FI20000032A0 - Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan - Google Patents
Arrangemang och förfarande för att undersöka ytanInfo
- Publication number
- FI20000032A0 FI20000032A0 FI20000032A FI20000032A FI20000032A0 FI 20000032 A0 FI20000032 A0 FI 20000032A0 FI 20000032 A FI20000032 A FI 20000032A FI 20000032 A FI20000032 A FI 20000032A FI 20000032 A0 FI20000032 A0 FI 20000032A0
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- arrangement
- surface inspection
- inspection
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20000032A FI20000032A0 (sv) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan |
US09/754,214 US20010015414A1 (en) | 2000-01-07 | 2001-01-05 | Method and arrangement for inspection of surfaces |
EP01660002A EP1114993A3 (en) | 2000-01-07 | 2001-01-05 | Method and arrangement for inspection of surfaces |
JP2001001777A JP2001242091A (ja) | 2000-01-07 | 2001-01-09 | 表面検査のための方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20000032A FI20000032A0 (sv) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20000032A0 true FI20000032A0 (sv) | 2000-01-07 |
Family
ID=8556992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20000032A FI20000032A0 (sv) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20010015414A1 (sv) |
EP (1) | EP1114993A3 (sv) |
JP (1) | JP2001242091A (sv) |
FI (1) | FI20000032A0 (sv) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2004233247A1 (en) * | 2003-04-24 | 2004-11-04 | Odyssey Developments Limited | Monitoring road reflectance and street lighting |
US7122819B2 (en) * | 2004-05-06 | 2006-10-17 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for imager die package quality testing |
US7285767B2 (en) * | 2005-10-24 | 2007-10-23 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspecting an object |
WO2007057993A1 (ja) * | 2005-11-21 | 2007-05-24 | Daihatsu Motor Co., Ltd. | 圧延材識別方法およびその装置 |
US7834991B2 (en) * | 2006-07-13 | 2010-11-16 | Byk Gardner Gmbh | Determining surface properties with angle offset correction |
FI121151B (sv) * | 2007-11-22 | 2010-07-30 | Valtion Teknillinen | Förfarande och anordning för bestämning av topografin och optiska egenskaper hos en rörlig yta |
FI20075975L (sv) * | 2007-12-31 | 2009-07-01 | Metso Automation Oy | Mätning av en bana |
JP5621178B2 (ja) * | 2009-10-24 | 2014-11-05 | 株式会社第一メカテック | 外観検査装置及び印刷半田検査装置 |
JP2011242176A (ja) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Bridgestone Corp | 帯状部材の形状測定方法とその装置及び変位センサー |
US8416409B2 (en) * | 2010-06-04 | 2013-04-09 | Lockheed Martin Corporation | Method of ellipsometric reconnaissance |
RU2483295C2 (ru) * | 2011-02-02 | 2013-05-27 | Николай Александрович Кравцов | Способ диагностирования качества поверхностной структуры металлопроката |
JP2013096784A (ja) * | 2011-10-31 | 2013-05-20 | Toppan Printing Co Ltd | 表面特性測定装置及びコンピュータプログラム |
JP5882730B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2016-03-09 | 株式会社ブリヂストン | 外観検査装置及び外観検査方法 |
CN104297162A (zh) * | 2014-09-17 | 2015-01-21 | 宁波高新区晓圆科技有限公司 | 一种多波长多方位视觉检测方法 |
JP6686569B2 (ja) * | 2016-03-14 | 2020-04-22 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 表面疵撮影装置 |
JP6179680B1 (ja) * | 2016-04-08 | 2017-08-16 | 新日鐵住金株式会社 | 表面状態監視装置及び表面状態監視方法 |
WO2017207115A1 (en) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | Bobst Mex Sa | Surface inspection system and inspection method |
KR102484352B1 (ko) * | 2016-08-18 | 2023-01-04 | 한화정밀기계 주식회사 | 부품 실장기의 카메라 모듈 |
JP6149990B2 (ja) * | 2016-09-02 | 2017-06-21 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
JP6683088B2 (ja) * | 2016-09-23 | 2020-04-15 | 日本製鉄株式会社 | 表面性状検査装置、表面性状検査方法及びプログラム |
CN113310441B (zh) * | 2021-06-01 | 2022-06-10 | 湖南大学 | 一种对金属表面粗糙度加工进行探测的偏振关联成像方法 |
DE102022002963A1 (de) | 2022-08-16 | 2024-02-22 | Baumer lnspection GmbH | Optische Prüfvorrichtung und Prüfverfahren |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2612482A1 (de) * | 1976-03-24 | 1977-10-06 | Hoesch Werke Ag | Verfahren und einrichtung zur optischen beobachtung der oberflaeche von schnell bewegtem walzmaterial |
DE19720308C2 (de) * | 1997-05-15 | 1999-05-20 | Parsytec Computer Gmbh | Vorrichtung zur kontinuierlichen Detektion von Fehlern nach Größe und Art auf der Oberfläche eines bewegten Materials |
ES2153150T3 (es) * | 1997-08-22 | 2001-02-16 | Fraunhofer Ges Forschung | Metodo y aparato para la inspeccion automatica de superficies en movimiento. |
AT406528B (de) * | 1998-05-05 | 2000-06-26 | Oesterr Forsch Seibersdorf | Verfahren und einrichtung zur feststellung, insbesondere zur visualisierung, von fehlern auf der oberfläche von gegenständen |
-
2000
- 2000-01-07 FI FI20000032A patent/FI20000032A0/sv unknown
-
2001
- 2001-01-05 US US09/754,214 patent/US20010015414A1/en not_active Abandoned
- 2001-01-05 EP EP01660002A patent/EP1114993A3/en not_active Withdrawn
- 2001-01-09 JP JP2001001777A patent/JP2001242091A/ja not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1114993A2 (en) | 2001-07-11 |
US20010015414A1 (en) | 2001-08-23 |
EP1114993A3 (en) | 2002-06-05 |
JP2001242091A (ja) | 2001-09-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI20000032A0 (sv) | Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan | |
FI20012186A (sv) | Förfarande och anordning för en vidsträckt inspektion av ferromagnetiska skivstrukturer | |
ATE452540T1 (de) | Zusammensetzung und verfahren | |
DE60108043D1 (de) | Zerstörungsfreies Inspektionsverfahren | |
FI20002844A0 (sv) | Mätningsförfarande och mottagare | |
FI20000282A0 (sv) | Förfarande och anordning för mätning av beläggning | |
FI20000292A0 (sv) | Testarrangemang och testförfarande | |
FI20000126A (sv) | Förfarande och mätanordning för mätning av suspension | |
DE60313558D1 (de) | Oberflächenuntersuchungsvorrichtung und -verfahren | |
ID30410A (id) | Papan sirkit keramik dan metoda pembuatannya | |
DE60040489D1 (de) | Aufzugssystem und inspektionsverfahren dafür | |
FI991127A (sv) | Robust och effektiv metod för att utjämna mätningsresultat | |
FI20002798A0 (sv) | Förfarande och anläggning för framställning av rör | |
FI20000794A (sv) | Förfarande och anläggning för framställning av polyanilin | |
AR028025A1 (es) | Metodo e indicador de tratamiento de mosquiteros | |
FI20010301A (sv) | Förfarande vid murning samt arrangemang för dess förverkligande | |
EA200200945A1 (ru) | Способ электронно-лучевой наплавки | |
FI20001913A0 (sv) | Förfarande och arrangemang för att minska störning | |
FI20011720A (sv) | Förfarande och arrangemang i samband med en mätanordning | |
FI20002250A (sv) | Optiskt mäthuvud och förfarande för framställning av ett optiskt mäthuvud | |
FI20001831A0 (sv) | Förfarande och anläggning för att mäta effekt i ett växelströmsystem | |
FI20000338A0 (sv) | Förfarande och anordning för bestämning av stabiliteten av oljor samt användningen av förfarandet | |
FI20001982A0 (sv) | Sliper och förfarande för dess framställning | |
FI20002118A0 (sv) | Förfarande och anordning för framställning av brännved | |
FI20002527A0 (sv) | Förfarande för framställning av en ytterbeklädnad och ett specialtimmer |