FI60079B - Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunt eller liknande - Google Patents

Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunt eller liknande Download PDF

Info

Publication number
FI60079B
FI60079B FI800623A FI800623A FI60079B FI 60079 B FI60079 B FI 60079B FI 800623 A FI800623 A FI 800623A FI 800623 A FI800623 A FI 800623A FI 60079 B FI60079 B FI 60079B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
sensor
dew
acoustic wave
substrate
saw
Prior art date
Application number
FI800623A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI60079C (fi
Inventor
Tapio Wiik
Heikki Kuisma
Original Assignee
Vaisala Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vaisala Oy filed Critical Vaisala Oy
Priority to FI800623A priority Critical patent/FI60079C/fi
Priority to DE19813106887 priority patent/DE3106887A1/de
Priority to US06/238,563 priority patent/US4378168A/en
Priority to JP2825581A priority patent/JPS56137142A/ja
Priority to GB8106470A priority patent/GB2070772B/en
Priority to FI812325A priority patent/FI62908C/fi
Publication of FI60079B publication Critical patent/FI60079B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI60079C publication Critical patent/FI60079C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/56Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
    • G01N25/66Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02845Humidity, wetness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02881Temperature

Description

Ε3Ρ*1 γβΊ ««kuulutusjulkaisu s n no n $!Γφ IBJ (H)utläggningsskrift 600 79 c(«) i'eiaL ^ ^ ' " ' v ^ (51) Kv.lk?/Int.CI.3 G 01 N 29/00 SUOMI—FINLAND (M) Prt«nttlh>k«mu· — Prt«ntaiu6knlng 8006 2 3 (22) H»k*ml*pUy| — Afwöknlnj*d»g 29.02.80 ' (23) AlkupUvi —Giltifhatsdag 29.02.80 (41) Tullut luikituksi — Bllvit off«itll(
Patentti-ja rekisterihallitus »........ . · tl , ~ . (44) Nlhtlvlk*lp*«*on |» kuuLJulkaltun pvm. —
Pttmt· och registerstyrelsen Ansttktn utlagd och uti.»krift*n publicänd 31.07.81 (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus—-Bufird prior it rt (Tl) Vaisala Oy, 001+20 Helsinki 1+2, Suomi -Finland (Fl) (72) Tapio Wiik, Espoo, Heikki Kuisma, Helsinki, Suomi-Finland(Fl) (71+) Forssen & Salomaa Oy (51+) Menetelmä ja laite kastepisteen tai vastaavan ilmaisemiseksi - Förfarande och anordning för angivande av daggpunkt eller liknande
Keksinnön kohteena on menetelmä kastepisteen tai vastaavan ilmaisemiseksi.
Lisäksi keksinnön kohteena on keksinnön mukaisen menetelmän toteuttamiseen tarkoitettu laite.
Ennestään tunnetaan useita eri menetelmiä kastepisteen ilmaisemiseksi. Tärkeimpiä näistä ovat optinen menetelmä, jossa tiivistynyt kosteus muuttaa peilin heijas-tusominaisuuksia, radioaktiivinen menetelmä, jossa tiivistynyt kosteus muuttaa <* - tai /3 -säteilyn absorptiota sekä kapasitiivinen/resistiivinen menetelmä, jossa tiivistynyt kosteus muuttaa pinnalla olevan sormirakenteen kapasitanssia/ resistanssia.
Ennestään tunnetuissa menetelmissä on kuitenkin eräitä epäkohtia, jotka ovat osaltaan antaneet aiheen esillä olevaan keksintöön. Epäkohtana optisessa menetelmässä on se, että sen peili on herkkä likaantumaan ja syövyttävissä olosuhteissa altis korroosiolle. Peilimäinen jää voi myös antaa erheellisiä tuloksia. Radioaktiivisessa menetelmässä tms. tarvitaan säteilylähde ja herkkä detektori, joten menetelmän toteutus tulee varsin kalliiksi.
2 60079
Edellä ilmenneiden epäkohtien poistamiseksi ja myöhemmin selviäviin päämääriin pääsemiseksi keksinnön menetelmälle on pääasiallisesti tunnusomaista se, että kasteen tai muun vastaavan nesteen läsnäolo havaitaan pietsosähköisellä tai vastaavalla anturilla, jonka yhteydessä olevaan pintaan aiheutetaan akustisia pinta-aaltoja ja joka pinta järjestetään alttiiksi ilmaistavan kasteen tai nesteen tiivistymiselle tai läsnäololle, mikä havaitaan akustisen pinta-aallon vaimenemiseen liittyvän parametrin mittauksen perusteella.
Keksinnön mukaiselle laitteelle on puolestaan pääasiallisesti tunnusomaista se, että laite käsittää substraatin, jossa pinta-aalto voi edetä sekä mainitun substraatin pinnalle tehdyt pinta-aallon synnyttämiseen ja mahdollisesti ilmaisuun tarvittavat rakenteet, joiden toiminta perustuu joko substraatin tai siihen liitetyn muun materiaalin pietsosähköisyyteen ja että mainitut rakenteet sisältävät yhden tai useamman johtavasta aineesta tehdyn elektrodikuvion, johon tehtyjen kontaktien kautta vaihtosähköteho syötetään ja mahdollisesti otetaan ulos anturista.
Keksinnön mukaisessa menetelmässä tiivistynyt kosteus aiheuttaa ennen kaikkea muutoksen akustisen pinta-aallon vaimennuksessa ja tämä muutos ilmaistaan erityisillä laitteilla.
Anturin substraatin ei tarvitse olla pietsosähköistä materiaalia, riittää että substraatti on materiaalia, jossa akustinen pinta-aalto voi edetä. Tässä vaihtoehtoisessa rakenteessa pinta-aalto synnytetään substraattiin liitetyn pietsosäh-köisen materiaalin (esim. pietsosähköinen kalvo) välityksellä.
Keksintö tarjoaa käytännössä tärkeitä etuja, joista huomattavimpia luetellaan seuraavassa: - anturi voidaan tehdä hyvin stabiileista materiaaleista (esim. kvartsi), jolloin välitetään korroosio-ongelmat, - anturia voidaan käyttää korkeissa lämpötiloissa ja - pinta voidaan puhdistaa kuumentamalla hetkellisesti korkeaan lämpötilaan. Viimemainittuja ominaisuuksia tarvitaan esim. mitattaessa savukaasujen kosteutta.
Keksinnön tarjoamiin etuihin kuuluu, että sillä voidaan ilmaista kondensoitumisen aiheuttama vaimennuksen muutos riippumatta mahdollisen kontaminaation aiheuttamasta pohjatasosta. Toiminnan on oltava silloin syklistä tai on käytettävä ver- 3 60079 tailuelintä, jossa kondensoituminen estetään. Vastaava toiminta esim. optisessa kastepisteen ilmaisussa on hankala toteuttaa.
Keksinnön mukaisesti kastepistettä ilmaistaessa akustinen pinta-aalto voidaan synnyttää kvartsiin suoraan pietsosähköisen ilmiön avulla. Samaa ilmiötä voidaan käyttää aallon ilmaisuun. On useita tunnettuja rakenteita, joilla aikaansaadaan kytkentä sähkökentästä akustiseen pinta-aaltoon. Eräässä paljon käytetyssä synnytetään aallon aikaansaamiseksi tarvittava sähkökenttä lomittaisilla metallielektrodeilla, jotka on valmistettu ohutkalvotekniikan ja fotolitografiän avulla.
Seuraavassa käsitellään lyhyesti keksinnön fysikaalista taustaa.
Akustinen pinta-aalto vaimenee vuorovaikutuksessa materiaalin termisten värähtelyjen kanssa, siroamalla pinnalla olevista epäjatkuvuuskohdista sekä väliaine-kytkennässä.
Keksinnön menetelmä perustuu kahteen viimeksi mainittuun ilmiöön. Koska akustisen aallon nopeus nesteissä on huomattavasti pienempi kuin kiinteissä aineissa, ovat nämä viimeksi mainitut vaimennustyypit kondensoituneen veden tapauksessa erityisen voimakkaita.
Seuraavassa keksintöä selostetaan yksityiskohtaisesti viittaamalla oheisen piirustuksen kuvioissa esitettyyn keksinnön eräisiin sovellutusesimerkkeihin, joiden yksityiskohtiin keksintö ei ole rajoitettu.
Kuvio 1 esittää kaaviollisesti keksinnön mukaista menetelmää soveltavaa laite-yhdistelmää.
Kuvio 2 esittää pinta-aaltomuuntimen pintakuvioinnin erästä toteutusesimerkkiä. Kuvio 3 esittää osittaista leikkausta III-III kuviossa 1.
Kuvio 4 esittää erästä esimerkkiä keksinnön mukaisen laitteen ohjauselektro-niikan toteutuksesta.
Kuvio 5 esittää suurennetussa mittakaavassa kastepisaroitten koon vaihtelua kolmessa eri esimerkkitapauksessa a,b ja c.
Kuvio 6 esittää keksinnön mukaisen laitteen erästä toista vaihtoehtoista toteli- 4 60079 tustapaa.
Kuvio 7 esittää erästä vaihtoehtoista keksinnön mukaisen laitteen elektroniikan toteutustapaa lohkokaaviona.
Kuvio 8 esittää anturin toimintaa ajan funktiona, kolmioilla merkityn viivan kuvatessa laitteen toimintaa ilman tuuletusta ja ympyröillä merkityn viivan kuvatessa laitteen toimintaa tuuletuksen kanssa.
Kuvion 1 mukaisesti pietsosähköiselle substraatille 10 on tehty lähetinpuolelle esim. metalloimalla elektrodikuvioinnit 12 ja 13, joiden välillä on sormikuvio-rakenne 11. Vastaanotinpuolella on esim. metalloimalla tehdyt elektrodikuvioinnit 15 ja 16, joiden välillä on rakennetta 11 vastaava sormikuviointi 14. Sormiku-viointien 11,14 tarkempi toteutus näkyy kuviosta 2, jonka mukaisesti elektrodeihin 12 ja 13 liittyvät parittain lomittaiset kaistat 12' ja 13'. Kaistojen 12’,13' keskinäistä etäisyyttä akustisen pinta-aallon etenemissuunnassa A on merkitty a:11a. Kuvion 3 mukaisesti ovat sormikuvioinnit 11,14 suojattu esim. SiC^ suoja-kerroksella 17, jonka paksuus on 1000...3000 Ä. Substraatti 10 on esim. 0,5 mm:n paksuista LiNbO^sa.
Kuviossa 1 on lähetinpuolen sormikuvioinnin 11 ja vastaanottopuolen sormikuvioin- nin 14 välistä etäisyyttä merkitty b:llä. Tällä alueella sekä sormikuviointien 11 ja 14 alueella tapahtuu lähetinpuolelta (impedanssi Z.^) vastaanottopuolelle (impedanssi Z ) etenevän akustisen pinta-aallon (SAW) vaimeneminen, out
Kuvion 1 mukaisesti RF-generaattorista 20 syötetään esim. taajuudella n. 100...200 MHz:n sähkötehoa elektrodien 12 ja 13 väliseen sormikuviointiin.
Näin synnytetään pietsosähköisessä substraatissa 10 akustisia värähtelyjä, jotka etenevät vastaanottopuolelle ja täällä syntyy pietsosähköisiin ilmiöihin perustuen vastaavan taajuuden omaava sähkövärähtely elektrodien 15 ja 16 välille, joka havaitaan laitteilla 30. Keksinnön menetelmä perustuu esim. akustisen pinta-aallon (SAW) vaimenemiseen lähetinpuolen 11 ja vastaanottopuolen 14 välillä. Tämän vaimennuksen suuruus riippuu varsin voimakkaasti siitä, onko kerroksen 17 pinnalla 18 kondensoitunut vettä tai muuta nestettä. Kuten sanottu substraatti 10 on piet-sosähköistä materiaalia esim. kvartsia, litiumniobaattia tms. Sormikuviointien 12',13' keskinäinen etäisyys a riippuu sähköisellä taajuudella f herätetyn akustisen pinta-aallon aallon pituudesta λ esim. seuraavasti: a = λ/4; 3λ/4; 5λ/4; 7 λ/4 jne.
5 60079
Pintaa 18 myöhemmin selviävällä tavalla jäähdytettäessä alkaa sille muodostua kastetta, kun suhteellinen kosteus RH(T) RH(T) = exp ]*B [| + i]+ C log , ·-' o B = 6704,48 C = -4,71784 T = ympäröivän ilman lämpötila K Tq = kastepistelämpötila saavuttaa arvon 1. Tällöin pinnan lämpötila on Tq. Kun Tq ja T tunnetaan saadaan RH(T) ylläolevasta yhtälöstä.
Keksinnön mukaisen laitteen toimintaa kvantitatiivisesti voidaan kuvata siten, että substraatin 10 lämpötilan tultua lähelle kastepistelämpötilaa Tq alkaa substraatin 10 pinnalle 18 tiivistyä vettä tai muuta nestettä, mikä havaitaan lähtöpuolen 11 ja vastaanottopuolen 14 välisen akustisen pinta-aallon vaimennuksen kasvuna elektroniikkayksikön 30 avulla. Mittaamalla tällöin lämpötila Tq sekä ympäristön lämpötila T saadaan suhteellinen kosteus (RH) määrätyksi ja tarvittaessa suoraan osoitinlaitteella 40 näytetyksi.
Keksinnön menetelmä voidaan toteuttaa myös niin, että vastaanottopuolta 14,15,16 ei ole lainkaan ja mittaus perustuu lähetinpuolen 11,12,13 impedanssin muutokseen nesteen tiivistymisen yhteydessä.
Kuvion 6 mukaisessa kastepisteanturin toteutuksessa substraatti 10' ei ole pietso-sähköinen, vaan se on esim. lasisubstraatti, jonka pinnalle on elektrodien 11,14 päälle tehty pietsosähköiset kalvot 22 ja 23, jotka ovat esim..Zn0:a. Elektrodit 11,14 voivat olla kuvioissa 1 ja 2 esitetyn kaltaisia. Pietsosähköisen kalvon 22,23 päälle on tehty metallikalvo 26, vastaavasti 27. Pietsosähköiset kalvot 22 ja 23 on päällystetty suojakalvolla 24, vastaavasti 25, joka on esim. SiC^ia. Kuvion 6 mukaisesti akustinen pinta-aalto (SAW) etenee lähetin-ja vastaanotto-puolen elektrodien 11,14 välillä lasisubstraattia 10' pitkin. Kuten kuviosta 6 näkyy, on pietsosähköisten kalvojen 22,23 välillä alue c, joka ei ole varustettu pietsosähköisellä kalvolla. Myös alueelle c voi vesi kondensoitua ja vaikuttaa keksinnössä tarkoitetulla tavalla akustisen pinta-aallon etenemisominaisuuksiin.
Kasteen muodostumista LiNbO^sn pinnalla voi kuvata seuraavasti. Tasaisesti jäähdytetyllä pinnalla jakaantuvat pisarat tasaisesti, kunnes ne ovat saavuttaneet 6 60079 noin 5 pm:n koon, jolloin useat pisarat yhtyvät toisiinsa muodostaen suurempia pisaroita. Syntyneeseen vapaaseen tilaan syntyy heti uusia pieniä pisaroita. Hitaasti jäähdytettäessä uusia pisaroita ei kuitenkaan synny. Pisaroitten yhtyminen jatkuu kunnes koko pinta on veden peitossa.
Epäpuhtaalla pinnalla prosessi on erilainen. Pinnalla olevat epäpuhtaudet muodostavat tiivistymiskeskuksia, joihin syntyvät pisarat saavuttavat huomattavan koon '5 pm, ennenkuin muulla pinnalla esiintyy lainkaan havaittavia pisaroita siis ennen kastepistettä. Pisaroitten yhtyessä suuremmaksi niitten kontaktikulma pintaan tulee hyvin suureksi ja vesikerros on hyvin paksu, ennenkuin kerroksesta tulee yhtenäinen.
Seuraavassa selostetaan kuvioon 4 viitaten keksinnön mukaisen kosteusanturin lämmityksen ja jäähdytyksen ohjauselektroniikka.
Anturin 10 lämpötila mitataan termoelementillä 19, joka on esitetty kuviossa 1. Anturin 10 yhteydessä on sen lämmityselementtinä Peltier-elementti 21.
Peltier-elementin 21 ja anturin 10 muodostaman lämpöpiirin suuren aikavakion vuoksi suhteellisen yksinkertainen elektroniikka riittää ohjaamaan anturin 10 lämpötilaa. Kuvion 4 mukaisesti differentiaalivahvistimeen AI saatava signaali on viivelinjan sisäänmeno- ja ulostulosignaalien erotukseen verrannollinen. Ilmaisimien Dl ja D2 vaimennusta ja vahvistimen A2 vahvistusta säädetään siten, että Al:n sisäänmeno on tasapainossa kun anturin 10 (SAW:n) sisäänmenon ja ulostulon erotus on esim. 30 dB. Tällöin Peltier-elementti 21 ei saa virtaa. Nyt anturi 10 lämpenee ja kaste sen pinnalta 18 alkaa haihtua. Tämä aiheuttaa signaalin kasvun Al:n sisäänmenossa ja Peltier-elementin 21 virta kasvaa. Anturi 10 jäähtyy kunnes kastetta on muodostunut riittävästi, jotta vaimennus olisi 30 dB. Edellä selostettua laitetta kokeiltaessa havaittiin sen toimivan syklisesti. Toiminnan syklisyys johtui kostean ilman kerääntymisestä anturin pinnan yläpuolelle, jolloin mitattu kastepistelämpötila poikkesi huomattavasti todellisesta. Laitetta muutettiin siten, että tuuletin puhalsi jäähtyneen ilman pois anturin päältä, jolloin toiminta oli jatkuvaa ja kastepisteen seuraaminen varsin tarkkaa. Kuviosta 8 selviää laitteen toiminta sekä tuuletettuna että tuulettamatta. Kuvioon 8 kolmiolla merkitty viiva kuvaa laitteen toimintaa ilman tuuletusta ja tällöin on havaittavissa selvä syklisyys anturin lämpötilassa ajan funktiona. Ympyröillä merkitty viiva kuvaa toimintaa tuuletuksen kanssa. Havaitaan, että lämpötilan vaihtelut ovat verraten vähäisiä.
7 60079
Peltier-elementti 21 tarvitsee suuren virran, ^5 A, pienellä jännitteellä, "2 V. Virran ohjaamiseen riittää yksi tehotransistori Tr, jonka tarvitsema kantavir-ta saadaan vahvistimen AI boosterista. Vahvistimet AI ja A2 voidaan rakentaa operaatiovahvistimista ja Dl ja D2 ovat tavallisia diodi-ilmaisimia. Oskillaattorina RF voidaan käyttää tavallista LC-oskillaattoria. Tarvittavalle jännitelähteelle (POWER) asetetaan varsin suuret vaatimukset. Oskillaattori RF, vahvistimet AI ja A2 ja Peltier-elementti 21 tarvitsevat kaikki erilaiset jännitetasot.
Kuviossa 7 on esitetty keksinnön mukaisen laitteen elektroniikan toteutuksen eräs vaihtoehto. Kuvion 7 mukaisesti edellä kuvion 4 yhteydessä selostettu vertailu-signaali on muodostettu suoraan vahvistimen Aq sisäänraenoon vakiojännitettyjä potentiometrejä käyttäen. Muilta osin kuvion 7 toteutus vastaa pääpiirteittäin kuviossa 4 selostettua.
Ilmaisimen herkyyttä voidaan parantaa käyttämällä pulssimoduloitua RF-signaalia, jolloin diodi-ilmaisimessa voi käyttää DC-esivirtaa.
Suoritetuissa impedanssimittauksissa pyrittiin saamaan selville kasteen vaikutus impedanssitasoon ja tätä kautta epäsovitusvaimennukseen. Vastoin odotuksia impedanssi riippui voimakkaasti kasteen määrästä. Säteilyresistanssi, joka on suora mitta pinta-aallon generaatiolle, putosi huomattavasti kasteen muodostuessa.
Tämä viittaa siihen, että kaste vaikuttaisi suoraan pinta-aallon syntyyn mekaanisten reunaehtojen muuttuessa.
Mainittua impedanssin Z^n muutosta on mahdollisuus käyttää suoraan kastepisteen ilmaisuun. Suuren ja voimakkaasti reagoivan impedanssin aikaansaaminen leveällä taajuuskaistalla saattaa kuitenkin olla vaikeaa.
Korroosiota vastaan elektrodikuvio voidaan suojata päällystämällä koko viivelinja esim. SiC^Ja olevalla kerroksella 17. Ohuen eristekerroksen vaikutus pinta-aaltoon on pieni. Materiaalin valinnalla voidaan vaikuttaa myös kasteen muodostumiseen.
Jotta väliinkytkemisvaimennus ilman kastetta olisi mahdollisimman pieni, voidaan ulostulo ja sisäänmeno virittää LC piirillä.
Seuraavassa esitetään kuvioon 5 viitaten kastepisteitten koon vaikutus sirontaan taajuuksilla f. = 37 MHz ja f, = 109 MHz.
1 3

Claims (11)

1. Menetelmä kastepisteen tai vastaavan ilmaisemiseksi, tunnettu siitä, että kasteen tai muun vastaavan nesteen läsnäolo havaitaan pietsosähköisellä tai vastaavalla anturilla, jonka yhteydessä olevaan pintaan (18) aiheutetaan akustisia pinta-aaltoja (SAW) ja joka pinta (18) järjestetään alttiiksi ilmaistavan kasteen tai nesteen tiivistymiselle tai läsnäololle, mikä havaitaan akustisen pinta-aallon (SAW) vaimenemiseen liittyvän parametrin mittauksen perusteella.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että menetelmässä synnytetään pietsosähköistä ilmiötä käyttäen akustinen pinta-aalto (SAW) elastisia aaltoja välittävästä materiaalista tehtyyn anturiin lähetinlaitteella (11,12,13), että edellä mainitulla tavalla synnytetty akustinen pinta-aalto ilmaistaan vastaanottolaitteilla (14,15,16) ja että havaitaan mainittujen lähetin-laitteiden (11,12,13) ja vastaanottolaitteiden (14,15,16) välillä syntyvä akustisen pinta-aallon vaimennus, joka muuttuu kasteen tai nesteen läsnäollessa anturin pinnalla (18).
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että menetelmässä havaitaan kasteen tai vastaavan tiivistymisen johdosta syntyvä edellä mainittu vaimennuksen kasvu ja sen ilmetessä anturin lämpötila (Tq), joka 60079 9 vastaa kastepistelämpötilaa ja jonka perusteella on tarvittaessa sinänsä tunnetusti määrättävissä suhteellinen kosteus (RH).
3 60079 abc Αχ = 5 dB 1 dB 0.6 dB A2 = 20 dB 6 dB 4 dB Kuvioissa 5a,5b ja 5c pisarakoon suuri hajonta johtuu pinnan 18 epäpuhtauksista. Keksinnön menetelmää voidaan soveltaa myös siten, ettei anturin yhteydessä käytetä lainkaan jäähdyttävää elementtiä. Tällöin keksinnön mukainen laite toimii pelkästään tiivistymisen ilmaisussa esim. laite suorittaa tietyssä prosessissa hälyytyksen. Seuraavassa esitetään patenttivaatimukset, joiden määrittelemän keksinnöllisen ajatuksen puitteissa keksinnön eri yksityiskohdat voivat vaihdella.
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kaste-piste tai muun vastaavan nesteen läsnäolo anturin (10) pinnalla (18) havaitaan anturin lähetinlaitteiden (11,12,13) sisäänmenoimpedanssin (Z^) muutoksen perusteella.
5. Patenttivaatimuksen 1,2,3 tai 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että anturia (10) lämmitetään ja jäähdytetään syklisesti kastepistelämpötilan (T ) molemmin puolin tai että anturi (10) on järjestetty toimimaan jatkuvasti.
6. Patenttivaatimuksen 1,2,3,4 tai 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että anturissa (10) herätetään akustinen pinta-aalto sähköisellä värähtelyllä, jonka taajuus on kymmenistä MHzrstä satoihin MHz:hin, sopivimtnin n. 100...200 MHz.
7. Patenttivaatimuksen 1,2,3,4.5 tai 6 mukaisen menetelmän toteuttamiseen tarkoitettu laite, tunnettu siitä, että laite käsittää substraatin (10;10'), jossa pinta-aalto (SAW) voi edetä sekä mainitun substraatin (10;10’) pinnalle tehdyt pinta-aallon synnyttämiseen ja mahdollisesti ilmaisuun tarvittavat rakenteet, joiden toiminta perustuu joko substraatin (10) tai siihen liitetyn muun materiaalin pietsosähköisyyteen ja että mainitut rakenteet sisältävät yhden tai useamman johtavasta aineesta tehdyn elektrodikuvion (11,12,13,14,15), johon tehtyjen kontaktien kautta vaihtosähköteho syötetään ja mahdollisesti otetaan ulos anturista.
8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen laite, tunnettu siitä, että pietso-sähköistä materiaalia olevan anturin (10) tai pietsosähköistä materiaalia olevan, anturiin (10) liitetyn kappaleen pinnalle (18) on tehty pintakuviointeina ensimmäiset elektrodit (12,13), joiden välillä on lähettimenä toimiva sormikuviointi (11) ja että tietyn matkan (b) päähän lähetinpuolen sormikuvioinnista (11) tehty vastaava vastaanottimena toimiva sormikuviointi (14) toisen elektrodien (15,16) välille.
9. Patenttivaatimuksen 7 tai 8 mukainen laite, tunnettu siitä, että substraatin (10) pinnalle tehdyt pintakuvioinnit (11,12,13,14,15,16) on peitetty ohuella suojakerroksella (17), joka on esim. Si02:a ja paksuudeltaan suuruusluokkaa 1000...3000 A.
10. Patenttivaatimuksen 7,8 tai 9 mukainen laite, tunnettu siitä, että 10 60079 mainittujen sormikuviointien keskinäinen etäisyys a = λ/4; 3 λ/4; 5 λ/4 ; 7 λ/4 jne. missä λ = akustisen pinta-aallon (SAW) aallonpituus.
11. Patenttivaatimuksen 7,8,9 tai 10 mukainen laite, tunnettu siitä, että substraatin (10) yhteydessä on Peltier—elementti (21) tai muu vastaava jäähdytyslaite, jolla anturia (10) syklisesti jäähdytetään ja että anturin (10) yhteydessä on termoelementti (19) tai muu vastaava laite, jolla anturin (10) tunto-pinnan (18) lämpötila havaitaan.
FI800623A 1980-02-29 1980-02-29 Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande FI60079C (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI800623A FI60079C (fi) 1980-02-29 1980-02-29 Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande
DE19813106887 DE3106887A1 (de) 1980-02-29 1981-02-24 Verfahren und vorrichtung zur anzeige eines taupunktes oder dergleichen
US06/238,563 US4378168A (en) 1980-02-29 1981-02-26 Dew point detection method and device
JP2825581A JPS56137142A (en) 1980-02-29 1981-02-27 Dew point detection method and apparatus
GB8106470A GB2070772B (en) 1980-02-29 1981-03-02 Method and apparatus for detection of dew point
FI812325A FI62908C (fi) 1980-02-29 1981-07-24 Foerfarande och anordning vid maetning av fasaendring

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI800623 1980-02-29
FI800623A FI60079C (fi) 1980-02-29 1980-02-29 Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI60079B true FI60079B (fi) 1981-07-31
FI60079C FI60079C (fi) 1981-11-10

Family

ID=8513287

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI800623A FI60079C (fi) 1980-02-29 1980-02-29 Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4378168A (fi)
JP (1) JPS56137142A (fi)
DE (1) DE3106887A1 (fi)
FI (1) FI60079C (fi)
GB (1) GB2070772B (fi)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2124764B (en) * 1982-08-03 1986-01-08 Atomic Energy Authority Uk Ice detector
CH662421A5 (de) * 1983-07-13 1987-09-30 Suisse Horlogerie Rech Lab Piezoelektrischer kontaminationsdetektor.
US4590803A (en) * 1984-06-28 1986-05-27 Westinghouse Electric Corp. Acoustic waveguide monitoring
DE3720189C1 (de) * 1987-06-16 1988-12-29 Endress Hauser Gmbh Co Taupunkt-Sensor
DE3740719A1 (de) * 1987-12-01 1989-06-15 Endress Hauser Gmbh Co Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen
US5117146A (en) * 1988-04-29 1992-05-26 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Acoustic wave device using plate modes with surface-parallel displacement
US4855007A (en) * 1988-06-03 1989-08-08 Motorola Inc. Automatic die attach workholder
DE3828821A1 (de) * 1988-08-25 1990-03-01 Bayer Ag Verfahren zur erkennung der ueberflutung einer oberflaeche
US5187980A (en) * 1990-05-31 1993-02-23 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method and apparatus for acoustic plate mode liquid-solid phase transition detection
US5364185A (en) * 1993-04-16 1994-11-15 California Institute Of Technology High performance miniature hygrometer and method thereof
KR100302088B1 (ko) * 1993-07-02 2001-12-28 게르트 라이메 배면방사요소의 변동검지장치
FI92440C (fi) * 1993-08-23 1994-11-10 Vaisala Oy Detektori ja menetelmä nesteen läsnäolon ja/tai sen faasimuutoksen havaitsemiseksi
US5533393A (en) * 1995-01-13 1996-07-09 Honeywell Inc. Determination of dew point or absolute humidity
US5809826A (en) * 1996-07-29 1998-09-22 Baker, Jr.; Hugh M. Inferential condensation sensor
DE19630890A1 (de) 1996-07-31 1998-02-05 Fraunhofer Ges Forschung Oberflächenwellen-Flüssigkeitssensor
US5739416A (en) * 1996-09-18 1998-04-14 California Instiute Of Technology Fast, high sensitivity dewpoint hygrometer
DE29621783U1 (de) * 1996-12-16 1998-04-16 Hohe Gmbh & Co Kg Glasreinigungseinrichtung insbesondere für Fahrzeuge
GB9706990D0 (en) * 1997-04-05 1997-05-21 Univ Heriot Watt Dew point and bubble point measurement
GB9823675D0 (en) * 1998-10-30 1998-12-23 Schlumberger Ltd Flowmeter
JP2000310607A (ja) * 1999-04-27 2000-11-07 Sony Precision Technology Inc 結露予知装置
US6695469B2 (en) 2001-11-19 2004-02-24 Energy Absorption Systems, Inc. Roadway freezing point monitoring system and method
US6854322B2 (en) * 2002-06-10 2005-02-15 The Procter & Gamble Company Directional coupler sensor
DE10342327B4 (de) * 2003-09-11 2014-02-13 Preh Gmbh Beschlagsensor
DE10342333B4 (de) * 2003-09-11 2011-02-10 Preh Gmbh Beschlagsensor
US7053524B2 (en) * 2003-12-09 2006-05-30 P.J. Edmonson Ltd. Surface acoustic wave sensor or identification device with biosensing capability
US6967428B2 (en) * 2003-12-09 2005-11-22 P. J. Edmonson Ltd. Selectable reflector arrays for SAW sensors and identification devices
DE102004011982A1 (de) * 2004-03-10 2005-10-06 Claas Selbstfahrende Erntemaschinen Gmbh Taupunktsensor für Erntemaschinen
CN1947010A (zh) * 2004-04-26 2007-04-11 宝洁公司 评定纤维底物特性和处理纤维底物的方法
WO2006027893A1 (ja) * 2004-09-10 2006-03-16 Murata Manufacturing Co., Ltd. 液中物質検出センサ及びそれを用いた液中物質検出装置
JP2007225509A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Toppan Printing Co Ltd 露点計
JP4798544B2 (ja) * 2006-03-29 2011-10-19 凸版印刷株式会社 露点計
CA2655176C (en) * 2006-06-30 2012-05-22 The Procter & Gamble Company Device for measuring moisture in substrate and health of hair
DE202008003354U1 (de) 2008-03-09 2008-05-15 Hidde, Axel R., Dr. Ing. Leckageüberwachung bei zylindrischen Anordnungen
US8786860B2 (en) * 2011-10-20 2014-07-22 Schlumberger Technology Corporation Measurement of liquid fraction dropout using micropatterned surfaces
CN102520019B (zh) * 2011-12-12 2014-02-26 北京航空航天大学 一种谐振式露点测量方法
CN106885826B (zh) * 2017-03-31 2019-08-06 北京航空航天大学 一种用于石英谐振式露点传感器的自动测试与控制系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2571171A (en) * 1945-07-04 1951-10-16 Karl S Van Dyke Dew point hygrometer
US2536111A (en) * 1945-07-04 1951-01-02 Karl S Van Dyke Dew point hygrometer
US3293901A (en) * 1964-07-13 1966-12-27 James N Van Scoyoc Dew point indicator
JPS51151187A (en) * 1975-06-20 1976-12-25 Hitachi Ltd Water drop detector
US4055072A (en) * 1975-09-19 1977-10-25 Nasa Apparatus for measuring a sorbate dispersed in a fluid stream
AT338955B (de) * 1976-02-05 1977-09-26 List Hans Einfachwirkender kompressor
JPS52106787A (en) * 1976-03-03 1977-09-07 Mitsubishi Electric Corp Gas and humidity detection element
US4312228A (en) * 1979-07-30 1982-01-26 Henry Wohltjen Methods of detection with surface acoustic wave and apparati therefor

Also Published As

Publication number Publication date
DE3106887C2 (fi) 1987-01-22
GB2070772B (en) 1984-12-12
US4378168A (en) 1983-03-29
GB2070772A (en) 1981-09-09
DE3106887A1 (de) 1982-01-14
JPS56137142A (en) 1981-10-26
FI60079C (fi) 1981-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI60079B (fi) Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunt eller liknande
US5129262A (en) Plate-mode ultrasonic sensor
US5189914A (en) Plate-mode ultrasonic sensor
US5235235A (en) Multiple-frequency acoustic wave devices for chemical sensing and materials characterization in both gas and liquid phase
US5003822A (en) Acoustic wave microsensors for measuring fluid flow
US4361026A (en) Method and apparatus for sensing fluids using surface acoustic waves
US6626026B2 (en) Acoustic wave based sensor
US4662212A (en) Measuring instrument for concentration of gas
KR20070120602A (ko) 무선 음파 오일 필터 센서
Islam et al. Design and fabrication of fringing field capacitive sensor for non-contact liquid level measurement
CN111366932B (zh) 一种基于声表面波振荡器的结冰传感器
JPH0563732B2 (fi)
EP1125115A1 (en) Dew point hygrometers and dew sensors
Vellekoop et al. A love-wave ice detector
Mughal et al. Atmospheric icing sensors–an insight
Mahdavi et al. Piezoelectric MEMS resonant dew point meters
Fox Ultrasonic interferometry for liquid media
US5364185A (en) High performance miniature hygrometer and method thereof
KR20010090813A (ko) 액체의 물리적 성질을 검출하기 위한 센서 장치
Lonsdale Dynamic rotary torque measurement using surface acoustic waves
US5367175A (en) Method of measuring liquid level with a thermal interface detection
US6327890B1 (en) High precision ultrasonic chilled surface dew point hygrometry
Anisimkin et al. Gas thermal conductivity sensor based on SAW
Hoummady et al. Surface acoustic wave (SAW) dew point sensor: application to dew point hygrometry
JP5123046B2 (ja) 比誘電率・導電率測定装置及びその測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired

Owner name: VAISALA OY