FI63835B - Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper - Google Patents

Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper Download PDF

Info

Publication number
FI63835B
FI63835B FI810371A FI810371A FI63835B FI 63835 B FI63835 B FI 63835B FI 810371 A FI810371 A FI 810371A FI 810371 A FI810371 A FI 810371A FI 63835 B FI63835 B FI 63835B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
wood
polarization
depolarization
timber
Prior art date
Application number
FI810371A
Other languages
English (en)
Other versions
FI63835C (fi
FI810371L (fi
Inventor
Kullervo Hirvonen
Aimo Karonen
Original Assignee
Altim Control Ky
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Altim Control Ky filed Critical Altim Control Ky
Priority to FI810371A priority Critical patent/FI63835C/fi
Priority to US06/334,085 priority patent/US4482250A/en
Priority to FR8200007A priority patent/FR2499717A1/fr
Priority to DE19823200810 priority patent/DE3200810A1/de
Priority to SE8200407A priority patent/SE455023B/sv
Priority to AT0038182A priority patent/AT394780B/de
Priority to CA000395753A priority patent/CA1168892A/en
Priority to NO820379A priority patent/NO152354C/no
Priority to SU823390754A priority patent/SU1170978A3/ru
Publication of FI810371L publication Critical patent/FI810371L/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI63835B publication Critical patent/FI63835B/fi
Publication of FI63835C publication Critical patent/FI63835C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8986Wood

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Chemical And Physical Treatments For Wood And The Like (AREA)

Description

63835
Menetelmä puutavaran pinnan ominaisuuksien tunnistamiseksi Förfarande för identifiering av ett virkes ytegenskaper
Esillä oleva keksintö kohdistuu menetelmään puutavaran, erityisesti sahatavaran ja vanerin pinnan ominaisuuksien automaattiseen tunnistamiseen virheiden ja laadun määrityksessä .
5 Sahatavara ja vanerituotteet luokitellaan tuotteen pinnan ominaisuuksien mukaisesti eri tarkoituksiin käytettäväksi. Tärkeimpiä laatuun (ja lujuuteen) vaikuttavia tekijöitä ovat oksat, lahoviat, sinistymät, vajaasärmät, vinosyisyys, toukkien kolot ja mekaaniset viat. Lauta- ja vanerituotteiden 10 hinta määräytyy laatuluokan perusteella.
Nykyisin käytössä olevat puutavaran pintojen ominaisuuksien tai virheiden tunnistusmenetelmät perustuvat kohteeseen erityisin geometrisin järjestelyin suunnatun sähkömagneettisen säteilyn ko. pinnasta sironneen tai läpimenneen säteilyn 15 intensiteettitason seurantaan. Käytetystä säteilylähteestä riippuen on ilmaisuun käytetty erilaisia valo- ja säteilyn-ilmaisimia sekä video- ja diodimatriisikameroita. Kameroita käytettäessä turvaudutaan usein tietokonekapasiteetiltaan vaativiin kuvankäsittely- ja hahmontunnistusalgoritemihin.
20 Eri vikojen selville saamiseksi on käytetty useita eri aallonpituuksia ja vastaavasti erilaisia aallonpituussuodat-timia ilmaisimien tai kameroiden yhteydessä.
Erityisen sopivia säteilylähteitä pintojen tutkimiseksi ovat laserit, joista saadaan voimakas, monokromaattinen, kollimoi-25 tu, koherentti ja usein lineaarisesti polarisoitu valonsäde. Lasersäde on helppo poikkeuttaa niin, että koko tutkittava pinta voidaan analysoida. Se on myös mahdollista fokusoida hyvin pieneksi pisteeksi, jolloin pientenkin, mikrometrien suuruusluokkaa olevien pinnan osien tutkiminen käy päänsä.
30 Esillä oleva keksintö perustuu lineaaristi polarisoidun 2 63835 säteilyn sironnassa tapahtuvan depolarisoitumisen hyväksikäyttöön. Sironneen säteilyn depolarisoitumiseffektiä on aikaisemmin, kuten US-patentista 3,904,293 ilmenee, ehdotettu käytettäväksi tienpinnan sileyden mittaamiseen. Siinä tien 5 pinnasta heijastuneen säteilyn polarisaatiokomponentit erotetaan toisistaan ja verrataan toisiinsa. Polarisaatio-komponenttien suhde ilmaisee tienpinnan laadun.
Keksinnön mukaisen menetelmän tarkoituksena on aikaansaada menetelmä, jolla puutavaran pinnan erityyppiset virheet 10 voidaan tarkasti tunnistaa ja täten mahdollistaa tuotettavan puutavaran laatulajittelu.
Puutavarasta sironnut säteily on diffuusia. Suoritetut mittaukset osoittavat, että puutavarassa esiintyvät viat (oksa, laho, sinistymä, vinosyisyys) aiheuttavat terveestä puusta 15 poikkeavan depolarisaation, jota voidaan yksinkertaisella tavalla käyttää näiden vikojen automaattisessa tunnistamisessa. Erityisen merkittävää on, että terveestä puusta poikkeava kuituorientaatio tulee myös esille depolarisaatiossa (vinoja poikkisyisyys sekä oksan vaikutus), mikä mahdollistaa 20 esitettevän menetelmän käytön myös puutavaran lujuusmittauksessa.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että pintaan kohdistetaan lineaarisesti polarisoitunutta, pääasiallisesti monokromaattista, optisen aallonpituusalueen 25 sähkömagneettista säteilyä siten, että pinnalle tulevan säteilyn polarisaatiotaso on puun pituuskasvusuunnan mukainen tai kohtisuorassa sitä vastaan, että havaitaan heijastuneen valon polarisaatiotasoiltaan keskenään kohtisuorat intensi-teettikomponentit ja Imax, missä säteilykomponentin 30 ^max P°^-ar^saat;*-otaso on sama kuin tulevan säteilyn polarisaatiotaso ja että käytetään lausekkeita I . ja I - I . min P = max min pinnan laadun määrityksessä.
I + I .
max min 3 63835
Pinnasta sironneesta säteilystä mitataan depolarisoituminen sinänsä tunnetulla tekniikalla käyttäen analysaattoreina polarisaatiosuodattimia tai komponentteihin jakavaa prismaa, (esim. Wollastonin prismaa).
5 Myöskin kameroita käytettäessä voidaan depolarisoituminen mitata sijoittamalla kamerat siten, että kohde on niiden kuvatasossa samalla kohdalla ja käyttämällä niiden objektiivien edessä polarisaatiosuodattimia sekä vertaamalla kuvatason intensiteettejä sykronisesti.
10 Depolarisoitumisen mittana voidaan käyttää erilaisia lausekkeita, joista tavallisin on depolarisoitumisaste P = max_mm , I + I . max min missä I (I . ) on ilmaisimen antama maksimi-intensiteetti, max min 15 (minimi-intensiteetti), joka saadaan analysaattorisuodatinta ilmaisimen edessä kiertämällä. Tämän lausekkeen arvo on välillä 0 (täysin depolarisoitunut säteily) ja 1 (lineaarisesti depolarisoitunut säteily).
Depolarisoituminen on huomattavasti riippuvainen aallonpituu- 20 desta, minkä vuoksi käytettävät aallonpituudet on valittava sovellutuskohtaisten mittausten perusteella. Myöskin pintaan kohdistetun lineaarisesti polarisoidun sähkömagneettisen säteilyn polarisaatiotason suunta vaikuttaa tuloksiin, joten sen optimisuunta on syytä mittauksin määrittää.
25 Puutavaralle (saha- ja vanerituotteet) sopivaksi aallonpituudeksi on mittauksissa osoittautunut HeNe-lasein 632,8 nm ja sopivimmaksi saapuvan säteilyn polarisaatiotason suunnaksi puun kasvusuunta tai sitä vastaan kohtisuora suunta. Tällöin terveestä puupinnasta sironnut valo on osittain depolarisoi- 30 tunut, kun sitä vastoin oksasta sironnut valo on lähes täysin depolarisoitunut. Vastaavasti lahon ja sinistymän aiheuttama depolarisoituminen on vähäisempää kuin terveen 63835 4 puun aiheuttama. Menetelmä sopii sekä kuivan että kosten puun tutkimiseen.
Puutavaran kohdalla terveenkin pinnan vaihtelut ovat niin suuria, että tavanomaisen intensiteettitason seuranta ei 5 sovellu tunnistukseen. Käytettäessä lineaarisesti polarisoitua säteilyä on havaittu, että depolarisoitumiseen liittyvä intensiteettikomponentti Im^n on sensijaan käyttökelpoinen. Siihen ei vaikuta juuri ollenkaan esim. vuosilustoraken-ne (peilimäiset heijastukset, joita esiintyy I -komponen-10 tissa), pinnan karkeus tai vinosyisyys. Muutokset ilmenevät intensiteettitason laskuna vikojen kohdalla (oksat, laho, sinistymät, halkeamat, toukankolot jne.).
Toinen keksinnön suoritusmuoto on käyttää depolarisoitunee-seen komponenttiin liittyvää intensiteetti I . intensiteet-15 titasovertailussa, jolloin perustasoksi otetaan tämän komponentin arvo terveellä tai virheettömällä pinnalla.
Yhdistämällä näin saatu intensiteettitieto ja tieto siron-neen säteilyn depolarisaatioasteesta saadaan tunnistusmenetelmä, jonka suurimpia etuja on pienehkö tietokonekapasitee-20 tin tarve.
Tutkittava kohde on valaistava lineaarisesti polarisoidulla, yleensä suhteellisen monokromaattisella valolla tai säteilyllä. Tavallisen valonlähteen edessä on siis käytettävä polarisaattoria. Laservalo on lasertyypistä riippuen joko luonnos-25 taan polarisoitunuttta tai se on helppo polarisoida. Lisäksi kohteen koko pinnan tutkimiseksi markkinoilta löytyy lasersäteen 1- tai 2-dimensioiseen poikkeutukseen sopivia systeemejä. Vanerilevyjen luonnollinen liikesuunta huomioiden riittää niiden pintojen tutkimiseksi 1-dimensioinen poikkeu-30 tus. Sahatavaran kohdalla pintojen tutkiminen käy luonnolli-simmin, jos puuta liikutetaan pituussuunnassa, mutta menetelmä ei kuitenkaan rajoitu tähän tapaukseen.
5 63835
Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää erästä keksinnön mukaisen menetelmän suorittamiseen tarkoitun laitteiston periaatetta, 5 kuvio 2 esittää vaihtoehtoisen suoritusmuodon, kuvio 3 esittää yksinkertaistentun kaavion sahatavaran pinnan tutkimisesta, kuviot 4, 5 ja 6 esittävät esimerkkejä tutkituista puu-pinnoista, 10 kuviot 7, 8 ja 9 esittävät puupintojen mittauksissa saadut intensiteettikäyrät, ja kuviot 10, 11 ja 12 niistä lasketut depolarisoitumisasteen käyrät.
Kuviossa 1 esitetyssä mittauslaitteessa tarkoittaa viite-15 numero 1 laserista tulevaa valonsädettä, joka on suunnattu tutkittavan kohteen pintaa 2 vastaan. Tulevan säteen suunta muodostaa pintaa vastaan kohtisuoran suunnan kanssa kulman a , joka on sopivimmin pienempi kuin 30°. Diffuusista sironneesta säteilystä osa 3 kulkee polarisaatiosuodattimen 4 kautta 20 ilmaisimelle 5 ja osa 6 polarisaatiosuodattimen 7 kautta ilmaisimelle 8. Sironneen säteilyn mittaussuunnat muodostavat pintaa vastaan kohtisuoran suunnan kanssa kulmat 8 ja ' jotka sopivimmin ovat pienemmät kuin 30°. Polarisaatiosuodattimien läpäisysuunnat ovat 90° kulmassa, ja niiden suunnat 25 määritetään suodinta 7 kiertämällä siten, että ilmaisimen 8 antama intensiteettisignaali on suurimmillaan dmax) ja vastaavasti ilmaisimen 5 arvo pienimmillään (I . ). Intensi- min teettisignaalit Imax ja Im^n johdetaan prosessoriin 9, jossa ne sinänsä tunnetulla tavalla muokataan puutavaran 30 laadun määrittämiseksi sopivaan muotoon.
Kuviossa 2 esitetyssä vaihtoehtoisessa suoritusmuodossa sironneesta säteilystä osa 10 kulkee Wollastonin prisman 11 kauttas polarisaatiokomponentteihin 12 ja 13 erotettuina ilmaisimiin 14 ja 15, jotka mittaavat niiden intensiteetit « I . ja I 3 3 mm J max 6 63835
Kuviossa 3 on esitetty sahalaudan 16 tutkimiseen tarkoitetun laitteiston periaatteellinen järjestely. Valosäde 1 saatetaan kiertyvän poikkeutuspeilin 17 avulla pyyhkäisemään sahatavaran pinnan 18 yli laudan poikkisuunnassa rataa 19 pitkin.
5 Lautaa liikutetaan pituussuunnassa. Laudan pinnasta sironnut säteily ilmaistaan kuvioiden 1 tai 2 mukaisilla elimillä.
Kuvioissa 4, 5 ja 6 on esitetty eräitä esimerkkejä tutkituista puupinnoista, joissa 20, 21 ja 22 esittävät sahalaudan osia ja 19 valosäteen pyyhkäisyrataa.
10 Kuvioissa 7, 8 ja 9 on esitetty tutkimisessa saadut intensi- teettikäyrät I . ja I ja kuvioissa 10, 11 ja 12 vastaavat u min max keskimääräiset depolarisoitumisasteet P.
Kuviot 4, 7 ja 10 liittyvät terveen oksan sisältävään mänty-näytteeseen. A-vyöhykkeellä Imin“arvo on normaali, mutta P-15 arvo pieni, mikä viittaa puun normaalista poikkeavaan kuitu-suuntaan tällä osalla. B- ja D-vyöhykkeet edustavat tervettä puuta, joskin D-vyöhykkeen alussa on huomattavissa oksan vaikutusta. C-vyöhykkeellä I^^-arvo on laskenut ja P-arvo pieni, joten kyseessä on oksa.
20 Kuviot 5, 8 ja 11 liittyvät lahovikaiseen puuhun. Vyöhykkeet E ja G edustavat tervettä puuta. Vyöhykkeellä G on Im^n~arvo laskenut ja P-arvo noussut, mikä viittaa näytteessä olevaan lahovikaisuuteen tai sinistymään.
Kuviot 6, 9 ja 12 liittyvät vajaasärmäiseen tukkisinistynee-25 seen puuhun. Vyöhykkeet K ja N edustavat tervettä puuta. Vyöhykkeellä H on hyvin pieni ja P-arvo suuri, mikä viittaa kuorta sisältävään vajaasärmään. Vyöhykkeillä L ja N I . -arvo on laskenut ja P-arvo kohonnut osoittaen näytteessä olevan sinistymää tai lahoa. Komponentissa Imax 30 esiintyvät vaihtelut johtuvat terveistä juovista sinistymän osalla ja/tai paikallisista peilimäisistä heijastuksista.

Claims (2)

63835
1. Menetelmä puupintojen ominaisuuksien tunnistamiseksi, tunnettu siitä, että pintaan kohdistetaan lineaarisesti polarisoitunutta, pääasiallisesti monkromaattista, optisen aallonpituusalueen sähkömagneettista säteilyä siten, 5 että a) pinnalle tulevan säteilyn polarisaatiotaso on puun pituus-kasvusuunnan mukainen tai kohtisuorassa sitä vastaan, b) havaitaan heijastuneen valon polarisaatiotasoiltaan keskenään kohtisuorat intensiteettikomponentit Im^n ja
10 I , missä säteilykomponentin I polarisaatiotaso on Itlcl X Itlcl» X sama kuin tulevan säteilyn polarisaatiotaso, ja I - 1 . c) käytetään lausekkeita I . ja P = _JD&X-Silli pinnan min j + i . max xmin laadun määrityksessä.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu 15 siitä, että tulevan säteilyn tulosuunta ja sironneen säteilyn mittaussuunta poikkeavat pintaa vastaan kohtisuorasta suunnasta puun pituuskasvusuunnassa mitattuna korkeintaan 15° ja tähän nähden kohtisuorassa suunnassa korkeintaan n. 50°.
FI810371A 1981-02-10 1981-02-10 Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper FI63835C (fi)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI810371A FI63835C (fi) 1981-02-10 1981-02-10 Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper
US06/334,085 US4482250A (en) 1981-02-10 1981-12-24 Method for identifying timber surface properties
FR8200007A FR2499717A1 (fr) 1981-02-10 1982-01-04 Procede pour identifier les proprietes de surface des pieces de bois, en vue de leur classification
DE19823200810 DE3200810A1 (de) 1981-02-10 1982-01-13 "verfahren zur erkennung der eigenschaften von holzoberflaeche"
SE8200407A SE455023B (sv) 1981-02-10 1982-01-26 Forfarande for metning av treytors egenskaper
AT0038182A AT394780B (de) 1981-02-10 1982-02-02 Verfahren zur beurteilung von holzoberflaechen
CA000395753A CA1168892A (en) 1981-02-10 1982-02-08 Method for identifying timber surface properties
NO820379A NO152354C (no) 1981-02-10 1982-02-09 Fremgangsmaate for aa maale treoverflaters egenskaper
SU823390754A SU1170978A3 (ru) 1981-02-10 1982-02-09 Способ определени качества древесины

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI810371 1981-02-10
FI810371A FI63835C (fi) 1981-02-10 1981-02-10 Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI810371L FI810371L (fi) 1982-08-11
FI63835B true FI63835B (fi) 1983-04-29
FI63835C FI63835C (fi) 1983-08-10

Family

ID=8514109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI810371A FI63835C (fi) 1981-02-10 1981-02-10 Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4482250A (fi)
AT (1) AT394780B (fi)
CA (1) CA1168892A (fi)
DE (1) DE3200810A1 (fi)
FI (1) FI63835C (fi)
FR (1) FR2499717A1 (fi)
NO (1) NO152354C (fi)
SE (1) SE455023B (fi)
SU (1) SU1170978A3 (fi)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4606645A (en) * 1984-10-29 1986-08-19 Weyerhaeuser Company Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material
FI74815C (fi) * 1986-01-20 1988-03-10 Altim Control Ky Foerfarande foer identifiering av en traeytas ytegenskaper.
US4893932A (en) * 1986-05-02 1990-01-16 Particle Measuring Systems, Inc. Surface analysis system and method
US4831545A (en) * 1987-06-26 1989-05-16 Weyerhaeuser Company Method for determination of pith location relative to lumber surfaces
US4916629A (en) * 1987-06-26 1990-04-10 Weyerhaeuser Company Method for determination of pith location relative to lumber surfaces
US4890926A (en) * 1987-12-21 1990-01-02 Miles Inc. Reflectance photometer
JPH0774788B2 (ja) * 1988-03-28 1995-08-09 株式会社堀場製作所 異物有無検査装置
US4919534A (en) * 1988-09-30 1990-04-24 Environmental Products Corp. Sensing of material of construction and color of containers
US4972091A (en) * 1989-05-16 1990-11-20 Canadian Patents And Development Limited/Societe Canadienne Des Brevets Et D'exploitation Limitee Method and apparatus for detecting the presence of flaws in a moving sheet of material
SE466420B (sv) * 1989-11-14 1992-02-10 Svenska Traeforskningsinst Foerfarande och anordning foer detektering av bark samt bestaemning av barkningsgrad paa ved eller i flis
US5102222A (en) * 1990-02-08 1992-04-07 Harmonic Lightwaves, Inc. Light wave polarization determination using a hybrid system
FR2665959B1 (fr) * 1990-08-16 1994-01-14 Oreal Appareil destine a permettre d'evaluer la brillance d'une surface, en particulier de la peau.
US5244814A (en) * 1991-05-20 1993-09-14 Forintek Canada Corporation Decay detection in wood
DE4317513A1 (de) * 1993-05-26 1994-12-01 Select Ingenieurgesellschaft F Verfahren und Vorrichtung zur selektiven Trennung von Körpern und Anwendung des Verfahrens
FR2707007B1 (fi) * 1993-06-24 1995-08-25 France Etat Armement
US5502559A (en) * 1993-11-01 1996-03-26 Environmental Products Corporation Apparatus and method for detection of material used in construction of containers and color of same
GB2285861A (en) * 1994-01-19 1995-07-26 Peter Charles Matthews Optical detection of grain defects in lumber
JP3358099B2 (ja) * 1994-03-25 2002-12-16 オムロン株式会社 光学式センサ装置
US5835220A (en) * 1995-10-27 1998-11-10 Nkk Corporation Method and apparatus for detecting surface flaws
US5742392A (en) * 1996-04-16 1998-04-21 Seymour Light, Inc. Polarized material inspection apparatus
US6624883B1 (en) * 2000-09-28 2003-09-23 National Research Council Of Canada Method of and apparatus for determining wood grain orientation
US7549367B2 (en) * 2004-01-20 2009-06-23 Utah State University Research Foundation Control system for a weapon mount
CA2478757A1 (fr) * 2004-08-06 2006-02-06 Mario Talbot Detection du bois bleui et de la pourriture sur le bois d'oeuvre
DE102005021649B4 (de) * 2005-05-06 2007-04-12 Tropf, Hermann Optische Höhenabtastung einer Oberfläche
CA2737326C (en) * 2008-10-03 2013-01-08 Fpinnovations Apparatus and methods for controlled debarking of wood
EP2454580A1 (en) 2009-07-15 2012-05-23 Microtec S.r.l. Method and apparatus for identifying the orientation of wood fibres
FR2994263B1 (fr) * 2012-08-02 2018-09-07 Vit Procede et dispositif d'identification de materiaux dans une scene
EP3528047A1 (en) * 2018-02-14 2019-08-21 ASML Netherlands B.V. Method and apparatus for measuring a parameter of interest using image plane detection techniques

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3060793A (en) * 1960-07-22 1962-10-30 Arthur N Wells Apparatus for determining ellipticity of surface reflected plane polarized light
CH447630A (fr) * 1965-06-16 1967-11-30 Hitachi Ltd Procédé pour la détection d'irrégularités à la surface d'un objet et appareil pour la mise en oeuvre de ce procédé
US3474254A (en) * 1968-02-26 1969-10-21 Sick Erwin Photoelectronic apparatus for scanning textile material
FI45799C (fi) * 1971-03-23 1972-09-11 Valmet Oy Menetelmä paperin tai vastaavan kuituorientaation määräämiseksi paperi sta heijastuneen valon avulla.
GB1428372A (en) * 1972-06-09 1976-03-17 Soctt R N Optical apparatus for determining deviations from a predeter mined form of a surface
US3992571A (en) * 1973-05-11 1976-11-16 National Research Development Corporation Differential optical polarization detectors
GB1488841A (en) * 1974-01-18 1977-10-12 Plessey Co Ltd Optical detection apparatus
SE385048B (sv) * 1974-08-05 1976-05-31 Svenska Traeforskningsinst Forfarande for metning av en ytas topografi
DE2534023C2 (de) * 1975-07-30 1985-03-14 Plessey Overseas Ltd., Ilford, Essex Verfahren zum Feststellen von Fehlern in gesägtem oder gehobeltem Holz und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US4030830A (en) * 1976-01-05 1977-06-21 Atlantic Research Corporation Process and apparatus for sensing defects on a smooth surface
GB1580196A (en) * 1976-05-27 1980-11-26 Ferranti Ltd Gloss measuring surface inspection systems
FI57490C (fi) * 1978-06-01 1980-08-11 Innotec Oy Foerfarande foer bestaemning av snedfibrigheten i virke i synnerhet i saogat virke
JPS55116211A (en) * 1979-02-28 1980-09-06 Matsushita Electric Works Ltd Inspection for checkered pattern

Also Published As

Publication number Publication date
SU1170978A3 (ru) 1985-07-30
NO152354B (no) 1985-06-03
ATA38182A (de) 1991-11-15
FI63835C (fi) 1983-08-10
FR2499717A1 (fr) 1982-08-13
AT394780B (de) 1992-06-25
SE455023B (sv) 1988-06-13
DE3200810A1 (de) 1982-08-19
SE8200407L (sv) 1982-08-11
NO152354C (no) 1985-09-11
US4482250A (en) 1984-11-13
DE3200810C2 (fi) 1993-04-29
CA1168892A (en) 1984-06-12
NO820379L (no) 1982-08-11
FI810371L (fi) 1982-08-11
FR2499717B1 (fi) 1985-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI63835B (fi) Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper
US5274244A (en) Method and apparatus for detecting bark and for determining the degree of barking on wood and chips
US7115869B2 (en) Method for measurement of composite heat damage with infrared spectroscopy
CA1239476A (en) Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material
Nyström Automatic measurement of fiber orientation in softwoods by using the tracheid effect
CA2636495C (en) Methods and apparatus for determining fibre orientation
EP2041552B1 (en) Method for measuring the volume or the end face diameter of a tree trunk and for quality control
CA1323427C (en) Method for determination of pith location relative to lumber surfaces
RU2182703C2 (ru) Устройство и способ измерения плотности
US4831545A (en) Method for determination of pith location relative to lumber surfaces
Antikainen et al. Simultaneous measurement of lathe check depth and the grain angle of birch (Betula pendula Roth) veneers using laser trans-illumination imaging
FI74815C (fi) Foerfarande foer identifiering av en traeytas ytegenskaper.
US6593572B2 (en) Method of predicting mechanical properties of decayed wood
US3475615A (en) Process and apparatus for the detection of flaws in a transparent material
WO2003104777A1 (en) Method and apparatus for determining wood parameters, including grain angle
RU2482468C1 (ru) Способ проведения исследования внутренней структуры пиловочных бревен
JPS56168107A (en) Surface inspecting device
JPH05273119A (ja) 拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法
JP3176878B2 (ja) 欠陥検出装置
JPH0618408A (ja) 拡散反射光計測用光学系及び反射分光計測装置
RU2016671C1 (ru) Способ определения качества плодов и устройство для его осуществления
Xu et al. An image-based laser triangulation width model applied in Sawn Lumber’s external face measurement
SU932223A1 (ru) Способ определени напр жений в издели х из диэлектрических материалов
FI97644B (fi) Menetelmä refraktometrimittauksen yhteydessä
GB2285861A (en) Optical detection of grain defects in lumber

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: ALTIM CONTROL KY.