FI119405B - Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan - Google Patents

Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan Download PDF

Info

Publication number
FI119405B
FI119405B FI20065125A FI20065125A FI119405B FI 119405 B FI119405 B FI 119405B FI 20065125 A FI20065125 A FI 20065125A FI 20065125 A FI20065125 A FI 20065125A FI 119405 B FI119405 B FI 119405B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
temperature
terminals
arrangement according
electrical device
temperatures
Prior art date
Application number
FI20065125A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20065125A (fi
FI20065125A0 (fi
Inventor
Erkki Miettinen
Original Assignee
Abb Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Abb Oy filed Critical Abb Oy
Priority to FI20065125A priority Critical patent/FI119405B/fi
Publication of FI20065125A0 publication Critical patent/FI20065125A0/fi
Priority to EP07102321A priority patent/EP1821108A1/en
Priority to US11/708,360 priority patent/US20070207656A1/en
Publication of FI20065125A publication Critical patent/FI20065125A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI119405B publication Critical patent/FI119405B/fi

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K3/00Thermometers giving results other than momentary value of temperature
    • G01K3/08Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values
    • G01K3/10Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values in respect of time, e.g. reacting only to a quick change of temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H1/00Details of emergency protective circuit arrangements
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P7/00Arrangements for regulating or controlling the speed or torque of electric DC motors
    • H02P7/06Arrangements for regulating or controlling the speed or torque of electric DC motors for regulating or controlling an individual dc dynamo-electric motor by varying field or armature current
    • H02P7/18Arrangements for regulating or controlling the speed or torque of electric DC motors for regulating or controlling an individual dc dynamo-electric motor by varying field or armature current by master control with auxiliary power
    • H02P7/24Arrangements for regulating or controlling the speed or torque of electric DC motors for regulating or controlling an individual dc dynamo-electric motor by varying field or armature current by master control with auxiliary power using discharge tubes or semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/20Measuring earth resistance; Measuring contact resistance, e.g. of earth connections, e.g. plates
    • G01R27/205Measuring contact resistance of connections, e.g. of earth connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Description

119405
Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan
Keksinnön tausta
Keksintö liittyy sähköisten liitosten kunnonvalvontaan ja erityisesti laitteistoon kaapelien ja kiskostojen tai vastaavien välisten liitosten vikaantu-5 misten havaitsemiseen.
Teollisuudessa ja rakennuksissa on yleisesti tarvetta suurivirtaisille sähkölaitteille, joissa on tyypillisesti kaapeleiden ja laitteen liittimien välisiä pult-tiliitoksia. Esimerkkinä tässä tarkoitetusta laitteesta on suuritehoinen taajuus-muuttaja. Koska nämä liitokset tehdään laitteen asennusvaiheessa, on mah-10 dollista, että liitoksen kiristys jää vaillinaiseksi, jolloin kasvavan ylimenovastuk-sen vaikutuksesta liitoksessa alkaa kehittyä lämpöä. Lämpeneminen puolestaan voi johtaa rakenteiden vaurioitumiseen ja ääritapauksessa jopa tulipaloon eristeiden syttyessä.
Tämän vuoksi ainakin tärkeimmissä ja keskeytyksille herkimmissä 15 kohteissa on tapana aika ajoin suorittaa mainittujen liitosten lämpökameraku-vaus, mikä paljastaa muista liitoksista poikkeavat lämpenemiset.
Lämpökuvaus on, paitsi laitteiden korkean hinnan vuoksi kallista, myös jossain määrin vaarallista ja hidasta, sillä lämpökuvausta varten joudutaan tyypillisesti avaamaan sekä kuvattavan laitteen sisältävän kaapin ovi että 20 poistamaan kosketussuojia tms., vaikka laite on jännitteinen ja kuormitettu • 1 : lämpenemän havaitsemisen mahdollistamiseksi. Lisäksi nykyaikaiset laitteet ja • · :.1·· kaapit ovat rakenteeltaan niin tiukkoja, että kaapeleiden liitännät on monasti *:**: pakko sijoittaa sellaisiin kohteisiin, että niiden lämpökuvaus vaatii peilejä tai : :1: muita erikoisjärjestelyltä.
• «f · ; 25 Mainittujen hankaluuksien ja riskien takia laitetason lämpökuvaus • t · .1··. suoritetaan vain ehkä kerran vuodessa, mikä ei useinkaan riitä paljastamaan nopeasti kehittyvää liitosvikaa, vaan laite ja kaapelit saattavat tuhoutua ja tuo-tantoprosessi sen seurauksena keskeytyä päiviksi tai jopa viikoiksi. On selvää, että syntyvien vahinkojen suuruus saattaa ylittää moninkertaisesti laitteiston ja • 1 · *"** 30 kaapelointien hinnan.
• · * · ♦ * ♦ ♦ .···. Keksinnön lyhyt selostus • ·
Keksinnön tavoitteena on siten kehittää laitteisto, joka mahdollistaa • ♦ · : ·[ liitosten kunnon tarkkailemisen aikaisempaa luotettavammin ja turvallisemmin.
’ Keksinnön tavoite saavutetaan järjestelmällä, jolle on tunnusomaista se, mitä 2 119405 sanotaan itsenäisessä patenttivaatimuksessa. Keksinnön edulliset suoritusmuodot ovat epäitsenäisten patenttivaatimusten kohteena.
Keksintö perustuu siihen, liitosten lämpötiloja valvotaan liitoskohtai-sesti, jolloin yksittäisen liitoksen lämpötilan poikkeaminen muista saman järjes-5 telmän liitoksista indikoi liitoksen vikaantumisen.
Keksinnön mukaisen järjestelmän etuna on merkittävästi parantuva turvallisuus, sillä keksinnön mukainen toiminta ei vaadi mitään laitteisiin kohdistuvia silmämääräisiä tarkastuksia. Lisäksi myös alkavat viat voidaan havaita ajoissa, sillä mittaustiheys voidaan moninkertaistaa aikaisempaan verrattuna, 10 ja mittaus voidaan suorittaa jopa reaaliaikaisena. Liitosviat on lisäksi helppo havaita niin ajoissa, että korjaustoimenpiteet voidaan ajoittaa ajankohtaan, mikä vähiten häiritsee tuotantoa tai vastaavaa.
Kuvioiden lyhyt selostus
Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten suoritusmuotojen yh-15 teydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa:
Kuvio 1 esittää keksinnön järjestelyn erään suoritusmuodon mukaista piiriratkaisua;
Kuvio 2 esittää kuvion 1 piiriratkaisun lähtötaajuutta lämpötilan funktiona; ja 20 Kuvio 3 esittää esimerkkiä keksintöä soveltamalla menetelmällä • · määritetyistä lämpötiloista ajan funktiona.
• · • · · • · · j Keksinnön yksityiskohtainen selostus • *#» : .·. Suurivirtaisten laitteiden sähköiset kaapeliliitännät sijoitetaan tavaili- • · · "V sesti laitteen laidoille sijoitettuihin Iiitäntäkiskoihin, jotka lepäävät eristeaineesta 25 ruiskupuristetun eristeblokin varassa. Kiskossa on tavallisesti liitäntäpultti, jon-’*··* ka kanta on kiskon alapuolella, upotettuna eristeblokkiin siten, ettei se pääse pyörimään liitosta kiristettäessä. Virran kulkiessa tämän liitoksen läpi, liitoksen ylimenovastuksessa syntyvä lämpö siirtyy sekä kiskoon että kaapeliin. Hyvän ··· termisen kontaktin ansiosta myös pelkästään kaapelissa, esimerkiksi huonos-30 sa kaapelikenkäliitoksessa syntyvä lämpö on havaittavissa kiskon kautta.
.···. Erään menetelmän mukaisesti jännitteiseksi kytketyn laitteen liittimi- *·* en liitoksen kuntoa voidaan määrittää siten, että määritetään sellaisten liittimi- • ·* en lämpötilaa, joissa liittimissä kulkee oleellisesti samansuuruinen virta. Tällai- siä liittimiä ovat esimerkiksi kolmivaiheisen laitteen, kuten kolmivaiheisen taa-35 juusmuuttajan syöttökaapeleiden ja taajuusmuuttajan sisäisen johdotuksen vä- 3 119405 liset liitokset. Tällaiset sisäiset johdotukset suoritetaan tunnetulla tavalla tyypillisesti käyttämällä jäykkiä virtakiskoja. Muita kohteita taajuusmuuttajaa ajatellen voivat olla esimerkiksi liitännät taajuusmuuttajan välipiirissä ja lähdössä.
Tämän menetelmän mukaan edelleen verrataan liittimien lämpötilo-5 jen eroja. Tämä lämpötilojen vertaaminen voidaan suorittaa varta vasten suunnitellulla laitteella, mutta edullisimmin kyseinen vertailu suoritetaan siinä laitteessa, jonka liitäntöjen lämpötiloja määritetään. Laitteen ollessa esimerkiksi taajuusmuuttaja, joka sisältää jo muutoin laskentakapasiteettia, ei tällaisen vertailun toteuttaminen vaadi lisättyä prosessoria tai muuta vastaavaa kompo-10 nenttia. Lämpötilojen vertaaminen voidaan suorittaa yksinkertaisesti määrittämällä eri vaiheista mitattujen lämpötilojen välisiä erotuksia tai näiden erotusten itseisarvoja. On selvää, että lämpötilojen erojen vertaaminen voidaan suorittaa usealla erilaisella tavalla.
Menetelmän mukaisesti edelleen havaitaan liittimien lämpötilaeron 15 kasvaminen indikaationa laitteen liittimien liitoksen vikaantumisesta. Tämä havaitseminen suoritetaan edullisesti samassa elimessä lämpötilaerojen vertaamisen kanssa, eli esimerkiksi käyttäen tarkkailtavan laitteen prosessoria. Lämpötilaeron kasvamisen havaitseminen voidaan toteuttaa vertailun perusteella siten, että havaitaan eri vaiheiden lämpötilojen erotuksen tai erotuksen it-20 seisarvon kasvaminen. Käytännön toteutuksessa muistiin voidaan tallettaa mittausarvoja, ja näiden mittausarvojen perusteella voidaan havaita erotuksen : muutos aikaisempaan erotukseen verrattuna.
• · \*·: Havaitseminen voidaan toteuttaa myös siten, että tarkkaillaan läm-
Potilojen trendejä, ja jonkin trendin poiketessa muista lämpötilatrendeistä ha-25 vaitaan lämpötilaeron kasvaminen. On selvää, että havaitseminen voidaan : suorittaa vaihtoehtoisesti esimerkiksi lämpötilojen derivaattoihin perustuen tai • · · ;**·. tarkkailemalla määritettyjen absoluuttisten lämpötilojen muutoksia, ja näiden muutosten keskinäisiä poikkeavuuksia.
On huomattava, että koska metalliset virtajohtimet johtavat lämpöä • · « 30 hyvin, voidaan menetelmällä havaita vikaantuminen myös kaapelin ja kaapelin *':** kengän liitoksen välillä, vaikka lämpötilaa määritettäisiin virtakiskossa.
v Keksinnön mukaisesti kunkin kytkentäkiskon ja eristeblokin väliseen rakoon on sijoitettu lämpötilaa määrittävä elin, kuten lämpötila-anturi, jota käyt- ··]·. täen on mahdollista tarkkailla kaikkien liitosten lämpötiloja, ja tarkemmin sanot- * i * \ 35 tuna liitosten välisiä lämpötilaeroja, sen havaitsemiseksi, onko jossakin liitok sista havaittavissa muista vastaavista poikkeavaa lämpötilan nousua merkkinä 4 119405 uhkaavasta vauriosta. Keksinnön mukaisessa järjestelyssä käytettäväksi lämpötila-anturiksi kelpaa myös halpa ja epätarkka tai epälineaarinen komponentti, koska järjestelyn suhteen ainoastaan suhteelliset erot samalla virralla kuormitettujen liitäntöjen välillä ovat merkitseviä.
5 Taajuusmuuttajissa on tyypillisesti olemassa tehoasteen ohjaus- elektroniikkaa, joka sijaitsee joko miinuskiskon tai DC-välipiirin keskipisteen potentiaalissa, mitkä kuuluvat pääpiirin potentiaaleihin. Tähän elektroniikkaan on helppoa ja edullista lisätä osa, jonka avulla liitäntäkiskojen lämpötila-antureiden signaalit voidaan muuttaa sellaiseen muotoon, että niitä voidaan 10 käsitellä digitaalisina tietoina joko suoraan kyseisessä potentiaalissa tai sitten tiedot voidaan välittää muun tietoliikenteen joukossa ulkoiseen tietojenkäsittelyresurssiin uhkaavien vikatilanteiden analyysiä varten. Keksinnön järjestelyä voidaan siten yksinkertaisella tavalla soveltaa taajuusmuuttajien yhteydessä.
On selvää, että ulkoinen tietojenkäsittelyresurssi voi myös olla yh-15 teydessä esimerkiksi internetin kautta laitteiden huollosta vastaavaa yritykseen, jolloin kunkin valvottavan laitteen kaikkien liitäntäkiskojen lämpötiloja seurataan reaaliaikaisesti - vaikka useita kertoja tunnissa - ja niistä automaattisesti kertyvien trendien mukaan on helppo asettaa kriteerit hälytyksille.
Keksinnön mukainen järjestely on edullisimmin sovellettavissa teol-20 lisesti valmistettavan uuden laitteen, esimerkiksi taajuusmuuttajan, yhteydessä, mutta keksinnön periaate on sovellettavissa myös jo olemassa oleviin lait- : teisiin.
• ·
Keksinnön mukaisessa järjestelyssä lämpötila-anturi tai lämpötilaa määrittävä piiriratkaisu sijoitetaan edullisesti liitäntäkiskojen päitä tukevien eris- ; 25 tetukikappaleiden ja liitäntäkiskojen väliin. Tätä tarkoitusta varten eristetuki- :kappaletta muotoillaan siten, että se voi vastaanottaa tällaisen anturin. Keksin-··· ····. nön edullisen suoritusmuodon mukaan lämpötilaa määrittävä piiri on muodos tettu piirilevylle siten, että komponentit on sijoitettu piirilevyn yläpinnalle ja piiri-levyn alapinta on kosketuksessa virtakiskoon. Kun piirilevy on lisaKsi RäRsipucP-^^^T- • · · 30 linen levy, jossa myös alapinnalla on kuparointi, siirtyy virtakiskon lämpö luotet-tavasti levyn yläpinnalle, jossa varsinainen mittaus suoritetaan. Kaksipuolisella • · :,v piirilevyllä on myös tietty eristelujuus, joten sen alapinnan yhdistäminen suoli^: raan jännitteiseen virtakiskoon ei tuota ongelmia eristyksen suhteen.
•v. Eristetukikappaleeseen tehtävä syvennys piirikorttia varten myös • * 35 suojaa anturia ulkoisilta vaikutteilta, ja toimii siten kotelointina anturille ja pitää anturia tukevasti paikallaan.
5 119405
On selvää, että lämpötilan määrittäminen liitosten yhteydessä voidaan suorittaa valmiilla kaupallisilla antureilla. Nämä komponentit ovat kuitenkin kalliita, koska ne on tyypillisesti toteutettu määrittämään tarkkaa absoluuttista lämpötilaa. Keksinnön mukaisessa järjestelyssä voidaan kuitenkin käyttää 5 epätarkkoja lämpötilaa määrittäviä elimiä, sillä absoluuttinen lämpötila ei ole keksinnön kannalta merkittävä keksinnön perustuessa mitattujen lämpötilojen suhteisiin.
Tyypillisiä edullisimpia komponentteja lämpötila mittaukseen ovat NTC-vastus ja signaaiidiodin liitosjännite. Näistä ensin mainittu on erittäin epä-10 lineaarinen, kun taas jälkimmäisen signaali on pieni ja sitä kautta herkkä häiriöille. Lisäksi on käytettävissä erilaisia ja edellä mainittuja huomattavasti kalliimpia kaupallisia komponentteja, jotka muuttavat tuntemansa lämpötilan joko jännitteeksi, virraksi, taajuudeksi tai suoraan digitaaliseen muotoon. Koska mittaustuloksia on edullisesti voitava käsitellä digitaalisesti, tarvitaan signaalin di-15 gitointi, jolloin etulyöntiasemassa ovat anturikomponentit, jotka antavat suoraan digitaalista signaalia.
Kuviossa 1 esitetään esimerkki keksinnön järjestelyssä käytettävästä lämpötilaa määrittävästä piiriratkaisusta. Kuviossa 1 on toteutettu sinänsä tunnettu kytkentä, missä on käytetty schmitt-triggeri-invertterillä, kondensaatto-20 rilla ja NTC-vastuksella muodostettua oskillaattoria, jonka lähtösignaali on suoraan digitaalisessa muodossa. Kytkentä voidaan toteuttaa pintaliitoskom-·’·! · ponentein ja ilman läpivientejä pienelle piirilevyn kappaleelle, joka sijoitetaan :.*'i mitattavan liitäntäkiskon alle siten, että piirilevyn takapinta on painuneena kis- koa vasten ja komponentit ovat eristeblokin onkalossa edellä kuvaillulla tavalla. 25 Tuolloin sekä piirilevy että sillä olevat komponentit noudattavat melko tarkasti : kiskon lämpötilaa. Piirilevy muodostaa tarvittavan eristyksen kiskon ja mittaus- :*"· piirin välille ja ryömintäväli voidaan mitoittaa piirilevyn ulkomittoja muuttamalla.
··«
Koska NTC-vastuksen resistanssi noudattaa lämpötilan suhteen eksponentiaalista riippuvuutta, ei resistanssia ole helppoa käyttää suoraan • · · 30 lämpötilan indikaattorina. Yhdistettynä kuitenkin oskillaattoriin sekä käyttämällä • · **.* yhtä ylimääräistä linearisointivastusta, on toteutettavissa piiriratkaisu, jolla • · :.v päästään vain muutaman asteen suuruiseen epälineaarisuuteen tyypiliisimmäl- lä mittausalueella +20 ... +140 astetta. Kuvio 2 esittää kuvion 1 oskillaattorin :v. lähtötaajuutta erään NTC-vastuksen lämpötilan funktiona. Kuvion 1 oskillaatto- • · 35 rin IShtötaajuus siis kasvaa lämpötilan noustessa.
• · 6 119405
Kun oskillaattorin taajuus johdetaan laskuriin, jonka porttiaika on säädetty sopivaksi, on kertynyt pulssimäärä suoraan verrannollinen valvottavaan lämpötilaan kuvioiden 1 ja 2 esittämässä tapauksessa. Esitetyllä oskillaattorilla onkin edullista käyttää yhden millisekunnin porttiaikaa, jolloin lasku-5 riksi riittää kahdeksanbittinen binäärilaskuri. Silloin jokainen laskuriin kertynyt pulssi vastaa yhtä astetta. Tällainen laskuri on erityisen helppoa ja edullista lisätä kullekin mitattavalle kanavalle erikseen esimerkiksi muusta valvottavan laitteen ohjauselektroniikasta huolehtivalle FPGA- tai ASIC-piirille, jolloin ei tarvita mitään ulkoisia multipleksereitä tai vastaavia valintapiirejä. Käytännössä 10 teholiitosten laadun valvonnasta syntyvät kustannukset rajoittuvatkin anturin sekä sen liittimen ja johtimen hintaan.
Kuviossa 3 on havainnollisuuden vuoksi esitetty kolmen liitoksen lämpötilaa Tu, Tv, Tw, jotka on määritetty keksintöä soveltavan menetelmän mukaisesti. Kuten kuviosta 3 ilmenee, esimerkin lämpötilanmäärityksessä on 15 käytetty absoluuttisella asteikolla epätarkkoja lämpötilanmääritysvälineitä, joten tarkkaa lämpötilan arvoa mistään liitoksesta ei tiedetä, ja kaikki lämpötilat poikkeavat toisistaan offset-virheen vuoksi. Kuvion 3 esimerkissä on ajateltu, että laitteen, kuten taajuusmuuttajan, liitokset ovat aluksi ympäröivän tilan lämpötilassa, ja hetkellä to taajuusmuuttajaa aletaan kuormittaa. Kaikkien vaiheiden 20 liitosten lämpötilat käyttäytyvät oleellisesti samalla tavoin, eli kuormituksen kasvaessa liitosten lämpötilat nousevat oleellisesti samalla nousunopeudella.
: Liitosten lämpötila saavuttaa oleellisesti vakiolämpötilan noin hetkel- • · V·: lä ti kuormituksen ollessa esimerkissä tasaista, ja offset virheestä johtuen eri vaiheiden liitosten lämpötilat poikkeavat toisistaan oleellisesti saman verran : 25 kuin alkuhetkellä to.
··· · : :*· Hetkellä t2 yhden liitoksen lämpötila Tv alkaa kuitenkin nousta mui- .***. den liitosten lämpötiloista poiketen. Muutoksesta muiden liitosten lämpötilojen suhteen, lämpötilojen derivaattojen eroista tai muista vastaavista seikoista voi- 'V. daankin havaita poikkeava lämpenemä kyseisessä liitoksessa. Muutoksen ha- • · · 30 vaitsemisen perusteella voidaan kyseiset liitokset omaava laite sammuttaa jos ’*:** siihen on mahdollisuus, tai jatkaa lämpötilojen tarkkailua mahdollisesti kuormit- v.: lamalla kyseistä laitetta pienemmällä kuormalla.
Kuvion 3 yksinkertaistettu esimerkki on tarkoitettu etupäässä valai- ··*·, semaan sitä seikkaa, että menetelmässä käytettävien lämpötilaa määrittävien • * ' \ 35 välineiden ei tarvitse olla absoluuttisen tarkkoja, sillä poikkeamat liitoksen läm- Λ · 7 119405
Potiloissa suhteessa muiden liitosten lämpötiloihin pystytään havaitsemaan myös epätarkoilla välineillä.
Edellä keksinnön järjestelyä on kuvailtu toteutetuksi erilliskom-ponenteista muodostetun lämpötilanmäärityspiirin yhteydessä. On kuitenkin 5 selvää, että keksinnön järjestely voidaan toteuttaa käyttäen myös kaupallisesti saatavilla olevia lämpötilanmittausantureita. Myös ylläesitetty piiriratkaisu on esitetty eräänä mahdollisuutena lämpötilanmittauspiirin toteuttamisesta. Onkin selvää, että kyseisen kaltainen piiri voidaan toteuttaa monin eri tavoin.
Alan ammattilaiselle on ilmeistä, että keksinnön perusajatus voidaan 10 toteuttaa monin eri tavoin. Keksintö ja sen suoritusmuodot eivät siten rajoitu yllä kuvattuihin esimerkkeihin vaan ne voivat vaihdella patenttivaatimusten puitteissa.
• · • t * • · · ·*· i • » • · * • ·· • · • · • · « · · • * · ♦ ·· « * • · * • * · ·»· ··· • m a · aa· • · • · * • · · • a • · • a a·· • • * • * t • · · • * aaa • · • a a·· • • a a • · 9 • · • - a a a a

Claims (7)

119405
1. Järjestely sähkölaitteen liittimien liitoksen kunnon määrittämiseksi käsittäen lämpötilanmääritysvälineet, jotka on sovitettu määrittämään sähkö-5 laitteen liittimien lämpötiloja (Ty, Tv, Tw) sellaisista liittimistä, joiden kautta on tarkoitettu kulkemaan oleellisesti samansuuruiset virrat, ja on sijoitettu sähkölaitteen virtakiskoon liitoskohdan läheisyyteen, lämpötilojen vertailuvälineet, jotka on sovitettu vertailemaan liittimien lämpötilojen eroja, ja 10 välineet liittimien lämpötilaerojen kasvamisen havaitsemiseksi indi kaationa sähkölaitteen liittimien liitoksen vikaantumisesta, tunnettu siitä, että lämpötilanmääritysvälineet on muodostettu piirilevyille, joiden alapinnat ovat kosketuksessa sähkölaitteen virtakiskoihin ja joiden yläpinnoille on muodostettu lämpötilaa määrittävät kytkennät, jolloin kukin piirilevy on sovitettu 15 tuottamaan eristyksen virtakiskon ja mainitun kytkennän välille.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että lämpötilanmääritysvälineet on sijoitettu liitoskohdan läheisyyteen.
3. Jonkin edeltävän patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että välineet liittimien lämpötilaeron kasvamisen havaitsemi- 20 seksi on sovitettu havaitsemaan yhden liittimen lämpötilan poikkeamisen muiden liittimien lämpötiloista. ί·ί 1 4. Jonkin edeltävän patenttivaatimuksen 1 - 3 mukainen järjestely, V·: tunnettu siitä, että järjestely käsittää lisäksi välineet hälytyssignaalin tuot- ***" tamiseksi vasteellisena liittimien lämpötilaeron kasvamiselle.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen järjestely, tunnettu siitä, et- : tä piirilevy on sijoitettu kosketukseen sähkölaitteen virtakiskoon siten, että piiri- levy sijaitsee virtakiskoa tukevan eristekappaleen sisällä. ···
6. Jonkin edeltävän patenttivaatimuksen 1-5 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että sähkölaite on taajuusmuuttaja.
7. Taajuusmuuttaja, joka käsittää jonkin edeltävän patenttivaatimuk- • · T sen 1-6 mukaisen järjestelyn. • t * « · t · · • · ··· t · • · «·· «· t • · · • · • · »1··· • t 119405
FI20065125A 2006-02-21 2006-02-21 Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan FI119405B (fi)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065125A FI119405B (fi) 2006-02-21 2006-02-21 Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan
EP07102321A EP1821108A1 (en) 2006-02-21 2007-02-14 Method and apparatus for condition monitoring of electrical connections
US11/708,360 US20070207656A1 (en) 2006-02-21 2007-02-21 Method and apparatus for condition monitoring of electrical connections

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065125A FI119405B (fi) 2006-02-21 2006-02-21 Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan
FI20065125 2006-02-21

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20065125A0 FI20065125A0 (fi) 2006-02-21
FI20065125A FI20065125A (fi) 2007-08-22
FI119405B true FI119405B (fi) 2008-10-31

Family

ID=35953724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20065125A FI119405B (fi) 2006-02-21 2006-02-21 Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20070207656A1 (fi)
EP (1) EP1821108A1 (fi)
FI (1) FI119405B (fi)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8955365B2 (en) * 2008-12-23 2015-02-17 Embraer S.A. Performance monitoring and prognostics for aircraft pneumatic control valves
US8324907B2 (en) * 2010-01-25 2012-12-04 American Power Conversion Corporation Electrical connection quality detection
GB201109931D0 (en) * 2011-06-13 2011-07-27 Secure Meters Uk Ltd Apparatus and method for detecting a loose electrical connection
ES2397041B1 (es) * 2011-08-09 2013-11-26 Defulcorp, S.L. Unipersonal Sistema electrónico para el control de temperatura en conexiones de cableado de distribución.
GB2497091B (en) * 2011-11-29 2013-11-20 Qhi Group Ltd Monitoring an electrical joint
GB2552447B (en) * 2016-04-06 2019-06-12 Qhi Group Ltd Fault monitoring systems and methods for detecting connectivity faults
CN106646018A (zh) * 2016-09-29 2017-05-10 华南理工大学 一种铝芯电缆载流量的测量方法
CN107045372A (zh) * 2016-10-22 2017-08-15 钟贵洪 一种温度感应开关
FR3067123B1 (fr) * 2017-06-01 2021-05-28 Soc Ind De Construction Dappareils Et De Materiel Electriques Systeme de surveillance d'un dispositif de connexion dispose sur un cable
CN109375044A (zh) * 2018-12-12 2019-02-22 上海奥波电子有限公司 一种检测导体间电气连接质量的方法及系统

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1928738B2 (de) * 1969-06-06 1972-04-06 Siemens AG, 1000 Berlin u 8000 München Thermofuehleranordnung fuer ueberlastungsschutz von hochspannungswicklungen
US4310837A (en) * 1980-10-14 1982-01-12 General Electric Company Electrical device termination high temperature indicator
GB8603740D0 (en) * 1986-02-14 1986-03-19 P J O Ind Ltd Temperature sensing means
JPS6348160A (ja) * 1986-08-14 1988-02-29 Fuji Electric Co Ltd サイリスタ式周波数変換装置
GB2209093B (en) * 1987-08-27 1992-04-08 Stc Plc Temperature probe
JPH0515637U (ja) * 1991-08-01 1993-02-26 三菱電機株式会社 母線温度監視装置
EP1023580A4 (en) * 1997-06-27 2000-08-09 Patrick H Potega APPARATUS FOR TEMPERATURE MONITORING OF AN ENERGY SOURCE
EP0969264A3 (de) * 1998-05-06 2001-06-13 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Flächiger Sensor, Anordnung des flächigen Sensors und Verfahren zur Kompensation thermischer Verformungen
DE19820005B4 (de) * 1998-05-06 2007-04-05 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Flächiger Sensor
DE29907768U1 (de) * 1999-05-03 1999-11-25 Paul Rüster & Co. Inhaber U. Nowak GmbH, 14532 Stahnsdorf Flexibler Oberflächentemperaturfühler
US6588931B2 (en) * 2000-12-07 2003-07-08 Delphi Technologies, Inc. Temperature sensor with flexible circuit substrate
JP2004335793A (ja) * 2003-05-08 2004-11-25 Mitsubishi Materials Corp 温度計
US6948846B2 (en) * 2003-10-23 2005-09-27 Eaton Corporation Test apparatus for power circuits of an electrical distribution device
US7306489B2 (en) * 2004-07-26 2007-12-11 Fci Americas Technology, Inc. Performance indicating electrical connector
US7188997B2 (en) * 2005-01-21 2007-03-13 Eaton Corporation Apparatus and method for detecting hot spots in an electric power conductor

Also Published As

Publication number Publication date
EP1821108A1 (en) 2007-08-22
FI20065125A (fi) 2007-08-22
FI20065125A0 (fi) 2006-02-21
US20070207656A1 (en) 2007-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI119405B (fi) Laitteisto sähköisten liitosten kunnonvalvontaan
US12078548B2 (en) Electrical apparatus thermal monitoring
CN102565605B (zh) 用于检测配电系统中的导电故障的声学传感器系统
US20090287430A1 (en) System and Method for Detecting Leak Current
EP3173804B1 (en) Method and apparatus for detecting abnormal electrical connection in main circuit of switching device
CN109313219B (zh) 高压引入绝缘装置
US10066999B2 (en) System and method for monitoring exceptional watt hour meter terminal temperature
Zhou et al. Detection and formation process of overheated electrical joints due to faulty connections
KR101663532B1 (ko) 전자회로 패턴이 내장된 발열감지 부스바를 이용한 배전반 발열 예측시스템
JP2019200066A (ja) センサ内蔵端子台、電子機器
JP6067098B2 (ja) 電源回路内のグローイング接触の検出方法及び検出装置
CN111913127B (zh) 管型母线智能检测装置和方法
JPH03256518A (ja) 絶縁物異常検出装置
WO2018104017A1 (en) Electronic circuit for driving a thermocouple element, temperature sensing device and method for observing a leakage resistance of the thermocouple element
JPH08136597A (ja) 油入変圧器の絶縁診断装置
KR101046440B1 (ko) 전선의 단자 검사 장치
KR200263817Y1 (ko) 폐쇄형 배전반의 온도 감시 장치
JP2000261920A (ja) 電気機器用圧力モニタ装置
US6377035B1 (en) Method of detecting an abrupt variation in an electrical alternating quantity
US11656248B2 (en) Current meter for detecting currents in electrical lines
JPS63249062A (ja) 通電性能診断装置
RU2139618C1 (ru) Устройство для контроля гололедной нагрузки и сопротивления изоляции линии электропередачи
JPH01303016A (ja) 電力供給設備診断方法と電力供給設備診断装置
JPH02246728A (ja) 異常温度検出装置
KR20230063511A (ko) 초민감형 누설전류 검출 장치

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 119405

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed