FI117910B - Förfarande och anordning för mätning och kontrollering av ytegenskaper av skivmaterialier såsom papper - Google Patents

Förfarande och anordning för mätning och kontrollering av ytegenskaper av skivmaterialier såsom papper Download PDF

Info

Publication number
FI117910B
FI117910B FI970023A FI970023A FI117910B FI 117910 B FI117910 B FI 117910B FI 970023 A FI970023 A FI 970023A FI 970023 A FI970023 A FI 970023A FI 117910 B FI117910 B FI 117910B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
output
detector
light
signal
plate
Prior art date
Application number
FI970023A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI970023A (sv
FI970023A0 (sv
Inventor
Lee M Chase
John D Goss
Original Assignee
Measurex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Measurex Corp filed Critical Measurex Corp
Publication of FI970023A0 publication Critical patent/FI970023A0/sv
Publication of FI970023A publication Critical patent/FI970023A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI117910B publication Critical patent/FI117910B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Claims (29)

1. Anordning för att kontinuerligt mätä ytegenskaperna hos en löpande skiva (12, 250. pa en produktionslinje, varvid ytegenskaperna innefattar olika flagstorlekar 5 ooh —höjder; varvid anordningen innefattar: - en laserljuskälla (32); - organ (34, 36) för att fokusera ljuset frän laserkällan längs en optisk rutt (30) 10 tvärs över den rörliga skivans yta för att belysa en ljuspunkt (38) pä nämnda yta; - organ för att samla upp ljus som spritts frän den belysta punktens icke-spegelreflekterande vinkel; 15 -en ljuskänslig sensor (44) som ger ett utslag inom det frekvensspektrum som produceras av ytegenskapernas olika flagstorlekar, vilken sensor innefattar en utgäng; - organ för att fokusera uppsamlat spritt ljus (40) tili nämnda ljuskänsliga sensor, 20 vars utgäng genererar en utgängssignal som representerar förändringar i höjdpo- sitionen hos ljuspunkten pä den rörliga skivans yta; och ♦ ♦ ♦ « « « : -flera kanaler (80...86), av vilka var och en innefattar ett filter (72...78) som rea- ,*··] gerar pä sensorns utgängssignal, varvid filtren har olika Stora gränsfrekvenser för * · y.',t 25 att förmedla olika frekvensspektra som anger ytegenskapernas olika flagstorlekar.
• · *♦·,.· ·· • · \ " 2. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att flera kanaler päverkar ett v : motsvarande antal angränsande flagstorleksomräden. ♦ *·· 30
3. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att ytegenskapen är kräpp- :***: ning. ♦ ···«·
4. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den innefattar: • · ··· 35 -organ för att övervaka hastigheten hos den rörliga skivan (100) och för att pro-·:**: ducera en utgäng som detekterar nämnda hastighet, och ) 39 11791 O - organ för att variera gränsfrekvensen för varje filter i enlighet med variationema av utgängen av organet som övervakar skivans hastighet.
5. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den ljuskänsliga detektorn 5 innefattar en jämviktssensor, som genererar ett signalpar, varvid sensorns ut- gängssignal är proportionell mot skillnaden mellan nämnda signalpars signaler.
6. Anordning enligt patentkrav 5, kännetecknad av att den inkluderar ett organ mellan sensorn och ätminstone en kanal som bearbetar sensorsignalparet (56), 10 varvid nämnda signalbearbetningsanordning genererar en utgang som en funktion av förhallandet mellan signalparets differens och signalparets summa.
7. Anordning enligt patentkrav 5, kännetecknad av att jämviktssensorn innefattar ett par angränsande ljuskänsliga celler (50, 52) som är separerade frän varandra 15 med en liten lineär spalt (54), och att ljuset (48) som riktas mot jämviktssensorn överbryggar spalten för att belysa sensorcellerna mer eller mindre väsentligt enligt höjdpositionen for ljuspunkten som belyser den rörliga skivans yta.
8. Anordning enligt patentkrav 7, kännetecknad av att varje ljuskänslig sensor är 20 anpassad att generera en elektrisk signal som indikerar berörda sensors belys- ningsmängd i det uppsamlade spridda ljuset, och att sensorns utgängssignal är ·*·*: väsentligt proportionell mot signaldifferensen mellan sensorns celler.
• · • · * • · * .···! 9. Anordning enligt patentkrav 7, kännetecknad av att den lineära spalten som • · .·*·. 25 separerar jämviktssensorns celler frän varandra är placerad i en specifik vinkel i förhällande tili rörelseriktningen hos ljuspunkten som kommer tili sensorn för att • · *.„** utvidga sensorns verkningsomräde. • · · • * ·
10. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att varje filter är ett högpass- : *·· 30 filter. »M * » * * • · ·
11. Anordning enligt patentkrav 10, kännetecknad av att den innefattar: * * * · · • · *.*·* - en anordning (100) för att övervaka en löpande skivas hastighet och för att ge- * *« 35 nerera en utgang som indikerar nämnda hastighet, • · och varvid 40 117910 - högpassfiltret (110) innefattar ett RC-filter, vars ingäng är ansluten tili utgängen av en ljuskänslig sensor, ett regleringsmotständ och en utgäng som riktar sig tvärs över regleringsmotständet, och som innefattar ett organ för att kontrollera att mot-ständets värde motsvarar utgängen hos anordningen som övervakar hastigheten. 5
12. Anordning enligt patentkrav 11, kännetecknad av att nämnda anordning som kontrollerar resistansvärdet innefattar en XY-multiförstärkare (116), med en första ingäng kopplad tili utgängen av en anordning som kontrollerar hastigheten hos skivan och en andra ingäng kopplad tili filtrets utgäng. 10
13. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att varje filter är ett band- passfilter.
14. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den innefattar: 15 - en anordning för att definiera en sädan referensyta (28) längs vilken skivans yta (12a) är anpassad att löpa i dess närhet, dä nämnda referensyta är belägen vä-sentligt i det plan tili vilket fokuseringsanordningen för inkommande ljus fokuserar ljuspunkten som belyser skivans yta; och 20 - en stabilator (29) för skivan för att hälla skivytan i närheten av referensytan.
* * · * · .*·.*: 15. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den innefattar: • · · • « ··· • · *".** 25 - en anordning för att definiera en sädan referensyta, längs vilken skivans yta är • · );·*’ anpassad att löpa i dess närhet, varvid nämnda referensyta är belägen väsentligt i ·* ’* det plan tili vilket fokuseringsanordningen för inkommande ljus fokuserar ljuspunk- * 9 m ’ v : ten som belyser skivans yta; 30. en standardiseringsdel (190) innefattande en optisk standardiseringsyta (192); :***: och ··« • - !..* - ett organ (194) för att flytta nämnda standardiseringsdel tili ett standardiserings- • · *·;♦* läge separat frän skivan, varvid den optiska standardiseringsytan är belägen vä- 35 sentligt i nivä med referensytan. * · · · ·
16. Anordning enligt patentkrav 15, kännetecknad av att den innefattar en anordning (206) för att oscillera standardiseringsdelens läge längs det inkommande Iju- 41 117910 sets optiska axe! pä ätminstone en pä förhand bestämd frekvens och varvid ätminstone en pä förhand bestämd amplitud representerar ätminstone en respektive flagstorlek hos ytegenskapen och ätminstone en höjdvariation hos ytegenskapen.
17. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att - varje kanals filter innehäller en utgäng; och - varje kana! innehäller en AC-DC-omvandlare (88.. .94) av RMS-typ som är kopp-10 lad tili utgängen av berörda kanals filter, varvid varje nämnda AC-DC-omvandlare av RMS-typ genererar en kanalutgäng.
18. Anordning enligt patentkrav 17, kännetecknad av att AC-DC-omvandlaren genererar en kanalutgängssignal, som indikerar det egentliga RMS-värdet för den 15 filtrerade signalutgängen som ansluts tili kanalen.
19. Anordning enligt patentkrav 17, kännetecknad av att: - varje filter är ett högpassfilter med en pä förhand bestämd gränsfrekvens; 20 och att anordningen dessutom innefattar: ·· ♦ • · · ··_··· ]*.*· -en aritmetisk enhet (118) som kan kopplas tili utgängama av tvä kanaler och • ·· I..* som genererar en utgäng som indikerar höjdpositionsvariationer som sker pä ett 25 flagstorleksomräde som motsvarar gränsfrekvenser för nämnda tvä kanalers filter.
• · • * » ·· • ** 20. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att med hjälp av riktningsan- • · * . ordningen för inkommande ljus har ljuspunkten som genererats pä skivytan en bredd som inte överstiger 20 mikrometer. 30
;***: 21. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den innefattar ätminstone en kanal, vars filter reagerar pä sensorns utgängssignal för att filtrera bort varia- ]./ tioner som förekommer i sädana utgängssignaler frän sensorn som uppstär av | • · **;·* lägfrekvensfenomen säsom skivans fladder, och för att förmedla vidare sädana 35 frekvenser av sensorns utgängssignaler, vilka representerar ytegenskapernas ·*··· flagstorleksomräde.
22. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att 42 117910 - anordningen är anordnad att mätä ytegenskaperna hos en löpande pappersski-va (250) innefattande motsatta ytor; 5 och anordningen innefattar: -en fondplattform (254) belägen bredvid skivans icke-upplysta yta, varvid fond-plattformen innefattar organ för att inställa det pä skivan belägna omräde som är upplyst med ljuspunkten mot anordningens yta (162), varvid det löpande papprets 10 nämnda omräde pressas ihop.
23. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att inställningsorganet innefattar fyllbara bälgar (260) med motsatta ändar, varvid den ena änden är fast-spänd vid plattformen (254) och den andra änden är placerad att forcera skivan 15 mot anordningens yta.
24. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av att den innefattar en stabila-torarm (268) som kopplar bälgens ena ände tili plattformen och som motverkar tendensen hos bälgens ena ände att transporteras tillsammans med den löpande 20 skivan.
25. Förfarande för att mätä ytegenskaperna hos den löpande skivan (12, 250), • · varvid nämnda ytegenskaper innefattar olika flagstorlekar och -höjder, varvid för- • · · *..* farandet innefattar skeden för att: • « ***** 25 • ti • · *“·* - fokusera ljuset som kommer frän källan (32) längs den optiska rutt (30) som gär ·* '** tvärs över den löpande skivans yta för att belysa ljuspunkten (38) pä nämnda yta; • · · • · I • f t • - uppsamla ljus som spritts frän den upplysta punkien i icke-spegelreflekterande :**.. 30 vinkel; • · *...· - generera en signal motsvarande det uppsamlade ljuset i enlighet med nämnda ytegenskapers höjdvariationer, vilken signal innefattar de frekvensspektra som * « **;·* nämnda ytegenskapers olika flagstorlekar producerat; och ··· Af· : : 35 ··· *:·*: - behandla signalen för att generera flera sädana signaler i kanaler, vilka signaler täcker ett totalfrekvensomräde valt enligt de berörda ytegenskapernas flagstorlek-somräde, varvid varje kana! täcker ett sädant flagstorleksomräde hos ytegenska- 43 117910 perna som awiker frän flagstorleksomrädet hos de övriga kanalemas ytegenska-per.
26. Förfarande enligt patentkrav 25, kärmetecknat av att det dessutom innefattar 5 följande skeden: - för varje kanal genereras en filtrerande gränsfrekvens; - den löpande skivans hastighet övervakas; ooh 10 - varje kanals gränsfrekvens regleras enligt variationerna i nämnda skivas hastighet.
27. Förfarande enligt patentkrav 25, kännetecknat av att det dessutom innefattar 15 följande skede: - en signal filtreras för att generera flera filtrerade utgängar, av vilka var och en är i förbindelse med en av flera kanaler, varvid varje filtrerade utgäng leds frän nämnda signal genom att filtrera bort den första signalens alla frekvenskomponen-20 ter ovanför den pä förhand bestämda frekvensen och varvid den pä förhand be-stämda frekvensen är olika för varje filtrerad utgäng.
·· » • » « \\ 28. Förfarande enligt patentkrav 27, kännetecknat av att det dessutom innefattar följande skede: 25 *···* -en separat DC-utgang genereras frän varje filtrerad utgäng, varvid nämnda DC- ί *·· utgäng indikerar det egentliga kvadratiska medelvärdet för den filtrerade utgäng- ·#· • * en. 30
29. Förfarande enligt patentkrav 25, kännetecknat av att det dessutom innefattar :***: följande skede: ··· • ; - värdena för nämnda signal lagras under pä förhand bestämda, successiva data- *·;·* insamlingsintervaller. 35 • · · ···*· • · f
FI970023A 1995-05-05 1997-01-03 Förfarande och anordning för mätning och kontrollering av ytegenskaper av skivmaterialier såsom papper FI117910B (sv)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/435,995 US5654799A (en) 1995-05-05 1995-05-05 Method and apparatus for measuring and controlling the surface characteristics of sheet materials such as paper
US43599595 1995-05-05
US9606153 1996-05-02
PCT/US1996/006153 WO1996035111A1 (en) 1995-05-05 1996-05-02 Method and apparatus for measuring and controlling the surface characteristics of sheet materials such as paper

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI970023A0 FI970023A0 (sv) 1997-01-03
FI970023A FI970023A (sv) 1997-03-03
FI117910B true FI117910B (sv) 2007-04-13

Family

ID=23730672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI970023A FI117910B (sv) 1995-05-05 1997-01-03 Förfarande och anordning för mätning och kontrollering av ytegenskaper av skivmaterialier såsom papper

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5654799A (sv)
EP (1) EP0769139B1 (sv)
JP (1) JPH10503028A (sv)
CA (1) CA2193380C (sv)
DE (1) DE69630650T2 (sv)
FI (1) FI117910B (sv)
WO (1) WO1996035111A1 (sv)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE9703758D0 (sv) 1997-10-15 1997-10-15 Asea Brown Boveri Metod och förfarande för processkontroll vid tillverkning av papper, massa eller board
US6585366B2 (en) * 1998-08-05 2003-07-01 Canon Kabushiki Kaisha Image forming method
US6191430B1 (en) * 1998-11-20 2001-02-20 Honeywell International Gel point sensor
SE9804347D0 (sv) * 1998-12-16 1998-12-16 Valmet Corp Method and apparatus for calendering paper
SE9804346D0 (sv) 1998-12-16 1998-12-16 Valmet Corp Method and apparatus for calendering paper
US6299730B1 (en) 1999-09-20 2001-10-09 The Mead Corporation Method and system for monitoring web defects along a moving paper web
FI111413B (sv) * 2001-11-12 2003-07-15 Metso Paper Inc Anordning för mätning av slitage hos ett schaberblad och förfarande vid mätning av slitage hos ett schaberblad
JP4227351B2 (ja) * 2002-04-12 2009-02-18 キヤノン株式会社 記録材の種別判別装置および画像形成装置
US6947150B2 (en) * 2002-05-16 2005-09-20 Boise White Paper, Llc Method and apparatus for determining out-of-plane defects in a paper sample
DE10233087A1 (de) * 2002-07-19 2004-02-05 Roche Diagnostics Gmbh Reflexionsphotometrisches Analysesystem
US20040060675A1 (en) * 2002-09-30 2004-04-01 Archer Sammy L. Method for targeted application of performance enhancing materials to a creping cylinder
DE10253822A1 (de) * 2002-11-18 2004-05-27 Voith Paper Patent Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Sensorkalibrierung
US7545971B2 (en) * 2005-08-22 2009-06-09 Honeywell International Inc. Method and apparatus for measuring the crepe of a moving sheet
US8006560B2 (en) 2006-04-14 2011-08-30 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation Laser ultrasonic property measurement apparatus
SE0601860L (sv) * 2006-09-11 2008-02-26 Stora Enso Ab Förfarande för att förutsäga tryckbarheten hos en pappers-, kartong- eller pappyta
US7826048B2 (en) * 2006-12-28 2010-11-02 Lexmark International, Inc. Apparatus for measuring doctor blade geometric deviations
US7953560B2 (en) * 2006-12-28 2011-05-31 Lexmark International, Inc. Method for measuring doctor blade geometric deviations
US7763876B2 (en) * 2007-04-06 2010-07-27 Xerox Corporation Gloss and differential gloss measuring system
SE531410C2 (sv) * 2007-05-30 2009-03-24 Fibro System Ab Förfarande och anordning för bestämning av en materialytas topografi
ES2337323B1 (es) * 2007-06-11 2010-10-13 Universitat Ramon Llull Fundacio Privada Rugosimetro.
US7966743B2 (en) * 2007-07-31 2011-06-28 Eastman Kodak Company Micro-structured drying for inkjet printers
US8237870B2 (en) * 2007-09-28 2012-08-07 Intel Corporation Receiver system for multiple bandwidth television channels
FI20075975L (sv) * 2007-12-31 2009-07-01 Metso Automation Oy Mätning av en bana
US7764893B2 (en) * 2008-01-31 2010-07-27 Xerox Corporation Use of customer documents for gloss measurements
JP5168051B2 (ja) * 2008-09-25 2013-03-21 富士通株式会社 電磁界解析プログラムおよび電磁界解析装置
CN102640030B (zh) * 2009-10-16 2015-03-11 索雷博股份有限公司 自动聚焦装置
CA2783295C (en) * 2009-12-11 2017-03-28 William Verbanets Magneto optical current transducer with improved outage performance
US8660682B2 (en) 2010-11-22 2014-02-25 Honeywell Asca Inc. Air wipe and sheet guide temperature control on paper and continuous web scanners
US8742385B2 (en) 2011-01-26 2014-06-03 Honeywell Asca Inc. Beam distortion control system using fluid channels
US8573834B2 (en) 2011-05-14 2013-11-05 Honeywell Asca Inc. Connectionless cooling system
US8561468B2 (en) 2011-06-27 2013-10-22 Honeywell Asca Inc. Scanner diagnostics utilizing three axis accelerometers
US8773656B2 (en) * 2011-08-24 2014-07-08 Corning Incorporated Apparatus and method for characterizing glass sheets
US8564851B2 (en) * 2011-10-25 2013-10-22 Honeywell Asca Inc. Scanner belt load and stretch compensation control system
US8958898B2 (en) * 2011-11-07 2015-02-17 Nalco Company Method and apparatus to monitor and control sheet characteristics on a creping process
CA2860691C (en) * 2012-01-06 2023-09-19 Kemira Oyj Method of characterizing creped materials
US9481777B2 (en) 2012-03-30 2016-11-01 The Procter & Gamble Company Method of dewatering in a continuous high internal phase emulsion foam forming process
FI126174B (sv) * 2012-12-04 2016-07-29 Valmet Automation Oy Mätning av mjukpapper
DE102012024261B4 (de) * 2012-12-12 2015-02-12 Balluff STM GmbH Prüfverfahren und -vorrichtung für Oberflächen
US9082201B2 (en) 2013-01-04 2015-07-14 International Business Machines Corporation Surface contamination determination system
US9303977B2 (en) 2013-10-17 2016-04-05 Honeywell International Inc. Apparatus and method for measuring caliper of creped tissue paper based on a dominant frequency of the paper and a standard deviation of diffusely reflected light including identifying a caliper measurement by using the image of the paper
US9238889B2 (en) 2013-10-17 2016-01-19 Honeywell International Inc. Apparatus and method for closed-loop control of creped tissue paper structure
US9189864B2 (en) 2013-10-17 2015-11-17 Honeywell International Inc. Apparatus and method for characterizing texture
US9540770B2 (en) * 2014-09-25 2017-01-10 Honeywell Limited Modular sensing system for web-based applications
US9519447B2 (en) * 2014-10-08 2016-12-13 Oce-Technologies B.V. Apparatus and method for determining suitable printing conditions for printing sheets in a printing system
EP3007133B1 (en) * 2014-10-08 2018-06-20 OCE-Technologies B.V. Apparatus and method for defect detection in a printing system
DE102019100884A1 (de) * 2019-01-15 2020-07-16 Voith Patent Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Behandlung einer Faserstoffbahn
US11920299B2 (en) * 2020-03-06 2024-03-05 Ibs Of America Formation detection system and a process of controlling
CN116075613A (zh) 2020-08-27 2023-05-05 巴克曼实验室国际公司 杨克式烘缸化学和起皱产品品质的预测控制

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL6600413A (sv) * 1965-01-18 1966-08-25
US3606541A (en) * 1968-09-28 1971-09-20 Mitsubishi Electric Corp Contact-less probe system
US5182743A (en) * 1972-08-25 1993-01-26 Thomson-Csf Optical disk arrangement with diffractive tracks allowing positional control
US4015904A (en) * 1974-03-13 1977-04-05 Sentrol Systems Ltd. Optical shoe assembly for use with a multi-sensor optical head
CA1014638A (en) * 1974-04-16 1977-07-26 Domtar Limited Measuring the surface roughness of a moving sheet material
JPS5181646A (en) * 1975-01-15 1976-07-17 Fuji Photo Optical Co Ltd Tokosenkirokuhohooyobisochi
US3999860A (en) * 1975-10-10 1976-12-28 International Business Machines Corporation Apparatus for textile color analysis
US4029419A (en) * 1975-10-10 1977-06-14 International Business Machines Corporation Textile color analyzer calibration
US4092068A (en) * 1976-05-05 1978-05-30 Domtar Inc. Surface sensor
US4276766A (en) * 1980-03-03 1981-07-07 Domtar Inc. Roughness sensor calibration
US4384514A (en) * 1981-03-03 1983-05-24 Consolidated-Bathurst Inc. Nip control method and apparatus
US4434649A (en) * 1981-04-20 1984-03-06 Accuray Corporation Gauge having a surface follower with peripheral vent
JPS5990007A (ja) * 1982-11-16 1984-05-24 Olympus Optical Co Ltd 光学式寸度測定装置
CH663473A5 (de) * 1983-04-26 1987-12-15 Volpi Ag Verfahren zum optischen bestimmen der oberflaechenbeschaffenheit von festkoerpern.
CA1222319A (en) * 1985-05-16 1987-05-26 Cip Inc. Apparatus for analysing the formation of a paper web
US4798469A (en) * 1985-10-02 1989-01-17 Burke Victor B Noncontact gage system utilizing reflected light
US4760271A (en) * 1986-03-25 1988-07-26 Champion International Corporation Apparatus and process for measuring formation and roughness of a paper web
US5110212A (en) * 1986-10-02 1992-05-05 Sentrol Systems, Ltd. Smoothness sensor
US5092678A (en) * 1986-11-12 1992-03-03 Measurex Corporation On-line sheet formation characterizing method and device
US5243407A (en) * 1986-11-12 1993-09-07 Measurex Corporation On-line paper sheet formation characterizing method and device
US4770536A (en) * 1986-12-04 1988-09-13 Moshe Golberstein Reflective photometry instrument
FR2620823B1 (fr) * 1987-09-17 1990-08-17 Centre Tech Ind Papier Dispositif pour determiner en continu un indice d'etat de surface d'un materiau en feuille en mouvement
US4875769A (en) * 1988-01-22 1989-10-24 Rockwell International Corporation Velocimeter for a printing press web
US5024529A (en) * 1988-01-29 1991-06-18 Synthetic Vision Systems, Inc. Method and system for high-speed, high-resolution, 3-D imaging of an object at a vision station
US5029469A (en) * 1988-06-17 1991-07-09 Measurex Corporation Sheet tension sensor
US4965452A (en) * 1988-07-11 1990-10-23 Process Automation Business, Inc. Infrared analysis of paper printability
US5355083A (en) * 1988-11-16 1994-10-11 Measurex Corporation Non-contact sensor and method using inductance and laser distance measurements for measuring the thickness of a layer of material overlaying a substrate
US5118955A (en) * 1989-05-26 1992-06-02 Ann Koo Film stress measurement system having first and second stage means
US5243849A (en) * 1990-03-30 1993-09-14 Process Automation Business, Inc. On-line caliper gauge
SE469035B (sv) * 1991-09-16 1993-05-03 Valmet Karlstad Ab Foerfarande och anordning foer justering av kraeppningsbetingelserna
EP0677739B1 (de) * 1994-04-14 1998-08-19 Honeywell Ag Vorrichtung zur Messwerterfassung

Also Published As

Publication number Publication date
DE69630650D1 (de) 2003-12-18
EP0769139B1 (en) 2003-11-12
CA2193380C (en) 2003-09-09
WO1996035111A1 (en) 1996-11-07
US5654799A (en) 1997-08-05
DE69630650T2 (de) 2004-09-30
FI970023A (sv) 1997-03-03
JPH10503028A (ja) 1998-03-17
CA2193380A1 (en) 1996-11-07
EP0769139A1 (en) 1997-04-23
FI970023A0 (sv) 1997-01-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI117910B (sv) Förfarande och anordning för mätning och kontrollering av ytegenskaper av skivmaterialier såsom papper
FI81203C (sv) Förfarande och anordning för mätning av vattenhalt
EP1444396B1 (en) Air clamp stabilizer for continuous web materials
CA2277837C (en) Electromagnetic field perturbation sensor and methods for measuring water content in sheetmaking systems
FI125811B (sv) Mätning av bana
US5658432A (en) Apparatus and method of determining sheet shrinkage or expansion characteristics
US4644174A (en) Apparatus for analyzing the formation of a paper web
US4978861A (en) Device for the continuous determination of a surface state index for a moving creped sheet
CA1147066A (en) Radiation inspection system for a material making apparatus and method using a beta ray gauge
FI124628B (sv) Porositetsmätning
US10697119B2 (en) Method for monitoring a Yankee cylinder using a graphical representation of a treatment effect
CA1292891C (en) Method and apparatus for measurement of the permeability to water
US6231722B1 (en) Method and system for monitoring the process of separation of a web
CA2049759A1 (en) Method for controlling basis weight in the production of stretchable webs
US5587051A (en) Simplified laser apparatus and method for measuring stock thickness on papermaking machines
Sung et al. Applications of thickness and apparent density mapping by laser profilometry
WO1996035112A1 (en) Sheet stabilizer for optical sensor
Hämäläinen et al. Development and evaluation of a high-speed creping simulator for tissue
US6627043B1 (en) Measuring amount of silicone coating on paper web
FI96895B (sv) Förfarande för optimering av kvalitéten på papper som skall beläggas
Waller On-line papermaking sensors: An historical perspective
CA1293055C (en) On-machine sheet material property analysis
CA2557951C (en) Electromagnetic field perturbation sensor and methods for measuring water content in sheetmaking systems
Schwaiger et al. Practicalities and limitations of measuring techniques for paper properties that affect flexographic printability–A review
JP2001133242A (ja) 厚さ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 117910

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed