FI119708B - Anordning för kontrollering av en bana - Google Patents

Anordning för kontrollering av en bana Download PDF

Info

Publication number
FI119708B
FI119708B FI20065078A FI20065078A FI119708B FI 119708 B FI119708 B FI 119708B FI 20065078 A FI20065078 A FI 20065078A FI 20065078 A FI20065078 A FI 20065078A FI 119708 B FI119708 B FI 119708B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
pixels
web
pixel
cameras
matrix
Prior art date
Application number
FI20065078A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20065078A (sv
FI20065078A0 (sv
Inventor
Hannu Ruuska
Original Assignee
Viconsys Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Viconsys Oy filed Critical Viconsys Oy
Priority to FI20065078A priority Critical patent/FI119708B/sv
Publication of FI20065078A0 publication Critical patent/FI20065078A0/sv
Priority to PCT/FI2007/050058 priority patent/WO2007088250A1/en
Priority to US12/223,249 priority patent/US8587650B2/en
Priority to EP07704828.8A priority patent/EP1984725B1/en
Publication of FI20065078A publication Critical patent/FI20065078A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI119708B publication Critical patent/FI119708B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/74Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the scene brightness using illuminating means
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/90Arrangement of cameras or camera modules, e.g. multiple cameras in TV studios or sports stadiums

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Claims (8)

1. En anordning för kontroll av en bana (10), vilken anord-ning innefattar matriskameror (16) som avbildar banan (10), en 5 enhet (14) för stroboskopisk belysning, en värdenhet (22), ett användargränssnitt (20) och en processenhet (21) med vilken de av matriskameran (16) tagna bilderna analyseras och i vilken anordning matriskamerans (16) bildelements enskilda pixlar är äkta bildpunkter (30), kännetecknad av att samtidigt exponerade ίο äkta bildpunkter har anordnats att förenas i matriskameran (16) tili effektiva bildelement (32) i banans maskinriktning genom att utnyttja matriskamerans (16) binningfunktion, varvid formen hos de effektiva bildelementen (32) kan fäs som önskas, och det har anordnats att banans (10) hela längd i maskinriktningen 15 skall avbildas.
2. En anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att strobobelysningsenhetens (14) synkronisering är anordnad tili matriskamerans (16) avbildningsfrekvens, vilken är gemensam för 20 alla kameror.
3. En anordning enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknad av att anordningen innefattar en värdenhet (22), vilken styr strobobelysningsenhetens (14) och matriskamerornas (16) synk- 25 ronisering.
4. En anordning enligt nägot av patentkraven 1-3, känne-tecknad av att den av anordningen avbildade delen i banans (10) maskinriktning är 80 - 300 mm, förmänligt 100 - 250 mm. 30
5. En anordning enligt nägot av patentkraven 1 - 4, känne-tecknad av att avbildningsfrekvensen har bestämts sä att banans (10) samtliga omräden avbildas, varvid de kan visas som en kontinuerlig bild. 35
6. En anordning enligt nägot av patentkraven 1-5, kanne-tecknad av att binningfunktionen används sä att ett effektivt bildelements (32) storlek i tvärriktningen är en äkta bildpunkt (30) och i maskinriktningen 2-5 äkta bildpunkter (30). 5
7. En anordning enligt nägot av patentkraven 1-6, kanne-tecknad av att den lämpar sig för användning i snabba processer, där det för avbildning av hela banan tas 30 - 200 bilder per sekund när det omräde som skall avbildas är 80 - 300 mm, förmän- 10 ligt 100 - 250 mm.
8. En anordning enligt nägot av patentkraven 1-7, känne-tecknad av att det vid förenandet av äkta bildpunkter (30) tili effektiva bildelement (32) spänningarna sammanförs analogt före 15 omvandlingen tili en bitström.
FI20065078A 2006-02-01 2006-02-01 Anordning för kontrollering av en bana FI119708B (sv)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065078A FI119708B (sv) 2006-02-01 2006-02-01 Anordning för kontrollering av en bana
PCT/FI2007/050058 WO2007088250A1 (en) 2006-02-01 2007-02-01 Device for monitoring a web
US12/223,249 US8587650B2 (en) 2006-02-01 2007-02-01 Device for monitoring a web
EP07704828.8A EP1984725B1 (en) 2006-02-01 2007-02-01 Device for monitoring a web

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065078 2006-02-01
FI20065078A FI119708B (sv) 2006-02-01 2006-02-01 Anordning för kontrollering av en bana

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20065078A0 FI20065078A0 (sv) 2006-02-01
FI20065078A FI20065078A (sv) 2007-08-02
FI119708B true FI119708B (sv) 2009-02-13

Family

ID=35953677

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20065078A FI119708B (sv) 2006-02-01 2006-02-01 Anordning för kontrollering av en bana

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8587650B2 (sv)
EP (1) EP1984725B1 (sv)
FI (1) FI119708B (sv)
WO (1) WO2007088250A1 (sv)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI121859B (sv) * 2008-11-25 2011-05-13 Metso Automation Oy Förfarande för att styra reparation av en bana med en omrullningsmaskin och motsvarande system
US9077961B1 (en) * 2013-02-05 2015-07-07 Lucasfilm Entertainment Company Ltd. Rolling shutter timing tester
JP6296864B2 (ja) * 2014-03-31 2018-03-20 キヤノン株式会社 画像形成装置
FI128735B (sv) * 2016-05-06 2020-11-13 Procemex Oy Ltd Förfarande och system för datorseende
FI128850B (sv) 2016-05-06 2021-01-29 Procemex Oy Ltd Förfarande för datorseende samt system för övervakning av tillverkningsprocesser
DE102016220759A1 (de) 2016-10-21 2018-04-26 Texmag Gmbh Vertriebsgesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation eines Materialbahnversatzes bei der Materialbahninspektion
DE102016220757A1 (de) * 2016-10-21 2018-04-26 Texmag Gmbh Vertriebsgesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Materialbahnbeobachtung und Materialbahninspektion
CN112880563B (zh) * 2021-01-22 2021-12-28 北京航空航天大学 一种单维像素合并模式等效窄面阵相机空间位置测量方法
DE102023003095B3 (de) 2023-07-28 2024-09-26 ZM - Technik GmbH Kamerasystem zur Aufnahme von Bildern einer schnell bewegten Oberfläche

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1616A (en) * 1840-05-25 Machine fob washing clothes
US5359525A (en) * 1990-05-01 1994-10-25 Kimberly-Clark Corporation Apparatus and method for registration control of assembled components
US5440648A (en) * 1991-11-19 1995-08-08 Dalsa, Inc. High speed defect detection apparatus having defect detection circuits mounted in the camera housing
US5668887A (en) 1992-05-29 1997-09-16 Eastman Kodak Company Coating density analyzer and method using non-synchronous TDI camera
US5305392A (en) * 1993-01-11 1994-04-19 Philip Morris Incorporated High speed, high resolution web inspection system
USH1616H (en) * 1994-05-31 1996-12-03 Minnesota Mining And Manufacturing Company Web inspection system having enhanced video signal preprocessing
JPH09145638A (ja) * 1995-11-24 1997-06-06 Kawasaki Steel Corp 表面欠陥検査方法及び装置
DE19611639A1 (de) 1996-03-25 1997-10-02 Deutsche Telekom Ag Paging- und Mailboxsystem
EP0816825A3 (en) 1996-06-26 1998-08-12 Toshiba Engineering Corporation Method and apparatus for inspecting streak
US5899959A (en) * 1996-10-25 1999-05-04 International Paper Company Measurement of visual characteristics of paper
DE19735156C1 (de) 1996-11-25 1999-04-29 Fraunhofer Ges Forschung Piezoelektrisch betätigtes Mikroventil
US5982452A (en) * 1997-03-27 1999-11-09 Dalhousie University Analog video merging system for merging N video signals from N video cameras
JP4230566B2 (ja) * 1998-07-21 2009-02-25 東芝ソリューション株式会社 欠陥統合処理装置および欠陥統合処理方法
US6327374B1 (en) * 1999-02-18 2001-12-04 Thermo Radiometrie Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
FI111192B (sv) 2000-03-31 2003-06-13 Oseir Oy Förfarande för avbildande mätning, avbildande mätningsanordning och användning av informationen vid bevakning av en process
US6531707B1 (en) * 2000-12-29 2003-03-11 Cognex Corporation Machine vision method for the inspection of a material for defects
FI115205B (sv) * 2002-09-04 2005-03-31 Data Instmsto Oy Förfarande och anordning för on-line-övervakning av tryckkvalitet
US7030400B2 (en) * 2003-12-30 2006-04-18 Xerox Corporation Real-time web inspection method and apparatus using combined reflected and transmitted light images
WO2005072265A2 (en) * 2004-01-22 2005-08-11 Wintriss Engineering Corporation Illumination system for material inspection
US20050226466A1 (en) 2004-04-06 2005-10-13 Quad/Tech, Inc. Image acquisition assembly

Also Published As

Publication number Publication date
FI20065078A (sv) 2007-08-02
US8587650B2 (en) 2013-11-19
WO2007088250A1 (en) 2007-08-09
FI20065078A0 (sv) 2006-02-01
EP1984725B1 (en) 2013-08-14
EP1984725A1 (en) 2008-10-29
US20100214416A1 (en) 2010-08-26
EP1984725A4 (en) 2011-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI119708B (sv) Anordning för kontrollering av en bana
JPH08292159A (ja) 非同期tdiカメラを使用した被覆密度分析器及び分析方法
JPH08128916A (ja) 油漏れ検出装置
TWI536003B (zh) 圖案化相位差膜的缺陷檢測裝置與方法以及製造方法
TWI574000B (zh) 使用偏振光的檢查設備
US11022553B2 (en) Surface inspection system and surface inspection method
JP2009208406A (ja) 見当マーク検出装置
JP2000186920A (ja) 形状計測装置および形状計測方法
KR20090023573A (ko) Tdi-ccd 이미지 센서를 제어하기 위한 방법
JP2012154830A (ja) 印刷物の検査方法及び検査装置
JP2016032219A (ja) 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP3453506B2 (ja) 画像読取装置
US6990251B2 (en) Method, system, and software for signal processing using sheep and shepherd artifacts
SE9501559L (sv) Förfarande och anordning för optisk besiktning av åtminstone en linjeföljd av strängar, särskilt av lim
EP1263206A2 (en) Image reading apparatus
US11128808B2 (en) Overhead sidelight
KR102525320B1 (ko) 대상물을 광학적으로 검사하기 위한 장치 및 방법
NL2009786C2 (nl) Camera systeem, kleurenmeetsysteem en drukpers.
JP4549838B2 (ja) 光沢度測定方法および装置
JP2005114499A (ja) ダイコートビードの検査装置及びその検査方法
JP2009164950A (ja) 撮像システム
Aiqun et al. Applied Technique and Development Trend of CCD Image Sensor
JP2015155868A (ja) 検査装置および検査方法
JP2004198358A (ja) 検査装置用照明装置および欠陥検査装置
KR20190030168A (ko) 결함 검사 장치, 결함 검사 방법, 원 편광판 또는 타원 편광판의 제조 방법 및 위상차판의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 119708

Country of ref document: FI

PC Transfer of assignment of patent

Owner name: METSO AUTOMATION OY

Free format text: METSO AUTOMATION OY

MM Patent lapsed