FI20000032A0 - Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan - Google Patents

Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan

Info

Publication number
FI20000032A0
FI20000032A0 FI20000032A FI20000032A FI20000032A0 FI 20000032 A0 FI20000032 A0 FI 20000032A0 FI 20000032 A FI20000032 A FI 20000032A FI 20000032 A FI20000032 A FI 20000032A FI 20000032 A0 FI20000032 A0 FI 20000032A0
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
arrangement
surface inspection
inspection
Prior art date
Application number
FI20000032A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Inventor
Martti Karppinen
Heimo Keraenen
Pekka Juntunen
Original Assignee
Spectra Physics Visiontech Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Spectra Physics Visiontech Oy filed Critical Spectra Physics Visiontech Oy
Priority to FI20000032A priority Critical patent/FI20000032A0/sv
Publication of FI20000032A0 publication Critical patent/FI20000032A0/sv
Priority to US09/754,214 priority patent/US20010015414A1/en
Priority to EP01660002A priority patent/EP1114993A3/en
Priority to JP2001001777A priority patent/JP2001242091A/ja

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
FI20000032A 2000-01-07 2000-01-07 Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan FI20000032A0 (sv)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000032A FI20000032A0 (sv) 2000-01-07 2000-01-07 Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan
US09/754,214 US20010015414A1 (en) 2000-01-07 2001-01-05 Method and arrangement for inspection of surfaces
EP01660002A EP1114993A3 (en) 2000-01-07 2001-01-05 Method and arrangement for inspection of surfaces
JP2001001777A JP2001242091A (ja) 2000-01-07 2001-01-09 表面検査のための方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000032A FI20000032A0 (sv) 2000-01-07 2000-01-07 Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan

Publications (1)

Publication Number Publication Date
FI20000032A0 true FI20000032A0 (sv) 2000-01-07

Family

ID=8556992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20000032A FI20000032A0 (sv) 2000-01-07 2000-01-07 Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20010015414A1 (sv)
EP (1) EP1114993A3 (sv)
JP (1) JP2001242091A (sv)
FI (1) FI20000032A0 (sv)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2004233247A1 (en) * 2003-04-24 2004-11-04 Odyssey Developments Limited Monitoring road reflectance and street lighting
US7122819B2 (en) * 2004-05-06 2006-10-17 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for imager die package quality testing
US7285767B2 (en) * 2005-10-24 2007-10-23 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
WO2007057993A1 (ja) * 2005-11-21 2007-05-24 Daihatsu Motor Co., Ltd. 圧延材識別方法およびその装置
US7834991B2 (en) * 2006-07-13 2010-11-16 Byk Gardner Gmbh Determining surface properties with angle offset correction
FI121151B (sv) * 2007-11-22 2010-07-30 Valtion Teknillinen Förfarande och anordning för bestämning av topografin och optiska egenskaper hos en rörlig yta
FI20075975L (sv) * 2007-12-31 2009-07-01 Metso Automation Oy Mätning av en bana
JP5621178B2 (ja) * 2009-10-24 2014-11-05 株式会社第一メカテック 外観検査装置及び印刷半田検査装置
JP2011242176A (ja) * 2010-05-14 2011-12-01 Bridgestone Corp 帯状部材の形状測定方法とその装置及び変位センサー
US8416409B2 (en) * 2010-06-04 2013-04-09 Lockheed Martin Corporation Method of ellipsometric reconnaissance
RU2483295C2 (ru) * 2011-02-02 2013-05-27 Николай Александрович Кравцов Способ диагностирования качества поверхностной структуры металлопроката
JP2013096784A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Toppan Printing Co Ltd 表面特性測定装置及びコンピュータプログラム
JP5882730B2 (ja) * 2011-12-28 2016-03-09 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
CN104297162A (zh) * 2014-09-17 2015-01-21 宁波高新区晓圆科技有限公司 一种多波长多方位视觉检测方法
JP6686569B2 (ja) * 2016-03-14 2020-04-22 東芝三菱電機産業システム株式会社 表面疵撮影装置
JP6179680B1 (ja) * 2016-04-08 2017-08-16 新日鐵住金株式会社 表面状態監視装置及び表面状態監視方法
WO2017207115A1 (en) * 2016-05-30 2017-12-07 Bobst Mex Sa Surface inspection system and inspection method
KR102484352B1 (ko) * 2016-08-18 2023-01-04 한화정밀기계 주식회사 부품 실장기의 카메라 모듈
JP6149990B2 (ja) * 2016-09-02 2017-06-21 Ｊｆｅスチール株式会社 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置
JP6683088B2 (ja) * 2016-09-23 2020-04-15 日本製鉄株式会社 表面性状検査装置、表面性状検査方法及びプログラム
CN113310441B (zh) * 2021-06-01 2022-06-10 湖南大学 一种对金属表面粗糙度加工进行探测的偏振关联成像方法
DE102022002963A1 (de) 2022-08-16 2024-02-22 Baumer lnspection GmbH Optische Prüfvorrichtung und Prüfverfahren

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2612482A1 (de) * 1976-03-24 1977-10-06 Hoesch Werke Ag Verfahren und einrichtung zur optischen beobachtung der oberflaeche von schnell bewegtem walzmaterial
DE19720308C2 (de) * 1997-05-15 1999-05-20 Parsytec Computer Gmbh Vorrichtung zur kontinuierlichen Detektion von Fehlern nach Größe und Art auf der Oberfläche eines bewegten Materials
ES2153150T3 (es) * 1997-08-22 2001-02-16 Fraunhofer Ges Forschung Metodo y aparato para la inspeccion automatica de superficies en movimiento.
AT406528B (de) * 1998-05-05 2000-06-26 Oesterr Forsch Seibersdorf Verfahren und einrichtung zur feststellung, insbesondere zur visualisierung, von fehlern auf der oberfläche von gegenständen

Also Published As

Publication number Publication date
EP1114993A2 (en) 2001-07-11
US20010015414A1 (en) 2001-08-23
EP1114993A3 (en) 2002-06-05
JP2001242091A (ja) 2001-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI20000032A0 (sv) Arrangemang och förfarande för att undersöka ytan
FI20012186A (sv) Förfarande och anordning för en vidsträckt inspektion av ferromagnetiska skivstrukturer
ATE452540T1 (de) Zusammensetzung und verfahren
DE60108043D1 (de) Zerstörungsfreies Inspektionsverfahren
FI20002844A0 (sv) Mätningsförfarande och mottagare
FI20000282A0 (sv) Förfarande och anordning för mätning av beläggning
FI20000292A0 (sv) Testarrangemang och testförfarande
FI20000126A (sv) Förfarande och mätanordning för mätning av suspension
DE60313558D1 (de) Oberflächenuntersuchungsvorrichtung und -verfahren
ID30410A (id) Papan sirkit keramik dan metoda pembuatannya
DE60040489D1 (de) Aufzugssystem und inspektionsverfahren dafür
FI991127A (sv) Robust och effektiv metod för att utjämna mätningsresultat
FI20002798A0 (sv) Förfarande och anläggning för framställning av rör
FI20000794A (sv) Förfarande och anläggning för framställning av polyanilin
AR028025A1 (es) Metodo e indicador de tratamiento de mosquiteros
FI20010301A (sv) Förfarande vid murning samt arrangemang för dess förverkligande
EA200200945A1 (ru) Способ электронно-лучевой наплавки
FI20001913A0 (sv) Förfarande och arrangemang för att minska störning
FI20011720A (sv) Förfarande och arrangemang i samband med en mätanordning
FI20002250A (sv) Optiskt mäthuvud och förfarande för framställning av ett optiskt mäthuvud
FI20001831A0 (sv) Förfarande och anläggning för att mäta effekt i ett växelströmsystem
FI20000338A0 (sv) Förfarande och anordning för bestämning av stabiliteten av oljor samt användningen av förfarandet
FI20001982A0 (sv) Sliper och förfarande för dess framställning
FI20002118A0 (sv) Förfarande och anordning för framställning av brännved
FI20002527A0 (sv) Förfarande för framställning av en ytterbeklädnad och ett specialtimmer