DE3740719A1 - Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen - Google Patents

Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen

Info

Publication number
DE3740719A1
DE3740719A1 DE19873740719 DE3740719A DE3740719A1 DE 3740719 A1 DE3740719 A1 DE 3740719A1 DE 19873740719 DE19873740719 DE 19873740719 DE 3740719 A DE3740719 A DE 3740719A DE 3740719 A1 DE3740719 A1 DE 3740719A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
temperature
sensor
moisture
dew point
dependent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19873740719
Other languages
English (en)
Other versions
DE3740719C2 (de
Inventor
Rainer Dipl Phys Herrmann
Dieter Funken
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Endress and Hauser SE and Co KG
Original Assignee
Endress and Hauser SE and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Endress and Hauser SE and Co KG filed Critical Endress and Hauser SE and Co KG
Priority to DE19873740719 priority Critical patent/DE3740719A1/de
Priority to US07/236,667 priority patent/US4898476A/en
Priority to SE8804316A priority patent/SE469494B/sv
Priority to FR8815687A priority patent/FR2623909B1/fr
Priority to GB8827910A priority patent/GB2213271B/en
Priority to JP63302368A priority patent/JPH0715444B2/ja
Priority to CH4467/88A priority patent/CH676884A5/de
Publication of DE3740719A1 publication Critical patent/DE3740719A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3740719C2 publication Critical patent/DE3740719C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/56Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
    • G01N25/66Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
    • G01N25/68Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point by varying the temperature of a condensing surface

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung des Wasser­ dampf-Taupunkts in Gasen, bei welchem eine zur Anzeige der Bildung von Tautröpfchen auf einer Sensorfläche verwendete feuchteabhängige elektrische Größe durch Regelung der Tempe­ ratur der Sensorfläche auf einem einer stabilen Taumasse zugeordneten Sollwert gehalten wird und die Temperatur der Sensorfläche gemessen wird, sowie eine Anordnung zur Durch­ führung des Verfahrens.
Die direkte Taupunktmessung beruht bei diesem Verfahren darauf, daß auf der Sensorfläche Wasserdampf zu Tautröpfchen kondensiert, wenn die Sensorfläche auf die Taupunkttemperatur abgekühlt wird, und daß die Kondensation aus einem zugeord­ neten Wert der feuchteabhängigen elektrischen Größe erkennbar ist; die beim Einsetzen der Kondensation gemessene Temperatur der Sensorfläche ist dann die Taupunkttemperatur. Die Tau­ tröpfchen bleiben natürlich bestehen, wenn die Temperatur der Sensorfläche unter die Taupunkttemperatur abgesenkt wird, wobei die Masse des Kondensats zeitabhängig zunimmt. Für eine kontinuierliche Anzeige der Taupunkttemperatur ist es daher erforderlich, die Temperatur der Sensorfläche gerade auf dem Wert zu halten, der dem Beginn der Taupunkt-Kondensa­ tion entspricht. Diesem Zweck dient die Temperaturregelung.
Die für die Tautröpfchen-Detektion verwendete feuchteabhän­ gige elektrische Größe ist sehr häufig eine Kapazität, sie kann aber beispielsweise auch ein ohmscher Widerstand oder eine Impedanz sein.
Die richtige Bestimmung des Taupunkts mit diesem Verfahren setzt voraus, daß der feuchteabhängigen elektrischen Größe eindeutig ein Wert zugeordnet werden kann, den sie bei der Taupunkttemperatur hat, und daß der Sollwert für die Rege­ lung der feuchteabhängigen elektrischen Größe diesem Wert entspricht. Diese Bedingungen lassen sich für einen bestimm­ ten Sensor ohne Schwierigkeit erfüllen, solange er sauber ist. Dagegen gilt der für einen bestimmten Sensor ermittelte und eingestellte Sollwert in der Regel nicht mehr, wenn der Sensor verschmutzt ist. Verschmutzungen des Sensors verursa­ chen infolge einer Kapillarkondensation von Wasserdampf oder der Feuchtelöslichkeit bei öligen Verschmutzungsfilmen eine Änderung der feuchteabhängigen elektrischen Größe bereits bei Temperaturen, die weit oberhalb der Taupunkttemperatur liegen, so daß der einem sauberen Sensor entsprechende Soll­ wert bei einer Verschmutzung der Sensorfläche bereits bei einer Temperatur erreicht werden kann, die höher als die Taupunkttemperatur ist. Die Temperaturregelung regelt dann die Temperatur der Sensorfläche auf diese höhere Temperatur ein, die fälschlich als Taupunkttemperatur angezeigt und ausgewertet wird. Daher können Verschmutzungen erhebliche Meßfehler verursachen. Um mit einem verschmutzten Sensor die Taupunkttemperatur richtig zu ermitteln, müßte der Wert bekannt sein, den die feuchteabhängige elektrische Größe des verschmutzten Sensors beim Taupunkt hat. Dieser Wert ändert sich aber ganz erheblich in Abhängigkeit von der Art und vom Grad der Verschmutzung.
Aus der DE-PS 32 31 995 ist es bekannt, die Verschmutzung eines kapazitiven Taupunkt-Sensors dadurch festzustellen, daß der Phasenwinkel der bei Betauung bestehenden Sensorimpe­ danz gemessen und als Maß für die Verschmutzung verwendet wird. Durch diese Maßnahme wird aber der durch die Verschmut­ zung verursachte Meßfehler nicht beseitigt; es wird ledig­ lich angezeigt, daß eine Reinigung des Sensors erforderlich ist, oder auch ein automatischer Reinigungsvorgang ausgelöst, wenn die gemessene Verschmutzung einen bestimmten Grenzwert übersteigt.
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens der eingangs angegebenen Art, bei welchem die Auswirkungen von Verschmutzungen der Sensorfläche selbsttätig kompensiert werden, so daß auch mit einer verschmutzten Sensorflache, unabhängig von der Art und vom Grad der Verschmutzung, der Taupunkt richtig gemessen wird.
Nach der Erfindung wird dies dadurch erreicht, daß zur Ein­ stellung des Sollwerts die Temperatur der Sensorfläche von einem oberhalb der Taupunkttemperatur liegenden Wert abge­ senkt und der Absenkung eine periodische zeitliche Tempera­ turänderung überlagert wird, und daß bei gleichzeitigem Auftreten von periodischen zeitlichen Änderungen der feuchte­ abhängigen elektrischen Größe der beim Wechsel der periodi­ schen zeitlichen Änderungen zu einer monotonen Änderung gemessene Wert der feuchteabhängigen elektrischen Größe als der Sollwert verwendet wird.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß verschmutzungs­ bedingte Änderungen der feuchteabhängigen elektrischen Größe im Temperaturbereich oberhalb der Taupunkttemperatur den Temperaturänderungen der Sensorfläche folgen, während im Bereich unterhalb der Taupunkttemperatur jede Temperatur, gleichgültig ob steigend oder fallend, eine stetige Zunahme der Masse der kondensierten Tröpfchen und damit eine monoto­ ne Änderung der feuchteabhängigen elektrischen Größe verur­ sacht. Mit Hilfe der der Temperaturabsenkung überlagerten periodischen zeitlichen Temperaturänderungen können daher verschmutzungsbedingte Änderungen der feuchteabhängigen elektrischen Größe von der durch die Kondensation verursach­ ten Änderung deutlich unterschieden werden. Der Wechsel des zeitlichen Verlaufs der feuchteabhängigen elektrischen Größe von periodischen zeitlichen Änderungen zu einer monotonen Änderung findet am Taupunkt statt, und der bei diesem Wech­ sel gemessene Wert der feuchteabhängigen elektrischen Größe ist als Größe für die Verschmutzung der Sensorfläche erkenn- und auswertbar. Wenn dieser Wert als Sollwert für die feuch­ teabhängige elektrische Größe verwendet wird, wird die Temperatur der Sensorfläche richtig auf dem Taupunkt gehal­ ten.
Da sich die Verschmutzung der Sensorfläche in der Regel nur langsam ändert, genügt es, wenn die Ermittlung und Einstel­ lung des Sollwerts in größeren Zeitabständen erfolgt.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung des Verfahrens zur Messung des Wasserdampf-Taupunkts in Gasen besteht darin, daß die Regelparameter für die Regelung der feuchteabhängi­ gen elektrischen Größe aufgrund einer Analyse von Schwin­ gungen der Regelgröße der feuchteabhängigen elektrischen Größe fortlaufend korrigiert werden.
Durch diese Ausgestaltung ist es möglich, die Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe stets in optimaler Weise ablaufen zu lassen. Bei einer Regelung der feuchteab­ hängigen elektrischen Größe mit fest eingestellten Regelpa­ rametern ist es nicht möglich, ohne Eingriffe von außen im gesamten Bereich der zu erfassenden Taupunkttemperaturen Instabilitäten oder ein ungünstiges Regelverhalten zu ver­ meiden. Durch die erfindungsgemäße Schwingungsanalyse kön­ nen die Regelparameter fortlaufend so korrigiert werden, daß erkannte Instabilitäten beseitigt werden und ein opti­ males Regelverhalten erzielt wird.
Eine Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung mit einem Taupunkt-Sensor, der ein die Sensorflä­ che aufweisendes elektrisches Sensorelement, das ein von der feuchteabhängigen elektrischen Größe abhängiges elektri­ sches Signal liefert, eine die Temperatur der Sensorfläche beeinflussende elektrische Heiz- und Kühleinrichtung und einen elektrischen Temperatursensor, der ein von der Tempe­ ratur der Sensorfläche abhängiges elektrisches Signal lie­ fert, aufweist, und mit einer an den Taupunkt-Sensor ange­ schlossenen Regelanordnung, die das feuchteabhängige elek­ trische Signal als Regelgröße empfängt und zu der elektri­ schen Heiz- und Kühleinrichtung eine Stellgröße liefert, durch die das feuchteabhängige elektrische Signal auf einem Sollwert gehalten wird, ist nach der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß die Regelanordnung einen Führungsregler und einen Folgeregler enthält, die in Kaskade angeordnet sind, daß der Führungsregler das feuchteabhängige elektri­ sche Signal als Regelgröße und den Sollwert des feuchteab­ hängigen elektrischen Signals als Führungsgröße empfängt und ein Temperatursollwertsignal abgibt und daß der Folge­ regler das vom Führungsregler gelieferte Temperatursollwert­ signal als Führungsgröße und das vom Temperatursensor gelie­ ferte temperaturabhängige Signal als Regelgröße empfängt und die Stellgröße zu der elektrischen Heiz- und Kühleinrichtung liefert.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des Verfah­ rens nach der Erfindung und der Anordnung zu seiner Durch­ führung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Zeichnung. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 das Blockschaltbild einer Anordnung zur Messung des Wasserdampf-Taupunkts in Gasen nach der Er­ findung,
Fig. 2 eine Draufsicht auf ein Sensorelement, das in der Anordnung von Fig. 1 verwendet werden kann,
Fig. 3 einen Schnitt durch einen Teil des Sensorelements von Fig. 2 in größerem Maßstab,
Fig. 4 einen möglichen zeitlichen Verlauf des feuchte­ abhängigen elektrischen Signals in der Anordnung von Fig. 1,
Fig. 5 Diagramme zur Erläuterung der Schwingungsanalyse, die in der Anordnung von Fig. 1 durchgeführt wird,
Fig. 6 Diagramme von verschiedenen Schwingungsformen des feuchteabhängigen elektrischen Signals, die in der Anordnung von Fig. 1 vorkommen können,
Fig. 7 den Zusammenhang zwischen der Sensorkapazität und der Sensortemperatur bei einem sauberen Taupunkt- Sensor und bei einem verschmutzten Taupunkt-Sensor,
Fig. 8 Diagramme zur Erläuterung des Prinzips, das bei der Einstellung des Sollwerts zur Erzielung einer verschmutzungsunabhängigen Temperaturregelung in der Anordnung von Fig. 1 angewendet wird,
Fig. 9 Diagramme des zeitlichen Ablaufs eines in der Anordnung von Fig. 1 durchgeführten Zyklus zur Verschmutzungskompensation,
Fig. 10 den aus den Diagrammen von Fig. 9 entnehmbaren Zusammenhang zwischen der Sensorkapazität und der Sensortemperatur bei einem verschmutzten Taupunkt- Sensor und
Fig. 11 einen Teilabschnitt des zeitlichen Ablaufs des in Fig. 9 dargestellten Zyklus der Verschmutzungs­ kompensation.
Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung zur direkten Messung des Wassserdampf-Taupunkts in Gasen enthält einen Meßwertauf­ nehmer 10 mit einem elektrischen Sensorelement 12, das auf einem als Heiz- und Kühleinrichtung dienenden Peltierelement 14 angebracht ist, und mit einem auf die Oberflächentempera­ tur des Sensorelements 12 ansprechenden Temperatur-Sensor 16. Das Peltierelement 14 ist auf einem Träger 18 angebracht.
Bei der direkten Taupunktmessung wird zur Bestimmung des Wassergehalts eines Gases das nichtideale Gasverhalten von Wasserdampf ausgenutzt, nämlich die Fähigkeit zur Kondensa­ tion infolge der zwischenmolekularen Anziehungskräfte, wenn das Gas an der Oberfläche des Sensorelements 12 bis zu einer bestimmten Temperatur abgekühlt wird, die die Taupunkttempe­ ratur ist. Die Beziehung zwischen dem Wasserdampf-Partial­ druck des Gases und der Kondensationstemperatur (Taupunkt­ temperatur) ist durch die Sättigungsdampfdruckkurve gegeben; sie ist die Grundlage zur Umrechnung der direkten Meßgröße "Taupunkttemperatur" in alle anderen Feuchtegrößen.
Zur Taupunktmessung wird die Oberfläche des Sensorelements 12 dem zu messenden Gas ausgesetzt, indem entweder der Meß­ wertaufnehmer 10 unmittelbar im Prozeß angeordnet wird, oder indem Gas aus dem Prozeß entnommen und in eine Meßkammer eingeleitet wird, in der der Meßwertaufnehmer 10 angeordnet ist. Mit Hilfe des Peltierelements 14 wird das Sensorelement 12 abgekühlt, bis sich auf seiner Oberfläche durch Kondensa­ tion von Wasserdampf Tautröpfchen bilden. Das Auftreten von Kondensation wird mittels des Sensorelements 12 festgestellt; die gleichzeitig mit Hilfe des Temperatur-Sensors 16 gemesse­ ne Temperatur ist die Taupunkttemperatur. Bei weiterer Abküh­ lung des Sensorelements 12 auf noch niedrigere Temperturen nimmt die Größe der Tautröpfchen und damit die Masse des kon­ densierten Wassers zu, doch sind die dann gemessenen Tempera­ turen für die Feuchtegrößen des Gases nicht mehr aussagekräf­ tig. Es kommt also darauf an, möglichst genau die Sensortem­ peratur beim Einsetzen der Kondensation zu erfassen. Für eine kontinuierliche Taupunktmessung wird die Sensortempera­ tur durch Temperaturregelung ständig auf dem Wert der Taupunkt­ temperatur gehalten, indem eine vorbestimmte Masse des konden­ sierten Wassers aufrechterhalten wird. Die in Fig. 1 darge­ stellten, mit dem Meßwertaufnehmer 10 verbundenen elektroni­ schen Schaltungen dienen der Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe sowie der Temperaturregelung.
Das elektrische Sensorelement 12 muß so beschaffen sein, daß es sowohl die Entstehung von Tautröpfchen beim Erreichen der Taupunkttemperatur als auch die Einhaltung einer vorbestimm­ ten Masse kondensierten Wassers mit möglichst großer Genauig­ keit und Empfindlichkeit erkennen und kontrollieren läßt. Zu diesem Zweck muß sich wenigstens eine elektrische Eigenschaft des Sensorelements in signifikanter Weise in Abhängigkeit von der Bildung der Masse des kondensierten Wassers ändern. Es sind verschiedene Arten von elektrischen Sensorelementen bekannt, die für diesen Zweck mehr oder weniger gut geeignet sind. Sehr oft ist die elektrische Eigenschaft, die zum Nachweis der Bildung von Kondensat verwendet wird, die Kapa­ zität zwischen zwei Sensorelektroden, die bei Bedeckung der Sensorelektroden mit Kondensat gegenüber dem Wert im trocke­ nen Zustand wegen der höheren Dielektrizitätskonstante von Wasser sprunghaft ansteigt. Bei anderen Sensorelementen wird die Zunahme der Leitfähigkeit zwischen zwei durch das Konden­ sat verbundene Elektroden detektiert. Schließlich ist es auch bekannt, durch Messung der Impedanz des Sensorelements die ohmsche Komponente und die kapazitive Komponente gemein­ sam zur Detektierung der Kondensation heranzuziehen.
Für die in Fig. 1 dargestellte Taupunkt-Meßanordnung ist das in der älteren deutschen Patentanmeldung P 37 20 189.1-52 beschriebene Sensorelement besonders gut geeignet. Fig. 2 zeigt eine sehr vereinfachte Draufsicht auf das in dieser Weise ausgebildete Sensorelement 12, und Fig. 3 zeigt einen Schnitt durch einen Teil dieses Sensorelements in größerem Maßstab. Dieses Sensorelement weist ein Substrat 112 auf, das aus einem feuchtigkeitsunempfindlichen Isoliermaterial besteht. Wie Fig. 3 erkennen läßt, ist das Substrat 112 unter Einfügung einer Trennschicht 114 aus Aluminium auf dem Peltierelement 14 angebracht. Die der Trennschicht abge­ wandte freie Oberseite des Substrats 112 bildet die Sensor­ fläche 118, die dem Gas ausgesetzt ist, dessen Wasserdampf- Taupunkt gemessen werden soll, so daß sich darauf bei Abküh­ lung auf die Taupunkttemperatur durch Kondensation Tautröpf­ chen bilden.
Auf der Sensorfläche 118 sind zwei Elektrodenstrukturen 120 und 130 gebildet, die in Fig. 2 der Deutlichkeit wegen sehr vereinfacht dargestellt sind. Die Elektrodenstruktur 120 hat die Form eines Kammes mit einer Anzahl von parallelen Zähnen 122, die am einen Ende mit einem senkrecht dazu verlaufenden Steg 124 verbunden sind. Am Ende des Stegs 124 ist eine verbreiterte Kontaktfläche 126 angeformt, die zur Kontaktie­ rung eines Anschlußleiters dient, über den die Elektroden­ struktur 120 mit der elektronischen Schaltung des Taupunkt- Meßgeräts verbunden wird. Die Elektrodenstruktur 130 besteht in völlig gleicher Weise, aber spiegelbildlicher Anordnung, aus Zähnen 132, einem Steg 134 und einer Kontaktfläche 136. Die Zähne 122 und 132 der beiden Elektrodenstrukturen liegen in einem kleinen zentralen Bereich des Substrats 112, der den eigentlichen für den Meßvorgang empfindlichen Sensorbe­ reich bildet. Die Zähne 122 und 132 sind abwechselnd inein­ andergreifend angeordnet, wobei die Zähne 122 der Elektroden­ struktur 120 in den Zwischenräumen zwischen den Zähnen 132 der Elektrodenstruktur 130 und umgekehrt die Zähne 132 der Elektrodenstruktur 130 in den Zwischenräumen zwischen den Zähnen 122 der Elektrodenstruktur 120 liegen. Jeweils zwei parallel nebeneinanderliegende Zähne stellen also Elektroden­ abschnitte dar, die zu verschiedenen Elektrodenstrukturen gehören. Die Zwischenräume zwischen den Zähnen jeder Elektro­ denstruktur sind so breit, daß in jedem Zwischenraum ein Zahn der anderen Elektrodenstruktur mit ausreichendem Abstand von den beiden benachbarten Zähnen aufgenommen werden kann. Dies ist insbesondere aus Fig. 3 zu erkennen, die in einem gegen die Darstellung von Fig. 2 vergrößerten Maßstab einen Schnitt durch mehrere nebeneinanderliegende Zähne 122, 132 der beiden Elektrodenstrukturen 120 bzw. 130 zeigt.
Jeder Zahn 122 und 132 der beiden Elektrodenstrukturen 120, 130 ist mit einer feuchtigkeitsunempfindlichen Isolierschicht 140 überzogen, die alle freien Flächen des Zahns vollständig bedeckt. Die Zähne 122 und 132 sind also einerseits durch das Isoliermaterial des Substrats 112 und andererseits durch die Isolierschicht 140 vollständig von dem Gas getrennt, dessen Taupunkt gemessen werden soll. Bei der in Fig. 3 dargestellten Ausführungsform besteht zwischen den Isolier­ schichten, die zwei benachbarte Zähne bedecken, jeweils ein Spalt 142, der bis zur Oberfläche des Substrats 112 durchgeht.
Die Elektrodenstrukturen 120 und 130 sowie die die Zähne bedeckende Isolierschicht 140 können auf dem Substrat 112 nach einem der üblichen Verfahren hergestellt werden, die aus der Dünnfilmtechnik und aus der Leiterplattentechnik bekannt sind. Die Elektrodenstrukturen 120, 130 werden bei­ spielsweise auf fotolithografischem Weg aus einem geeigneten Metallbelag, beispielsweise aus Tantal oder Platin, gebildet. Die Isolierschicht 140 muß aus einem chemisch stabilen, elektrisch isolierenden und völlig feuchtigkeitsunempfindli­ chen Material bestehen. Hierfür kommen Glas, Lack oder auch ein geeignetes Metalloxid in Frage. Das Material der Isolier­ schicht kann nach einem der bekannten Verfahren auf die Elektrodenstrukturen aufgebracht werden. Wenn das Oxid des für die Elektrodenstrukturen 120, 130 verwendeten Metalls die erforderlichen Eigenschaften aufweist, kann die Isolier­ schicht 140 gegebenenfalls auch durch Oberflächenoxidation des Leitermetalls gebildet werden.
Zur Verdeutlichung ist in Fig. 2 die Anzahl der Zähne in jeder Elektrodenstruktur übertrieben klein und der Abstand zwischen den benachbarten Zähnen übertrieben groß dargestellt.
In Wirklichkeit hat jede Elektrodenstruktur 120, 130 eine sehr viel größere Anzahl von Zähnen. Ein besonders wichtiges Merkmal dieses Sensorelements ist die Bemessung des Abstands zwischen den nebeneinanderliegenden Zähnen: er ist kleiner als 50 µm und beträgt vorzugsweise etwa 20 µm. Bei einer praktisch erprobten Ausführungsform eines nach dem Prinzip von Fig. 2 und 3 hergestellten Sensorelements bestehen die Elektrodenstrukturen 120, 130 aus Tantal, das auf ein Sub­ strat 112 aus Aluminiumoxid aufgebracht ist. Jede Elektroden­ struktur hat einen Kamm aus 50 Zähnen mit einer Breite von 21 µm und einer Länge von 2 mm. Der Abstand zwischen den ineinandergreifenden Zähnen der beiden Elektrodenstrukturen beträgt 19 µm. Der von den beiden ineinandergreifenden Kamm­ strukturen gebildete eigentliche Sensorbereich nimmt daher nur eine Fläche von 2×4 mm ein. Die Isolierschicht 140 besteht aus hochverdichtetem und dadurch feuchtigkeitsunemp­ findlichem Tantaloxid, das in einer Dicke von 160 nm durch Oberflächenoxidation des Tantals der Elektrodenstrukturen gebildet ist.
Die Funktionsweise dieses Sensorelements beruht darauf, daß der Abstand zwischen den nebeneinanderliegenden Zähnen der beiden Elektrodenstrukturen von der Größenordnung der größten sich beim Erreichen der Taupunkttemperatur bildenden Kondensationströpfchen oder sogar kleiner ist. Dadurch wird erreicht, daß die ersten sich beim Erreichen der Taupunkttem­ peratur bildenden Kondensationströpfchen sofort die ganze Breite der Spalte 142 zwischen den benachbarten Zähnen 122 und 132 ausfüllen. Wie in der älteren Patentanmeldung ausführ­ lich beschrieben ist, hat dies eine sprunghafte Änderung der zwischen den beiden Elektrodenstrukturen gemessenen Impedanz zur Folge, weil die Kondensationströpfchen von verhältnismäßig großem Leitwert die verhältnismäßig kleinen Kapazitäten der Spalte 142 gewissermaßen kurzschließen und eine leitende Verbindung zwischen den wesentlich größeren Kapazitäten der die Zähne bedeckenden Isolierschichten 140 herstellen. Durch Messung der Impedanz zwischen den beiden Elektrodenstrukturen kann daher das Erreichen der Taupunkt­ temperatur schon bei der Bildung der ersten Kondensations­ tröpfchen festgestellt werden, noch bevor sich eine zusammen­ hängende Tauschicht gebildet hat.
Anstelle der Impedanz kann auch die Kapazität C F des Sensor­ elements gemessen werden. Diese geht von dem Trocken-Kapazi­ tätswert C O beim Erreichen der Taupunkttemperatur auf den wesentlich größeren Taupunkt-Kapazitätswert C 1. Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel der Taupunkt-Meßan­ ordnung wird mit dieser Messung der Sensorkapazität C F gear­ beitet.
Der Meßwertaufnehmer 10 hat einen ersten Anschluß 10 a, an dem ein elektrisches Signal S Z zur Verfügung steht, das von der feuchteabhängigen elektrischen Größe des Sensorelements 12 abhängt, bei Verwendung des in Fig. 2 und 3 dargestellten Sensorelements also von dessen Impedanz Z. An den Anschluß 10 a ist eine Impedanzauswerteschaltung 20 angeschlossen, die aus dem Signal S Z ein für die Weiterverarbeitung geeignetes elektrisches Signal bildet, das die für die Taupunktdetektion verwendete feuchteabhängige elektrische Größe darstellt, im vorliegenden Fall also die Sensorkapazität C F . Zur Vereinfa­ chung wird dieses Signal ebenfalls mit C F bezeichnet.
Der Meßwertaufnehmer 10 hat einen zweiten Anschluß 10 b, an dem ein elektrisches Signal S T zur Verfügung steht, das von der temperaturabhängigen elektrischen Größe des Temperatur- Sensors 16 abhängt. Der Temperatur-Sensor 16 kann beispiels­ weise ein Thermoelement sein, das eine temperaturabhängige Spannung liefert, oder ein Widerstands-Thermometer, dessen ohmscher Widerstand sich in dem zu erfassenden Temperaturbe­ reich mit der Temperatur ändert. Bei dem dargestellten Bei­ spiel wird angenommen, daß der Temperatur-Sensor 16 ein Platin-Widerstandsthermometer in Dünnfilm-Technologie vom Typ PT 100 ist. Demzufolge ist das am Anschluß 10 b verfügba­ re elektrische Signal S T vom Widerstand des Temperatur-Sen­ sors 16 abhängig. An den Anschluß 10 b ist eine Temperaturaus­ werteschaltung 22 angeschlossen, die aus dem Signal S T ein für die Weiterverarbeitung geeignetes elektrisches Signal bildet, das die vom Temperatur-Sensor 16 gemessene Tempera­ tur T F der Oberfläche des Sensorelements 12 darstellt. Zur Vereinfachung wird dieses Signal ebenfalls mit T F bezeichnet.
Die Ausgänge der Impedanzauswerteschaltung 20 und der Tempe­ raturauswerteschaltung 22 sind mit zwei Eingängen 30 a bzw. 30 b eines Mikrocomputers 30 verbunden, wobei, falls erforder­ lich, jeweils ein Analog-Digital-Umsetzer eingefügt sein kann. Im Mikrocomputer 30 wird die Sensortemperatur T F mit einem im Mikrocomputer berechneten Solltemperaturwert T S verglichen, wie durch ein Vergleichsschaltungssymbol 31 angedeutet ist. Der durch den Vergleich erhaltene Differenz­ wert T S -T F wird in einem Funktionsblock 32, der die Funk­ tion eines Temperaturreglers hat, zur Erzeugung eines Tempe­ raturregelsignals S T verwendet, das an einem Ausgang 30 c des Mikrocomputers 30 abgegeben wird.
Der Funktionsblock 32 ist natürlich, wie auch die übrigen dargestellten Funktionsblöcke, im Mikrocomputer 30 nicht konkret vorhanden; die Funktionsblöcke repräsentieren viel­ mehr verschiedene Programmroutinen des Mikrocomputers.
Ein an den Ausgang 30 c des Mikrocomputers 30 angeschlossener Digital-Analog-Umsetzer 24 setzt das Temperaturregelsignal S T in eine Spannung U T um, die dem Eingang einer Leistungs- Endstufe 25 zugeführt wird, die den Strom I P für das Peltier­ element 14 zu einem dritten Anschluß 10 c des Meßwertaufneh­ mers 10 liefert. Dieser Strom I P ist bekanntlich, je nach seiner Polarität, entweder ein Heizstrom oder ein Kühlstrom. Durch die zur Leistungs-Endstufe 25 gelieferte Spannung U T wird der Peltier-Strom I P so eingestellt, daß die Differenz T S -T F zu Null wird. Nach einem bekannten Verfahren kann der Peltier-Strom I P zu diesem Zweck periodisch umgepolt wer­ den, so daß er abwechselnd als Heizstrom und als Kühlstrom wirkt, wobei die Spannung U T das Tastverhältnis so bestimmt, daß sich eine mittlere Sensortemperatur T F einstellt, die gleich der Solltemperatur T S ist. Die Bestandteile 12, 16, 22, 31, 32, 24, 25, 14 bilden also einen Temperaturregelkreis, der die Sensortemperatur T F ständig der Solltemperatur T S nachregelt. In diesem Temperaturregelkreis ist die Sensortem­ peratur T F die Regelgröße, die Solltemperatur T S die Führungs­ größe und der Peltier-Strom I P die Stellgröße.
Wenn dafür gesorgt wird, daß die Solltemperatur T S gleich der Taupunkttemperatur T P ist, wird durch diese Temperatur­ regelung die Sensortemperatur T F ständig auf dem Wert der Taupunkttemperatur T P gehalten. Eine an den Ausgang der Temperaturauswerteschaltung 22 angeschlossene Temperaturan­ zeige 26 zeigt dann im eingeregelten Zustand die Taupunkttem­ peratur an.
Der Mikrocomputer 30 kann in herkömmlicher Weise die gemesse­ ne Taupunkttemperatur T P , die durch das Signal T F im eingere­ gelten Zustand angegeben wird, zur Gewinnung aller gewünschten Feuchtegrößen verarbeiten, wie durch einen Funktionsblock 33 dargestellt ist. Zu diesem Zweck ist die Sättigungsdampfdruck­ kurve als Tabelle im Mirkocomputer 30 abgespeichert. Diese Auswertung der Taupunkttemperatur ist allgemein bekannt und wird daher nicht weiter erläutert.
Bei der Taupunkt-Meßanordnung von Fig. 1 ist der Mikrocompu­ ter 30 zusätzlich zu seinen herkömmlichen Aufgaben in die Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe einbezogen, die die Sensortemperatur T F zur Erzielung einer stabilen Masse des kondensierten Wassers der Oberfläche des Sensorele­ ments 12 regelt. Zu diesem Zweck wird im Mikrocomputer 30 die dem Eingang 30 a zugeführte Sensorkapazität C F mit einem im Mikrocomputer berechneten, dem Taupunkt zugeordneten Kapazitätssollwert C 1 verglichen, wie durch ein weiteres Vergleichsschaltungssymbol 34 angedeutet ist. Der durch den Vergleich erhaltene Differenzwert C F -C 1 wird in einem Funktionsblock 35, der die Funktion eines als PID-Regler ausgebildeten Reglers der feuchteabhängigen elektrischen Größe erfüllt, zur Erzeugung des Solltemperaturwerts T S verwendet, das für den Vergleich in der symbolisch darge­ stellten Vergleichsschaltung 31 verwendet wird. Die Solltem­ peratur T S wird durch die Regelung im Funktionsblock 35 so eingestellt, daß die Differenz C F -C 1 zu Null gemacht wird, daß also die Sensorkapazität C F den Taupunkt-Kapazitätssoll­ wert C 1 annimmt. Unter der Voraussetzung, daß der Kapazitäts­ sollwert C 1 der Sensorkapazität bei der wahren Taupunkttem­ peratur entspricht, wird auf diese Weise die Sensortemperatur T F durch Regelung auf der Taupunkttemperatur T P gehalten. Durch Anzeige der vom Temperatursignal T F dargestellten Temperatur in einer Temperatur-Anzeige 26 wird dann im ein­ geregelten Zustand die Taupunkttemperatur T P angezeigt.
Es besteht also ein zweiter Regelkreis, der vom Sensorele­ ment 12 über die Impedanzauswerteschaltung 20 und die Funk­ tionsblöcke 34, 35 des Mikrocomputers 30 zum Temperaturregel­ kreis verläuft. Im zweiten Regelkreis ist die Sensorkapazi­ tät C F die Regelgröße und der Taupunkt-Kapazitätssollwert C 1 die Führungsgröße. Die Stellgröße T S des zweiten Regelkreises bildet zugleich die Führungsgröße des Temperaturregelkreises. Es handelt sich also um eine Kaskadenregelung, wobei der äußere zweite Regelkreis den inneren Temperaturregelkreis einschließt. Der durch den Funktionsblock 35 repräsentierte Regler der feuchteabhängigen elektrischen Größe des äußeren Regelkreises wirkt als Führungsregler, und der Temperaturreg­ ler 32 des inneren Regelkreises wirkt als Folgeregler.
Die innere Regelung bewirkt, daß die Oberflächentemperatur T F des Sensorelements 12 in möglichst kurzer Zeit dem Soll­ temperaturwert T S , den der Regler 35 vorschreibt, nachfolgt. Die Regelparameter des Temperaturreglers 26 bleiben im gesam­ ten Temperaturbereich auch unter unterschiedlichsten Einsatz­ bedingungen konstant. Eine wesentliche Bedingung für diese innere Temperaturregelung ist, daß sie schneller abläuft als die äußere Regelung.
Die äußere Regelung, die die Kapazität C F (oder allgemein die verwendete feuchteabhängige elektrische Größe) des Meß­ wertaufnehmers 10 durch die Veränderung der Sensortemperatur T F regelt, dient der eigentlichen Taupunktermittlung.
Wenn der Meßwertaufnehmer 10 nicht unmittelbar im Prozeß angeordnet ist, sondern in einer Meßkammer, in die aus dem Prozeß entnommenes Gas eingeleitet wird, dient die aktuelle Sensortemperatur T F auch als Sollwert für eine parallele Regelung der Meßkammertemperatur, die durch den Schaltungs­ block 28 dargestellt ist. Diese Regelung erfolgt derart, daß die Meßkammertemperatur um einen vorgegebenen Betrag über der Sensortemperatur gehalten wird, wobei dieser Betrag für verschiedene Temperaturbereiche der Sensortemperatur verschie­ den sein kann. Durch die Meßkammertemperaturregelung 28 wird parallel zu der Temperatur der Meßkammer auch die Temperatur der Rohrbegleitheizung geregelt.
Mit Hilfe der beschriebenen Kaskadenregelung werden die Eigen­ schaften der wesentlich einfacheren Temperaturregelung zur Vereinfachung der Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe ausgenutzt:
  • a) Störungen infolge von Gastemperaturänderungen bleiben auf die Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe ohne Einfluß, da sie von der separaten inneren Temperaturrege­ lung abgefangen werden.
  • b) Die Rückkopplung innerhalb der Regelung der feuchteabhän­ gigen elektrischen Größe durch Veränderung der Energie­ bilanz an der Sensoroberfläche infolge von Wasserdampf­ kondensation (oder Verdampfung) wird durch die separate innere Temperaturregelung aufgehoben, denn Veränderungen in der Energiebilanz werden vom separaten Temperaturreg­ ler ausgeregelt.
Die Einbeziehung des Mikrocomputers 30 in die Regelkreise ermöglicht eine selbsttätige Beeinflussung der Regelung zur Ausschaltung von Störeinflüssen und zur Erzielung eines opti­ malen Regelverhaltens. Zu diesem Zweck erfüllt der Mikrocom­ puter 30 insbesondere die folgenden Funktionen:
  • 1. Die Regelparameter der PID-Regelung 35 werden je nach der Dynamik der Regelstrecke vom System selbstoptimierend bestimmt.
  • 2. Der Sollwert für den dem Taupunkt entsprechenden Wert der feuchteabhängigen elektrischen Größe des Sensors 10, beim beschriebenen Beispiel also der Wert C 1 der Sensorkapazi­ tät C F , wird vom System selbsttätig so bestimmt, daß Ver­ schmutzungen des Sensors, die zu Fehlmessungen führen würden, kompensiert werden.
  • 3. In dem Verschmutzungskompensationszyklus wird gleichzeitig die Zeitkonstante T z1 des Folgereglers 32 für die Regelung der Temperatur des Peltierelements 14 bestimmt; zu diesem Zweck ist der Mikrocomputer 30 in den inneren Temperatur­ regelkreis einbezogen.
Diese Funktionen werden nachfolgend beschrieben.
Selbstoptimierung der Taupunktregelung
Im Normalzustand der Regelung wird von der durch den Funk­ tionsblock 35 dargestellten PID-Regelung in zeitlich konstan­ ten Zyklen mit einer Zykluszeit Δ t x von etwa 0,5 bis 1 s jeweils ein neuer Temperatursollwert T S festgelegt, der sich vom vorhergehenden Sollwert T′ S um eine Sollwertänderung Δ T S unterscheidet:
T S = T′ S + Δ T S (1)
Für die Sollwertänderung Δ T S pro Zyklus gilt die folgende Gleichung
Δ T S = K i · (C F - C₁) · Δ t x + K p · Δ (C F - C₁) + K d · Δ²(C F - C₁)/Δ t x (2)
Darin sind K i , K p , K d die Regelparameter für die Integral-, Proportional- bzw. Differentialregelung der PID-Regelung des Funktionsblocks 35. Die Besonderheit der dargestellten Meßan­ ordnung besteht darin, daß die Regelparameter K i , K p , K d nicht fest eingestellt sind, sondern vom System in Abhängig­ keit vom Zeitverhalten der Regelstrecke verändert werden.
Eine Korrektur der Regelparameter wird immer dann vorgenom­ men, wenn die in einem Zyklus Δ t x bestimmte Sollwertkorrek­ tur Δ T S zu groß ist, und deshalb das System zu oszillieren beginnt, oder wenn sie so klein ist, daß die Kondensations- oder Verdampfungsprozesse mit der Feuchteänderung im Gas nicht mehr mitkommen.
Die Korrektur der Regelparameter erfolgt durch eine Programm­ routine, die in Fig. 1 durch einen Funktionsblock 36 darge­ stellt ist, aufgrund des Ergebnisses einer durch den Funktions­ block 37 dargestellten Schwingungsanalyse des Regelkreises. Fig. 4 zeigt als Beispiel eine abklingende Schwingung der Sensorkapazität C F um den Sollwert C 1. Die Schwingung hat die Schwingungsdauer t M und zwei aufeinanderfolgende positive Amplituden C A , C B , zwischen denen eine negative Amplitude C C liegt. Aus den Werten t M , C A und C B können der Realteil P 2R und der Imaginärteil P 2J des Poles der Übertragungsfunktion der Taupunktregelung nach den folgenden Gleichungen berechnet werden:
Diese Beziehungen gelten unabhängig davon, ob die Schwingung von C F abklingt, ob sie sich gerade aufschaukelt oder ob sie mit konstanter Amplitude besteht.
Die durch den Funktionsblock 37 dargestellte Schwingungsana­ lyse wird sowohl im Einlaufprozeß bei jeder Inbetriebnahme des Geräts als auch im normalen Regelprozeß in jedem Δ t x - Zyklus aufgerufen. Als Ergebnis der Schwingungsanalyse lie­ fert der Funktionsblock 37 die Werte der beiden Schwingungs­ parameter P 2R und P 2J zum Funktionsblock 36.
Anstelle der Schwingung der Sensorkapazität C F im äußeren Regelkreis kann ebensogut die Schwingung der Sensortempera­ tur T F im inneren Regelkreis zur Schwingungsanalyse herange­ zogen werden. Die folgende Beschreibung gilt sinngemäß auch für diesen Fall.
Es besteht das Problem, aus digitalen Abtastwerten der Sensor­ kapazität C F oder der Sensortemperatur T F die Maxima und Minima der Schwingungskurve richtig zu erkennen, so daß zufällige Schwankungen von echten Schwingungen unterschieden werden können und auch Langzeitschwingungen erfaßt werden. Zur Lösung dieses Problems erfolgt die Schwingungsanalyse im Funktionsblock 37 durch eine "Dreidifferentialmethode", die anhand der Diagramme von Fig. 5 erläutert wird.
Das Diagramm A von Fig. 5 zeigt aufeinanderfolgende digitale Abtastwerte, die in gleichmäßigen Zeitabständen aus der Sensorkapazität C F als Funktion der Zeit darstellenden Ana­ logkurve entnommen sind. Die Abtastwerte sind durch gerade Strecken verbunden, wodurch die Analogkurve näherungsweise nachgebildet ist. Die Schwingung verläuft etwa sinusförmig um einen Mittelwert C m .
Im Diagramm B ist das Vorzeichen der Steigung der Kurvenab­ schnitte zwischen den aufeinanderfolgenden Abtastwerten dargestellt, das auch das Vorzeichen des Differentials der entsprechenden Abschnitte der Analogkurve ist. Der Wert +1 entspricht dem positiven Vorzeichen, also einem ansteigenden Kurvenabschnitt, und der Wert -1 entspricht dem negativen Vorzeichen, also einem abfallenden Kurvenabschnitt. Das Vorzeichen kann für jeden Kurvenabschnitt erst festgestellt werden, wenn der zweite Abtastwert vorliegt; deshalb fällt ein Vorzeichenwechsel, der für den vorhergehenden Kurvenab­ schnitt gilt, im Diagramm B zeitlich mit dem zweiten Abtast­ wert dieses Kurvenabschnitts im Diagramm A zusammen.
Der erste Abtastwert des Diagramms A liegt im Ursprung des Koordinatensystems. Im Diagramm B ist angenommen, daß die Steigung des davorliegenden Kurvenabschnitts (der im Dia­ gramm A nicht dargestellt ist) ein positives Vorzeichen hatte. Dieses positive Vorzeichen entspricht im Diagramm B dem Wert +1, der festgehalten wird, bis der zweite Abtastwert vorliegt. Im Zeitpunkt des zweiten Abtastwerts wird festgestellt, daß die Steigung des Kurvenabschnitts zwischen dem ersten und dem zweiten Abtastwert ebenfalls ein positives Vorzeichen hatte. Deshalb wird im Diagramm B zwischen dem zweiten und dem dritten Abtastwert weiterhin der Wert +1 festgehalten, obwohl der Kurvenabschnitt zwischen diesen beiden Abtastwer­ ten abfällt, also eine negative Steigung hat.
Erst beim Vorliegen des dritten Abtastwerts kann festgestellt werden, daß der vorangehende Kurvenabschnitt eine negative Steigung hatte. Deshalb geht die Vorzeichenkurve des Dia­ gramms B im Zeitpunkt des dritten Abtastwerts nach dem Wert -1, der nun bis zum Vorliegen des vierten Abtastwerts fest­ gehalten wird, obwohl die Steigung zwischen dem dritten und dem vierten Abtastwert wieder positiv ist. Der erneute Vor­ zeichenwechsel wird erst im Zeitpunkt des vierten Abtastwerts festgestellt, so daß in diesem Zeitpunkt die Kurve des Dia­ gramms B wieder vom Wert -1 auf den Wert +1 geht. Die weitere Entstehung der Vorzeichenkurve des Diagramms B aus den Abtast­ werten des Diagramms A ist aufgrund der vorstehenden Erläute­ rung ohne weiteres verständlich.
Ein bleibender Vorzeichenwechsel der Steigung der Schwingungs­ kurve zeigt einen Extremwert (Minimum oder Maximum) an. Ein solcher bleibender Vorzeichenwechsel muß von sporadischen Vorzeichenwechseln unterschieden werden, die durch kurzzeiti­ ge Störungen im Kurvenverlauf auftreten. So ist im Diagramm A zwischen dem ersten und dem zweiten Kurvenabschnitt ein Vorzeichenwechsel erkennbar, der jedoch durch einen erneuten Vorzeichenwechsel zwischen dem zweiten und dem dritten Kur­ venabschnitt wieder rückgängig gemacht wird. Um zu verhindern, daß solche sporadische Vorzeichenwechsel fälschlich als Extremwerte interpretiert werden, wird im Mikrocomputer 30 eine Zählvariable E e in Abhängigkeit von den Vorzeichenwech­ seln des Diagramms B so eingestellt, wie im Diagramm C dar­ gestellt ist.
Bei jedem Vorzeichenwechsel des Diagramms B, der einem Extrem­ wert entsprechen könnte, wird die Zählvariable E e um "1" ver­ größert. Sie wird aber bei einem unmittelbar darauffolgenden Vorzeichenwechsel wieder um "1" verringert. Wenn dagegen auf den einen Extremwert ankündigenden Vorzeichenwechsel im näch­ sten Kurvenabschnitt kein erneuter Vorzeichenwechsel folgt, wird der Extremwert dadurch bestätigt, daß der Zählwert E e erneut um "1" vergrößert wird.
Aus dem Diagramm C ist ersichtlich, daß das erste Maximum dann erreicht ist, wenn die Zählvariable den Wert E e =2 erreicht hat. Nun wird der dem vorhergehenden Vorzeichenwech­ sel entsprechende Abtastwert C A 1 festgehalten, und ab dem Zeitpunkt dieses Vorzeichenwechsels wird die Zeit zur Mes­ sung der Schwingungsdauer gezählt.
Das Minimum der Schwingung ist für E e =4 erreicht, und das zweite Maximum ist für E e =6 erreicht. Bei dem diesem zwei­ ten Maximum entsprechenden Vorzeichenwechsel wird der zuge­ hörige Abtastwert C B 1 festgehalten und die Zeitmessung been­ det. Die gemessene Zeit ist die Schwingungsdauer t M . Die Schwingungsamplituden der beiden Maxima ergeben sich aus den Abtastwerten:
C A = C A 1 - C m (5)
C B = C B 1 - C m (6)
Ist C C 1 der Abtastwert im Minimum der Schwingung, so ergibt sich der Mittelwert der Schwingung gemäß
Damit stehen alle erforderlichen Werte für die Berechnung der Schwingungsparameter P 2R und P 2J zur Verfügung.
In der Regel wird das zweite Maximum wieder als Ausgangspunkt für eine neue Schwingungsmessung verwendet. Die Zählvariable wird daher nicht auf "0" zurückgestellt, sondern auf E e = 2 gesetzt.
Als nächstes muß noch beurteilt werden, ob die derart analy­ sierte Schwingung für eine Selbstoptimierung der Regelung geeignet ist. Beispielsweise gilt eine erkannte "Schwingung" als nichttauglich für eine Selbstoptimierung, wenn die ermit­ telten Schwingungsamplituden gegenüber dem Schwingungsmittel­ wert C m zu klein sind. Ferner müssen die aus den gemessenen Größen C A , C B , t M errechneten Schwingungsparameter P 2R und P 2J die Kriterien einer Schwingung erfüllen. Die Dämpfungs­ zeitkonstante t D , die den exponentiellen zeitlichen Abfall der Schwingungskurve bestimmt, darf nicht wesentlich kürzer sein als die gemessene Schwingungsdauer t M . Diese Bedingung ist in den Diagrammen von Fig. 6 dargestellt: Im Diagramm A ist die Dämpfungszeitkonstante t D größer als die gemessene Schwingungsdauer t M , und im Diagramm B ist sie nur unwesent­ lich kleiner; diese beiden Schwingungen können zur Korrektur der Regelparameter zugelassen werden. Dagegen ist im Diagramm C die Dämpfungszeitkonstante t D sehr klein gegen die gemessene Schwingungsdauer t M ; diese Schwingung wird nicht zugelassen.
Wenn alle Voraussetzungen für die Korrektur der Regelparame­ ter K i , K p , K d , aufgrund der durchgeführten Schwingungsana­ lyse erfüllt sind, berechnet die durch den Funktionsblock 36 dargestellte Programmroutine die neuen Regelparameter in der folgenden Weise:
Wenn
T z 1 die im Verschmutzungszyklus gemessene Zeitkonstante des Temperaturreglers 32,
T z 2 die aus der Schwingungsanalyse berechnete Zeitkonstante der thermischen Verzögerung des Sensorelements 12 und
T r die Zeitkonstante der Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe im exponentiellen aperiodischen Grenzfall
ist, gilt für die neuen Regelparameter des zu den drei Zeit­ konstanten gehörenden aperiodischen Grenzfalls:
Dabei sind die Parameter X, Y und T r aus den alten Regelpa­ rametern K p ′, K i ′, K d ′ sowie aus den durch die Schwingungs­ analyse erhaltenen Schwingungsparametern P 2R , P 2J nach den folgenden Gleichungen zu berechnen:
Die Theorie der Selbstoptimierung der Taupunktregelung erfor­ dert dabei, daß für die errechneten Werte für T z2 und Y gel­ ten muß
T z 2 < 0
Y < 0,
denn der Wert für Y ist gemäß der Theorie ein sehr kleiner positiver Korrekturwert zur Berechnung von K d nach der Gleichung (8).
Wie die Gleichungen (8), (9), (10) zeigen, entspricht jedem vorgegebenen Wert für die Zeitkonstante T r des idealen Ein­ schwingvorgangs im aperiodischen Grenzfall ein typischer Satz von Regelparametern K p , K i , K d .
Die begrenzte Leistungsfähigkeit des Peltierelements erfor­ dert auch eine Begrenzung des Differentialanteils der Tau­ punktregelung. Der Differentialanteil ist für eine schnelle Antwort des Taupunktreglers auf eine Störung entscheidend. Tatsächlich liefert die zuvor beschriebene Selbstoptimierung immer einen Differentialanteil, der die anderen Größen wesent­ lich überragt. Um der begrenzten Kühlleistung des Peltierele­ ments Rechnung zu tragen, wird dafür gesorgt, daß für K d der folgende Grenzwert eingehalten wird:
K d <10×K p .
Verschmutzungskompensation
Fig. 7 zeigt den Einfluß einer Verschmutzung des Meßwertauf­ nehmers 10 auf den Zusammenhang zwischen der Sensorkapazität C F und der Sensortemperatur T F .
Die Kurve I entspricht dem sauberen Sensor. Sie zeigt an, daß beim Absenken der Sensortemperatur T F die Sensorkapazität C F der Trockenkapazität C O entspricht, bis die Taupunkttempera­ tur T P nahezu erreicht ist. Erst kurz vor dem Erreichen der Taupunkttemperatur T P steigt die Sensorkapazität geringfügig an, um dann genau bei der Taupunkttemperatur T P auf einen Wert anzusteigen, der sehr viel größer als die Trockenkapazi­ tät C O ist. Der Taupunktsensor wird also im wesentlichen richtig auf der Taupunkttemperatur T P gehalten, wenn die Sensortemperatur T F so eingeregelt wird, daß die Sensorkapa­ zität den dargestellten Wert C 1 annimmt.
Die Kurve II entspricht einem verschmutzten Sensor. Beim Absenken der Sensortemperatur T F steigt die Sensorkapazität C F infolge der Kapillarkondensation von Wasserdampf oder der Feuchtelöslichkeit bei öligen Verschmutzungsfilmen bereits an, wenn die Sensortemperatur noch weit oberhalb des Taupunk­ tes liegt. Je nach der Art der Verschmutzung kann dieser Anstieg der Sensorkapazität C F bereits bei Temperaturen beginnen, die bis zu 100°C oberhalb des Taupunkts liegen.
Wenn nun die Sensorkapazität C F durch die Temperaturreglung auf dem gleichen Wert C 1 wie beim sauberen Sensor gehalten wird, entspricht die Sensortemperatur T F nicht dem Taupunkt T P , sondern einem höheren Wert T′ F. Daraus ergibt sich ein Meßfehler T bei der Messung der Taupunkttemperatur. Damit der Taupunkt-Sensor auf der richtigen Taupunkttemperatur T P gehalten wird, müßte die Regelung so erfolgen, daß die Sensorkapazität C F durch die Temperaturregelung auf dem Wert C′ 1 gehalten wird.
Der Wert C′ 1 gilt natürlich nur für die Art und den Grad der Verschmutzung, die die Kurve II ergeben. Andere Arten und/ oder Grade der Verschmutzung ergeben jeweils andere Werte der Sensorkapazität C F beim Taupunkt T P .
Bei der Meßanordnung von Fig. 1 wird im Mikrocomputer 30 durch eine Programmroutine, die durch den Funktionsblock 38 dargestellt ist, der als Führungsgröße für die Temperaturre­ gelung verwendete Kapazitätswert C 1 selbsttätig so eingestellt, daß er genau der Sensorkapazität C F = C′ 1 beim Taupunkt T P entspricht. Auf diese Weise werden die zuvor erläuterten Auswirkungen von Verschmutzungen des Sensors automatisch kompensiert.
Zu diesem Zweck wird ein Verfahren angewendet, das es ermög­ licht, die verschmutzungsbedingten Änderungen des Meßsignals C F oberhalb der Taupunkttemperatur von den Änderungen zu unterscheiden, die durch die Oberflächenkondensation von Wasserdampf bei und unterhalb der Taupunkttemperatur hervor­ gerufen werden.
Das diesem Verfahren zugrundeliegende Prinzip soll anhand der Diagramme von Fig. 8 erläutert werden. Das Diagramm A von Fig. 8 stellt die Sensortemperatur T F als Funktion der Zeit dar. Im linken Teil des Diagramms A ist angenommen, daß die Sensortemperatur T F im Bereich oberhalb der Taupunkttempera­ tur T p periodisch geändert wird. Der einfacheren Darstellung wegen soll angenommen sein, daß es sich um eine sinusförmige Änderung handelt. Diese Änderungen erfolgen wegen der Wärme­ trägheit des Taupunkt-Sensors natürlich verhältnismäßig langsam. Ferner ist die Amplitude der Änderungen zur Verdeut­ lichung übertrieben groß dargestellt.
Im rechten Teil des Diagramms A sind entsprechende Änderungen der Sensortemperatur T F im Bereich unterhalb der Taupunkttem­ peratur T P dargestellt.
Das Diagramm B zeigt, wie sich die Sensorkapazität C F eines verschmutzten Sensors bei den Temperaturänderungen gemäß dem Diagramm A als Funktion der Zeit t ändert. Im Bereich ober­ halb der Taupunkttemperatur ist der Zusammenhang zwischen den Temperaturänderungen und den Kapazitätsänderungen durch die Kurve II von Fig. 7 gegeben. In diesem Bereich ändert sich die Kapazität des verschmutzten Sensors entgegengesetzt zu der Sensortemperatur entsprechend dem durch die Kurve II bestimmten Verlauf der Kapazitäts-Temperatur-Kennlinie. Diese Kapazitätsänderungen liegen im Bereich zwischen der Trocken-Kapazität C 0 und der Taupunkt-Kapazität C′ 1 des verschmutzten Sensors.
Dagegen würde sich die Kapazität eines sauberen Sensors in diesem Bereich nicht ändern, wie sich unmittelbar aus Fig. 7 ergibt, weil die durch die Kurve I gegebene Kapazitäts- Temperatur-Kennlinie des sauberen Sensors in diesem Bereich horizontal verläuft. Der saubere Sensor behält bei Tempera­ turänderungen in diesem Bereich unverändert den Trocken- Kapazitätswert C 0.
Im Bereich unterhalb der Taupunkttemperatur folgt dagegen die Kapazität des verschmutzten Sensors nicht mehr den Änderungen der Sensortemperatur, wie im rechten Teil der Diagramme dargestellt ist. In diesem Bereich ist die Kapazi­ tät des verschmutzten Sensors durch die Taukondensation bestimmt, die sich auf der Oberfläche des Sensorelements bildet. Jede weitere verschmutzungsbedingte Kondensation hört auf. Die Masse des kondensierten Wassers nimmt bei jeder genügend unterhalb des Taupunkts liegenden Temperatur stetig zu. Daher erfolgt in diesem Bereich ein stetiges Anwachsen der Sensorkapazität C F , auch wenn die Sensortempe­ ratur variiert.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Taupunkt-Meßanordnung wird dieses unterschiedliche Verhalten eines verschmutzten Sensors bei Temperaturen unterhalb und oberhalb der Taupunkttempera­ tur zur Bestimmung der dem Taupunkt entsprechenden Sensorka­ pazität C 1 ausgenutzt.
Fig. 9 zeigt einen Verschmutzungskompensations-Zyklus, wie er insbesondere bei jeder Inbetriebnahme des Geräts zur Be­ stimmung des Taupunkt-Kapazitätswerts C 1 durchgeführt wird. Dieser Zyklus ergibt außerdem auch die Trocken-Kapazität C 0 des Sensors sowie die Zeitkonstante T z 1 des Folgereglers.
Das Diagramm von Fig. 9 zeigt den vom System erzwungenen zeitlichen Verlauf der Sensortemperatur T F und den dadurch verursachten zeitlichen Verlauf der Sensorkapazität C F eines völlig mit einem öligen Film verschmutzten Sensors während des Verschmutzungskompensations-Zyklus. Bei einem derart verschmutzten Sensor steigt die Sensorkapazität C F bereits bei einer Temperatur an, die etwa 60°C oberhalb der Taupunkt­ temperatur T P liegt.
Zu Beginn des Verschmutzungskompensations-Zyklus erfolgt beispielsweise ein Aufheizen des Sensors bis auf eine Maxi­ maltemperatur von 120°C. Das Aufheizen geschieht so lange, bis die Sensorkapazität C F stabil bleibt, was dann der Fall ist, wenn der Sensor alle Feuchtigkeit abgegeben hat. Dadurch kann die Trockenkapazität C 0 bestimmt werden. Bei dem darge­ stellten Beispiel ist die Verschmutzung so stark, daß das Abdampfen des Wassers erst bei einer Sensortemperatur von 120°C völlig erreicht ist. Die Sensorkapazität C F ist dann auf die Trockenkapazität C 0= 8,9 pF abgefallen.
Nach dieser Ausheizphase wird der Sensor, ausgehend von der erreichten Höchsttemperatur, mit maximaler Kühlleistung so lange abgekühlt, bis ein erster Anstieg der Sensorkapazi­ tät C F zu beobachten ist. Bei dem dargestellten Beispiel erfolgt dieser erste Anstieg bereits bei einem Abfall der Sensortemperatur auf etwa 115°C.
Ab diesem Zeitpunkt erfolgt eine langsamere gestufte Absen­ kung der Sensortemperatur. Dadurch wird erreicht, daß der entsprechend ansteigenden Sensorkapazität C F ein stufenweises Ansteigen aufgezwungen wird. Wie anhand von Fig. 8 erläutert wurde, tritt diese verschmutzungsbedingte periodische zeitli­ che Änderung der Sensorkapazität nur so lange auf, wie die Sensortemperatur oberhalb des Taupunkts liegt. Sobald die Taupunkttemperatur T P unterschritten wird, weicht die perio­ dische zeitliche Änderung einem plötzlichen und dann steti­ gen Anwachsen der Sensorkapazität. Die Sensortemperatur bei diesem Wechsel ist die Taupunkttemperatur T P , und die bei dieser Temperatur gemessene Sensorkapazität C F ist der Taupunkt-Kapazitätswert C 1, der als neuer Kapazitäts-Sollwert gespeichert wird. Bei dem dargestellten Beispiel wird ein Kapazitäts-Sollwert C 1= 21,8 pF gefunden.
Aus dem Diagramm von Fig. 9 läßt sich die Kennlinie des als Beispiel gewählten verschmutzten Sensors, d.h. die Abhängig­ keit der Sensorkapazität über der Sensortemperatur ableiten, die in Fig. 10 aufgetragen ist. Aus dieser Kennlinie wird deutlich, daß mit dem beschriebenen Verfahren zur Verschmut­ zungskompensation der verschmutzungsbedingte Anstieg der Sensorkapazität C F durch die Wahl von C 1 ignoriert wird. Ferner bewirkt dieses Verfahren, daß der Sollwert C 1 genau am Fußpunkt des steilen Kennlinienabschnitts und nicht wesentlich höher zu liegen kommt. Dies ist sowohl für die Dynamik des Systems, das mit dicker werdender Kondensation immer träger wird, als auch für die beschriebene Selbstopti­ mierung der Regelung vorteilhaft.
Die Anzeige der Sensortemperatur T A wird während des ganzen Verschmutzungskompensations-Zyklus konstant gehalten und erst nach dem Ende des Zyklus wieder eingeschaltet, wo die Anzeige exponentiell zur neuen Taupunkttemperatur übergeht.
Für die Durchführung des beschriebenen Verfahrens zur auto­ matischen Verschmutzungskompensation ist es wichtig, die Geschwindigkeit der stufenweisen Absenkung der Sensortempe­ ratur richtig zu wählen.
Durch eine vorteilhafte Maßnahme wird erreicht, daß sich die Absenkgeschwindigkeit von selbst optimal einstellt.
Wie bereits erwähnt wurde, wird nach Beendigung der Ausheiz­ phase das Peltierelement zunächst so lange mit maximalem Kühlstrom betrieben, bis zum erstenmal ein Anstieg der Sen­ sorkapazität C F festgestellt wird.
Nun erfolgt eine stufenweise Verringerung der Sensortempera­ tur. Zunächst wird die Sensortemperatur (durch Herabsetzung des Sollwerts T S der Temperaturregelung) um 1°C verringert und dann so lange auf dem neuen Temperaturwert gehalten, bis die Sensorkapazität C F in einen Sättigungszustand übergeht, was für ein verschmutzungsbedingtes Anwachsen der Sensor­ kapazität charakteristisch ist. Daraufhin erfolgt wieder eine Verringerung der Sensortemperatur um 1°C usw.
Auf diese Weise passen sich die Stufungsfrequenz und damit die mittlere Absenkgeschwindigkeit von selbst an die jeweils herrschenden Bedingungen so an, daß die periodischen zeit­ lichen Änderungen des C F -Wertes als Antwort einwandfrei erkannt und ausgewertet werden können.
Wenn die Sensorkapazität einen Sättigungszustand nicht mehr erreicht, sondern permanent ansteigt, ist dies das Anzeichen dafür, daß die Sensortemperatur den Taupunkt unterschritten hat. Dann wird aus den zuletzt erreichten Werten der Sensor­ kapazität C F der neue Sollwert C 1 bestimmt.
Das Diagramm von Fig. 11 zeigt einen vergrößerten Ausschnitt aus der Temperarturkurve von Fig. 9, der die stufenweise Absenkung der Sensortemperatur deutlicher erkennen läßt, und das Diagramm B von Fig. 11 zeigt die entsprechenden periodi­ schen zeitlichen Änderungen der Sensorkapazität C F . In Fig. 11 ist auch dargestellt, wie die Zeitkonstante T z 1 aus dem Verlauf der Temperaturkurve im Verschmutzungszyklus ermittelt werden kann.
Die periodischen zeitlichen Änderungen der Sensorkapazität C F können auch auf andere Weise als durch eine stufenweise Verringerung der Sensortemperatur T F erzeugt werden. Bei­ spielsweise kann die Sensortemperatur T F abwechselnd um 2°C verringert und dann wieder um 1°C erhöht werden, so daß der abfallenden Temperaturkurve eine Temperatur-Oszillation überlagert wird. Dem Anstieg der Sensorkapazität ist dann im Bereich oberhalb der Taupunkt-Temperatur eine entsprechende Oszillation überlagert, die die periodische zeitliche Ände­ rung ergibt.
Wenn der Sensor keine Verschmutzungen aufweist, treten keine periodischen zeitlichen Änderungen von C F auf, sondern der erste Anstieg der Sensorkapazität erfolgt erst am Taupunkt und entspricht dem permanenten Anstieg ohne Sättigungserschei­ nung. In diesem Fall wird der Sollwert C 1 auf einen Wert gesetzt, der um einen vorgegebenen Betrag größer als der Trocken-Kapazitätswert C 0 ist, beispielsweise C 1=C 0+0,2 pF.
Schließlich werden am Ende des Verschmutzungsskompensations­ Zyklus vorläufige Grobwerte für die Regelparameter K i , K p und K d aufgrund der während des Zyklus beobachteten Kapazi­ täts- und Temperaturänderungen festgesetzt. Mit diesen groben Regelparametern beginnt dann die normale Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe, die jedoch im Normal­ fall noch Schwingungen ausführen wird, da die gefundenen Regelparameter nur sehr grob dem System angepaßt sind. Mit Hilfe der zuvor beschriebenen Schwingunganalyse und Selbst­ optimierung wird das System aber dann aus den Grobwerten für K p , K i , K d und den Parametern P 2R , P 2J der Kapazitäts-Schwin­ gungen die exakten Regelparameter bestimmen.
Der beschriebene Verschmutzungskompensations-Zyklus wird, wie erwähnt, bei jeder Inberiebnahme des Geräts durchgeführt und gegebenenfalls in relativ langen Zeitabständen wiederholt.

Claims (16)

1. Verfahren zur Messung des Wasserdampf-Taupunkts in Gasen, bei welchem eine zur Anzeige der Bildung von Tautröpf­ chen auf einer Sensorfläche verwendete feuchteabhängige elektrische Größe durch Regelung der Temperatur der Sensor­ fläche auf einem einer stabilen Taumasse zugeordneten Soll­ wert gehalten wird und die Temperatur der Sensorfläche gemes­ sen wird, dadurch gekennzeichnet, daß zur Einstellung des Sollwerts die Temperatur der Sensorfläche von einem oberhalb der Taupunkttemperatur liegenden Wert abgesenkt und der Absenkung eine periodische zeitliche Temperaturänderung überlagert wird, und daß bei gleichzeitigem Auftreten von periodischen zeitlichen Änderungen der feuchteabhängigen elektrischen Größe der beim Wechsel der periodischen zeitli­ chen Änderungen zu einer monotonen Änderung gemessene Wert der feuchteabhängigen elektrischen Größe als der Sollwert verwendet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur der Sensorfläche stufenweise um einen vorge­ gebenen Betrag herabgesetzt und die periodische zeitliche Änderung der feuchteabhängigen elektrischen Größe bis zum monotonen Anwachsen dieser Größe überwacht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die stufenweisen Änderungen der Temperatur der Sensorfläche in Abhängigkeit von den Änderungen der feuchteabhängigen elektrischen Größe ausgelöst werden.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichneet, daß die Sensorfläche zunächst auf eine oberhalb des Taupunktes des Gases liegende Temperatur so lange aufgeheizt wird, bis die feuchteabhängige elektri­ sche Größe einen konstanten Wert angenommen hat, daß der konstante Wert als Trocken-Wert gemessen wird, daß dann die Temperatur der Sensorfläche stufenweise abgesenkt wird, und daß die Überlagerung der periodischen zeitlichen Temperatur­ änderungen begonnen wird, wenn die erste Änderung der feuch­ teabhängigen elektrischen Größe festgestellt wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die feuchteabhängige elektrische Größe eine Kapazität ist.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelparameter für die Regelung der feuchteabhängigen Größe aufgrund einer Analyse von Schwingungen der feuchteabhängigen elektrischen Größe oder der Sensortemperatur fortlaufend korrigiert werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß durch die Schwingungsanalyse die Schwingungsamplituden bei zwei aufeinanderfolgenden Schwingungsmaxima und der Zeitab­ stand zwischen diesen Schwingungsmaxima ermittelt werden.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erkennung der Schwingungsmaxima die Vorzeichen der Stei­ gungen mehrerer aufeinanderfolgender Kurvenabschnitte des Verlaufs der feuchteabhängigen elektrischen Größe oder der Sensortemperatur ausgewertet werden.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein ein mögliches Schwingungsmaximum ankündigender Vorzeichenwechsel zwischen zwei Kurvenabschnitten gespeichert wird und daß bei einem unmittelbar folgenden erneuten Vorzeichenwechsel die Speicherung rückgängig gemacht wird, wogegen beim Ausbleiben eines erneuten Vorzeichenwechsels das Schwingungsmaximum bestätigt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zur Speicherung des Vorzeichenwechsels eine Zählvariable um einen bestimmten Betrag geändert wird, und daß zur Bestäti­ gung des Schwingungsmaximums die Zählvariable erneut um den gleichen Betrag in der gleichen Richtung geändert wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelung der feuchteabhängigen elek­ trischen Größe eine PID-Regelung ist.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß durch die Regelung der feuchteabhängigen elektrischen Größe als Regelgröße ein Temperatursollwert erzeugt wird, und daß der Temperatursollwert als Führungsgröße für eine in Kaskade nachgeschaltete Temperaturregelung verwendet wird, deren Regelgröße die Temperatur der Sensorfläche ist.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die in Kaskade nachgeschaltete Temperaturreglung eine Regelung mit fest eingestellten Regelparametern ist.
14. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einem Taupunkt-Sensor, der ein die Sensorfläche aufweisendes elektrisches Sensorelement, das ein von der feuchteabhängigen elektrischen Größe abhängi­ ges elektrisches Signal liefert, eine die Temperatur der Sensorfläche beeinflussende elektrische Heiz- und Kühlein­ richtung und einen elektrischen Temperatursensor, der ein von der Temperatur der Sensorfläche abhängiges elektrisches Signal liefert, aufweist, und mit einer an den Taupunkt- Sensor angeschlossenen Regelanordnung, die das feuchteabhän­ gige elektrische Signal als Regelgröße empfängt und zu der elektrischen Heiz- und Kühleinrichtung eine Stellgröße lie­ fert, durch die das feuchteabhängige elektrische Signal auf einem Sollwert gehalten wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelanordnung einen Führungsregler und einen Folgereg­ ler enthält, die in Kaskade angeordnet sind, daß der Führungs­ regler das feuchteabhängige elektrische Signal als Regel­ größe und den Sollwert des feuchteabhängigen elektrischen Signals als Führungsgröße empfängt und ein Temperatursoll­ wertsignal abgibt und daß der Folgeregler das vom Führungs­ regler gelieferte Temperatursollwertsignal als Führungsgröße und das vom Temperatursensor gelieferte temperaturabhängige Signal als Regelgröße empfängt und die Stellgröße zu der elektrischen Heiz- und Kühleinrichtung liefert.
15. Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Führungsregler ein PID-Regler ist, dessen Regelpara­ meter aufgrund der Schwingungsanalyse korrigiert werden, und daß der Folgeregler ein Regler mit fest eingestellten Regel­ parametern ist.
16. Anordnung nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeich­ net, daß der Führungsregler und der Folgeregler durch einen Mikrocomputer gebildet sind, der auch die Einstellung des Sollwerts der feuchteabhängigen elektrischen Größe sowie die Schwingungsanalyse und die Korrektur der Regelparameter durchführt.
DE19873740719 1987-12-01 1987-12-01 Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen Granted DE3740719A1 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873740719 DE3740719A1 (de) 1987-12-01 1987-12-01 Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen
US07/236,667 US4898476A (en) 1987-12-01 1988-08-25 Arrangement for measuring the water vapor dew point in gases
SE8804316A SE469494B (sv) 1987-12-01 1988-11-29 Foerfarande och anordning foer maetning av vattenaangdaggpunkten i gaser
FR8815687A FR2623909B1 (fr) 1987-12-01 1988-11-30 Procede et dispositif pour mesurer le point de rosee de la vapeur d'eau dans les gaz
GB8827910A GB2213271B (en) 1987-12-01 1988-11-30 Method and arrangement for measuring the water vapour dew point in gases
JP63302368A JPH0715444B2 (ja) 1987-12-01 1988-12-01 水蒸気の露点測定方法及び装置
CH4467/88A CH676884A5 (de) 1987-12-01 1988-12-01

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873740719 DE3740719A1 (de) 1987-12-01 1987-12-01 Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3740719A1 true DE3740719A1 (de) 1989-06-15
DE3740719C2 DE3740719C2 (de) 1990-01-25

Family

ID=6341667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19873740719 Granted DE3740719A1 (de) 1987-12-01 1987-12-01 Verfahren und anordnung zur messung des wasserdampf-taupunkts in gasen

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4898476A (de)
JP (1) JPH0715444B2 (de)
CH (1) CH676884A5 (de)
DE (1) DE3740719A1 (de)
FR (1) FR2623909B1 (de)
GB (1) GB2213271B (de)
SE (1) SE469494B (de)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5139344A (en) * 1988-06-03 1992-08-18 Arthur Mutter Method and apparatus for dew point determination
US5087245A (en) * 1989-03-13 1992-02-11 Ivac Corporation System and method for detecting abnormalities in intravascular infusion
JPH0599877A (ja) * 1991-06-25 1993-04-23 Yamatake Honeywell Co Ltd 感湿装置
US5291422A (en) * 1992-01-28 1994-03-01 Sgi International Broadband instrument for nondestructive measurement of material properties
US5365784A (en) * 1992-04-30 1994-11-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Humidity sensing apparatus and method
US5335513A (en) * 1993-01-19 1994-08-09 Parker-Hannifin Corporation Apparatus and method for detecting characteristics of a working fluid
WO1994017346A1 (en) * 1993-01-19 1994-08-04 Parker-Hannifin Corporation System for controlling flow of working fluids
EP0680590B1 (de) * 1993-01-19 1999-03-24 Parker Hannifin Corporation Zustandserfassungssystem zur kontrolle von arbeitsflüssigkeiten
US5364185A (en) * 1993-04-16 1994-11-15 California Institute Of Technology High performance miniature hygrometer and method thereof
FI99164C (fi) * 1994-04-15 1997-10-10 Vaisala Oy Menetelmä kastepisteen tai kaasupitoisuuden mittaamiseksi sekä laitteisto jäätymisen ennakoimista varten
FR2732113B1 (fr) * 1995-03-23 1997-04-30 Imra Europe Sa Procede pour detecter de facon precoce un risque de condensation d'eau sur une surface se trouvant au contact d'un volume d'air humide
US5739416A (en) * 1996-09-18 1998-04-14 California Instiute Of Technology Fast, high sensitivity dewpoint hygrometer
US5767687A (en) * 1996-11-29 1998-06-16 Geist; Jon Surface-capacitor type condensable-vapor sensor
US6926439B2 (en) 1998-10-30 2005-08-09 Optiguide Ltd. Dew point hygrometers and dew sensors
IL126826A0 (en) * 1998-10-30 1999-08-17 Optiguide Ltd Optical hygrometers
US6126311A (en) * 1998-11-02 2000-10-03 Claud S. Gordon Company Dew point sensor using mems
US6460354B2 (en) 2000-11-30 2002-10-08 Parker-Hannifin Corporation Method and apparatus for detecting low refrigerant charge
US6915660B2 (en) * 2001-04-06 2005-07-12 The Boc Group, Inc. Method and system for liquefaction monitoring
JP2003156464A (ja) * 2001-11-19 2003-05-30 Denso Corp 容量式湿度センサ
US6803775B2 (en) * 2002-09-25 2004-10-12 Delphi Technologies, Inc. Fuel quality sensor assembly and method of use
JP4222005B2 (ja) * 2002-11-18 2009-02-12 株式会社島津製作所 温調システムを備えた分析装置
EP1439388A1 (de) * 2003-01-20 2004-07-21 Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) Vorrichtung zur Messung der Qualität und/oder der Zersetzung einer Flüssigkeit, insbesondere von Speiseöl
JP5643599B2 (ja) * 2010-10-27 2014-12-17 アズビル株式会社 鏡面冷却式センサ
US10111282B2 (en) 2011-07-25 2018-10-23 Ivoclar Vivadent Ag Dental furnace
EP2550928B1 (de) * 2011-07-25 2017-03-01 Ivoclar Vivadent AG Dentalofen mit einemTrocknungssensor
US9618469B2 (en) * 2011-09-19 2017-04-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Sensing water vapour
US9481777B2 (en) 2012-03-30 2016-11-01 The Procter & Gamble Company Method of dewatering in a continuous high internal phase emulsion foam forming process
US20140192836A1 (en) * 2012-12-10 2014-07-10 Femtoscale, Inc. Resonant dew point measuring device
US11454603B2 (en) 2016-06-08 2022-09-27 National Institute For Materials Science Dew point measuring method and dew point measuring device
JP7096635B2 (ja) * 2019-03-22 2022-07-06 株式会社日立製作所 水分検出素子、呼気ガス検出装置、呼気検査システム及び水分検出素子の製造方法
KR102355439B1 (ko) * 2020-07-10 2022-01-26 경상국립대학교산학협력단 이슬점 센서의 평가 및 교정 방법
BE1029879B1 (nl) * 2021-10-26 2023-05-30 Atlas Copco Airpower Nv Methode en apparaat voor het indirect bepalen van het dauwpunt van perslucht

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2640663A1 (de) * 1975-09-12 1977-04-14 Schlumberger Compteurs Anordnung zum messen des taupunkts
GB2028499A (en) * 1978-08-21 1980-03-05 Sereg Soc Device for determining vapour condensation temperature
DE3231995A1 (de) * 1982-08-27 1984-03-01 Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg Verfahren und anordnung zum messen der verschmutzung eines kapazitiven taupunktsensors

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3284003A (en) * 1964-01-02 1966-11-08 Holley Carburetor Co Dew point detecting and ice preventing device
US3594775A (en) * 1969-07-09 1971-07-20 Norbert K Fox System for detecing frost, snow and ice on a road surface
US3873927A (en) * 1973-11-05 1975-03-25 Surface Systems System for detecting wet and icy surface conditions
JPS6021336B2 (ja) * 1977-05-31 1985-05-27 横河電機株式会社 露点・霜点検出装置
IT1100002B (it) * 1977-11-01 1985-09-28 Univ Georgetown Metodo ed apparecchio per l'identificazione di materiali
US4174498A (en) * 1978-03-30 1979-11-13 Preikschat F K Apparatus and method for providing separate conductivity, dielectric coefficient, and moisture measurements of particulate material
US4216669A (en) * 1978-10-06 1980-08-12 General Eastern Instruments Corporation Contaminant error reduction system for dew point hygrometers
JPS5698644A (en) * 1980-01-09 1981-08-08 Murata Mfg Co Ltd Dew-formation sensor
FI60079C (fi) * 1980-02-29 1981-11-10 Vaisala Oy Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande
US4383770A (en) * 1981-07-09 1983-05-17 Boschung Mecatronic Ag Apparatus for determining the freezing point of a liquid on or from a road surface
JPS58165050A (ja) * 1982-03-24 1983-09-30 Murata Mfg Co Ltd 乾燥・結露・着霜識別センサ
DE3231534A1 (de) * 1982-08-25 1984-03-01 Endress Hauser Gmbh Co Taupunktmessgeraet
US4526011A (en) * 1983-03-03 1985-07-02 Control Data Corporation Dew point sensitive computer cooling system
JPS61124859A (ja) * 1984-11-22 1986-06-12 Yamatake Honeywell Co Ltd 湿度検出用素子
JPS61237044A (ja) * 1985-04-12 1986-10-22 Hamamatsu Photonics Kk 湿度検出素子およびその製造方法
US4579462A (en) * 1985-05-20 1986-04-01 Trans-Met Engineering, Inc. Dew point measuring apparatus
SU1307318A1 (ru) * 1985-06-05 1987-04-30 Предприятие П/Я Р-6205 Способ контрол загр знени зеркала конденсационного гигрометра
JPS62184342A (ja) * 1986-02-07 1987-08-12 Toyota Motor Corp 高感度結露センサ
JPS62217153A (ja) * 1986-03-19 1987-09-24 Imai Yoshio 容量式薄膜湿度センサおよびその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2640663A1 (de) * 1975-09-12 1977-04-14 Schlumberger Compteurs Anordnung zum messen des taupunkts
GB2028499A (en) * 1978-08-21 1980-03-05 Sereg Soc Device for determining vapour condensation temperature
DE3231995A1 (de) * 1982-08-27 1984-03-01 Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg Verfahren und anordnung zum messen der verschmutzung eines kapazitiven taupunktsensors

Also Published As

Publication number Publication date
SE469494B (sv) 1993-07-12
GB2213271A (en) 1989-08-09
US4898476A (en) 1990-02-06
GB2213271B (en) 1991-12-04
JPH01295147A (ja) 1989-11-28
SE8804316L (sv) 1989-06-02
GB8827910D0 (en) 1989-01-05
DE3740719C2 (de) 1990-01-25
CH676884A5 (de) 1991-03-15
FR2623909A1 (fr) 1989-06-02
JPH0715444B2 (ja) 1995-02-22
SE8804316D0 (sv) 1988-11-29
FR2623909B1 (fr) 1993-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3740719C2 (de)
DE3231995C2 (de) Verfahren und Anordnung zum Messen der Verschmutzung eines kapazitiven Taupunktsensors
EP0801302B1 (de) Verfahren zum Ermitteln der absoluten Luftfeuchtigkeit
DE19940422C2 (de) Sensor mit kapazitivem Element zur Erfassung einer dynamischen Größe
EP2193353A1 (de) Verfahren zur detektion eines vergiftungsgrads eines partikelsensors und partikelsensor
DE19513274A1 (de) Verfahren zur Messung des Taupunkts oder einer Gaskonzentration und Einrichtung zur Vorhersage einer Vereisung
EP0377600B1 (de) Verfahren, anwendung desselben und vorrichtung zur lambdawerterfassung
DE3231534A1 (de) Taupunktmessgeraet
EP0282900A2 (de) Verfahren und Anordnung zur Messung des Taupunktes
EP3887770B1 (de) Thermischer strömungssensor und verfahren zum betreiben desselben
DE3915563C1 (de)
EP1616174B1 (de) Verfahren zum betreiben eines gassensors
EP1642121B1 (de) Driftkompensation für einen impedimetrischen abgassensor durch anlegen einer einstellbaren vorspannung
DE19645485A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Temperatur an einer Kochstelle mit einem Leiterbahntemperatursensor
DE69419570T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis einer Flüssigkeit und/oder einer Phasenveränderung
WO2002004933A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur ermittlung der feuchte in gasen
CH687277A5 (de) Stimmgabelquarz-Manometer.
DE69637453T2 (de) Verfahren und System zur Taupunktmessung
WO2016173814A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung eines innenwiderstandes eines sensorelements
WO2020016091A1 (de) Verfahren zum betreiben einer gassensoreinrichtung und gassensoreinrichtung zum ermitteln von informationen über eine luftqualität
EP0016409A1 (de) Messgerät für die praktisch simultane Temperatur- und Temperaturdifferenzmessung
DE10003676B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentrationen eines H2/He-Gasgemisches
EP2581890B1 (de) Verfahren zur Erhöhung der Fehlalarmsicherheit eines Brandmelders
DE102008040567A1 (de) Verfahren zum Betrieb eines Sensormoduls und Sensormodul
DE102004018809B4 (de) Sensoranordnung und Verfahren zur Taupunktmessung auf Basis von miniaturisierten Peltierelementen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: ENDRESS + HAUSER GMBH + CO, 79689 MAULBURG, DE

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: ENDRESS + HAUSER GMBH + CO. KG, 79689 MAULBURG, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee