FI95421C (fi
FI935854A (fi
Inventor
Heikki Ihantola
Original Assignee
Heikki Ihantola
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heikki Ihantola filed Critical Heikki Ihantola
Priority to FI935854A priority Critical patent/FI95421C/fi
Publication of FI935854A0 publication Critical patent/FI935854A0/fi
Priority to EP95903370A priority patent/EP0736223A1/en
Priority to US08/652,506 priority patent/US6174366B1/en
Priority to PCT/FI1994/000574 priority patent/WO1995018459A1/en
Publication of FI935854A publication Critical patent/FI935854A/fi
Publication of FI95421B publication Critical patent/FI95421B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI95421C publication Critical patent/FI95421C/fi

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67173Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67207Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Description

95421 PUOLIJOHTEEN, KUTEN PIIKIEKON, PROSESSOINNISSA KÄYTETTÄVÄ LAITTEISTO JA MENETELMÄ ANORDNING OCH FÖRFARANDE VID BEHANDLING AV HALVLEDARE,
SÄSOM KISELSKIVA
Esillä oleva keksintö kohdistuu puolijohteiden, kuten pii-kiekkojen, prosessoinnissa käytettävään laitteistoon, jossa on kaksi tai useampi reaktoria piikiekon prosessoimiseksi kahdessa tai useammassa erilaisessa prosessointivaiheessa.
5 Keksintö kohdistuu myös menetelmään puolijohteiden, kuten piikiekkojen, prosessoimiseksi laitteella, jossa on yksi tai useampi reaktori tai prosessikammio piikiekon kahta tai useampaa erilaista prosessoimisvaihetta varten.
10 Puolijohdetekniikka on kehittynyt erittäin voimakkaasti viimeisten kolmen vuosikymmenen aikana. Yksittäisten transistorien valmistuksesta on siirrytty piikiekkojen prosessointiin. Nykyisissä piikiekkojen prosessointiin tarkoitetuissa reaktoreissa, voidaan yhtäaikaisesti proses-15 soida kymmeniä, jopa parikin sataa, kiekkoa kerrallaan. Reaktorit on siis tarkoitettu suurten erien prosessointiin.
Piitekniikan viimeaikaisessa kehityksessä tärkeimpiä tekijöitä ovat olleet elementtien dimensioiden pienenemi-. 20 nen, mikä kehitys on tehnyt mahdolliseksi mahduttaa samaan piiriin useita miljoonia transistoreita. Piikiekkojen koko on myös kasvanut muutamasta cm:stä jopa 20 cm:iin, jolloin samalta kiekolta saadaan nyt enemmän ja tehokkaampia piirejä kuin ennen.
25
Samalla kiekkojen paksuutta on jouduttu kasvattamaan, mikä kuitenkin saattaa aiheuttaa kiekoissa jännityksiä niitä lämpökäsiteltäessä. Näiden ongelmien minimoimiseksi kiekkoja käsitellään makuuasennossa pohjastaan tuettuina kaikissa 30 työvaiheissa. 1
Puolijohteiden prosessoinnissa käytetyt laitteet ovat aina 2 95421 olleet kalliita. Lämpötilojen tarkkuutta ja tasaisuutta koskevien vaatimusten noustua laitteiden hinnat ovat entisestään kohonneet, tavallisten korkeakoulujen ja monen tutkimuslaitoksen tavoittamattomiin.
5
Yleinen ratkaisu antaa opiskelijoille edes jonkinlainen tuntuma prosesseista on ollut hankkia vanhoja pienikokoisten kiekkojen käsittelyyn soveltuvia laitteita ja tinkiä kokeiden vaativuudesta. Jokaisen prosessivaiheen laite on 10 tällöin tyypillisesti oma täydellinen yksikkönsä, jossa on reaktorikammio, oma automatiikka, omat tyhjö- ja kuumennus-laitteet sekä omat kaasujenjakeluputkistot ja venttiilit. Laitteiden määrä tulee näin kuitenkin hyvin suureksi, koska esim. integroitujen piirien valmistuksessa piikiekoille 15 tarvitaan useita kymmeniä perustyövaiheita, näistä kuviointeja n. 10 - 15. Kokonaislaitteistosta tulee siis näinkin yhdistettynä kallis ja lisäksi se vaatii paljon puhdastilaa ' ; opetus- tai tutkimuslaitoksessa.
20 Nyt esillä olevan keksinnön tarkoituksena onkin aikaansaada puolijohteiden, erikoisesti piikiekkojen, prosessointiin laitteisto, jossa edellä mainitut haitat on minimoitu.
Keksinnön tarkoituksena on erikoisesti aikaansaada kompak-25 ti, käytöltään monipuolinen ja hinnaltaan kohtuullinen laitteisto piikiekkojen prosessoimiseksi.
Edellä esitettyjen tarkoitusperien saavuttamiseksi on keksinnön mukaiselle puolijohteen, erikoisesti piikiekko- *. 30 jen, prosessoinnissa käytettävälle laitteistolle ja mene- • « telmälle tunnusomaista se, mikä on määritelty jäljempänä esitetyissä patenttivaatimuksissa.
Keksinnön mukaisessa piikiekon prosessointiin käytettävässä 35 laitteistossa ovat reaktorit, joita on kaksi tai useampia, 3 95421 yhdistetty reaktoreille yhteiseen keskusyksikköön, johon kuuluu reaktoreille yhteiset - tyhjölaitteet, kuten tyhjöpumppu ja/tai turbopumppu, ja - kaasujen jakelulaitteet, esim. happea, typpeä, vetyä, 5 silaania, arseenia ja/tai fosfiinia sisältävien kaasujen johtamiseksi reaktoreihin.
Keksinnön mukainen laitteisto mahdollistaa uuden tyyppisen prosessointijärjestelmän kehittämisen. Sensijaan, että 10 hankitaan jokaista prosessointivaihetta varten oma täydellinen laitteistonsa, rakennetaankin monipuolinen keskusyksikkö, jossa on yhteiset tyhjöpumput, tehoyksiköt, kaasujen jakelu, sähkönjakelu, säätö- ja tarkkailujärjestelmä ja automatiikka sekä turvalaitteisto myrkkykaasuille. Kes-15 kusyksikkö yhdistetään kahteen tai useampaan keskusyksiköstä venttiilein ja kytkimin erotettuun reaktoriin tai reaktiokammioon. Laitteistolla on tietenkin yhteinen tukirakenne. Laitteisto, jossa on kolme eri reaktoria voidaan mahduttaa n. lm x 3m x l,5m tilaan, mikä tietää 20 valtavaa tilansäästöä aikaisemmin tunnettuihin järjestelmiin verrattuna.
Lisäksi laitteistossa on edullisesti kaikille reaktoreille yhteinen piikiekkojen latauskammio, joka on yhdistetty 25 keskusyksikön tyhjölaitteisiin, tarvittavan alipaineen tai tyhjiön aikaansaamiseksi latauskammiossa.
Yhdistämällä reaktoreiden ympärillä olevat toiminnot . keksinnön mukaisesti yhteiseen keskusyksikköön saadaan 30 kompakti, yksinkertainen ja hinnaltaan edullinen laitteisto, jossa voidaan prototyyppimäisesti prosessoida piikiek-koja ja tutkia prosessoinnin eri vaiheita.
Kun tarkastellaan prosessoinnin kehitystä viime vuosina 35 mikropiirielementtien dimensioiden lähestyessä μιη:η rajaa, 4 95421 voidaan todeta, että enää ei tarvita pitkiä tuntien lämpökäsittelyä 1200°C:ssa. Käytetyt lämpötilat ovat matalampia ja ajat lyhyempiä, eikä ajankäytön kannalta siksi aina olekaan oleellista voida prosessoida monta piikiekkoa 5 samanaikaisesti, vaan ne voidaan valmistaa reaktoreissa kiekko kerrallaan.
Muitakin piikiekkojen prosessoinnin kannalta oleellisia muutoksia on tapahtunut. Hapoissa tapahtuvista syövytyksis-10 tä on paljolti luovuttu. Syövytykset tapahtuvat nykyään usein kaasuplasmassa plasmareaktoreissa. Kalvot kasvatetaan usein kaasuista syntetoimalla, usein alennetussa paineessa, nk. CVD (Chemical Vapor Deposition) tai LPCVD (Low Pressure Chemical Vapor Deposition) reaktoreissa. Lisäksi valmiste-15 taan entistä useammin yleiskäyttöisten standardipiirien sijasta määrättyyn sovellutukseen kehitettyjä piirejä, ASIC (Application Specific Integrated Circuit) tai asiakkaan omaa tilaus- tai sovitepiirejä, joissa sarjakoot ovat pieniä, jolloin keksinnön mukainen yhden kiekon proses-20 sointi kerrallaan saattaa riittää.
Erikoisesti yliopistoissa ja monissa tutkimuslaitoksissa ei ole tarvetta sarjatuotantoon ja riittääkin, että kerrallaan käsitellään vain yhtä kiekkoa ja että prosessin eri vaiheet 25 tehdään peräkkäin.
Jotta voitaisiin mahdollisimman monipuolisesti tutkia esim. integroitujen piirien tai erilaisten detektorien ja anturi-... en valmistusta, tarvitaan kuitenkin hyvinkin erityyppisiä 30 reaktoreita tai kammioita. Koska kammioiden määrä kuitenkin pyritään minimoimaan, ne olisi edullisesti tehtävä laajalla alueella toimiviksi. Modernissa puolijohdetekniikassa tarvitaan reaktoreita esim. seuraavan tyyppisissä prosesseissa: 35 - Piin epitaksiaalinen ja polypiin kasvatus. Piin epitak-
II
5 95421 siaalisessa kasvatuksessa matalassa paineessa tarvitaan 500 - 800 °C lämpötila, jonka tuottamiseen käytetään esim. resistiivistä lämmitystä. Lämmityselementtinä voidaan käyttää grafiittilevyä. Reaktorin maksimilämpötila on n.
5 1100°C, kasvatuspaine 10“4 - 10 mbar (0,01 - 1000Pa); kaasuina käytetään vetyä, typpeä ja silaania SiH4 tai disilaania SiH2Cl2 sekä jotakin piristekaasua.
- Predepositio. Reaktorin maksimilämpötila on n. 1100°C; kaasuina käytetään typpeä, happea sekä piristeenä esim.
10 fosfiinia, diboraania tai arsiinia.
- Oksidointi ja diffuusio. Reaktorin maksimilämpötila on n. 1100°C; kaasuina käytetään typpeä ja happea sekä vesihöyryä. Reaktori on mahdollisesti voitava paineistaa n. 20 atm asti.
15 - LPCVD kasvatus. Reaktorin maksimilämpötila on n. 600°c ja alipaine n. 50 mbar; kaasuina käytetään typpeä, happea sekä esim. silaania, ammoniakkihöyryä, alumiini- ja wolfra-myhdisteitä.
- Plasmasyövytys tai etsaus. Prosessipaine < 0,2 mbar ja 20 RF-taajuus, esim. 13,56 MHz; kaasuina käytetään esim. CF4 tai CC14, sekä happea ja vetyä.
- Metallinkasvatus tyhjiössä esim. sputteroimalla. Reaktorin korkein lämpötila on noin 300°C ja prosessointipaine n.
' 0,001 - 0,5 mbar. Reaktorissa on alumiini- tai muu metalli- 25 katodi.
Tarvitaan siis hyvin erilaisia reaktoreita tai kammioita.
Esim. edellä kolmessa ensin mainitussa prosessissa korkeat , . lämpötilat asettavat reaktoreille suuret vaatimukset.
30 Keksinnön mukaisessa laitteistossa reaktorit voidaan räätälöidä kutakin erilaista prosessointivaihetta varten erikseen tai ne voidaan pyrkiä tekemään laajemmalla alueella toimiviksi, jolloin erillisiä reaktoreita tarvitaan vastaavasti vähemmän. Epitaksiaaliseen kasvatukseen, predeposi-35 tioon, oksidointiin ja LPCVD kasvatukseen voidaan mahdolli- 95421 6 sesti käyttää samaa reaktoria.
Reaktoreiden tulee olla rakenteeltaan ja materiaaliltaan sellaisia, että niissä voidaan suorittaa kaikki tarvittavat 5 vaiheet luotettavasti, puhtaasti ja prosessoitavaa kiekkoa termisesti rasittamatta. Tutkimuskäyttöön tarkoitettujen reaktoreiden suunnittelussa voidaan lähteä siitä, että kiekot ovat halkaisijaltaan 150 mm ja ne lepäävät reaktori-kammioissa latteellaan aktiivinen puoli ylöspäin, jolloin 10 kammioiden halkaisija ja korkeus on max. lämpötilasta riippuen 250 - 300 mm. Tyhjöä tarvitsevien kammioiden materiaaliksi soveltuu ruostumaton teräs. Suurimmissa lämpötiloissa kammioissa on käytettävä kvartsia ja mahdollisesti lämpöä heijastavaa ja eristävää ulkokuorta.
15
Keksinnön mukainen laitteisto on erittäin kompakti, jolloin sen tilantarve supistuu huomattavasti niihin systeemeihin verrattuna, joissa joka reaktorilla on omat tyhjö-, kaasun-jakelu-, sähkönjakelu-, automatiikka- ja kaasunpoistojär-20 jestelmänsä. Keksinnön mukaisen toimivan laitteen saa mahtumaan jopa 20 - 30 m2:iin.
Keksinnön mukaisen laitteistoon, jossa on kaksi tai useampi reaktoreita ja yhteinen keskusyksikkö, tarvitaan luonnol-25 lisesti lisäksi ulkopuoliset kuviointi- eli ns. maskaus-laitteet sekä mahdollisesti optisia ja sähköisiä mittauslaitteita. Märkäpesut suoritetaan edullisesti myös laitteiston ulkopuolella.
30 Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin viittaamalla oheisiin kuvioihin, joissa
Kuvio 1 esittää kaaviollisesti ja sivulta katsottuna piikiekkojen prosessointilaitteistoa, jossa on 35 keksinnön mukainen keskusyksikkö, ja
II
7 95421
Kuvio 2 esittää Kuvion 1 mukaista laitteistoa ylhäältä katsottuna.
Kuvioissa 1 ja 2 on esitetty piikiekkojen prosessointilai-5 te, joka käsittää kiekkojen latauskammion 10, kolme vierekkäistä reaktoria 12, 14 ja 16, piikiekkojen varsinaista prosessointia varten, ja reaktorien yhteiseen keskusyksikköön kuuluvan tyhjöpumppujärjestelmän 18, tyhjiön aikaansaamiseksi reaktoreissa ja latauskammiossa, ja kaasujen 10 jakelujärjestelmä 20. Tyhjöpumppujärjestelmä 18 on Kuvioissa esitetty reaktoreiden 12, 14 ja 16 viereen sovitettuna, mutta sovitetaan todellisuudessa edullisesti reaktoreiden alapuolelle.
15 Latauskammio 10 on kuten Kuviosta 2 ilmenee, yhdistetty paineventtiileinä toimivien sulkujen 22, 24 ja 26 välityksellä reaktoreihin 12, 14 ja 16. Latauskammioon on lisäksi yhdistettävissä sululla 28 piikiekon kuljettamiseen ja säilyttämiseen tarkoitettu kasetti 30, jossa kiekkoa 20 kuljetetaan ja säilytetään latteellaan aktiivipuoli ylöspäin ja jonka lasikannen läpi voidaan nähdä kiekolla esim oksidin kasvu.
Piikiekko siirretään prosessoinnin alkaessa kuljetus- ja 25 säilytys kasetista 30 edullisesti automaattisella kiekon-siirtomekanismilla (jota ei ole esitetty kuvissa) sulun 28, alipaineeseen tai tyhjiöön saatetun latauskammion 10 ja toisen sulun 22, 24 tai 26 kautta ko. prosessointivaiheen r p . reaktoriin 12, 14 tai 16, ts. reaktorin reaktorikammioon.
30 Siirtomekanismi on latauskammion sisällä oleva kelkkamainen rakenne, joka kuljettaa ohjatusti ja kontrolloidusti piikiekon reaktorista toiseen, reaktorista säilytystilaan tai päinvastoin. Reaktorista toiseen tapahtuva siirto tehdään tyhjössä (n. 10“3 - 10-4 mbar). Siirtomekanismi 35 käsittää edullisesti latauskammioon sovitetut kvartsikis- 8 95421 kot, joita pitkin kiekkoa siirretään. Latauskammion sivulla olevat kvartsiohjurit pitävät kiekon oikeassa suunnassa reaktoriin asti. siirron aikana kiekkoa kannatellaan reunoista "kynsistä". Piikiekko on reaktorikammioissa edulli-5 sesti vaakatasossa.
Edellä selostettu piikiekon kaksivaiheinen siirto alipaineessa tai tyhjössä olevan latauskammion kautta reaktori-kammioon eristää tehokkaasti reaktorikammion ulkoatmosfää-10 ristä ja auttaa siten pitämään reaktorikammion puhtaana.
Reaktorit 12, 14 ja 16 ovat keskenään erilaiset ja soveltuvat käytettäväksi erilaisissa prosessointivaiheissa. Kuvioiden 1 ja 2 esittämässä sovellutuksessa reaktoria 12 15 käytetään plasmasyövytykseen tai etsaukseen, reaktoria 14 sputterointiin tai metallinkasvatukseen ja reaktoria 16 epitaksiaaliseen tai CVD kasvatukseen.
Reaktorit 12, 14 ja 16 on yhdistetty kaasujen jakojärjes-20 telmään 20, jossa kaasuputkistoissa johdetaan kulloinkin tarvittavaa kaasua reaktoreihin ja tarpeen vaatiessa myös muualle, esim. latauskammioon. Näin esim. Kuviossa 2 esitetty happea johtava kaasuputki 32 on venttiilein 34, 36 ja 38 yhdistetty reaktoreihin 12, 14, 16. Vastaavasti on 25 argonia, typpeä ja vetyä johtava kaasuputkisto 40 venttiilein 42, 44 ja 46 yhdistetty reaktoreihin 12, 14, 16.
Argonia, hiilitetrafluoridia (CF4) tai hiilitetrakloridia (CC14) johtava kaasuputkisto 48 on venttiilillä 50 yhdistetty ainoastaan plasmasyövytysreaktoriin 12. Argonia, dibo-30 raania (B2H6), arsiinia (AsH3) tai silaania (SiH4) johtava kaasuputkisto 52 on venttiilillä 54 yhdistetty ainoastaan epitaksi- tai CVD-reaktoriin 16. Typpeä johtava kaasuputki 56 on venttiilillä 58 yhdistetty latauskammioon 10. Typpeä käytetään lisäksi reaktiokammioiden, latauskammion ja 35 pumppujen ilmaamiseen ja pneumaattisten venttiilien ohjaa-
II
9 95421 miseen. Kaasuputkistot tulee edullisesti voida paineistaa 15 - 20 bar:in paineeseen. Kaikkia kaasuventtiileitä voidaan ohjata keskusyksikköön liitetyllä automatiikalla.
5 Keskusyksikköön yhdistetyt tyhjölaitteet 18 käsittävät yhdysputken 60, joka venttiilein 62, 64 ja 66 on yhdistetty reaktoreihin 12, 14 ja 16. Yhdysputkeen 60 on yhdistetty mekäaninen pumppu 68 ja turbopumppu 70, joiden avulla yhdysputkessa ja reaktoreissa, venttiilien ollessa auki, 10 voidaan aikaansaada toivottu alipaine tai tyhjiö. Turbopum-pun imutehoa säädellään kurkku venttiilillä. Imutehon säätöä käytetään paineen vakioimiseen reaktiokammiossa.
Reaktorista 12, 14 tai 16 pumpuilla poistettavat kaasut 15 johdetaan edullisesti, kuten Kuvioista 1 ja 2 käy ilmi, polttoyksikköön 72, jossa palavat myrkylliset kaasut hävitetään, minkä jälkeen kaasut voidaan poistaa laitteistosta yhteellä 74. Kaasuja voidaan tietenkin haluttaessa ohjata turbopumpun 70 ja/tai mekaanisesti toimivan pumpun 20 68 ohi. Kaasujen polttoyksikkö 72 ja pumput on kuvioiden 1 ja 2 esittämässä ratkaisussa sovitettu yhdysputken 60 perään mutta voidaan tietenkin haluttaessa sovittaa yhdysputken jommallekummalle sivulle tai yhdysputken alapuolel-le, riippuen siitä missä tilaa parhaiten löytyy.
25
Kaasun jakojärjestelmä 20 on edullisesti myös yhdistetty kaasun poistojärjestelmään, esim. polttoyksikköön 72 siten, että kaasuputkiston 20 läpi virtaava kaasu voidaan poistaa vaarattomasti. Kaasuputkistot 32, 40, 48, 52 ja 56 voidaan : 30 siten, yhdistää esim. polttoyksikköön 72 erillisillä kaasuputkilla, joita Kuvioissa 1 ja 2 ei ole esitetty.
Laitteiston yhdysputkeen 60 voidaan lisäksi yhdistää erilaisia kaasujen mittaus- tai testilaitteita, kuten 35 massaspektrometri 76 erilaisten kaasukombinaatioiden 10 95421 osapaineiden mittaamiseksi. Massaspektrometri on venttiilillä 78 yhdistetty yhdysputkeen 60 ja esim. pumpun 80 välityksellä polttoyksikköön 72, jossa testatut kaasut voidaan hävittää. Yhteinen yhdysputki mahdollistaa kaasujen 5 yhteisen kaasuanalyysin.
Keksinnön mukaisessa laitteistossa on edullisimmin vain yksi reaktori kerrallaan toiminnassa. Jos Kuvioiden 1 ja 2 mukaisessa laitteistossa esim. epireaktori tai oksidointi-10 reaktori 16 on toiminnassa tulee muiden reaktoreiden, eli plasmasyövytysreaktorin 12 ja metallointireaktorin 14, ja yhdysputken 60 väliset venttiilit 64 ja 66 olla suljetut. Tällöin näille reaktoreille 12 ja 14 ei myöskään tule kaasua eikä sähköä. Laite toimii ikäänkuin siinä olisi vain 15 yksi aktiivinen reaktori 16 ja tämän reaktorin tarvitsemat toiminnot. Laite toimii siis kuten aikaisemmin tunnetut laitteet, joissa joka reaktorilla on erilliset tyhjö-, kaasu- ja sähköjärjestelmät.
20 Epitaksireaktorissa 16 piikiekon pinnalle kasvatetaan ohut oksidikerros kiekkoa samalla kuumennettaessa. Kaasuputkistoista 32, 40 ja 52 johdetaan reaktorikammioon prosessin tarvitsemat kaasut. Kun Kuvioiden 1 ja 2 esittämässä laitteistossa haluttu prosessin vaihe eli oksidin kasvatus 25 on suoritettu kiekko otetaan reaktorista 16 pois, ja sille suoritetaan tarvittava kuviointi laitteiston ulkopuolella.
Kuvioinnin jälkeen kiekko tuodaan jatkoprosessointia varten uudelleen laitteistoon. Kiekko voidaan tällöin asettaa 30 esim. plasmassa syövytystä varten reaktoriin 12. Tällöin vuorostaan vain reaktori 12 on aktiivinen ja kaikki muut reaktorit 14 ja 16 ovat keskusyksiköstä, eli tyhjösystee-mistä 18, kaasun jako järjestelmästä 20 ja sähköjärjestelmästä erillään. Plasmaetsausta tai -syövytystä varten on 35 reaktorissa 12 prosessointia varten tarvittavat elektrodit li 11 95421 tukirakenteilleen (ei esitetty Kuvioissa) . Prosessoinnissa tarvittavat kaasut johdetaan tyhjökammioon kaasuputkistoilla 32, 40 ja 48. Reaktorissa 12 plasman sytyttämiseen tarkoitettu suurtaajuusgeneraattori saa tehonsa teholäh-5 teestä 82. Generaattorin maksimilähtöteho on esim. n. 500 W taajuuden ollessa 100 kHz vastaten LF-plasmaa.
Vastaavasti kiekkoa esim. metalloitaessa sputterointikam-miossa reaktorissa 14 ovat muut reaktorit 12 ja 16 suljettu 10 pois systeemistä. Sputterointikammio voidaan valmistaa esim. alumiinista. Kammion perusrakenne on samanlainen kuin muiden kammioiden mitä piikiekon sisäänvientiin tulee. Kammion yläosaan sovitetaan magnetroni, johon targetti kiinnitetään. Magnetroni voidaan varustaa kestomagneeteilla 15 tai sähkömagneeteilla. Magnetroni voidaan eristää sputte-rointikammiosta venttiilillä targetin vaihdon ajaksi.
Kaikki reaktorit eli prosessointikammiot ovat keksinnön mukaan edullisesti odotusaikana korkeassa tyhjiössä, esim.
20 n. 10 - 100 Pa tyhjössä (ΙΟ-3 - 10"4 bar) . Myös laitteen latauskammio, jonka kautta kiekko siirretään suljetusta kasetista prosessointikammioon, pumpataan tyhjöön ennen kiekon siirtoa. Siirtämällä kiekko latauskammiosta prosessointikammioon korkeassa tyhjössä saadaan kiekon mukana 25 prosessointikammioon siirtyvät epäpuhtaudet vähenemään murto-osaan normaali ilmanpaineessa tapahtuvaan siirtoon verrattuna. Paine nostetaan prosessointikammiossa käyttö-paineeseen vasta prosessoinnin alkaessa. Näin reaktiot tapahtuvat erittäin puhtaissa olosuhteissa. Kaikkien 30 kiekonsiirron vaiheiden olisi tapahduttava mahdollisimman puhtaissa olosuhteissa.
Keksintöä ei ole tarkoitus rajoittaa edellä esitettyyn suoritusmuotoon vaan sitä voidaan soveltaa patenttivaati-35 musten määrittelemän keksinnöllisen ajatuksen puitteissa.

Claims (5)

95421
1. Piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto, jossa on kaksi tai useampi erityyppinen reaktori (12, 14, 16), 5 jotka kukin soveltuvat piikiekon määrättyjen prosessivaiheiden prosessoimiseen, kuten piin epitaksiaaliseen kasvatukseen, plasmasyövytykseen tai metallikasvatukseen tyhjiössä, piikiekon prosessoimiseksi kahdessa tai useammassa erilaisessa prosessointivaiheessa, 10 tunnettu siitä, että reaktorit (12, 14, 16) on yhdistetty yhteiseen keskusyksikköön, johon kuuluu - reaktoreihin yhteisellä yhdysputkella (60) yhdistetyt yhteiset tyhjölaitteet (18), kuten tyhjöpumppu ja/tai turbopumppu, johon yhdysputkeen reaktorit (12, 14, 16) on 15 yhdistetty erikseen suljettavilla tyhjöventtiileillä (62, 64, 66), mahdollistamaan toisten reaktoreiden poissulkemisen piikiekon prosessoimiseksi vain yhdessä aktiivisessa reaktorissa kerrallaan, ja - reaktoreille (12, 14, 16) yhteiset kaasujen jakelulait-20 teet (20), jotka käsittävät eri reaktoreihin kaasuventtii- lein (34, 36, 38, 42, 44, 46, 50, 54) yhdistetyt kaasuputket (32, 40, 48, 52) ja reaktoreille yhteisen kaasuventtii-lejä ohjaavan automatiikan, kaasujen, kuten happea, typpeä, : r vetyä, silaania, arseenia ja/tai fosfiinia sisältävien 25 kaasujen, johtamiseksi kulloinkin aktiivisena olevaan reaktoriin.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että reaktoreilla (12,14,16) on yhteinen piikiekon . 30 latauskammio (10), piikiekon johtamiseksi haluttuun reakto riin, joka latauskammio (10) on yhdistetty keskusyksikön tyhjölaitteisiin (18), alipaineen aikaansaamiseksi lataus-kammiossa.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnettu 95421 siitä, että keskusyksikköön lisäksi kuuluu reaktoreille yhteinen sähkönjakelujärjestelmä ja yhteinen suurtajuus-generaattori.
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että reaktorit (12, 14, 16) ovat yhden piikiekon prosessointi-kammioita.
5. Menetelmä piikiekon prosessoimiseksi laitteistossa, 10 jossa on kaksi tai useampi erityyppinen reaktori (12, 14, 16. piikiekon kahta tai useampaa erityyppistä prosessointia varten, kuten piin epitaksiaalista kasvatusta, plasmasyövy-tystä tai metallikasvatusta varten, tunnettu siitä, että laitteistossa, jossa eri reaktorit 15 (12, 14, 16) on yhdistetty erikseen suljettavilla tyhjö- venttiileillä (62, 64, 66) reaktoreille yhteisen keskusyksikön tyhjöpumppujärjestelmään (18) ja erikseen suljettavilla kaasuventtiileillä (34, 36, 38, 42, 44, 46, 50, 54) yhteisen keskusyksikön kaasujen jakelulaitteisiin (20) 20. prosessoidaan piikiekkoa vain yhdessä aktiivisessa reaktorissa kerrallaan, aktiivisen reaktorin ollessa tyhjöventtiilillä yhdistettynä tyhjöpumppujärjestelmään (18) ja toisten reaktoreiden ollessa tyhjöventtiileillä poissuljettuna siitä, 25. kulloinkin aktiivisena olevaan reaktoriin johdetaan yhteisillä kaasujen jakelulaitteilla (20) , kaasuventtiilei-tä yhteisestä keskusyksiköstä ohjaamalla, ko. reaktorissa tapahtuvan prosessin tarvitsemaa kaasua, kuten happea, typpeä, vetyä, silaania, arseenia ja/tai fosfiinia sisältä-. 30 vää kaasua, ja että tt* - kaikki reaktorit pidetään odotusvaiheen ja/tai piikiekon siirtovaiheen aikana tyhjössä, edullisesti n. 10 - 100 Pa tyhjössä. 95421
FI935854A 1993-12-23 1993-12-23 Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä FI95421C (fi)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI935854A FI95421C (fi) 1993-12-23 1993-12-23 Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä
EP95903370A EP0736223A1 (en) 1993-12-23 1994-12-20 Apparatus and method for processing of semiconductors, such as silicon chips
US08/652,506 US6174366B1 (en) 1993-12-23 1994-12-20 Apparatus and method for processing of semiconductors, such as silicon chips
PCT/FI1994/000574 WO1995018459A1 (en) 1993-12-23 1994-12-20 Apparatus and method for processing of semiconductors, such as silicon chips

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI935854A FI95421C (fi) 1993-12-23 1993-12-23 Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä
FI935854 1993-12-23

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI935854A0 FI935854A0 (fi) 1993-12-23
FI935854A FI935854A (fi) 1995-06-24
FI95421B true FI95421B (fi) 1995-10-13
FI95421C FI95421C (fi) 1996-01-25

Family

ID=8539180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI935854A FI95421C (fi) 1993-12-23 1993-12-23 Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6174366B1 (fi)
EP (1) EP0736223A1 (fi)
FI (1) FI95421C (fi)
WO (1) WO1995018459A1 (fi)

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7232728B1 (en) * 1996-01-30 2007-06-19 Micron Technology, Inc. High quality oxide on an epitaxial layer
JP3394263B2 (ja) * 1997-04-28 2003-04-07 芝浦メカトロニクス株式会社 真空処理方法及び装置
EP1187183A4 (en) * 1999-04-16 2009-01-14 Tokyo Electron Ltd MANUFACTURE OF A SEMICONDUCTOR PART AND ASSOCIATED MANUFACTURING STRIP
JP4578615B2 (ja) * 1999-07-21 2010-11-10 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
DE29915696U1 (de) * 1999-09-07 2001-01-18 Robert Bosch Gmbh, 70469 Stuttgart Ätzanlage zum HF-Dampfätzen
US6602323B2 (en) * 2001-03-21 2003-08-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for reducing PFC emission during semiconductor manufacture
US20070032046A1 (en) * 2001-07-06 2007-02-08 Dmitriev Vladimir A Method for simultaneously producing multiple wafers during a single epitaxial growth run and semiconductor structure grown thereby
US6670071B2 (en) * 2002-01-15 2003-12-30 Quallion Llc Electric storage battery construction and method of manufacture
US6800172B2 (en) * 2002-02-22 2004-10-05 Micron Technology, Inc. Interfacial structure for semiconductor substrate processing chambers and substrate transfer chambers and for semiconductor substrate processing chambers and accessory attachments, and semiconductor substrate processor
US6858264B2 (en) * 2002-04-24 2005-02-22 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition methods
US6814813B2 (en) * 2002-04-24 2004-11-09 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition apparatus
US6821347B2 (en) * 2002-07-08 2004-11-23 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for depositing materials onto microelectronic workpieces
US20040011381A1 (en) * 2002-07-17 2004-01-22 Klebanoff Leonard E. Method for removing carbon contamination from optic surfaces
US6955725B2 (en) * 2002-08-15 2005-10-18 Micron Technology, Inc. Reactors with isolated gas connectors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces
JP4093462B2 (ja) * 2002-10-09 2008-06-04 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法及び基板処理装置
US6926775B2 (en) * 2003-02-11 2005-08-09 Micron Technology, Inc. Reactors with isolated gas connectors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces
US7335396B2 (en) * 2003-04-24 2008-02-26 Micron Technology, Inc. Methods for controlling mass flow rates and pressures in passageways coupled to reaction chambers and systems for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
US7344755B2 (en) * 2003-08-21 2008-03-18 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for processing microfeature workpieces; methods for conditioning ALD reaction chambers
US7235138B2 (en) * 2003-08-21 2007-06-26 Micron Technology, Inc. Microfeature workpiece processing apparatus and methods for batch deposition of materials on microfeature workpieces
US7422635B2 (en) * 2003-08-28 2008-09-09 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for processing microfeature workpieces, e.g., for depositing materials on microfeature workpieces
US7056806B2 (en) * 2003-09-17 2006-06-06 Micron Technology, Inc. Microfeature workpiece processing apparatus and methods for controlling deposition of materials on microfeature workpieces
US7282239B2 (en) * 2003-09-18 2007-10-16 Micron Technology, Inc. Systems and methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
US7323231B2 (en) * 2003-10-09 2008-01-29 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for plasma vapor deposition processes
US7581511B2 (en) * 2003-10-10 2009-09-01 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for manufacturing microfeatures on workpieces using plasma vapor processes
US7647886B2 (en) * 2003-10-15 2010-01-19 Micron Technology, Inc. Systems for depositing material onto workpieces in reaction chambers and methods for removing byproducts from reaction chambers
US7258892B2 (en) 2003-12-10 2007-08-21 Micron Technology, Inc. Methods and systems for controlling temperature during microfeature workpiece processing, e.g., CVD deposition
US7906393B2 (en) 2004-01-28 2011-03-15 Micron Technology, Inc. Methods for forming small-scale capacitor structures
US20050268848A1 (en) * 2004-04-28 2005-12-08 Nanodynamics, Inc Atomic layer deposition apparatus and process
US20050249873A1 (en) * 2004-05-05 2005-11-10 Demetrius Sarigiannis Apparatuses and methods for producing chemically reactive vapors used in manufacturing microelectronic devices
US8133554B2 (en) 2004-05-06 2012-03-13 Micron Technology, Inc. Methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers and systems for depositing materials onto microfeature workpieces
US7699932B2 (en) * 2004-06-02 2010-04-20 Micron Technology, Inc. Reactors, systems and methods for depositing thin films onto microfeature workpieces
US20060165873A1 (en) * 2005-01-25 2006-07-27 Micron Technology, Inc. Plasma detection and associated systems and methods for controlling microfeature workpiece deposition processes
US20060237138A1 (en) * 2005-04-26 2006-10-26 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for supporting microelectronic devices during plasma-based fabrication processes
US7927948B2 (en) 2005-07-20 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Devices with nanocrystals and methods of formation
TWI327761B (en) * 2005-10-07 2010-07-21 Rohm & Haas Elect Mat Method for making semiconductor wafer and wafer holding article
US7976897B2 (en) * 2007-02-21 2011-07-12 Micron Technology, Inc Thermal chemical vapor deposition methods, and thermal chemical vapor deposition systems
US8007275B2 (en) * 2008-01-25 2011-08-30 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses for heating semiconductor wafers
TW201100973A (en) 2009-02-22 2011-01-01 Mapper Lithography Ip Bv A method and arrangement for realizing a vacuum in a vacuum chamber
GB2469112A (en) 2009-04-03 2010-10-06 Mapper Lithography Ip Bv Wafer support using controlled capillary liquid layer to hold and release wafer

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6063375A (ja) 1983-09-14 1985-04-11 Canon Inc 気相法堆積膜製造装置
JPS6063374A (ja) 1983-09-14 1985-04-11 Canon Inc 気相法堆積膜製造装置
US5013385A (en) 1986-04-18 1991-05-07 General Signal Corporation Quad processor
US4725204A (en) * 1986-11-05 1988-02-16 Pennwalt Corporation Vacuum manifold pumping system
US4951601A (en) * 1986-12-19 1990-08-28 Applied Materials, Inc. Multi-chamber integrated process system
JPH02129100A (ja) 1988-11-10 1990-05-17 Toshiba Corp 半導体熱処理装置
US5174827A (en) 1989-07-26 1992-12-29 Consorzio Ce.Te.V Centro Tecnologie Del Vuoto Double chamber vacuum apparatus for thin layer deposition
IT1231664B (it) * 1989-07-26 1991-12-18 Consorzio Ce Te V Impianto da vuoto a doppia camera per processi di deposizione di strati sottili
JPH03135022A (ja) 1989-10-20 1991-06-10 Tokyo Electron Ltd 基板の処理装置
JPH0831420B2 (ja) 1992-03-30 1996-03-27 株式会社半導体エネルギー研究所 被膜作製装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0736223A1 (en) 1996-10-09
FI935854A0 (fi) 1993-12-23
WO1995018459A1 (en) 1995-07-06
US6174366B1 (en) 2001-01-16
FI95421C (fi) 1996-01-25
FI935854A (fi) 1995-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI95421B (fi) Puolijohteen, kuten piikiekon, prosessoinnissa käytettävä laitteisto ja menetelmä
US6899507B2 (en) Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections
EP0060917B1 (en) Load-lock vacuum chamber for etching silicon wafers
US4816638A (en) Vacuum processing apparatus
EP0377464B1 (en) Wafer processing system
US5445491A (en) Method for multichamber sheet-after-sheet type treatment
KR101456894B1 (ko) 챔버로 가스를 방사상으로 전달하기 위한 장치 및 그 이용 방법들
US4908095A (en) Etching device, and etching method
KR100310249B1 (ko) 기판처리장치
CN207353216U (zh) 基板处理装置
US6558509B2 (en) Dual wafer load lock
KR100789461B1 (ko) 반도체처리모듈과 장치
US20080210168A1 (en) Single chamber, multiple tube high efficiency vertical furnace system
EP0843340A3 (en) Method and apparatus for processing wafers
KR20090097182A (ko) 고 생산성 직렬 웨이퍼 처리 엔드 스테이션
CN105655234A (zh) 脱气方法
CN109585332A (zh) 清洁腔室的方法、干式清洁系统及非暂态电脑可读取媒体
US4882299A (en) Deposition of polysilicon using a remote plasma and in situ generation of UV light.
US6523563B2 (en) Modular gas panel closet for a semiconductor wafer processing platform
JPH02152251A (ja) 縦型半導体製造システム
JP2003037147A (ja) 基板搬送装置及び熱処理方法
CN101355018B (zh) 气密模块以及该气密模块的排气方法
KR20080079779A (ko) 반도체소자 제조를 위한 멀티챔버 시스템 및 기판 처리 방법
WO2006003880A1 (ja) 真空処理装置
JP2003163252A (ja) 基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
BB Publication of examined application
MA Patent expired